JPH0644569A - 光デイスク装置 - Google Patents
光デイスク装置Info
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- JPH0644569A JPH0644569A JP21864992A JP21864992A JPH0644569A JP H0644569 A JPH0644569 A JP H0644569A JP 21864992 A JP21864992 A JP 21864992A JP 21864992 A JP21864992 A JP 21864992A JP H0644569 A JPH0644569 A JP H0644569A
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Abstract
(57)【要約】
【目的】本発明は、サイドビームを使用してトラツキン
グエラー信号を生成し、追記型光デイスクに所望の情報
を記録する光デイスク装置に関し、受光素子の出力信号
を増幅する増幅回路の構成を簡略化する。 【構成】本発明は、サイドビームの反射光を受光する受
光素子28、30の出力信号SE〜SHについて、ロー
パスフイルタ回路54を介して帯域制限した後、光量検
出結果S3で信号レベルを補正してサイドビームプツシ
ユプル信号SPPを生成する。
グエラー信号を生成し、追記型光デイスクに所望の情報
を記録する光デイスク装置に関し、受光素子の出力信号
を増幅する増幅回路の構成を簡略化する。 【構成】本発明は、サイドビームの反射光を受光する受
光素子28、30の出力信号SE〜SHについて、ロー
パスフイルタ回路54を介して帯域制限した後、光量検
出結果S3で信号レベルを補正してサイドビームプツシ
ユプル信号SPPを生成する。
Description
【0001】
【目次】以下の順序で本発明を説明する。 産業上の利用分野 従来の技術(図3) 発明が解決しようとする課題(図4) 課題を解決するための手段(図1及び図2) 作用(図1及び図2) 実施例 (1)実施例の構成(図1及び図2) (2)実施例の効果 (3)他の実施例 発明の効果
【0002】
【産業上の利用分野】本発明は光デイスク装置に関し、
特に追記型光デイスクを使用して所望の情報を記録する
光デイスク装置に適用して好適なものである。
特に追記型光デイスクを使用して所望の情報を記録する
光デイスク装置に適用して好適なものである。
【0003】
【従来の技術】従来、この種の光デイスク装置において
は、いわゆる追記型光デイスクを使用して所望の情報を
記録し得るようになされたものがある。
は、いわゆる追記型光デイスクを使用して所望の情報を
記録し得るようになされたものがある。
【0004】すなわち追記型光デイスク装置において
は、有機色素系の薄膜に光ビームを照射してピツトを形
成することにより、所望の情報を一度だけ記録すること
ができる。さらにこのようにしてピツトを形成すること
により、この種の光デイスクにおいては、通常のコンパ
クトデイスクプレイヤで再生し得、これによりこの光デ
イスク装置においては、少量生産の場合に適用していち
いちスタンパを作成しなくても、コンパクトデイスクプ
レイヤで再生可能な光デイスクを作成することができ
る。
は、有機色素系の薄膜に光ビームを照射してピツトを形
成することにより、所望の情報を一度だけ記録すること
ができる。さらにこのようにしてピツトを形成すること
により、この種の光デイスクにおいては、通常のコンパ
クトデイスクプレイヤで再生し得、これによりこの光デ
イスク装置においては、少量生産の場合に適用していち
いちスタンパを作成しなくても、コンパクトデイスクプ
レイヤで再生可能な光デイスクを作成することができ
る。
【0005】このためこの種の光デイスクにおいては、
ピツト形成位置に沿つてプリグルーブを形成し、このプ
リグルーブを基準にしてトラツキング制御することによ
り、確実にピツトを形成し得るようになされている。
ピツト形成位置に沿つてプリグルーブを形成し、このプ
リグルーブを基準にしてトラツキング制御することによ
り、確実にピツトを形成し得るようになされている。
【0006】すなわち図3において、1は全体として光
デイスク装置を示し、追記型の光デイスク2に所望の情
報を記録する。
デイスク装置を示し、追記型の光デイスク2に所望の情
報を記録する。
【0007】光デイスク装置1においては、スピンドル
モータ4を駆動して光デイスク2を所定の回転速度で回
転駆動し、この状態で光ピツクアツプ6を駆動して所望
の情報を記録再生する。すなわち光ピツクアツプ6にお
いては、レーザドライバ8から出力される駆動信号に基
づいてレーザダイオード10を駆動し、このレーザダイ
オード10の光ビームL1をレンズ12で平行光線に変
換する。
モータ4を駆動して光デイスク2を所定の回転速度で回
転駆動し、この状態で光ピツクアツプ6を駆動して所望
の情報を記録再生する。すなわち光ピツクアツプ6にお
いては、レーザドライバ8から出力される駆動信号に基
づいてレーザダイオード10を駆動し、このレーザダイ
オード10の光ビームL1をレンズ12で平行光線に変
換する。
【0008】さらに光ピツクアツプ6においては、この
光ビームL1をビームスプリツタ14を介して対物レン
ズ16に導き、この対物レンズ16で光デイスク2に集
光する。これにより光デイスク装置1においては、レー
ザダイオード10の光ビームL1を光デイスク2に集光
し、所望の情報を記録再生し得るようになされている。
光ビームL1をビームスプリツタ14を介して対物レン
ズ16に導き、この対物レンズ16で光デイスク2に集
光する。これにより光デイスク装置1においては、レー
ザダイオード10の光ビームL1を光デイスク2に集光
し、所望の情報を記録再生し得るようになされている。
【0009】すなわち再生モードにおいて、光デイスク
装置1においては、光量を低減して光ビームL1を照射
するのに対し(以下この光量をリードパワと呼ぶ)、情
報記録時、図4に示すようにピツト形成に必要な光量
(以下ライトパワと呼ぶ)とリードパワとの間で光量を
切り換えて光ビームL1を照射する(図4(A))。こ
の情報記録時、光デイスク装置1においては、記録情報
EFMに応じてタイミング発生回路17で光量切り換え
のタイミングを制御し、これにより所望の情報を記録す
る。
装置1においては、光量を低減して光ビームL1を照射
するのに対し(以下この光量をリードパワと呼ぶ)、情
報記録時、図4に示すようにピツト形成に必要な光量
(以下ライトパワと呼ぶ)とリードパワとの間で光量を
切り換えて光ビームL1を照射する(図4(A))。こ
の情報記録時、光デイスク装置1においては、記録情報
EFMに応じてタイミング発生回路17で光量切り換え
のタイミングを制御し、これにより所望の情報を記録す
る。
【0010】さらに光ピツクアツプ6においては、光デ
イスク2の反射光L2を対物レンズ16で受光してビー
ムスプリツタ14で反射し、その反射光L2をシリンド
リカルレンズ22に入射して受光素子24に集光する。
ここで受光素子24においては、光ピツクアツプ6の光
学系を介して、光デイスク2の半径方向に受光面A〜D
を2分割し、さらに各受光面A〜Dをこの方向と直交す
る方向に2分割するようになされている。
イスク2の反射光L2を対物レンズ16で受光してビー
ムスプリツタ14で反射し、その反射光L2をシリンド
リカルレンズ22に入射して受光素子24に集光する。
ここで受光素子24においては、光ピツクアツプ6の光
学系を介して、光デイスク2の半径方向に受光面A〜D
を2分割し、さらに各受光面A〜Dをこの方向と直交す
る方向に2分割するようになされている。
【0011】これにより光デイスク装置1においては、
情報記録時、この受光素子24の出力信号SA〜SDに
基づいてピツト形成状態をモニタし得るのに対し、再生
時においては、記録情報を再生し得るようになされてい
る。すなわち光デイスク2においては、光ビームL1の
照射を開始して温度が上昇するとピツトが形成されるこ
とにより、反射光L2においては、光ビームL1をライ
トパワに切り換えた直後光量が急激に増大した後、ピツ
トが形成され始めると一定値に立ち下がる(図4
(B))。
情報記録時、この受光素子24の出力信号SA〜SDに
基づいてピツト形成状態をモニタし得るのに対し、再生
時においては、記録情報を再生し得るようになされてい
る。すなわち光デイスク2においては、光ビームL1の
照射を開始して温度が上昇するとピツトが形成されるこ
とにより、反射光L2においては、光ビームL1をライ
トパワに切り換えた直後光量が急激に増大した後、ピツ
トが形成され始めると一定値に立ち下がる(図4
(B))。
【0012】さらに反射光L2においては、続いて光ビ
ームL1がリードパワに切り換わると光量が低減し、こ
れにより光デイスク装置1においては、各受光面A〜D
の出力信号SA〜SDについて和信号SA+SB+SC
+SDを得ることにより、ピツト形成状態をモニタする
ことができ、再生時においては記録情報を再生すること
ができる。
ームL1がリードパワに切り換わると光量が低減し、こ
れにより光デイスク装置1においては、各受光面A〜D
の出力信号SA〜SDについて和信号SA+SB+SC
+SDを得ることにより、ピツト形成状態をモニタする
ことができ、再生時においては記録情報を再生すること
ができる。
【0013】これに対して受光素子24においては、シ
リンドリカルレンズ22を介して反射光L2を受光する
ことにより、対角線方向に並ぶ受光面A及びC、B及び
D間で出力信号SA及びSC、SB及びSDの和信号S
A+SC、SB+SDを得、この和信号SA+SC、S
B+SDの差信号を得ることにより、フオーカスエラー
信号FEを得ることができる。
リンドリカルレンズ22を介して反射光L2を受光する
ことにより、対角線方向に並ぶ受光面A及びC、B及び
D間で出力信号SA及びSC、SB及びSDの和信号S
A+SC、SB+SDを得、この和信号SA+SC、S
B+SDの差信号を得ることにより、フオーカスエラー
信号FEを得ることができる。
【0014】ところで再生時、光デイスク装置1におい
ては、光デイスク2のピツト形成方向に並ぶ受光面A及
びD、B及びC間で和信号SA+SD、SB+SCを
得、この和信号SA+SD、SB+SC間で差信号を得
るようにすれば、コンパクトデイスクプレイヤの場合と
同様にトラツキングエラーを検出することができる。
ては、光デイスク2のピツト形成方向に並ぶ受光面A及
びD、B及びC間で和信号SA+SD、SB+SCを
得、この和信号SA+SD、SB+SC間で差信号を得
るようにすれば、コンパクトデイスクプレイヤの場合と
同様にトラツキングエラーを検出することができる。
【0015】ところが記録時においては、ピツトが形成
されていないことにより、この方法ではトラツキングエ
ラーを検出し得ず、結局この種の光デイスク装置1にお
いては、受光素子24の両端、光デイスク2の半径方向
に配置した受光素子28及び30で光デイスク2のプリ
グルーブを検出し、これによりトラツキングエラー信号
を生成する。
されていないことにより、この方法ではトラツキングエ
ラーを検出し得ず、結局この種の光デイスク装置1にお
いては、受光素子24の両端、光デイスク2の半径方向
に配置した受光素子28及び30で光デイスク2のプリ
グルーブを検出し、これによりトラツキングエラー信号
を生成する。
【0016】すなわち光ピツクアツプ6においては、レ
ンズ12及びビームスプリツタ14間にグレーテイング
32を介挿し、ここで光ビームL1の回折光を形成す
る。さらに光ピツクアツプ6においては、グレーテイン
グ32を透過する直接光(以下センタビームと呼ぶ)と
共に、この回折光の±1次光(以下サイドビームと呼
ぶ)を対物レンズ16で光デイスク2に集光する。
ンズ12及びビームスプリツタ14間にグレーテイング
32を介挿し、ここで光ビームL1の回折光を形成す
る。さらに光ピツクアツプ6においては、グレーテイン
グ32を透過する直接光(以下センタビームと呼ぶ)と
共に、この回折光の±1次光(以下サイドビームと呼
ぶ)を対物レンズ16で光デイスク2に集光する。
【0017】これにより光デイスク装置1においては、
このサイドビームをプリグルーブに集光し、その反射光
L2を受光素子28及び30で受光する。
このサイドビームをプリグルーブに集光し、その反射光
L2を受光素子28及び30で受光する。
【0018】このとき受光素子28及び30において
は、光デイスク2の半径方向に受光面を2分割し、これ
により光デイスク装置1においては、各受光面E〜Hの
うち、それぞれ光デイスク2の外周側及び内周側の受光
面E及びG、F及びH間で出力信号SE及びSG、SF
及びSHの和信号SE+SG、SF+SHを得、この和
信号SE+SG、SF+SH間で差信号(SE+SG)
−(SF+SH)を得ることにより、プリグルーブに対
するセンタビームの照射位置を検出する。
は、光デイスク2の半径方向に受光面を2分割し、これ
により光デイスク装置1においては、各受光面E〜Hの
うち、それぞれ光デイスク2の外周側及び内周側の受光
面E及びG、F及びH間で出力信号SE及びSG、SF
及びSHの和信号SE+SG、SF+SHを得、この和
信号SE+SG、SF+SH間で差信号(SE+SG)
−(SF+SH)を得ることにより、プリグルーブに対
するセンタビームの照射位置を検出する。
【0019】ところが実際上、この受光素子28及び3
0の入射光においては、情報記録時、光ビームL1の光
量変化に追従して光量が大きく変化することにより(図
3(C))、光デイスク装置1においては、リイドパワ
のタイミングで受光素子28及び30の出力信号をサン
プルホールドし、これにより情報記録時及び再生時でト
ラツキングエラー信号を検出し得るようになされてい
る。
0の入射光においては、情報記録時、光ビームL1の光
量変化に追従して光量が大きく変化することにより(図
3(C))、光デイスク装置1においては、リイドパワ
のタイミングで受光素子28及び30の出力信号をサン
プルホールドし、これにより情報記録時及び再生時でト
ラツキングエラー信号を検出し得るようになされてい
る。
【0020】すなわち光デイスク装置1においては、各
受光素子24、28、30の出力信号SA〜AHをサン
プルホールド回路(S/H)34に出力し、ここでタイ
ミング発生回路34から出力されるサンプリングパルス
SPでサンプルホールドする(図4においてサンプリン
グのタイミングを矢印で示す)。さらに光デイスク装置
1においては、このサンプルホールドされた各出力信号
SA〜SHをマトリツクス回路36に出力し、ここで出
力信号SA〜SD間で加減算処理を実行してフオーカス
エラー信号FEを生成し、このフオーカスエラー信号E
Fを位相補償回路38に出力する。
受光素子24、28、30の出力信号SA〜AHをサン
プルホールド回路(S/H)34に出力し、ここでタイ
ミング発生回路34から出力されるサンプリングパルス
SPでサンプルホールドする(図4においてサンプリン
グのタイミングを矢印で示す)。さらに光デイスク装置
1においては、このサンプルホールドされた各出力信号
SA〜SHをマトリツクス回路36に出力し、ここで出
力信号SA〜SD間で加減算処理を実行してフオーカス
エラー信号FEを生成し、このフオーカスエラー信号E
Fを位相補償回路38に出力する。
【0021】これにより位相補償回路38は、フオーカ
スエラー信号が0レベルになるようにフオーカスアクチ
ユエータ40を駆動し、フオーカス制御するようになさ
れている。
スエラー信号が0レベルになるようにフオーカスアクチ
ユエータ40を駆動し、フオーカス制御するようになさ
れている。
【0022】さらにマトリツクス回路36は、受光素子
24について、光デイスク2のピツト形成方向に並ぶ受
光面A及びD、B及びC間で和信号SA+SD、SB+
SCを得、この和信号SA+SD、SB+SC間で差信
号(以下センタビームプツシユプル信号と呼ぶ)CPP
を生成する。
24について、光デイスク2のピツト形成方向に並ぶ受
光面A及びD、B及びC間で和信号SA+SD、SB+
SCを得、この和信号SA+SD、SB+SC間で差信
号(以下センタビームプツシユプル信号と呼ぶ)CPP
を生成する。
【0023】さらにマトリツクス回路36は、受光素子
28及び30について、リードパワの期間の間に得られ
るサンプルホールド結果に基づいて、それぞれ光デイス
ク2の外周側及び内周側の受光面E及びG、F及びH間
で出力信号SE及びSG、SF及びSHの和信号SE+
SG、SF+SHを得、この和信号SE+SG、SF+
SH間で差信号(以下サイドビームプツシユプル信号と
呼ぶ)SPP((SE+SG)−(SF+SH))を
得、センタビームプツシユプル信号CPP及びサイドビ
ームプツシユプル信号SPPを減算回路42で減算して
トラツキングエラー信号TEを生成する。
28及び30について、リードパワの期間の間に得られ
るサンプルホールド結果に基づいて、それぞれ光デイス
ク2の外周側及び内周側の受光面E及びG、F及びH間
で出力信号SE及びSG、SF及びSHの和信号SE+
SG、SF+SHを得、この和信号SE+SG、SF+
SH間で差信号(以下サイドビームプツシユプル信号と
呼ぶ)SPP((SE+SG)−(SF+SH))を
得、センタビームプツシユプル信号CPP及びサイドビ
ームプツシユプル信号SPPを減算回路42で減算して
トラツキングエラー信号TEを生成する。
【0024】これより光デイスク装置1においては、こ
のトラツキングエラー信号TEが0レベルになるよう
に、位相補償回路44でトラツキングアクチユエータ4
6を駆動し、情報記録時においても、確実にトラツキン
グ制御し得るようになされている。
のトラツキングエラー信号TEが0レベルになるよう
に、位相補償回路44でトラツキングアクチユエータ4
6を駆動し、情報記録時においても、確実にトラツキン
グ制御し得るようになされている。
【0025】
【発明が解決しようとする課題】ところでこのサイドビ
ームにおいては、センタビームに比して光量が1/9と
小さいことにより、光デイスク装置1においては、受光
素子28及び30の出力信号SE〜SHを増幅率の大き
な増幅回路で増幅する必要がある。このときこの増幅回
路の帯域が狭い場合、図4(C)において破線で示すよ
うに、出力信号SE〜SHにおいては、波形が劣化し、
光デイスク装置1においては、正しい信号レベルをサン
プルホールドし得ず、結局トラツキングエラー信号TE
を正しく検出し得なくなる。
ームにおいては、センタビームに比して光量が1/9と
小さいことにより、光デイスク装置1においては、受光
素子28及び30の出力信号SE〜SHを増幅率の大き
な増幅回路で増幅する必要がある。このときこの増幅回
路の帯域が狭い場合、図4(C)において破線で示すよ
うに、出力信号SE〜SHにおいては、波形が劣化し、
光デイスク装置1においては、正しい信号レベルをサン
プルホールドし得ず、結局トラツキングエラー信号TE
を正しく検出し得なくなる。
【0026】さらにこのように大きな増幅率で出力信号
SE〜SHを増幅する場合、直流レベルが変動する恐れ
があり、その分光デイスク装置1においては、トラツキ
ングエラー信号を安定に検出し得なくなる。
SE〜SHを増幅する場合、直流レベルが変動する恐れ
があり、その分光デイスク装置1においては、トラツキ
ングエラー信号を安定に検出し得なくなる。
【0027】このため従来のサイドビームを使用する光
デイスク装置1においては、出力信号SE〜SHを増幅
する増幅回路の構成が複雑になる問題があり、またこの
増幅回路を光ピツクアツプの直近に配置することによ
り、アクセス時間も長くなる問題があつた。
デイスク装置1においては、出力信号SE〜SHを増幅
する増幅回路の構成が複雑になる問題があり、またこの
増幅回路を光ピツクアツプの直近に配置することによ
り、アクセス時間も長くなる問題があつた。
【0028】本発明は以上の点を考慮してなされたもの
で、サイドビームを使用してトラツキング制御する場合
でも、受光素子の出力信号を増幅する増幅回路の構成を
簡略化することができる光デイスク装置を提案しようと
するものである。
で、サイドビームを使用してトラツキング制御する場合
でも、受光素子の出力信号を増幅する増幅回路の構成を
簡略化することができる光デイスク装置を提案しようと
するものである。
【0029】
【課題を解決するための手段】かかる課題を解決するた
め本発明においては、プリグルーブが形成された光デイ
スク2に対して、センタビーム及びサイドビームを照射
して光デイスク2に所望の情報を記録する光デイスク装
置50において、センタビーム及びサイドビームを光デ
イスク2に照射すると共に、光デイスク2の反射光L2
を受光する光学系10〜22と、光デイスク2の半径方
向に受光面を第1及び第2の受光面A、D及びB、Cに
分割し、光学系10〜22で受光したセンタビームの反
射光L2を受光するセンタビーム受光素子24と、セン
タビーム受光素子24に隣接して、光デイスク2の半径
方向の、センタビーム受光素子24の両側に配置され、
光デイスク2の半径方向に受光面を分割し、光学系10
〜22で受光したサイドビームの反射光L2を受光する
第1及び第2のサイドビーム受光素子28及び30と、
センタビーム受光素子24の第1及び第2の受光面A、
D及びB、Cについて、出力信号SA+SD及びSB+
SCの差信号(SA+SD)−(SB+SC)を検出し
てセンタビームプツシユプル信号CPPを生成する第1
のプツシユプル信号生成手段52と、第1及び第2のサ
イドビーム受光素子28及び30に入射するサイドビー
ムの反射光L2の光量を検出する光量検出手段56、5
8、62と、第1及び第2のサイドビーム受光素子28
及び30間で、光デイスク2の内周側及び外周側の受光
面E、G及びF、Hでそれぞれ第1及び第2の和信号S
E+SG及びSF+SHを得、第1及び第2の和信号S
E+SG及びSF+SHの差信号(SE+SG)−(S
F+SH)を検出してサイドビームプツシユプル信号S
PPを生成する第2のプツシユプル信号生成手段56、
58、60と、サイドビームプツシユプル信号SPPの
信号レベルを光量検出手段56、58、62の検出結果
S3に基づいて補正して出力する信号レベル補正手段6
4と、信号レベル補正手段64の出力信号STEをセン
タビームプツシユプル信号CPPから減算してトラツキ
ングエラー信号TEを生成する減算手段42とを備える
ようにする。
め本発明においては、プリグルーブが形成された光デイ
スク2に対して、センタビーム及びサイドビームを照射
して光デイスク2に所望の情報を記録する光デイスク装
置50において、センタビーム及びサイドビームを光デ
イスク2に照射すると共に、光デイスク2の反射光L2
を受光する光学系10〜22と、光デイスク2の半径方
向に受光面を第1及び第2の受光面A、D及びB、Cに
分割し、光学系10〜22で受光したセンタビームの反
射光L2を受光するセンタビーム受光素子24と、セン
タビーム受光素子24に隣接して、光デイスク2の半径
方向の、センタビーム受光素子24の両側に配置され、
光デイスク2の半径方向に受光面を分割し、光学系10
〜22で受光したサイドビームの反射光L2を受光する
第1及び第2のサイドビーム受光素子28及び30と、
センタビーム受光素子24の第1及び第2の受光面A、
D及びB、Cについて、出力信号SA+SD及びSB+
SCの差信号(SA+SD)−(SB+SC)を検出し
てセンタビームプツシユプル信号CPPを生成する第1
のプツシユプル信号生成手段52と、第1及び第2のサ
イドビーム受光素子28及び30に入射するサイドビー
ムの反射光L2の光量を検出する光量検出手段56、5
8、62と、第1及び第2のサイドビーム受光素子28
及び30間で、光デイスク2の内周側及び外周側の受光
面E、G及びF、Hでそれぞれ第1及び第2の和信号S
E+SG及びSF+SHを得、第1及び第2の和信号S
E+SG及びSF+SHの差信号(SE+SG)−(S
F+SH)を検出してサイドビームプツシユプル信号S
PPを生成する第2のプツシユプル信号生成手段56、
58、60と、サイドビームプツシユプル信号SPPの
信号レベルを光量検出手段56、58、62の検出結果
S3に基づいて補正して出力する信号レベル補正手段6
4と、信号レベル補正手段64の出力信号STEをセン
タビームプツシユプル信号CPPから減算してトラツキ
ングエラー信号TEを生成する減算手段42とを備える
ようにする。
【0030】さらに本発明において、第2のプツシユプ
ル信号生成手段56、58、60は、所定のローパスフ
イルタ回路54を介して第1及び第2のサイドビーム受
光素子28及び30から出力される出力信号SE〜SH
の帯域を抑圧した後、第1及び第2の和信号SE+SG
及びSF+SHを検出し、光量検出手段56、58、6
2は、ローパスフイルタ回路54を介して出力される第
1及び第2のサイドビーム受光素子28及び30の出力
信号SE〜SHを加算することにより、サイドビームの
反射光L2の光量を検出し、信号レベル補正手段64
は、サイドビームプツシユプル信号SPPを光量検出手
段56、58、62の検出結果S3で割り算してサイド
ビームプツシユプル信号SPPを補正する。
ル信号生成手段56、58、60は、所定のローパスフ
イルタ回路54を介して第1及び第2のサイドビーム受
光素子28及び30から出力される出力信号SE〜SH
の帯域を抑圧した後、第1及び第2の和信号SE+SG
及びSF+SHを検出し、光量検出手段56、58、6
2は、ローパスフイルタ回路54を介して出力される第
1及び第2のサイドビーム受光素子28及び30の出力
信号SE〜SHを加算することにより、サイドビームの
反射光L2の光量を検出し、信号レベル補正手段64
は、サイドビームプツシユプル信号SPPを光量検出手
段56、58、62の検出結果S3で割り算してサイド
ビームプツシユプル信号SPPを補正する。
【0031】さらに本発明において、減算手段66は、
シーク時、信号レベル補正手段64の出力信号STEに
代えて第2のプツシユプル信号生成手段56、58、6
0から出力されるサイドビームプツシユプル信号SPP
をセンタビームプツシユプル信号CPPから減算してト
ラバース信号TBを生成する。
シーク時、信号レベル補正手段64の出力信号STEに
代えて第2のプツシユプル信号生成手段56、58、6
0から出力されるサイドビームプツシユプル信号SPP
をセンタビームプツシユプル信号CPPから減算してト
ラバース信号TBを生成する。
【0032】
【作用】サイドビームプツシユプル信号SPPの信号レ
ベルを光量検出手段56、58、62の検出結果S3に
基づいて補正した後、センタビームプツシユプル信号C
PPから減算してトラツキングエラー信号TEを生成す
れば、サイドビームの光量が変化しても正しいトラツキ
ングエラー信号TEを生成し得る。
ベルを光量検出手段56、58、62の検出結果S3に
基づいて補正した後、センタビームプツシユプル信号C
PPから減算してトラツキングエラー信号TEを生成す
れば、サイドビームの光量が変化しても正しいトラツキ
ングエラー信号TEを生成し得る。
【0033】さらに所定のローパスフイルタ回路54を
介して第1及び第2のサイドビーム受光素子28及び3
0の出力信号SE〜SHの帯域を抑圧した後、和信号S
E+SG及びSF+SH、反射光L2の光量を検出し
て、増幅回路を狭帯域化することができる。
介して第1及び第2のサイドビーム受光素子28及び3
0の出力信号SE〜SHの帯域を抑圧した後、和信号S
E+SG及びSF+SH、反射光L2の光量を検出し
て、増幅回路を狭帯域化することができる。
【0034】さらにシーク時、信号レベル補正手段64
の出力信号に代えてサイドビームプツシユプル信号SP
Pをセンタビームプツシユプル信号CPPから減算して
トラバース信号TBを検出して、正しいトラバース信号
TBを生成することができる。
の出力信号に代えてサイドビームプツシユプル信号SP
Pをセンタビームプツシユプル信号CPPから減算して
トラバース信号TBを検出して、正しいトラバース信号
TBを生成することができる。
【0035】
【実施例】以下図面について、本発明の一実施例を詳述
する。
する。
【0036】(1)実施例の構成 図3との対応部分に同一符号を付して示す図1におい
て、50は全体として光デイスク装置を示し、受光素子
24の出力信号SA〜ADをサンプルホールド回路(S
/H)52に出力する。
て、50は全体として光デイスク装置を示し、受光素子
24の出力信号SA〜ADをサンプルホールド回路(S
/H)52に出力する。
【0037】ここでサンプルホールド回路52は、サン
プルホールド回路34(図4)と同一のタイミングで出
力信号SA〜ADをサンプルホールドした後、加算減算
処理し、これによりフオーカスエラー信号FE、センタ
ビームプツシユプル信号CPPを生成して出力する。
プルホールド回路34(図4)と同一のタイミングで出
力信号SA〜ADをサンプルホールドした後、加算減算
処理し、これによりフオーカスエラー信号FE、センタ
ビームプツシユプル信号CPPを生成して出力する。
【0038】これに対してローパスフイルタ回路(LP
F)54は、遮断周波数がほぼレーザダイオード10の
最低駆動周波数に選定され、これによりリードパワ及び
ライトパワの繰り返しで信号レベルが変化する受光素子
28及び30の出力信号SE〜SHについて、その高周
波成分を抑圧した後、充分な増幅率で増幅して出力す
る。
F)54は、遮断周波数がほぼレーザダイオード10の
最低駆動周波数に選定され、これによりリードパワ及び
ライトパワの繰り返しで信号レベルが変化する受光素子
28及び30の出力信号SE〜SHについて、その高周
波成分を抑圧した後、充分な増幅率で増幅して出力す
る。
【0039】加算回路56及び58は、受光素子28及
び30の各受光面E〜Hのうち、それぞれ光デイスク2
の内周側及び外周側の受光面E及びG、F及びHについ
て、ローパスフイルタ回路54の出力信号を加算して出
力する。さらに減算回路60は、この加算回路56及び
58の出力信号S1及びS2について、差信号を検出す
ることにより、高域成分を抑圧してなるサイドビームプ
ツシユプル信号SPPを生成する。
び30の各受光面E〜Hのうち、それぞれ光デイスク2
の内周側及び外周側の受光面E及びG、F及びHについ
て、ローパスフイルタ回路54の出力信号を加算して出
力する。さらに減算回路60は、この加算回路56及び
58の出力信号S1及びS2について、差信号を検出す
ることにより、高域成分を抑圧してなるサイドビームプ
ツシユプル信号SPPを生成する。
【0040】加算回路62は、この加算回路56及び5
8の出力信号S1及びS2について、加算信号S3を生
成することにより、受光素子28及び30の入射光量を
検出する。これにより光デイスク装置50においては、
割り算回路64においてサイドビームプツシユプル信号
SPPを加算回路62の出力信号S3で割り算し、高域
成分を抑圧してなるサイドビームプツシユプル信号SP
Pの信号レベルを受光素子28及び30の入射光量で補
正するようになされている。
8の出力信号S1及びS2について、加算信号S3を生
成することにより、受光素子28及び30の入射光量を
検出する。これにより光デイスク装置50においては、
割り算回路64においてサイドビームプツシユプル信号
SPPを加算回路62の出力信号S3で割り算し、高域
成分を抑圧してなるサイドビームプツシユプル信号SP
Pの信号レベルを受光素子28及び30の入射光量で補
正するようになされている。
【0041】すなわち受光素子28及び30の出力信号
においては、リードパワ及びライトパワの繰り返しで信
号レベルが変化することにより、この高域成分を抑圧し
た場合、全体の信号レベルが受光素子28及び30の入
射光量に応じて変化する。これによりこの実施例のよう
に、入射光量の検出結果で信号レベルを補正すれば、高
域成分を抑圧してサイドビームプツシユプル信号SPP
を生成した場合でも、トラツキングエラーに応じて正し
く信号レベルが変化するサイドビームプツシユプル信号
SPPを得ることができる。
においては、リードパワ及びライトパワの繰り返しで信
号レベルが変化することにより、この高域成分を抑圧し
た場合、全体の信号レベルが受光素子28及び30の入
射光量に応じて変化する。これによりこの実施例のよう
に、入射光量の検出結果で信号レベルを補正すれば、高
域成分を抑圧してサイドビームプツシユプル信号SPP
を生成した場合でも、トラツキングエラーに応じて正し
く信号レベルが変化するサイドビームプツシユプル信号
SPPを得ることができる。
【0042】これにより光デイスク装置50において
は、スイツチ回路66を介してこの割り算回路64の出
力信号STEを減算回路42に出力し、ここでセンタビ
ームプツシユプル信号CPPから減算してトラツキング
エラー信号TEを生成する。
は、スイツチ回路66を介してこの割り算回路64の出
力信号STEを減算回路42に出力し、ここでセンタビ
ームプツシユプル信号CPPから減算してトラツキング
エラー信号TEを生成する。
【0043】このとき光デイスク装置50においては、
ローパスフイルタ回路54で高域成分を抑圧して出力信
号SE〜SDを増幅したことにより、狭帯域の増幅回路
を使用して簡易に高利得で増幅し得、これによりこの増
幅回路の構成を簡略化することができる。さらにこのよ
うな狭帯域の増幅回路においては、直流レベルの変動を
も簡易に抑圧し得ることにより、安定にトラツキングエ
ラー信号を検出し得、さらに全体形状を小型化し得るこ
とにより、アクセス時間も短くすることができる。
ローパスフイルタ回路54で高域成分を抑圧して出力信
号SE〜SDを増幅したことにより、狭帯域の増幅回路
を使用して簡易に高利得で増幅し得、これによりこの増
幅回路の構成を簡略化することができる。さらにこのよ
うな狭帯域の増幅回路においては、直流レベルの変動を
も簡易に抑圧し得ることにより、安定にトラツキングエ
ラー信号を検出し得、さらに全体形状を小型化し得るこ
とにより、アクセス時間も短くすることができる。
【0044】ところでローパスフイルタ回路54の出力
信号は、ほぼ直流レベルで、実際のトラツキングエラー
信号生成動作を信号波形図で目視確認することは困難で
ある。このため図2に示すように、レーザダイオードの
光量を切り換えて光ピツクアツプ6をトラバースさせ、
これにより光ビームL1の光量が変化した場合でも、割
り算回路64の出力信号STEにおいては、一定振幅に
保持されることを信号波形で確認した。
信号は、ほぼ直流レベルで、実際のトラツキングエラー
信号生成動作を信号波形図で目視確認することは困難で
ある。このため図2に示すように、レーザダイオードの
光量を切り換えて光ピツクアツプ6をトラバースさせ、
これにより光ビームL1の光量が変化した場合でも、割
り算回路64の出力信号STEにおいては、一定振幅に
保持されることを信号波形で確認した。
【0045】なおこの場合、ピツト形成前の光デイスク
2を使用し、トラバースにより加算回路56及び58の
出力信号S1及びS2(図2(A)及び(B))がリー
ドパワ及びライトパワの繰り返し周波数より低い周波数
で脈動した場合でも、光量検出結果S3(図2(C))
においては、光量の切り換えに伴つて信号レベルが変化
し、サイドビームプツシユプル信号SPP(図2
(D))をこの光量検出結果で補正して振幅を一定値に
保持することができた(図2(E))。
2を使用し、トラバースにより加算回路56及び58の
出力信号S1及びS2(図2(A)及び(B))がリー
ドパワ及びライトパワの繰り返し周波数より低い周波数
で脈動した場合でも、光量検出結果S3(図2(C))
においては、光量の切り換えに伴つて信号レベルが変化
し、サイドビームプツシユプル信号SPP(図2
(D))をこの光量検出結果で補正して振幅を一定値に
保持することができた(図2(E))。
【0046】さらにこの実施例において、光デイスク装
置50においては、シーク時、スイツチ回路66の接点
を切り換えることにより、割り算回路64の出力信号に
代えてサイドビームプツシユプル信号SPPを減算回路
42に出力し、これによりトラバース信号TBを生成す
る。
置50においては、シーク時、スイツチ回路66の接点
を切り換えることにより、割り算回路64の出力信号に
代えてサイドビームプツシユプル信号SPPを減算回路
42に出力し、これによりトラバース信号TBを生成す
る。
【0047】すなわちこの種の光デイスク装置において
は、記録トラツクを横切るように光ピツクアツプ6を移
動させる場合があり、この場合通常の記録再生時と反射
光L2の変化が異なることにより、加算回路62の出力
信号S3がこの移動に追従して脈動する恐れがある。こ
の場合、割り算回路64の出力信号STEにおいては、
正しく記録トラツクを横切る周期で信号レベルが変化し
ない恐れがあり、この実施例においてはこの場合スイツ
チ回路66の接点を切り換えることにより、正しいトラ
バース信号TBを検出し得るようになされている。
は、記録トラツクを横切るように光ピツクアツプ6を移
動させる場合があり、この場合通常の記録再生時と反射
光L2の変化が異なることにより、加算回路62の出力
信号S3がこの移動に追従して脈動する恐れがある。こ
の場合、割り算回路64の出力信号STEにおいては、
正しく記録トラツクを横切る周期で信号レベルが変化し
ない恐れがあり、この実施例においてはこの場合スイツ
チ回路66の接点を切り換えることにより、正しいトラ
バース信号TBを検出し得るようになされている。
【0048】これにより光デイスク装置1においては、
シーク時においては、グルーブを横切る毎に信号レベル
が変化する正しいトラバース信号TBを検出することが
でき、確実に目的トラツクにシークすることができる。
シーク時においては、グルーブを横切る毎に信号レベル
が変化する正しいトラバース信号TBを検出することが
でき、確実に目的トラツクにシークすることができる。
【0049】(2)実施例の効果 以上の構成によれば、ローパスフイルタ回路を介して受
光素子の出力信号を増幅した後、サイドビームの光量を
検出し、光量検出結果でサイドビームプツシユプル信号
SPPの信号レベルを補正することにより、増幅回路の
帯域を狭帯域化して確実にトラツキングエラー信号を生
成することができ、これにより増幅回路の構成を簡略化
することができる。
光素子の出力信号を増幅した後、サイドビームの光量を
検出し、光量検出結果でサイドビームプツシユプル信号
SPPの信号レベルを補正することにより、増幅回路の
帯域を狭帯域化して確実にトラツキングエラー信号を生
成することができ、これにより増幅回路の構成を簡略化
することができる。
【0050】(3)他の実施例 なお上述の実施例においては、シーク時、選択回路66
の接点を切り換える場合について述べたが、本発明はこ
れに限らず、記録時と再生時とで切り換えるようにして
もよい。
の接点を切り換える場合について述べたが、本発明はこ
れに限らず、記録時と再生時とで切り換えるようにして
もよい。
【0051】さらに上述の実施例においては、光デイス
クを記録再生する場合について述べたが、本発明はこれ
に限らず、記録専用の光デイスク装置等にも広く適用す
ることができる。
クを記録再生する場合について述べたが、本発明はこれ
に限らず、記録専用の光デイスク装置等にも広く適用す
ることができる。
【0052】
【発明の効果】上述のように本発明によれば、サイドビ
ームの反射光を受光する受光素子の出力信号について、
光量検出結果で信号レベルを補正してサイドビームプツ
シユプル信号を生成することにより、受光素子の出力信
号を帯域制限して処理し得、これによりこの出力信号を
増幅する増幅回路を狭帯域化、高利得化し得、その分増
幅回路の構成を簡略化して、確実にトラツキングエラー
信号を生成することができる。
ームの反射光を受光する受光素子の出力信号について、
光量検出結果で信号レベルを補正してサイドビームプツ
シユプル信号を生成することにより、受光素子の出力信
号を帯域制限して処理し得、これによりこの出力信号を
増幅する増幅回路を狭帯域化、高利得化し得、その分増
幅回路の構成を簡略化して、確実にトラツキングエラー
信号を生成することができる。
【図1】本発明の一実施例による光デイスク装置を示す
ブロツク図である。
ブロツク図である。
【図2】その動作の説明に供する信号波形図である。
【図3】従来の光デイスク装置を示すブロツク図であ
る。
る。
【図4】その動作の説明に供する信号波形図である。
1、50……光デイスク装置、2……光デイスク、10
……レーザダイオード、24、28、30……受光素
子、34、52……サンプルホールド回路、36……マ
トリツクス回路、42、60……減算回路、54……ロ
ーパスフイルタ回路、56、58、62……加算回路、
64……割り算回路、66……スイツチ回路。
……レーザダイオード、24、28、30……受光素
子、34、52……サンプルホールド回路、36……マ
トリツクス回路、42、60……減算回路、54……ロ
ーパスフイルタ回路、56、58、62……加算回路、
64……割り算回路、66……スイツチ回路。
Claims (3)
- 【請求項1】プリグルーブが形成された光デイスクに対
して、センタビーム及びサイドビームを照射して上記光
デイスクに所望の情報を記録する光デイスク装置におい
て、 上記センタビーム及び上記サイドビームを上記光デイス
クに照射すると共に、上記光デイスクの反射光を受光す
る光学系と、 上記光デイスクの半径方向に受光面を第1及び第2の受
光面に分割し、上記光学系で受光した上記センタビーム
の反射光を受光するセンタビーム受光素子と、 上記センタビーム受光素子に隣接して、上記光デイスク
の半径方向の、上記センタビーム受光素子の両側に配置
され、上記光デイスクの半径方向に受光面を分割し、上
記光学系で受光した上記サイドビームの反射光を受光す
る第1及び第2のサイドビーム受光素子と、 上記センタビーム受光素子の第1及び第2の受光面につ
いて、出力信号の差信号を検出してセンタビームプツシ
ユプル信号を生成する第1のプツシユプル信号生成手段
と、 上記第1及び第2のサイドビーム受光素子に入射する上
記サイドビームの反射光の光量を検出する光量検出手段
と、 上記第1及び第2のサイドビーム受光素子間で、上記光
デイスクの内周側及び外周側の受光面でそれぞれ第1及
び第2の和信号を得、上記第1及び第2の和信号の差信
号を検出してサイドビームプツシユプル信号を生成する
第2のプツシユプル信号生成手段と、 上記サイドビームプツシユプル信号の信号レベルを上記
光量検出手段の検出結果に基づいて補正して出力する信
号レベル補正手段と、 上記信号レベル補正手段の出力信号を上記センタビーム
プツシユプル信号から減算してトラツキングエラー信号
を生成する減算手段とことを特徴とする光デイスク装
置。 - 【請求項2】上記第2のプツシユプル信号生成手段は、
所定のローパスフイルタ回路を介して上記第1及び第2
のサイドビーム受光素子から出力される出力信号の帯域
を抑圧した後、上記第1及び第2の和信号を検出し、 上記光量検出手段は、上記ローパスフイルタ回路を介し
て出力される上記第1及び第2のサイドビーム受光素子
の出力信号を加算することにより、上記サイドビームの
反射光の光量を検出し、 上記信号レベル補正手段は、上記サイドビームプツシユ
プル信号を上記光量検出手段の検出結果で割り算して上
記サイドビームプツシユプル信号を補正することを特徴
とする請求項1に記載の光デイスク装置。 - 【請求項3】上記減算手段は、シーク時、上記信号レベ
ル補正手段の出力信号に代えて上記第2のプツシユプル
信号生成手段から出力される上記サイドビームプツシユ
プル信号を上記センタビームプツシユプル信号から減算
してトラバース信号を生成することを特徴とする請求項
1又は請求項2に記載の光デイスク装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP04218649A JP3132692B2 (ja) | 1992-07-24 | 1992-07-24 | 光デイスク装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP04218649A JP3132692B2 (ja) | 1992-07-24 | 1992-07-24 | 光デイスク装置 |
Related Child Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2000258746A Division JP3337210B2 (ja) | 2000-08-29 | 2000-08-29 | 光ディスク装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH0644569A true JPH0644569A (ja) | 1994-02-18 |
JP3132692B2 JP3132692B2 (ja) | 2001-02-05 |
Family
ID=16723261
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP04218649A Expired - Fee Related JP3132692B2 (ja) | 1992-07-24 | 1992-07-24 | 光デイスク装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP3132692B2 (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0916986A (ja) * | 1995-06-30 | 1997-01-17 | Victor Co Of Japan Ltd | 光ディスク装置 |
-
1992
- 1992-07-24 JP JP04218649A patent/JP3132692B2/ja not_active Expired - Fee Related
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0916986A (ja) * | 1995-06-30 | 1997-01-17 | Victor Co Of Japan Ltd | 光ディスク装置 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP3132692B2 (ja) | 2001-02-05 |
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Legal Events
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