JPH0636339A

JPH0636339A - 光学式再生装置

Info

Publication number: JPH0636339A
Application number: JP4236088A
Authority: JP
Inventors: Naoyuki Ueno; 直之上野; Hidetsugu Ikuta; 英嗣生田; Hideji Takahashi; 秀司高橋
Original assignee: Olympus Optical Co Ltd
Current assignee: Olympus Corp
Priority date: 1992-05-20
Filing date: 1992-09-03
Publication date: 1994-02-10

Abstract

(57)【要約】【目的】本発明は、位相深さの影響を受けることなく、
また、記録媒体から形成される回折・干渉パターンの光
量変化を効率よく検出して、ＳＮ比の高いデータ再生を
行うことができる光学式再生装置を提供することにあ
る。【構成】複数のマーク相互の間隔変化によって所定のデ
ータが記録された記録媒体からデータを光学的に再生す
る光学式再生装置に設けられており、記録媒体の複数の
マークにレーザー光を走査することによって形成される
回折パターンを受光する２分割フォトダイオード２３を
備え、マーク相互の最短間隔と最長間隔との平均を平均
マーク間隔とすると、２分割フォトダイオード２３は、
その一端を平均マーク間隔にある複数のマークから形成
されるサンプル回折・干渉パターンの０次光ピーク位置
Ｅ近傍に整合配置させると共に、その分割線２３ａ、２
３ｂをサンプル回折パターンの第１暗点位置Ｆ、Ｇ近傍
に整合配置させる。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】本発明は、例えば、光ディスクや
光カード等の記録媒体から光学的にデータを再生する光
学式再生装置に関する。

【０００２】

【従来の技術】従来、この種の装置に適用されている記
録媒体としては、再生専用型（ＲＯＭ）のＣＤやレーザ
ーディスク、追記型（ＷＯＲＭ）のＴｅ金属薄膜や有機
色素膜、可逆型（Ｅ−ＤＲＡＷ）の光磁気型やカルコゲ
ナイト相変化膜があり、いずれの場合も、例えば、１ビ
ットのデータは、１つのマークの有無によって表現され
ている。

【０００３】このような記録媒体に所定のデータを記録
する場合、波長程度に集束させた記録用レーザービーム
を記録媒体のトラック長さ方向に沿って照射して、所定
の間隔で複数のマークを形成する。この結果、これらマ
ーク相互の間隔に対応して符号化したデータが記録媒体
に記録される。

【０００４】このような記録媒体からデータを光学的に
再生する場合、再生用レーザービームを、記録媒体のト
ラック長さ方向に沿って走査する。この結果、マークの
有無により変化する干渉光を検出してデータの再生が行
われる。

【０００５】近年、記録密度の向上を目的として、各マ
ークでの反射率を段階的に変える方法、マークの深さを
変える方法、マークの大きさを変える方法、あるいは、
トラック間隔を小さくする方法、又は、記録媒体として
多層膜を使用し、各層に夫々データを記録して記録密度
を向上させる方法等が提案されている。これらは、１マ
ークの状態を段階的に変えることによって、多値化する
ストレートな方法である。

【０００６】

【発明が解決しようとする課題】しかし、従来の多値記
録は、マークからの信号が正確に検出されるように段階
的に反射率等を調整することが困難であると共に、２値
〜４値の多値化が限界である。そこで、記録密度を向上
させるために、例えば、まとまった一組のデータを記録
媒体の一定エリアにパターン化して記録することも考え
られる。しかし、このような方法は、トラッキングやフ
ォーカシングを無くした簡易なシステムに用いることが
できるが、複雑なシステムには用いることができない。
また、記録媒体を大型化することも考えられる。しか
し、これに伴って装置も大型化してしまう。

【０００７】そこで、最近開発された高密度多値記録方
法（特開平３−１４１０３３号公報参照）は、図８に示
すように、記録媒体のトラック幅方向に記録用レーザー
ビームを照射し、所定の間隔で複数のマーク２を並列し
て形成し、これらマーク相互の間隔に対応したデータを
トラック幅方向に記録する。同時に、複数のマーク２を
一組にして構成されたマークセット４をトラック長さ方
向に所定の間隔で順次形成し、これらマークセット相互
の間隔に対応して符号化した他のデータをトラック長さ
方向に記録する。このような記録方法によれば、トラッ
ク長さ方向とトラック幅方向に別々のデータが記録され
るので、記録媒体の記録密度が向上する。

【０００８】また、記録されたデータの再生は、再生用
レーザービームをマークセット４に走査し、これらマー
クセット４を構成する複数のマーク２から生じる干渉光
を検出して行われる。具体的には、再生用レーザービー
ムをトラック長さ方向に沿って走査すると、マークセッ
ト４を構成する複数のマーク２からは、これらマーク相
互の間隔に対応して極値が変化する干渉光が発生する。
そして、かかる干渉光によって形成される干渉パターン
の極大値相互の間隔又は極小値相互の間隔の変化を検出
することによって、マーク相互の間隔情報が、トラック
幅方向のデータとして再生される。

【０００９】同時に、トラック長さ方向に走査される再
生用レーザービームによって、マークセット４の有無が
検出され、このとき検出されたマークセット相互の間隔
情報が、トラック長さ方向のデータとして再生される。

【００１０】かかる再生において、特に、マーク相互の
間隔を判別する方法としては、例えば、干渉パターン全
体又は±１次回折光周辺の光をリニアアレイで受光し
て、光量の大小を逐次比較演算することによって、±１
次回折光の位置を検出する方法（以下、第１方法と称す
る）や、図９に示すような位置（具体的には、最短マー
ク間隔時の干渉パターンＰの第１暗点Ｃと、最長マーク
間隔時の干渉パターンＳの第２暗点Ｄとの間）に２分割
フォトダイオード６を配置し、これらフォトダイオード
６の夫々の部位６ａ、６ｂを介して出力された光量変化
信号を信号処理系８で演算することによって、マーク間
隔を検出する方法（以下、第２方法と称する）等が提案
されている。

【００１１】しかし、第１方法は、検出回路が大きくな
る上、高速での処理が難しい。また、第２方法は、検出
用の光は、パターン全体の１〜２割に過ぎず、大部分の
光は捨てられている。２分割フォトダイオード６に検出
可能な光量を与えるためには、過大なビーム出力を有す
る再生用レーザービームが要求されるが、現実には光量
不足によりＳＮ比が低下して高精度なデータ再生ができ
ない。更に、第２の方法では、マーク２が位相型で構成
されている場合には、透過型の場合とは異なり干渉パタ
ーンの強度分布が位相深さの影響を受けて変化するた
め、干渉パターンの第１暗点Ｃと第２暗点Ｄの位置も変
化してしまう。つまり、位相深さが外乱要因として加わ
った場合には、２分割フォトダイオード６の配置が最適
位置からずれることによって、夫々の２分割フォトダイ
オード６の出力が変化し、高精度なデータ再生が困難に
なってしまう結果となる。

【００１２】本発明は、このような弊害を除去するため
になされ、その目的は、位相深さの影響を受けることな
く、また、記録媒体から形成される回折・干渉パターン
の光量変化を効率よく検出して、ＳＮ比の高いデータ再
生を行うことができる光学式再生装置を提供することに
ある。

【００１３】

【課題を解決するための手段】このような目的を達成す
るために、本発明は、複数のマーク相互の間隔変化によ
って所定のデータが記録された記録媒体からデータを光
学的に再生する光学式再生装置において、前記記録媒体
の複数のマークにレーザー光を走査することによって形
成される干渉パターンを受光する２分割フォトダイオー
ドを備え、前記マーク相互の最短間隔と最長間隔との平
均を平均マーク間隔とすると、前記２分割フォトダイオ
ードは、その分割線を前記記録媒体の種類に応じて、前
記平均マーク間隔にある複数のマークから形成されるサ
ンプル回折・干渉パターン強度分布の所定位置に整合配
置させる。

【００１４】

【作用】記録媒体に形成された複数のマークにレーザー
光を走査すると、記録媒体からマーク相互の間隔に対応
して変化する干渉パターンが発生する。この干渉パター
ンは、その分割線がサンプル回折・干渉パターン強度分
布の所定位置に整合配置された２分割フォトダイオード
に受光され、その受光量に対応した電気信号に変換され
る。２分割フォトダイオードから出力された電気信号に
所定の演算が施され、データが再生される。

【００１５】

【実施例】以下、本発明の第１の実施例に係る光学式再
生装置について、図１ないし図３を参照して説明する。
なお、本実施例の装置には、透過型、及び、反射振幅型
（記録媒体１３に対して反射率の違いによりマークを記
録する形式）の記録媒体１３が適用されており、この記
録媒体１３には、には、トラック幅方向に並列して形成
された一対のマーク２の相互の間隔変化によって所定の
データが記録され、且つ、これら一対のマーク２を組に
してトラック長さ方向に所定の間隔で形成されたマーク
セット４の相互の間隔変化によって他のデータが記録さ
れている（図８参照）。また、記録媒体１３は、そのト
ラックピッチが４μｍに規定されており、かかるトラッ
ク内に、マーク径が１μｍでマーク相互の間隔が１．５
μｍ〜３μｍの範囲でマーク２が形成されている。図３
には、本実施例に係る光学式再生装置の構成が概略的に
示されている。

【００１６】図３に示すように、半導体レーザ１から出
射した再生用レーザービーム（波長λ＝６７０〜８３０
ｎｍ）は、コリメータレンズ３を介して平行光束に規制
された後、整形プリズム５に照射される。

【００１７】整形プリズム５に照射されて楕円ビーム
（軸比１：４）に変換された再生用レーザービームは、
偏光ビームスプリッタ７及び１／４波長板９を透過した
後、対物レンズ１１によって記録媒体１３に集束され
る。

【００１８】ここで、上述した構成を有する記録媒体１
３に集束された際に形成されるビームスポット（即ち、
照射領域）が、トラック長さ方向に隣接した他のマーク
２に重なった場合、再生時、この重なった部分がノイズ
となり、記録されたデータを正確に読み出すことができ
なくなる恐れがある。

【００１９】そこで、本実施例の光学式再生装置には、
ビームスポット（即ち、照射領域）３３が、トラック長
さ方向に短く且つトラック幅方向に長い長楕円形状（１
μｍ×４μｍ）となるように（図８参照）、フォーカス
・トラッキングサーボ系が設けられている。

【００２０】フォーカス・トラッキング制御は、記録媒
体１３から反射された反射回折光を対物レンズ１１、１
／４波長板９及び偏光ビームスプリッタ７を介して第１
のサーボ用ディテクタ１５に導光し、検出された受光量
の変化を基にアクチュエータ１７を制御して行われる。
一方、記録媒体１３を透過した透過回折光は、集光レン
ズ１９を介して平行光束に規制され、ビームスプリッタ
２１に照射され、２方向に振り分けられる。

【００２１】その一方の透過回折光は、連設された一対
の２分割フォトダイオード２３に照射され、夫々、受光
した光量に対応した電気信号に変換された後、これら電
気信号に所定の演算が施されてデータが再生される。

【００２２】その他方の透過回折光は、データ再生中に
記録媒体１３からの透過回折光が、正確に２分割フォト
ダイオード２３に照射されるように、第２のサーボ用デ
ィテクタ２５に照射され、検出された受光量の変化を基
にアクチュエータ２７の制御が行われる。

【００２３】本実施例の光学式再生装置では、２分割フ
ォトダイオード２３の受光量を増加させてＳＮ比の高い
データ再生を効率よく行うため、一対の２分割フォトダ
イオード２３の設置位置が以下のように規定されている
（図１参照）。

【００２４】なお、図１に示すように、本実施例に適用
された一対の２分割フォトダイオード２３は、透過回折
光の０次光ピーク位置Ｅに対して左右対称に配置され、
いずれも同様の作用効果を奏する。従って、以下の説明
では、その一方の２分割フォトダイオード２３（図１
中、向かって右側）についてのみ説明する。

【００２５】図１に示すように、２分割フォトダイオー
ド２３は、図中向かって左側端部を回折パターンの０次
光ピーク位置Ｅに整合させ、且つ、２分割フォトダイオ
ード２３の分割線２３ａを回折パターンの第１暗点位置
Ｆに整合させる。

【００２６】具体的には、２分割フォトダイオード２３
の分割線２３ａの位置合わせは、平均マーク間隔に対応
した干渉パターン（以下、仮にサンプル回折・干渉パタ
ーンと称する）を基準に行われ、本実施例では、マーク
間隔は、１．５〜３μｍであるため、平均マーク間隔Ｄ
は、Ｄ＝（１．５＋３）／２＝２．２５μｍとなる。図１には、かかる平均マーク間隔（Ｄ＝２．２
５μｍ）にある一対のマーク２（図８参照）から形成さ
れたサンプル回折・干渉パターンが例示されている。

【００２７】また、２分割フォトダイオード２３に受光
される際のサンプル回折・干渉パターンの大きさ（Ｘ）
は、集光レンズ１９（図３参照）の開口数（ＮＡ）及び
焦点距離（ｆ）によって、Ｘ＝２・ＮＡ・ｆ…（１）のように規定される。

【００２８】従って、上記（１）式によって算出された
大きさを有するサンプル回折・干渉パターンの第１暗点
位置Ｆは、下式Ｆ＝（ｆ・λ）／（２・Ｄ）…（２）ｆ；焦点距離 λ；波長Ｄ；平均マーク間隔（＝２．２５μｍ）を演算することによって算出される。即ち、かかる算出
値は、２分割フォトダイオード２３の分割線２３ａの整
合位置に相当する。以下、２分割フォトダイオード２３
の分割線２３ａの整合位置について、具体的な数値を式
（１）、（２）に代入して算出する。

【００２９】（ｉ）開口数（ＮＡ）＝０．５５、焦点
距離（ｆ）＝３．９ｍｍとするとサンプル回折パターン
の大きさ（Ｘ）は、式（１）よりＸ＝４．２９ｍｍとなる。このとき、再生用レーザービームの波長（λ）
を８３０ｎｍとすると、Ｄ＝２．２５μｍであるから、
式（２）よりＦ＝（ｆ・λ）／（２・Ｄ）＝０．７１９３ｍｍとなる。この結果、分割線２３ａは、０次光ピーク位置
Ｅから約０．７１９３ｍｍだけプラス（＋）側にずれた
位置に整合させればよい。

【００３０】（ｉｉ）開口数（ＮＡ）＝０．５、焦点距
離（ｆ）＝４．３ｍｍとするとサンプル回折パターンの
大きさ（Ｘ）は、式（１）よりＸ＝４．３ｍｍとなる。このとき、再生用レーザービームの波長（λ）
を８３０ｎｍとすると、式（２）よりＦ＝（ｆ・λ）／（２・Ｄ）＝０．７９３１ｍｍとなる。この結果、分割線２３ａは、０次光ピーク位置
Ｅから約０．７９３１ｍｍだけプラス（＋）側にずれた
位置に整合させればよい。

【００３１】なお、図１中、向かって左側の２分割フォ
トダイオード２３の分割線２３ｂの位置決めも上述同様
に演算され、この場合、分割線２３ｂは、０次光ピーク
位置Ｅからマイナス（−）側にずれた位置（即ち、マイ
ナス側第１暗点位置Ｇ）に整合させればよい。

【００３２】本実施例の光学式再生装置には、上述した
位置に一対の２分割フォトダイオード２３が配置されて
いるため、集光レンズ１９（図３参照）を介して形成さ
れる回折パターン（サンプル回折パターンではなく、実
際に走査されて形成された回折パターン）の光利用効率
は５５％以上となり、従来（光利用効率５〜１０％）に
比べてそのＳＮ比も大幅に向上する。

【００３３】このとき、一対の２分割フォトダイオード
２３の夫々の受光領域Ａ、Ｂから出力される出力信号
Ａ、Ｂについて、信号処理系（図示しない）を介して
（Ａ−Ｂ）／（Ａ＋Ｂ）の演算を施すと、図２に示すよ
うに、演算値とマーク間隔との関係が、データ再生に最
適な１対１の対応関係にあることが判明した。

【００３４】本実施例に適用された一対の２分割フォト
ダイオード２３で受光された光量を検出すると、１ｍＷ
のレーザー出力でマークセット４（図８参照）を照射し
たとき、従来の位置に２分割フォトダイオード６（図９
参照）を配置した場合には、２０μＷの受光量しか検出
できなかったが、本実施例の場合（図１参照）には、１
１０μＷの受光量が検出された。

【００３５】この結果、ＳＮ比も約９ｄＢ向上させるこ
とができ、記録媒体１３（図３参照）の偏心又は傾斜等
の外乱に対するデータの誤再生が防止される。更に、分
解能も従来に比べて１．５ｂｉｔ（ビット）増加させる
ことができるため、高密度に記録された多値情報を高精
度に再生することが可能となる。

【００３６】なお、本発明は、上述した実施例の構成に
限定されることはなく、請求の範囲内において種々変更
することが可能である。例えば、２分割フォトダイオー
ドは、必ずしも２つ必要ではなく、いずれか一方のみで
も同様の作用効果を奏する。また、２分割フォトダイオ
ードの分割線ならびに０次光側の端部の位置合わせも、
第１暗点位置ならびに０次光のピーク位置に高精度に整
合させる必要はなく、許容範囲内であれば任意に整合可
能である。更に、４分割フォトダイオードを用いてもよ
い。また、上述した実施例では、透過型の再生装置につ
いて説明したが、反射型の再生装置でも同様の作用効果
を奏することはいうまでもない。

【００３７】次に、本発明の第２の実施例に係る光学式
再生装置について、図４ないし図７を参照して説明す
る。なお、本実施例の装置には、反射位相型（記録媒体
２０に対して凹凸の変化によりマークを記録する形式）
の記録媒体２０が適用されており、かかる記録媒体２０
には、トラック幅方向に並列して形成された一対のマー
ク２の相互の間隔変化によって所定のデータが記録さ
れ、且つ、これら一対のマーク２を組にしてトラック長
さ方向に所定の間隔で形成されたマークセット４の相互
の間隔変化によって他のデータが記録されている（図８
参照）。また、記録媒体は、そのトラックピッチが４μ
ｍに規定されており、かかるトラック内に、マーク径が
１μｍでマーク相互の間隔が２μｍ〜３μｍの範囲でマ
ーク２が形成されている。ここでは、再生用光源として
波長（λ）が、８３０ｎｍの半導体レーザを適用してい
る。図４には、本実施例に係る光学式再生装置の構成が
概略的に示されている。

【００３８】図４に示すように、半導体レーザ１０から
出射した再生用レーザービーム（λ＝８３０ｎｍ）は、
コリメータレンズ１２によって平行光束（軸比１：４）
に規制される。ここでは適用された半導体レーザ１０の
非点隔差を利用して、軸比１：４の楕円ビームに規制さ
れるが、整形プリズム（図示しない）を用いて軸比を調
整することも可能である。

【００３９】コリメータレンズ１２を透過して楕円ビー
ム（軸比１：４）に変換された再生用レーザービーム
は、偏光ビームスプリッタ１４及び１／４波長板１６を
透過した後、対物レンズ１８（ＮＡ＝０．５、ｆ＝４ｍ
ｍ）によって記録媒体２０に集束される。

【００４０】ここで、上述した構成を有する記録媒体２
０に集束された際に形成されるビームスポット（即ち、
照射領域）が、トラック長さ方向に隣接した他のマーク
２に重なった場合、再生時、この重なった部分がノイズ
となり、記録されたデータを正確に読み出すことができ
なくなる恐れがある。

【００４１】そこで、本実施例の光学式再生装置には、
ビームスポット（即ち、照射領域）３３が、トラック長
さ方向に短く且つトラック幅方向に長い長楕円形状（１
μｍ×４μｍ）となるように（図８参照）、フォーカス
・トラッキングサーボ系が設けられている。

【００４２】フォーカス・トラッキング制御は、記録媒
体２０から反射された反射干渉光を対物レンズ１８、１
／４波長板１６及び偏光ビームスプリッタ１４を介して
ハーフプリズム２２まで導光し、このハーフプリズム２
２で反射した光をサーボ用ディテクタ２４で受光し、検
出された受光量の変化を基にアクチュエータ２６を制御
して行われる。

【００４３】このようなサーボ制御が行われている間、
記録媒体２０から反射してハーフプリズム２２まで導光
された反射干渉光は、ハーフプリズム２２を透過して一
対の２分割フォトダイオード２８に照射され、これら２
分割フォトダイオード２８によって、夫々、受光量に対
応する電気信号に変換される。そして、一対の２分割フ
ォトダイオード２８から出力された電気信号に、所定の
演算が施されデータ再生が行われる。

【００４４】図５に示すように、本実施例に適用された
一対の２分割フォトダイオード２８は、夫々、その分割
線２８ｃを反射干渉パターン強度分布の０次光以外のピ
ーク位置近傍に整合させて、光軸に対して左右対称に配
置され、いずれも同様の作用効果を奏する。従って、以
下の説明では、その一方の２分割フォトダイオード２８
についてのみ説明する。

【００４５】具体的には、２分割フォトダイオード２８
の分割線２８ｃの位置合わせは、平均マーク間隔に対応
した干渉パターン（以下、仮にサンプル回折・干渉パタ
ーンと称する）を基準に行われ、本実施例では、マーク
間隔は、２〜３μｍであるため、平均マーク間隔Ｄは、Ｄ＝（２＋３）／２＝２．５μｍとなる。従って、かかる平均マーク間隔（Ｄ＝２．５μ
ｍ）にある一対のマーク２（図８参照）から形成された
サンプル回折・干渉パターンＸの最大ピーク位置Ｅに、
分割線２８ｃを整合して２分割フォトダイオード２８が
配置される。

【００４６】なお、マーク２の位相深さは、λ／４と
し、２分割フォトダイオード２８の夫々の受光素子２８
ａ、２８ｂの幅は、約０．５ｍｍに規定されている。ま
た、符号Ｙは、マーク間隔Ｄ＝２．０μｍでの干渉パタ
ーンの強度分布を示し、符号Ｚは、マーク間隔Ｄ＝３．
０μｍでの干渉パターンの強度分布を示す。

【００４７】このように２分割フォトダイオード２８を
配置した後、マーク間隔を２〜３μｍまで変化させて実
験を行った場合、一対の２分割フォトダイオード２８の
夫々の受光領域２８ａ、２８ｂから出力される出力信号
Ａ、Ｂについて、信号処理系３０を介して（Ａ−Ｂ）／
（Ａ＋Ｂ）の演算を施すと、図６に示すように、演算値
とマーク間隔との関係が、データ再生に最適な１対１の
対応関係にあることが判明した。

【００４８】この状態において、マーク２の位相深さを
λ／８に変化させて同様の実験を行った場合、２〜３μ
ｍでの干渉パターンの強度分布Ｘ、Ｙ、Ｚは、図７に示
すように変化し、一対の２分割フォトダイオード２８へ
の受光量は、位相深さがλ／４の場合に比べて減少する
が、演算値とマーク間隔との関係は、図６に示す関係に
維持されることが判明した。

【００４９】また、位相深さをλ／１６〜λ／４の範囲
で変化させて同様の実験を行った場合にも同様の効果を
奏すると共に、対物レンズ１８の焦点距離（ｆ）の変化
に伴い２分割フォトダイオード２８の受光素子の幅を適
宜変化させた場合でも高精度にデータ再生を行うことが
可能となる。

【００５０】以上の実験結果から、２分割フォトダイオ
ード２８の分割線２８ｃを平均マーク間隔（Ｄ）にある
一対のマーク２から形成される干渉パターン強度分布の
０次光以外のピーク位置近傍に整合配置させることによ
って、マークの位相深さの影響を受けることなく、これ
らマーク２から形成される干渉パターンから高精度にデ
ータ再生を行うことができることが判明した。

【００５１】

【発明の効果】本発明の光学式再生装置は、２分割フォ
トダイオードの分割線を平均マーク間隔にある複数のマ
ークから形成されるサンプル回折・干渉パターン強度分
布の所定位置に整合配置して構成されているため、マー
クの位相深さの影響を受けることなく、また、記録媒体
から形成される回折・干渉パターンの光量変化を効率よ
く検出して、ＳＮ比の高いデータ再生を行うことができ
る。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明の第１の実施例に係る光学式再生装置に
適用された一対の２分割フォトダイオードのサンプル回
折・干渉パターンに対する配置位置を示す図。

【図２】図１に示す一対の２分割フォトダイオードから
出力された出力信号の演算値とマーク間隔との関係を示
す図。

【図３】本発明の第１の実施例に係る光学式再生装置の
構成を概略的に示す図。

【図４】本発明の第２の実施例に係る光学式再生装置の
構成を概略的に示す図。

【図５】図４に示す装置に適用された一対の２分割フォ
トダイオードのサンプル回折・干渉パターンに対する配
置位置を示す図。

【図６】図５に示す一対の２分割フォトダイオードから
出力された出力信号の演算値とマーク間隔との関係を示
す図。

【図７】位相深さを変化させた場合における干渉パター
ンに対する一対の２分割フォトダイオードの配置位置を
示す図。

【図８】記録媒体にマークが形成された状態を示す図。

【図９】従来の再生装置に適用された２分割フォトダイ
オードの干渉パターンに対する配置位置を示す図。

【符号の説明】

２３…２分割フォトダイオード、２３ａ…分割線、２３
ｂ…分割線、Ｅ…０次光ピーク位置、Ｆ，Ｇ…第１暗点
位置。

Claims

【特許請求の範囲】

【請求項１】複数のマーク相互の間隔変化によって所
定のデータが記録された記録媒体からデータを光学的に
再生する光学式再生装置において、前記記録媒体の複数のマークにレーザー光を走査するこ
とによって形成される干渉パターンを受光する２分割フ
ォトダイオードを備え、前記マーク相互の最短間隔と最長間隔との平均を平均マ
ーク間隔とすると、前記２分割フォトダイオードは、その分割線を前記記録
媒体の種類に応じて、前記平均マーク間隔にある複数の
マークから形成されるサンプル回折・干渉パターン強度
分布の所定位置に整合配置させることを特徴とする光学
式再生装置。
【請求項２】前記記録媒体は、透過型、及び、反射振
幅型の記録媒体であり、前記２分割フォトダイオードの
分割線を前記平均マーク間隔にある複数のマークから形
成されるサンプル回折・干渉パターン強度分布の第１暗
点近傍の所定位置に整合配置させると共に、その一端部
を前記サンプル回折・干渉パターンの０次光ピーク位置
近傍に整合配置させることを特徴とする請求項１に記載
の光学式再生装置。
【請求項３】前記記録媒体は、反射位相型の記録媒体
であり、前記２分割フォトダイオードの分割線を前記平
均マーク間隔にある複数のマークから形成されるサンプ
ル回折・干渉パターンの０次光ピーク位置近傍に整合配
置させることを特徴とする請求項１に記載の光学式再生
装置。