JPH06229904A - Method and apparatus for analyzing particle - Google Patents
Method and apparatus for analyzing particleInfo
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Landscapes
- Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
- Investigating Or Analysing Biological Materials (AREA)
Abstract
Description
【０００１】[0001]
【産業上の利用分野】本発明は、流れているサンプル液
中に懸濁した粒子の画像を撮像し、粒子を分析する粒子
分析方法及び粒子分析装置に係わり、特に血液中や尿中
の細胞や粒子を分析するのに適した粒子分析方法及び粒
子分析装置に関する。BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a particle analysis method and a particle analysis apparatus for capturing an image of particles suspended in a flowing sample liquid and analyzing the particles, and particularly to cells in blood or urine. TECHNICAL FIELD The present invention relates to a particle analysis method and a particle analysis device suitable for analyzing particles.
【０００２】[0002]
【従来の技術】従来、血液や尿等のサンプル液中の細胞
や粒子の分類及び分析は、スライドガラス上に標本を作
成し顕微鏡で観察することにより行われてきた。サンプ
ル液が尿の場合には、含まれる粒子の濃度が薄いため、
サンプル液を予め遠心分離器で遠心分離してから観察し
ていた。2. Description of the Related Art Conventionally, cells and particles in a sample liquid such as blood and urine are classified and analyzed by preparing a sample on a slide glass and observing it with a microscope. When the sample liquid is urine, the concentration of particles contained is low,
The sample solution was previously centrifuged and then observed.
【０００３】しかし、この方法では、遠心分離の工程に
おいて有形成分が破壊されたり、濃縮精度にばらつきが
生じることがあった。また、この方法では標本作成に時
間がかかり、また顕微鏡ステージを機械的に移動させな
がら粒子を見つけ、顕微鏡視野において粒子を適当な画
像取り込み領域へ移動させる作業が必要であり、そのた
めに分類や分析のために長時間を要したり、機械的機構
が複雑になるという問題点があった。However, according to this method, the formed components may be destroyed in the centrifugation step or the concentration accuracy may vary. In addition, this method takes time to prepare a sample, and it is necessary to find particles while mechanically moving the microscope stage and move the particles to an appropriate image capturing area in the microscope field of view. Therefore, there is a problem that it takes a long time and the mechanical mechanism becomes complicated.
【０００４】これに対し、上記のような塗沫標本を作成
せず、被検粒子をサンプル液体中に懸濁させたまま連続
的にフローセルと呼ばれるガラス等で形成された流路中
に流し、流れているサンプル液中の粒子の静止画像を撮
像し、個々の粒子の静止画像から粒子を分類及び分析す
る技術が知られている。以下、これについて説明する。On the other hand, without preparing the above-mentioned smear, the particles to be tested are continuously suspended in the sample liquid and continuously flowed into a flow channel formed of glass or the like called a flow cell, A technique is known in which a still image of particles in a flowing sample liquid is taken, and the particles are classified and analyzed from the still images of individual particles. This will be described below.
【０００５】まず、特開平３―１０５２３５号公報に記
載の技術においては、フラットシースフロー方式を応用
した顕微鏡検査方法、即ちサンプル液をフローセルの上
部から下部へと流れの幅が広くなるように偏平に流し、
ストロボ光（パルス光）による静止画像を撮像し、その
静止画像を用いて粒子を分析する方法が示されている。First, in the technique disclosed in Japanese Patent Application Laid-Open No. 3-105235, a microscopic inspection method applying a flat sheath flow method, that is, a flattening is performed so that the flow width of a sample liquid increases from the upper part to the lower part of the flow cell. To the
A method of capturing a still image by strobe light (pulse light) and analyzing particles using the still image is shown.
【０００６】特に、サンプル液が尿の場合、含まれる粒
子の種類が多くかつ大きさ様々であり、例えば、赤血球
や白血球で１０μｍ程度、上皮細胞で数１０μｍ程度、
円柱で１００〜２００μｍ程度である。このようなサン
プル液（尿）に含まれる粒子を同一倍率で分析すること
は不可能であり、測定中に倍率を切り換える必要がある
が、上記公報に記載の方法によれば、倍率切り換えの機
構、及びその倍率切り換えに伴いサンプル液流れの厚み
や光源の光量を変化させる構成を有しているので、尿の
ような多種の粒子を含むサンプル液の分析が可能であ
る。In particular, when the sample liquid is urine, the types of particles contained are many and of various sizes. For example, red blood cells and white blood cells have a size of about 10 μm, and epithelial cells have a size of about several 10 μm.
It is about 100 to 200 μm in a cylindrical shape. It is impossible to analyze particles contained in such a sample liquid (urine) at the same magnification, and it is necessary to switch the magnification during measurement. However, according to the method described in the above publication, the mechanism for switching the magnification , And the configuration in which the thickness of the sample liquid flow and the light amount of the light source are changed according to the switching of the magnification, it is possible to analyze the sample liquid containing various particles such as urine.
【０００７】ところが、上記方法を利用する場合、必要
な体積の試料を分析するために非常に多くの枚数の画像
を分析しなければならず、場合によっては画像の枚数が
数千から１万数千枚程度必要となる。このような多数枚
の画像を得て画像処理するには非常に長い時間を要する
ため、一定時間に分析できる検体数が少なく能率が良く
ないという欠点があった。さらに、処理時間を短縮する
ために、処理する画像の枚数を減らすと、分析できる粒
子の数が減り、高精度な分析が行えない。また、試料の
濃度が薄い場合には粒子を撮像せずに見逃してしまう可
能性も高くなる。However, when the above method is used, it is necessary to analyze a very large number of images in order to analyze a sample having a required volume, and in some cases, the number of images is several thousand to ten thousand. About 1,000 sheets are required. Since it takes a very long time to obtain and process such a large number of images, there is a drawback that the number of samples that can be analyzed in a given time is small and the efficiency is low. Furthermore, if the number of images to be processed is reduced in order to shorten the processing time, the number of particles that can be analyzed decreases, and high-precision analysis cannot be performed. Further, when the concentration of the sample is low, there is a high possibility that the particles will be missed without being imaged.
【０００８】このような問題点を解決するものとして特
開昭６３−９４１５６号公報に記載の技術が知られてい
る。この技術においては、画像取り込み領域よりも上流
位置に、静止画像撮像用の光学系とは別の粒子検出光学
系を設け、そして、予め粒子検出光学系において粒子に
よるレーザ光（検出光）の散乱光を検出することで粒子
の通過を検出し、その粒子が画像取り込み領域に丁度達
した時にＣＣＤカメラで撮像されるように、粒子の検出
時よりある所定の遅延時間後にフラッシュランプ（パル
ス光）を点灯させる。この方法では、フラッシュランプ
が、粒子検出光学系により粒子の通過が検出された時だ
け発光し、そのタイミングに合わせて静止画像を撮像す
るので、効率的に粒子の静止画像を撮像することができ
る。The technique described in Japanese Patent Laid-Open No. 63-94156 is known as a solution to such a problem. In this technique, a particle detection optical system other than the optical system for capturing a still image is provided at a position upstream of the image capturing area, and the laser light (detection light) is scattered by particles in advance in the particle detection optical system. A flash lamp (pulse light) is detected after detecting a passage of a particle by detecting light, and a CCD camera takes an image when the particle just reaches an image capturing area after a predetermined delay time from the time of detecting the particle. Light up. In this method, the flash lamp emits light only when the passage of particles is detected by the particle detection optical system, and the still image is captured at the timing, so that the still image of the particle can be efficiently captured. .
【０００９】[0009]
【発明が解決しようとする課題】しかし、上記特開昭６
３−９４１５６号公報に記載の技術においては次のよう
な問題点がある。However, the above-mentioned Japanese Unexamined Patent Application Publication No.
The technique described in Japanese Patent Laid-Open No. 3-94156 has the following problems.
【００１０】（１）上記従来技術に開示された装置にお
いては各光学系やサンプル液流れ位置の調整に関しては
詳細に示されていない。実際、粒子検出光学系に関する
調整としては、レーザ光（検出光）のビームウエストの
調整、レーザ光の照射位置の設定、コンデンサレンズの
調整があり、また画像撮像光学系に関する調整として
は、対物レンズの焦点調整、フラッシュランプ光源の調
整、コンデンサレンズの調整があり、さらにフローセル
中のサンプル液流れに関する調整としては、サンプル液
流れの幅やその位置の調整等があり、さらにこれらの各
調整は相互に関連したものである。このように調整箇所
が非常に多いため、装置を組み立てたり使用する際の調
整には非常に時間がかかる。また、調整には経験も必要
となり、経験の少ない装置使用者には容易に調整できな
いという問題点がある。(1) In the apparatus disclosed in the above-mentioned prior art, the details of adjustment of each optical system and sample liquid flow position are not shown in detail. Actually, adjustments regarding the particle detection optical system include adjustment of the beam waist of the laser light (detection light), setting of the irradiation position of the laser light, adjustment of the condenser lens, and adjustments regarding the image pickup optical system include the objective lens. Adjustment of the focus, the adjustment of the flash lamp light source, the adjustment of the condenser lens, and the adjustment of the sample liquid flow in the flow cell includes the adjustment of the width and position of the sample liquid flow. Related to. Since there are so many adjustment points, it takes a lot of time to make adjustments when assembling or using the device. In addition, adjustment requires experience, and it is difficult for an inexperienced device user to easily perform adjustment.
【００１１】（２）装置の使用中に上記各光学系やサン
プル液流れの調整ずれが生じた場合、ずれの箇所やその
程度を判断することが難しい。このためその調整に時間
がかかり、結果として調整のための分析動作の中断時間
が長くなるという問題点がある。(2) When the above-mentioned optical systems or sample liquid flow adjustment deviations occur during the use of the apparatus, it is difficult to determine the location and degree of the deviations. Therefore, the adjustment takes time, and as a result, there is a problem that the interruption time of the analysis operation for the adjustment becomes long.
【００１２】本発明の目的は、粒子検出光学系及び画像
撮像光学系を備えた粒子分析装置において、各光学系や
サンプル液流れの調整が容易に行える粒子分析方法及び
粒子分析装置を提供することである。An object of the present invention is to provide a particle analysis method and a particle analysis apparatus which can easily adjust each optical system and a sample liquid flow in a particle analysis apparatus equipped with a particle detection optical system and an image pickup optical system. Is.
【００１３】[0013]
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するた
め、本発明によれば、粒子を懸濁させたサンプル液をフ
ローセルに流し、検出光源より発する検出光を前記フロ
ーセルに照射し、前記検出光の散乱光により前記粒子が
静止画像取り込み領域を通過することを検出し、その検
出に基づいてパルス光源より発せられるパルス光束を前
記フローセルに照射し、前記フローセルに照射されたパ
ルス光束を集光レンズにより集光し、このパルス光束に
基づく前記フローセル中の通過粒子の画像を撮像装置に
より取り込み、得られた静止画像を画像処理し該サンプ
ル液中の粒子の分析を行う粒子分析方法において、前記
通過粒子の画像の撮像を行わない装置調整時に、前記検
出光の散乱光を前記集光レンズにより集光して前記撮像
装置により取り込み、その散乱光像を表示装置上に表示
させ、前記散乱光像に基づいて前記検出光の焦点位置及
び照射位置、並びに前記サンプル液の流れの位置の調整
を行うことを特徴とする粒子分析方法が提供される。In order to achieve the above object, according to the present invention, a sample solution in which particles are suspended is caused to flow in a flow cell, and the detection light emitted from a detection light source is applied to the flow cell to perform the detection. Detecting that the particles pass through the still image capturing area by scattered light of light, irradiate the flow cell with a pulsed light flux emitted from a pulsed light source based on the detection, and collect the pulsed light flux irradiated on the flow cell. In the particle analysis method of collecting light by a lens, capturing an image of particles passing through the flow cell based on the pulsed light flux by an imaging device, and processing the obtained still image to analyze particles in the sample liquid, When adjusting the device that does not capture the image of the passing particles, the scattered light of the detection light is collected by the condenser lens and captured by the imaging device. The particle analysis method is characterized in that the scattered light image is displayed on a display device, and the focus position and irradiation position of the detection light and the position of the flow of the sample solution are adjusted based on the scattered light image. Provided.
【００１４】ここで好ましくは、前記表示装置上に十字
線を設け、この十字線を用いて前記検出光の照射位置及
び前記サンプル液の流れの位置の調整を行う。Here, preferably, a cross line is provided on the display device, and the irradiation position of the detection light and the position of the flow of the sample solution are adjusted using the cross line.
【００１５】また、好ましくは、前記撮像装置により取
り込んだ前記検出光の散乱光の静止画像を撮像し、これ
に基づいて前記検出光の散乱光強度分布及び前記対物レ
ンズの合焦点情報等の光学情報を得る。Further, preferably, a still image of the scattered light of the detection light captured by the imaging device is captured, and based on this, the scattered light intensity distribution of the detection light and the focus information of the objective lens and the like are optical. get information.
【００１６】また、好ましくは、前記表示装置上に前記
静止画像及び前記光学情報を表示させ、この静止画像及
び光学情報により、前記検出光の焦点位置及び照射位
置、前記対物レンズの焦点位置、並びに前記サンプル液
の流れの位置の調整を行う。Further, preferably, the still image and the optical information are displayed on the display device, and the still image and the optical information are used to focus and irradiate the detection light, the focal position of the objective lens, and The position of the flow of the sample liquid is adjusted.
【００１７】また、好ましくは、前記通過粒子の画像の
撮像を行わない装置調整時には、前記散乱光像が前記静
止画像取り込み領域内に入るように前記静止画像取り込
み領域を移動または拡張させ、前記通過粒子の画像の撮
像を行う通常使用時には、前記散乱光像が前記静止画像
取り込み領域上流側の近接した位置に来るように前記静
止画像取り込み領域を移動または縮小させる。Further, preferably, at the time of adjusting the apparatus in which an image of the passing particles is not captured, the still image capturing area is moved or expanded so that the scattered light image falls within the still image capturing area, and the passing image is passed. During normal use in which an image of particles is taken, the still image capturing area is moved or reduced so that the scattered light image comes to a close position on the upstream side of the still image capturing area.
【００１８】また、好ましくは、前記通過粒子の画像の
撮像を行わない装置調整時には、前記パルス光源を発光
させない。Further, preferably, the pulse light source is not caused to emit light at the time of adjusting the apparatus in which the image of the passing particles is not captured.
【００１９】また、好ましくは、前記通過粒子の画像の
撮像を行わない装置調整時には、粒径の揃った粒子を含
むサンプル液を前記フローセルに流す。Further, preferably, at the time of adjusting the apparatus in which an image of the passing particles is not taken, a sample liquid containing particles having a uniform particle size is caused to flow through the flow cell.
【００２０】また、前記検出光源は、好ましくは可視光
レーザを発するレーザ光源である。The detection light source is preferably a laser light source which emits a visible light laser.
【００２１】また、上記目的を達成するため、本発明に
よれば、粒子を懸濁させたサンプル液が供給されるフロ
ーセルと、前記フローセル中の静止画像取り込み領域に
検出光を照射しその散乱光により前記粒子が通過するこ
とを検出する粒子検出光学系と、前記粒子検出光学系に
よる検出に基づいてパルス光束を前記フローセルに照射
するパルス光源、及び前記フローセルからの光束を集光
する集光レンズを有し、前記フローセルからの光束に基
づく通過粒子の静止画像を取り込む画像撮像光学系と、
得られた静止画像を画像処理し該サンプル液中の粒子の
分析を行う画像処理手段とを備える粒子分析装置におい
て、前記検出光の散乱光像を表示する表示装置を備える
ことを特徴とする粒子分析装置が提供される。In order to achieve the above object, according to the present invention, a flow cell to which a sample solution in which particles are suspended and a static image capturing area in the flow cell are irradiated with detection light and scattered light thereof is emitted. Particle detection optical system for detecting the passage of the particles by means of the above, a pulse light source for irradiating the flow cell with a pulsed light flux based on the detection by the particle detection optical system, and a condenser lens for condensing the light flux from the flow cell. And an image capturing optical system that captures a still image of passing particles based on the light flux from the flow cell,
A particle analyzer comprising an image processing means for image-processing the obtained still image and analyzing particles in the sample liquid, wherein the display device displays a scattered light image of the detection light. An analytical device is provided.
【００２２】ここで、前記表示装置は、好ましくは前記
検出光の調整を行うための十字線を有する。Here, the display device preferably has a cross line for adjusting the detection light.
【００２３】また、好ましくは、前記通過粒子の画像の
撮像を行わない装置調整時に、前記散乱光像の静止画像
に基づいて前記検出光の散乱光強度分布、並びに前記対
物レンズの合焦点情報等の光学情報を得る光学情報手段
をさらに備え、前記表示装置は前記静止画像及び得られ
た前記光学情報をも表示する。また、得られた前記光学
情報をもとに前記対物レンズの焦点の調整を自動的に行
う調整手段をさらに備える。Further, it is preferable that the scattered light intensity distribution of the detection light, focus information of the objective lens, and the like are based on the still image of the scattered light image at the time of adjusting the apparatus for not capturing the image of the passing particles. Further, the display device displays the still image and the obtained optical information. Further, it further comprises adjusting means for automatically adjusting the focus of the objective lens based on the obtained optical information.
【００２４】[0024]
【作用】上記のように構成された本発明においては、ま
ず、通過粒子の画像の撮像を行わない装置調整時に、検
出光源より発せられた検出光がフローセル中を流れるサ
ンプル液に照射され、サンプル液中の粒子により散乱さ
れた検出光の散乱光が集光レンズで集光され、これが撮
像装置に取り込まれる。取り込まれた散乱光像は表示装
置上に表示され、この散乱光像に基づき、検出光の焦点
位置及び照射位置、並びにサンプル液の流れの位置の調
整が行われる。また、検出光の焦点位置の調整によりそ
の光束断面の寸法が調整される。In the present invention configured as described above, first, at the time of adjusting the apparatus without taking an image of passing particles, the sample light flowing through the flow cell is irradiated with the detection light emitted from the detection light source, The scattered light of the detection light scattered by the particles in the liquid is condensed by the condenser lens and taken into the image pickup device. The captured scattered light image is displayed on the display device, and the focus position and irradiation position of the detection light and the position of the flow of the sample liquid are adjusted based on the scattered light image. Further, the dimension of the cross section of the light flux is adjusted by adjusting the focus position of the detection light.
【００２５】以上の調整が済んだ後に通常の粒子検出及
び粒子画像の撮像が行われる。即ち、サンプル液中を被
検粒子が通過したことが静止画像取り込み領域に来る前
に検出光の散乱光により検出され、この検出に基づいて
該粒子が丁度静止画像取り込み領域に来た時にパルス光
源よりパルス光束がフローセル上に照射され、この光束
が集光レンズにより集光され、この光束に基づく画像が
撮像装置により取り込まれて静止画像が撮像される。そ
して、得られた静止画像が画像処理され該サンプルの分
析が行われる。After the above adjustment is completed, normal particle detection and particle image pickup are performed. That is, the fact that the test particles have passed through the sample liquid is detected by the scattered light of the detection light before coming to the still image capturing area, and based on this detection, the pulse light source is just when the particles come to the still image capturing area. The pulsed light flux is further irradiated onto the flow cell, this light flux is condensed by the condenser lens, and an image based on this light flux is captured by the imaging device to capture a still image. Then, the obtained still image is image-processed and the sample is analyzed.
【００２６】また、前述の検出光の照射位置、並びにサ
ンプル液の流れの位置の検出光の調整の際には、表示装
置上に設けられた十字線が用いられる。例えば、十字線
の交差位置をもとにサンプル液の流れの中心位置を調整
し、散乱光像の中心を十字線の交差位置に合わせること
により、サンプル液の流れの中心線上にと散乱光像の中
心を位置させることができる。この場合、検出光の光強
度が一番強い場所が散乱光像の中心であるのでこれと十
字線の交差位置とが重なるようにすればよい。A cross line provided on the display device is used for adjusting the detection light at the irradiation position of the detection light and the position of the flow of the sample liquid. For example, by adjusting the center position of the flow of the sample liquid based on the crossing position of the crosshairs and aligning the center of the scattered light image with the crossing position of the crosshairs, the scattered light image The center of can be located. In this case, since the place where the light intensity of the detection light is the strongest is the center of the scattered light image, it is sufficient that the crossing position of this and the cross line overlap.
【００２７】また、撮像装置により取り込んだ検出光の
散乱光の静止画像を撮像することにより、この静止画像
を解析して検出光の散乱光強度分布及び対物レンズの合
焦点情報等の光学情報を得ることが可能となる。また、
表示装置上に静止画像及び上記光学情報を表示すること
により、表示された光学情報を見ながらこれをもとにし
て検出光の焦点位置及び照射位置、対物レンズ焦点位
置、さらにはサンプル液の流れの位置の調整を行うこと
が可能となる。また、検出光の焦点位置の調整によりそ
の光束断面の寸法が調整される。Further, by capturing a still image of the scattered light of the detection light captured by the image pickup device, the still image is analyzed to obtain optical information such as the scattered light intensity distribution of the detected light and the focus information of the objective lens. It becomes possible to obtain. Also,
By displaying a still image and the above optical information on the display device, while observing the displayed optical information, the focus position and irradiation position of the detection light, the focus position of the objective lens, and the flow of the sample solution It becomes possible to adjust the position of. Further, the dimension of the cross section of the light flux is adjusted by adjusting the focus position of the detection light.
【００２８】また、装置調整時には、検出光による散乱
光像が静止画像取り込み領域内に入るように静止画像取
り込み領域を移動または拡張させることにより、表示装
置上に散乱光の静止画像を表示することが可能となる。
一方、通過粒子の画像の撮像を行う通常使用時には、静
止画像取り込み領域外に散乱光像が位置するように静止
画像取り込み領域を移動または縮小させることにより、
検出光による散乱光像が撮像すべき通過粒子の画像を乱
さないようにすることができ、しかも散乱光像を静止画
像取り込み領域の上流側に近接させることにより、被検
粒子が通過したことが静止画像取り込み領域に来る前に
検出される。Further, at the time of adjusting the apparatus, a still image of scattered light is displayed on the display device by moving or expanding the still image capturing area so that the scattered light image by the detected light falls within the still image capturing area. Is possible.
On the other hand, during normal use of capturing an image of passing particles, by moving or reducing the still image capturing area so that the scattered light image is located outside the still image capturing area,
It is possible to prevent the scattered light image due to the detection light from disturbing the image of the passing particles to be captured, and by bringing the scattered light image closer to the upstream side of the still image capturing area, it is possible that the particles to be inspected have passed. Detected before coming to the still image capture area.
【００２９】さらに、通常の粒子検出及び粒子画像の撮
像が行われている時に何らかの原因で検出光の焦点位置
（つまり光束断面の寸法）や照射位置、対物レンズの位
置、サンプル液流れの位置等の条件がずれた場合には、
再び前述のように表示装置上の散乱光像や静止画像をも
とにして調整をやり直せばよく、容易に条件のずれを修
正することが可能である。Further, during normal particle detection and particle image pickup, the focus position of the detection light (that is, the dimension of the light beam cross section), the irradiation position, the position of the objective lens, the position of the sample liquid flow, etc. are caused for some reason. If the condition of is deviated,
As described above, the adjustment may be performed again based on the scattered light image and the still image on the display device, and the deviation of the condition can be easily corrected.
【００３０】また、装置調整時にパルス光源を発光させ
ないことにより、検出光による散乱光像を乱すことなく
適切な調整が行える。また、この時、粒径の揃った粒子
を含むサンプル液をフローセルに流すことにより、一様
な強度で十分な散乱光像が得られる。さらに、検出光源
より発する検出光を可視光レーザとすることにより、こ
の可視光レーザによる散乱光像を撮像装置の撮像面に形
成させても装置に与える悪影響は少なく、また安全であ
る。Further, since the pulsed light source is not caused to emit light when adjusting the apparatus, appropriate adjustment can be performed without disturbing the scattered light image due to the detection light. In addition, at this time, a sample liquid containing particles having a uniform particle diameter is caused to flow in the flow cell, whereby a sufficient scattered light image can be obtained with uniform intensity. Further, by using the visible light laser as the detection light emitted from the detection light source, even if a scattered light image is formed by the visible light laser on the image pickup surface of the image pickup apparatus, the adverse effect on the apparatus is small and it is safe.
【００３１】また、検出光の散乱光強度分布及び対物レ
ンズの合焦点情報等の光学情報は、先述のようにして得
られた検出光の散乱光の静止画像を光学情報手段におい
て解析することより得られる。さらに、調整手段で、得
られた光学情報を基づいて対物レンズの焦点の調整が自
動的に行われる。The optical information such as the scattered light intensity distribution of the detected light and the in-focus information of the objective lens is obtained by analyzing the still image of the scattered light of the detected light obtained as described above in the optical information means. can get. Further, the adjusting means automatically adjusts the focus of the objective lens based on the obtained optical information.
【００３２】[0032]
【実施例】本発明による粒子分析方法及び粒子分析装置
の一実施例について、図１から図７を参照しながら説明
する。まず、図１に示す全体構成図により本実施例の粒
子分析装置の構成を説明する。図１に示すように、本実
施例の粒子分析装置は、粒子を懸濁させたサンプル液が
供給されるフローセル１００、画像撮像光学系１０１、
画像処理手段１０２、及び粒子検出光学系１０３を備え
る。DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS An embodiment of the particle analyzing method and particle analyzing apparatus according to the present invention will be described with reference to FIGS. First, the configuration of the particle analyzer of the present embodiment will be described with reference to the overall configuration diagram shown in FIG. As shown in FIG. 1, the particle analyzer of the present embodiment includes a flow cell 100 to which a sample liquid in which particles are suspended, an image pickup optical system 101,
The image processing means 102 and the particle detection optical system 103 are provided.
【００３３】画像撮像光学系１０１は顕微鏡としての機
能を持ち、パルス光源であるフラッシュランプ１、フラ
ッシュランプ１を点灯させるフラッシュランプ駆動回路
１ａ、フラッシュランプ１からのパルス光束を平行にす
るフィールドレンズ２、フィールドレンズ２からの平行
なパルス光束１０をサンプル液流れ１１０に集束させる
顕微鏡コンデンサレンズ３、フローセル１００内のサン
プル液流れ１１０に照射されたパルス光束を集光し結像
位置６に結像させる顕微鏡対物レンズ５、投影レンズ７
を介して投影した結像位置６の像を取り込み電気信号に
変換する撮像装置であるＴＶカメラ８を有する。The image pickup optical system 101 has a function as a microscope, and includes a flash lamp 1 which is a pulse light source, a flash lamp driving circuit 1a for lighting the flash lamp 1, and a field lens 2 which makes a pulsed light flux from the flash lamp 1 parallel. , The microscope condenser lens 3 for focusing the parallel pulsed light flux 10 from the field lens 2 on the sample liquid flow 110, and the pulsed light flux irradiated on the sample liquid flow 110 in the flow cell 100 is focused and imaged at the imaging position 6. Microscope objective lens 5, projection lens 7
It has a TV camera 8 which is an image pickup device for taking in the image at the image forming position 6 projected via the and converting it into an electric signal.
【００３４】画像処理手段１０２は、ＴＶカメラ８で取
り込まれた画像情報のうち静止画像取り込み領域に属す
る画像の電気信号を記憶する画像メモリ２４、画像メモ
リ２４からの信号に基づき画像処理を行い粒子数や粒子
の分類等の分析を行う画像処理回路２５を有する。The image processing means 102 performs image processing on the basis of a signal from the image memory 24 which stores an electric signal of an image belonging to a still image capturing area in the image information captured by the TV camera 8 and a signal from the image memory 24. It has an image processing circuit 25 for performing analysis such as number and classification of particles.
【００３５】粒子検出光学系１０３は、検出光源である
レーザ光源１５、レーザ光源１５から発する検出光とし
てのレーザ光を平行なレーザ光束１４にするコリメータ
レンズ１６、コリメータレンズ１６からのレーザ光束の
１方向のみ集束させるシリンドリカルレンズ１７、シリ
ンドリカルレンズ１７からの光束を反射させる反射鏡１
８、顕微鏡コンデンサレンズ３とフローセル１００の間
に設けられ反射鏡１９からのレーザ光束をフローセル１
００内のサンプル液流れ１１０上に導く反射鏡１９、粒
子による上記レーザ光束の散乱光を集光する顕微鏡対物
レンズ５、顕微鏡対物レンズ５で集光された散乱光を反
射させるハーフミラー２０、ハーフミラー２０からの散
乱光を絞り２１を介して受光しその強度に基づく電気信
号を出力する粒子検出手段としての光検出器２２、光検
出器２２からの電気信号に基づいてフラッシュランプ駆
動回路１ａを制御するフラッシュランプ点灯制御回路２
３を有する。尚、顕微鏡対物レンズ５は画像撮像光学系
１０１と共用される。また、レーザ光源１５から発する
検出光としてのレーザ光は可視光レーザである。The particle detection optical system 103 includes a laser light source 15 which is a detection light source, a collimator lens 16 for converting a laser light as a detection light emitted from the laser light source 15 into a parallel laser light flux 14, and a laser light flux from the collimator lens 16. Cylindrical lens 17 that focuses only in the direction, and reflector 1 that reflects the light flux from cylindrical lens 17
8. The laser beam from the reflecting mirror 19 provided between the microscope condenser lens 3 and the flow cell 100 is passed through the flow cell 1
00, a reflecting mirror 19 that guides it onto the sample liquid flow 110, a microscope objective lens 5 that collects the scattered light of the laser light flux by particles, a half mirror 20 that reflects the scattered light collected by the microscope objective lens 5, and a half A light detector 22 as a particle detecting means for receiving scattered light from the mirror 20 through a diaphragm 21 and outputting an electric signal based on its intensity, and a flash lamp driving circuit 1a based on an electric signal from the photodetector 22. Flash lamp lighting control circuit 2 to control
Have three. The microscope objective lens 5 is also used as the image pickup optical system 101. Further, the laser light emitted from the laser light source 15 as the detection light is a visible light laser.
【００３６】また、本実施例の粒子分析装置は、上記の
構成に加え、画像メモリ２４からの信号に基づきレーザ
光の焦点情報及び散乱光強度分布、並びに顕微鏡対物レ
ンズの合焦点情報等の光学情報を得る光学情報回路２
６、光学情報回路２６で得られた光学情報をもとに自動
的にレーザ光の焦点及び顕微鏡対物レンズ５の焦点調整
を行う調整手段である自動焦点制御回路２７、画像メモ
リ２４からの信号に基づく静止画像及び光学情報回路２
６で得られた光学情報を表示する表示装置としてのモニ
ター１１を備える。また、後述する装置調整時におい
て、モニター１１は、上記静止画像以外の画像、即ちＴ
Ｖカメラ８に取り込まれた画像情報のうち静止画像取り
込み領域以外の画像も表示する。勿論、静止画像取り込
み領域以外の画像は静止画像ではない。In addition to the above-mentioned configuration, the particle analyzer of the present embodiment is based on the signal from the image memory 24, and the optical information such as the focus information and scattered light intensity distribution of the laser light and the focus information of the microscope objective lens. Optical information circuit 2 for obtaining information
6. Based on the optical information obtained by the optical information circuit 26, the signals from the automatic focus control circuit 27, which is an adjusting means for automatically adjusting the focus of the laser light and the focus of the microscope objective lens 5, and the image memory 24 are used. Still image and optical information circuit 2 based
The monitor 11 is provided as a display device for displaying the optical information obtained in 6. Further, during the device adjustment described later, the monitor 11 displays an image other than the still image, that is, T
Of the image information captured by the V camera 8, images other than the still image capture area are also displayed. Of course, images other than the still image capture area are not still images.
【００３７】また、図２に示すように、フローセル１０
０においては、サンプル送液口４０からサンプル液４１
が供給され、サンプル送液口４０に連通するノズル４２
の先端からサンプル液が送り出されると同時に、ノズル
４２の横方向に位置するシース液送液口４３からシース
液４４が供給され、サンプル液がシース液に包まれる流
れを形成する。そしてサンプル液流れ１１０は画像撮像
光学系１０１の光軸（顕微鏡光軸）９に対して垂直方向
に偏平な断面形状を有する安定した定常流（シースフロ
ー）となり、フローセル１００の中心を廃液口４５へ向
かって送られる。As shown in FIG. 2, the flow cell 10
At 0, the sample liquid feed port 40 to the sample liquid 41
42 which is supplied to the sample and communicates with the sample liquid supply port 40.
At the same time that the sample liquid is sent out from the tip of the sheath liquid, the sheath liquid 44 is supplied from the sheath liquid sending port 43 located in the lateral direction of the nozzle 42, and a flow in which the sample liquid is wrapped in the sheath liquid is formed. Then, the sample liquid flow 110 becomes a stable steady flow (sheath flow) having a flat cross-sectional shape in the direction perpendicular to the optical axis (microscope optical axis) 9 of the image pickup optical system 101, and the center of the flow cell 100 is disposed at the waste liquid port 45. Sent to.
【００３８】図１に戻り、上記構成を有する粒子分析装
置の通常の粒子検出及び粒子の静止画像撮像の動作を説
明する。レーザ光源１５は常時連続的に発振しており、
常にサンプル中の粒子が検出領域を通過するのを観測し
ている。レーザ光源１５からのレーザ光束は、コリメー
タレンズ１６で平行なレーザ光束１４に変換され、シリ
ンドリカルレンズ１７で光束の１方向のみ集束させる。
このシリンドリカルレンズ１７による集束に関しては後
述する。このレーザ光束は反射鏡１８および反射鏡１９
で反射されフローセル１００内のサンプル液流れ１１０
上に照射される。通常の粒子の静止画像の撮像を行う場
合には、この照射位置はシリンドリカルレンズ１７によ
ってレーザ光束が集束する粒子検出位置であり、サンプ
ル液流れ１１０上の静止画像取り込み領域の上流側の近
接した位置である。Returning to FIG. 1, the normal particle detection and particle still image capturing operations of the particle analyzer having the above construction will be described. The laser light source 15 constantly oscillates continuously,
We constantly observe particles in the sample passing through the detection area. The laser light flux from the laser light source 15 is converted into a parallel laser light flux 14 by the collimator lens 16 and is focused by the cylindrical lens 17 in only one direction.
Focusing by the cylindrical lens 17 will be described later. This laser beam is reflected by the reflecting mirror 18 and the reflecting mirror 19.
Sample liquid flow 110 in the flow cell 100, which is reflected by
Irradiated on. When a still image of a normal particle is captured, this irradiation position is a particle detection position where the laser light flux is focused by the cylindrical lens 17, and is a position on the sample liquid flow 110 close to the upstream side of the still image capturing area. Is.
【００３９】測定対象である粒子が上記レーザ光束を横
切ると、レーザ光束は散乱され、この散乱光は画像撮像
光学系１０１において共用される顕微鏡対物レンズ５で
集光され、ハーフミラー２０で反射され、絞り２１でサ
ンプル液流れ１１０上の観測領域が制限されて、光検出
器２２ににおいて受光されその強度に基づく電気信号に
変換される。When the particle to be measured crosses the laser light flux, the laser light flux is scattered, and the scattered light is condensed by the microscope objective lens 5 shared by the image pickup optical system 101 and reflected by the half mirror 20. The observation area on the sample liquid flow 110 is limited by the diaphragm 21, and the light is received by the photodetector 22 and converted into an electric signal based on its intensity.
【００４０】光検出器２２からの電気信号はフラッシュ
ランプ点灯制御回路２３に入力され、ここでこの電気信
号が所定の信号レベル以上有るかどうかが判断され、所
定の信号レベル以上有れば画像処理対象の粒子が通過し
たものとみなされて検出信号がフラッシュランプ駆動回
路１ａに送られる。この検出信号は、粒子がＴＶカメラ
８の静止画像取り込み領域の所定の位置に丁度達した時
にフラッシュランプ１が発光し撮像が行われるように、
粒子検出位置と静止画像取り込み領域との距離及びサン
プル液の流速で決まる所定の遅延時間の後にフラッシュ
ランプ駆動回路１ａに送られる。但し、この遅延時間
は、粒子検出位置と静止画像取り込み領域との距離がわ
ずかであるために非常に短い時間であり、粒子の検出や
分析精度がサンプル液の流速や粒子濃度の影響を受ける
ことはない。The electric signal from the photodetector 22 is inputted to the flash lamp lighting control circuit 23, and it is judged here whether this electric signal has a predetermined signal level or more. If it has a predetermined signal level or more, image processing is performed. It is considered that the particles of interest have passed and a detection signal is sent to the flash lamp drive circuit 1a. This detection signal is generated so that the flash lamp 1 emits light and an image is captured when the particles have just reached a predetermined position in the still image capturing area of the TV camera 8.
It is sent to the flash lamp drive circuit 1a after a predetermined delay time determined by the distance between the particle detection position and the still image capturing area and the flow rate of the sample liquid. However, this delay time is very short because the distance between the particle detection position and the still image capture area is very short, and the accuracy of particle detection and analysis may be affected by the flow velocity and particle concentration of the sample liquid. There is no.
【００４１】検出信号がフラッシュランプ駆動回路１ａ
に送られると、フラッシュランプ駆動回路１ａはフラッ
シュランプ１を発光させる。フラッシュランプ１より発
せられたパルス光は顕微鏡光軸９上を進み、フィールド
レンズ２で平行光となり顕微鏡コンデンサレンズ３によ
り集束されてフローセル１００内のサンプル液流れ１１
０上に照射される。The detection signal is the flash lamp drive circuit 1a.
Then, the flash lamp drive circuit 1a causes the flash lamp 1 to emit light. The pulsed light emitted from the flash lamp 1 travels on the optical axis 9 of the microscope, becomes parallel light by the field lens 2, is focused by the condenser lens 3 of the microscope, and flows in the sample solution 11 in the flow cell 100.
0 is illuminated.
【００４２】フローセル１００内のサンプル液流れ１１
０に照射されたパルス光束は顕微鏡対物レンズ５で集光
され、結像位置６に像を結像する。この結像位置６の像
は投影レンズ７によりＴＶカメラ８の撮像面上に取り込
まれる。このＴＶカメラ８としては、残像の少ないＣＣ
Ｄカメラ等が一般に用いられる。Sample liquid flow 11 in flow cell 100
The pulsed light flux irradiated to 0 is condensed by the microscope objective lens 5 to form an image at the image forming position 6. The image at the image forming position 6 is captured by the projection lens 7 on the image pickup surface of the TV camera 8. The TV camera 8 has a CC with a small afterimage.
A D camera or the like is generally used.
【００４３】ＴＶカメラ８では、取り込まれた画像情報
のうち静止静止画像取り込み領域に属する画像情報が電
気信号（ビデオ出力信号）に変換される。これで粒子の
静止画像を撮像したことになる。そして、この電気信号
に基づくデータが画像処理回路２７の制御のもとに画像
メモリ２４に記憶される。画像メモリ２４に記憶された
データは画像処理回路２５で画像処理が行われ、粒子数
や粒子の分類等の分析処理がその後に実施される。In the TV camera 8, the image information belonging to the still / still image capturing area of the captured image information is converted into an electric signal (video output signal). This means that a still image of the particles has been captured. Then, the data based on this electric signal is stored in the image memory 24 under the control of the image processing circuit 27. The data stored in the image memory 24 is subjected to image processing by the image processing circuit 25, and then analysis processing such as the number of particles and classification of particles is performed.
【００４４】次に、フローセル４における静止画像取り
込み領域と粒子検出位置との関係及び粒子検出用のレー
ザ光束の集束条件に関し、図２及び図３により説明す
る。図３は図２のＩＩＩ方向からの矢視図である。図３
において、サンプル液流れ１１０は流れの中心５０に沿
って幅ａの範囲５３の領域を紙面上左側から右側に流
れ、矩形の静止画像取り込み領域５２を横切る。粒子の
静止画像をボケずに撮像するためには、顕微鏡光軸９方
向のサンプル液流れ１１０の厚さを顕微鏡対物レンズ５
の焦点深度内に抑え十分薄くすることが必要である。即
ち、先にも述べたように顕微鏡光軸９に対して垂直方向
に薄い偏平な断面形状とすることが必要であり、これを
実現するためには、例えば特公昭５４−８３１２号公報
等で知られている粒子整列方法を使用すればよい。Next, the relationship between the still image capturing area in the flow cell 4 and the particle detection position and the focusing condition of the laser beam for particle detection will be described with reference to FIGS. 2 and 3. FIG. 3 is a view from the direction of arrow III in FIG. Figure 3
In, the sample liquid flow 110 flows from the left side to the right side of the drawing in the range 53 of the width a along the center 50 of the flow and crosses the rectangular still image capturing area 52. In order to capture a still image of a particle without blurring, the thickness of the sample liquid flow 110 in the direction of the microscope optical axis 9 is set to the microscope objective lens 5.
It is necessary to keep it within the depth of focus of and make it sufficiently thin. That is, as described above, it is necessary to have a thin flat cross-sectional shape in the direction perpendicular to the optical axis 9 of the microscope. In order to realize this, for example, Japanese Patent Publication No. 54-8312. Known particle alignment methods may be used.
【００４５】また、粒子検出用のレーザ光束は極めて細
長い形状に集束され、その集束位置（粒子検出位置）５
１は静止画像取り込み領域５２よりわずかに流れの上流
側であって、好ましくは静止画像取り込み領域５２に極
力近づけられる。集束位置５１におけるレーザ光束は、
サンプル液流れ１１０に垂直な方向の寸法（以下、長径
という）ｂが範囲５３の幅ａよりも十分長く、サンプル
液流れ１１０の方向の寸法（以下、短径という）ｃが極
めて短い断面形状をしている。このように、通常の粒子
画像の撮像を行う場合において、静止画像取り込み領域
５２の外側でかつ上流側の近接した位置にレ−ザ光の集
束位置５１、即ち散乱光像を配置することにより、レー
ザ光の散乱光像が撮像すべき通過粒子の画像を乱さない
ようにすることができ、しかも被検粒子が通過したこと
を静止画像取り込み領域５２に粒子が来る前に検出する
ことができる。The laser beam for particle detection is focused into an extremely elongated shape, and its focusing position (particle detection position) 5
1 is slightly on the upstream side of the flow from the still image capturing area 52 and is preferably brought as close as possible to the still image capturing area 52. The laser light flux at the focusing position 51 is
A cross-sectional shape in which a dimension (hereinafter, referred to as a major axis) b in a direction perpendicular to the sample liquid flow 110 is sufficiently longer than a width a of the range 53, and a dimension (hereinafter, a minor axis) c in the direction of the sample liquid flow 110 is extremely short. is doing. Thus, in the case of capturing a normal particle image, by arranging the laser light focusing position 51, that is, the scattered light image, at a position outside and on the upstream side of the still image capturing area 52, It is possible to prevent the scattered light image of the laser light from disturbing the image of the passing particles to be imaged, and it is possible to detect that the particles to be inspected have passed before the particles arrive at the still image capturing area 52.
【００４６】レーザ光源１５から発せられコリメータレ
ンズ１６で一旦平行にされた時点でのレーザ光束１４
（図２参照）の断面形状は楕円形をしており、中心部分
の光強度の13.5％の強度の範囲をビーム寸法と定義する
と、一般的には長軸方向の寸法が3〜4ｍｍ、短軸方向の
寸法が1.5〜2ｍｍである。静止画像取り込み領域５２の
大きさはサンプル液中の粒径分布や測定システムから決
められるものであるが、例えば１辺250μｍの画像を得
ようとすると、サンプル液流れ１１０の範囲５３の周辺
部分においても散乱光強度が減少せず十分な強度が得ら
れるようにするためには、集束位置５１のレーザ光束の
長径ｂは1〜1.5ｍｍ以上必要である。そこで、コリメー
タレンズ１６を出たレーザ光束１４の短軸方向が寸法1.
5〜2ｍｍであることにより、この寸法がそのままレーザ
光束の長径ｂとして使える。The laser light flux 14 emitted from the laser light source 15 and once made parallel by the collimator lens 16
The cross-sectional shape of (see Fig. 2) is elliptical, and if the range of the intensity of 13.5% of the light intensity of the central portion is defined as the beam size, the dimension in the major axis direction is generally 3 to 4 mm, and the short dimension is short. The axial dimension is 1.5-2 mm. The size of the still image capturing area 52 is determined based on the particle size distribution in the sample liquid and the measurement system. For example, when an image with a side of 250 μm is to be obtained, the size of the still image capturing region 52 is around the range 53 of the sample liquid flow 110. In order to obtain a sufficient intensity without decreasing the scattered light intensity, the major axis b of the laser beam at the focusing position 51 needs to be 1 to 1.5 mm or more. Therefore, the direction of the short axis of the laser beam 14 that has exited the collimator lens 16 is dimension 1.
Since it is 5 to 2 mm, this dimension can be used as it is as the major axis b of the laser beam.
【００４７】一方、粒子検出位置において微小な粒子を
十分な散乱強度で検出を行うためには、集束位置５１の
レーザ光束の短径ｃは数10μｍ以下にしなければならな
い。シリンドリカルレンズ１７（図２参照）はこのため
に使用されるものであって、コリメータレンズ１６を出
たレーザ光束１４の長軸方向の寸法のみを数10μｍ以下
に集束させる。シリンドリカルレンズ１７の焦点距離
は、必要とする集束位置５１のレーザ光束の短径ｃの寸
法に基づいて決められる。On the other hand, in order to detect fine particles with sufficient scattering intensity at the particle detection position, the minor axis c of the laser beam at the focusing position 51 must be several tens of μm or less. The cylindrical lens 17 (see FIG. 2) is used for this purpose, and focuses only the dimension of the laser light flux 14 emitted from the collimator lens 16 in the major axis direction to several tens of μm or less. The focal length of the cylindrical lens 17 is determined based on the size of the short diameter c of the laser light flux at the required focusing position 51.
【００４８】次に、上記通常の静止画像の撮像に先立っ
て行われる装置調整の際の動作を説明する。装置調整の
際には、フラッシュランプ制御回路２３及びフラッシュ
ランプ駆動回路１ａの作動を停止し、フラッシュランプ
１を発光させない。レーザ光源１５を出てフローセル１
００内のサンプル液流れ１１０上に照射されたレーザ光
は、粒子によって散乱され、顕微鏡対物レンズ５で集光
され、ＴＶカメラ８の撮像面上に取り込まれる。そし
て、通常の静止画像の撮像動作と同様に、ＴＶカメラ８
に取り込まれた画像情報のうち静止画像取り込み領域に
属する画像情報が電気信号に変換され、一旦画像メモリ
２４に記憶された後、モニター１１上に静止画像として
表示される。また、上記静止画像以外の画像、即ちＴＶ
カメラ８に取り込まれた画像情報のうち静止画像取り込
み領域以外の画像もモニター１１上に表示される。従っ
て、モニター１１上の静止画像取り込み領域内には静止
画像が、その外側には上記領域外の画像がそのまま表示
されることになる。この時、検出光が可視光レーザであ
ることにより、その散乱光像を撮像装置の撮像面に形成
させても装置に与える悪影響は少なく、また安全であ
る。Next, a description will be given of the operation at the time of device adjustment performed before the above-mentioned normal still image pickup. During the device adjustment, the operations of the flash lamp control circuit 23 and the flash lamp drive circuit 1a are stopped, and the flash lamp 1 is not made to emit light. Exit the laser light source 15 and flow cell 1
The laser light irradiated onto the sample liquid flow 110 in 00 is scattered by the particles, collected by the microscope objective lens 5, and taken into the image pickup surface of the TV camera 8. Then, as in the normal still image capturing operation, the TV camera 8
The image information belonging to the still image capturing area of the image information captured in is converted into an electric signal, stored in the image memory 24 once, and then displayed as a still image on the monitor 11. Also, images other than the above still images, that is, TV
Of the image information captured by the camera 8, images other than the still image capture area are also displayed on the monitor 11. Therefore, the still image is displayed in the still image capturing area on the monitor 11, and the image outside the area is displayed outside the area as it is. At this time, since the detected light is a visible light laser, even if the scattered light image is formed on the image pickup surface of the image pickup apparatus, it has little adverse effect on the apparatus and is safe.
【００４９】例えば、ＴＶカメラ８の全画像取り込み領
域１１ａを1023×738μｍ、静止画像取り込み範囲５２
を一片250μｍの正方形とし、その中心から450μｍ上流
にレーザ光の集束位置５１を定めると図４のような配置
となる。また、図４に示すように、モニター１１上に十
字線６０を設ける。この十字線６０はＴＶカメラ８の全
画像取り込み領域１１ａにおいてよりサンプル液流れ１
１０の上流側に偏った位置に設けられ、その大きさは全
画像取り込み領域１１ａと静止画像取り込み領域５２の
大きさの関係から定められる。そして、その中心位置を
レ−ザ光の集束位置５１に合わせることにより、レーザ
光の照射位置を調整する。この時、サンプル液の流速を
例えば200mm／sとすると、パルスランプ１の発光タイミ
ングは、フラッシュランプ点灯制御回路２３において粒
子検出による電気信号を得てから2.25ms後となる。For example, the total image capturing area 11a of the TV camera 8 is 1023 × 738 μm, and the still image capturing range 52
Is a square of 250 μm, and the laser beam focusing position 51 is determined 450 μm upstream from the center of the square, the arrangement shown in FIG. 4 is obtained. Further, as shown in FIG. 4, a cross line 60 is provided on the monitor 11. The crosshair 60 is formed by the sample liquid flow 1 in the entire image capturing area 11a of the TV camera 8.
It is provided at a position biased to the upstream side of 10, and its size is determined from the relationship between the sizes of the entire image capturing area 11a and the still image capturing area 52. Then, the irradiation position of the laser light is adjusted by matching the center position with the focusing position 51 of the laser light. At this time, if the flow rate of the sample liquid is, for example, 200 mm / s, the light emission timing of the pulse lamp 1 is 2.25 ms after the electric signal by the particle detection is obtained by the flash lamp lighting control circuit 23.
【００５０】図４の配置は通常の粒子画像の撮像を行う
ための配置であるが、装置調整時には、図５に示すよう
にレ−ザ光の集束位置５１、即ち散乱光像が静止画像取
り込み領域５２内に入るように静止画像取り込み領域５
２を移動させる。これにより、表示装置１１上に散乱光
の静止画像を表示することができる。尚、図５は、図４
の寸法条件のもとでは、静止画像取り込み領域５２をサ
ンプル液流れ１１０の上流に400μｍ程度移動させた状
態を示している。また、静止画像取り込み領域５２を移
動させる代わりに、レ−ザ光の集束位置５１が含まれる
ように静止画像取り込み領域５２を拡張してもよい。図
４及び図５では十字線６０の中心位置とレ−ザ光の集束
位置５１とが一致した正しい配置となっているが、一般
には何らかの原因で両者は一致しない。The arrangement shown in FIG. 4 is an arrangement for taking a normal particle image, but when the apparatus is adjusted, as shown in FIG. 5, the focusing position 51 of the laser light, that is, the scattered light image is captured as a still image. Still image capture area 5 so as to enter the area 52
Move 2 As a result, a still image of scattered light can be displayed on the display device 11. In addition, FIG.
Under the dimensional condition of, the still image capturing area 52 is moved to the upstream of the sample liquid flow 110 by about 400 μm. Further, instead of moving the still image capturing area 52, the still image capturing area 52 may be expanded to include the laser light focusing position 51. In FIGS. 4 and 5, the center position of the crosshair 60 and the laser light focusing position 51 are in the correct arrangement, but generally they do not coincide for some reason.
【００５１】以下、この十字線６０の中心位置とレ−ザ
光の集束位置５１との調整について図６により説明す
る。尚、図６では、簡単のため静止画像取り込み領域５
２を省略している。 散乱光の静止画像６１が図６
（ａ）のように表示された場合、その中心位置はサンプ
ル液流れ１１０の下流側にずれている。そこで、散乱光
の静止画像６１の中心、即ち静止画像の光強度の一番強
い場所を十字線６０の中心に一致させる。この際には、
モニタ−１１を見ながらオペレータが反射鏡１８，１９
の角度や位置の調整を行う。一方、散乱光の静止画像６
１が図４（ｂ）のように表示された場合、その中心位置
だけでなくサンプル液流れ１１０の中心位置にもずれが
ある。そこで、上記散乱光の静止画像６１の位置調整と
共にサンプル液流れ１１０の中心位置調整も行う。この
際には、モニタ−１１を見ながらオペレータがサンプル
送液口４０の位置を顕微鏡光軸９に対して移動させ、サ
ンプル液流れ１１０の中心が十字線６０の流れ方向の軸
位置と一致するように調整する。また、サンプル液流れ
１１０の幅の調整も同時に行うことができる。The adjustment of the center position of the cross line 60 and the laser beam focusing position 51 will be described below with reference to FIG. In FIG. 6, the still image capture area 5 is shown for simplicity.
2 is omitted. A still image 61 of scattered light is shown in FIG.
When displayed as (a), the center position is shifted to the downstream side of the sample liquid flow 110. Therefore, the center of the still image 61 of the scattered light, that is, the place where the light intensity of the still image is the strongest is aligned with the center of the cross line 60. In this case,
While watching the monitor-11, the operator reflects the mirrors 18, 19
Adjust the angle and position of. On the other hand, still image 6 of scattered light
When 1 is displayed as shown in FIG. 4B, not only the center position but also the center position of the sample liquid flow 110 is deviated. Therefore, the central position of the sample liquid flow 110 is adjusted together with the position adjustment of the still image 61 of the scattered light. At this time, the operator moves the position of the sample supply port 40 with respect to the microscope optical axis 9 while looking at the monitor 11, and the center of the sample liquid flow 110 coincides with the axial position of the cross line 60 in the flow direction. To adjust. Further, the width of the sample liquid flow 110 can be adjusted at the same time.
【００５２】また、散乱光像の寸法の調整はレーザ光の
焦点位置を調整しビームウエストの位置を移動させるこ
とにより行うことができる。即ち、散乱光の静止画像６
１の寸法が最小となるようにコリメータレンズ１６及び
シリンドリカルレンズ１７を顕微鏡光軸方向に移動させ
焦点位置の調整を行う。さらに、散乱光の静止画像６１
が回転している場合には、シリンドリカルレンズ１７を
回転させ、レ−ザ光を回転させる。以上の調整は、反射
鏡１８及び１９、コリメータレンズ１６及びシリンドリ
カルレンズ１７、サンプル送液口４０等に調整用のつま
みを設けることにより、このつまみで調整することがで
きる。The size of the scattered light image can be adjusted by adjusting the focal position of the laser light and moving the position of the beam waist. That is, a still image 6 of scattered light
The collimator lens 16 and the cylindrical lens 17 are moved in the direction of the optical axis of the microscope so that the size of 1 becomes the minimum, and the focus position is adjusted. Furthermore, a still image 61 of scattered light
If is rotating, the cylindrical lens 17 is rotated to rotate the laser light. The above adjustments can be made by providing the reflecting mirrors 18 and 19, the collimator lens 16, the cylindrical lens 17, the sample liquid supply port 40, and the like with adjusting knobs.
【００５３】以上のようにして調整された散乱光の静止
画像６１は、十字線６０の流れ方向の軸に対しほぼ対称
となり、それ以後はこの散乱光の静止画像６１を見るこ
とにより、レ−ザ光の集束位置５１やレーザ光の焦点位
置、さらにサンプル液流れ１３の位置ずれの判断ができ
る。尚、通常は、モニター１１上に表示される散乱光の
静止画像６１は１フレーム（１ショット）分の画像とす
るが、散乱光強度が弱い場合には、数フレーム分の画像
を加算して表示してもよい。The still image 61 of scattered light adjusted as described above becomes substantially symmetrical with respect to the axis of the cross line 60 in the flow direction. The focus position 51 of the light, the focus position of the laser light, and the positional deviation of the sample liquid flow 13 can be determined. Normally, the still image 61 of scattered light displayed on the monitor 11 is an image for one frame (one shot). However, when the scattered light intensity is weak, images for several frames are added. It may be displayed.
【００５４】次に、図５の静止画像取り込み領域５２内
の静止画像より得られる光学情報による顕微鏡対物レン
ズ５の焦点位置の調整について説明する。まず、図５の
状態において、レーザ光の静止画像より散乱光強度分布
を得る。これは、図１の画像メモリ２４に記憶された散
乱光の静止画像のデータが光学情報回路２６に入力し、
この光学情報回路２６において、散乱光の静止画像の中
心の流れ方向１ライン分の出力データより散乱光強度を
取り出すことにより行われる。このように散乱光の静止
画像の中心の流れ方向の散乱光強度を取り出すのは、レ
ーザ光の中心の光強度が一番強いからである。Next, the adjustment of the focal position of the microscope objective lens 5 based on the optical information obtained from the still image in the still image capturing area 52 of FIG. 5 will be described. First, in the state of FIG. 5, a scattered light intensity distribution is obtained from a still image of laser light. This is because the data of the still image of the scattered light stored in the image memory 24 of FIG. 1 is input to the optical information circuit 26,
This optical information circuit 26 is performed by extracting the scattered light intensity from the output data for one line in the flow direction at the center of the still image of the scattered light. The reason why the scattered light intensity in the flow direction at the center of the still image of the scattered light is extracted is that the light intensity at the center of the laser light is the strongest.
【００５５】このようにして得られた散乱光強度分布の
例を図７に示す。顕微鏡対物レンズ５の焦点位置が正し
い位置である場合には散乱光強度分布は図７（ａ）のよ
うになり、十分大きな光強度が得られる。しかし、図７
（ｂ）や（ｃ）のように光強度が小さくなると顕微鏡対
物レンズ５の焦点位置にずれがあることになる。そこで
この散乱光強度分布をもとにして自動焦点制御回路２７
によって自動的に顕微鏡対物レンズ５を動かしてその焦
点位置のずれの方向を知り、調整を行う。即ち、顕微鏡
対物レンズ５を顕微鏡光軸９（図１参照）の方向に図示
しない移動手段により微小距離移動させ、移動前の散乱
光強度と移動後の散乱光強度とを比較し、移動前の方が
強い場合はその移動方向とは逆方向に移動させて散乱光
強度を比較し、移動後の方が強い場合はその移動方向に
更に移動させて散乱光強度を比較する。この操作を繰り
返すことにより顕微鏡対物レンズ５のずれの方向を知る
ことができ、合焦点情報が得られる。このようにして、
光学情報に基づき顕微鏡対物レンズ５の焦点位置の調整
を自動的に行う。An example of the scattered light intensity distribution thus obtained is shown in FIG. When the focus position of the microscope objective lens 5 is at the correct position, the scattered light intensity distribution is as shown in FIG. 7A, and a sufficiently large light intensity is obtained. However, FIG.
When the light intensity becomes small as shown in (b) and (c), the focus position of the microscope objective lens 5 is deviated. Therefore, based on this scattered light intensity distribution, the automatic focus control circuit 27
Then, the microscope objective lens 5 is automatically moved to know the direction of deviation of the focal position, and adjustment is performed. That is, the microscope objective lens 5 is moved in the direction of the microscope optical axis 9 (see FIG. 1) by a small distance by a moving unit (not shown), the scattered light intensity before the movement is compared with the scattered light intensity after the movement, and If it is stronger, the intensity of scattered light is compared with that in the direction of movement, and the intensity of scattered light is compared. If the intensity after movement is stronger, the intensity of scattered light is further moved and the intensity of scattered light is compared. By repeating this operation, the direction of displacement of the microscope objective lens 5 can be known, and in-focus information can be obtained. In this way
The focus position of the microscope objective lens 5 is automatically adjusted based on the optical information.
【００５６】また、モニター１１の画面上に上記のよう
にして得られた顕微鏡対物レンズ５のずれの方向やレー
ザ光の散乱光強度分布を表示させる。例えば、光の進む
方向を前方向とした時、図５のように顕微鏡光軸９に対
し前方向にずれていれば＋、後方向にずれていれば−を
表示させ、同時に図７ような散乱光強度分布のイメージ
を表示させる。この表示はオペレータにとって装置調整
の参考になる他、顕微鏡対物レンズ５の焦点位置を手動
で調整する場合に役立つ。Further, the deviation direction of the microscope objective lens 5 and the scattered light intensity distribution of the laser light obtained as described above are displayed on the screen of the monitor 11. For example, when the forward direction of the light is the forward direction, as shown in FIG. 5, + is displayed if it is displaced in the forward direction with respect to the optical axis 9 of the microscope, and-is displayed if it is displaced backward. Display an image of the scattered light intensity distribution. This display not only serves as a reference for the operator to adjust the apparatus, but is also useful when the focus position of the microscope objective lens 5 is manually adjusted.
【００５７】また、上記のような自動焦点制御回路２７
による自動的調整を行わない場合には、オペレータがモ
ニター１１の画面上の表示を見ながら顕微鏡対物レンズ
５の焦点位置の調整を行う。その場合はマイクロメータ
付きの調整つまみ等の移動用手段を顕微鏡対物レンズ５
に設けておき、この移動手段により行う。これにより手
動によってもスムーズに調整が行える。Further, the automatic focus control circuit 27 as described above is used.
If the automatic adjustment is not performed by the operator, the operator adjusts the focus position of the microscope objective lens 5 while watching the display on the screen of the monitor 11. In that case, a moving means such as an adjusting knob with a micrometer is used as the microscope objective lens 5.
It is provided in the above and is carried out by this moving means. This allows smooth adjustments manually.
【００５８】装置の調整が完了すると、静止画像取り込
み領域５２を図４のようにもとの位置の戻し、通常の粒
子検出及び粒子画像の撮像が行われる。また、装置調整
時に静止画像取り込み領域５２を拡張した時にはもとの
大きさに縮小する。When the adjustment of the apparatus is completed, the still image capturing area 52 is returned to its original position as shown in FIG. 4, and normal particle detection and particle image capturing are performed. Further, when the still image capturing area 52 is expanded at the time of device adjustment, it is reduced to the original size.
【００５９】さらに、通常の粒子検出及び粒子画像の撮
像が行われている時に何らかの原因でレーザ光の焦点位
置（つまりビーム断面の寸法）や集束位置５１、顕微鏡
対物レンズ５の位置、サンプル液流れ１１０の位置等の
条件がずれた場合には、再び前述のように表示装置上の
散乱光像や静止画像をもとにして調整をやり直せばよ
く、容易に条件のずれを修正することが可能である。Further, during normal particle detection and particle image pickup, the focus position (that is, the dimension of the beam cross section) of the laser beam, the focusing position 51, the position of the microscope objective lens 5, the sample liquid flow, etc. When the conditions such as the position of 110 are deviated, the adjustment can be performed again based on the scattered light image or the still image on the display device as described above, and the deviation of the conditions can be easily corrected. Is.
【００６０】また、通常の粒子検出においては、サンプ
ル液中の粒子濃度が薄い場合が多く粒子の粒径にもばら
つきがあるため、その散乱光像はレーザ光束の一部が明
るい像や、全体は明るいがむらのある散乱光像となるこ
とが多い。従って、装置調整中においては、粒径の揃っ
た粒子を含む適当な濃度のサンプル液を流すことによ
り、一様な強度で十分な散乱光像が得られる。さらに、
散乱光強度の最も強い位置や散乱のパターンから調整ず
れの箇所やずれの程度を判断することも可能であり、調
整がスムーズに行え、調整にともなう分析中断の時間も
短縮される。In normal particle detection, the particle concentration in the sample solution is often low, and the particle size of the particles also varies. Often has a bright but uneven scattered light image. Therefore, during the adjustment of the apparatus, a sufficient scattered light image can be obtained with a uniform intensity by flowing a sample liquid having an appropriate concentration containing particles having a uniform particle size. further,
It is also possible to determine the location of the adjustment deviation and the degree of the deviation from the position of the strongest scattered light intensity or the scattering pattern, and the adjustment can be performed smoothly, and the analysis interruption time associated with the adjustment can be shortened.
【００６１】以上のようの本実施例によれば、装置調整
時にレーザ光の散乱光の静止画像を撮像し、モニター１
１に表示させるので、レーザ光の焦点位置及び集束位
置、並びにサンプル液流れ１１０の位置の調整を十字線
６０を用いて容易に行うことができる。また、この静止
画像を解析して検出光の散乱光強度分布や顕微鏡対物レ
ンズ５の合焦点情報等の光学情報を得ることができ、こ
の光学情報に基づいて自動的に顕微鏡対物レンズ５の焦
点位置の調整を行うことができる。さらに、モニター１
１上に上記光学情報を表示させるので、これをもとにし
て顕微鏡対物レンズ５の焦点位置の調整を手動で行うこ
とができる。According to the present embodiment as described above, a still image of the scattered light of the laser light is picked up when the device is adjusted, and the monitor 1 is displayed.
Since it is displayed on the screen No. 1, it is possible to easily adjust the focal position and the focusing position of the laser light and the position of the sample liquid flow 110 by using the crosshairs 60. Further, it is possible to analyze the still image to obtain optical information such as the scattered light intensity distribution of the detected light and the focus information of the microscope objective lens 5, and the focus of the microscope objective lens 5 is automatically obtained based on this optical information. The position can be adjusted. In addition, monitor 1
Since the optical information is displayed on the display 1, the focus position of the microscope objective lens 5 can be manually adjusted based on this.
【００６２】また、通常の粒子検出及び粒子画像の撮像
が行われている時に何らかの原因でレーザ光の焦点位置
や集束位置５１、顕微鏡対物レンズ５の位置、サンプル
液流れ１１０の位置等の条件がずれた場合には、再び前
述のように表示装置上の散乱光像や静止画像をもとにし
て調整をやり直せばよく、容易に条件のずれを修正する
ことが可能である。Further, during normal particle detection and particle image pickup, conditions such as the focus position of the laser beam, the focusing position 51, the position of the microscope objective lens 5, the position of the sample liquid flow 110, etc. are caused for some reason. If there is a deviation, the adjustment can be performed again based on the scattered light image or the still image on the display device as described above, and the deviation of the condition can be easily corrected.
【００６３】また、装置調整中に粒径の揃った粒子を含
むサンプル液をフローセル１００に流すことにより、一
様な強度で十分な散乱光像が得られる。By flowing a sample solution containing particles having a uniform particle size into the flow cell 100 during the adjustment of the apparatus, a sufficient scattered light image can be obtained with a uniform intensity.
【００６４】また、レーザ光源１５より発する検出光を
可視光レーザとすることにより、この可視光レーザによ
る散乱光像をＴＶカメラ８の撮像面に形成させても与え
る悪影響は少なく、また安全である。Further, by using a visible light laser as the detection light emitted from the laser light source 15, even if a scattered light image formed by this visible light laser is formed on the image pickup surface of the TV camera 8, there is little adverse effect and it is safe. .
【００６５】尚、レーザ光の焦点位置（つまりビーム断
面の寸法）及び集束位置５１、サンプル液の流れ１１０
の位置の調整は、散乱光の静止画像を用いなくても行う
ことができる。この場合、静止画像取り込み領域５２を
移動または拡張する前に、モニター１１上の散乱光像を
見ながら、オペレータが手動で調整を行う。The focus position of the laser beam (that is, the dimension of the beam cross section) and the focusing position 51, the flow 110 of the sample liquid
The position of can be adjusted without using a still image of scattered light. In this case, before moving or expanding the still image capturing area 52, the operator manually adjusts while looking at the scattered light image on the monitor 11.
【００６６】[0066]
【発明の効果】本発明によれば、散乱光像を表示装置上
に表示するので、この散乱光像に基づいて検出光の焦点
位置及び照射位置、並びにサンプル液の流れの位置の調
整を行うことができる。According to the present invention, since the scattered light image is displayed on the display device, the focus position and irradiation position of the detection light and the position of the flow of the sample liquid are adjusted based on the scattered light image. be able to.
【００６７】また、散乱光の静止画像を撮像するので、
これを解析して検出光の散乱光強度分布及び対物レンズ
の合焦点情報等の光学情報を得ることができる。また、
この光学情報をもとに自動的に対物レンズ焦点位置の調
整を行うことができる。さらに、表示装置上に静止画像
及び上記光学情報を表示するので、この表示をもとにし
て手動で検出光の焦点位置及び照射位置、対物レンズ焦
点位置、さらにはサンプル液の流れの位置の調整を行う
ことができる。Since a still image of scattered light is taken,
By analyzing this, it is possible to obtain optical information such as the scattered light intensity distribution of the detected light and the focus information of the objective lens. Also,
The focus position of the objective lens can be automatically adjusted based on this optical information. Further, since the still image and the optical information are displayed on the display device, the focus position and irradiation position of the detection light, the focus position of the objective lens, and the position of the sample liquid flow are manually adjusted based on this display. It can be performed.
【００６８】また、通常の粒子検出及び粒子画像の撮像
が行われている時に装置にずれが生じた場合にも容易に
そのずれを修正することができる。Further, even if a deviation occurs in the apparatus during normal particle detection and particle image pickup, the deviation can be easily corrected.
【００６９】また、装置調整時に粒径の揃った粒子を含
むサンプル液をフローセルに流すので一様な強度で十分
な散乱光像が得られる。Further, since the sample liquid containing particles having a uniform particle size is flown into the flow cell when the apparatus is adjusted, a sufficient scattered light image can be obtained with uniform intensity.
【００７０】また、検出光源より発する検出光を可視光
レーザとするので、装置に与える悪影響を少なくするこ
とができ、また安全である。Further, since the visible light laser is used as the detection light emitted from the detection light source, it is possible to reduce adverse effects on the device and it is safe.
【００７１】従って、本発明によれば、粒子検出系を備
えた粒子分析装置においてその複雑な光学系の構成を変
えることなく、容易に光学系の調整を行える。Therefore, according to the present invention, the optical system can be easily adjusted without changing the complicated configuration of the optical system in the particle analyzer equipped with the particle detecting system.
【図１】本発明による粒子分析装置の一実施例を示す全
体構成図である。FIG. 1 is an overall configuration diagram showing an embodiment of a particle analyzer according to the present invention.
【図２】図１のフローセル近傍の拡大図である。FIG. 2 is an enlarged view of the vicinity of the flow cell of FIG.
【図３】図２のＩＩＩ方向からの矢視図であり、フロー
セルにおける画像取り込み領域と粒子検出位置との関係
を示す図である。FIG. 3 is a view from the direction of the arrow III in FIG. 2, showing the relationship between the image capture area and the particle detection position in the flow cell.
【図４】図１のモニター１１上に表示される画像を示す
図である。4 is a diagram showing an image displayed on the monitor 11 of FIG.
【図５】図４の状態から静止画像取り込み領域をサンプ
ル流れの上流側に移動させた状態を示す図である。5 is a diagram showing a state where the still image capturing area is moved to the upstream side of the sample flow from the state of FIG.
【図６】図４及び図５の十字線による調整について説明
する図であって、（ａ）はレ−ザ光の集束位置の調整を
説明する図であり、（ｂ）はレ−ザ光の集束位置とサン
プル液流れの位置の調整を説明する図である。6A and 6B are views for explaining the adjustment by the crosshairs in FIGS. 4 and 5, in which FIG. 6A is a view for explaining the adjustment of the focusing position of the laser light, and FIG. FIG. 7 is a diagram for explaining the adjustment of the focusing position and the position of the sample liquid flow.
【図７】サンプル液流れ方向の散乱光強度分布を示す図
であって、（ａ）は十分大きな光強度が得られた場合を
示し、（ｂ）及び（ｃ）は光強度が小さい場合を示す。FIG. 7 is a diagram showing a scattered light intensity distribution in the sample liquid flow direction, in which (a) shows a case where a sufficiently large light intensity is obtained, and (b) and (c) show a case where the light intensity is small. Show.
１ フラッシュランプ（パルス光源） １ａ フラッシュランプ駆動回路 ５ 顕微鏡対物レンズ ８ ＴＶカメラ（撮像装置） ９ 顕微鏡光軸（画像撮像光学系１０１の光軸） １１ モニター（表示装置） １１ａ ＴＶカメラの全画像取り込み領域 １４ レーザ光束 １５ レ−ザ光源 １６ コリメ−タレンズ １７ シリンドリカルレンズ １８，１９ 反射鏡 ２０ ハーフミラー ２２ 光検出器 ２３ フラッシュランプ制御回路 ２４ 画像メモリ ２５ 画像処理回路 ２６ 光学情報回路 ２７ 自動焦点制御回路（調整手段） ４０ サンプル送液口 ４１ サンプル液 ５０ 流れの中心 ５１ レ−ザ光束の集束位置 ５２ 静止画像取り込み領域 ６０ 十字線 ６１ 散乱光の静止画像 １００ フロ−セル １１０ サンプル液流れ 1 Flash Lamp (Pulse Light Source) 1a Flash Lamp Drive Circuit 5 Microscope Objective Lens 8 TV Camera (Imaging Device) 9 Microscope Optical Axis (Optical Axis of Image Imaging Optical System 101) 11 Monitor (Display Device) 11a All Images Captured by TV Camera Area 14 Laser beam 15 Laser light source 16 Collimator lens 17 Cylindrical lens 18, 19 Reflector 20 Half mirror 22 Photodetector 23 Flash lamp control circuit 24 Image memory 25 Image processing circuit 26 Optical information circuit 27 Automatic focus control circuit ( Adjusting means) 40 Sample delivery port 41 Sample liquid 50 Center of flow 51 Laser beam focusing position 52 Still image capturing area 60 Crosshair 61 Static image of scattered light 100 Flow cell 110 Sample liquid flow
Claims (13)
ルに流し、検出光源より発する検出光を前記フローセル
に照射し、前記検出光の散乱光により前記粒子が静止画
像取り込み領域を通過することを検出し、その検出に基
づいてパルス光源より発せられるパルス光束を前記フロ
ーセルに照射し、前記フローセルに照射されたパルス光
束を集光レンズにより集光し、このパルス光束に基づく
前記フローセル中の通過粒子の画像を撮像装置により取
り込み、得られた静止画像を画像処理し該サンプル液中
の粒子の分析を行う粒子分析方法において、 前記通過粒子の画像の撮像を行わない装置調整時に、前
記検出光の散乱光を前記集光レンズにより集光して前記
撮像装置により取り込み、その散乱光像を表示装置上に
表示させ、前記散乱光像に基づいて前記検出光の焦点位
置及び照射位置、並びに前記サンプル液の流れの位置の
調整を行うことを特徴とする粒子分析方法。1. A sample solution in which particles are suspended is flown into a flow cell, and the flow cell is irradiated with detection light emitted from a detection light source, and the particles scattered by the detection light pass through the still image capturing area. Detecting, irradiating the flow cell with a pulsed light flux emitted from a pulsed light source based on the detection, condensing the pulsed light flux with which the flow cell is irradiated by a condenser lens, passing particles in the flow cell based on this pulsed light flux In the particle analysis method of capturing an image of an image with an imaging device and performing image processing of the obtained still image to analyze particles in the sample liquid, during the device adjustment not capturing an image of the passing particle, the detection light of The scattered light is collected by the condenser lens and taken in by the imaging device, and the scattered light image is displayed on a display device, and the scattered light image is displayed based on the scattered light image. There are focal position and the irradiation position of the detection light, and particle analyzing method characterized in that the adjustment of the position of the sample liquid flow.
字線を用いて前記検出光の照射位置及び前記サンプル液
の流れの位置の調整を行うことを特徴とする請求項１記
載の粒子分析方法。2. The particle according to claim 1, wherein a cross line is provided on the display device, and the irradiation position of the detection light and the position of the flow of the sample liquid are adjusted by using the cross line. Analysis method.
光の散乱光の静止画像を撮像し、これに基づいて前記検
出光の散乱光強度分布及び前記対物レンズの合焦点情報
等の光学情報を得ることを特徴とする請求項１記載の粒
子分析方法。3. A still image of scattered light of the detection light captured by the imaging device is captured, and optical information such as scattered light intensity distribution of the detection light and focus information of the objective lens is obtained based on the captured still image. The particle analysis method according to claim 1, wherein
光学情報を表示させ、この静止画像及び光学情報によ
り、前記検出光の焦点位置及び照射位置、前記対物レン
ズの焦点位置、並びに前記サンプル液の流れの位置の調
整を行うことを特徴とする請求項３記載の粒子分析方
法。4. The still image and the optical information are displayed on the display device, and the still image and the optical information are used to determine the focus position and irradiation position of the detection light, the focus position of the objective lens, and the sample liquid. 4. The particle analysis method according to claim 3, wherein the position of the flow of the particles is adjusted.
置調整時には、前記散乱光像が前記静止画像取り込み領
域内に入るように前記静止画像取り込み領域を移動さ
せ、前記通過粒子の画像の撮像を行う通常使用時には、
前記散乱光像が前記静止画像取り込み領域上流側の近接
した位置に来るように前記静止画像取り込み領域を移動
させることを特徴とする請求項３または４記載の粒子分
析方法。5. When the device is adjusted so as not to capture an image of the passing particle, the still image capturing area is moved so that the scattered light image is within the still image capturing area, and the image of the passing particle is captured. During normal use,
5. The particle analysis method according to claim 3, wherein the still image capturing area is moved so that the scattered light image comes to a position close to the upstream side of the still image capturing area.
置調整時には、前記散乱光像が前記静止画像取り込み領
域内に入るように前記静止画像取り込み領域を拡張さ
せ、前記通過粒子の画像の撮像を行う通常使用時には、
前記散乱光像が前記静止画像取り込み領域上流側の近接
した位置に来るように前記静止画像取り込み領域を縮小
させることを特徴とする請求項３または４記載の粒子分
析方法。6. When the apparatus is adjusted so as not to capture an image of the passing particles, the still image capturing area is expanded so that the scattered light image falls within the still image capturing area, and an image of the passing particles is captured. During normal use,
5. The particle analysis method according to claim 3, wherein the still image capturing area is reduced so that the scattered light image is located close to the upstream side of the still image capturing area.
置調整時には、前記パルス光源を発光させないことを特
徴とする請求項１から６のうちいずれか１項記載の粒子
分析方法。7. The particle analysis method according to claim 1, wherein the pulsed light source is not caused to emit light when the device is adjusted so that an image of the passing particles is not captured.
置調整時には、粒径の揃った粒子を含むサンプル液を前
記フローセルに流すことを特徴とする請求項１から６の
うちいずれか１項記載の粒子分析方法。8. The sample liquid containing particles having a uniform particle size is caused to flow through the flow cell when the device is adjusted so as not to capture an image of the passing particles. The particle analysis method described.
ーザ光源であることを特徴とする請求項１から８のうち
いずれか１項記載の粒子分析方法。9. The particle analysis method according to claim 1, wherein the detection light source is a laser light source that emits a visible light laser.
れるフローセルと、前記フローセル中の静止画像取り込
み領域に検出光を照射しその散乱光により前記粒子が通
過することを検出する粒子検出光学系と、前記粒子検出
光学系による検出に基づいてパルス光束を前記フローセ
ルに照射するパルス光源、及び前記フローセルからの光
束を集光する集光レンズを有し、前記フローセルからの
光束に基づく通過粒子の静止画像を取り込む画像撮像光
学系と、得られた静止画像を画像処理し該サンプル液中
の粒子の分析を行う画像処理手段とを備える粒子分析装
置において、前記検出光の散乱光像を表示する表示装置
を備えることを特徴とする粒子分析装置。10. A flow cell to which a sample liquid in which particles are suspended is supplied, and particle detection optics for irradiating detection light to a static image capturing area in the flow cell and detecting passage of the particles by the scattered light. System, a pulse light source for irradiating the flow cell with a pulsed light flux based on detection by the particle detection optical system, and a condenser lens for condensing the light flux from the flow cell, and passing particles based on the light flux from the flow cell In the particle analyzer including the image pickup optical system for capturing the still image and the image processing means for image-processing the obtained still image to analyze the particles in the sample liquid, the scattered light image of the detected light is displayed. A particle analysis device, comprising:
行うための十字線を有することを特徴とする請求項１０
記載の粒子分析装置。11. The display device has a crosshair for adjusting the detection light.
The particle analyzer described.
装置調整時に、前記散乱光像の静止画像に基づいて前記
検出光の散乱光強度分布、並びに前記対物レンズの合焦
点情報等の光学情報を得る光学情報手段をさらに備え、
前記表示装置は前記静止画像及び得られた前記光学情報
をも表示することを特徴とする請求項１０記載の粒子分
析装置。12. The optical information such as the scattered light intensity distribution of the detected light and the focus information of the objective lens based on the still image of the scattered light image when adjusting the device that does not capture the image of the passing particle. Further comprising optical information means for obtaining
11. The particle analyzer according to claim 10, wherein the display device also displays the still image and the obtained optical information.
装置調整時に、前記散乱光像の静止画像に基づいて前記
検出光の散乱光強度分布、並びに前記対物レンズの合焦
点情報等の光学情報を得る光学情報手段と、得られた前
記光学情報をもとに前記対物レンズの焦点の調整を自動
的に行う調整手段とをさらに備えることを特徴とする請
求項１１記載の粒子分析装置。13. The optical information such as the scattered light intensity distribution of the detected light and the focus information of the objective lens based on the still image of the scattered light image when adjusting the apparatus that does not capture the image of the passing particles. 12. The particle analysis device according to claim 11, further comprising: an optical information unit for obtaining the above, and an adjusting unit for automatically adjusting the focus of the objective lens based on the obtained optical information.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP5014762A JPH06229904A (en) | 1993-02-01 | 1993-02-01 | Method and apparatus for analyzing particle |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP5014762A JPH06229904A (en) | 1993-02-01 | 1993-02-01 | Method and apparatus for analyzing particle |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH06229904A true JPH06229904A (en) | 1994-08-19 |
Family
ID=11870095
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP5014762A Pending JPH06229904A (en) | 1993-02-01 | 1993-02-01 | Method and apparatus for analyzing particle |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH06229904A (en) |
Cited By (7)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2008111833A (en) * | 2007-10-02 | 2008-05-15 | Toyobo Co Ltd | Apparatus for classifying formed component in urine |
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| JPWO2016063912A1 (en) * | 2014-10-24 | 2017-08-03 | 国立大学法人 東京大学 | Particle detection method, particle detection apparatus and particle detection system |
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| US10670513B2 (en) | 2016-05-17 | 2020-06-02 | Azbil Corporation | Particle detecting device and method for inspecting particle detecting device |
| CN113238388A (en) * | 2021-05-11 | 2021-08-10 | 北京指真生物科技有限公司 | Beam shaping system and method for flow cytometer |
| JP2021535999A (en) * | 2018-08-31 | 2021-12-23 | パーティクル・メージャーリング・システムズ・インコーポレーテッド | Fluid index optimized particle counter |
-
1993
- 1993-02-01 JP JP5014762A patent/JPH06229904A/en active Pending
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