JPH0660345A - 回転ヘツド突出量測定装置 - Google Patents
回転ヘツド突出量測定装置Info
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- JPH0660345A JPH0660345A JP23424192A JP23424192A JPH0660345A JP H0660345 A JPH0660345 A JP H0660345A JP 23424192 A JP23424192 A JP 23424192A JP 23424192 A JP23424192 A JP 23424192A JP H0660345 A JPH0660345 A JP H0660345A
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Abstract
(57)【要約】
【目的】回転ヘツド突出量測定装置において、簡易な構
成で種々の高さの回転ヘツドの突出量を正確に測定す
る。 【構成】照射光学系ＬＸ１及び入射光学系ＬＸ２を、回
転ヘツド１の回転平面以外の位置で、かつ磁気テープ当
接面２ａで反射されたレーザ反射光Ｌ１２のみを位置検
出素子１４に入射させる位置に配置すると共に、照射光
学系ＬＸ１に設けたシリンドリカルレンズ１５又はスリ
ツトによつて、回転ヘツド１の磁気テープ当接面２ａ
に、回転ヘツド１の回転軸方向に伸張する細長光スポツ
トＬ１１を照射させるようにしたことにより、簡易な構
成で種々の高さの回転ヘツドや高さ可変回転ヘツドの突
出量を正確に測定し得る。
成で種々の高さの回転ヘツドの突出量を正確に測定す
る。 【構成】照射光学系ＬＸ１及び入射光学系ＬＸ２を、回
転ヘツド１の回転平面以外の位置で、かつ磁気テープ当
接面２ａで反射されたレーザ反射光Ｌ１２のみを位置検
出素子１４に入射させる位置に配置すると共に、照射光
学系ＬＸ１に設けたシリンドリカルレンズ１５又はスリ
ツトによつて、回転ヘツド１の磁気テープ当接面２ａ
に、回転ヘツド１の回転軸方向に伸張する細長光スポツ
トＬ１１を照射させるようにしたことにより、簡易な構
成で種々の高さの回転ヘツドや高さ可変回転ヘツドの突
出量を正確に測定し得る。
Description
【０００１】
【目次】以下の順序で本発明を説明する。 産業上の利用分野 従来の技術（図５） 発明が解決しようとする課題（図６及び図７） 課題を解決するための手段（図３） 作用（図３） 実施例（図１〜図４） 発明の効果
【０００２】
【産業上の利用分野】本発明は回転ヘツド突出量測定装
置に関し、特に磁気記録再生装置の回転ヘツド装置に搭
載された回転ヘツドの突出量を測定するものに適用し得
る。
置に関し、特に磁気記録再生装置の回転ヘツド装置に搭
載された回転ヘツドの突出量を測定するものに適用し得
る。
【０００３】
【従来の技術】従来、磁気記録再生装置の回転ヘツド装
置に搭載された回転ヘツドは、ドラムより所定量だけ突
き出していることにより、ドラムに巻き付けられて走行
する磁気テ−プと接触し、これにより磁気テープを走査
して所望の情報信号を記録し再生し得るようになされて
いる。従つてこの回転ヘツドのドラムからの突き出し量
は、磁気記録再生装置の記録再生特性を左右するもの
で、このため回転ヘツドの突出量を測定する回転ヘツド
突出量測定装置が用いられている。
置に搭載された回転ヘツドは、ドラムより所定量だけ突
き出していることにより、ドラムに巻き付けられて走行
する磁気テ−プと接触し、これにより磁気テープを走査
して所望の情報信号を記録し再生し得るようになされて
いる。従つてこの回転ヘツドのドラムからの突き出し量
は、磁気記録再生装置の記録再生特性を左右するもの
で、このため回転ヘツドの突出量を測定する回転ヘツド
突出量測定装置が用いられている。
【０００４】実際上図５に示すように、回転ヘツド１に
張りつけられたヘツドチツプ２の突出量を測定する場
合、ヘツドチツプ２の突出量の変化は最大でも0.05〔m
m〕程度の小さい値であり、これを正確に測定するため
には回転ヘツド突出量測定装置として0.0005〔mm〕程度
の分解能が要求される。このため従来レーザ光を用いた
回転ヘツド突出量測定装置が提案されている（特開平2-
244401号公報）。
張りつけられたヘツドチツプ２の突出量を測定する場
合、ヘツドチツプ２の突出量の変化は最大でも0.05〔m
m〕程度の小さい値であり、これを正確に測定するため
には回転ヘツド突出量測定装置として0.0005〔mm〕程度
の分解能が要求される。このため従来レーザ光を用いた
回転ヘツド突出量測定装置が提案されている（特開平2-
244401号公報）。
【０００５】この回転ヘツド突出量測定装置１０におい
ては、レーザダイオード１１から射出されたレーザ光Ｌ
１がレンズ１２を通じてヘツドチツプ２の先端で磁気テ
ープに当接する端面（以下これを磁気テープ当接面と呼
ぶ）を照射し、この磁気テープ当接面で反射されたレー
ザ反射光Ｌ２がレンズ１３を通じて位置検出素子１４に
入射する。そしてこのレーザ反射光Ｌ２の入射位置の変
化によつてヘツドチツプ２の突出量を測定し得るように
なされている。なお図５中において、ヘツドチツプ２は
回転ヘツド１上に固着され、この回転ヘツド１が回転ド
ラム３にねじ４で固定されている。
ては、レーザダイオード１１から射出されたレーザ光Ｌ
１がレンズ１２を通じてヘツドチツプ２の先端で磁気テ
ープに当接する端面（以下これを磁気テープ当接面と呼
ぶ）を照射し、この磁気テープ当接面で反射されたレー
ザ反射光Ｌ２がレンズ１３を通じて位置検出素子１４に
入射する。そしてこのレーザ反射光Ｌ２の入射位置の変
化によつてヘツドチツプ２の突出量を測定し得るように
なされている。なお図５中において、ヘツドチツプ２は
回転ヘツド１上に固着され、この回転ヘツド１が回転ド
ラム３にねじ４で固定されている。
【０００６】
【発明が解決しようとする課題】ところで磁気記録再生
装置におけるヘツドチツプ２の回転軸方向の高さは、各
ヘツドチツプ２毎に異なつている場合が多い。このため
全てのヘツドチツプ２の突出量を測定しようとすると、
異なる高さに合わせてレーザ光を分岐させて照射した
り、図６に示すように射出されたレーザ光Ｌ１を例えば
シリンドリカルレンズ１５で成形し、回転ドラムの回転
軸方向に細長い矩形の照射光Ｌ３を照射するようになさ
れた回転ヘツド突出量測定装置が提案されている（特開
平3-71401 号公報）。なお図６においては、回転ヘツド
１上のヘツドチツプ２が回転ドラム４及び下ドラム５間
の間隙中で回転する様子を示している。
装置におけるヘツドチツプ２の回転軸方向の高さは、各
ヘツドチツプ２毎に異なつている場合が多い。このため
全てのヘツドチツプ２の突出量を測定しようとすると、
異なる高さに合わせてレーザ光を分岐させて照射した
り、図６に示すように射出されたレーザ光Ｌ１を例えば
シリンドリカルレンズ１５で成形し、回転ドラムの回転
軸方向に細長い矩形の照射光Ｌ３を照射するようになさ
れた回転ヘツド突出量測定装置が提案されている（特開
平3-71401 号公報）。なお図６においては、回転ヘツド
１上のヘツドチツプ２が回転ドラム４及び下ドラム５間
の間隙中で回転する様子を示している。
【０００７】ところが上述のように異なる高さにレーザ
光を分岐させて、異なる高さのヘツドチツプ２の突出量
を測定する場合には、レーザ光を分岐させる特別な光学
素子が必要となつたり、レーザ光を射出するレーザダイ
オード１３を異なる高さごとに複数搭載する必要があ
り、構成が複雑になることに加えて、回転ヘツド装置の
周辺が大型化する問題があつた。
光を分岐させて、異なる高さのヘツドチツプ２の突出量
を測定する場合には、レーザ光を分岐させる特別な光学
素子が必要となつたり、レーザ光を射出するレーザダイ
オード１３を異なる高さごとに複数搭載する必要があ
り、構成が複雑になることに加えて、回転ヘツド装置の
周辺が大型化する問題があつた。
【０００８】またヘツドチツプ２の突出量を正確に測定
するためには、ヘツドチツプ２の磁気テープ当接面２ａ
に照射されたレーザ光Ｌ１のみが、位置検出素子１４に
入射する必要があり、他の光が位置検出素子１４に入射
すると測定誤差を生じてしまう。ところが上述のように
細長い矩形のレーザ照射光Ｌ３を照射する場合には、図
７に示すように、ヘツドチツプ２に巻線５が巻かれてい
るため、上下の巻き線５ａ及び５ｂで反射されたレーザ
反射光ＬＡ、ＬＢも位置検出素子１４に入射し、このた
めヘツドチツプ２の突出量の測定値に誤差が生じる問題
があつた。
するためには、ヘツドチツプ２の磁気テープ当接面２ａ
に照射されたレーザ光Ｌ１のみが、位置検出素子１４に
入射する必要があり、他の光が位置検出素子１４に入射
すると測定誤差を生じてしまう。ところが上述のように
細長い矩形のレーザ照射光Ｌ３を照射する場合には、図
７に示すように、ヘツドチツプ２に巻線５が巻かれてい
るため、上下の巻き線５ａ及び５ｂで反射されたレーザ
反射光ＬＡ、ＬＢも位置検出素子１４に入射し、このた
めヘツドチツプ２の突出量の測定値に誤差が生じる問題
があつた。
【０００９】本発明は以上の点を考慮してなされたもの
で、簡易な構成で種々の高さの回転ヘツドの突出量を正
確に測定し得る回転ヘツド突出量測定装置を提案しよう
とするものである。
で、簡易な構成で種々の高さの回転ヘツドの突出量を正
確に測定し得る回転ヘツド突出量測定装置を提案しよう
とするものである。
【００１０】
【課題を解決するための手段】かかる課題を解決するた
め本発明においては、レーザ光源１１から射出されたレ
ーザ光Ｌ１０を回転ヘツド装置に載置された回転ヘツド
１の磁気テープ当接面２ａに照射する照射光学系ＬＸ１
と、回転ヘツド１の磁気テープ当接面２ａで反射された
レーザ反射光Ｌ１２を位置検出素子１４に入射させる入
射光学系ＬＸ２とを有し、位置検出素子１４の検出出力
によつて回転ヘツド１の突出量を測定する回転ヘツド突
出量測定装置２０において、照射光学系ＬＸ１及び入射
光学系ＬＸ２を、回転ヘツド１の回転平面以外の位置
で、かつ磁気テープ当接面２ａで反射されたレーザ反射
光Ｌ１２のみを位置検出素子１４に入射させる位置に配
置すると共に、照射光学系ＬＸ１に回転ヘツド１の磁気
テープ当接面２ａに回転ヘツド装置の回転軸方向に伸張
する細長光スポツトＬ１１を照射させるレーザ光整形手
段１５を設けるようにした。
め本発明においては、レーザ光源１１から射出されたレ
ーザ光Ｌ１０を回転ヘツド装置に載置された回転ヘツド
１の磁気テープ当接面２ａに照射する照射光学系ＬＸ１
と、回転ヘツド１の磁気テープ当接面２ａで反射された
レーザ反射光Ｌ１２を位置検出素子１４に入射させる入
射光学系ＬＸ２とを有し、位置検出素子１４の検出出力
によつて回転ヘツド１の突出量を測定する回転ヘツド突
出量測定装置２０において、照射光学系ＬＸ１及び入射
光学系ＬＸ２を、回転ヘツド１の回転平面以外の位置
で、かつ磁気テープ当接面２ａで反射されたレーザ反射
光Ｌ１２のみを位置検出素子１４に入射させる位置に配
置すると共に、照射光学系ＬＸ１に回転ヘツド１の磁気
テープ当接面２ａに回転ヘツド装置の回転軸方向に伸張
する細長光スポツトＬ１１を照射させるレーザ光整形手
段１５を設けるようにした。
【００１１】また本発明においては、レーザ光整形手段
１５としてシリンドリカルレンズを用い、レーザ光Ｌ１
０を細長光スポツトＬ１１に整形して、回転ヘツド１の
磁気テープ当接面２ａに照射するようにした。
１５としてシリンドリカルレンズを用い、レーザ光Ｌ１
０を細長光スポツトＬ１１に整形して、回転ヘツド１の
磁気テープ当接面２ａに照射するようにした。
【００１２】さらに本発明においては、レーザ光整形手
段１５としてスリツトを用い、レーザ光Ｌ１０を細長光
スポツトＬ１１に整形して、回転ヘツド１の磁気テープ
当接面２ａに照射するようにした。
段１５としてスリツトを用い、レーザ光Ｌ１０を細長光
スポツトＬ１１に整形して、回転ヘツド１の磁気テープ
当接面２ａに照射するようにした。
【００１３】さらにまた本発明においては、回転ヘツド
１として制御信号に応じてヘツド高さを可変し得る高さ
可変回転ヘツドを用い、当該高さ可変回転ヘツドの磁気
テープ当接面２ａの突出量を測定するようにした。
１として制御信号に応じてヘツド高さを可変し得る高さ
可変回転ヘツドを用い、当該高さ可変回転ヘツドの磁気
テープ当接面２ａの突出量を測定するようにした。
【００１４】
【作用】照射光学系ＬＸ１及び入射光学系ＬＸ２を、回
転ヘツド１の回転平面以外の位置で、かつ磁気テープ当
接面２ａで反射されたレーザ反射光Ｌ１２のみを位置検
出素子１４に入射させる位置に配置すると共に、照射光
学系ＬＸ１に設けたシリンドリカルレンズ１５又はスリ
ツトによつて、回転ヘツド１の磁気テープ当接面２ａ
に、回転ヘツド１の回転軸方向に伸張する細長光スポツ
トＬ１１を照射させるようにしたことにより、簡易な構
成で種々の高さの回転ヘツド１や高さ可変回転ヘツドの
突出量を正確に測定し得る。
転ヘツド１の回転平面以外の位置で、かつ磁気テープ当
接面２ａで反射されたレーザ反射光Ｌ１２のみを位置検
出素子１４に入射させる位置に配置すると共に、照射光
学系ＬＸ１に設けたシリンドリカルレンズ１５又はスリ
ツトによつて、回転ヘツド１の磁気テープ当接面２ａ
に、回転ヘツド１の回転軸方向に伸張する細長光スポツ
トＬ１１を照射させるようにしたことにより、簡易な構
成で種々の高さの回転ヘツド１や高さ可変回転ヘツドの
突出量を正確に測定し得る。
【００１５】
【実施例】以下図面について、本発明の一実施例を詳述
する。
する。
【００１６】図５〜図７との対応部分に同一符号を付し
て示す図１及び図２は本発明による回転ヘツド突出量測
定装置２０が用いられる回転ヘツド装置の構成を示し、
この回転ヘツド装置は、４個のそれぞれ高さが異なる回
転ヘツド１がねじ４で取り付けられた回転ドラム３と、
磁気記録再生装置に固定される下ドラム６を有して構成
されている。
て示す図１及び図２は本発明による回転ヘツド突出量測
定装置２０が用いられる回転ヘツド装置の構成を示し、
この回転ヘツド装置は、４個のそれぞれ高さが異なる回
転ヘツド１がねじ４で取り付けられた回転ドラム３と、
磁気記録再生装置に固定される下ドラム６を有して構成
されている。
【００１７】実際上回転ドラム３は中心に嵌入された軸
７が、下ドラム６に圧入されたベアリング８に軸支さ
れ、これにより下ドラム６に対して回転ドラム３が回転
自在に取り付けられ、この状態で回転ヘツド１の先端に
取り付けられたヘツドチツプ２が下ドラム６及び回転ド
ラム３間の間隙より僅かに突出して回転する。
７が、下ドラム６に圧入されたベアリング８に軸支さ
れ、これにより下ドラム６に対して回転ドラム３が回転
自在に取り付けられ、この状態で回転ヘツド１の先端に
取り付けられたヘツドチツプ２が下ドラム６及び回転ド
ラム３間の間隙より僅かに突出して回転する。
【００１８】この実施例の回転ヘツド突出量測定装置２
０は、この回転ヘツド１の磁気テープ当接面の突出量を
測定するもので、実際上図３に示すように、レーザダイ
オード１１が斜め上方に設置され、このレーザダイオー
ド１１から射出されたレーザ光Ｌ１０がレンズ１２及び
シリンドリカルレンズ１５を通じてヘツドチツプ２の磁
気テープ当接面２ａ上を照射する。
０は、この回転ヘツド１の磁気テープ当接面の突出量を
測定するもので、実際上図３に示すように、レーザダイ
オード１１が斜め上方に設置され、このレーザダイオー
ド１１から射出されたレーザ光Ｌ１０がレンズ１２及び
シリンドリカルレンズ１５を通じてヘツドチツプ２の磁
気テープ当接面２ａ上を照射する。
【００１９】実際上レーザ光Ｌ１０はレーザダイオード
１１から射出され、レンズ１２で集束されると共にシリ
ンドリカルレンズ１５で細長い矩形のレーザビームに整
形され、これによりヘツドチツプ２上に回転ヘツド１の
回転軸方向に伸張する細長い矩形スポツトＬ１１が形成
される。またこの結果ヘツドチツプ２で反射されたレー
ザ反射光Ｌ１２がレンズ１３で集光され位置検出素子１
４に入射する。
１１から射出され、レンズ１２で集束されると共にシリ
ンドリカルレンズ１５で細長い矩形のレーザビームに整
形され、これによりヘツドチツプ２上に回転ヘツド１の
回転軸方向に伸張する細長い矩形スポツトＬ１１が形成
される。またこの結果ヘツドチツプ２で反射されたレー
ザ反射光Ｌ１２がレンズ１３で集光され位置検出素子１
４に入射する。
【００２０】この実施例の場合、レーザダイオード１１
からレンズ１２及びシリンドリカルレンズ１５を経てヘ
ツドチツプ２に至る照射光学系ＬＸ１は、回転ヘツド１
の回転平面から上方に60°の角度を有するように配置さ
れている。これに対してヘツドチツプ２からレンズ１３
を経て位置検出素子１４に至る入射光学系ＬＸ２は、回
転ヘツド１の回転平面から下方に60°の角度を有するよ
うに配置されている。
からレンズ１２及びシリンドリカルレンズ１５を経てヘ
ツドチツプ２に至る照射光学系ＬＸ１は、回転ヘツド１
の回転平面から上方に60°の角度を有するように配置さ
れている。これに対してヘツドチツプ２からレンズ１３
を経て位置検出素子１４に至る入射光学系ＬＸ２は、回
転ヘツド１の回転平面から下方に60°の角度を有するよ
うに配置されている。
【００２１】またこの照明光学系ＬＸ１及び入射光学系
ＬＸ２は、それぞれ例えば回転ヘツド１の回転平面に投
影された場合、図５に示す従来の回転ヘツド突出量測定
装置１０と同様に、半径方向を中心としてそれぞれ45°
の角度を有するように配置されている。
ＬＸ２は、それぞれ例えば回転ヘツド１の回転平面に投
影された場合、図５に示す従来の回転ヘツド突出量測定
装置１０と同様に、半径方向を中心としてそれぞれ45°
の角度を有するように配置されている。
【００２２】このように斜め上方よりレーザ光Ｌ１０を
照射するようにすれば、図４に示すようにレーザ照射側
と逆側のヘツドチツプ２の巻線５ｂには、ヘツドチツプ
２によつてレーザ光Ｌ１０が遮られることにより、レー
ザ光Ｌ１０が照射されなくなる。これは斜め上方からヘ
ツドチツプ２を見ると、下側の巻線５ｂがヘツドチツプ
２に隠れて見えず、この方向からレーザ光Ｌ１０を照射
すると下側の巻線５ｂにレーザ光Ｌ１０が照射されない
ことがわかる。
照射するようにすれば、図４に示すようにレーザ照射側
と逆側のヘツドチツプ２の巻線５ｂには、ヘツドチツプ
２によつてレーザ光Ｌ１０が遮られることにより、レー
ザ光Ｌ１０が照射されなくなる。これは斜め上方からヘ
ツドチツプ２を見ると、下側の巻線５ｂがヘツドチツプ
２に隠れて見えず、この方向からレーザ光Ｌ１０を照射
すると下側の巻線５ｂにレーザ光Ｌ１０が照射されない
ことがわかる。
【００２３】また逆にヘツドチツプ２の上側の巻線５ａ
には、レーザ光Ｌ１０が照射されるが、位置検出素子１
４からはこのヘツドチツプ２の上側の巻線５ａがヘツド
チツプ２によつて遮られることにより、レーザ照射側の
上部の巻線５ａに照射されてなるレーザ反射光は、位置
検出素子１２には入射しなくなる。
には、レーザ光Ｌ１０が照射されるが、位置検出素子１
４からはこのヘツドチツプ２の上側の巻線５ａがヘツド
チツプ２によつて遮られることにより、レーザ照射側の
上部の巻線５ａに照射されてなるレーザ反射光は、位置
検出素子１２には入射しなくなる。
【００２４】従つてこの実施例の回転ヘツド突出量測定
装置２０においては、レーザ光Ｌ１０のうちヘツドチツ
プ２の磁気テープ当接面２ａに照射されたレーザ光のみ
を、位置検出素子１２に入射させることができ、かくし
て位置検出素子１４の検出出力によつてヘツドチツプ２
の突出量を正確に測定することができる。
装置２０においては、レーザ光Ｌ１０のうちヘツドチツ
プ２の磁気テープ当接面２ａに照射されたレーザ光のみ
を、位置検出素子１２に入射させることができ、かくし
て位置検出素子１４の検出出力によつてヘツドチツプ２
の突出量を正確に測定することができる。
【００２５】以上の構成によれば、レーザダイオード１
１を含む照射光学系ＬＸ１及び位置検出素子１４を含む
入射光学系ＬＸ２を、あおり角度を持つように配置する
ようにしたことにより、レーザダイオード１１から照射
されたレーザ光Ｌ１０の内、ヘツドチツプ２の磁気テー
プ当接面２ａに照射されたレーザ光のみを位置検出素子
１４に入射させることができ、かくして簡易な構成で高
さの異なるヘツドチツプ２であつてもその突出量を正確
に測定し得る回転ヘツド突出量測定装置２０を実現でき
る。
１を含む照射光学系ＬＸ１及び位置検出素子１４を含む
入射光学系ＬＸ２を、あおり角度を持つように配置する
ようにしたことにより、レーザダイオード１１から照射
されたレーザ光Ｌ１０の内、ヘツドチツプ２の磁気テー
プ当接面２ａに照射されたレーザ光のみを位置検出素子
１４に入射させることができ、かくして簡易な構成で高
さの異なるヘツドチツプ２であつてもその突出量を正確
に測定し得る回転ヘツド突出量測定装置２０を実現でき
る。
【００２６】さらに上述の構成によれば、種々の高さの
ヘツドチツプ２の突出量を正確に測定し得ることによ
り、制御信号によつて高さを可変し得るようになされた
高さ可変回転ヘツドの突出量をも正確に測定することが
可能となり、回転ヘツド突出量測定装置２０としての有
用性を一段と向上し得る。
ヘツドチツプ２の突出量を正確に測定し得ることによ
り、制御信号によつて高さを可変し得るようになされた
高さ可変回転ヘツドの突出量をも正確に測定することが
可能となり、回転ヘツド突出量測定装置２０としての有
用性を一段と向上し得る。
【００２７】なお上述の実施例においては、照射光学系
ＬＸ１及び入射光学系ＬＸ２を回転ヘツド２の回転平面
に対して、それぞれ上及び下方向に60°の角度を有する
ように配置したが、照射光学系ＬＸ１及び入射光学系Ｌ
Ｘ２を配置する角度は、これに限らず、要はレーザダイ
オード１１から射出されたレーザ光Ｌ１０がヘツドチツ
プ２の下側の巻線５ｂに当たらない角度以上の角度で配
置するようにすれば、上述の実施例と同様の効果を実現
できる。
ＬＸ１及び入射光学系ＬＸ２を回転ヘツド２の回転平面
に対して、それぞれ上及び下方向に60°の角度を有する
ように配置したが、照射光学系ＬＸ１及び入射光学系Ｌ
Ｘ２を配置する角度は、これに限らず、要はレーザダイ
オード１１から射出されたレーザ光Ｌ１０がヘツドチツ
プ２の下側の巻線５ｂに当たらない角度以上の角度で配
置するようにすれば、上述の実施例と同様の効果を実現
できる。
【００２８】また上述の実施例においては、照射光学系
ＬＸ１及び入射光学系ＬＸ２を回転ヘツド２の回転平面
に対して、それぞれ上及び下方向に配置した場合につい
て述べたが、これに限らず、照射光学系ＬＸ１及び入射
光学系ＬＸ２を回転ヘツド２の回転平面に対して、それ
ぞれ下及び上方向に配置するようにしても良い。
ＬＸ１及び入射光学系ＬＸ２を回転ヘツド２の回転平面
に対して、それぞれ上及び下方向に配置した場合につい
て述べたが、これに限らず、照射光学系ＬＸ１及び入射
光学系ＬＸ２を回転ヘツド２の回転平面に対して、それ
ぞれ下及び上方向に配置するようにしても良い。
【００２９】さらに上述の実施例においては、レーザ光
Ｌ１０を整形して細長い矩形スポツトＬ１１を照射する
ために、シリンドリカルレンズ１５を光路上に配置した
場合について述べたが、本発明はこれに限らず、光路上
にスリツトを設置したり又は例えばレーザダイオードを
縦に並べたような矩形発光素子を用いるなど種々の方法
で、細長い矩形スポツトを照射するようにしても、上述
の実施例と同様の効果を実現できる。
Ｌ１０を整形して細長い矩形スポツトＬ１１を照射する
ために、シリンドリカルレンズ１５を光路上に配置した
場合について述べたが、本発明はこれに限らず、光路上
にスリツトを設置したり又は例えばレーザダイオードを
縦に並べたような矩形発光素子を用いるなど種々の方法
で、細長い矩形スポツトを照射するようにしても、上述
の実施例と同様の効果を実現できる。
【００３０】
【発明の効果】上述のように本発明によれば、照射光学
系及び入射光学系を、回転ヘツドの回転平面以外の位置
で、かつ磁気テープ当接面で反射されたレーザ反射光の
みを位置検出素子に入射させる位置に配置すると共に、
照射光学系に設けたシリンドリカルレンズ又はスリツト
によつて、回転ヘツドの磁気テープ当接面に、回転ヘツ
ドの回転軸方向に伸張する細長光スポツトを照射するよ
うにしたことにより、簡易な構成で種々の高さの回転ヘ
ツドや高さ可変回転ヘツドの突出量を正確に測定し得る
回転ヘツド突出量測定装置を実現できる。
系及び入射光学系を、回転ヘツドの回転平面以外の位置
で、かつ磁気テープ当接面で反射されたレーザ反射光の
みを位置検出素子に入射させる位置に配置すると共に、
照射光学系に設けたシリンドリカルレンズ又はスリツト
によつて、回転ヘツドの磁気テープ当接面に、回転ヘツ
ドの回転軸方向に伸張する細長光スポツトを照射するよ
うにしたことにより、簡易な構成で種々の高さの回転ヘ
ツドや高さ可変回転ヘツドの突出量を正確に測定し得る
回転ヘツド突出量測定装置を実現できる。
【図１】本発明による回転ヘツド突出量測定装置によつ
て測定される回転ヘツド装置の構成を示す断面図であ
る。
て測定される回転ヘツド装置の構成を示す断面図であ
る。
【図２】図１と同様に回転ヘツド突出量測定装置によつ
て測定される回転ヘツド装置の構成を示す略線的平面図
である。
て測定される回転ヘツド装置の構成を示す略線的平面図
である。
【図３】本発明による回転ヘツド突出量測定装置の一実
施例を示す略線図である。
施例を示す略線図である。
【図４】図３の回転ヘツド突出量測定装置におけるレー
ザダイオードからの回転ヘツドの見え方を示す略線的斜
視図である。
ザダイオードからの回転ヘツドの見え方を示す略線的斜
視図である。
【図５】従来の回転ヘツド突出量測定装置を示す略線的
平面図である。
平面図である。
【図６】図５と同様に従来の回転ヘツド突出量測定装置
を示す略線図である。
を示す略線図である。
【図７】図６の回転ヘツド突出量測定装置におけるレー
ザダイオードからの回転ヘツドの見え方を示す略線的斜
視図である。
ザダイオードからの回転ヘツドの見え方を示す略線的斜
視図である。
１……回転ヘツド、２……ヘツドチツプ、２ａ……磁気
テープ当接面、３……回転ドラム、５……巻線、１０、
２０……回転ヘツド突出量測定装置、１１……レーザダ
イオード、１２、１３……レンズ、１４……位置検出素
子、１５……シリンドリカルレンズ。
テープ当接面、３……回転ドラム、５……巻線、１０、
２０……回転ヘツド突出量測定装置、１１……レーザダ
イオード、１２、１３……レンズ、１４……位置検出素
子、１５……シリンドリカルレンズ。
Claims (4)
- 【請求項１】レーザ光源から射出されたレーザ光を回転
ヘツド装置に載置された回転ヘツドの磁気テープ当接面
に照射する照射光学系と、上記回転ヘツドの上記磁気テ
ープ当接面で反射されたレーザ反射光を位置検出素子に
入射させる入射光学系とを有し、上記位置検出素子の検
出出力によつて上記回転ヘツドの突出量を測定する回転
ヘツド突出量測定装置において、 上記照射光学系及び上記入射光学系を、上記回転ヘツド
の回転平面以外の位置で、かつ上記磁気テープ当接面で
反射された上記レーザ反射光のみを上記位置検出素子に
入射させる位置に配置すると共に、上記照射光学系に上
記回転ヘツドの上記磁気テープ当接面に上記回転ヘツド
装置の回転軸方向に伸張する細長光スポツトを照射させ
るレーザ光整形手段を具えることを特徴とする回転ヘツ
ド突出量測定装置。 - 【請求項２】上記レーザ光整形手段としてシリンドリカ
ルレンズを用い、上記レーザ光を上記細長光スポツトに
整形して、上記回転ヘツドの上記磁気テープ当接面に照
射するようにしたことを特徴とする請求項１に記載の回
転ヘツド突出量測定装置。 - 【請求項３】上記レーザ光整形手段としてスリツトを用
い、上記レーザ光を上記細長光スポツトに整形して、上
記回転ヘツドの上記磁気テープ当接面に照射するように
したことを特徴とする請求項１に記載の回転ヘツド突出
量測定装置。 - 【請求項４】上記回転ヘツドとして制御信号に応じてヘ
ツド高さを可変し得る高さ可変回転ヘツドを用い、当該
高さ可変回転ヘツドの上記磁気テープ当接面の突出量を
測定するようにしたことを特徴とする請求項１に記載の
回転ヘツド突出量測定装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP23424192A JPH0660345A (ja) | 1992-08-10 | 1992-08-10 | 回転ヘツド突出量測定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP23424192A JPH0660345A (ja) | 1992-08-10 | 1992-08-10 | 回転ヘツド突出量測定装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0660345A true JPH0660345A (ja) | 1994-03-04 |
Family
ID=16967897
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP23424192A Pending JPH0660345A (ja) | 1992-08-10 | 1992-08-10 | 回転ヘツド突出量測定装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0660345A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US6660105B1 (en) | 1997-07-22 | 2003-12-09 | Nippon Steel Corporation | Case hardened steel excellent in the prevention of coarsening of particles during carburizing thereof, method of manufacturing the same, and raw shaped material for carburized parts |
-
1992
- 1992-08-10 JP JP23424192A patent/JPH0660345A/ja active Pending
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US6660105B1 (en) | 1997-07-22 | 2003-12-09 | Nippon Steel Corporation | Case hardened steel excellent in the prevention of coarsening of particles during carburizing thereof, method of manufacturing the same, and raw shaped material for carburized parts |
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