JPH06207963A - プリント基板検査データ作成方法 - Google Patents
プリント基板検査データ作成方法Info
- Publication number
- JPH06207963A JPH06207963A JP5003137A JP313793A JPH06207963A JP H06207963 A JPH06207963 A JP H06207963A JP 5003137 A JP5003137 A JP 5003137A JP 313793 A JP313793 A JP 313793A JP H06207963 A JPH06207963 A JP H06207963A
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- Japan
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- Testing Of Short-Circuits, Discontinuities, Leakage, Or Incorrect Line Connections (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】 電子部品を実装するプリント基板に対し、複
数ロボットと複数のプローブを使用し、導通検査、短絡
検査という電気的検査を行う設備を動かすための基板検
査データの作成において、各ロボットの干渉回避を考慮
した効果的なデータ作成方法を提供する。 【構成】 プリント基板のネットリスト情報を各ネット
単位で分割し各ネット内で基準となるポイントを抽出し
（ステップ＃１）、各ネット内で基準のポイントと他の
ポイントのペア情報となる検査情報を作成し（ステップ
＃３）、座標値の関係からどのプローブで検査するのか
を割り当て（ステップ＃４）、基板検査データを作成す
る。また両面基板対応用に、複数のプローブを同時に動
かし検査可能となるデータに変換する（ステップ＃５〜
ステップ＃１１）。
数ロボットと複数のプローブを使用し、導通検査、短絡
検査という電気的検査を行う設備を動かすための基板検
査データの作成において、各ロボットの干渉回避を考慮
した効果的なデータ作成方法を提供する。 【構成】 プリント基板のネットリスト情報を各ネット
単位で分割し各ネット内で基準となるポイントを抽出し
（ステップ＃１）、各ネット内で基準のポイントと他の
ポイントのペア情報となる検査情報を作成し（ステップ
＃３）、座標値の関係からどのプローブで検査するのか
を割り当て（ステップ＃４）、基板検査データを作成す
る。また両面基板対応用に、複数のプローブを同時に動
かし検査可能となるデータに変換する（ステップ＃５〜
ステップ＃１１）。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、プリント基板の導通，
短絡検査装置で使用する検査データを作成する方法に関
する。
短絡検査装置で使用する検査データを作成する方法に関
する。
【０００２】
【従来の技術】複数のＸＹロボットと各ロボットに付属
するプローブでプリント基板の導通，短絡検査を行なう
プリント基板検査設備で使用する検査データを作成する
従来の方法の一例について図面を参照しながら説明す
る。
するプローブでプリント基板の導通，短絡検査を行なう
プリント基板検査設備で使用する検査データを作成する
従来の方法の一例について図面を参照しながら説明す
る。
【０００３】図９は、検査データを作成する従来の手順
を示したフロー図である。まず作業者は基板の設計情報
から、基板上の導通，短絡情報を取り出し（ステップ＃
３０）、各ロボットの動作範囲から干渉回避を考慮した
動きになるように入手で各ポイントをティーチング作業
で座標値を取り込み（ステップ＃３１）、プリント基板
検査用のデータを作成していく。
を示したフロー図である。まず作業者は基板の設計情報
から、基板上の導通，短絡情報を取り出し（ステップ＃
３０）、各ロボットの動作範囲から干渉回避を考慮した
動きになるように入手で各ポイントをティーチング作業
で座標値を取り込み（ステップ＃３１）、プリント基板
検査用のデータを作成していく。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら上記のよ
うな方法では、複数のロボットがそれぞれに取り付けら
れたプローブを動かして検査するデータを作成するため
には、人間が各ロボットの干渉回避を考慮しながら１ポ
イントずつデータを作成するといった手間のかかる作業
が発生するといった問題点がある。また、作業者の熟練
度により作成する検査データの品質に大きな差があると
いった問題点がある。
うな方法では、複数のロボットがそれぞれに取り付けら
れたプローブを動かして検査するデータを作成するため
には、人間が各ロボットの干渉回避を考慮しながら１ポ
イントずつデータを作成するといった手間のかかる作業
が発生するといった問題点がある。また、作業者の熟練
度により作成する検査データの品質に大きな差があると
いった問題点がある。
【０００５】本発明は、人が判断しながら作成するとい
った時間のかかる工程を、コンピュータを使うことによ
り、誰が作成しても干渉回避を考慮した同じ品質のデー
タが効果的に作成できる方法を提供することを目的とす
る。
った時間のかかる工程を、コンピュータを使うことによ
り、誰が作成しても干渉回避を考慮した同じ品質のデー
タが効果的に作成できる方法を提供することを目的とす
る。
【０００６】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に本発明の基板検査データの作成方法は、複数のＸＹロ
ボットとプローブを使用して電子部品を実装するプリン
ト基板の導通検査装置を動作させる検査データの作成方
法であって、プリント基板のネットリスト情報を各ネッ
ト単位で分割する第１工程と、各ネット内で基準となる
ポイントを抽出する第２工程と、各ネット内で基準のポ
イントと他のポイントのペア情報を作成する第３工程
と、座標値の関係からどのプローブで検査するのかを割
り当てる第４工程からなり、ＸＹロボットの干渉回避を
考慮したデータを自動的に作成する特徴と、表側と裏側
にそれぞれ複数のプローブを有し、第４工程後に複数の
プローブを同時に動かせるように検査データを変換する
手順を備えたことを特徴としたプリント基板検査データ
作成方法である。
に本発明の基板検査データの作成方法は、複数のＸＹロ
ボットとプローブを使用して電子部品を実装するプリン
ト基板の導通検査装置を動作させる検査データの作成方
法であって、プリント基板のネットリスト情報を各ネッ
ト単位で分割する第１工程と、各ネット内で基準となる
ポイントを抽出する第２工程と、各ネット内で基準のポ
イントと他のポイントのペア情報を作成する第３工程
と、座標値の関係からどのプローブで検査するのかを割
り当てる第４工程からなり、ＸＹロボットの干渉回避を
考慮したデータを自動的に作成する特徴と、表側と裏側
にそれぞれ複数のプローブを有し、第４工程後に複数の
プローブを同時に動かせるように検査データを変換する
手順を備えたことを特徴としたプリント基板検査データ
作成方法である。
【０００７】
【作用】本発明は上記した構成により、まず各ネット内
での検査データ（基準ポイントと他のポイントとの組合
わせデータ）の作成を行ない、次に座標値から使用する
プローブを決定することでプローブ干渉回避が可能にな
り、他のネットのデータと結合させることで容易に１枚
のプリント基板の導通，短絡検査データを作成すること
が可能となり、従来の人手１ポイントずつ座標値を確認
し、各ロボットの干渉回避を行なった検査データを作成
するといった時間のかかる作業工程が不要になり、短時
間で作業者の熟練度に関係なく品質の高いプリント基板
の導通，短絡検査データの作成が可能となる。
での検査データ（基準ポイントと他のポイントとの組合
わせデータ）の作成を行ない、次に座標値から使用する
プローブを決定することでプローブ干渉回避が可能にな
り、他のネットのデータと結合させることで容易に１枚
のプリント基板の導通，短絡検査データを作成すること
が可能となり、従来の人手１ポイントずつ座標値を確認
し、各ロボットの干渉回避を行なった検査データを作成
するといった時間のかかる作業工程が不要になり、短時
間で作業者の熟練度に関係なく品質の高いプリント基板
の導通，短絡検査データの作成が可能となる。
【０００８】
【実施例】実施例を説明する前に、本発明の基板検査デ
ータ作成方法で作成した基板検査データで動作する基板
検査機について説明する。図６は基板検査機の外観図で
ある。１７は基板表面を検査するプローブを動かすＸＹ
ロボット、１８は基板表面プローブコンタクトユニッ
ト、１９は基板裏面を検査するプローブを動かすＸＹロ
ボット、２０は基板裏面プローブコンタクトユニット、
２１は基板保持部である。プローブコンタクトユニット
の先にはプローブが取り付けられている。基板を基板保
持部に取り付けた後、設備を制御するコンピュータから
検査スタートの信号が送られると、上下にある各ＸＹロ
ボットがそれぞれに取り付けてある４つのプローブを同
時に動かしプリント基板に接触させ電気を流すことによ
り導通，短絡の基板検査を実行するものである。以下に
記述する実施例の中に出てくるプローブ番号は、図７に
示すように、２２をプローブ１、２３をプローブ２、２
４をプローブ３、２５をプローブ４と定義した場合のも
のである。
ータ作成方法で作成した基板検査データで動作する基板
検査機について説明する。図６は基板検査機の外観図で
ある。１７は基板表面を検査するプローブを動かすＸＹ
ロボット、１８は基板表面プローブコンタクトユニッ
ト、１９は基板裏面を検査するプローブを動かすＸＹロ
ボット、２０は基板裏面プローブコンタクトユニット、
２１は基板保持部である。プローブコンタクトユニット
の先にはプローブが取り付けられている。基板を基板保
持部に取り付けた後、設備を制御するコンピュータから
検査スタートの信号が送られると、上下にある各ＸＹロ
ボットがそれぞれに取り付けてある４つのプローブを同
時に動かしプリント基板に接触させ電気を流すことによ
り導通，短絡の基板検査を実行するものである。以下に
記述する実施例の中に出てくるプローブ番号は、図７に
示すように、２２をプローブ１、２３をプローブ２、２
４をプローブ３、２５をプローブ４と定義した場合のも
のである。
【０００９】以下に本発明の一実施例を図面を参照しな
がら説明する。図１は、両面基板用の導通，短絡検査デ
ータの一連の作成手順を示したフローチャートである。
まずＣＡＤから基板上の結線情報であるネットリストを
出力し（ステップ＃１）、コンピュータ内に登録する。
このネットリストには、ネット各称、検査ポイントの存
在する基板面（表，裏）、ピン名称、検査ポイントの座
標値（Ｘ，Ｙ）、検査方式（導通検査，短絡検査）の各
情報が登録されている。
がら説明する。図１は、両面基板用の導通，短絡検査デ
ータの一連の作成手順を示したフローチャートである。
まずＣＡＤから基板上の結線情報であるネットリストを
出力し（ステップ＃１）、コンピュータ内に登録する。
このネットリストには、ネット各称、検査ポイントの存
在する基板面（表，裏）、ピン名称、検査ポイントの座
標値（Ｘ，Ｙ）、検査方式（導通検査，短絡検査）の各
情報が登録されている。
【００１０】コンピュータ内部では、ネットリスト内を
ネット単位で分割し、更に各ネット内で表面のポイント
と裏面のポイントに分割し、それぞれの中の導通検査ポ
イントで最もＸ座標値の小さいもの（Ｘ座標値が同じ場
合はＹ座標値の小さいもの）を基準ポイントとして抽出
（ステップ＃２）。図２は基準ポイントを抽出する具体
例である。１はネットリスト内でネット単位で分割され
た後の状態である。図２では、データを簡略化して記述
しており、左からネット名、基板面、測定ランドのＸ座
標、Ｙ座標、検査区分（導通：０，短絡：Ｓ）のみ表現
している。１の状態から表面に存在する導通検査用のポ
イントデータ内（２）、裏面に存在する導通検査用のポ
イントデータ内（３）、表面に存在する短絡検査用のポ
イントデータ内（４）、裏面に存在する短絡検査用のポ
イントデータ内（５）でそれぞれＸ座標値による昇順ソ
ートを行う。６はソート結果である。このデータで表面
に存在する導通検査用のポイントでＸ座標値が最小のも
の（７）と、裏面に存在する導通検査用のポイントでＸ
座標値が最小のもの（８）を基準ポイントとして抽出す
る。
ネット単位で分割し、更に各ネット内で表面のポイント
と裏面のポイントに分割し、それぞれの中の導通検査ポ
イントで最もＸ座標値の小さいもの（Ｘ座標値が同じ場
合はＹ座標値の小さいもの）を基準ポイントとして抽出
（ステップ＃２）。図２は基準ポイントを抽出する具体
例である。１はネットリスト内でネット単位で分割され
た後の状態である。図２では、データを簡略化して記述
しており、左からネット名、基板面、測定ランドのＸ座
標、Ｙ座標、検査区分（導通：０，短絡：Ｓ）のみ表現
している。１の状態から表面に存在する導通検査用のポ
イントデータ内（２）、裏面に存在する導通検査用のポ
イントデータ内（３）、表面に存在する短絡検査用のポ
イントデータ内（４）、裏面に存在する短絡検査用のポ
イントデータ内（５）でそれぞれＸ座標値による昇順ソ
ートを行う。６はソート結果である。このデータで表面
に存在する導通検査用のポイントでＸ座標値が最小のも
の（７）と、裏面に存在する導通検査用のポイントでＸ
座標値が最小のもの（８）を基準ポイントとして抽出す
る。
【００１１】次に各々のネット内で、抽出した基準ポイ
ントと他のポイントを組合せ検査箇所の情報を作成する
（ステップ＃３）。図３は、検査情報作成のフローチャ
ートである。まず、データを１行読み込んだ後（ステッ
プ＃１２）、前行のネット名と同じかどうかを比較する
（ステップ＃１３）。新しいネット名の場合、ポイント
が表面のポイントの場合のプローブ１、裏面のポイント
の場合プローブ３とプローブ番号を決定し仮の基準ポイ
ントとする（ステップ＃１４〜ステップ＃１８）。同じ
ネット名の場合は、表裏どちらのポイントかによってプ
ローブ番号を決定する。基準ポイントが表面でかつ現在
の読み込み行のポイントが表面の場合プローブ２、基準
ポイントが表面でかつ現在の読み込み行が裏面の場合プ
ローブ３、基準ポイントが裏面でかつ現在の読み込み行
が表面の場合プローブ２、基準ポイントが裏面でかつ現
在の読み込み行が裏面の場合プローブ４に割り付ける
（ステップ＃１９〜ステップ＃２８）。但し、前行が表
面のポイントで現在読み込み行のポイントが裏面のポイ
ントの場合は（逆の場合もあり）、基準ポイントデータ
を裏面（または表面）のものに更新している。この処理
は、表面のポイントどおしまたは裏面のポイントどおし
をできるだけペアにすることで４プローブ同時に検査可
能になるようにし、検査動作時間を短くするためであ
る。この処理を最終行まで繰返し（ステップ＃２９）、
各プローブにポイントを振り分けた検査情報を作成す
る。この一連の動作により導通検査部の干渉回避が考慮
されたデータに変換されることになる。短絡検査部は、
プローブ１とプローブ２に割り付けられた座標値を比較
し、Ｘ１＞Ｘ２ならずＸ１，Ｙ１とＸ２，Ｙ２の座標値
を入れ替える。プローブ３とプローブ４も同様に行うこ
とで全検査ポイントの干渉回避が実現できる。具体的な
データによる処理結果を図４に示す。ステップ＃２で作
成したデータ（９）より表面の基準ポイントは他の表面
のポイントと組合わせ（１０）、裏面の基準ポイントは
裏面のポイントと組合わせるように作成する（１１）。
但し導通検査用のポイントが表面から裏面（または裏面
から表面）へとつながっている場合（スルーホール存在
時）は、表面の基準ポイントと裏面の基準ポイントとの
組合わせにする（１２）。この一連の処理で検査箇所の
情報が作成される（１３）。図３中のＸまたはＹの後の
数字はプローブ番号を示している。ここで図６に示すよ
うなプローブ番号定義になっている場合、Ｘ１の座標値
≦Ｘ２の座標値、Ｘ３の座標値≦Ｘ４の座標値でなけれ
ば各プローブが干渉するため、この条件に合っていない
組合せデータのみＸ１，Ｙ１座標とＸ２，Ｙ２座標の入
れ替えまたは、Ｘ３，Ｙ３座標とＸ４，Ｙ４座標の入れ
替えを行う（ステップ＃４）。
ントと他のポイントを組合せ検査箇所の情報を作成する
（ステップ＃３）。図３は、検査情報作成のフローチャ
ートである。まず、データを１行読み込んだ後（ステッ
プ＃１２）、前行のネット名と同じかどうかを比較する
（ステップ＃１３）。新しいネット名の場合、ポイント
が表面のポイントの場合のプローブ１、裏面のポイント
の場合プローブ３とプローブ番号を決定し仮の基準ポイ
ントとする（ステップ＃１４〜ステップ＃１８）。同じ
ネット名の場合は、表裏どちらのポイントかによってプ
ローブ番号を決定する。基準ポイントが表面でかつ現在
の読み込み行のポイントが表面の場合プローブ２、基準
ポイントが表面でかつ現在の読み込み行が裏面の場合プ
ローブ３、基準ポイントが裏面でかつ現在の読み込み行
が表面の場合プローブ２、基準ポイントが裏面でかつ現
在の読み込み行が裏面の場合プローブ４に割り付ける
（ステップ＃１９〜ステップ＃２８）。但し、前行が表
面のポイントで現在読み込み行のポイントが裏面のポイ
ントの場合は（逆の場合もあり）、基準ポイントデータ
を裏面（または表面）のものに更新している。この処理
は、表面のポイントどおしまたは裏面のポイントどおし
をできるだけペアにすることで４プローブ同時に検査可
能になるようにし、検査動作時間を短くするためであ
る。この処理を最終行まで繰返し（ステップ＃２９）、
各プローブにポイントを振り分けた検査情報を作成す
る。この一連の動作により導通検査部の干渉回避が考慮
されたデータに変換されることになる。短絡検査部は、
プローブ１とプローブ２に割り付けられた座標値を比較
し、Ｘ１＞Ｘ２ならずＸ１，Ｙ１とＸ２，Ｙ２の座標値
を入れ替える。プローブ３とプローブ４も同様に行うこ
とで全検査ポイントの干渉回避が実現できる。具体的な
データによる処理結果を図４に示す。ステップ＃２で作
成したデータ（９）より表面の基準ポイントは他の表面
のポイントと組合わせ（１０）、裏面の基準ポイントは
裏面のポイントと組合わせるように作成する（１１）。
但し導通検査用のポイントが表面から裏面（または裏面
から表面）へとつながっている場合（スルーホール存在
時）は、表面の基準ポイントと裏面の基準ポイントとの
組合わせにする（１２）。この一連の処理で検査箇所の
情報が作成される（１３）。図３中のＸまたはＹの後の
数字はプローブ番号を示している。ここで図６に示すよ
うなプローブ番号定義になっている場合、Ｘ１の座標値
≦Ｘ２の座標値、Ｘ３の座標値≦Ｘ４の座標値でなけれ
ば各プローブが干渉するため、この条件に合っていない
組合せデータのみＸ１，Ｙ１座標とＸ２，Ｙ２座標の入
れ替えまたは、Ｘ３，Ｙ３座標とＸ４，Ｙ４座標の入れ
替えを行う（ステップ＃４）。
【００１２】上記状態のデータを表面のポイントと表面
のポイントとの組み合わせ、裏面のポイントと裏面のポ
イントとの組み合わせ、表面のポイントと裏面のポイン
トとの組み合わせの３のパターンに分類する（ステップ
＃５）。表面のポイントと表面のポイントとの組み合わ
せになったデータと裏面のポイントと裏面のポイントと
の組み合わせになったデータは同時に４つのプローブを
動作させて検査することが可能なため、同時に２箇所
（測定ポイント４箇所）検査可能な検査データ変換する
（ステップ＃６）。
のポイントとの組み合わせ、裏面のポイントと裏面のポ
イントとの組み合わせ、表面のポイントと裏面のポイン
トとの組み合わせの３のパターンに分類する（ステップ
＃５）。表面のポイントと表面のポイントとの組み合わ
せになったデータと裏面のポイントと裏面のポイントと
の組み合わせになったデータは同時に４つのプローブを
動作させて検査することが可能なため、同時に２箇所
（測定ポイント４箇所）検査可能な検査データ変換する
（ステップ＃６）。
【００１３】次に表面のポイントと裏面のポイントとの
組み合わせは、表面側のポイントをＸ座標値を昇順にソ
ート（Ｘ座標値が同じところはＹ座標値昇順ソート）し
中央値を抽出し（ステップ＃７）、別々のプローブに振
り分ける（ステップ＃８）。同様の処理を裏面側のポイ
ントにも行なう（ステップ＃９）。図４は、図１のステ
ップ＃７からステップ＃９までの内容を示したものであ
る。１４は振り分け前のデータ、１５は表面、裏面それ
ぞれにおける中央値抽出時の例、１６は振り分け後のデ
ータを示す。
組み合わせは、表面側のポイントをＸ座標値を昇順にソ
ート（Ｘ座標値が同じところはＹ座標値昇順ソート）し
中央値を抽出し（ステップ＃７）、別々のプローブに振
り分ける（ステップ＃８）。同様の処理を裏面側のポイ
ントにも行なう（ステップ＃９）。図４は、図１のステ
ップ＃７からステップ＃９までの内容を示したものであ
る。１４は振り分け前のデータ、１５は表面、裏面それ
ぞれにおける中央値抽出時の例、１６は振り分け後のデ
ータを示す。
【００１４】ステップ＃９までの処理でできたデータに
対し、プローブ１とプローブ３の組み合わせとプローブ
２とプローブ４の組み合わせは同時にプローブを動作さ
せることが可能なため、ステップ＃６と同様に同時に２
箇所（測定ポイント４箇所）検査する検査データに変換
する。同様にプローブ１プローブ４の組み合わせとプロ
ーブ２とプローブ３の組み合わせも同時に検査可能なデ
ータに変換する（ステップ＃１０）。ここでステップ＃
６、ステップ＃１０で作成したデータを結合し、基板検
査データを作成する（ステップ＃１１）。これにより両
面基板を検査する検査データの作成が終了する。図８
は、作成された基板検査データの座標点の軌跡を示して
いる。図中の番号は、移動順に示す。
対し、プローブ１とプローブ３の組み合わせとプローブ
２とプローブ４の組み合わせは同時にプローブを動作さ
せることが可能なため、ステップ＃６と同様に同時に２
箇所（測定ポイント４箇所）検査する検査データに変換
する。同様にプローブ１プローブ４の組み合わせとプロ
ーブ２とプローブ３の組み合わせも同時に検査可能なデ
ータに変換する（ステップ＃１０）。ここでステップ＃
６、ステップ＃１０で作成したデータを結合し、基板検
査データを作成する（ステップ＃１１）。これにより両
面基板を検査する検査データの作成が終了する。図８
は、作成された基板検査データの座標点の軌跡を示して
いる。図中の番号は、移動順に示す。
【００１５】
【発明の効果】以上のように本発明は、ＣＡＤよりネッ
トリスト情報を受け取り、コンピュータ内部で自動的に
検査ポイントの座標値の関係からプローブを割り付け、
各ロボットの干渉回避を行うプログラムを持たせること
により、ティーチングにより１ポイントずつデータを取
り込み、人間がロボット干渉回避を考慮して検査データ
作成を行うといった時間がかかりミスも発生する工程を
排除し、短時間でデータ作成者による品質の差のない基
板検査データの作成が可能となる。
トリスト情報を受け取り、コンピュータ内部で自動的に
検査ポイントの座標値の関係からプローブを割り付け、
各ロボットの干渉回避を行うプログラムを持たせること
により、ティーチングにより１ポイントずつデータを取
り込み、人間がロボット干渉回避を考慮して検査データ
作成を行うといった時間がかかりミスも発生する工程を
排除し、短時間でデータ作成者による品質の差のない基
板検査データの作成が可能となる。
【図１】本発明の一実施例におけるプリント基板検査デ
ータ作成方法の一実施例を示すフローチャート図
ータ作成方法の一実施例を示すフローチャート図
【図２】本実施例では行っている各ネット内の基準ポイ
ントの抽出方法を示した説明図
ントの抽出方法を示した説明図
【図３】プローブ割り当て方法のフローチャート図
【図４】本実施例で行っている基準ポイントと他のポイ
ントから検査情報を作成する内容を説明した説明図
ントから検査情報を作成する内容を説明した説明図
【図５】本実施例では行っている表面から裏面につなが
っている導通部の検査データの変換内容を説明した説明
図
っている導通部の検査データの変換内容を説明した説明
図
【図６】本実施例で使用している基板検査機の概略斜視
図
図
【図７】本実施例で使用している基板検査機に取り付け
てあるプローブの番号を定義した説明図
てあるプローブの番号を定義した説明図
【図８】本実施例で作成した基板検査データの軌跡図
【図９】基板検査データ作成における従来例を示したフ
ローチャート図
ローチャート図
１，６，９ ネットリスト １７，１９ ＸＹロボット １８，２０ コンタクトユニット ２１ 基板保持部 ２２，２３，２４ プローブ
Claims (2)
- 【請求項１】 複数のＸＹロボットとプローブを使用し
て電子部品を実装するプリント基板の導通検査装置を動
作させる検査データの作成方法であって、プリント基板
のネットリスト情報を各ネット単位で分割する第１工程
と、各ネット内で基準となるポイントを抽出する第２工
程と、各ネット内で基準のポイントと他のポイントのペ
ア情報を作成する第３工程と、座標値の関係からどのプ
ローブで検査するのかを割り当てる第４工程からなるプ
リント基板検査データ作成方法。 - 【請求項２】 両面基板に対して、表側と裏側にそれぞ
れ複数のプローブを有し、第４工程後に複数のプローブ
を同時に動かせるように検査データを変換する工程を備
えたことを特徴とする請求項１記載のプリント基板検査
データ作成方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP00313793A JP3191467B2 (ja) | 1993-01-12 | 1993-01-12 | プリント基板検査データ作成方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP00313793A JP3191467B2 (ja) | 1993-01-12 | 1993-01-12 | プリント基板検査データ作成方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH06207963A true JPH06207963A (ja) | 1994-07-26 |
| JP3191467B2 JP3191467B2 (ja) | 2001-07-23 |
Family
ID=11548970
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP00313793A Expired - Fee Related JP3191467B2 (ja) | 1993-01-12 | 1993-01-12 | プリント基板検査データ作成方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3191467B2 (ja) |
Cited By (8)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2007138831A1 (ja) * | 2006-05-30 | 2007-12-06 | Nidec-Read Corporation | 基板検査方法及び基板検査装置 |
| WO2008001651A1 (fr) * | 2006-06-29 | 2008-01-03 | Nidec-Read Corporation | Procédé d'inspection de carte et dispositif d'inspection de carte |
| JP2008281406A (ja) * | 2007-05-09 | 2008-11-20 | Nidec-Read Corp | 基板検査装置及び基板検査方法 |
| JP2009080061A (ja) * | 2007-09-27 | 2009-04-16 | Hioki Ee Corp | 回路基板検査装置および回路基板検査方法 |
| JP2015025693A (ja) * | 2013-07-25 | 2015-02-05 | 日置電機株式会社 | 検査ポイント設定装置、及び基板検査装置 |
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