JPH0666532A - 製品検査支援システム - Google Patents
製品検査支援システムInfo
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- JPH0666532A JPH0666532A JP4242733A JP24273392A JPH0666532A JP H0666532 A JPH0666532 A JP H0666532A JP 4242733 A JP4242733 A JP 4242733A JP 24273392 A JP24273392 A JP 24273392A JP H0666532 A JPH0666532 A JP H0666532A
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 製品の再検査を短時間で効率良く行え、かつ
検査作業員の負荷を軽減可能な製品検査支援システムを
提供する。 【構成】 視野16内における製品14の画像を取り込
み、該画像を構成する画素毎のデータである実画像デー
タを生成する入力手段10と、前記実画像データを記憶
するための第1の記憶手段20aと、論理平面における
理想的な製品14の画像である基準画像を構成する画素
毎のデータである基準画像データを記憶するための第2
の記憶手段20bと、前記実画像データを基に前記製品
14の実画像を表示する表示手段26と、前記実画像デ
ータと基準画像データとを比較演算し、その演算結果を
基に前記製品14の再検査箇所を決定し、当該再検査箇
所の実画像を前記表示手段26へ表示する制御手段22
とを具備する。
検査作業員の負荷を軽減可能な製品検査支援システムを
提供する。 【構成】 視野16内における製品14の画像を取り込
み、該画像を構成する画素毎のデータである実画像デー
タを生成する入力手段10と、前記実画像データを記憶
するための第1の記憶手段20aと、論理平面における
理想的な製品14の画像である基準画像を構成する画素
毎のデータである基準画像データを記憶するための第2
の記憶手段20bと、前記実画像データを基に前記製品
14の実画像を表示する表示手段26と、前記実画像デ
ータと基準画像データとを比較演算し、その演算結果を
基に前記製品14の再検査箇所を決定し、当該再検査箇
所の実画像を前記表示手段26へ表示する制御手段22
とを具備する。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は製品検査支援システムに
関し、一層詳細には製品の再検査の際に当該製品の実画
像を見ながら実施可能な製品検査支援システムに関す
る。
関し、一層詳細には製品の再検査の際に当該製品の実画
像を見ながら実施可能な製品検査支援システムに関す
る。
【0002】
【従来の技術】従来、例えばリードフレーム(製品)の
サイズ、形状等の検査に計算機を利用した画像処理シス
テムが使用されている。従来の画像処理システムでは、
予めメモリに記憶されている基準位置における理想的な
リードフレームの画像データである基準画像データと、
カメラの視野内における検査しているリードフレームの
画像を構成する画素毎のデータである実画像データをメ
モリ上に形成される論理平面上で重ね合わせる画像パタ
ーンマッチング法が用いられている。検査するリードフ
レームの実画像データと基準画像データとが一致したら
当該リードフレームは良品と判断され、実画像データと
基準画像データにずれが有る場合は当該リードフレーム
は不良品と判断される。
サイズ、形状等の検査に計算機を利用した画像処理シス
テムが使用されている。従来の画像処理システムでは、
予めメモリに記憶されている基準位置における理想的な
リードフレームの画像データである基準画像データと、
カメラの視野内における検査しているリードフレームの
画像を構成する画素毎のデータである実画像データをメ
モリ上に形成される論理平面上で重ね合わせる画像パタ
ーンマッチング法が用いられている。検査するリードフ
レームの実画像データと基準画像データとが一致したら
当該リードフレームは良品と判断され、実画像データと
基準画像データにずれが有る場合は当該リードフレーム
は不良品と判断される。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上記の
従来の画像処理システムには次のような課題がある。画
像パターンマッチングによる検査自体は短時間で行うこ
とが可能であるが、画像パターンマッチングによって不
良品と判断された場合であっても当該リードフレームが
真に不良品であるかどうかは直ちに判断できないことが
多い。例えばリードフレームの実画像を取り込むカメラ
に対してリードフレームが正確にセットされていない場
合、実画像データと基準画像データは当然ずれてしまい
不良品と判断されてしまう。そこで、一旦不良品と判断
されても検査作業員による再検査が行われるが、この再
検査は顕微鏡や投影機を用いた実像を見ながらの検査と
なり時間がかかる。しかもリードフレーム全体について
不良箇所の有無を検査するため時間がかかると共に、検
査作業員の疲労が著しいという課題がある。従って、本
発明は製品の再検査を短時間で効率良く行え、かつ検査
作業員の負荷を軽減可能な製品検査支援システムを提供
することを目的とする。
従来の画像処理システムには次のような課題がある。画
像パターンマッチングによる検査自体は短時間で行うこ
とが可能であるが、画像パターンマッチングによって不
良品と判断された場合であっても当該リードフレームが
真に不良品であるかどうかは直ちに判断できないことが
多い。例えばリードフレームの実画像を取り込むカメラ
に対してリードフレームが正確にセットされていない場
合、実画像データと基準画像データは当然ずれてしまい
不良品と判断されてしまう。そこで、一旦不良品と判断
されても検査作業員による再検査が行われるが、この再
検査は顕微鏡や投影機を用いた実像を見ながらの検査と
なり時間がかかる。しかもリードフレーム全体について
不良箇所の有無を検査するため時間がかかると共に、検
査作業員の疲労が著しいという課題がある。従って、本
発明は製品の再検査を短時間で効率良く行え、かつ検査
作業員の負荷を軽減可能な製品検査支援システムを提供
することを目的とする。
【0004】
【課題を解決するための手段】上記課題を解決するため
本発明は次の構成を備える。すなわち、視野内における
製品の画像を取り込み、該画像を構成する画素毎のデー
タである実画像データを生成する入力手段と、前記実画
像データを記憶するための第1の記憶手段と、論理平面
における理想的な製品の画像である基準画像を構成する
画素毎のデータである基準画像データを記憶するための
第2の記憶手段と、前記実画像データを基に前記製品の
実画像を表示する表示手段と、前記実画像データと基準
画像データとを比較演算し、その演算結果を基に前記製
品の再検査箇所を決定し、当該再検査箇所の実画像を前
記表示手段へ表示する制御手段とを具備することを特徴
とする。また、上記のシステムにおいて、さらに前記基
準画像に対し所定量拡大した拡大基準画像データを記憶
するための第3の記憶手段と、前記基準画像に対し所定
量収縮した収縮基準画像データを記憶するための第4の
記憶手段とを設け、前記制御手段は前記実画像データと
前記拡大基準画像データおよび/または前記収縮基準画
像データとを比較演算し、その演算結果を基に前記製品
の再検査箇所を決定するようにしてもよい。さらには、
前記制御手段が前記表示手段に表示する再検査箇所の実
画像は、当該再検査箇所の拡大実画像としてもよい。
本発明は次の構成を備える。すなわち、視野内における
製品の画像を取り込み、該画像を構成する画素毎のデー
タである実画像データを生成する入力手段と、前記実画
像データを記憶するための第1の記憶手段と、論理平面
における理想的な製品の画像である基準画像を構成する
画素毎のデータである基準画像データを記憶するための
第2の記憶手段と、前記実画像データを基に前記製品の
実画像を表示する表示手段と、前記実画像データと基準
画像データとを比較演算し、その演算結果を基に前記製
品の再検査箇所を決定し、当該再検査箇所の実画像を前
記表示手段へ表示する制御手段とを具備することを特徴
とする。また、上記のシステムにおいて、さらに前記基
準画像に対し所定量拡大した拡大基準画像データを記憶
するための第3の記憶手段と、前記基準画像に対し所定
量収縮した収縮基準画像データを記憶するための第4の
記憶手段とを設け、前記制御手段は前記実画像データと
前記拡大基準画像データおよび/または前記収縮基準画
像データとを比較演算し、その演算結果を基に前記製品
の再検査箇所を決定するようにしてもよい。さらには、
前記制御手段が前記表示手段に表示する再検査箇所の実
画像は、当該再検査箇所の拡大実画像としてもよい。
【0005】
【作用】作用について説明する。制御手段は、実画像デ
ータと基準画像データとを比較演算し、その演算結果を
基に前記製品の再検査箇所を決定し、当該再検査箇所の
実画像を前記表示手段へ表示するので、直ちに再検査箇
所の実画像を見ることが可能となる。特に、表示手段に
表示する再検査箇所の実画像を拡大実画にすると、不良
とみられる箇所を拡大して表示可能となる。
ータと基準画像データとを比較演算し、その演算結果を
基に前記製品の再検査箇所を決定し、当該再検査箇所の
実画像を前記表示手段へ表示するので、直ちに再検査箇
所の実画像を見ることが可能となる。特に、表示手段に
表示する再検査箇所の実画像を拡大実画にすると、不良
とみられる箇所を拡大して表示可能となる。
【0006】
【実施例】以下、本発明の好適な実施例について添付図
面と共に詳述する。まず、図1と共に本実施例の製品検
査支援システムの構成について説明する。なお、本実施
例の製品検査支援システムは、製品の一例であるリード
フレームのサイズ、形状等の検査に適用して好適なシス
テムである。10は入力手段の一例であるCCDカメラ
(エリアセンサ)である。カメラ10は、製品搬送装置
12の所定位置の上方に設置されている。カメラ10
は、製品搬送装置12により、搬送されて来たリードフ
レーム14の画像を捕らえる。カメラ10に内蔵のCC
D素子群(不図示)は、受光した光の強さに応じた電圧
を出力し、視野16内におけるリードフレーム14の画
像を構成する画素毎の電圧データ(画像データ)である
実画像データを生成可能となっている。なお、入力手段
としてはカメラ10のようなエリアセンサではなく、C
CD素子群からなるラインセンサを用い、リードフレー
ム14とラインセンサを相対的に移動させて視野16内
の実画像データを生成するようにしてもよい。
面と共に詳述する。まず、図1と共に本実施例の製品検
査支援システムの構成について説明する。なお、本実施
例の製品検査支援システムは、製品の一例であるリード
フレームのサイズ、形状等の検査に適用して好適なシス
テムである。10は入力手段の一例であるCCDカメラ
(エリアセンサ)である。カメラ10は、製品搬送装置
12の所定位置の上方に設置されている。カメラ10
は、製品搬送装置12により、搬送されて来たリードフ
レーム14の画像を捕らえる。カメラ10に内蔵のCC
D素子群(不図示)は、受光した光の強さに応じた電圧
を出力し、視野16内におけるリードフレーム14の画
像を構成する画素毎の電圧データ(画像データ)である
実画像データを生成可能となっている。なお、入力手段
としてはカメラ10のようなエリアセンサではなく、C
CD素子群からなるラインセンサを用い、リードフレー
ム14とラインセンサを相対的に移動させて視野16内
の実画像データを生成するようにしてもよい。
【0007】18は第2の記憶手段の一例であるROM
であり、製品搬送装置12の所定位置(基準位置)にお
ける理想的なリードフレームの論理平面上に構成される
基準画像の画像データである基準画像データが予め記憶
されている。基準画像データはCADシステム(不図
示)で生成されたリードフレーム14の設計図面作成用
のデータから得ることができる。ROM18には本実施
例の製品検査支援システムを制御するマイクロプロセッ
サ(後述)のオペレーティングシステムや、制御プログ
ラム等が記憶されている。なお、ROM18の制御プロ
グラム、基準画像データ等の制御データはICメモリカ
ードやフレキシブルディスク等の2次記憶装置に記憶し
ておいてもよい。また、基準画像データは、外部メモリ
19に予め記憶しておいてもよい。基準画像データを外
部メモリ19に記憶しておくと、基準画像データを更新
可能であると共に、更新された基準画像データを記憶保
存することが可能となり便利である。さらに、基準画像
データはこの他、基準とするリードフレームの画像を読
み込んでカメラ10が生成する実画像データを基準画像
データとして後述するRAMへ記憶したものを用いるこ
とも可能である。
であり、製品搬送装置12の所定位置(基準位置)にお
ける理想的なリードフレームの論理平面上に構成される
基準画像の画像データである基準画像データが予め記憶
されている。基準画像データはCADシステム(不図
示)で生成されたリードフレーム14の設計図面作成用
のデータから得ることができる。ROM18には本実施
例の製品検査支援システムを制御するマイクロプロセッ
サ(後述)のオペレーティングシステムや、制御プログ
ラム等が記憶されている。なお、ROM18の制御プロ
グラム、基準画像データ等の制御データはICメモリカ
ードやフレキシブルディスク等の2次記憶装置に記憶し
ておいてもよい。また、基準画像データは、外部メモリ
19に予め記憶しておいてもよい。基準画像データを外
部メモリ19に記憶しておくと、基準画像データを更新
可能であると共に、更新された基準画像データを記憶保
存することが可能となり便利である。さらに、基準画像
データはこの他、基準とするリードフレームの画像を読
み込んでカメラ10が生成する実画像データを基準画像
データとして後述するRAMへ記憶したものを用いるこ
とも可能である。
【0008】20はRAMであり、メモリエリアを第1
メモリ20a、第2メモリ20b、、第3メモリ20
c、第4メモリ20d、第5メモリ20e、、第6メモ
リ20f、・・・・・に分割されている。第1メモリ2
0aには第1の記憶手段の一例として、カメラ10から
送られて来たリードフレーム14の実画像データが記憶
される。第1の記憶手段としてはRAM20のメモリエ
リアを使用せず、外部メモリ19を使用することも可能
である。第2メモリ20bには、第2の記憶手段の一例
としてROM18(または外部メモリ19)から読み出
された基準画像データが記憶される。本実施例では基準
画像データを第1メモリ20aに記憶することにより基
準画像データの更新を可能にしている。第3メモリ20
cには、第3の記憶手段の一例として理想的なリードフ
レームの論理平面上に構成される基準画像に対し所定量
拡大した拡大基準画像データが記憶される。拡大基準画
像データは、ROM18に記憶されている基準画像デー
タを基に演算で求めてもよいし、ROM18または外部
メモリ19に予め記憶しておいてもよい。なお、拡大量
はリードフレーム14の公差等を勘案して設定される。
メモリ20a、第2メモリ20b、、第3メモリ20
c、第4メモリ20d、第5メモリ20e、、第6メモ
リ20f、・・・・・に分割されている。第1メモリ2
0aには第1の記憶手段の一例として、カメラ10から
送られて来たリードフレーム14の実画像データが記憶
される。第1の記憶手段としてはRAM20のメモリエ
リアを使用せず、外部メモリ19を使用することも可能
である。第2メモリ20bには、第2の記憶手段の一例
としてROM18(または外部メモリ19)から読み出
された基準画像データが記憶される。本実施例では基準
画像データを第1メモリ20aに記憶することにより基
準画像データの更新を可能にしている。第3メモリ20
cには、第3の記憶手段の一例として理想的なリードフ
レームの論理平面上に構成される基準画像に対し所定量
拡大した拡大基準画像データが記憶される。拡大基準画
像データは、ROM18に記憶されている基準画像デー
タを基に演算で求めてもよいし、ROM18または外部
メモリ19に予め記憶しておいてもよい。なお、拡大量
はリードフレーム14の公差等を勘案して設定される。
【0009】第4メモリ20dには、第4の記憶手段の
一例として理想的なリードフレームの基準画像に対し所
定量収縮した収縮基準画像データが記憶される。収縮基
準画像データは、ROM18に記憶されている基準画像
データを基に演算で求めてもよいし、ROM18または
外部メモリ19に予め記憶しておいてもよい。なお、収
縮量はリードフレーム14の公差等を勘案して設定され
る。第5メモリ20eには、実画像データと基準画像デ
ータとをパターンマッチングで比較演算し、その演算結
果を基に決定される再検査箇所の位置等のデータが記憶
される。第6メモリ20fには、再検査箇所の実画像を
所定または指定された倍率で拡大した拡大実画像に対す
る画像データである拡大実画像データがきおくされる。
その他、RAM20には、出力するデータを格納した
り、入力されたコマンド、演算結果、出力する判定結果
等が記憶される。なお、RAM20に代えてICメモリ
カードや、フレキシブルディスク等の2次記憶装置を用
いてもよい。
一例として理想的なリードフレームの基準画像に対し所
定量収縮した収縮基準画像データが記憶される。収縮基
準画像データは、ROM18に記憶されている基準画像
データを基に演算で求めてもよいし、ROM18または
外部メモリ19に予め記憶しておいてもよい。なお、収
縮量はリードフレーム14の公差等を勘案して設定され
る。第5メモリ20eには、実画像データと基準画像デ
ータとをパターンマッチングで比較演算し、その演算結
果を基に決定される再検査箇所の位置等のデータが記憶
される。第6メモリ20fには、再検査箇所の実画像を
所定または指定された倍率で拡大した拡大実画像に対す
る画像データである拡大実画像データがきおくされる。
その他、RAM20には、出力するデータを格納した
り、入力されたコマンド、演算結果、出力する判定結果
等が記憶される。なお、RAM20に代えてICメモリ
カードや、フレキシブルディスク等の2次記憶装置を用
いてもよい。
【0010】22は制御手段としての機能を有するマイ
クロプロセッサ(MPU)である。MPU22は制御手
段として、カメラ10から実画像データを取り込み、実
画像データと基準画像データ(または拡大基準画像デー
タ、収縮基準画像データ)とをパターンマッチングで比
較し、その比較結果を基にリードフレーム14の再検査
箇所を決定する。また、MPU22は決定された再検査
箇所について、実画像データを基に演算で拡大実画像デ
ータを生成し、当該拡大実画像データに基づく拡大実画
像を表示手段に表示する。その他、MPU22は、基準
画像データを基に拡大基準画像データ、収縮基準画像デ
ータを演算で生成したり、リードフレーム14を搬送す
る製品検査装置12を駆動する等、装置各部の制御を、
制御プログラムおよびオペレータの指示に従って行う。
クロプロセッサ(MPU)である。MPU22は制御手
段として、カメラ10から実画像データを取り込み、実
画像データと基準画像データ(または拡大基準画像デー
タ、収縮基準画像データ)とをパターンマッチングで比
較し、その比較結果を基にリードフレーム14の再検査
箇所を決定する。また、MPU22は決定された再検査
箇所について、実画像データを基に演算で拡大実画像デ
ータを生成し、当該拡大実画像データに基づく拡大実画
像を表示手段に表示する。その他、MPU22は、基準
画像データを基に拡大基準画像データ、収縮基準画像デ
ータを演算で生成したり、リードフレーム14を搬送す
る製品検査装置12を駆動する等、装置各部の制御を、
制御プログラムおよびオペレータの指示に従って行う。
【0011】24は入力装置であり、キーボード、マウ
ス、ライトペン等である。入力装置24からMPU22
へ、拡大実画像データの拡大倍率、表示する再検査箇所
の選択、その他の各種コマンドやデータが入力される。
26は表示手段の一例であるカラーグラフィックCRT
ディスプレイであり、リードフレーム14の実画像、拡
大実画像、MPU22へ入力されたコマンドやデータ、
MPU22が演算等で処理した情報等が表示される。表
示手段としてはCRTディスプレイ26に限らず液晶デ
ィスプレイやプラズマディスプレイ等を採用することが
できる。
ス、ライトペン等である。入力装置24からMPU22
へ、拡大実画像データの拡大倍率、表示する再検査箇所
の選択、その他の各種コマンドやデータが入力される。
26は表示手段の一例であるカラーグラフィックCRT
ディスプレイであり、リードフレーム14の実画像、拡
大実画像、MPU22へ入力されたコマンドやデータ、
MPU22が演算等で処理した情報等が表示される。表
示手段としてはCRTディスプレイ26に限らず液晶デ
ィスプレイやプラズマディスプレイ等を採用することが
できる。
【0012】次に、図2および図3をさらに参照して動
作について説明する。カメラ10の視野16内の所定位
置にリードフレーム14が送りこまれ、画像パターンマ
ッチング検査が開始の指示が入力されると、MPU22
はROM18(または外部メモリ19)から制御プログ
ラム等を読出し、RAM20の各メモリをクリアする
と、共にROM18に記憶されている基準画像データを
RAM20の第2メモリ20bへ記憶させる。続いてM
PU22は演算処理を行い、拡大基準画像データと収縮
基準画像データを生成し、それぞれ第3メモリ20c、
第4メモリ20dへ記憶させる。次に、MPU22はカ
メラ10を介してリードフレーム14の実画像データを
取り込み、第1メモリ20aへ記憶する。
作について説明する。カメラ10の視野16内の所定位
置にリードフレーム14が送りこまれ、画像パターンマ
ッチング検査が開始の指示が入力されると、MPU22
はROM18(または外部メモリ19)から制御プログ
ラム等を読出し、RAM20の各メモリをクリアする
と、共にROM18に記憶されている基準画像データを
RAM20の第2メモリ20bへ記憶させる。続いてM
PU22は演算処理を行い、拡大基準画像データと収縮
基準画像データを生成し、それぞれ第3メモリ20c、
第4メモリ20dへ記憶させる。次に、MPU22はカ
メラ10を介してリードフレーム14の実画像データを
取り込み、第1メモリ20aへ記憶する。
【0013】ここで画像データの例について図2と共に
説明する。図2に実線で輪郭を示す画像32は、実画像
データを基に論理平面に構成されたリードフレーム14
の実画像である。一方、破線で輪郭を示す画像34が、
基準画像データを基に論理平面に構成された理想的なリ
ードフレームの基準画像である。ここで、検査されるリ
ードフレーム14の許容誤差(公差)が極めて小さい場
合、MPU22は画像32と画像34を比較するパター
ンマッチングを行う。その結果、画像32の輪郭線と画
像34の輪郭線とが一致すればリードフレーム14は良
品と判断される。しかし、図2に示すようにリードフレ
ーム14にバリ40が存在する場合、当該バリ40の位
置で画像32の輪郭線と画像34の輪郭線は一致しな
い。従って、比較結果にズレが生じるため、MPU22
はバリ40に対応する位置を再検査箇所と判断する。
説明する。図2に実線で輪郭を示す画像32は、実画像
データを基に論理平面に構成されたリードフレーム14
の実画像である。一方、破線で輪郭を示す画像34が、
基準画像データを基に論理平面に構成された理想的なリ
ードフレームの基準画像である。ここで、検査されるリ
ードフレーム14の許容誤差(公差)が極めて小さい場
合、MPU22は画像32と画像34を比較するパター
ンマッチングを行う。その結果、画像32の輪郭線と画
像34の輪郭線とが一致すればリードフレーム14は良
品と判断される。しかし、図2に示すようにリードフレ
ーム14にバリ40が存在する場合、当該バリ40の位
置で画像32の輪郭線と画像34の輪郭線は一致しな
い。従って、比較結果にズレが生じるため、MPU22
はバリ40に対応する位置を再検査箇所と判断する。
【0014】一方、リードフレーム14の許容誤差(公
差)が極めて小くない場合は実画像データを拡大基準画
像データおよび/または収縮基準画像データと比較す
る。図2において、2点鎖線で輪郭を示す画像36は、
拡大基準画像データを基に論理平面に構成された理想的
なリードフレームの拡大基準画像であり、一点鎖線で輪
郭を示す画像38が、収縮基準画像データを基に論理平
面に構成された理想的なリードフレームの収縮基準画像
である。すなわち、画像32と画像36および画像38
を比較するパターンマッチングを行う。その結果、画像
32の輪郭線が画像36の輪郭線と画像38の輪郭線と
の間に在ればリードフレーム14は良品と判断される。
しかし、図2に示すようにリードフレーム14にバリ4
0が存在する場合、当該バリ40の位置で画像32の輪
郭線は画像36の輪郭線より外方に突出している。従っ
て、MPU22はバリ40に対応する位置を再検査箇所
と判断する。なお、製品によっては公差の制限が拡大方
向または収縮方向の一方のみの場合も考えられる。その
場合は画像32と画像36または画像38を比較するパ
ターンマッチングを行えばよい。
差)が極めて小くない場合は実画像データを拡大基準画
像データおよび/または収縮基準画像データと比較す
る。図2において、2点鎖線で輪郭を示す画像36は、
拡大基準画像データを基に論理平面に構成された理想的
なリードフレームの拡大基準画像であり、一点鎖線で輪
郭を示す画像38が、収縮基準画像データを基に論理平
面に構成された理想的なリードフレームの収縮基準画像
である。すなわち、画像32と画像36および画像38
を比較するパターンマッチングを行う。その結果、画像
32の輪郭線が画像36の輪郭線と画像38の輪郭線と
の間に在ればリードフレーム14は良品と判断される。
しかし、図2に示すようにリードフレーム14にバリ4
0が存在する場合、当該バリ40の位置で画像32の輪
郭線は画像36の輪郭線より外方に突出している。従っ
て、MPU22はバリ40に対応する位置を再検査箇所
と判断する。なお、製品によっては公差の制限が拡大方
向または収縮方向の一方のみの場合も考えられる。その
場合は画像32と画像36または画像38を比較するパ
ターンマッチングを行えばよい。
【0015】MPU22は、リードフレーム14が良品
と判断された場合は製品搬送装置12を駆動して当該リ
ードフレーム14を次工程へ搬送する。もし、MPU2
2は、図2に示すように再検査箇所が有ると判断した場
合、バリ40の位置を再検査箇所とし、当該再検査箇所
の位置等のデータを第5メモリ20eへ記憶する。続い
てMPU22は、第5メモリ20eのデータを基に実画
像データから再検査箇所(バリ40近傍のA部)の実画
像を拡大した拡大実画像に対する画像データである拡大
実画像データを演算で求め、第6メモリ20fに記憶す
る。さらに、MPU22は、図3に示すように、第6メ
モリ20fに記憶された拡大実画像データを基に、ディ
スプレイ26に再検査箇所A部の拡大実画像32aを拡
大した画像34a(または画像36aおよび/もしくは
画像38a)と併せて表示する。その際、再検査が必要
とされるバリ40部分に注意換気マーク(例えば矢印4
2や丸印)を表示するとよい。
と判断された場合は製品搬送装置12を駆動して当該リ
ードフレーム14を次工程へ搬送する。もし、MPU2
2は、図2に示すように再検査箇所が有ると判断した場
合、バリ40の位置を再検査箇所とし、当該再検査箇所
の位置等のデータを第5メモリ20eへ記憶する。続い
てMPU22は、第5メモリ20eのデータを基に実画
像データから再検査箇所(バリ40近傍のA部)の実画
像を拡大した拡大実画像に対する画像データである拡大
実画像データを演算で求め、第6メモリ20fに記憶す
る。さらに、MPU22は、図3に示すように、第6メ
モリ20fに記憶された拡大実画像データを基に、ディ
スプレイ26に再検査箇所A部の拡大実画像32aを拡
大した画像34a(または画像36aおよび/もしくは
画像38a)と併せて表示する。その際、再検査が必要
とされるバリ40部分に注意換気マーク(例えば矢印4
2や丸印)を表示するとよい。
【0016】検査作業員はディスプレイ26に表示され
た拡大画像32a、34a、36a、38aを見ながら
画像32aの矢印42近傍を再検査することによりバリ
40を容易に発見することができる。なお、再検査箇所
が複数有る場合は順番に拡大画像をディスプレイ26に
表示してもよいし、検査作業員の指定した再検査箇所の
拡大画像をディスプレイ26に表示してもよい。もし、
再検査で不良品と判断できない場合は、MPU22に不
良品と判断させた原因は別に在ると判断することができ
る。以上、本発明の好適な実施例について種々述べてき
たが、本発明は上述の実施例に限定されるのではなく、
例えば再検査箇所を表示手段に表示する場合、製品によ
っては拡大実画像ではなく、実画像であってもよい等、
発明の精神を逸脱いない範囲で多くの改変を施し得るの
はもちろんである。
た拡大画像32a、34a、36a、38aを見ながら
画像32aの矢印42近傍を再検査することによりバリ
40を容易に発見することができる。なお、再検査箇所
が複数有る場合は順番に拡大画像をディスプレイ26に
表示してもよいし、検査作業員の指定した再検査箇所の
拡大画像をディスプレイ26に表示してもよい。もし、
再検査で不良品と判断できない場合は、MPU22に不
良品と判断させた原因は別に在ると判断することができ
る。以上、本発明の好適な実施例について種々述べてき
たが、本発明は上述の実施例に限定されるのではなく、
例えば再検査箇所を表示手段に表示する場合、製品によ
っては拡大実画像ではなく、実画像であってもよい等、
発明の精神を逸脱いない範囲で多くの改変を施し得るの
はもちろんである。
【0017】
【発明の効果】本発明に係る製品検査支援システムを用
いると、制御手段は、実画像データと基準画像データと
を比較演算し、その演算結果を基に前記製品の再検査箇
所を決定し、当該再検査箇所の実画像を前記表示手段へ
表示するので、直ちに再検査箇所の実画像を見ることが
可能となるので、目視再検査を短時間で行えると共に、
検査作業員の負荷が軽減され、検査ミスも防止可能とな
る。特に、表示手段に表示する再検査箇所の実画像を拡
大実画にすると、不良とみられる箇所を拡大して表示可
能となるのでより精密に再検査を行うことができる等の
著効を奏する。
いると、制御手段は、実画像データと基準画像データと
を比較演算し、その演算結果を基に前記製品の再検査箇
所を決定し、当該再検査箇所の実画像を前記表示手段へ
表示するので、直ちに再検査箇所の実画像を見ることが
可能となるので、目視再検査を短時間で行えると共に、
検査作業員の負荷が軽減され、検査ミスも防止可能とな
る。特に、表示手段に表示する再検査箇所の実画像を拡
大実画にすると、不良とみられる箇所を拡大して表示可
能となるのでより精密に再検査を行うことができる等の
著効を奏する。
【図1】本発明に係る製品検査支援システムの実施例の
構成を示したブロックダイアグラム。
構成を示したブロックダイアグラム。
【図2】論理平面における各画像の関係を示した説明
図。
図。
【図3】ディスプレイに表示された拡大実画像等を示し
た説明図。
た説明図。
【符号の説明】 10 CCDカメラ 14 リードフレーム 16 視野 18 ROM 19 外部メモリ 20 RAM 20a 第1メモリエリア 20b 第2メモリエリア 20c 第3メモリエリア 20d 第4メモリエリア 20e 第5メモリエリア 20f 第6メモリエリア 22 MPU 32 実画像 34 基準画像 36 拡大基準画像 38 収縮基準画像 32a 拡大実画像 A 検査箇所
Claims (3)
- 【請求項1】 視野内における製品の画像を取り込み、
該画像を構成する画素毎のデータである実画像データを
生成する入力手段と、 前記実画像データを記憶するための第1の記憶手段と、 論理平面における理想的な製品の画像である基準画像を
構成する画素毎のデータである基準画像データを記憶す
るための第2の記憶手段と、 前記実画像データを基に前記製品の実画像を表示する表
示手段と、 前記実画像データと基準画像データとを比較演算し、そ
の演算結果を基に前記製品の再検査箇所を決定し、当該
再検査箇所の実画像を前記表示手段へ表示する制御手段
とを具備することを特徴とする製品検査支援システム。 - 【請求項2】 前記基準画像に対し所定量拡大した拡大
基準画像データを記憶するための第3の記憶手段と、 前記基準画像に対し所定量収縮した収縮基準画像データ
を記憶するための第4の記憶手段とを具備し、 前記制御手段は前記実画像データと前記拡大基準画像デ
ータおよび/または前記収縮基準画像データとを比較演
算し、その演算結果を基に前記製品の再検査箇所を決定
することを特徴とする請求項1記載の製品検査支援シス
テム。 - 【請求項3】 前記制御手段が前記表示手段に表示する
再検査箇所の実画像は、当該再検査箇所の拡大実画像で
あることを特徴とする請求項1または2記載の製品検査
支援システム。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP4242733A JPH0666532A (ja) | 1992-08-19 | 1992-08-19 | 製品検査支援システム |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP4242733A JPH0666532A (ja) | 1992-08-19 | 1992-08-19 | 製品検査支援システム |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH0666532A true JPH0666532A (ja) | 1994-03-08 |
Family
ID=17093445
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP4242733A Pending JPH0666532A (ja) | 1992-08-19 | 1992-08-19 | 製品検査支援システム |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH0666532A (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2000052644A1 (fr) * | 1999-02-26 | 2000-09-08 | Hitachi, Ltd. | Procede et dispositif d'inspection d'un schema |
JP2008190900A (ja) * | 2007-02-01 | 2008-08-21 | Mitsutoyo Corp | 硬さ試験機 |
-
1992
- 1992-08-19 JP JP4242733A patent/JPH0666532A/ja active Pending
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2000052644A1 (fr) * | 1999-02-26 | 2000-09-08 | Hitachi, Ltd. | Procede et dispositif d'inspection d'un schema |
JP2008190900A (ja) * | 2007-02-01 | 2008-08-21 | Mitsutoyo Corp | 硬さ試験機 |
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