JPH0634974B2 - 透過光を利用した選別装置 - Google Patents
透過光を利用した選別装置Info
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- JPH0634974B2 JPH0634974B2 JP1258240A JP25824089A JPH0634974B2 JP H0634974 B2 JPH0634974 B2 JP H0634974B2 JP 1258240 A JP1258240 A JP 1258240A JP 25824089 A JP25824089 A JP 25824089A JP H0634974 B2 JPH0634974 B2 JP H0634974B2
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Classifications
-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B07—SEPARATING SOLIDS FROM SOLIDS; SORTING
- B07C—POSTAL SORTING; SORTING INDIVIDUAL ARTICLES, OR BULK MATERIAL FIT TO BE SORTED PIECE-MEAL, e.g. BY PICKING
- B07C5/00—Sorting according to a characteristic or feature of the articles or material being sorted, e.g. by control effected by devices which detect or measure such characteristic or feature; Sorting by manually actuated devices, e.g. switches
- B07C5/34—Sorting according to other particular properties
- B07C5/3416—Sorting according to other particular properties according to radiation transmissivity, e.g. for light, x-rays, particle radiation
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- Health & Medical Sciences (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- Toxicology (AREA)
- Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
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Description
【発明の詳細な説明】 [産業上の利用分野] 本発明は透過光によってナッツ等の被選別物の良否を決
定し選別する選別装置に関する。
定し選別する選別装置に関する。
[従来技術及びその問題点] ナッツ、コーン等の中にはカビ類によって変質したもの
がある。またカビによっては強力な発ガン性物質である
Aflatoxinを生産するものがあり、そのようなカビによ
って汚染されたナッツは食用には適さず予め選別して取
り除いておかなければならない。
がある。またカビによっては強力な発ガン性物質である
Aflatoxinを生産するものがあり、そのようなカビによ
って汚染されたナッツは食用には適さず予め選別して取
り除いておかなければならない。
従来ナッツ類の選別方法としては、被選別物(ナッツ)
の表面の変色を検出して選別を行う色彩選別法があっ
た。しかしながらこの色彩選別は、内部の変質によって
表面が変色しているものに対しては有効ではあるが、内
部が変質しても表面が変色しておらず、外観は良品と区
別がつかないものについては有効ではない。またこのよ
うに内部が変質しているにも拘わらず表面が変色してい
ないものについては、人手によっても選別が困難であっ
た。
の表面の変色を検出して選別を行う色彩選別法があっ
た。しかしながらこの色彩選別は、内部の変質によって
表面が変色しているものに対しては有効ではあるが、内
部が変質しても表面が変色しておらず、外観は良品と区
別がつかないものについては有効ではない。またこのよ
うに内部が変質しているにも拘わらず表面が変色してい
ないものについては、人手によっても選別が困難であっ
た。
本発明は上記事情に鑑みてなされたもので、内部が変質
しているが、表面は変色していない不良品をも選別する
ことができる選別装置を提供することを目的とする。
しているが、表面は変色していない不良品をも選別する
ことができる選別装置を提供することを目的とする。
[問題点の解決手段] 上記目的を達成するために、本発明は、被選別物の良否
を決定し、不良な被選別物を除去する透過光を利用した
選別装置において、 前記被選別物に対して、同被選別物よりも小さい径の光
を照射する光照射装置と、前記被選別物を透過し拡散し
た光を集光する集光装置と、集光された透過光の内、波
長の異なる2種の特定光を夫々検出する2つの光検出手
段と、同光検出手段によって検出された波長の異なる2
種の特定光の強度の比率をとり、その比率が所定値より
上か下かによって前記被選別物の良否を判断する判断手
段とを具備してなることを特徴とする。
を決定し、不良な被選別物を除去する透過光を利用した
選別装置において、 前記被選別物に対して、同被選別物よりも小さい径の光
を照射する光照射装置と、前記被選別物を透過し拡散し
た光を集光する集光装置と、集光された透過光の内、波
長の異なる2種の特定光を夫々検出する2つの光検出手
段と、同光検出手段によって検出された波長の異なる2
種の特定光の強度の比率をとり、その比率が所定値より
上か下かによって前記被選別物の良否を判断する判断手
段とを具備してなることを特徴とする。
研究によれば、ナッツは500nm〜1400nmの波
長の光を通過させるということが分かった。即ちこの波
長の光を利用すればナッツの内部の状態を調べることが
できる。
長の光を通過させるということが分かった。即ちこの波
長の光を利用すればナッツの内部の状態を調べることが
できる。
第1図は良品ナッツ(a)と不良品ナッツ(b)に、各
々500nm〜1500nmの光を当てて、光の拡散透
過率を調べたグラフである。この第1図に示すように、
良品と不良品とでは光の拡散透過率が異なる。さらに第
2図は、第1図に示す良品(a)と不良品(b)の光の
拡散透過率の差を示すグラフである。この図から見ると
波長110nmと波長750nmの付近で良品と不良品
の拡散透過率の差が大きくなっている。この二つの波長
に着目して良品及び不良品の拡散透過率の比を第1図か
ら求めると、良品では、 2.1%(1100nm) / 1.2%(750nm)=1.75 一方不良品では 2.8%(1100nm) / 0.39%(750nm)=7.18 となる。
々500nm〜1500nmの光を当てて、光の拡散透
過率を調べたグラフである。この第1図に示すように、
良品と不良品とでは光の拡散透過率が異なる。さらに第
2図は、第1図に示す良品(a)と不良品(b)の光の
拡散透過率の差を示すグラフである。この図から見ると
波長110nmと波長750nmの付近で良品と不良品
の拡散透過率の差が大きくなっている。この二つの波長
に着目して良品及び不良品の拡散透過率の比を第1図か
ら求めると、良品では、 2.1%(1100nm) / 1.2%(750nm)=1.75 一方不良品では 2.8%(1100nm) / 0.39%(750nm)=7.18 となる。
この結果から波長1100nmと波長750nmの光に
着目して透過率の比を調べればナッツが内部で変質して
いるか否かが分かる。
着目して透過率の比を調べればナッツが内部で変質して
いるか否かが分かる。
[実施例] 以下図面を参照して本発明の実施例について説明する。
第3図は本発明にかかる選別装置を示すブロック図であ
る。この図において、1は光照射装置であり、電球2、
及び同電球2から遠ざかる方向に向かって配置された第
1レンズ3、第2レンズ4、スリット5及び第3レンズ
6から構成されている。電球2から照射された光は第1
レンズ3、第2レンズ4によって集光された、スリット
5によって絞られ、更に第3レンズ6によって平行な光
にされる。この結果被選別物(ナッツ)Aよりも径が小
さいビーム光が光照射装置1から照射される。
る。この図において、1は光照射装置であり、電球2、
及び同電球2から遠ざかる方向に向かって配置された第
1レンズ3、第2レンズ4、スリット5及び第3レンズ
6から構成されている。電球2から照射された光は第1
レンズ3、第2レンズ4によって集光された、スリット
5によって絞られ、更に第3レンズ6によって平行な光
にされる。この結果被選別物(ナッツ)Aよりも径が小
さいビーム光が光照射装置1から照射される。
一方7は観察点Sを挟んで、前記光照射装置1と対向し
て設けられた積分球であり、この積分球7は窓8から侵
入する光を効率良く集光する。
て設けられた積分球であり、この積分球7は窓8から侵
入する光を効率良く集光する。
まら積分球7にはフィルタ及びフォトダイオードからな
る一対の光電変換器9及び10が設けられており、これ
ら光電変換器9、10は各々750nmの波長(λ1)
の光及び1100nmの波長(λ2)の光を検出して電
気信号に変換し、対応して設けられた増幅器11及び1
2を介して平面分割回路13及び判定点検出回路14に
供給する。ここで増幅器11、12の出力レベルは被選
別物Aが観察点Sを通過するとき都度その透過度に応じ
て低下する信号となる。
る一対の光電変換器9及び10が設けられており、これ
ら光電変換器9、10は各々750nmの波長(λ1)
の光及び1100nmの波長(λ2)の光を検出して電
気信号に変換し、対応して設けられた増幅器11及び1
2を介して平面分割回路13及び判定点検出回路14に
供給する。ここで増幅器11、12の出力レベルは被選
別物Aが観察点Sを通過するとき都度その透過度に応じ
て低下する信号となる。
平面分割回路13において、増幅器11から供給された
電気信号(E(λ1))は可変利得増幅器15に供給さ
れる。増幅器15は増幅器11から供給された電気信号
を、所定の利得k増幅して(k・E(λ1))加算器1
6へ供給する。
電気信号(E(λ1))は可変利得増幅器15に供給さ
れる。増幅器15は増幅器11から供給された電気信号
を、所定の利得k増幅して(k・E(λ1))加算器1
6へ供給する。
また増幅器11の出力は比較器17の反転端子に供給さ
れる。一方同比較器17の非反転端子には所定の正の基
準電位が加えられており、従って反転端子に供給される
信号の電圧が同基準電位よりも低いときに比較器17は
論理“1”の信号をオアゲート18に出力する。なお、
この基準電位は第4図のフロチャートの最上に示すよう
に極めて低く設定されており、ナッツ以外の、例えば石
等のように全く光を透過しないものが通過したときに増
幅器11の出力(E(λ1))と交差するように設定さ
れている。
れる。一方同比較器17の非反転端子には所定の正の基
準電位が加えられており、従って反転端子に供給される
信号の電圧が同基準電位よりも低いときに比較器17は
論理“1”の信号をオアゲート18に出力する。なお、
この基準電位は第4図のフロチャートの最上に示すよう
に極めて低く設定されており、ナッツ以外の、例えば石
等のように全く光を透過しないものが通過したときに増
幅器11の出力(E(λ1))と交差するように設定さ
れている。
また平面分割回路13において、増幅器12から供給さ
れた電気信号(E(λ2))は加算器16に供給され、
ここで増幅器15の出力から減算され(kE(λ1)−
E(λ2))、この減算結果が比較器19の非反転端に
供給される。
れた電気信号(E(λ2))は加算器16に供給され、
ここで増幅器15の出力から減算され(kE(λ1)−
E(λ2))、この減算結果が比較器19の非反転端に
供給される。
比較器19の反転端は接地されており、従って加算器1
6の出力がプラスの時に論理“1”の信号をオアゲート
18に供給する。ここで不良品における透過率の比(E
(λ2)/E(λ1))と良品における透過率の比(E
(λ2)/E(λ1))では不良品の比が良品の比よりも
大きいことは既に述べた。従って利得kの値をそれらの
比の中間値に設定しておくことにより、良品が観察点S
通過したときには加算器16の出力がマイナスになり、
不良品が観察点Sを通過したときには同出力がプラスに
なる。
6の出力がプラスの時に論理“1”の信号をオアゲート
18に供給する。ここで不良品における透過率の比(E
(λ2)/E(λ1))と良品における透過率の比(E
(λ2)/E(λ1))では不良品の比が良品の比よりも
大きいことは既に述べた。従って利得kの値をそれらの
比の中間値に設定しておくことにより、良品が観察点S
通過したときには加算器16の出力がマイナスになり、
不良品が観察点Sを通過したときには同出力がプラスに
なる。
更に平面分割回路13において、増幅器12の出力は比
較器20に供給される。この比較器20の機能は前述し
た比較器17の機能と同一であり、説明を省略する。
較器20に供給される。この比較器20の機能は前述し
た比較器17の機能と同一であり、説明を省略する。
以上説明した平面分割回路13の機能をまとめると、第
5図に示すようになる。第5図は縦軸にE(λ2)をと
り、横軸にE(λ1)をとった座標である。まず増幅器
11から出力される信号E(λ1)については、この信
号が基準値よりも低いときに比較器17の出力が“1”
となる。また増幅器12から出力される信号E(λ2)
については、この信号が基準値よりも低いときに比較器
20の出力が“1”となる。また増幅器11、12の出
力についてE(λ1)、E(λ2)がkE(λ1)−E
(λ2)>0のときに比較器19の出力が“1”とな
る。即ち第5図において、増幅器11、12の出力E
(λ1)、E(λ2)が、直線a,b及びcによって画成
される斜線が施された領域内に位置するときにオアゲー
ト18の出力が“1”となり、この時被選別物が排除さ
れる。
5図に示すようになる。第5図は縦軸にE(λ2)をと
り、横軸にE(λ1)をとった座標である。まず増幅器
11から出力される信号E(λ1)については、この信
号が基準値よりも低いときに比較器17の出力が“1”
となる。また増幅器12から出力される信号E(λ2)
については、この信号が基準値よりも低いときに比較器
20の出力が“1”となる。また増幅器11、12の出
力についてE(λ1)、E(λ2)がkE(λ1)−E
(λ2)>0のときに比較器19の出力が“1”とな
る。即ち第5図において、増幅器11、12の出力E
(λ1)、E(λ2)が、直線a,b及びcによって画成
される斜線が施された領域内に位置するときにオアゲー
ト18の出力が“1”となり、この時被選別物が排除さ
れる。
このオアゲート18の出力はアンドゲート19に供給さ
れる。
れる。
一方、判定点検出回路14において、増幅器11、12
の出力は加算器21に供給される。加算器21は増幅器
11、12の出力を加算して微分回路22に供給する。
の出力は加算器21に供給される。加算器21は増幅器
11、12の出力を加算して微分回路22に供給する。
微分回路22は加算器21の出力を微分してその結果を
各々比較器23の非反転端及び比較器24の反転端に供
給する。
各々比較器23の非反転端及び比較器24の反転端に供
給する。
比較器23の反転端及び比較器24の反転端には基準電
圧が供給されており、比較器23は加算器21の信号が
立ち下がるとき、即ち微分回路22の出力がマイナスの
ときに論理“1”の信号を出力し、比較器24は加算器
21の信号が立ち上がるとき、即ち微分回路22の信号
がプラスのときに論理“1”の信号を出力する。
圧が供給されており、比較器23は加算器21の信号が
立ち下がるとき、即ち微分回路22の出力がマイナスの
ときに論理“1”の信号を出力し、比較器24は加算器
21の信号が立ち上がるとき、即ち微分回路22の信号
がプラスのときに論理“1”の信号を出力する。
比較器23及び24の出力は各々フリップフロップ(F
F)25のセット端及びリセット端に供給され、FF2
5をセットしリセットする。即ちFF25は、被選別物
が観察点Sに入り、光照射装置1からの光を遮り、増幅
器11、12の出力が低下し始めると、比較器23の出
力が“1”となってセットされ、被選別物が観察点Sを
通過することにより、増幅器11、12の出力が上昇を
始めると比較器24の出力が“1”となってリセットさ
れる。
F)25のセット端及びリセット端に供給され、FF2
5をセットしリセットする。即ちFF25は、被選別物
が観察点Sに入り、光照射装置1からの光を遮り、増幅
器11、12の出力が低下し始めると、比較器23の出
力が“1”となってセットされ、被選別物が観察点Sを
通過することにより、増幅器11、12の出力が上昇を
始めると比較器24の出力が“1”となってリセットさ
れる。
このFF25からの信号はアンドゲート19に供給さ
れ、オアゲート18から供給される良否判断信号に対し
て被選別物の通過時期を画定する役割を果たす。即ち、
アンドゲート19からは不良品が観察位置Sを通過した
ときに論理“1”の信号が出力され、これが遅延回路2
6によって所定の時間遅らされてドライバ27に供給さ
れる。
れ、オアゲート18から供給される良否判断信号に対し
て被選別物の通過時期を画定する役割を果たす。即ち、
アンドゲート19からは不良品が観察位置Sを通過した
ときに論理“1”の信号が出力され、これが遅延回路2
6によって所定の時間遅らされてドライバ27に供給さ
れる。
ドライバ27は遅延回路26から不良信号を受けるとイ
ジェクタ28を駆動して通過する被選別物を排除する。
ジェクタ28を駆動して通過する被選別物を排除する。
以上の構成を有する選別装置の構成について説明する。
第4図のα,β,γ,δは各々、観察部Sに被選別物を
存在しないとき、観察点Sに良品が存在するとき、観察
部Sに不良品が存在するとき、観察点Sに異種の選別
物、例えば石等が存在するときを示しており、第5図に
はα,β,γのE(λ1)−E(λ2)座標上での位置が
示されている。
第4図のα,β,γ,δは各々、観察部Sに被選別物を
存在しないとき、観察点Sに良品が存在するとき、観察
部Sに不良品が存在するとき、観察点Sに異種の選別
物、例えば石等が存在するときを示しており、第5図に
はα,β,γのE(λ1)−E(λ2)座標上での位置が
示されている。
まずナッツAが観察位置Sにないとき、光照射装置1か
らの光は積分球7によって直接集光され、その内の2種
類の異なる特定波長(λ1、λ2)の光が光電変換器9、
10によって検出され、各々増幅器11、12によって
増幅される。これら増幅信号は変化のない平旦な信号で
あり(第4図I、IIのα部分参照)、従って微分回路2
2の出力はゼロに維持され、比較器23、24の出力は
共に“0”となり、FF25は作動しない。この結果ア
ンドゲート19の出力は“0”となり、イジェクタ28
は作動しない。
らの光は積分球7によって直接集光され、その内の2種
類の異なる特定波長(λ1、λ2)の光が光電変換器9、
10によって検出され、各々増幅器11、12によって
増幅される。これら増幅信号は変化のない平旦な信号で
あり(第4図I、IIのα部分参照)、従って微分回路2
2の出力はゼロに維持され、比較器23、24の出力は
共に“0”となり、FF25は作動しない。この結果ア
ンドゲート19の出力は“0”となり、イジェクタ28
は作動しない。
次に良品が観察位置Sを通過したときについて説明す
る。光照射装置1から照射される光の径はナッツAより
も小さいので、ナッツが観察位置Sに位置するときに
は、ナッツは照射される光の全てを遮り、これによって
光照射装置1から積分球7に直接光が達することはな
い。
る。光照射装置1から照射される光の径はナッツAより
も小さいので、ナッツが観察位置Sに位置するときに
は、ナッツは照射される光の全てを遮り、これによって
光照射装置1から積分球7に直接光が達することはな
い。
ナッツAに照射された光はナッツの内部を拡散しながら
透過して積分球7に達する。この透過光の内上述の特定
光が光電変換器9、10によって検出され、増幅器1
1、12によって増幅される。この信号(E(λ1)、
E(λ2))は加算器21に供給され、加算されて(第
4図VI参照)微分回路22に供給される。微分回路22
で加算器21の出力が微分され(第4図VII参照)、比
較器23、24に供給される。この結果微分回路22の
出力が立ち下がったときに比較器23によってFF25
がセットされ、次いで微分回路22の出力が立ち上がっ
たときに比較器24によってFF25がリセットさ(第
4図VIII、IX、X参照)。これによってFF25からア
ンドゲート19に被選別物が観察部Sを通過したことを
知らせる信号が供給される。
透過して積分球7に達する。この透過光の内上述の特定
光が光電変換器9、10によって検出され、増幅器1
1、12によって増幅される。この信号(E(λ1)、
E(λ2))は加算器21に供給され、加算されて(第
4図VI参照)微分回路22に供給される。微分回路22
で加算器21の出力が微分され(第4図VII参照)、比
較器23、24に供給される。この結果微分回路22の
出力が立ち下がったときに比較器23によってFF25
がセットされ、次いで微分回路22の出力が立ち上がっ
たときに比較器24によってFF25がリセットさ(第
4図VIII、IX、X参照)。これによってFF25からア
ンドゲート19に被選別物が観察部Sを通過したことを
知らせる信号が供給される。
一方増幅器11、12からの信号(E(λ1)、E
(λ2))のレベルは、観察位置Sにナッツがないとき
に比べて低くなる(第4図のI、IIのβ参照)。この場
合、積分球7に達する僅かな透過光によって信号の底レ
ベルは比較器17、20の基準電圧よりも高く、比較器
17、20の出力は“0”となる。また通過するナッツ
Aは良品なのでkE(λ1)−E(λ2)<0となり、比
較器19の出力も“0”となり(第4図のIV参照)、従
ってオアゲート18及びアンドゲート19からは“0”
の論理信号が出力される。この結果良品が観察位置Sを
通過するときはイジェクタ28は作動せず、通過するナ
ッツAを排除しない。
(λ2))のレベルは、観察位置Sにナッツがないとき
に比べて低くなる(第4図のI、IIのβ参照)。この場
合、積分球7に達する僅かな透過光によって信号の底レ
ベルは比較器17、20の基準電圧よりも高く、比較器
17、20の出力は“0”となる。また通過するナッツ
Aは良品なのでkE(λ1)−E(λ2)<0となり、比
較器19の出力も“0”となり(第4図のIV参照)、従
ってオアゲート18及びアンドゲート19からは“0”
の論理信号が出力される。この結果良品が観察位置Sを
通過するときはイジェクタ28は作動せず、通過するナ
ッツAを排除しない。
次に不良品が観察位置Sを通過したときについて説明す
る(第4図γ)。不良品が観察位置Sを通過したとき、
比較器17、20の出力は“0“であるが、 kE(λ1)−E(λ2)>0となり、比較器19の出力
が“1”となる(第4図IV参照)。この信号がアンドゲ
ート19に供給される。
る(第4図γ)。不良品が観察位置Sを通過したとき、
比較器17、20の出力は“0“であるが、 kE(λ1)−E(λ2)>0となり、比較器19の出力
が“1”となる(第4図IV参照)。この信号がアンドゲ
ート19に供給される。
一方上述したようにFF25からは被選別物の通過信号
がアンドゲート19に供給され、この結果アンドゲート
19から排除信号が遅延回路26に出力され(第4図XI
参照)、所定の時間遅れてドライバ27が起動されてイ
ジェクタ28が駆動される。この結果不良なナッツが排
除される。
がアンドゲート19に供給され、この結果アンドゲート
19から排除信号が遅延回路26に出力され(第4図XI
参照)、所定の時間遅れてドライバ27が起動されてイ
ジェクタ28が駆動される。この結果不良なナッツが排
除される。
また石等の異物が観察物Sを通過した場合には(第4図
δ)、光が全く透過しないため、増幅器11、12のレ
ベルが比較器17、20の基準電圧以下になる(第4図
II参照)。この結果比較器17、20から論理“1”の
信号が出力され(第4図V参照)、オアゲート18を介
してアンドゲート19に供給される。こうしてFF25
からは被選別物の通過信号がアンドゲート19に供給さ
れることにより、アンドゲート19から論理“1”の信
号が出力され(第4図XI参照)、この結果イジェクタ2
8によって異物が排除される。
δ)、光が全く透過しないため、増幅器11、12のレ
ベルが比較器17、20の基準電圧以下になる(第4図
II参照)。この結果比較器17、20から論理“1”の
信号が出力され(第4図V参照)、オアゲート18を介
してアンドゲート19に供給される。こうしてFF25
からは被選別物の通過信号がアンドゲート19に供給さ
れることにより、アンドゲート19から論理“1”の信
号が出力され(第4図XI参照)、この結果イジェクタ2
8によって異物が排除される。
次に第6図(a)及び(b)は光照射装置の他の実施例
を示すブロック図である。第6(a)図では、それぞれ
上述した特定波長(λ1、λ2)の光を発生するレーザ発
生装置30、31からの光がレンズ32、33を介して
絞られて光ビームとなり、ダイクロイイックミラー34
に供給されて合成され、被選別物Aに照射される。
を示すブロック図である。第6(a)図では、それぞれ
上述した特定波長(λ1、λ2)の光を発生するレーザ発
生装置30、31からの光がレンズ32、33を介して
絞られて光ビームとなり、ダイクロイイックミラー34
に供給されて合成され、被選別物Aに照射される。
第6(b)図では、第3図に示す光照射装置に更にレン
ズ40が設けられ、照射される光を更に絞って被選別物
に照射する。
ズ40が設けられ、照射される光を更に絞って被選別物
に照射する。
第7は被選別物を透過した光の収集装置の他の実施例を
示している。被選別物Aを透過した光はレンズ50、5
1、52によって集光されてダイクロイックミラー53
に供給され、2条に分離されて光電変換器9、10に供
給される。
示している。被選別物Aを透過した光はレンズ50、5
1、52によって集光されてダイクロイックミラー53
に供給され、2条に分離されて光電変換器9、10に供
給される。
[発明の効果] 以上説明したように本発明によれば、被選別物の良否を
決定し、不良な被選別物を除去する透過光を利用した選
別装置において、 前記被選別物に対して、同被選別物よりも小さい径の光
ビームを照射する光照射装置と、前記被選別物を透過し
拡散した光を集光する集光装置と、集光された透過光の
内、波長の異なる2種の特定光を夫々検出する2つの光
検出手段と、同光検出手段によって検出された波長の異
なる2種の特定光の強度の比率をとり、その比率が所定
値より上か下かによって前記被選別物の良否を判断する
判断手段とを具備したので、内部が変質しているにもか
かわらず表面が変色していない被選別物をも選別するこ
とができる。
決定し、不良な被選別物を除去する透過光を利用した選
別装置において、 前記被選別物に対して、同被選別物よりも小さい径の光
ビームを照射する光照射装置と、前記被選別物を透過し
拡散した光を集光する集光装置と、集光された透過光の
内、波長の異なる2種の特定光を夫々検出する2つの光
検出手段と、同光検出手段によって検出された波長の異
なる2種の特定光の強度の比率をとり、その比率が所定
値より上か下かによって前記被選別物の良否を判断する
判断手段とを具備したので、内部が変質しているにもか
かわらず表面が変色していない被選別物をも選別するこ
とができる。
また本発明では、前記光検出手段によって検出された前
記特定光の強度が所定値以下に低下したことを検出して
異種の被選別物を判別をする判別手段を設けたので、石
等の光を全く透過しない異物が混在しているときでもそ
れを排除することをできる。
記特定光の強度が所定値以下に低下したことを検出して
異種の被選別物を判別をする判別手段を設けたので、石
等の光を全く透過しない異物が混在しているときでもそ
れを排除することをできる。
第1図及び第2図は各々良品と不良品の光の透過率、及
びその差を示したグラフ、第3図は本発明にかかる選別
装置の構成を示すブロック図、第4図は同選別装置の動
作を説明するためのタイミングチャート、第5図は特定
波長の光の強度を関数として選別区分を示したグラフ、
第6図(a)、(b)は各々本発明にかかる光照射装置
の他の実施例を示すブロック図、第7図は本発明に係る
集光装置の他の実施例を示すブロック図である。 1:光照射装置、7:積分球(集光装置)、9、10:
光電変換器(光検出器)、15:可変利得増幅器、1
6:加算器、19:比較器(以上15、16、19が判
断手段)。
びその差を示したグラフ、第3図は本発明にかかる選別
装置の構成を示すブロック図、第4図は同選別装置の動
作を説明するためのタイミングチャート、第5図は特定
波長の光の強度を関数として選別区分を示したグラフ、
第6図(a)、(b)は各々本発明にかかる光照射装置
の他の実施例を示すブロック図、第7図は本発明に係る
集光装置の他の実施例を示すブロック図である。 1:光照射装置、7:積分球(集光装置)、9、10:
光電変換器(光検出器)、15:可変利得増幅器、1
6:加算器、19:比較器(以上15、16、19が判
断手段)。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 平野 進 神奈川県横浜市鶴見区下末吉2―1―1 森永製菓株式会社品質検査部内 (72)発明者 佐々木 元 神奈川県横浜市鶴見区下末吉2―1―1 森永製菓株式会社プロセス研究室内 (56)参考文献 特開 昭58−8577(JP,A) 特公 昭59−2546(JP,B2)
Claims (2)
- 【請求項1】被選別物の良否を決定し、不良な被選別物
を除去する透過光を利用した選別装置において、 前記被選別物に対して、同被選別物よりも小さい径の光
ビームを照射する光照射装置と、 前記被選別物を挟んで前記光照射装置と反対側に設けら
れ、被選別物を透過し拡散した光を集光する積分球と、 前記積分球によって集光された透過光のうち、波長の異
なる2種の特定光をそれぞれ検出する2つの光検出手段
と、 同光検出手段によって検出された波長の異なる2種の特
定光の強度の比率をとり、その比率が所定値より上か下
かによって前記被選別物の良否を判断する判断手段と、 を具備してなることを特徴とする透過光を利用した選別
装置。 - 【請求項2】前記光検出手段によって検出された前記特
定光の強度が所定値以下に低下したことを検出して異種
の被選別物を判別する判別手段を有することを特徴とす
る、請求項第1項記載の選別装置。
Priority Applications (6)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP1258240A JPH0634974B2 (ja) | 1989-10-03 | 1989-10-03 | 透過光を利用した選別装置 |
GB9014816A GB2236848B (en) | 1989-10-03 | 1990-07-04 | Sorting apparatus utilizing transmitted light |
DE19904023979 DE4023979A1 (de) | 1989-10-03 | 1990-07-25 | Sortiervorrichtung unter verwendung von transmittierter strahlung |
US07/873,875 US5190163A (en) | 1989-10-03 | 1992-04-22 | Sorting apparatus utilizing transmitted light |
SG146194A SG146194G (en) | 1989-10-03 | 1994-10-10 | Sorting apparatus utilizing transmitted light |
HK127194A HK127194A (en) | 1989-10-03 | 1994-11-17 | Sorting apparatus utilizing transmitted light |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP1258240A JPH0634974B2 (ja) | 1989-10-03 | 1989-10-03 | 透過光を利用した選別装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH03118886A JPH03118886A (ja) | 1991-05-21 |
JPH0634974B2 true JPH0634974B2 (ja) | 1994-05-11 |
Family
ID=17317476
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP1258240A Expired - Lifetime JPH0634974B2 (ja) | 1989-10-03 | 1989-10-03 | 透過光を利用した選別装置 |
Country Status (4)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH0634974B2 (ja) |
DE (1) | DE4023979A1 (ja) |
GB (1) | GB2236848B (ja) |
HK (1) | HK127194A (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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GB9009132D0 (en) * | 1990-04-24 | 1990-06-20 | Gersan Ets | Method and apparatus for examining an object |
US5835200A (en) * | 1990-04-24 | 1998-11-10 | Gersan Establishment | Method and apparatus for examining an object |
JPH0796253A (ja) * | 1993-06-30 | 1995-04-11 | Satake Eng Co Ltd | 豆類色彩選別機 |
DE29511344U1 (de) * | 1995-07-13 | 1996-11-14 | Byk-Gardner GmbH, 82538 Geretsried | Vorrichtung zur Messung von optischen Kenngrößen transparenter Materialien |
JP4839441B2 (ja) * | 2006-09-08 | 2011-12-21 | 国立大学法人岩手大学 | 受粉蕾の検出方法及び装置 |
GB2466621A (en) * | 2008-12-23 | 2010-06-30 | Buhler Sortex Ltd | Sorting matter in a flow by comparing reflectance intensities at different wavelengths |
BE1018793A3 (nl) | 2009-06-17 | 2011-09-06 | Best 2 N V | Werkwijze voor het onderscheiden en sorteren van producten waarbij de concentratie van een bestanddeel van deze producten wordt bepaald. |
CN111229649B (zh) * | 2020-01-20 | 2023-09-01 | 湖北民族大学 | 一种物品分级方法及自动分级*** |
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Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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DE2538884A1 (de) * | 1975-09-02 | 1977-03-03 | Sunkist Growers Inc | Verfahren und vorrichtung zum sortieren von erzeugnissen nach inneren merkmalen |
JPS5283274A (en) * | 1975-12-30 | 1977-07-12 | Yamamura Glass Co Ltd | Inner quality analyzer |
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-
1989
- 1989-10-03 JP JP1258240A patent/JPH0634974B2/ja not_active Expired - Lifetime
-
1990
- 1990-07-04 GB GB9014816A patent/GB2236848B/en not_active Expired - Lifetime
- 1990-07-25 DE DE19904023979 patent/DE4023979A1/de not_active Ceased
-
1994
- 1994-11-17 HK HK127194A patent/HK127194A/xx not_active IP Right Cessation
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Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
GB2236848B (en) | 1994-05-11 |
HK127194A (en) | 1994-11-25 |
GB2236848A (en) | 1991-04-17 |
DE4023979A1 (de) | 1991-04-18 |
JPH03118886A (ja) | 1991-05-21 |
GB9014816D0 (en) | 1990-08-22 |
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