JPH066832A - リアルタイム故障診断機能付き画像処理装置 - Google Patents
リアルタイム故障診断機能付き画像処理装置Info
- Publication number
- JPH066832A JPH066832A JP18437592A JP18437592A JPH066832A JP H066832 A JPH066832 A JP H066832A JP 18437592 A JP18437592 A JP 18437592A JP 18437592 A JP18437592 A JP 18437592A JP H066832 A JPH066832 A JP H066832A
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- test signal
- signal
- microcomputer
- processing
- high speed
- Prior art date
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- Pending
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- Testing, Inspecting, Measuring Of Stereoscopic Televisions And Televisions (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】 処理速度の遅いマイクロコンピュータでも、
リアルタイムでの画像処理装置の各種故障診断を可能と
することを目的とする。 【構成】 映像信号の処理をする画像処理装置におい
て、ブランキング期間に映像信号のかわりに画素対応
（数十ｎｓ周期）で高速に変化する所定のテスト信号を
発生する手段と、該テスト信号が上記画像処理装置で処
理された結果のテスト信号処理出力を画素対応（数十ｎ
ｓ周期）で高速に採集して取り込み記憶手段に記憶させ
る信号取り込み手段と、該信号取り込み手段とマイクロ
コンピュータの双方から独立にアクセス可能な上記記憶
手段と、この記憶したテスト信号処理出力内容を適宜取
り込み解析して故障診断を行う上記マイクロコンピュー
タとを有する構成としたものである。
リアルタイムでの画像処理装置の各種故障診断を可能と
することを目的とする。 【構成】 映像信号の処理をする画像処理装置におい
て、ブランキング期間に映像信号のかわりに画素対応
（数十ｎｓ周期）で高速に変化する所定のテスト信号を
発生する手段と、該テスト信号が上記画像処理装置で処
理された結果のテスト信号処理出力を画素対応（数十ｎ
ｓ周期）で高速に採集して取り込み記憶手段に記憶させ
る信号取り込み手段と、該信号取り込み手段とマイクロ
コンピュータの双方から独立にアクセス可能な上記記憶
手段と、この記憶したテスト信号処理出力内容を適宜取
り込み解析して故障診断を行う上記マイクロコンピュー
タとを有する構成としたものである。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、テレビジョンカメラ装
置等の画像処理装置の故障診断に関するものである。
置等の画像処理装置の故障診断に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】図２に従来のマイクロコンピュータを使
用した故障診断機能を持つ画像処理装置の概略構成図を
示し、従来の故障診断方式の説明を行う。テレビジョン
カメラ装置等の映像信号は、内蔵の画像処理装置１で各
種の信号処理がなされるが、このテレビジョンカメラ装
置等の画像処理装置の故障診断を行う場合、映像信号の
ブランキング期間（通常、垂直ブランキング期間）に、
テスト信号発生回路３’から時変化のないパルス状のテ
スト信号２’を画像処理装置１に入力する。そして、ブ
ランキング期間に挿入されたこのテスト信号２’に対
し、画像処理装置１で処理された結果のテスト信号処理
出力４’をマイクロコンピュータ７に取り込み、その内
容を解析することで、リアルタイムで画像処理装置１の
故障診断を行う。
用した故障診断機能を持つ画像処理装置の概略構成図を
示し、従来の故障診断方式の説明を行う。テレビジョン
カメラ装置等の映像信号は、内蔵の画像処理装置１で各
種の信号処理がなされるが、このテレビジョンカメラ装
置等の画像処理装置の故障診断を行う場合、映像信号の
ブランキング期間（通常、垂直ブランキング期間）に、
テスト信号発生回路３’から時変化のないパルス状のテ
スト信号２’を画像処理装置１に入力する。そして、ブ
ランキング期間に挿入されたこのテスト信号２’に対
し、画像処理装置１で処理された結果のテスト信号処理
出力４’をマイクロコンピュータ７に取り込み、その内
容を解析することで、リアルタイムで画像処理装置１の
故障診断を行う。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】前述の従来技術では、
ブランキング期間毎に発生するテスト信号処理出力４’
がそのままマイクロコンピュータ７に取り込まれるが、
マイクロコンピュータ７におけるテスト信号処理出力
４’のデータ採集はマイクロコンピュータ７のマシンサ
イクルに依存するため、実際には数μｓ周期程度でしか
データ採集が出来ない。これに対し、映像信号の水平走
査期間はＮＴＳＣ方式の場合で約６４μｓであり、この
間の映像信号は画素対応で約７０ｎｓと高速に変化する
ため、このように処理速度の遅いマイクロコンピュータ
７で直接データの採集を行う従来の方法では、時変化の
ないパルス状のテスト信号にて故障診断ができるホワイ
トバランス調整等、レベル系のごく一部の故障診断が限
界であり、画素対応で高速に変化する信号により、リア
ルタイムに画像処理装置１の各種故障診断を正確に行う
ことは出来ない。本発明はこれらの欠点を除去し、処理
速度の遅いマイクロコンピュータでも、リアルタイムで
の画像処理装置の各種故障診断を可能とすることを目的
とする。
ブランキング期間毎に発生するテスト信号処理出力４’
がそのままマイクロコンピュータ７に取り込まれるが、
マイクロコンピュータ７におけるテスト信号処理出力
４’のデータ採集はマイクロコンピュータ７のマシンサ
イクルに依存するため、実際には数μｓ周期程度でしか
データ採集が出来ない。これに対し、映像信号の水平走
査期間はＮＴＳＣ方式の場合で約６４μｓであり、この
間の映像信号は画素対応で約７０ｎｓと高速に変化する
ため、このように処理速度の遅いマイクロコンピュータ
７で直接データの採集を行う従来の方法では、時変化の
ないパルス状のテスト信号にて故障診断ができるホワイ
トバランス調整等、レベル系のごく一部の故障診断が限
界であり、画素対応で高速に変化する信号により、リア
ルタイムに画像処理装置１の各種故障診断を正確に行う
ことは出来ない。本発明はこれらの欠点を除去し、処理
速度の遅いマイクロコンピュータでも、リアルタイムで
の画像処理装置の各種故障診断を可能とすることを目的
とする。
【０００４】
【課題を解決するための手段】本発明は上記の目的を達
成するため、映像信号の処理をする画像処理装置におい
て、ブランキング期間に画素対応（数十ｎｓ周期）で高
速に変化する所定のテスト信号を発生する手段と、該テ
スト信号が上記画像処理装置で処理された結果のテスト
信号処理出力を画素対応（数十ｎｓ周期）で高速に採集
して取り込み記憶手段に記憶させる信号取り込み手段
と、該信号取り込み手段とマイクロコンピュータの双方
から独立にアクセス可能な上記記憶手段と、この記憶し
たテスト信号処理出力内容を適宜取り込み解析して故障
診断を行う上記マイクロコンピュータとを有する構成と
したものである。
成するため、映像信号の処理をする画像処理装置におい
て、ブランキング期間に画素対応（数十ｎｓ周期）で高
速に変化する所定のテスト信号を発生する手段と、該テ
スト信号が上記画像処理装置で処理された結果のテスト
信号処理出力を画素対応（数十ｎｓ周期）で高速に採集
して取り込み記憶手段に記憶させる信号取り込み手段
と、該信号取り込み手段とマイクロコンピュータの双方
から独立にアクセス可能な上記記憶手段と、この記憶し
たテスト信号処理出力内容を適宜取り込み解析して故障
診断を行う上記マイクロコンピュータとを有する構成と
したものである。
【０００５】
【作用】その結果、画素対応（数十ｎｓ周期）で高速に
変化するテスト信号処理出力を、記憶手段に画素対応
（数十ｎｓ周期）で高速にデータ採集・記憶出来るた
め、マイクロコンピュータでは、このデータを所望時に
マイクロコンピュータのマシンサイクルで取り込み、マ
イクロコンピュータの処理速度に応じて適宜、故障診断
の解析を行うことが出来、処理速度の遅いマイクロコン
ピュータでもリアルタイムで画像処理装置の故障診断が
可能となる。
変化するテスト信号処理出力を、記憶手段に画素対応
（数十ｎｓ周期）で高速にデータ採集・記憶出来るた
め、マイクロコンピュータでは、このデータを所望時に
マイクロコンピュータのマシンサイクルで取り込み、マ
イクロコンピュータの処理速度に応じて適宜、故障診断
の解析を行うことが出来、処理速度の遅いマイクロコン
ピュータでもリアルタイムで画像処理装置の故障診断が
可能となる。
【０００６】
【実施例】以下、本発明の一実施例を図１に示し、その
内容を詳細に説明する。１は画像処理装置で、画像デー
タの各種演算処理を行う装置である。３はテスト信号発
生回路で、映像信号のブランキング期間（ここでは、垂
直ブランキング期間）に、画像処理装置１に故障診断用
の画素対応（数十ｎｓ周期）で高速に変化するテスト信
号２を発生・入力する回路である。４はテスト信号処理
出力で、画像処理装置１がテスト信号２に対し処理した
結果の出力信号である。５は信号読み取り回路で、テス
ト信号処理出力４を画素対応（数十ｎｓ周期）で高速に
採集し、共有メモリ６に記憶する回路である。６は共有
メモリで、図３に示すように信号読み取り回路５とマイ
クロコンピュータ７の双方から独立にメモリセル９にデ
ータの書き込み及び読み出しが可能な２つのポート８，
１０を有するメモリである。７はマイクロコンピュータ
で、共有メモリ６の記憶データの内容から故障診断の解
析を行うものである。
内容を詳細に説明する。１は画像処理装置で、画像デー
タの各種演算処理を行う装置である。３はテスト信号発
生回路で、映像信号のブランキング期間（ここでは、垂
直ブランキング期間）に、画像処理装置１に故障診断用
の画素対応（数十ｎｓ周期）で高速に変化するテスト信
号２を発生・入力する回路である。４はテスト信号処理
出力で、画像処理装置１がテスト信号２に対し処理した
結果の出力信号である。５は信号読み取り回路で、テス
ト信号処理出力４を画素対応（数十ｎｓ周期）で高速に
採集し、共有メモリ６に記憶する回路である。６は共有
メモリで、図３に示すように信号読み取り回路５とマイ
クロコンピュータ７の双方から独立にメモリセル９にデ
ータの書き込み及び読み出しが可能な２つのポート８，
１０を有するメモリである。７はマイクロコンピュータ
で、共有メモリ６の記憶データの内容から故障診断の解
析を行うものである。
【０００７】以下この動作を説明すると、テスト信号発
生回路３に画像処理装置１を接続し、ブランキング期間
に映像信号のかわりに画素対応（数十ｎｓ周期）で高速
に変化する所定のテスト信号２を発生させ画像処理装置
１に入力する。そのテスト信号２に対し画像処理装置１
で処理された結果のテスト信号処理出力４を、信号取り
込み回路５が画素対応（数十ｎｓ周期）で高速に採集し
て共有メモリ６に記憶する。そして、共有メモリ６に記
憶されたデータを、マイクロコンピュータ７がそのマシ
ンサイクルで取り込み、そのデータを解析し、各種故障
診断を行う。
生回路３に画像処理装置１を接続し、ブランキング期間
に映像信号のかわりに画素対応（数十ｎｓ周期）で高速
に変化する所定のテスト信号２を発生させ画像処理装置
１に入力する。そのテスト信号２に対し画像処理装置１
で処理された結果のテスト信号処理出力４を、信号取り
込み回路５が画素対応（数十ｎｓ周期）で高速に採集し
て共有メモリ６に記憶する。そして、共有メモリ６に記
憶されたデータを、マイクロコンピュータ７がそのマシ
ンサイクルで取り込み、そのデータを解析し、各種故障
診断を行う。
【０００８】以上のように、画素対応（数十ｎｓ周期）
で高速に変化するテスト信号処理出力４を、画素対応
（数十ｎｓ周期）で高速にデータ採集・記憶の出来る信
号取り込み回路５と、双方から独立にデータの書き込み
及び読み出しが可能な２つのポート８，１０を有する共
有メモリ６を用いることによって、共有メモリ６に画素
対応（数十ｎｓ周期）で高速にデータ採集・記憶出来る
ため、マイクロコンピュータ７では、このデータを所望
時にマイクロコンピュータ７のマシンサイクルで取り込
み、マイクロコンピュータ７の処理速度に応じて適宜、
故障診断の解析を行うことが出来、処理速度の遅いマイ
クロコンピュータ７でもリアルタイムで画像処理装置１
の故障診断が可能となる。
で高速に変化するテスト信号処理出力４を、画素対応
（数十ｎｓ周期）で高速にデータ採集・記憶の出来る信
号取り込み回路５と、双方から独立にデータの書き込み
及び読み出しが可能な２つのポート８，１０を有する共
有メモリ６を用いることによって、共有メモリ６に画素
対応（数十ｎｓ周期）で高速にデータ採集・記憶出来る
ため、マイクロコンピュータ７では、このデータを所望
時にマイクロコンピュータ７のマシンサイクルで取り込
み、マイクロコンピュータ７の処理速度に応じて適宜、
故障診断の解析を行うことが出来、処理速度の遅いマイ
クロコンピュータ７でもリアルタイムで画像処理装置１
の故障診断が可能となる。
【０００９】
【発明の効果】本発明によれば、画素対応（数十ｎｓ周
期）で高速に変化するテスト信号処理出力を、共有メモ
リに画素対応（数十ｎｓ周期）で高速にデータ採集・記
憶出来るため、マイクロコンピュータでは、このデータ
を所望時にこのマシンサイクルで取り込み、この処理速
度に応じて故障診断の解析を行うことが出来、処理速度
の遅いマイクロコンピュータでもリアルタイムで画像処
理装置の故障診断が可能となり、大事故の予測、事故発
生時の迅速かつ適切な処理に多大な効果を発揮する。
期）で高速に変化するテスト信号処理出力を、共有メモ
リに画素対応（数十ｎｓ周期）で高速にデータ採集・記
憶出来るため、マイクロコンピュータでは、このデータ
を所望時にこのマシンサイクルで取り込み、この処理速
度に応じて故障診断の解析を行うことが出来、処理速度
の遅いマイクロコンピュータでもリアルタイムで画像処
理装置の故障診断が可能となり、大事故の予測、事故発
生時の迅速かつ適切な処理に多大な効果を発揮する。
【図１】本発明の全体構成を示すブロック図。
【図２】従来例の構成を示すブロック図。
【図３】共有メモリの構成を示すブロック図。
１ 画像処理装置、２ テスト信号入力、３ テスト信
号発生回路、４ テスト信号処理出力、５ 信号取り込
み回路、６ 共有メモリ、７ マイクロコンピュータ。
号発生回路、４ テスト信号処理出力、５ 信号取り込
み回路、６ 共有メモリ、７ マイクロコンピュータ。
Claims (1)
- 【請求項１】 映像信号の処理をする画像処理装置にお
いて、ブランキング期間に画素対応（数十ｎｓ周期）で
高速に変化する所定のテスト信号を発生する手段と、該
テスト信号が上記画像処理装置で処理された結果のテス
ト信号処理出力を画素対応（数十ｎｓ周期）で高速に採
集して取り込み記憶手段に記憶させる信号取り込み手段
と、該信号取り込み手段とマイクロコンピュータの双方
から独立にアクセス可能な上記記憶手段と、この記憶し
たテスト信号処理出力内容を適宜取り込み解析して故障
診断を行う上記マイクロコンピュータとを有することを
特徴とするリアルタイム故障診断機能付き画像処理装
置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP18437592A JPH066832A (ja) | 1992-06-18 | 1992-06-18 | リアルタイム故障診断機能付き画像処理装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP18437592A JPH066832A (ja) | 1992-06-18 | 1992-06-18 | リアルタイム故障診断機能付き画像処理装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH066832A true JPH066832A (ja) | 1994-01-14 |
Family
ID=16152112
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP18437592A Pending JPH066832A (ja) | 1992-06-18 | 1992-06-18 | リアルタイム故障診断機能付き画像処理装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH066832A (ja) |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2003530791A (ja) * | 2000-04-07 | 2003-10-14 | ピルツ ゲーエムベーハー アンド コー． | 危険区域の安全防護のための保護装置およびその装置の機能的信頼性をチェックする方法 |
| US10565466B2 (en) | 2016-03-14 | 2020-02-18 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Image processor and image processing method |
| JP2020145633A (ja) * | 2019-03-08 | 2020-09-10 | 株式会社東芝 | 画像処理装置 |
| JP2020160026A (ja) * | 2019-03-28 | 2020-10-01 | ラピスセミコンダクタ株式会社 | 半導体装置 |
-
1992
- 1992-06-18 JP JP18437592A patent/JPH066832A/ja active Pending
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2003530791A (ja) * | 2000-04-07 | 2003-10-14 | ピルツ ゲーエムベーハー アンド コー． | 危険区域の安全防護のための保護装置およびその装置の機能的信頼性をチェックする方法 |
| US10565466B2 (en) | 2016-03-14 | 2020-02-18 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Image processor and image processing method |
| JP2020145633A (ja) * | 2019-03-08 | 2020-09-10 | 株式会社東芝 | 画像処理装置 |
| JP2020160026A (ja) * | 2019-03-28 | 2020-10-01 | ラピスセミコンダクタ株式会社 | 半導体装置 |
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