JPH06194337A - 高濃度残留塩素測定装置 - Google Patents
高濃度残留塩素測定装置Info
- Publication number
- JPH06194337A JPH06194337A JP4345001A JP34500192A JPH06194337A JP H06194337 A JPH06194337 A JP H06194337A JP 4345001 A JP4345001 A JP 4345001A JP 34500192 A JP34500192 A JP 34500192A JP H06194337 A JPH06194337 A JP H06194337A
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- JP
- Japan
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- pure water
- residual chlorine
- meter
- sample
- sample water
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Abstract
(57)【要約】
【構成】 本発明は、試料水を供給して純水と混合させ
る試料水供給ポンプと、試料水流量計で計測した試料水
流量と純水流量計で計測した純水流量とから混合比を求
める流量比演算回路と、純水と試料水との混合物に含有
される塩素濃度を計測する無試薬残留塩素計と、この無
試薬残留塩素計で計測された塩素濃度に混合比を乗算す
る乗算器とを備えた高濃度残留塩素測定装置である。 【効果】 本発明により、高濃度の塩素が残留している
液の測定濃度を向上させることが可能である。
る試料水供給ポンプと、試料水流量計で計測した試料水
流量と純水流量計で計測した純水流量とから混合比を求
める流量比演算回路と、純水と試料水との混合物に含有
される塩素濃度を計測する無試薬残留塩素計と、この無
試薬残留塩素計で計測された塩素濃度に混合比を乗算す
る乗算器とを備えた高濃度残留塩素測定装置である。 【効果】 本発明により、高濃度の塩素が残留している
液の測定濃度を向上させることが可能である。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は上下水、化学、原子力プ
ラント等で、有試薬残留塩素計を用いて測定している、
残留塩素を無試薬残留塩素計を使用し、試薬なしにて連
続測定する高濃度残留塩素測定装置に関する。
ラント等で、有試薬残留塩素計を用いて測定している、
残留塩素を無試薬残留塩素計を使用し、試薬なしにて連
続測定する高濃度残留塩素測定装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】高濃度残留塩素（４ｍｇ／ｌ以上）を測
定する為に試薬を用い測定する。この場合残留塩素濃度
により試薬を調合しなおし、残留塩素に合った試薬の作
成貯留が必要となる。
定する為に試薬を用い測定する。この場合残留塩素濃度
により試薬を調合しなおし、残留塩素に合った試薬の作
成貯留が必要となる。
【０００３】試薬作成には、一級ヨウ化カリウム、一級
無水酢酸ナトリウム、一級氷酢酸等を残留塩素濃度によ
り、正しく調合しなければならず、又調合した試薬を変
質しない様に正しく管理しなければならない。
無水酢酸ナトリウム、一級氷酢酸等を残留塩素濃度によ
り、正しく調合しなければならず、又調合した試薬を変
質しない様に正しく管理しなければならない。
【０００４】したがって、正しく調合され、かつ変質し
ていない試薬にて測定した時に初めて正しい、残留塩素
が求められる。
ていない試薬にて測定した時に初めて正しい、残留塩素
が求められる。
【０００５】
【発明が解決しようとする課題】従来の高濃度残留塩素
計測定には有試薬残留塩素計を使用する為試薬の調合、
保管が必要となる、試薬調合は数種の試薬を規定数量通
り混合しなければならず、少量の違いでも測定結果に悪
影響する。又、完全に調合した試薬も保管中に変質して
しまいこれも測定結果に悪影響を与える事になる。
計測定には有試薬残留塩素計を使用する為試薬の調合、
保管が必要となる、試薬調合は数種の試薬を規定数量通
り混合しなければならず、少量の違いでも測定結果に悪
影響する。又、完全に調合した試薬も保管中に変質して
しまいこれも測定結果に悪影響を与える事になる。
【０００６】即ち、試薬調合間違いによる測定不良、調
合済みの試薬の変質による測定不良、及び試薬作成・管
理の煩雑さ、などの問題点があった。本発明はこれら試
薬使用時における諸問題を解決する高濃度残留塩素測定
装置を提供する事を目的とする。
合済みの試薬の変質による測定不良、及び試薬作成・管
理の煩雑さ、などの問題点があった。本発明はこれら試
薬使用時における諸問題を解決する高濃度残留塩素測定
装置を提供する事を目的とする。
【０００７】
【課題を解決するための手段】本発明は、純水貯留タン
クに貯留された純水を供給する純水供給ポンプと、この
純水供給ポンプによって供給される純水の流量を計測す
る純水流量計と、試料水を供給して純水供給ポンプで供
給された純水と混合させる試料水供給ポンプと、この試
料水供給ポンプによって供給される試料水の流量を計測
する試料水流量計と、この試料水流量計で計測した試料
水流量と純水流量計で計測した純粋流量とから混合比を
求める流量比演算回路と、純水と前記試料水との混合液
に含有される塩素濃度を計測する無試薬残留塩素計と、
この無試薬残留塩素計で計測された塩素濃度に混合比を
乗算する乗算器と、を具備してなる高濃度残留塩素測定
装置である。
クに貯留された純水を供給する純水供給ポンプと、この
純水供給ポンプによって供給される純水の流量を計測す
る純水流量計と、試料水を供給して純水供給ポンプで供
給された純水と混合させる試料水供給ポンプと、この試
料水供給ポンプによって供給される試料水の流量を計測
する試料水流量計と、この試料水流量計で計測した試料
水流量と純水流量計で計測した純粋流量とから混合比を
求める流量比演算回路と、純水と前記試料水との混合液
に含有される塩素濃度を計測する無試薬残留塩素計と、
この無試薬残留塩素計で計測された塩素濃度に混合比を
乗算する乗算器と、を具備してなる高濃度残留塩素測定
装置である。
【０００８】
【作用】本発明による高濃度残留塩素測定装置において
は、純水貯留タンクに貯留された純水を送出して供給
し、純水供給ポンプによって供給される純水の流量を計
測し、試料水を供給して純水供給ポンプで供給された純
水と混合させ、試料水供給ポンプによって供給される試
料水の流量を計測し、試料水流量計で計測した試料水流
量と純水流量で計測した純水流量とから混合比を求め、
純水と試料水との混合液に含有される塩素濃度を計測
し、無試薬残留塩素計で計測された塩素濃度に混合比を
乗算する。
は、純水貯留タンクに貯留された純水を送出して供給
し、純水供給ポンプによって供給される純水の流量を計
測し、試料水を供給して純水供給ポンプで供給された純
水と混合させ、試料水供給ポンプによって供給される試
料水の流量を計測し、試料水流量計で計測した試料水流
量と純水流量で計測した純水流量とから混合比を求め、
純水と試料水との混合液に含有される塩素濃度を計測
し、無試薬残留塩素計で計測された塩素濃度に混合比を
乗算する。
【０００９】
【実施例】次に本発明の一実施例を説明する。図１にお
いて、２は水道水を水処理して純水を製造する純水装
置、４は純水装置２で製造された純水を貯留する純水貯
留タンク、６は純水貯留タンク４に貯留された純水を送
出して供給する純水供給ポンプ、６ａは純水供給ポンプ
６によって供給される純水の流量を計測する純水流量
計、７は試料水の固形物を濾過して除去するろ過装置、
８はろ過装置７で濾過された試料水を供給して純水供給
ポンプ６で供給された純水と混合させる試料水供給ポン
プ、８ａは試料水供給ポンプ８によって供給される試料
水の流量を計測する試料水流量計、８ｂは試料水流量計
８ａで計測した試料水流量と純水流量計６ａで計測した
純水流量とから混合比を求める流量比演算回路、９は純
水と試料水との混合液に含有される塩素濃度を計測する
無試薬残留塩素計、１０は無試薬残留塩素計９で計測さ
れた塩素濃度に混合比を乗算する乗算器、１１は無試薬
残留塩素計９で計測した塩素濃度が予め定めた塩素濃度
設定値を超過した場合に警報し、純水供給ポンプ６の純
水供給量を調節する警報設定器であり、流入弁を内蔵し
た純水製造装置、活性炭３、純水貯留タンク４、試料水
ろ過装置、純水供給ポンプ６、試料水供給ポンプ８、及
び無試薬残留塩素計９を組合せた高濃度残留塩素測定装
置である。
いて、２は水道水を水処理して純水を製造する純水装
置、４は純水装置２で製造された純水を貯留する純水貯
留タンク、６は純水貯留タンク４に貯留された純水を送
出して供給する純水供給ポンプ、６ａは純水供給ポンプ
６によって供給される純水の流量を計測する純水流量
計、７は試料水の固形物を濾過して除去するろ過装置、
８はろ過装置７で濾過された試料水を供給して純水供給
ポンプ６で供給された純水と混合させる試料水供給ポン
プ、８ａは試料水供給ポンプ８によって供給される試料
水の流量を計測する試料水流量計、８ｂは試料水流量計
８ａで計測した試料水流量と純水流量計６ａで計測した
純水流量とから混合比を求める流量比演算回路、９は純
水と試料水との混合液に含有される塩素濃度を計測する
無試薬残留塩素計、１０は無試薬残留塩素計９で計測さ
れた塩素濃度に混合比を乗算する乗算器、１１は無試薬
残留塩素計９で計測した塩素濃度が予め定めた塩素濃度
設定値を超過した場合に警報し、純水供給ポンプ６の純
水供給量を調節する警報設定器であり、流入弁を内蔵し
た純水製造装置、活性炭３、純水貯留タンク４、試料水
ろ過装置、純水供給ポンプ６、試料水供給ポンプ８、及
び無試薬残留塩素計９を組合せた高濃度残留塩素測定装
置である。
【００１０】そして、残留塩素を連続測定する場合、有
試薬残留塩素計と無試薬残留塩素計とが有り、高濃度残
留塩素（４ｍｇ／ｌ以上）を測定する為には、従来有試
薬残留塩素計を使用しなければならず試薬の調合、保管
に問題が多い。
試薬残留塩素計と無試薬残留塩素計とが有り、高濃度残
留塩素（４ｍｇ／ｌ以上）を測定する為には、従来有試
薬残留塩素計を使用しなければならず試薬の調合、保管
に問題が多い。
【００１１】そこで、残留塩素含入試料水を無試薬残留
塩素計測定可能範囲迄純水にて希釈し、残留塩素計の出
力信号に希釈倍率を乗じて、残留塩素の真値を求める。
塩素計測定可能範囲迄純水にて希釈し、残留塩素計の出
力信号に希釈倍率を乗じて、残留塩素の真値を求める。
【００１２】又、残留塩素真値が４ｍｇ／ｌ以下になっ
た場合、純水での希釈を停止し、試料水のみにて測定す
る。
た場合、純水での希釈を停止し、試料水のみにて測定す
る。
【００１３】上記の測定を行う事により、薬品調合間違
い、試薬変質等による測定不良が防止出来、一つの残留
塩素計にて低濃度残留塩素から、高濃度残留塩素迄幅広
く連続測定可能となる。
い、試薬変質等による測定不良が防止出来、一つの残留
塩素計にて低濃度残留塩素から、高濃度残留塩素迄幅広
く連続測定可能となる。
【００１４】即ち、水道水を純水装置２（逆浸透法、イ
オン交換法等による残留塩素除去装置）を通し、更に活
性炭３による処理を行い、純水貯留タンク４に入れる。
オン交換法等による残留塩素除去装置）を通し、更に活
性炭３による処理を行い、純水貯留タンク４に入れる。
【００１５】純水貯留タンク４内の水を手分析により、
残留塩素含有量を測定し零であれば良とし、塩素分が残
っている場合は乗算器１０内にゲインとして登録し、無
試薬残留塩素計出力１４より減算し残留塩素の真値の計
算を行う。
残留塩素含有量を測定し零であれば良とし、塩素分が残
っている場合は乗算器１０内にゲインとして登録し、無
試薬残留塩素計出力１４より減算し残留塩素の真値の計
算を行う。
【００１６】純水貯留タンク４がある設定水位以上（上
限水位）を越えた場合、レベルスイッチ５にて検出し、
純水装置流入弁１を閉じ、純水装置２への水道水供給を
やめる。また、純水貯留タンク４がある程度水位以下
（下限水位）となった場合、レベルスイッチ５にて検出
し、純水装置流入弁１を開し、純水装置２への水道水供
給を再開する。
限水位）を越えた場合、レベルスイッチ５にて検出し、
純水装置流入弁１を閉じ、純水装置２への水道水供給を
やめる。また、純水貯留タンク４がある程度水位以下
（下限水位）となった場合、レベルスイッチ５にて検出
し、純水装置流入弁１を開し、純水装置２への水道水供
給を再開する。
【００１７】試料水は濾過装置７（不純物質が含入して
いなければ不要）を通して使用する。
いなければ不要）を通して使用する。
【００１８】無試薬残留塩素計９への希釈試料水１６の
量は、無試薬残留塩素計処理能力ＦCLを、試料水残留塩
素分ＴCL等を勘案し、求めると同時に希釈倍率をも決定
し、各ポンプ（試料水供給ポンプ８、純水供給ポンプ
６）の吐出量を導く。
量は、無試薬残留塩素計処理能力ＦCLを、試料水残留塩
素分ＴCL等を勘案し、求めると同時に希釈倍率をも決定
し、各ポンプ（試料水供給ポンプ８、純水供給ポンプ
６）の吐出量を導く。
【００１９】希釈試料水を無試薬残留塩素計９に供給
し、測定する測定結果を出力１４し、その出力信号に対
し希釈倍率純水残留塩素分を乗算減算し、以下の通り、
残留塩素の真値を求める。但し、ＴCLは試料水残留塩
素、ＢCLは無試薬残留塩素計測定上限値、ＦCLは無試薬
残留塩素処理能力、Ｆ2は純水供給ポンプ吐出量、Ｆ1は
試料水供給ポンプ吐出量、Ｆxは希釈倍率、ＭCLは純水
残留塩素、ＩCLは無試薬残留塩素計測定値、ＣＬは真値
である。
し、測定する測定結果を出力１４し、その出力信号に対
し希釈倍率純水残留塩素分を乗算減算し、以下の通り、
残留塩素の真値を求める。但し、ＴCLは試料水残留塩
素、ＢCLは無試薬残留塩素計測定上限値、ＦCLは無試薬
残留塩素処理能力、Ｆ2は純水供給ポンプ吐出量、Ｆ1は
試料水供給ポンプ吐出量、Ｆxは希釈倍率、ＭCLは純水
残留塩素、ＩCLは無試薬残留塩素計測定値、ＣＬは真値
である。
【００２０】数式及び条件を以下に列記する。
【００２１】Ｆx＝ＴCL／ＢCL …（１） Ｆ1＝ＦCL／Ｆx …（２） Ｆ2＝（Ｆx−１）Ｆ1 …（３） ＣＬ＝ＩCL×Ｆx−ＭCL …（４） そして、無試薬残留塩素及び、純水装置にて作られた純
水を利用し、高濃度残留塩素試料水を、純水により希釈
する事で、無試薬残留塩素計でも正確に測定出来、か
つ、試薬作成時及び試薬保管時における変質等による測
定不良を取り除く事ができる。
水を利用し、高濃度残留塩素試料水を、純水により希釈
する事で、無試薬残留塩素計でも正確に測定出来、か
つ、試薬作成時及び試薬保管時における変質等による測
定不良を取り除く事ができる。
【００２２】従来の高濃度残留塩素測定には有試薬残留
塩素計を使用せざるをえなく、どうしても試薬作成時の
試薬混合間違い、及び試薬保管時における変質が起き、
測定不良となったが、本考案の装置では、試薬を必要と
しない為上記問題が解決され、より高精度の測定結果が
もたらされる。又、低濃度から高濃度迄本装置にて測定
可能である。
塩素計を使用せざるをえなく、どうしても試薬作成時の
試薬混合間違い、及び試薬保管時における変質が起き、
測定不良となったが、本考案の装置では、試薬を必要と
しない為上記問題が解決され、より高精度の測定結果が
もたらされる。又、低濃度から高濃度迄本装置にて測定
可能である。
【００２３】
【発明の効果】本発明によれば測定結果に直接影響を与
える試薬を使用せず、低濃度から高濃度迄高い精度で結
果が得られ、かつ試薬作成及び保管の作業を行なわなく
てすむ事により、残留塩素測定を行う全産業で有効に活
用出来る。
える試薬を使用せず、低濃度から高濃度迄高い精度で結
果が得られ、かつ試薬作成及び保管の作業を行なわなく
てすむ事により、残留塩素測定を行う全産業で有効に活
用出来る。
【図１】本発明の一実施例を示す高濃度残留塩素測定装
置の構成図である。
置の構成図である。
６…純水供給ポンプ ８…試料水供給ポンプ ８ｂ…流量比演算回路 １０…乗算器
Claims (1)
- 【請求項１】 純水貯留タンクに貯留された前記純水を
送出して供給する純水供給ポンプと、この純水供給ポン
プによって供給される前記純水の流量を計測する純水流
量計と、試料水を供給して前記純水供給ポンプで供給さ
れた前記純水と混合させる試料水供給ポンプと、この試
料水供給ポンプによって供給される前記試料水の流量を
計測する試料水流量計と、この試料水流量計で計測した
試料水流量と前記純水流量計で計測した純水流量とから
混合比を求める流量比演算回路と、前記純水と前記試料
水との混合液に含有される塩素濃度を計測する無試薬残
留塩素計と、この無試薬残留塩素計で計測された前記塩
素濃度に前記混合比を乗算する乗算器と、を具備してな
る高濃度残留塩素測定装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4345001A JPH06194337A (ja) | 1992-12-25 | 1992-12-25 | 高濃度残留塩素測定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4345001A JPH06194337A (ja) | 1992-12-25 | 1992-12-25 | 高濃度残留塩素測定装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH06194337A true JPH06194337A (ja) | 1994-07-15 |
Family
ID=18373612
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP4345001A Pending JPH06194337A (ja) | 1992-12-25 | 1992-12-25 | 高濃度残留塩素測定装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH06194337A (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2012037291A (ja) * | 2010-08-04 | 2012-02-23 | Sysmex Corp | 試薬調製装置 |
| US8931352B2 (en) | 2012-12-25 | 2015-01-13 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Cleaning quality control system using electromagnetic flow meter, and cleaning quality control method |
| JP2017181348A (ja) * | 2016-03-31 | 2017-10-05 | 日本写真印刷株式会社 | 自動水道水検査装置 |
-
1992
- 1992-12-25 JP JP4345001A patent/JPH06194337A/ja active Pending
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2012037291A (ja) * | 2010-08-04 | 2012-02-23 | Sysmex Corp | 試薬調製装置 |
| US8931352B2 (en) | 2012-12-25 | 2015-01-13 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Cleaning quality control system using electromagnetic flow meter, and cleaning quality control method |
| JP2017181348A (ja) * | 2016-03-31 | 2017-10-05 | 日本写真印刷株式会社 | 自動水道水検査装置 |
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