JPH0644569A - 光デイスク装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【目的】本発明は、サイドビームを使用してトラツキン
グエラー信号を生成し、追記型光デイスクに所望の情報
を記録する光デイスク装置に関し、受光素子の出力信号
を増幅する増幅回路の構成を簡略化する。 【構成】本発明は、サイドビームの反射光を受光する受
光素子２８、３０の出力信号ＳＥ〜ＳＨについて、ロー
パスフイルタ回路５４を介して帯域制限した後、光量検
出結果Ｓ３で信号レベルを補正してサイドビームプツシ
ユプル信号ＳＰＰを生成する。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【目次】以下の順序で本発明を説明する。 産業上の利用分野 従来の技術（図３） 発明が解決しようとする課題（図４） 課題を解決するための手段（図１及び図２） 作用（図１及び図２） 実施例 （１）実施例の構成（図１及び図２） （２）実施例の効果 （３）他の実施例 発明の効果

【０００２】

【産業上の利用分野】本発明は光デイスク装置に関し、
特に追記型光デイスクを使用して所望の情報を記録する
光デイスク装置に適用して好適なものである。

【０００３】

【従来の技術】従来、この種の光デイスク装置において
は、いわゆる追記型光デイスクを使用して所望の情報を
記録し得るようになされたものがある。

【０００４】すなわち追記型光デイスク装置において
は、有機色素系の薄膜に光ビームを照射してピツトを形
成することにより、所望の情報を一度だけ記録すること
ができる。さらにこのようにしてピツトを形成すること
により、この種の光デイスクにおいては、通常のコンパ
クトデイスクプレイヤで再生し得、これによりこの光デ
イスク装置においては、少量生産の場合に適用していち
いちスタンパを作成しなくても、コンパクトデイスクプ
レイヤで再生可能な光デイスクを作成することができ
る。

【０００５】このためこの種の光デイスクにおいては、
ピツト形成位置に沿つてプリグルーブを形成し、このプ
リグルーブを基準にしてトラツキング制御することによ
り、確実にピツトを形成し得るようになされている。

【０００６】すなわち図３において、１は全体として光
デイスク装置を示し、追記型の光デイスク２に所望の情
報を記録する。

【０００７】光デイスク装置１においては、スピンドル
モータ４を駆動して光デイスク２を所定の回転速度で回
転駆動し、この状態で光ピツクアツプ６を駆動して所望
の情報を記録再生する。すなわち光ピツクアツプ６にお
いては、レーザドライバ８から出力される駆動信号に基
づいてレーザダイオード１０を駆動し、このレーザダイ
オード１０の光ビームＬ１をレンズ１２で平行光線に変
換する。

【０００８】さらに光ピツクアツプ６においては、この
光ビームＬ１をビームスプリツタ１４を介して対物レン
ズ１６に導き、この対物レンズ１６で光デイスク２に集
光する。これにより光デイスク装置１においては、レー
ザダイオード１０の光ビームＬ１を光デイスク２に集光
し、所望の情報を記録再生し得るようになされている。

【０００９】すなわち再生モードにおいて、光デイスク
装置１においては、光量を低減して光ビームＬ１を照射
するのに対し（以下この光量をリードパワと呼ぶ）、情
報記録時、図４に示すようにピツト形成に必要な光量
（以下ライトパワと呼ぶ）とリードパワとの間で光量を
切り換えて光ビームＬ１を照射する（図４（Ａ））。こ
の情報記録時、光デイスク装置１においては、記録情報
ＥＦＭに応じてタイミング発生回路１７で光量切り換え
のタイミングを制御し、これにより所望の情報を記録す
る。

【００１０】さらに光ピツクアツプ６においては、光デ
イスク２の反射光Ｌ２を対物レンズ１６で受光してビー
ムスプリツタ１４で反射し、その反射光Ｌ２をシリンド
リカルレンズ２２に入射して受光素子２４に集光する。
ここで受光素子２４においては、光ピツクアツプ６の光
学系を介して、光デイスク２の半径方向に受光面Ａ〜Ｄ
を２分割し、さらに各受光面Ａ〜Ｄをこの方向と直交す
る方向に２分割するようになされている。

【００１１】これにより光デイスク装置１においては、
情報記録時、この受光素子２４の出力信号ＳＡ〜ＳＤに
基づいてピツト形成状態をモニタし得るのに対し、再生
時においては、記録情報を再生し得るようになされてい
る。すなわち光デイスク２においては、光ビームＬ１の
照射を開始して温度が上昇するとピツトが形成されるこ
とにより、反射光Ｌ２においては、光ビームＬ１をライ
トパワに切り換えた直後光量が急激に増大した後、ピツ
トが形成され始めると一定値に立ち下がる（図４
（Ｂ））。

【００１２】さらに反射光Ｌ２においては、続いて光ビ
ームＬ１がリードパワに切り換わると光量が低減し、こ
れにより光デイスク装置１においては、各受光面Ａ〜Ｄ
の出力信号ＳＡ〜ＳＤについて和信号ＳＡ＋ＳＢ＋ＳＣ
＋ＳＤを得ることにより、ピツト形成状態をモニタする
ことができ、再生時においては記録情報を再生すること
ができる。

【００１３】これに対して受光素子２４においては、シ
リンドリカルレンズ２２を介して反射光Ｌ２を受光する
ことにより、対角線方向に並ぶ受光面Ａ及びＣ、Ｂ及び
Ｄ間で出力信号ＳＡ及びＳＣ、ＳＢ及びＳＤの和信号Ｓ
Ａ＋ＳＣ、ＳＢ＋ＳＤを得、この和信号ＳＡ＋ＳＣ、Ｓ
Ｂ＋ＳＤの差信号を得ることにより、フオーカスエラー
信号ＦＥを得ることができる。

【００１４】ところで再生時、光デイスク装置１におい
ては、光デイスク２のピツト形成方向に並ぶ受光面Ａ及
びＤ、Ｂ及びＣ間で和信号ＳＡ＋ＳＤ、ＳＢ＋ＳＣを
得、この和信号ＳＡ＋ＳＤ、ＳＢ＋ＳＣ間で差信号を得
るようにすれば、コンパクトデイスクプレイヤの場合と
同様にトラツキングエラーを検出することができる。

【００１５】ところが記録時においては、ピツトが形成
されていないことにより、この方法ではトラツキングエ
ラーを検出し得ず、結局この種の光デイスク装置１にお
いては、受光素子２４の両端、光デイスク２の半径方向
に配置した受光素子２８及び３０で光デイスク２のプリ
グルーブを検出し、これによりトラツキングエラー信号
を生成する。

【００１６】すなわち光ピツクアツプ６においては、レ
ンズ１２及びビームスプリツタ１４間にグレーテイング
３２を介挿し、ここで光ビームＬ１の回折光を形成す
る。さらに光ピツクアツプ６においては、グレーテイン
グ３２を透過する直接光（以下センタビームと呼ぶ）と
共に、この回折光の±１次光（以下サイドビームと呼
ぶ）を対物レンズ１６で光デイスク２に集光する。

【００１７】これにより光デイスク装置１においては、
このサイドビームをプリグルーブに集光し、その反射光
Ｌ２を受光素子２８及び３０で受光する。

【００１８】このとき受光素子２８及び３０において
は、光デイスク２の半径方向に受光面を２分割し、これ
により光デイスク装置１においては、各受光面Ｅ〜Ｈの
うち、それぞれ光デイスク２の外周側及び内周側の受光
面Ｅ及びＧ、Ｆ及びＨ間で出力信号ＳＥ及びＳＧ、ＳＦ
及びＳＨの和信号ＳＥ＋ＳＧ、ＳＦ＋ＳＨを得、この和
信号ＳＥ＋ＳＧ、ＳＦ＋ＳＨ間で差信号（ＳＥ＋ＳＧ）
−（ＳＦ＋ＳＨ）を得ることにより、プリグルーブに対
するセンタビームの照射位置を検出する。

【００１９】ところが実際上、この受光素子２８及び３
０の入射光においては、情報記録時、光ビームＬ１の光
量変化に追従して光量が大きく変化することにより（図
３（Ｃ））、光デイスク装置１においては、リイドパワ
のタイミングで受光素子２８及び３０の出力信号をサン
プルホールドし、これにより情報記録時及び再生時でト
ラツキングエラー信号を検出し得るようになされてい
る。

【００２０】すなわち光デイスク装置１においては、各
受光素子２４、２８、３０の出力信号ＳＡ〜ＡＨをサン
プルホールド回路（Ｓ／Ｈ）３４に出力し、ここでタイ
ミング発生回路３４から出力されるサンプリングパルス
ＳＰでサンプルホールドする（図４においてサンプリン
グのタイミングを矢印で示す）。さらに光デイスク装置
１においては、このサンプルホールドされた各出力信号
ＳＡ〜ＳＨをマトリツクス回路３６に出力し、ここで出
力信号ＳＡ〜ＳＤ間で加減算処理を実行してフオーカス
エラー信号ＦＥを生成し、このフオーカスエラー信号Ｅ
Ｆを位相補償回路３８に出力する。

【００２１】これにより位相補償回路３８は、フオーカ
スエラー信号が０レベルになるようにフオーカスアクチ
ユエータ４０を駆動し、フオーカス制御するようになさ
れている。

【００２２】さらにマトリツクス回路３６は、受光素子
２４について、光デイスク２のピツト形成方向に並ぶ受
光面Ａ及びＤ、Ｂ及びＣ間で和信号ＳＡ＋ＳＤ、ＳＢ＋
ＳＣを得、この和信号ＳＡ＋ＳＤ、ＳＢ＋ＳＣ間で差信
号（以下センタビームプツシユプル信号と呼ぶ）ＣＰＰ
を生成する。

【００２３】さらにマトリツクス回路３６は、受光素子
２８及び３０について、リードパワの期間の間に得られ
るサンプルホールド結果に基づいて、それぞれ光デイス
ク２の外周側及び内周側の受光面Ｅ及びＧ、Ｆ及びＨ間
で出力信号ＳＥ及びＳＧ、ＳＦ及びＳＨの和信号ＳＥ＋
ＳＧ、ＳＦ＋ＳＨを得、この和信号ＳＥ＋ＳＧ、ＳＦ＋
ＳＨ間で差信号（以下サイドビームプツシユプル信号と
呼ぶ）ＳＰＰ（（ＳＥ＋ＳＧ）−（ＳＦ＋ＳＨ））を
得、センタビームプツシユプル信号ＣＰＰ及びサイドビ
ームプツシユプル信号ＳＰＰを減算回路４２で減算して
トラツキングエラー信号ＴＥを生成する。

【００２４】これより光デイスク装置１においては、こ
のトラツキングエラー信号ＴＥが０レベルになるよう
に、位相補償回路４４でトラツキングアクチユエータ４
６を駆動し、情報記録時においても、確実にトラツキン
グ制御し得るようになされている。

【００２５】

【発明が解決しようとする課題】ところでこのサイドビ
ームにおいては、センタビームに比して光量が１／９と
小さいことにより、光デイスク装置１においては、受光
素子２８及び３０の出力信号ＳＥ〜ＳＨを増幅率の大き
な増幅回路で増幅する必要がある。このときこの増幅回
路の帯域が狭い場合、図４（Ｃ）において破線で示すよ
うに、出力信号ＳＥ〜ＳＨにおいては、波形が劣化し、
光デイスク装置１においては、正しい信号レベルをサン
プルホールドし得ず、結局トラツキングエラー信号ＴＥ
を正しく検出し得なくなる。

【００２６】さらにこのように大きな増幅率で出力信号
ＳＥ〜ＳＨを増幅する場合、直流レベルが変動する恐れ
があり、その分光デイスク装置１においては、トラツキ
ングエラー信号を安定に検出し得なくなる。

【００２７】このため従来のサイドビームを使用する光
デイスク装置１においては、出力信号ＳＥ〜ＳＨを増幅
する増幅回路の構成が複雑になる問題があり、またこの
増幅回路を光ピツクアツプの直近に配置することによ
り、アクセス時間も長くなる問題があつた。

【００２８】本発明は以上の点を考慮してなされたもの
で、サイドビームを使用してトラツキング制御する場合
でも、受光素子の出力信号を増幅する増幅回路の構成を
簡略化することができる光デイスク装置を提案しようと
するものである。

【００２９】

【課題を解決するための手段】かかる課題を解決するた
め本発明においては、プリグルーブが形成された光デイ
スク２に対して、センタビーム及びサイドビームを照射
して光デイスク２に所望の情報を記録する光デイスク装
置５０において、センタビーム及びサイドビームを光デ
イスク２に照射すると共に、光デイスク２の反射光Ｌ２
を受光する光学系１０〜２２と、光デイスク２の半径方
向に受光面を第１及び第２の受光面Ａ、Ｄ及びＢ、Ｃに
分割し、光学系１０〜２２で受光したセンタビームの反
射光Ｌ２を受光するセンタビーム受光素子２４と、セン
タビーム受光素子２４に隣接して、光デイスク２の半径
方向の、センタビーム受光素子２４の両側に配置され、
光デイスク２の半径方向に受光面を分割し、光学系１０
〜２２で受光したサイドビームの反射光Ｌ２を受光する
第１及び第２のサイドビーム受光素子２８及び３０と、
センタビーム受光素子２４の第１及び第２の受光面Ａ、
Ｄ及びＢ、Ｃについて、出力信号ＳＡ＋ＳＤ及びＳＢ＋
ＳＣの差信号（ＳＡ＋ＳＤ）−（ＳＢ＋ＳＣ）を検出し
てセンタビームプツシユプル信号ＣＰＰを生成する第１
のプツシユプル信号生成手段５２と、第１及び第２のサ
イドビーム受光素子２８及び３０に入射するサイドビー
ムの反射光Ｌ２の光量を検出する光量検出手段５６、５
８、６２と、第１及び第２のサイドビーム受光素子２８
及び３０間で、光デイスク２の内周側及び外周側の受光
面Ｅ、Ｇ及びＦ、Ｈでそれぞれ第１及び第２の和信号Ｓ
Ｅ＋ＳＧ及びＳＦ＋ＳＨを得、第１及び第２の和信号Ｓ
Ｅ＋ＳＧ及びＳＦ＋ＳＨの差信号（ＳＥ＋ＳＧ）−（Ｓ
Ｆ＋ＳＨ）を検出してサイドビームプツシユプル信号Ｓ
ＰＰを生成する第２のプツシユプル信号生成手段５６、
５８、６０と、サイドビームプツシユプル信号ＳＰＰの
信号レベルを光量検出手段５６、５８、６２の検出結果
Ｓ３に基づいて補正して出力する信号レベル補正手段６
４と、信号レベル補正手段６４の出力信号ＳＴＥをセン
タビームプツシユプル信号ＣＰＰから減算してトラツキ
ングエラー信号ＴＥを生成する減算手段４２とを備える
ようにする。

【００３０】さらに本発明において、第２のプツシユプ
ル信号生成手段５６、５８、６０は、所定のローパスフ
イルタ回路５４を介して第１及び第２のサイドビーム受
光素子２８及び３０から出力される出力信号ＳＥ〜ＳＨ
の帯域を抑圧した後、第１及び第２の和信号ＳＥ＋ＳＧ
及びＳＦ＋ＳＨを検出し、光量検出手段５６、５８、６
２は、ローパスフイルタ回路５４を介して出力される第
１及び第２のサイドビーム受光素子２８及び３０の出力
信号ＳＥ〜ＳＨを加算することにより、サイドビームの
反射光Ｌ２の光量を検出し、信号レベル補正手段６４
は、サイドビームプツシユプル信号ＳＰＰを光量検出手
段５６、５８、６２の検出結果Ｓ３で割り算してサイド
ビームプツシユプル信号ＳＰＰを補正する。

【００３１】さらに本発明において、減算手段６６は、
シーク時、信号レベル補正手段６４の出力信号ＳＴＥに
代えて第２のプツシユプル信号生成手段５６、５８、６
０から出力されるサイドビームプツシユプル信号ＳＰＰ
をセンタビームプツシユプル信号ＣＰＰから減算してト
ラバース信号ＴＢを生成する。

【００３２】

【作用】サイドビームプツシユプル信号ＳＰＰの信号レ
ベルを光量検出手段５６、５８、６２の検出結果Ｓ３に
基づいて補正した後、センタビームプツシユプル信号Ｃ
ＰＰから減算してトラツキングエラー信号ＴＥを生成す
れば、サイドビームの光量が変化しても正しいトラツキ
ングエラー信号ＴＥを生成し得る。

【００３３】さらに所定のローパスフイルタ回路５４を
介して第１及び第２のサイドビーム受光素子２８及び３
０の出力信号ＳＥ〜ＳＨの帯域を抑圧した後、和信号Ｓ
Ｅ＋ＳＧ及びＳＦ＋ＳＨ、反射光Ｌ２の光量を検出し
て、増幅回路を狭帯域化することができる。

【００３４】さらにシーク時、信号レベル補正手段６４
の出力信号に代えてサイドビームプツシユプル信号ＳＰ
Ｐをセンタビームプツシユプル信号ＣＰＰから減算して
トラバース信号ＴＢを検出して、正しいトラバース信号
ＴＢを生成することができる。

【００３５】

【実施例】以下図面について、本発明の一実施例を詳述
する。

【００３６】（１）実施例の構成 図３との対応部分に同一符号を付して示す図１におい
て、５０は全体として光デイスク装置を示し、受光素子
２４の出力信号ＳＡ〜ＡＤをサンプルホールド回路（Ｓ
／Ｈ）５２に出力する。

【００３７】ここでサンプルホールド回路５２は、サン
プルホールド回路３４（図４）と同一のタイミングで出
力信号ＳＡ〜ＡＤをサンプルホールドした後、加算減算
処理し、これによりフオーカスエラー信号ＦＥ、センタ
ビームプツシユプル信号ＣＰＰを生成して出力する。

【００３８】これに対してローパスフイルタ回路（ＬＰ
Ｆ）５４は、遮断周波数がほぼレーザダイオード１０の
最低駆動周波数に選定され、これによりリードパワ及び
ライトパワの繰り返しで信号レベルが変化する受光素子
２８及び３０の出力信号ＳＥ〜ＳＨについて、その高周
波成分を抑圧した後、充分な増幅率で増幅して出力す
る。

【００３９】加算回路５６及び５８は、受光素子２８及
び３０の各受光面Ｅ〜Ｈのうち、それぞれ光デイスク２
の内周側及び外周側の受光面Ｅ及びＧ、Ｆ及びＨについ
て、ローパスフイルタ回路５４の出力信号を加算して出
力する。さらに減算回路６０は、この加算回路５６及び
５８の出力信号Ｓ１及びＳ２について、差信号を検出す
ることにより、高域成分を抑圧してなるサイドビームプ
ツシユプル信号ＳＰＰを生成する。

【００４０】加算回路６２は、この加算回路５６及び５
８の出力信号Ｓ１及びＳ２について、加算信号Ｓ３を生
成することにより、受光素子２８及び３０の入射光量を
検出する。これにより光デイスク装置５０においては、
割り算回路６４においてサイドビームプツシユプル信号
ＳＰＰを加算回路６２の出力信号Ｓ３で割り算し、高域
成分を抑圧してなるサイドビームプツシユプル信号ＳＰ
Ｐの信号レベルを受光素子２８及び３０の入射光量で補
正するようになされている。

【００４１】すなわち受光素子２８及び３０の出力信号
においては、リードパワ及びライトパワの繰り返しで信
号レベルが変化することにより、この高域成分を抑圧し
た場合、全体の信号レベルが受光素子２８及び３０の入
射光量に応じて変化する。これによりこの実施例のよう
に、入射光量の検出結果で信号レベルを補正すれば、高
域成分を抑圧してサイドビームプツシユプル信号ＳＰＰ
を生成した場合でも、トラツキングエラーに応じて正し
く信号レベルが変化するサイドビームプツシユプル信号
ＳＰＰを得ることができる。

【００４２】これにより光デイスク装置５０において
は、スイツチ回路６６を介してこの割り算回路６４の出
力信号ＳＴＥを減算回路４２に出力し、ここでセンタビ
ームプツシユプル信号ＣＰＰから減算してトラツキング
エラー信号ＴＥを生成する。

【００４３】このとき光デイスク装置５０においては、
ローパスフイルタ回路５４で高域成分を抑圧して出力信
号ＳＥ〜ＳＤを増幅したことにより、狭帯域の増幅回路
を使用して簡易に高利得で増幅し得、これによりこの増
幅回路の構成を簡略化することができる。さらにこのよ
うな狭帯域の増幅回路においては、直流レベルの変動を
も簡易に抑圧し得ることにより、安定にトラツキングエ
ラー信号を検出し得、さらに全体形状を小型化し得るこ
とにより、アクセス時間も短くすることができる。

【００４４】ところでローパスフイルタ回路５４の出力
信号は、ほぼ直流レベルで、実際のトラツキングエラー
信号生成動作を信号波形図で目視確認することは困難で
ある。このため図２に示すように、レーザダイオードの
光量を切り換えて光ピツクアツプ６をトラバースさせ、
これにより光ビームＬ１の光量が変化した場合でも、割
り算回路６４の出力信号ＳＴＥにおいては、一定振幅に
保持されることを信号波形で確認した。

【００４５】なおこの場合、ピツト形成前の光デイスク
２を使用し、トラバースにより加算回路５６及び５８の
出力信号Ｓ１及びＳ２（図２（Ａ）及び（Ｂ））がリー
ドパワ及びライトパワの繰り返し周波数より低い周波数
で脈動した場合でも、光量検出結果Ｓ３（図２（Ｃ））
においては、光量の切り換えに伴つて信号レベルが変化
し、サイドビームプツシユプル信号ＳＰＰ（図２
（Ｄ））をこの光量検出結果で補正して振幅を一定値に
保持することができた（図２（Ｅ））。

【００４６】さらにこの実施例において、光デイスク装
置５０においては、シーク時、スイツチ回路６６の接点
を切り換えることにより、割り算回路６４の出力信号に
代えてサイドビームプツシユプル信号ＳＰＰを減算回路
４２に出力し、これによりトラバース信号ＴＢを生成す
る。

【００４７】すなわちこの種の光デイスク装置において
は、記録トラツクを横切るように光ピツクアツプ６を移
動させる場合があり、この場合通常の記録再生時と反射
光Ｌ２の変化が異なることにより、加算回路６２の出力
信号Ｓ３がこの移動に追従して脈動する恐れがある。こ
の場合、割り算回路６４の出力信号ＳＴＥにおいては、
正しく記録トラツクを横切る周期で信号レベルが変化し
ない恐れがあり、この実施例においてはこの場合スイツ
チ回路６６の接点を切り換えることにより、正しいトラ
バース信号ＴＢを検出し得るようになされている。

【００４８】これにより光デイスク装置１においては、
シーク時においては、グルーブを横切る毎に信号レベル
が変化する正しいトラバース信号ＴＢを検出することが
でき、確実に目的トラツクにシークすることができる。

【００４９】（２）実施例の効果 以上の構成によれば、ローパスフイルタ回路を介して受
光素子の出力信号を増幅した後、サイドビームの光量を
検出し、光量検出結果でサイドビームプツシユプル信号
ＳＰＰの信号レベルを補正することにより、増幅回路の
帯域を狭帯域化して確実にトラツキングエラー信号を生
成することができ、これにより増幅回路の構成を簡略化
することができる。

【００５０】（３）他の実施例 なお上述の実施例においては、シーク時、選択回路６６
の接点を切り換える場合について述べたが、本発明はこ
れに限らず、記録時と再生時とで切り換えるようにして
もよい。

【００５１】さらに上述の実施例においては、光デイス
クを記録再生する場合について述べたが、本発明はこれ
に限らず、記録専用の光デイスク装置等にも広く適用す
ることができる。

【００５２】

【発明の効果】上述のように本発明によれば、サイドビ
ームの反射光を受光する受光素子の出力信号について、
光量検出結果で信号レベルを補正してサイドビームプツ
シユプル信号を生成することにより、受光素子の出力信
号を帯域制限して処理し得、これによりこの出力信号を
増幅する増幅回路を狭帯域化、高利得化し得、その分増
幅回路の構成を簡略化して、確実にトラツキングエラー
信号を生成することができる。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明の一実施例による光デイスク装置を示す
ブロツク図である。

【図２】その動作の説明に供する信号波形図である。

【図３】従来の光デイスク装置を示すブロツク図であ
る。

【図４】その動作の説明に供する信号波形図である。

【符号の説明】

１、５０……光デイスク装置、２……光デイスク、１０
……レーザダイオード、２４、２８、３０……受光素
子、３４、５２……サンプルホールド回路、３６……マ
トリツクス回路、４２、６０……減算回路、５４……ロ
ーパスフイルタ回路、５６、５８、６２……加算回路、
６４……割り算回路、６６……スイツチ回路。

Claims (3)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】プリグルーブが形成された光デイスクに対
   して、センタビーム及びサイドビームを照射して上記光
   デイスクに所望の情報を記録する光デイスク装置におい
   て、 上記センタビーム及び上記サイドビームを上記光デイス
   クに照射すると共に、上記光デイスクの反射光を受光す
   る光学系と、 上記光デイスクの半径方向に受光面を第１及び第２の受
   光面に分割し、上記光学系で受光した上記センタビーム
   の反射光を受光するセンタビーム受光素子と、 上記センタビーム受光素子に隣接して、上記光デイスク
   の半径方向の、上記センタビーム受光素子の両側に配置
   され、上記光デイスクの半径方向に受光面を分割し、上
   記光学系で受光した上記サイドビームの反射光を受光す
   る第１及び第２のサイドビーム受光素子と、 上記センタビーム受光素子の第１及び第２の受光面につ
   いて、出力信号の差信号を検出してセンタビームプツシ
   ユプル信号を生成する第１のプツシユプル信号生成手段
   と、 上記第１及び第２のサイドビーム受光素子に入射する上
   記サイドビームの反射光の光量を検出する光量検出手段
   と、 上記第１及び第２のサイドビーム受光素子間で、上記光
   デイスクの内周側及び外周側の受光面でそれぞれ第１及
   び第２の和信号を得、上記第１及び第２の和信号の差信
   号を検出してサイドビームプツシユプル信号を生成する
   第２のプツシユプル信号生成手段と、 上記サイドビームプツシユプル信号の信号レベルを上記
   光量検出手段の検出結果に基づいて補正して出力する信
   号レベル補正手段と、 上記信号レベル補正手段の出力信号を上記センタビーム
   プツシユプル信号から減算してトラツキングエラー信号
   を生成する減算手段とことを特徴とする光デイスク装
   置。
2. 【請求項２】上記第２のプツシユプル信号生成手段は、
   所定のローパスフイルタ回路を介して上記第１及び第２
   のサイドビーム受光素子から出力される出力信号の帯域
   を抑圧した後、上記第１及び第２の和信号を検出し、 上記光量検出手段は、上記ローパスフイルタ回路を介し
   て出力される上記第１及び第２のサイドビーム受光素子
   の出力信号を加算することにより、上記サイドビームの
   反射光の光量を検出し、 上記信号レベル補正手段は、上記サイドビームプツシユ
   プル信号を上記光量検出手段の検出結果で割り算して上
   記サイドビームプツシユプル信号を補正することを特徴
   とする請求項１に記載の光デイスク装置。
3. 【請求項３】上記減算手段は、シーク時、上記信号レベ
   ル補正手段の出力信号に代えて上記第２のプツシユプル
   信号生成手段から出力される上記サイドビームプツシユ
   プル信号を上記センタビームプツシユプル信号から減算
   してトラバース信号を生成することを特徴とする請求項
   １又は請求項２に記載の光デイスク装置。