JPH06341960A - パタ−ンの画像処理方法およびその装置 - Google Patents
パタ−ンの画像処理方法およびその装置Info
- Publication number
- JPH06341960A JPH06341960A JP5153026A JP15302693A JPH06341960A JP H06341960 A JPH06341960 A JP H06341960A JP 5153026 A JP5153026 A JP 5153026A JP 15302693 A JP15302693 A JP 15302693A JP H06341960 A JPH06341960 A JP H06341960A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- image
- pattern
- divided
- parallel
- inspection
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Landscapes
- Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
- Image Processing (AREA)
- Image Analysis (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】 フィルムキャリア等にエッチング等の手段で
形成されたパタ−ンを自動的に検査する方法およびその
装置を提供すること。 【構成】 カメラで撮像した被測定パタ−ンの画像を多
階調のデジタル信号に変換し,この多階調のデジタル画
像信号を画素単位で画像メモリに格納し,この画像メモ
リに格納されている画像を複数に分割するとともにテレ
ビ信号に変換して並列出力し,このテレビ信号に変換さ
れた各分割画像をそれぞれ対応する複数の計測ユニット
で並列処理してその検査結果をそれぞれ送出し,この各
検査結果からホストコンピュ−タにより統合判断して,
被測定パタ−ンの良,不良を判定するようにしたもので
ある。又,この発明は,画像メモリに取り込まれた画像
を圧縮処理した後,分割して並列処理し,その各検査結
果からホストコンピュ−タで被測定パタ−ンの良品.不
良品を統合判断するようにしたものである。 【効果】 パタ−ンを自動的に検査できるとともに,検
査時間を大幅に短縮できる。
形成されたパタ−ンを自動的に検査する方法およびその
装置を提供すること。 【構成】 カメラで撮像した被測定パタ−ンの画像を多
階調のデジタル信号に変換し,この多階調のデジタル画
像信号を画素単位で画像メモリに格納し,この画像メモ
リに格納されている画像を複数に分割するとともにテレ
ビ信号に変換して並列出力し,このテレビ信号に変換さ
れた各分割画像をそれぞれ対応する複数の計測ユニット
で並列処理してその検査結果をそれぞれ送出し,この各
検査結果からホストコンピュ−タにより統合判断して,
被測定パタ−ンの良,不良を判定するようにしたもので
ある。又,この発明は,画像メモリに取り込まれた画像
を圧縮処理した後,分割して並列処理し,その各検査結
果からホストコンピュ−タで被測定パタ−ンの良品.不
良品を統合判断するようにしたものである。 【効果】 パタ−ンを自動的に検査できるとともに,検
査時間を大幅に短縮できる。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】この発明は,フィルムキャリア等
にエッチング等の手段で形成されたパタ−ンを自動的に
検査する方法に関するもので,特に,検査時間を短縮す
るようにしたものである。
にエッチング等の手段で形成されたパタ−ンを自動的に
検査する方法に関するもので,特に,検査時間を短縮す
るようにしたものである。
【0002】
【従来の技術】従来,IC,LSIの実装に用いられる
フィルムキャリアは,厚さ75〜125μm程度のポリ
イミドフィルムの上に,銅箔を接着剤で貼り付け,両面
にフォトレジストを塗布し,マスク露光,現像,エッチ
ングを行ってリ−ドのパタ−ンを形成している。
フィルムキャリアは,厚さ75〜125μm程度のポリ
イミドフィルムの上に,銅箔を接着剤で貼り付け,両面
にフォトレジストを塗布し,マスク露光,現像,エッチ
ングを行ってリ−ドのパタ−ンを形成している。
【0003】このようにしてパタ−ンを形成した後,フ
ォトレジストが除去され,リ−ドの表面にSn,Au,
半田メッキ処理を行ってフィルムキャリア工程が終了す
る。この工程終了後,顕微鏡を用いて人間により目視で
パタ−ンの検査が行われている。
ォトレジストが除去され,リ−ドの表面にSn,Au,
半田メッキ処理を行ってフィルムキャリア工程が終了す
る。この工程終了後,顕微鏡を用いて人間により目視で
パタ−ンの検査が行われている。
【0004】
【発明が解決しようとする問題点】このように,微細な
パタ−ンを目視で検査するには,熟練を要するととも
に,目を酷使する結果となる等の問題があった。一方,
目視検査に代わるものとして,パタ−ンをTVカメラで
撮像し,基準パタ−ンとして被測定パタ−ンとの一致率
をもとにして検査を行うパタ−ンマッチング手法による
ことも考えられる。しかしながら,一致率は下式で表さ
れるように,画素単位の計測であり,フィルムキャリア
のような微細なパタ−ンの検査には不向きである。一致
率={(全体の画素−一致していない画素)/(全体の
画素)}×100%
パタ−ンを目視で検査するには,熟練を要するととも
に,目を酷使する結果となる等の問題があった。一方,
目視検査に代わるものとして,パタ−ンをTVカメラで
撮像し,基準パタ−ンとして被測定パタ−ンとの一致率
をもとにして検査を行うパタ−ンマッチング手法による
ことも考えられる。しかしながら,一致率は下式で表さ
れるように,画素単位の計測であり,フィルムキャリア
のような微細なパタ−ンの検査には不向きである。一致
率={(全体の画素−一致していない画素)/(全体の
画素)}×100%
【0005】又,被測定パタ−ンの全体画像が格納され
ている画像メモリから画像を検査範囲を設定して順次画
像処理しているので,処理に時間がかかるという問題が
あった。その上,例えば,TABテ−プの場合には,イ
ンナリ−ド部,ポリイミド部,アウタリ−ド部のパタ−
ンの検査が行なわれるが,各部で検査基準が異なる。
ている画像メモリから画像を検査範囲を設定して順次画
像処理しているので,処理に時間がかかるという問題が
あった。その上,例えば,TABテ−プの場合には,イ
ンナリ−ド部,ポリイミド部,アウタリ−ド部のパタ−
ンの検査が行なわれるが,各部で検査基準が異なる。
【0006】即ち,一般に,インナリ−ド部は3μm,
ポリイミド部は3〜6μm,アウタリ−ド部は6〜12
μmの測定精度が要求されている。そこで,TABテ−
プを正確に検査するためには,検査装置の測定精度を最
高の検査基準に合わせなければならず,そのため全ての
検査を精密に行うことになるので,測定精度がそれ程高
く要求されていないものまで,一応に高い測定精度で検
査することになる。従って,検査時間が必要以上にかか
り実用的でないという問題があった。
ポリイミド部は3〜6μm,アウタリ−ド部は6〜12
μmの測定精度が要求されている。そこで,TABテ−
プを正確に検査するためには,検査装置の測定精度を最
高の検査基準に合わせなければならず,そのため全ての
検査を精密に行うことになるので,測定精度がそれ程高
く要求されていないものまで,一応に高い測定精度で検
査することになる。従って,検査時間が必要以上にかか
り実用的でないという問題があった。
【0007】
【問題点を解決するための手段】この発明は,カメラで
撮像した被測定パタ−ンの画像を多階調のデジタル信号
に変換し,この多階調のデジタル画像信号を画素単位で
画像メモリに格納し,この画像メモリに格納されている
画像を複数に分割するとともにテレビ信号に変換して並
列出力し,このテレビ信号に変換された各分割画像をそ
れぞれ対応する複数の計測ユニットで並列処理してその
検査結果をそれぞれ送出し,この各検査結果からホスト
コンピュ−タにより統合判断して,被測定パタ−ンの
良,不良を判定するようにしたものである。又,この発
明は,画像メモリに取り込まれた画像を圧縮処理した
後,分割して並列処理し,その各検査結果からホストコ
ンピュ−タで被測定パタ−ンの良品.不良品を統合判断
するようにしたものである。
撮像した被測定パタ−ンの画像を多階調のデジタル信号
に変換し,この多階調のデジタル画像信号を画素単位で
画像メモリに格納し,この画像メモリに格納されている
画像を複数に分割するとともにテレビ信号に変換して並
列出力し,このテレビ信号に変換された各分割画像をそ
れぞれ対応する複数の計測ユニットで並列処理してその
検査結果をそれぞれ送出し,この各検査結果からホスト
コンピュ−タにより統合判断して,被測定パタ−ンの
良,不良を判定するようにしたものである。又,この発
明は,画像メモリに取り込まれた画像を圧縮処理した
後,分割して並列処理し,その各検査結果からホストコ
ンピュ−タで被測定パタ−ンの良品.不良品を統合判断
するようにしたものである。
【0008】
【作用】被測定パタ−ンは2台のカメラ(ラインセンサ
カメラ)1,1aにより撮像され,その濃淡画像はA/
D変換器2によりデジタル信号に変換され,最大分解能
である画素単位で画像メモリ3に一括入力され,格納さ
れるとともに,8分割され,テレビ信号に変換されて,
それぞれ対応する8台の計測ユニット4(4a,4b・
・)に並列出力される。画像メモリ3からの各分割画像
は,それぞれ対応する計測ユニット4a,4b・・・に
入力し,並列処理される。ついで,その結果がシステム
制御部5のホストコンピュ−タへ計測結果として並列し
て送出され,ここで,統合判断され,被測定パタ−ンの
良品,不良品が判断される。
カメラ)1,1aにより撮像され,その濃淡画像はA/
D変換器2によりデジタル信号に変換され,最大分解能
である画素単位で画像メモリ3に一括入力され,格納さ
れるとともに,8分割され,テレビ信号に変換されて,
それぞれ対応する8台の計測ユニット4(4a,4b・
・)に並列出力される。画像メモリ3からの各分割画像
は,それぞれ対応する計測ユニット4a,4b・・・に
入力し,並列処理される。ついで,その結果がシステム
制御部5のホストコンピュ−タへ計測結果として並列し
て送出され,ここで,統合判断され,被測定パタ−ンの
良品,不良品が判断される。
【0009】
【発明の実施例1】この発明の第1の実施例を,図1〜
図4に基づいて,詳細に説明する。図1はこの発明の実
施例を示す基本構成図,図2はこの発明を実際にパタ−
ンの検査装置に適用した場合のシステム構成図,図3は
この発明の装置の基本動作フロ−,図4〜図6は説明図
である。
図4に基づいて,詳細に説明する。図1はこの発明の実
施例を示す基本構成図,図2はこの発明を実際にパタ−
ンの検査装置に適用した場合のシステム構成図,図3は
この発明の装置の基本動作フロ−,図4〜図6は説明図
である。
【0010】図1,図2において,1,1aはカメラ
で,2台のラインセンサカメラが用いられている。1台
のカメラによって取り込まれる画素数は,5000×1
画素であるが,画像の取り込みの関係で,中心部の40
96画素が有効であるから,カメラをX軸方向に移動し
ながらラインセンサカメラからの画像を取り込むことに
よりX軸方向は8192画素が検出できる。
で,2台のラインセンサカメラが用いられている。1台
のカメラによって取り込まれる画素数は,5000×1
画素であるが,画像の取り込みの関係で,中心部の40
96画素が有効であるから,カメラをX軸方向に移動し
ながらラインセンサカメラからの画像を取り込むことに
よりX軸方向は8192画素が検出できる。
【0011】又,これらのカメラ1,1aでは一括して
画像を取り込んだ後,全体画像の位置合わせをする場
合,ラインセンサカメラの場合は,分割位置を自由に変
更できるとともに,その位置合わせを画像全体に画像処
理で精度良く行うことが出来ることから,この実施例で
は,ラインセンサカメラが使用されている。なお,エリ
アセンサカメラでも良いが,このエリアセンサカメラを
採用した場合には,X−Y軸の2軸方向を制御する必要
があり,その取り込まれる画素数は512×480画素
である。その上,画像を取り込んだ時点で分割位置が決
定される。
画像を取り込んだ後,全体画像の位置合わせをする場
合,ラインセンサカメラの場合は,分割位置を自由に変
更できるとともに,その位置合わせを画像全体に画像処
理で精度良く行うことが出来ることから,この実施例で
は,ラインセンサカメラが使用されている。なお,エリ
アセンサカメラでも良いが,このエリアセンサカメラを
採用した場合には,X−Y軸の2軸方向を制御する必要
があり,その取り込まれる画素数は512×480画素
である。その上,画像を取り込んだ時点で分割位置が決
定される。
【0012】2,2aはA/D変換器で,カメラ1,1
aで撮像された画像を多階調のデジタル信号に変換して
いる。3,3aは画像メモリで,最大分解能である画素
単位で画像が入力され,格納される。さらに,この画像
は複数に分割されるとともに,テレビ信号に変換されて
並列出力される。この実施例では,4096×8192
×8ビットの容量の大きいメモリが用いられている。な
お,被測定パタ−ンとして,35mmのTABテ−プを
検査する場合には,入力画像の最大分割数は,図4に示
すように,2台のカメラ1,1aが使用されているか
ら,1台につき4分割され,全体で8×16=128分
割となり,1分割は512×480画素となっている。
aで撮像された画像を多階調のデジタル信号に変換して
いる。3,3aは画像メモリで,最大分解能である画素
単位で画像が入力され,格納される。さらに,この画像
は複数に分割されるとともに,テレビ信号に変換されて
並列出力される。この実施例では,4096×8192
×8ビットの容量の大きいメモリが用いられている。な
お,被測定パタ−ンとして,35mmのTABテ−プを
検査する場合には,入力画像の最大分割数は,図4に示
すように,2台のカメラ1,1aが使用されているか
ら,1台につき4分割され,全体で8×16=128分
割となり,1分割は512×480画素となっている。
【0013】4(4a,4b・・・4h)は計測ユニッ
トで,画像メモリ3,3aから読み出される分割画像数
と等しい個数用いられており,画像メモリ3,3aから
読み出された合計8個の分割画像は,それぞれこの分割
画像に対応する計測ユニット4a〜4hで同時に並列処
理して検査し,その結果をシステム全体を制御している
ホストコンピュ−タであるシステム制御部5へ送出して
いる。システム制御部5では,ホストコンピュ−タによ
り各計測ユニット4からの検査結果に基づいて統合判断
するとともに,システム全体の制御及び演算が行われ
る。
トで,画像メモリ3,3aから読み出される分割画像数
と等しい個数用いられており,画像メモリ3,3aから
読み出された合計8個の分割画像は,それぞれこの分割
画像に対応する計測ユニット4a〜4hで同時に並列処
理して検査し,その結果をシステム全体を制御している
ホストコンピュ−タであるシステム制御部5へ送出して
いる。システム制御部5では,ホストコンピュ−タによ
り各計測ユニット4からの検査結果に基づいて統合判断
するとともに,システム全体の制御及び演算が行われ
る。
【0014】次に,この発明を具体的にパタ−ン検査装
置に適用した場合について,図2に示すシステム構成図
および図3に示す基本動作フロ−に基づいて説明する。
なお,この実施例では,被測定パタ−ンとして35mm
のTABテ−プのパタ−ンを例にとり,そのパタ−ンを
検査する場合について説明する。
置に適用した場合について,図2に示すシステム構成図
および図3に示す基本動作フロ−に基づいて説明する。
なお,この実施例では,被測定パタ−ンとして35mm
のTABテ−プのパタ−ンを例にとり,そのパタ−ンを
検査する場合について説明する。
【0015】図3において,このパタ−ン検査装置の処
理フロ−は,リ−ルに巻かれている35mmのTABテ
−プ(図示せず)のフィルムを送り出す巻出し部11,
定寸送り・位置決め部12,良品不良品を判定処理する
検出部13,判定処理が終了したテ−プを次に切断工程
に送る定寸送り・位置決め部14,不良品のテ−プを切
断する打ち抜き部15,再度リ−ルにテ−プを巻取るた
めの巻取り部16との手順で成されている。
理フロ−は,リ−ルに巻かれている35mmのTABテ
−プ(図示せず)のフィルムを送り出す巻出し部11,
定寸送り・位置決め部12,良品不良品を判定処理する
検出部13,判定処理が終了したテ−プを次に切断工程
に送る定寸送り・位置決め部14,不良品のテ−プを切
断する打ち抜き部15,再度リ−ルにテ−プを巻取るた
めの巻取り部16との手順で成されている。
【0016】図2は,システム構成図を示すもので,シ
ステム制御部5はこのシステム全体を演算制御する役目
をにない,ホストコンピュ−タにより行われている。メ
ニュ−や結果を表示するカラ−CRT18,品種の設
定,登録,操作メニュ−の選択を行うキ−ボ−ド19,
シ−ケンサ部20,プリンタ21,画像メモリ3,3a
計測ユニット4(4a〜4h),信号セレクタ22等が
制御されている。
ステム制御部5はこのシステム全体を演算制御する役目
をにない,ホストコンピュ−タにより行われている。メ
ニュ−や結果を表示するカラ−CRT18,品種の設
定,登録,操作メニュ−の選択を行うキ−ボ−ド19,
シ−ケンサ部20,プリンタ21,画像メモリ3,3a
計測ユニット4(4a〜4h),信号セレクタ22等が
制御されている。
【0017】シ−ケンサ部20は,システム制御部5の
制御のもとに,操作スイッチ・表示ランプ23,テ−プ
ランナ部24,テ−プパンチャ部25,X−Yテ−ブル
26等を制御している。27はフロッピ−ディスクであ
る。
制御のもとに,操作スイッチ・表示ランプ23,テ−プ
ランナ部24,テ−プパンチャ部25,X−Yテ−ブル
26等を制御している。27はフロッピ−ディスクであ
る。
【0018】ドライバ28によりX方向のモ−タ29,
シ−ケンサ部20を介してテ−ブルコントロ−ラ(3
軸)30とY−S−Pドライバ31とによりY方向のモ
−タ32およびスパン軸用モ−タ33が制御されて,X
−Yテ−ブル26は,それぞれX方向,Y方向およびス
パン軸方向に駆動制御される。
シ−ケンサ部20を介してテ−ブルコントロ−ラ(3
軸)30とY−S−Pドライバ31とによりY方向のモ
−タ32およびスパン軸用モ−タ33が制御されて,X
−Yテ−ブル26は,それぞれX方向,Y方向およびス
パン軸方向に駆動制御される。
【0019】従って,TABテ−プは,X−Yテ−ブル
26上に位置しているカメラ1,1aで撮像され,その
画像はそれぞれA/D変換器2,2aによりデジタル変
換され,それぞれ画像メモリ3,3aに画素単位で格納
され,4個づつ合計8個に画像分割されるとともに,テ
レビ信号に変換されて並列出力される。
26上に位置しているカメラ1,1aで撮像され,その
画像はそれぞれA/D変換器2,2aによりデジタル変
換され,それぞれ画像メモリ3,3aに画素単位で格納
され,4個づつ合計8個に画像分割されるとともに,テ
レビ信号に変換されて並列出力される。
【0020】検出部17は,カメラ1,1aとこの移動
機構部分,X−Yテ−ブル26,8台の計測ユニット4
(4a,4b・・・4h),A/D変換器2,2a,画
像メモリ3,3aにより構成されている。
機構部分,X−Yテ−ブル26,8台の計測ユニット4
(4a,4b・・・4h),A/D変換器2,2a,画
像メモリ3,3aにより構成されている。
【0021】次に,作用動作について,図3により説明
する。リ−ルに巻き取られているTABテ−プは,シ−
ケンサ部20の制御のもとに,テ−プランナ部24によ
りX−Yテ−ブル26の上方に位置しているカメラ1,
1aの所定位置に送り出され位置決めされる。X−Yテ
−ブル26はYおよびX軸方向の駆動モ−タ32,29
および3軸方向を制御するテ−ブルコントロ−ラ30と
により,それぞれ位置決めされる。
する。リ−ルに巻き取られているTABテ−プは,シ−
ケンサ部20の制御のもとに,テ−プランナ部24によ
りX−Yテ−ブル26の上方に位置しているカメラ1,
1aの所定位置に送り出され位置決めされる。X−Yテ
−ブル26はYおよびX軸方向の駆動モ−タ32,29
および3軸方向を制御するテ−ブルコントロ−ラ30と
により,それぞれ位置決めされる。
【0022】所定位置に位置決めされた1コマのTAB
テ−プのパタ−ンは,2台のカメラ(ラインセンサカメ
ラ)1,1aにより撮像され,その濃淡画像はA/D変
換器2,2aにより多階調のデジタル信号に変換され,
最大分解能の画素単位で画像メモリ3,3aに一括入力
される。
テ−プのパタ−ンは,2台のカメラ(ラインセンサカメ
ラ)1,1aにより撮像され,その濃淡画像はA/D変
換器2,2aにより多階調のデジタル信号に変換され,
最大分解能の画素単位で画像メモリ3,3aに一括入力
される。
【0023】ここで,この実施例では,カメラ1,1a
としてラインセンサカメラが2台用いられており,TA
Bテ−プの画像2コマ分を一括で取り込んでいる。そし
て,このラインセンサカメラ1,1aにより取り込まれ
た多階調のデジタル画像信号は,画像メモリ3,3aに
おいてそれぞれ4分割され,合計で8分割されるととも
に,テレビ信号に変換されて並列出力される。従って,
この実施例では,カメラ1,1aとして,ラインセンサ
カメラが用いられているので,エリアセンサカメラのよ
うに,分割部のつなぎ合わせ部のずれが生じることはな
い。
としてラインセンサカメラが2台用いられており,TA
Bテ−プの画像2コマ分を一括で取り込んでいる。そし
て,このラインセンサカメラ1,1aにより取り込まれ
た多階調のデジタル画像信号は,画像メモリ3,3aに
おいてそれぞれ4分割され,合計で8分割されるととも
に,テレビ信号に変換されて並列出力される。従って,
この実施例では,カメラ1,1aとして,ラインセンサ
カメラが用いられているので,エリアセンサカメラのよ
うに,分割部のつなぎ合わせ部のずれが生じることはな
い。
【0024】一方,エリアセンサカメラを用いた場合に
は,X−Y軸方向に移動しながら画像を取り込まなけれ
ばならないので,取り込み時間がかかるとともに,X−
Y軸方向の移動軸の制御を含めたシステム全体の構成が
非常に複雑になるとともに,移動軸の耐久性も問題とな
る。
は,X−Y軸方向に移動しながら画像を取り込まなけれ
ばならないので,取り込み時間がかかるとともに,X−
Y軸方向の移動軸の制御を含めたシステム全体の構成が
非常に複雑になるとともに,移動軸の耐久性も問題とな
る。
【0025】ここで,画像メモリ3(3a)に一括入力
された画像を分割して並列処理するための検査時間をさ
らに短縮するために,この実施例では,2台のカメラを
用いて1コマのTABテ−プを同時に検査している。従
って,カメラ2台で取り込まれた画像は,4096×8
192×8ビットの画像メモリ3,3aにそれぞれ格納
され,分割処理するために,それぞれ対応する8台の計
測ユニット4(4a,4b・・)に8ビットの多階調の
デジタル画像信号(512×480画素の分割画像)と
して並列送出される。従って,アナログ画像信号の転送
のように画像が劣化することはない。
された画像を分割して並列処理するための検査時間をさ
らに短縮するために,この実施例では,2台のカメラを
用いて1コマのTABテ−プを同時に検査している。従
って,カメラ2台で取り込まれた画像は,4096×8
192×8ビットの画像メモリ3,3aにそれぞれ格納
され,分割処理するために,それぞれ対応する8台の計
測ユニット4(4a,4b・・)に8ビットの多階調の
デジタル画像信号(512×480画素の分割画像)と
して並列送出される。従って,アナログ画像信号の転送
のように画像が劣化することはない。
【0026】計測ユニット4(4a,4b・・・)で
は,画像メモリ3,3aにおいて分割される画像に関す
る取り込み条件がシステム制御部5により設定されてい
る。従って,この設定条件に従って,各計測ユニット4
(4a,4b・・・)では,画像メモリ3,3aからそ
れぞれ送出された4分割画像,即ち,合計8分割画像が
それぞれ対応する計測ユニット4a,4b・・・4hに
それぞれ入力し,並列処理されることになる。
は,画像メモリ3,3aにおいて分割される画像に関す
る取り込み条件がシステム制御部5により設定されてい
る。従って,この設定条件に従って,各計測ユニット4
(4a,4b・・・)では,画像メモリ3,3aからそ
れぞれ送出された4分割画像,即ち,合計8分割画像が
それぞれ対応する計測ユニット4a,4b・・・4hに
それぞれ入力し,並列処理されることになる。
【0027】即ち,各分割画像は,それぞれ計測ユニッ
ト4a,4b・・・において濃淡エッジ処理されてパタ
−ン幅,ピッチ等が計測され,他の画像メモリに登録さ
れている基準となるマスタパタ−ンのそれぞれ対応する
画像と比較され,その結果がシステム制御部5のホスト
コンピュ−タへ計測結果として並列して送出され,ここ
で,統合判断され,被測定パタ−ンの良品,不良品が判
定される。
ト4a,4b・・・において濃淡エッジ処理されてパタ
−ン幅,ピッチ等が計測され,他の画像メモリに登録さ
れている基準となるマスタパタ−ンのそれぞれ対応する
画像と比較され,その結果がシステム制御部5のホスト
コンピュ−タへ計測結果として並列して送出され,ここ
で,統合判断され,被測定パタ−ンの良品,不良品が判
定される。
【0028】このようにして,マスタパタ−ンとTAB
パタ−ン(被測定パタ−ン)とが8台の計測ユニット4
(4a,4b・・・)において,並列的に比較,計測さ
れ,その結果が,システム制御部5のホストコンピュ−
タへ入力すると,ホストコンピュ−タでは,各計測ユニ
ット4a,4b・・・からの検査結果を統合して,TA
Bテ−プの1コマの検査結果として良品,不良品が判定
される。
パタ−ン(被測定パタ−ン)とが8台の計測ユニット4
(4a,4b・・・)において,並列的に比較,計測さ
れ,その結果が,システム制御部5のホストコンピュ−
タへ入力すると,ホストコンピュ−タでは,各計測ユニ
ット4a,4b・・・からの検査結果を統合して,TA
Bテ−プの1コマの検査結果として良品,不良品が判定
される。
【0029】このように,1コマの画像が同時に数分割
され並列処理されて,各コマ毎に良品,不良品の判定処
理がなされたTABテ−プは,順次各コマ毎にテ−プパ
ンチャ部25に送り込まれ,不良品が打ち抜かれた後,
巻取り部16において,再度リ−ルに巻き取られ,検査
が終了する。
され並列処理されて,各コマ毎に良品,不良品の判定処
理がなされたTABテ−プは,順次各コマ毎にテ−プパ
ンチャ部25に送り込まれ,不良品が打ち抜かれた後,
巻取り部16において,再度リ−ルに巻き取られ,検査
が終了する。
【0030】
【発明の実施例2】この発明の第2の実施例を,図5〜
図6に基づいて説明する。図5は画像メモリを示すもの
で,2台のカメラ1,1aで一括で最大分解能で入力画
像を画像メモリ3に取り込んだ後,この画像を処理する
際に圧縮処理しつつ分割して並列処理することにより,
画像の分解能を変えて,処理時間を短縮するようにした
場合を示す。
図6に基づいて説明する。図5は画像メモリを示すもの
で,2台のカメラ1,1aで一括で最大分解能で入力画
像を画像メモリ3に取り込んだ後,この画像を処理する
際に圧縮処理しつつ分割して並列処理することにより,
画像の分解能を変えて,処理時間を短縮するようにした
場合を示す。
【0031】TABテ−プでは,インナリ−ド部,アウ
タリ−ド部,ポリイミド部のパタ−ンの検査を行うが,
各部ではそれぞれパタ−ンのリ−ド幅が異なり,それぞ
れ検査基準が設定されている。一般に,アウタリ−ド部
の検査基準はインナリ−ド部の検査基準に比べて緩くな
っている。具体的には,その検査基準は,インナリ−ド
部3μm,ポリイミド部3〜6μm,アウタリ−ド部6
〜12μm程度の分解能である。
タリ−ド部,ポリイミド部のパタ−ンの検査を行うが,
各部ではそれぞれパタ−ンのリ−ド幅が異なり,それぞ
れ検査基準が設定されている。一般に,アウタリ−ド部
の検査基準はインナリ−ド部の検査基準に比べて緩くな
っている。具体的には,その検査基準は,インナリ−ド
部3μm,ポリイミド部3〜6μm,アウタリ−ド部6
〜12μm程度の分解能である。
【0032】そこで,例えば,図6に示すように,検査
範囲が27.6mm×24.9mmの範囲をデジタル分
解能9μmで画像を取り込んだ場合,画像メモリ3(3
a)には,36分割で画像入力されることになる。この
場合,計測ユニット4(4a,4b・・・)で並列処理
される計測精度は,±9μmとなる。この状態で,単純
に分解能を±4.5μmに上げると分割数は,12×1
2=144分割となり,±9μmの分解能時と比べて4
倍の分解能となり,処理時間を考えた場合,あまりにも
処理時間がかかり実用的でない。そこで,このような場
合,必要に応じて測定精度,即ち,分解能を変えて検査
される。
範囲が27.6mm×24.9mmの範囲をデジタル分
解能9μmで画像を取り込んだ場合,画像メモリ3(3
a)には,36分割で画像入力されることになる。この
場合,計測ユニット4(4a,4b・・・)で並列処理
される計測精度は,±9μmとなる。この状態で,単純
に分解能を±4.5μmに上げると分割数は,12×1
2=144分割となり,±9μmの分解能時と比べて4
倍の分解能となり,処理時間を考えた場合,あまりにも
処理時間がかかり実用的でない。そこで,このような場
合,必要に応じて測定精度,即ち,分解能を変えて検査
される。
【0033】その一つの手段として,アウタリ−ド部を
検査する場合には,画像メモリ3,3aの画像を分割す
る際,図5に示すように,4分割画像を1/2×1/2
に圧縮して1分割画像とした後,この圧縮画像を計測ユ
ニット4に送出し,並列処理するようにすれば,検査時
間を大幅に短縮することが出来る。即ち,圧縮処理しな
い場合に比べて検査時間を1/4に短縮することが出来
る。
検査する場合には,画像メモリ3,3aの画像を分割す
る際,図5に示すように,4分割画像を1/2×1/2
に圧縮して1分割画像とした後,この圧縮画像を計測ユ
ニット4に送出し,並列処理するようにすれば,検査時
間を大幅に短縮することが出来る。即ち,圧縮処理しな
い場合に比べて検査時間を1/4に短縮することが出来
る。
【0034】
【発明の効果】この発明は,カメラで撮像した被測定パ
タ−ンの画像を多階調のデジタル画像信号に変換し,こ
の多階調のデジタル画像信号を画素単位で画像メモリに
格納し,この画像メモリに格納されている画像を複数に
分割するとともに,テレビ信号に変換して並列出力し,
このテレビ信号に変換された各分割画像をそれぞれ対応
する複数の計測ユニットで並列処理してその検査結果を
それぞれ送出し,この各検査結果からホストコンピュ−
タにより統合判断して,被測定パタ−ンの良,不良を判
定するようにしたので,被測定パタ−ンを自動的に検査
できるとともに,その検査時間を大幅に短縮することが
出来る。その上,被測定パタ−ンを最大分解能で画像入
力し,検査時間を短縮することが出来る。
タ−ンの画像を多階調のデジタル画像信号に変換し,こ
の多階調のデジタル画像信号を画素単位で画像メモリに
格納し,この画像メモリに格納されている画像を複数に
分割するとともに,テレビ信号に変換して並列出力し,
このテレビ信号に変換された各分割画像をそれぞれ対応
する複数の計測ユニットで並列処理してその検査結果を
それぞれ送出し,この各検査結果からホストコンピュ−
タにより統合判断して,被測定パタ−ンの良,不良を判
定するようにしたので,被測定パタ−ンを自動的に検査
できるとともに,その検査時間を大幅に短縮することが
出来る。その上,被測定パタ−ンを最大分解能で画像入
力し,検査時間を短縮することが出来る。
【0033】又,カメラとしてラインセンサカメラを用
いたものは,エリアセンサカメラのように,分割して画
像を取り込むのとは異なり,一括で画像を取り込むこと
が出来るので,分割部のつなぎ合わせ部にずれが生じる
こともないため,処理が容易である。その上,ラインセ
ンサカメラの移動軸は1軸であるため,耐久性に優れて
いるとともに,制御系統も簡単となり,画像の取り込み
制御を含めたシステム全体の構成が簡単となり,それだ
け故障の発生率が少なく,耐久性に優れている。又,画
像を圧縮処理した後,並列処理するようにした場合に
は,処理時における画像の分解能を変えることが出来る
ので,さらに検査時間を大幅に短縮することが出来る。
いたものは,エリアセンサカメラのように,分割して画
像を取り込むのとは異なり,一括で画像を取り込むこと
が出来るので,分割部のつなぎ合わせ部にずれが生じる
こともないため,処理が容易である。その上,ラインセ
ンサカメラの移動軸は1軸であるため,耐久性に優れて
いるとともに,制御系統も簡単となり,画像の取り込み
制御を含めたシステム全体の構成が簡単となり,それだ
け故障の発生率が少なく,耐久性に優れている。又,画
像を圧縮処理した後,並列処理するようにした場合に
は,処理時における画像の分解能を変えることが出来る
ので,さらに検査時間を大幅に短縮することが出来る。
【図1】この発明の実施例を示す基本構成図である。
【図2】この発明の実施例を示すシステム構成図であ
る。
る。
【図3】この発明の実施例を示す処理フロ−である。
【図4】この発明の実施例を示す説明図である。
【図5】この発明の実施例を示す説明図である。
【図6】この発明の実施例を示す説明図である。
1 カメラ 2,2a A/D変換器 3,3a 画像メモリ 4(4a〜4h) 計測ユニット 5 システム制御部
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 竹井俊哉 東京都港区西新橋一丁目15番1号 日本ア ビオニクス株式会社内 (72)発明者 松野修三 東京都港区西新橋一丁目15番1号 日本ア ビオニクス株式会社内 (72)発明者 山納徹夫 神奈川県横浜市瀬谷区本郷二丁目28番2号 アビオシステムテクノロジ−株式会社内 (72)発明者 岡村秀雄 神奈川県横浜市瀬谷区本郷二丁目28番2号 アビオシステムテクノロジ−株式会社内
Claims (4)
- 【請求項1】 カメラで撮像した被測定パタ−ンの画像
を多階調のデジタル信号に変換し,この多階調のデジタ
ル画像信号を画素単位で画像メモリに格納し,この画像
メモリに格納されている画像を複数に分割するととも
に,テレビ信号に変換して並列出力し,このテレビ信号
に変換された各分割画像をそれぞれ対応する複数の計測
ユニットで並列処理してその検査結果をそれぞれ送出
し,この各検査結果からホストコンピュ−タにより統合
判断して,前記被測定パタ−ンの良,不良を判定するこ
とを特徴とするパタ−ンの画像処理方法。 - 【請求項2】 前記画像メモリに取り込まれた画像を圧
縮処理した後,複数に分割して並列処理することを特徴
とする請求項1に記載のパタ−ンの画像処理方法。 - 【請求項3】 被測定パタ−ンを撮像するカメラと,撮
像された前記被測定パタ−ンの画像信号を多階調のデジ
タル信号に変換するA/D変換器と,前記多階調のデジ
タル画像信号を画素単位で格納し,この画像を複数に分
割するとともに,テレビ信号に変換して並列出力する画
像メモリと,この分割画像と基準となるマスタパタ−ン
との比較検査を行うとともに,前記分割画像の数にそれ
ぞれ対応する数の複数の計測ユニットと,前記画像メモ
リの画像を複数に分割して並列出力制御するとともに,
前記各計測ユニットからの出力を統合し,演算制御して
前記被測定パタ−ンの良,不良を判定するホストコンピ
ュ−タを有するシステム制御部とを備え,前記画像メモ
リからの複数の分割画像を,この分割画像にそれぞれ対
応する複数の前記計測ユニットにより並列処理すること
を特徴とするパタ−ンの画像処理装置。 - 【請求項4】 前記カメラはラインセンサカメラを用い
たことを特徴とする請求項3に記載のパタ−ンの画像処
理装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP5153026A JPH06341960A (ja) | 1993-05-31 | 1993-05-31 | パタ−ンの画像処理方法およびその装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP5153026A JPH06341960A (ja) | 1993-05-31 | 1993-05-31 | パタ−ンの画像処理方法およびその装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH06341960A true JPH06341960A (ja) | 1994-12-13 |
Family
ID=15553346
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP5153026A Pending JPH06341960A (ja) | 1993-05-31 | 1993-05-31 | パタ−ンの画像処理方法およびその装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH06341960A (ja) |
Cited By (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2001038860A1 (fr) * | 1999-11-25 | 2001-05-31 | Olympus Optical Co., Ltd. | Systeme de traitement de donnees d'inspection d'anomalie |
JP2001194322A (ja) * | 2000-01-14 | 2001-07-19 | Sharp Corp | 外観検査装置及び検査方法 |
WO2002003329A1 (fr) * | 2000-07-04 | 2002-01-10 | Nippon Sheet Glass Co., Ltd. | Systeme de traitement d'images |
KR100456903B1 (ko) * | 2001-06-22 | 2004-11-10 | 아주하이텍(주) | 연속된 패턴을 초고속으로 검사하기 위한 영상처리방법 |
US6973209B2 (en) | 1999-11-29 | 2005-12-06 | Olympus Optical Co., Ltd. | Defect inspection system |
JP2011122991A (ja) * | 2009-12-14 | 2011-06-23 | Hitachi High-Technologies Corp | 検査システム、及び検査装置 |
JP2018066628A (ja) * | 2016-10-19 | 2018-04-26 | ソリッドビジョン株式会社 | 画像処理システム及び画像処理方法 |
JP2018072204A (ja) * | 2016-10-31 | 2018-05-10 | ソリッドビジョン株式会社 | 画像処理システム及び画像処理方法 |
-
1993
- 1993-05-31 JP JP5153026A patent/JPH06341960A/ja active Pending
Cited By (10)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2001038860A1 (fr) * | 1999-11-25 | 2001-05-31 | Olympus Optical Co., Ltd. | Systeme de traitement de donnees d'inspection d'anomalie |
US6629051B2 (en) | 1999-11-25 | 2003-09-30 | Olympus Optical Co., Ltd. | Defect inspection data processing system |
CN100419410C (zh) * | 1999-11-25 | 2008-09-17 | 奥林巴斯光学工业株式会社 | 缺陷检查数据处理*** |
US6973209B2 (en) | 1999-11-29 | 2005-12-06 | Olympus Optical Co., Ltd. | Defect inspection system |
JP2001194322A (ja) * | 2000-01-14 | 2001-07-19 | Sharp Corp | 外観検査装置及び検査方法 |
WO2002003329A1 (fr) * | 2000-07-04 | 2002-01-10 | Nippon Sheet Glass Co., Ltd. | Systeme de traitement d'images |
KR100456903B1 (ko) * | 2001-06-22 | 2004-11-10 | 아주하이텍(주) | 연속된 패턴을 초고속으로 검사하기 위한 영상처리방법 |
JP2011122991A (ja) * | 2009-12-14 | 2011-06-23 | Hitachi High-Technologies Corp | 検査システム、及び検査装置 |
JP2018066628A (ja) * | 2016-10-19 | 2018-04-26 | ソリッドビジョン株式会社 | 画像処理システム及び画像処理方法 |
JP2018072204A (ja) * | 2016-10-31 | 2018-05-10 | ソリッドビジョン株式会社 | 画像処理システム及び画像処理方法 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US4894790A (en) | Input method for reference printed circuit board assembly data to an image processing printed circuit board assembly automatic inspection apparatus | |
US5039868A (en) | Method of and apparatus for inspecting printed circuit boards and the like | |
US7275005B2 (en) | Worked product appearance inspection method and system therefore | |
US5550583A (en) | Inspection apparatus and method | |
JPH06341960A (ja) | パタ−ンの画像処理方法およびその装置 | |
JP3435578B2 (ja) | パタ−ンの検査方法 | |
JPH0868613A (ja) | 画像処理による部品の検査方法およびその装置 | |
EP0370527A1 (en) | Method of and apparatus for inspecting substrate | |
WO1996011377A1 (fr) | Illuminateur pour inspecter l'aspect d'un dispositif et appareil automatique d'inspection de l'aspect d'un dispositif a l'aide dudit dispositif d'illumination | |
JP3264020B2 (ja) | 検査用データ作成方法および実装部品検査装置 | |
JPH02216408A (ja) | 基板検査装置 | |
JPH0899401A (ja) | スクリーン印刷装置 | |
JP3210428B2 (ja) | 表面検査装置 | |
JPH07140091A (ja) | パタ−ンの検査方法 | |
JPS62182810A (ja) | 自動検査装置における基準基板デ−タの教示方法 | |
JP3126159B2 (ja) | 連続検査装置 | |
JPH07103730A (ja) | リードフレーム検査装置 | |
JP2767969B2 (ja) | メータ指針の引掛り検査装置 | |
JPS62180251A (ja) | 基板自動検査装置におけるティーチング方法および装置 | |
JPS63246642A (ja) | フレキシブル配線板の回路欠陥検査方法 | |
JP2003004661A (ja) | 塗布状態検査方法 | |
JPH0968415A (ja) | プリント基板へのはんだ付方法並びにその検査方法及びその装置 | |
JPH05314259A (ja) | 物体検査方法 | |
KR20210033898A (ko) | 다이 본딩 장치 및 반도체 장치의 제조 방법 | |
JPH03154173A (ja) | 不良品判定画像処理装置 |