JPH06207963A - プリント基板検査データ作成方法 - Google Patents
プリント基板検査データ作成方法Info
- Publication number
- JPH06207963A JPH06207963A JP5003137A JP313793A JPH06207963A JP H06207963 A JPH06207963 A JP H06207963A JP 5003137 A JP5003137 A JP 5003137A JP 313793 A JP313793 A JP 313793A JP H06207963 A JPH06207963 A JP H06207963A
- Authority
- JP
- Japan
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- data
- probe
- inspection
- net
- point
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- Testing Of Short-Circuits, Discontinuities, Leakage, Or Incorrect Line Connections (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】 電子部品を実装するプリント基板に対し、複
数ロボットと複数のプローブを使用し、導通検査、短絡
検査という電気的検査を行う設備を動かすための基板検
査データの作成において、各ロボットの干渉回避を考慮
した効果的なデータ作成方法を提供する。 【構成】 プリント基板のネットリスト情報を各ネット
単位で分割し各ネット内で基準となるポイントを抽出し
(ステップ#1)、各ネット内で基準のポイントと他の
ポイントのペア情報となる検査情報を作成し(ステップ
#3)、座標値の関係からどのプローブで検査するのか
を割り当て(ステップ#4)、基板検査データを作成す
る。また両面基板対応用に、複数のプローブを同時に動
かし検査可能となるデータに変換する(ステップ#5〜
ステップ#11)。
数ロボットと複数のプローブを使用し、導通検査、短絡
検査という電気的検査を行う設備を動かすための基板検
査データの作成において、各ロボットの干渉回避を考慮
した効果的なデータ作成方法を提供する。 【構成】 プリント基板のネットリスト情報を各ネット
単位で分割し各ネット内で基準となるポイントを抽出し
(ステップ#1)、各ネット内で基準のポイントと他の
ポイントのペア情報となる検査情報を作成し(ステップ
#3)、座標値の関係からどのプローブで検査するのか
を割り当て(ステップ#4)、基板検査データを作成す
る。また両面基板対応用に、複数のプローブを同時に動
かし検査可能となるデータに変換する(ステップ#5〜
ステップ#11)。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、プリント基板の導通,
短絡検査装置で使用する検査データを作成する方法に関
する。
短絡検査装置で使用する検査データを作成する方法に関
する。
【0002】
【従来の技術】複数のXYロボットと各ロボットに付属
するプローブでプリント基板の導通,短絡検査を行なう
プリント基板検査設備で使用する検査データを作成する
従来の方法の一例について図面を参照しながら説明す
る。
するプローブでプリント基板の導通,短絡検査を行なう
プリント基板検査設備で使用する検査データを作成する
従来の方法の一例について図面を参照しながら説明す
る。
【0003】図9は、検査データを作成する従来の手順
を示したフロー図である。まず作業者は基板の設計情報
から、基板上の導通,短絡情報を取り出し(ステップ#
30)、各ロボットの動作範囲から干渉回避を考慮した
動きになるように入手で各ポイントをティーチング作業
で座標値を取り込み(ステップ#31)、プリント基板
検査用のデータを作成していく。
を示したフロー図である。まず作業者は基板の設計情報
から、基板上の導通,短絡情報を取り出し(ステップ#
30)、各ロボットの動作範囲から干渉回避を考慮した
動きになるように入手で各ポイントをティーチング作業
で座標値を取り込み(ステップ#31)、プリント基板
検査用のデータを作成していく。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら上記のよ
うな方法では、複数のロボットがそれぞれに取り付けら
れたプローブを動かして検査するデータを作成するため
には、人間が各ロボットの干渉回避を考慮しながら1ポ
イントずつデータを作成するといった手間のかかる作業
が発生するといった問題点がある。また、作業者の熟練
度により作成する検査データの品質に大きな差があると
いった問題点がある。
うな方法では、複数のロボットがそれぞれに取り付けら
れたプローブを動かして検査するデータを作成するため
には、人間が各ロボットの干渉回避を考慮しながら1ポ
イントずつデータを作成するといった手間のかかる作業
が発生するといった問題点がある。また、作業者の熟練
度により作成する検査データの品質に大きな差があると
いった問題点がある。
【0005】本発明は、人が判断しながら作成するとい
った時間のかかる工程を、コンピュータを使うことによ
り、誰が作成しても干渉回避を考慮した同じ品質のデー
タが効果的に作成できる方法を提供することを目的とす
る。
った時間のかかる工程を、コンピュータを使うことによ
り、誰が作成しても干渉回避を考慮した同じ品質のデー
タが効果的に作成できる方法を提供することを目的とす
る。
【0006】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に本発明の基板検査データの作成方法は、複数のXYロ
ボットとプローブを使用して電子部品を実装するプリン
ト基板の導通検査装置を動作させる検査データの作成方
法であって、プリント基板のネットリスト情報を各ネッ
ト単位で分割する第1工程と、各ネット内で基準となる
ポイントを抽出する第2工程と、各ネット内で基準のポ
イントと他のポイントのペア情報を作成する第3工程
と、座標値の関係からどのプローブで検査するのかを割
り当てる第4工程からなり、XYロボットの干渉回避を
考慮したデータを自動的に作成する特徴と、表側と裏側
にそれぞれ複数のプローブを有し、第4工程後に複数の
プローブを同時に動かせるように検査データを変換する
手順を備えたことを特徴としたプリント基板検査データ
作成方法である。
に本発明の基板検査データの作成方法は、複数のXYロ
ボットとプローブを使用して電子部品を実装するプリン
ト基板の導通検査装置を動作させる検査データの作成方
法であって、プリント基板のネットリスト情報を各ネッ
ト単位で分割する第1工程と、各ネット内で基準となる
ポイントを抽出する第2工程と、各ネット内で基準のポ
イントと他のポイントのペア情報を作成する第3工程
と、座標値の関係からどのプローブで検査するのかを割
り当てる第4工程からなり、XYロボットの干渉回避を
考慮したデータを自動的に作成する特徴と、表側と裏側
にそれぞれ複数のプローブを有し、第4工程後に複数の
プローブを同時に動かせるように検査データを変換する
手順を備えたことを特徴としたプリント基板検査データ
作成方法である。
【0007】
【作用】本発明は上記した構成により、まず各ネット内
での検査データ(基準ポイントと他のポイントとの組合
わせデータ)の作成を行ない、次に座標値から使用する
プローブを決定することでプローブ干渉回避が可能にな
り、他のネットのデータと結合させることで容易に1枚
のプリント基板の導通,短絡検査データを作成すること
が可能となり、従来の人手1ポイントずつ座標値を確認
し、各ロボットの干渉回避を行なった検査データを作成
するといった時間のかかる作業工程が不要になり、短時
間で作業者の熟練度に関係なく品質の高いプリント基板
の導通,短絡検査データの作成が可能となる。
での検査データ(基準ポイントと他のポイントとの組合
わせデータ)の作成を行ない、次に座標値から使用する
プローブを決定することでプローブ干渉回避が可能にな
り、他のネットのデータと結合させることで容易に1枚
のプリント基板の導通,短絡検査データを作成すること
が可能となり、従来の人手1ポイントずつ座標値を確認
し、各ロボットの干渉回避を行なった検査データを作成
するといった時間のかかる作業工程が不要になり、短時
間で作業者の熟練度に関係なく品質の高いプリント基板
の導通,短絡検査データの作成が可能となる。
【0008】
【実施例】実施例を説明する前に、本発明の基板検査デ
ータ作成方法で作成した基板検査データで動作する基板
検査機について説明する。図6は基板検査機の外観図で
ある。17は基板表面を検査するプローブを動かすXY
ロボット、18は基板表面プローブコンタクトユニッ
ト、19は基板裏面を検査するプローブを動かすXYロ
ボット、20は基板裏面プローブコンタクトユニット、
21は基板保持部である。プローブコンタクトユニット
の先にはプローブが取り付けられている。基板を基板保
持部に取り付けた後、設備を制御するコンピュータから
検査スタートの信号が送られると、上下にある各XYロ
ボットがそれぞれに取り付けてある4つのプローブを同
時に動かしプリント基板に接触させ電気を流すことによ
り導通,短絡の基板検査を実行するものである。以下に
記述する実施例の中に出てくるプローブ番号は、図7に
示すように、22をプローブ1、23をプローブ2、2
4をプローブ3、25をプローブ4と定義した場合のも
のである。
ータ作成方法で作成した基板検査データで動作する基板
検査機について説明する。図6は基板検査機の外観図で
ある。17は基板表面を検査するプローブを動かすXY
ロボット、18は基板表面プローブコンタクトユニッ
ト、19は基板裏面を検査するプローブを動かすXYロ
ボット、20は基板裏面プローブコンタクトユニット、
21は基板保持部である。プローブコンタクトユニット
の先にはプローブが取り付けられている。基板を基板保
持部に取り付けた後、設備を制御するコンピュータから
検査スタートの信号が送られると、上下にある各XYロ
ボットがそれぞれに取り付けてある4つのプローブを同
時に動かしプリント基板に接触させ電気を流すことによ
り導通,短絡の基板検査を実行するものである。以下に
記述する実施例の中に出てくるプローブ番号は、図7に
示すように、22をプローブ1、23をプローブ2、2
4をプローブ3、25をプローブ4と定義した場合のも
のである。
【0009】以下に本発明の一実施例を図面を参照しな
がら説明する。図1は、両面基板用の導通,短絡検査デ
ータの一連の作成手順を示したフローチャートである。
まずCADから基板上の結線情報であるネットリストを
出力し(ステップ#1)、コンピュータ内に登録する。
このネットリストには、ネット各称、検査ポイントの存
在する基板面(表,裏)、ピン名称、検査ポイントの座
標値(X,Y)、検査方式(導通検査,短絡検査)の各
情報が登録されている。
がら説明する。図1は、両面基板用の導通,短絡検査デ
ータの一連の作成手順を示したフローチャートである。
まずCADから基板上の結線情報であるネットリストを
出力し(ステップ#1)、コンピュータ内に登録する。
このネットリストには、ネット各称、検査ポイントの存
在する基板面(表,裏)、ピン名称、検査ポイントの座
標値(X,Y)、検査方式(導通検査,短絡検査)の各
情報が登録されている。
【0010】コンピュータ内部では、ネットリスト内を
ネット単位で分割し、更に各ネット内で表面のポイント
と裏面のポイントに分割し、それぞれの中の導通検査ポ
イントで最もX座標値の小さいもの(X座標値が同じ場
合はY座標値の小さいもの)を基準ポイントとして抽出
(ステップ#2)。図2は基準ポイントを抽出する具体
例である。1はネットリスト内でネット単位で分割され
た後の状態である。図2では、データを簡略化して記述
しており、左からネット名、基板面、測定ランドのX座
標、Y座標、検査区分(導通:0,短絡:S)のみ表現
している。1の状態から表面に存在する導通検査用のポ
イントデータ内(2)、裏面に存在する導通検査用のポ
イントデータ内(3)、表面に存在する短絡検査用のポ
イントデータ内(4)、裏面に存在する短絡検査用のポ
イントデータ内(5)でそれぞれX座標値による昇順ソ
ートを行う。6はソート結果である。このデータで表面
に存在する導通検査用のポイントでX座標値が最小のも
の(7)と、裏面に存在する導通検査用のポイントでX
座標値が最小のもの(8)を基準ポイントとして抽出す
る。
ネット単位で分割し、更に各ネット内で表面のポイント
と裏面のポイントに分割し、それぞれの中の導通検査ポ
イントで最もX座標値の小さいもの(X座標値が同じ場
合はY座標値の小さいもの)を基準ポイントとして抽出
(ステップ#2)。図2は基準ポイントを抽出する具体
例である。1はネットリスト内でネット単位で分割され
た後の状態である。図2では、データを簡略化して記述
しており、左からネット名、基板面、測定ランドのX座
標、Y座標、検査区分(導通:0,短絡:S)のみ表現
している。1の状態から表面に存在する導通検査用のポ
イントデータ内(2)、裏面に存在する導通検査用のポ
イントデータ内(3)、表面に存在する短絡検査用のポ
イントデータ内(4)、裏面に存在する短絡検査用のポ
イントデータ内(5)でそれぞれX座標値による昇順ソ
ートを行う。6はソート結果である。このデータで表面
に存在する導通検査用のポイントでX座標値が最小のも
の(7)と、裏面に存在する導通検査用のポイントでX
座標値が最小のもの(8)を基準ポイントとして抽出す
る。
【0011】次に各々のネット内で、抽出した基準ポイ
ントと他のポイントを組合せ検査箇所の情報を作成する
(ステップ#3)。図3は、検査情報作成のフローチャ
ートである。まず、データを1行読み込んだ後(ステッ
プ#12)、前行のネット名と同じかどうかを比較する
(ステップ#13)。新しいネット名の場合、ポイント
が表面のポイントの場合のプローブ1、裏面のポイント
の場合プローブ3とプローブ番号を決定し仮の基準ポイ
ントとする(ステップ#14〜ステップ#18)。同じ
ネット名の場合は、表裏どちらのポイントかによってプ
ローブ番号を決定する。基準ポイントが表面でかつ現在
の読み込み行のポイントが表面の場合プローブ2、基準
ポイントが表面でかつ現在の読み込み行が裏面の場合プ
ローブ3、基準ポイントが裏面でかつ現在の読み込み行
が表面の場合プローブ2、基準ポイントが裏面でかつ現
在の読み込み行が裏面の場合プローブ4に割り付ける
(ステップ#19〜ステップ#28)。但し、前行が表
面のポイントで現在読み込み行のポイントが裏面のポイ
ントの場合は(逆の場合もあり)、基準ポイントデータ
を裏面(または表面)のものに更新している。この処理
は、表面のポイントどおしまたは裏面のポイントどおし
をできるだけペアにすることで4プローブ同時に検査可
能になるようにし、検査動作時間を短くするためであ
る。この処理を最終行まで繰返し(ステップ#29)、
各プローブにポイントを振り分けた検査情報を作成す
る。この一連の動作により導通検査部の干渉回避が考慮
されたデータに変換されることになる。短絡検査部は、
プローブ1とプローブ2に割り付けられた座標値を比較
し、X1>X2ならずX1,Y1とX2,Y2の座標値
を入れ替える。プローブ3とプローブ4も同様に行うこ
とで全検査ポイントの干渉回避が実現できる。具体的な
データによる処理結果を図4に示す。ステップ#2で作
成したデータ(9)より表面の基準ポイントは他の表面
のポイントと組合わせ(10)、裏面の基準ポイントは
裏面のポイントと組合わせるように作成する(11)。
但し導通検査用のポイントが表面から裏面(または裏面
から表面)へとつながっている場合(スルーホール存在
時)は、表面の基準ポイントと裏面の基準ポイントとの
組合わせにする(12)。この一連の処理で検査箇所の
情報が作成される(13)。図3中のXまたはYの後の
数字はプローブ番号を示している。ここで図6に示すよ
うなプローブ番号定義になっている場合、X1の座標値
≦X2の座標値、X3の座標値≦X4の座標値でなけれ
ば各プローブが干渉するため、この条件に合っていない
組合せデータのみX1,Y1座標とX2,Y2座標の入
れ替えまたは、X3,Y3座標とX4,Y4座標の入れ
替えを行う(ステップ#4)。
ントと他のポイントを組合せ検査箇所の情報を作成する
(ステップ#3)。図3は、検査情報作成のフローチャ
ートである。まず、データを1行読み込んだ後(ステッ
プ#12)、前行のネット名と同じかどうかを比較する
(ステップ#13)。新しいネット名の場合、ポイント
が表面のポイントの場合のプローブ1、裏面のポイント
の場合プローブ3とプローブ番号を決定し仮の基準ポイ
ントとする(ステップ#14〜ステップ#18)。同じ
ネット名の場合は、表裏どちらのポイントかによってプ
ローブ番号を決定する。基準ポイントが表面でかつ現在
の読み込み行のポイントが表面の場合プローブ2、基準
ポイントが表面でかつ現在の読み込み行が裏面の場合プ
ローブ3、基準ポイントが裏面でかつ現在の読み込み行
が表面の場合プローブ2、基準ポイントが裏面でかつ現
在の読み込み行が裏面の場合プローブ4に割り付ける
(ステップ#19〜ステップ#28)。但し、前行が表
面のポイントで現在読み込み行のポイントが裏面のポイ
ントの場合は(逆の場合もあり)、基準ポイントデータ
を裏面(または表面)のものに更新している。この処理
は、表面のポイントどおしまたは裏面のポイントどおし
をできるだけペアにすることで4プローブ同時に検査可
能になるようにし、検査動作時間を短くするためであ
る。この処理を最終行まで繰返し(ステップ#29)、
各プローブにポイントを振り分けた検査情報を作成す
る。この一連の動作により導通検査部の干渉回避が考慮
されたデータに変換されることになる。短絡検査部は、
プローブ1とプローブ2に割り付けられた座標値を比較
し、X1>X2ならずX1,Y1とX2,Y2の座標値
を入れ替える。プローブ3とプローブ4も同様に行うこ
とで全検査ポイントの干渉回避が実現できる。具体的な
データによる処理結果を図4に示す。ステップ#2で作
成したデータ(9)より表面の基準ポイントは他の表面
のポイントと組合わせ(10)、裏面の基準ポイントは
裏面のポイントと組合わせるように作成する(11)。
但し導通検査用のポイントが表面から裏面(または裏面
から表面)へとつながっている場合(スルーホール存在
時)は、表面の基準ポイントと裏面の基準ポイントとの
組合わせにする(12)。この一連の処理で検査箇所の
情報が作成される(13)。図3中のXまたはYの後の
数字はプローブ番号を示している。ここで図6に示すよ
うなプローブ番号定義になっている場合、X1の座標値
≦X2の座標値、X3の座標値≦X4の座標値でなけれ
ば各プローブが干渉するため、この条件に合っていない
組合せデータのみX1,Y1座標とX2,Y2座標の入
れ替えまたは、X3,Y3座標とX4,Y4座標の入れ
替えを行う(ステップ#4)。
【0012】上記状態のデータを表面のポイントと表面
のポイントとの組み合わせ、裏面のポイントと裏面のポ
イントとの組み合わせ、表面のポイントと裏面のポイン
トとの組み合わせの3のパターンに分類する(ステップ
#5)。表面のポイントと表面のポイントとの組み合わ
せになったデータと裏面のポイントと裏面のポイントと
の組み合わせになったデータは同時に4つのプローブを
動作させて検査することが可能なため、同時に2箇所
(測定ポイント4箇所)検査可能な検査データ変換する
(ステップ#6)。
のポイントとの組み合わせ、裏面のポイントと裏面のポ
イントとの組み合わせ、表面のポイントと裏面のポイン
トとの組み合わせの3のパターンに分類する(ステップ
#5)。表面のポイントと表面のポイントとの組み合わ
せになったデータと裏面のポイントと裏面のポイントと
の組み合わせになったデータは同時に4つのプローブを
動作させて検査することが可能なため、同時に2箇所
(測定ポイント4箇所)検査可能な検査データ変換する
(ステップ#6)。
【0013】次に表面のポイントと裏面のポイントとの
組み合わせは、表面側のポイントをX座標値を昇順にソ
ート(X座標値が同じところはY座標値昇順ソート)し
中央値を抽出し(ステップ#7)、別々のプローブに振
り分ける(ステップ#8)。同様の処理を裏面側のポイ
ントにも行なう(ステップ#9)。図4は、図1のステ
ップ#7からステップ#9までの内容を示したものであ
る。14は振り分け前のデータ、15は表面、裏面それ
ぞれにおける中央値抽出時の例、16は振り分け後のデ
ータを示す。
組み合わせは、表面側のポイントをX座標値を昇順にソ
ート(X座標値が同じところはY座標値昇順ソート)し
中央値を抽出し(ステップ#7)、別々のプローブに振
り分ける(ステップ#8)。同様の処理を裏面側のポイ
ントにも行なう(ステップ#9)。図4は、図1のステ
ップ#7からステップ#9までの内容を示したものであ
る。14は振り分け前のデータ、15は表面、裏面それ
ぞれにおける中央値抽出時の例、16は振り分け後のデ
ータを示す。
【0014】ステップ#9までの処理でできたデータに
対し、プローブ1とプローブ3の組み合わせとプローブ
2とプローブ4の組み合わせは同時にプローブを動作さ
せることが可能なため、ステップ#6と同様に同時に2
箇所(測定ポイント4箇所)検査する検査データに変換
する。同様にプローブ1プローブ4の組み合わせとプロ
ーブ2とプローブ3の組み合わせも同時に検査可能なデ
ータに変換する(ステップ#10)。ここでステップ#
6、ステップ#10で作成したデータを結合し、基板検
査データを作成する(ステップ#11)。これにより両
面基板を検査する検査データの作成が終了する。図8
は、作成された基板検査データの座標点の軌跡を示して
いる。図中の番号は、移動順に示す。
対し、プローブ1とプローブ3の組み合わせとプローブ
2とプローブ4の組み合わせは同時にプローブを動作さ
せることが可能なため、ステップ#6と同様に同時に2
箇所(測定ポイント4箇所)検査する検査データに変換
する。同様にプローブ1プローブ4の組み合わせとプロ
ーブ2とプローブ3の組み合わせも同時に検査可能なデ
ータに変換する(ステップ#10)。ここでステップ#
6、ステップ#10で作成したデータを結合し、基板検
査データを作成する(ステップ#11)。これにより両
面基板を検査する検査データの作成が終了する。図8
は、作成された基板検査データの座標点の軌跡を示して
いる。図中の番号は、移動順に示す。
【0015】
【発明の効果】以上のように本発明は、CADよりネッ
トリスト情報を受け取り、コンピュータ内部で自動的に
検査ポイントの座標値の関係からプローブを割り付け、
各ロボットの干渉回避を行うプログラムを持たせること
により、ティーチングにより1ポイントずつデータを取
り込み、人間がロボット干渉回避を考慮して検査データ
作成を行うといった時間がかかりミスも発生する工程を
排除し、短時間でデータ作成者による品質の差のない基
板検査データの作成が可能となる。
トリスト情報を受け取り、コンピュータ内部で自動的に
検査ポイントの座標値の関係からプローブを割り付け、
各ロボットの干渉回避を行うプログラムを持たせること
により、ティーチングにより1ポイントずつデータを取
り込み、人間がロボット干渉回避を考慮して検査データ
作成を行うといった時間がかかりミスも発生する工程を
排除し、短時間でデータ作成者による品質の差のない基
板検査データの作成が可能となる。
【図1】本発明の一実施例におけるプリント基板検査デ
ータ作成方法の一実施例を示すフローチャート図
ータ作成方法の一実施例を示すフローチャート図
【図2】本実施例では行っている各ネット内の基準ポイ
ントの抽出方法を示した説明図
ントの抽出方法を示した説明図
【図3】プローブ割り当て方法のフローチャート図
【図4】本実施例で行っている基準ポイントと他のポイ
ントから検査情報を作成する内容を説明した説明図
ントから検査情報を作成する内容を説明した説明図
【図5】本実施例では行っている表面から裏面につなが
っている導通部の検査データの変換内容を説明した説明
図
っている導通部の検査データの変換内容を説明した説明
図
【図6】本実施例で使用している基板検査機の概略斜視
図
図
【図7】本実施例で使用している基板検査機に取り付け
てあるプローブの番号を定義した説明図
てあるプローブの番号を定義した説明図
【図8】本実施例で作成した基板検査データの軌跡図
【図9】基板検査データ作成における従来例を示したフ
ローチャート図
ローチャート図
1,6,9 ネットリスト 17,19 XYロボット 18,20 コンタクトユニット 21 基板保持部 22,23,24 プローブ
Claims (2)
- 【請求項1】 複数のXYロボットとプローブを使用し
て電子部品を実装するプリント基板の導通検査装置を動
作させる検査データの作成方法であって、プリント基板
のネットリスト情報を各ネット単位で分割する第1工程
と、各ネット内で基準となるポイントを抽出する第2工
程と、各ネット内で基準のポイントと他のポイントのペ
ア情報を作成する第3工程と、座標値の関係からどのプ
ローブで検査するのかを割り当てる第4工程からなるプ
リント基板検査データ作成方法。 - 【請求項2】 両面基板に対して、表側と裏側にそれぞ
れ複数のプローブを有し、第4工程後に複数のプローブ
を同時に動かせるように検査データを変換する工程を備
えたことを特徴とする請求項1記載のプリント基板検査
データ作成方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP00313793A JP3191467B2 (ja) | 1993-01-12 | 1993-01-12 | プリント基板検査データ作成方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP00313793A JP3191467B2 (ja) | 1993-01-12 | 1993-01-12 | プリント基板検査データ作成方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH06207963A true JPH06207963A (ja) | 1994-07-26 |
JP3191467B2 JP3191467B2 (ja) | 2001-07-23 |
Family
ID=11548970
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP00313793A Expired - Fee Related JP3191467B2 (ja) | 1993-01-12 | 1993-01-12 | プリント基板検査データ作成方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP3191467B2 (ja) |
Cited By (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2007138831A1 (ja) * | 2006-05-30 | 2007-12-06 | Nidec-Read Corporation | 基板検査方法及び基板検査装置 |
WO2008001651A1 (fr) * | 2006-06-29 | 2008-01-03 | Nidec-Read Corporation | Procédé d'inspection de carte et dispositif d'inspection de carte |
JP2008281406A (ja) * | 2007-05-09 | 2008-11-20 | Nidec-Read Corp | 基板検査装置及び基板検査方法 |
JP2009080061A (ja) * | 2007-09-27 | 2009-04-16 | Hioki Ee Corp | 回路基板検査装置および回路基板検査方法 |
JP2015025693A (ja) * | 2013-07-25 | 2015-02-05 | 日置電機株式会社 | 検査ポイント設定装置、及び基板検査装置 |
JP2017106845A (ja) * | 2015-12-11 | 2017-06-15 | 日置電機株式会社 | データ生成装置およびデータ生成方法 |
CN107064779A (zh) * | 2017-05-26 | 2017-08-18 | 深圳市赛伦北斗科技有限责任公司 | 一种电路板测试方法、装置及*** |
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