JPH0628808A - 情報記録媒体の評価方法 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【目的】 信頼性の高いサンプリング測定を用いた情報
記録媒体の評価方法を提供する。 【構成】 以下の手順によりディスクの評価を行う。
基準となるディスクの全記録領域の欠陥測定を行い、得
られた初期データから各ゾーン毎にＵＣＬを求める。
制限条件を選択し、各ゾーン毎に最適単位サンプル数
(Ｎ)を求める。被評価ディスクの一つの(最初の)ゾー
ンをそのゾーンにおけるＮ毎にサンプリング測定し、欠
陥レートを求める。上記欠陥レートの方が上記ゾーン
におけるＵＣＬの値より小さければへ進み、大きけれ
ばへ進む。全ゾーンを測定した場合には、このディ
スクを合格と判定し評価を終了する。それ以外はに戻
り、次のゾーンを測定する。一つのゾーン測定中にこ
の工程に入った回数が１回目ならへ進む。２回目なら
このディスクを不合格と判定し、評価を終了する。単
位サンプル数をより小さな値に変更してに戻り、同じ
ゾーンを再測定する。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】本発明は情報記録媒体、特に円盤
状情報記録媒体の記録膜上に存在する欠陥をサンプリン
グ測定し、その結果から前記情報記録媒体の合否判定を
行う情報記録媒体の評価方法に関する。

【０００２】

【従来の技術】まず、本明細書において用いる以下の語
句について説明する。 欠陥：情報記録媒体の記録膜上には、ピンホール、キ
ズ、凹凸、或は材料組成の異常など正常でない部分が存
在することがある。これらは、通常『欠陥』と呼ばれて
いる。また、情報記録媒体に対するデータの書き込みお
よび読み出しを行った場合、読み出したデータが元のデ
ータと異なっていることがある。これらのデータの誤り
は、通常『エラー』と呼ばれており、そのほとんどは欠
陥に起因している。また、本発明は、欠陥レート測定を
用いても、エラーレート測定を用いても実施可能であ
る。従って、本明細書においては、エラーも便宜上欠陥
に含めるものとする。即ち、『広義の欠陥』に『狭義の
欠陥』と『エラー』を含め、特に断わらない限り『広義
の欠陥』を単に『欠陥』と呼ぶものとする。

【０００３】単位サンプル数：一般にサンプリング測
定を行う場合には、複数のサンプルから成る一つの集合
から１個のサンプルを抽出して測定するが、本明細書に
おいては、前記集合を構成するサンプルの個数を『単位
サンプル数』と呼ぶ。また、記号Ｎで表すものとする。

【０００４】ゾーン：通常、情報記録媒体には、多数
の同心円状或はスパイラル状のトラックが形成されてい
るが、これらのトラックを一定の本数毎に区切ることに
よって形成されたリング状の領域を『ゾーン』と呼ぶ。

【０００５】情報記録媒体の出荷検査として、欠陥レー
ト測定を用いた評価がよく行われている。ところが、情
報記録媒体の記憶容量は年々増加し続け、現在の情報記
録媒体は以前に比較するとかなり大容量化している。さ
らに、生産数量も大幅に増加している。このため、現在
では出荷検査において欠陥レート測定を用いた評価に要
する時間が非常に長くなり、評価時間をもっと短縮する
必要が生じてきた。

【０００６】このような事情により、最近では欠陥レー
ト測定を用いた評価を行う場合、記録領域全体を測定せ
ずに、一定の割合でトラックを間引いて測定するサンプ
リング測定の導入が検討されている。ところが、従来の
サンプリング測定を用いた情報記録媒体の評価方法は、
単に一定本数のトラックをとばしながら（一定の単位サ
ンプル数毎にサンプリングしながら）測定し、得られた
結果を予め設定した一定の合格レベルと比較することに
より情報記録媒体或は情報記録媒体上に形成された各ゾ
ーンの合否判定を行うという比較的単純なものがほとん
どであった。

【０００７】

【発明が解決しようとする課題】従来のサンプリング測
定を用いた情報記録媒体の評価方法は、評価時間をある
程度短縮することは可能であったが、前述したように比
較的単純であったため、以下のような問題点を持ってい
る。

【０００８】即ち、情報記録媒体上の欠陥の分布には偏
りがあるが、従来の方法ではこれらの分布状態を正確に
把握することは極めて困難であった。このため、得られ
た評価結果は信頼性に欠けていた。また、たとえこれら
の分布状態をある程度把握することができたとしても、
合否判定の方法が適切でなかったため、やはり評価結果
は信頼性に欠けるものであった。また、このままの状態
で無理に信頼性を確保しようとすると、測定するサンプ
ル数を増やさざるを得ず、評価時間を短縮できるという
利点がほとんどなくなってしまうという問題があった。

【０００９】本発明の目的は、従来のサンプリング測定
を用いた情報記録媒体の評価方法が持っていた上記の問
題を解決し、信頼性の高いサンプリング測定を用いた情
報記録媒体の評価方法を提供することにある。

【００１０】

【課題を解決するための手段】本発明による情報記録媒
体の評価方法は、上記の目的を達成するため、情報記録
媒体の記録膜上に存在する欠陥をサンプリング測定し、
その結果から前記情報記録媒体の合否判定を行う情報記
録媒体の評価方法において、以下のステップにより情報
記録媒体の評価を行うことを特徴としている。 （１）基準となる情報記録媒体の欠陥レート測定 （２）基準となる情報記録媒体の各ゾーン毎の上方管理
限界の算出 （３）制限条件の選択 （４）基準となる情報記録媒体の各ゾーン毎の最適単位
サンプル数の算出 （５）被評価情報記録媒体の各ゾーン毎のサンプリング
測定 （６）被評価情報記録媒体の各ゾーン毎の欠陥レートの
算出 （７）被評価情報記録媒体の各ゾーン毎の欠陥レートと
そのゾーンにおける上方管理限界の値との比較および判
定 （８）被評価情報記録媒体の全てのゾーンを測定したか
どうかの確認および判定

【００１１】また、前記比較を行った結果、前記欠陥レ
ートの方が前記上方管理限界の値より大きい場合に、前
記ゾーンにおける最適単位サンプル数を変更して、前記
ゾーンの再測定を行うようにしても構わない。

【００１２】また、前記上方管理限界は、ポアソン分布
の法則を用いて算出することが望ましい。

【００１３】また、前記サンプリング測定は、情報記録
媒体の外周側から行うことが望ましい。

【００１４】また、複数の情報記録媒体を評価する場
合、ｍ枚目の情報記録媒体の各ゾーンにおいて、以下の
式で表されるＸ番目のトラックから測定を開始するよう
にしても構わない。

【００１５】Ｘ＝ａ＋ｂ(ｍ−１)〔ただし、Ｘ＞Ｎとな
った場合には、（Ｘ−Ｎ）を新たなＸとする。ここで、
ａは、１枚目の情報記録媒体の各ゾーンにおいて測定を
開始したトラックのそのゾーンにおける順番を表す数
値。ｂは、１≦ｂ＜Ｎを満たす任意の整数。Ｎは、その
ゾーンにおける最適単位サンプル数。〕

【００１６】

【作用】本発明による情報記録媒体の評価方法において
は、まず基準となる情報記録媒体の記録領域全体を測定
することにより、各ゾーン毎に最適単位サンプル数およ
び上方管理限界を算出し、これを基に被評価情報記録媒
体の測定および合否判定を行う構成となっているので、
各ゾーンの状況に応じたきめ細かな評価が可能となり、
評価結果の信頼性が向上する。

【００１７】また、１回目の測定で欠陥レートが上方管
理限界の値を超えた場合に、単位サンプル数をより小さ
な値に変更して再測定を行うようにすれば、測定がより
精密になるので、評価結果の信頼性はより向上する。

【００１８】また、ポアソン分布は平面上に存在する欠
陥の分布を表すのに最も適しており、欠陥が統計量Ｔで
表され、前記Ｔが正規分布に従う場合、上方管理限界と
下方管理限界の間に前記Ｔが落ちる確率は９９．７３％
となる。このため、上方管理限界をポアソン分布を用い
て算出するようにした場合には、評価結果の信頼性がよ
り向上する。

【００１９】また、情報記録媒体の外周側のゾーンは内
周側のゾーンより面積が広いので、欠陥の数も外周側の
方が多くなる。従って、不合格となるゾーンも外周側に
多い。本発明による情報記録媒体の評価方法において
は、一つのゾーンが不合格になれば、その時点で評価が
終了するように設定されているので、外周側から測定を
行った場合には、内周側から測定を行った場合に比べ評
価時間を短縮することができる。

【００２０】また、複数の情報記録媒体評価時に、ｍ枚
目の情報記録媒体の各ゾーンにおいて、以下の式で表さ
れるＸ番目のトラックから測定を開始するようにした場
合には、Ｎ枚の情報記録媒体を測定すれば、実質的に１
枚の情報記録媒体の全記録領域を測定したのと同じデー
タが得られる。このようにして得られたデータを初期デ
ータに加えたり、あるいは初期データと入れ換えたりす
れば、初期データは新しい内容に更新されることにな
り、評価結果の信頼性はより向上する。

【００２１】Ｘ＝ａ＋ｂ(ｍ−１)〔ただし、Ｘ＞Ｎとな
った場合には、（Ｘ−Ｎ）を新たなＸとする。ここで、
ａは、１枚目の情報記録媒体の各ゾーンにおいて測定を
開始したトラックのそのゾーンにおける順番を表す数
値。ｂは、１≦ｂ＜Ｎを満たす任意の整数。Ｎは、その
ゾーンにおける最適単位サンプル数。〕

【００２２】

【実施例】以下、本発明の一実施例について図を用いて
説明する。以下の実施例は、情報記録媒体として光ディ
スクを用いたものである。まず、本発明による光ディス
ク評価装置の構成について図２を用いて説明する。前記
装置は、欠陥（狭義の欠陥。以下同様。）レート測定を
用いて光ディスクの評価を行う評価装置である。図２
は、本発明による光ディスク評価装置の光学系および欠
陥検出回路の構成を示す説明図である。

【００２３】図示したように、光学系１において、半導
体レーザ２から出射されたレーザ光３は、ビーム整形用
プリズム４によりビームの断面形状が円形に整形された
後、コリメータレンズ５により平行光に変換される。平
行光に変換されたレーザ光は、ビームスプリッタ６を透
過した後、ＡＦ（Auto Focus）レンズ７により集光さ
れ、微小な光スポットとして光ディスク８の記録膜上に
照射される。

【００２４】前記記録膜上で反射されたレーザ光は、Ａ
Ｆレンズ７により再び平行光に変換された後、ビームス
プリッタ６で反射される。ビームスプリッタ６で反射さ
れたレーザ光は、集光レンズ９により集光された後、光
検出器１０上に照射され、電気信号に変換される。前記
電気信号は、Ｉ−Ｖ変換アンプ１１によりＩ−Ｖ変換さ
れた後、反射光量信号１２として欠陥検出回路１３に出
力される。

【００２５】一方、欠陥検出回路１３は、反射光量信号
１２から２値化信号を作る２値化回路１４、反射光量信
号１２から欠陥を検出するコンパレータ回路１５、コン
パレータ回路１５のスライスレベルを決めるスライス回
路１６、前記２値化信号からヘッダー（プリフォーマッ
ト部）に含まれているＳＹＮＣまたはＡＭ信号を検出す
るＳＹＮＣ検出回路１７、明欠陥信号と暗欠陥信号のＯ
ＲをとるＯＲ回路１８、ＡＭ１からカウントを始めて欠
陥の位置情報を生成するカウンタ回路１９、ＯＲ回路１
８からの欠陥検出信号２０にセクター内アドレス情報を
付ける欠陥位置生成回路２１、欠陥位置生成回路２１か
ら得られたデータを基に欠陥生データを生成し欠陥の大
きさ分布やＴＲ欠陥分布を生成するとともに光ディスク
の評価動作全体を制御するＣＰＵ（コンピュータ）２
２、データ記録時にそのゾーン位置の基準クロックを生
成する基準信号生成回路２３などから成り立っている。

【００２６】なお、本発明による光ディスク評価装置は
上記欠陥検出回路１３以外に、ＡＦサーボ系、ＴＲサー
ボ系、コース系、レーザ制御系、スピンドルサーボ系な
どのサーボ回路や２値化データからトラック、セクター
を認識し、光ヘッドを動かす制御回路などを持ってい
る。

【００２７】次に、欠陥の検出方法について、図３を用
いて説明する。図３は、欠陥検出方法を示す原理説明図
である。

【００２８】図３の（ｂ）は、反射光量信号１２の波形
を示している。反射光量信号１２は、文字通り光ディス
ク８の記録膜上で反射された反射光の光量を示す信号で
あり、前記記録膜上に欠陥がある場合には、図示したよ
うに増加したり、減少したりする。前記記録膜上での反
射光量を増加させる欠陥を明欠陥、逆に減少させる欠陥
を暗欠陥といい、これらの欠陥は、それぞれ図示した波
形の山状になった部分２４および谷状になった部分２５
に対応している。

【００２９】次に、明スライスレベル２６を図示したよ
うに設定し、反射光量信号１２に明スライスをかけるこ
とにより、図３の（ｃ）に示したような明欠陥検出信号
２８が得られる。同様に、暗スライスレベル２７を設定
し、反射光量信号１２に暗スライスをかけることによ
り、図３の（ｄ）に示したような暗欠陥検出信号２９が
得られる。

【００３０】次に、明欠陥検出信号２８および暗欠陥検
出信号２９のＯＲをとることにより、図３の（ｅ）に示
したような欠陥検出信号２０が得られる。欠陥検出信号
２０について図３の（ａ）に示したＡＭ１からカウント
することにより欠陥の位置と大きさを知ることができ
る。例えば、欠陥検出信号２０に現れた明欠陥に対応す
るパルスは、ＡＭ１を０とすると１０００ビット目から
１０１０ビット目までに現れていることがわかる。さら
に、この情報をＣＰＵ２２で処理すると、欠陥長は１０
ビットであることがわかる。

【００３１】次に、本発明による光ディスク評価方法に
ついて図１を用いて説明する。図１は、本発明による光
ディスク評価方法の手順を示す説明図である。

【００３２】 （１）基準となる光ディスクの欠陥レート測定 まず、基準となる光ディスクを用意し、これらの光ディ
スクを本発明による光ディスク評価装置に装着する。そ
して、前記光ディスクの記録領域全体にわたって欠陥レ
ート測定を開始する。なお、基準となる光ディスクとし
ては、通常は新しく完成したスタンパから作製された最
初の数枚の光ディスクを用いる。また、ここではＭＣＡ
Ｖ（Modified Constant Angular Velocity）タイプの光
ディスクを用いたが、このタイプの光ディスクの記録領
域は複数のゾーンに分割されている。

【００３３】前記測定により得られた初期データは、Ｃ
ＰＵ２２に入力される。この場合、前記初期データの代
りに他の光ディスク評価装置で測定して得られた初期デ
ータを入力しても構わない。

【００３４】（２）各ゾーン毎の上方管理限界の算出 ＣＰＵ２２は、入力された初期データからポアソン分布
の法則を用いて、各ゾーン毎に単位サンプル数を変数と
した上方管理限界（ＵＣＬ；Upper Control Line）を算
出する。下記（注）参照。なお、前記ＵＣＬは、図４
（ＵＣＬおよび各種制限条件を示す説明図）に示した曲
線３０により表わされる。また、ここではポアソン分布
を用いたが、これだけに限定されるものではなく、他の
分布を用いても構わない。

【００３５】（注）：ポアソン分布は平面上に存在する
欠陥の分布を表すものであり、次の式で表される。Ｐ
(Ｘ＝ｘ)→ｅｘｐ〔ｘ・lnμ−μ〕／ｘ！ （ｎ→∞） また、ＵＣＬ、ＬＣＬ（Lower Control Line；下方管理
限界）は、以下の式で表される。 ＵＣＬ：ｙ＝μ＋３√μ ＬＣＬ：ｙ＝μ−３√μ ここで、μ＝ｎ／(Ｓ・Ｎ)と表わせるので、ＵＣＬは、
ｙ＝ｎ／(Ｓ・Ｎ)＋３√{ｎ／(Ｓ・Ｎ)}となる。〔ただ
し、μ：分散。ｎ：ある１個のゾーン内に存在する欠陥
の総個数。Ｓ：前記ゾーンの面積。Ｎ：前記ゾーンにお
ける最適単位サンプル数。〕 なお、欠陥が統計量Ｔで表され、前記Ｔが正規分布に従
う場合、ＵＣＬとＬＣＬの間に前記Ｔが落ちる確率は９
９．７３％となる。

【００３６】（３）制限条件の選択 最適単位サンプル数を算出するには、一つ以上の制限条
件を設定する必要がある。ここでは、前記制限条件とし
て、任意の欠陥レートに対するＬＣＬと測定時間を選択
した。まず、前記任意の欠陥レートに対するＬＣＬは、
評価しようとするゾーンの欠陥レートの上限を規定する
ための制限条件であるが、前記レートの値としては、１
／１０⁶程度が限度と考えられるので、この値を入力し
た。こうすることにより、単位サンプル数を変数とした
前記任意の欠陥レートに対するＬＣＬが算出される。な
お、この制限条件は、図４に示した条件曲線３１により
表わされる。

【００３７】次に、前記測定時間は、文字通り測定時間
を規定する制限条件であるが、単位サンプル数と密接な
関連性があるため、単位サンプル数により規定すること
ができる。また、測定時間は一般的に単位サンプル数が
多くなる程短くなるが、実際にはデータ処理時間が加算
されるのであるレベルで飽和する。よって、ここでは単
位サンプル数は２０（本）程度が適当と考え、この値を
入力した。なお、この制限条件は、図４に示した条件直
線３２により表わされる。

【００３８】なお、ここでは制限条件として任意の欠陥
レートに対するＬＣＬと測定時間を選択したが、光ディ
スクの仕様などに合わせて、欠陥レートの上限を規定す
る任意のレートなど他の制限条件を選択しても良い。ま
た、制限条件は一つであっても構わないし、二つ以上の
制限条件を組み合わせて用いても構わない。

【００３９】 （４）各ゾーン毎の最適単位サンプル数の算出 ＣＰＵ２２は、上記の制限条件を示す条件曲線３１およ
び条件直線３２と、各ゾーン毎のＵＣＬを示す曲線３０
との交点３３、３４から二つの単位サンプル数３５、３
６を求め、そのうち小さい方をそのゾーンにおける最適
単位サンプル数として選択する。ＵＣＬを示す曲線３０
は各ゾーン毎に異なるので、どちらの単位サンプル数が
選ばれるかは、各ゾーンによって異なる。また、前記最
適単位サンプル数が整数にならない場合には、前記最適
単位サンプル数以下の最大の整数がそのゾーンにおける
最適単位サンプル数として採用される。

【００４０】（５）被評価光ディスクの各ゾーン毎のサ
ンプリング測定 評価しようとする光ディスクを用意し、これらの光ディ
スクを本発明による光ディスク評価装置に装着する。そ
して、サンプリングによる欠陥レート測定を開始する。
（ただし、この作業は最初および光ディスク交換時のみ
行う。）

【００４１】測定は個々のゾーン毎に行われる。ＣＰＵ
２２は、まず最初のゾーンについて、上記の方法により
算出されたこのゾーンにおける最適単位サンプル数（最
適単位サンプル数が変更された場合には、変更後の単位
サンプル数）毎にサンプリングしながら欠陥レート測定
を行う。例えば、前記最適単位サンプル数がＮの場合に
は、図５（サンプリング測定の原理を示す原理説明図）
に示したように１本目のトラックを測定した後、（Ｎ＋
１）本目、（２Ｎ＋１）本目、……と、その間の不要な
トラックを跳び越えながらＮ本周期で欠陥レート測定を
行う。なお、欠陥の検出方法については、前述したとお
りである。また、ここでは光ディスクの外周側のゾーン
から内周側のゾーンへ向けて測定を行うように設定して
いる。

【００４２】一つのゾーンについて測定が終了すると以
下の工程（６）に進む。ただし、これ以降、以下の工程
（８）からこの工程に戻ってきた場合には、次のゾーン
が測定され、以下の工程（１０）からこの工程に戻って
きた場合には、同じゾーンが再測定される。

【００４３】（６）各ゾーン毎の欠陥レートの算出 ＣＰＵ２２は、上記の測定結果から、上記ゾーンにおけ
る欠陥レートを算出する。方法は、以下のとおりであ
る。 欠陥レート＝（サンプリング測定により見つかった欠陥
個数）／（サンプリング測定を行ったトラックの総ピッ
ト数）

【００４４】（７）各ゾーン毎の欠陥レートと上方管理
限界の値との比較および判定 ＣＰＵ２２は、上記の方法により算出された欠陥レート
と、上記ゾーンにおけるＵＣＬの値（上記ゾーンにおけ
るＵＣＬの上記ゾーンの最適単位サンプル数での値）を
比較する。前記欠陥レートが前記ＵＣＬの値より小さけ
れば、上記ゾーンを合格と判定し、以下の工程（８）へ
進む。また、前記欠陥レートが前記ＵＣＬの値より大き
ければ、以下の工程（９）へ進む。

【００４５】（８）全てのゾーンを測定したかどうかの
確認および判定 ＣＰＵ２２は、被評価光ディスクの全てのゾーンを測定
したかどうかを確認する。全てのゾーンを測定した場合
には、前記光ディスクを合格と判定し、結果を表示した
後、評価を終了する。全てのゾーンを測定していない場
合には、上記の工程（５）に戻り、次のゾーンを測定す
る。

【００４６】（９）進入回数のカウント ＣＰＵ２２は、一つのゾーンの測定中に、この工程に入
った回数を数える。前記回数が１回目なら、以下の工程
（１０）へ進む。前記回数が２回目なら、この光ディス
クを不合格と判定し、結果を表示した後、評価を終了す
る。ここでは、前記回数が２回目の場合、不合格と判定
するように設定しているが、これに限定されるものでは
なく、任意の数値を設定することができる。

【００４７】（１０）最適単位サンプル数の変更 ＣＰＵ２２は、最適単位サンプル数をより小さな値に変
更する。そして、上記の工程（５）に戻り、同じゾーン
を再測定する。最適単位サンプル数をどの程度変更する
かは任意であり、予め設定しておいても良いし、その都
度最適な値を算出するようにしても良い。なお、ここで
は変更後の単位サンプル数を１０（本）に設定した。

【００４８】次に、本発明による光ディスク評価方法を
用いて実際に光ディスクの評価を行った。まず、基準と
なる光ディスクを５枚用意し、記録領域全体にわたって
欠陥レート測定を行った。（この測定により得られた初
期データは、自動的にＣＰＵ２２に入力される。）次
に、評価すべき光ディスクを１００枚用意し、上記の手
順により評価を行った。この結果、光ディスク１枚当り
に要する評価時間は、従来の方法を用いた場合に比較し
て２０％以上短縮できることがわかった。また、本来不
合格とすべき光ディスクが誤って合格と判定されてしま
うという問題、および逆の問題も生じなかった。

【００４９】以上、欠陥レート測定を用いた光ディスク
評価方法について説明したが、エラーレート測定を用い
た光ディスク評価も、本発明による光ディスク評価装置
に通常の光ディスクドライブ装置が持つ記録・再生・消
去機能を追加すれば同様の手順で行うことができる。

【００５０】例えば、光磁気ディスクをエラーレート測
定により評価する場合には、装着された光磁気ディスク
を挾んで光学系１と相対する位置に外部磁場を、また光
学系１内に集光レンズ９から出たレーザ光をＰ偏光とＳ
偏光に分離するビームスプリッタと分離されたＰ偏光と
Ｓ偏光を別々に受光する２個の光検出器を、さらにデー
タ再生回路やデータ比較回路などを追加し、下記のよう
な方法でエラーを検出するようにすれば良い。

【００５１】即ち、前記外部磁場を駆動しながら高パワ
ーのレーザ光を光磁気ディスク上に照射することによ
り、基準となるデータを記録膜上に書き込む。次に、低
パワーのレーザ光を前記データが記録された部分に照射
し、反射されたレーザ光を前記ビームスプリッタでＰ偏
光とＳ偏光に分離した後、上記２個の光検出器で受光す
る。これらの光検出器から出力された電気信号をデータ
再生回路に送り、データを再生する。次に、データ比較
回路により元のデータと再生されたデータを比較し、誤
りがあれば、エラーとして検出する。最後に、高パワー
のレーザ光を再び前記データが記録された部分に照射
し、前記データを消去する。

【００５２】また、ここではＭＣＡＶディスクを用いた
場合について説明したが、他のディスクを用いることも
できる。例えば、ＣＡＶ（Constant Angular Verocit
y）ディスクやＣＬＶ（Constant Linear Verocity）デ
ィスクの記録領域には元々ゾーンは存在しないが、全ト
ラックを一定の本数毎に区切れば、複数の領域に分割す
ることができる。これらの領域は、ＭＣＡＶディスクに
おけるゾーンと同等のものと見なすことができる。

【００５３】また、複数の光ディスク評価時に、ある程
度評価が進んだ場合には、これらの評価によって得られ
たデータを初期データに加えたり、或は初期データと入
れ換えたりしても構わない。このような場合には、光デ
ィスクを交換する毎に、各ゾーンにおいて測定を開始す
るトラックを一定の本数づつずらせば良い。即ち、複数
の光ディスクを測定する場合、ｍ枚目の光ディスクの各
ゾーンにおいて、以下の式で表されるＸ番目のトラック
から測定を開始するようにしても構わない。

【００５４】Ｘ＝ａ＋ｂ(ｍ−１)〔ただし、Ｘ＞Ｎとな
った場合には、（Ｘ−Ｎ）を新たなＸとする。ここで、
ａ：１枚目の光ディスクの各ゾーンにおいて測定を開始
したトラックのそのゾーンにおける順番を表す数値。
ｂ：１≦ｂ＜Ｎを満たす任意の整数。Ｎ：そのゾーンに
おける最適単位サンプル数。〕

【００５５】本実施例においては光ディスクの評価方法
を例にとって説明したが、本発明は光ディスクだけに限
定されるものではなく、磁気ディスク（ハードディス
ク）、フレキシブル磁気ディスク、光トラッキング型磁
気ディスクなど他の情報記録媒体の評価にも適用するこ
とができる。

【００５６】

【発明の効果】本発明による情報記録媒体の評価方法
は、以上説明したような手順により構成されているの
で、以下に記載したような効果を持つ。

【００５７】まず基準となる情報記録媒体の記録領域全
体を測定することにより、各ゾーン毎に最適単位サンプ
ル数および上方管理限界を算出し、これを基に被評価情
報記録媒体の測定および合否判定を行う構成となってい
るので、各ゾーンの状況に応じたきめ細かな評価が可能
となり、評価結果の信頼性が向上する。

【００５８】また、１回目の測定で欠陥（広義の欠陥。
以下同様。）レートが上方管理限界の値を超えた場合
に、単位サンプル数をより小さな値に変更して再測定を
行うようにすれば、測定がより精密になるので、評価結
果の信頼性はより向上する。

【００５９】また、ポアソン分布は平面上に存在する欠
陥の分布を表すのに最も適しており、欠陥が統計量Ｔで
表され、前記Ｔが正規分布に従う場合、上方管理限界と
下方管理限界の間に前記Ｔが落ちる確率は９９．７３％
となる。従って、上方管理限界をポアソン分布の法則を
用いて算出するようにした場合には、評価結果の信頼性
がより向上する。

【００６０】また、情報記録媒体の外周側のゾーンは内
周側のゾーンより面積が広いので、欠陥の数も外周側の
方が多くなる。従って、不合格となるゾーンも外周側に
多い。そして、本発明による情報記録媒体の評価方法に
おいては、一つのゾーンが不合格になれば、その時点で
評価が終了するように設定されている。従って、外周側
から測定を行った場合には、内周側から測定を行った場
合に比べ測定時間を短縮することができる。

【００６１】また、複数の情報記録媒体評価時に、ｍ枚
目の情報記録媒体の各ゾーンにおいて、以下の式で表さ
れるＸ番目のトラックから測定を開始するようにした場
合には、Ｎ枚の情報記録媒体を測定すれば、実質的に１
枚の情報記録媒体の全トラックを測定したのと同じデー
タが得られる。このようにして得られたデータを初期デ
ータに加えたり、あるいは初期データと入れ換えたりす
れば、初期データは新しい内容に更新されることにな
り、評価結果の信頼性はより向上する。

【００６２】Ｘ＝ａ＋ｂ(ｍ−１)〔ただし、Ｘ＞Ｎとな
った場合には、（Ｘ−Ｎ）を新たなＸとする。ここで、
ａは、１枚目の情報記録媒体の各ゾーンにおいて測定を
開始したトラックのそのゾーンにおける順番を表す数
値。ｂは、１≦ｂ＜Ｎを満たす任意の整数。Ｎは、その
ゾーンにおける最適単位サンプル数。〕

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明による光ディスク評価方法の手順を示す
説明図である。

【図２】本発明による光ディスク評価装置の光学系およ
び欠陥検出回路の構成を示す説明図である。

【図３】欠陥検出方法を示す原理説明図である。

【図４】ＵＣＬおよび各種制限条件を示す説明図であ
る。

【図５】サンプリング測定の原理を示す原理説明図であ
る。

【符号の説明】

８ 光ディスク

Claims (5)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 情報記録媒体の記録膜上に存在する欠陥
   をサンプリング測定し、その結果から前記情報記録媒体
   の合否判定を行う情報記録媒体の評価方法において、以
   下のステップにより情報記録媒体の評価を行うことを特
   徴とする情報記録媒体の評価方法。 （Ａ）基準となる情報記録媒体の欠陥レート測定 （Ｂ）基準となる情報記録媒体の各ゾーン毎の上方管理
   限界の算出 （Ｃ）制限条件の選択 （Ｄ）基準となる情報記録媒体の各ゾーン毎の最適単位
   サンプル数の算出 （Ｅ）被評価情報記録媒体の各ゾーン毎のサンプリング
   測定 （Ｆ）被評価情報記録媒体の各ゾーン毎の欠陥レートの
   算出 （Ｇ）被評価情報記録媒体の各ゾーン毎の欠陥レートと
   そのゾーンにおける上方管理限界の値との比較および判
   定 （Ｈ）被評価情報記録媒体の全てのゾーンを測定したか
   どうかの確認および判定
2. 【請求項２】 請求項１において、前記比較を行った結
   果、前記欠陥レートの方が前記上方管理限界の値より大
   きい場合に、そのゾーンにおける最適単位サンプル数を
   変更して、前記ゾーンの再測定を行うことを特徴とする
   情報記録媒体の評価方法。
3. 【請求項３】 請求項１または請求項２において、前記
   上方管理限界をポアソン分布の法則を用いて算出するよ
   うにしたことを特徴とする情報記録媒体の評価方法。
4. 【請求項４】 請求項１、請求項２または請求項３にお
   いて、前記サンプリング測定を情報記録媒体の外周側か
   ら行うようにしたことを特徴とする情報記録媒体の評価
   方法。
5. 【請求項５】 請求項１、請求項２、請求項３または請
   求項４において、複数の情報記録媒体を評価する場合、
   ｍ枚目の情報記録媒体の各ゾーンにおいて、以下の式で
   表されるＸ番目のトラックから測定を開始するようにし
   たことを特徴とする情報記録媒体の評価方法。 Ｘ＝ａ＋ｂ(ｍ−１)〔ただし、Ｘ＞Ｎとなった場合に
   は、（Ｘ−Ｎ）を新たなＸとする。ここで、ａは、１枚
   目の情報記録媒体の各ゾーンにおいて測定を開始したト
   ラックのそのゾーンにおける順番を表す数値。ｂは、１
   ≦ｂ＜Ｎを満たす任意の整数。Ｎは、そのゾーンにおけ
   る最適単位サンプル数。〕