JPH06180328A - プリント配線板の検査治具 - Google Patents
プリント配線板の検査治具Info
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- JPH06180328A JPH06180328A JP4353671A JP35367192A JPH06180328A JP H06180328 A JPH06180328 A JP H06180328A JP 4353671 A JP4353671 A JP 4353671A JP 35367192 A JP35367192 A JP 35367192A JP H06180328 A JPH06180328 A JP H06180328A
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- coil spring
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- Testing Of Short-Circuits, Discontinuities, Leakage, Or Incorrect Line Connections (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】 配線回路の高密度化に伴うコンタクトピンの
細径化と配列ピッチの狭小化に対応できる検査治具を提
供すること。 【構成】 配線回路と当接させるコンタクトピン10
と,リードワイヤー15と接続したストッパー端子30
と,両者10,30の間に介設して両者を外方に向かっ
て押圧するコイルスプリング20とを有する。ハウジン
グ4は,コンタクトピン10を装着するガイド孔45を
穿設したガイド板41と,ストッパー端子30を収容す
る端子穴47を配設した背面ボード43と,コイルスプ
リング20を収容する挿通穴46を配設したメインボー
ド42とを有している。また,コンタクトピン10とコ
イルスプリング20との間には,中間部材50を介設さ
せる。
細径化と配列ピッチの狭小化に対応できる検査治具を提
供すること。 【構成】 配線回路と当接させるコンタクトピン10
と,リードワイヤー15と接続したストッパー端子30
と,両者10,30の間に介設して両者を外方に向かっ
て押圧するコイルスプリング20とを有する。ハウジン
グ4は,コンタクトピン10を装着するガイド孔45を
穿設したガイド板41と,ストッパー端子30を収容す
る端子穴47を配設した背面ボード43と,コイルスプ
リング20を収容する挿通穴46を配設したメインボー
ド42とを有している。また,コンタクトピン10とコ
イルスプリング20との間には,中間部材50を介設さ
せる。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は,特に高密度配線回路の
検査に対して優れた効果を発揮する,プリント配線板の
検査治具に関する。
検査に対して優れた効果を発揮する,プリント配線板の
検査治具に関する。
【0002】
【従来技術】プリント配線板における配線回路を,電気
導通の有無により検査する方法,及びその装置として
は,種々のものが提案されている(例えば,特公平2−
44035号公報,特開昭56−110060号公
報)。そして,従来用いられている,プリント配線板の
検査治具としては,図6及び図7に示すごとく,プリン
ト配線板7の配線回路75に対して,プローブ9のコン
タクトピン92を当接させることにより,電気導通の有
無を検査するものである。
導通の有無により検査する方法,及びその装置として
は,種々のものが提案されている(例えば,特公平2−
44035号公報,特開昭56−110060号公
報)。そして,従来用いられている,プリント配線板の
検査治具としては,図6及び図7に示すごとく,プリン
ト配線板7の配線回路75に対して,プローブ9のコン
タクトピン92を当接させることにより,電気導通の有
無を検査するものである。
【0003】該検査治具は,プローブの先端のガタツキ
を防止するためのガイド板8と,プローブ9を保持する
ためのピンボード88と,両者を貫通させて装着したプ
ローブ9とよりなる。プローブ9は,図7にも示すごと
く,パイプ状のソケット91とコンタクトピン92とを
有する。ソケット91は,ピンボード88の貫通孔88
1内に挿通固定されている。
を防止するためのガイド板8と,プローブ9を保持する
ためのピンボード88と,両者を貫通させて装着したプ
ローブ9とよりなる。プローブ9は,図7にも示すごと
く,パイプ状のソケット91とコンタクトピン92とを
有する。ソケット91は,ピンボード88の貫通孔88
1内に挿通固定されている。
【0004】一方,コンタクトピン92はガイド板8の
ガイド孔81内に,進退可能に挿通されている。そし
て,コンタクトピン92は,その上部にプランジャー9
20を有する。該プランジャー920は,チューブ25
の内腔内に,スプリングバネ(図示略)を介して,進退
可能に装着されている。
ガイド孔81内に,進退可能に挿通されている。そし
て,コンタクトピン92は,その上部にプランジャー9
20を有する。該プランジャー920は,チューブ25
の内腔内に,スプリングバネ(図示略)を介して,進退
可能に装着されている。
【0005】上記プローブ9の上端は,電気導通を検出
するための検査器に電気的に接続されている。なお,ガ
イド板8は,ソケット91の下端を配置するための凹部
82を有する。また,上記プローブ9は,被検査体とし
てのプリント配線板7の配線回路75の検査用のパッド
に対応した位置に設けてある。また,ガイド板8とピン
ボード88とはノックピン891によって一体的に固定
してある。
するための検査器に電気的に接続されている。なお,ガ
イド板8は,ソケット91の下端を配置するための凹部
82を有する。また,上記プローブ9は,被検査体とし
てのプリント配線板7の配線回路75の検査用のパッド
に対応した位置に設けてある。また,ガイド板8とピン
ボード88とはノックピン891によって一体的に固定
してある。
【0006】そして,配線回路の電気導通の検査に当た
っては,プリント配線板7の上下より,上記ガイド板8
及びピンボード88を下降及び上昇させ,プローブ9の
コンタクトピン92を配線回路75の検査用のコンタク
トピン用パッド(以下省略)に当接させる。このとき,
当該配線回路75が断線又はショートを生じていない場
合には,正常な電気導通が得られる。これにより,各配
線回路75の良否が判定できる。
っては,プリント配線板7の上下より,上記ガイド板8
及びピンボード88を下降及び上昇させ,プローブ9の
コンタクトピン92を配線回路75の検査用のコンタク
トピン用パッド(以下省略)に当接させる。このとき,
当該配線回路75が断線又はショートを生じていない場
合には,正常な電気導通が得られる。これにより,各配
線回路75の良否が判定できる。
【0007】また,上記においてコンタクトピン92の
先端921を配線回路75に当接させた際には,コンタ
クトピン92はガイド板8のガイド孔81に沿ってソケ
ット91側へ後退し,そのプランジャー920がソケッ
ト91内に侵入する。これは,コンタクトピン92の先
端921を保護するためである。なお,図6において,
符号87,886はノックピン891の挿入穴,87
1,885は,位置決めピン892の挿入穴である。
先端921を配線回路75に当接させた際には,コンタ
クトピン92はガイド板8のガイド孔81に沿ってソケ
ット91側へ後退し,そのプランジャー920がソケッ
ト91内に侵入する。これは,コンタクトピン92の先
端921を保護するためである。なお,図6において,
符号87,886はノックピン891の挿入穴,87
1,885は,位置決めピン892の挿入穴である。
【0008】
【解決しようとする課題】しかしながら,上記従来の検
査治具には,次の問題がある。即ち,近年は,プリント
配線板における配線回路の高密度化が進み,配線回路の
端部であるパッドのピッチがますます狭くなっている。
例えば,このピッチは,従来は0.65mm程度であっ
たが,高密度配線回路においては0.2〜0.3mmと
狭くなっている。
査治具には,次の問題がある。即ち,近年は,プリント
配線板における配線回路の高密度化が進み,配線回路の
端部であるパッドのピッチがますます狭くなっている。
例えば,このピッチは,従来は0.65mm程度であっ
たが,高密度配線回路においては0.2〜0.3mmと
狭くなっている。
【0009】そこで,これに対応するため,プローブ9
の配列ピッチを狭くする必要があるため,プローブ自体
の大きさ(直径)も小さくする必要がある。そして,現
在使用されているプローブ9においても,そのソケット
91の外径は約1ミリであり,またコンタクトピン92
の直径は0.5mmと細径である。また,従来の検査治
具においては,検査に当たって,コンタクトピン92の
先端921を直接に配線回路75に当接させている。
の配列ピッチを狭くする必要があるため,プローブ自体
の大きさ(直径)も小さくする必要がある。そして,現
在使用されているプローブ9においても,そのソケット
91の外径は約1ミリであり,またコンタクトピン92
の直径は0.5mmと細径である。また,従来の検査治
具においては,検査に当たって,コンタクトピン92の
先端921を直接に配線回路75に当接させている。
【0010】また,その当接の際には,上記のごとく,
コンタクトピン92がガイド板8のガイド孔81内をス
ライドして後退する。そして,検査後は,コンタクトピ
ン92は,ソケット91内に設けたスプリングバネによ
って,再び元の位置へ突出させられる。そのため,コン
タクトピン92は,検査の度毎にガイド孔81内,及び
ソケット91内を摺動することになる。
コンタクトピン92がガイド板8のガイド孔81内をス
ライドして後退する。そして,検査後は,コンタクトピ
ン92は,ソケット91内に設けたスプリングバネによ
って,再び元の位置へ突出させられる。そのため,コン
タクトピン92は,検査の度毎にガイド孔81内,及び
ソケット91内を摺動することになる。
【0011】それ故,コンタクトピン92が摩耗し易
い。また,この摩耗を防止するためガイド孔81の径,
更にはソケット91の内径を大きくすると,これらの間
のクリアランスが大きくなる。そのため,コンタクトピ
ン92の先端921がガタつき,検査不良を生ずること
がある。
い。また,この摩耗を防止するためガイド孔81の径,
更にはソケット91の内径を大きくすると,これらの間
のクリアランスが大きくなる。そのため,コンタクトピ
ン92の先端921がガタつき,検査不良を生ずること
がある。
【0012】また,コンタクトピン92は,ピンボード
88に固定されたソケット91内に挿入されている。そ
のため,ソケット91とコンタクトピン92とガイド孔
81の軸芯は同一にしなければならない。それ故,上記
ガイド孔81は,細径のコンタクトピン92を円滑にス
ライドさせるために,上記軸芯が一致するように寸法精
度良く,穴明けを行う必要がある。
88に固定されたソケット91内に挿入されている。そ
のため,ソケット91とコンタクトピン92とガイド孔
81の軸芯は同一にしなければならない。それ故,上記
ガイド孔81は,細径のコンタクトピン92を円滑にス
ライドさせるために,上記軸芯が一致するように寸法精
度良く,穴明けを行う必要がある。
【0013】また,コンタクトピン92は,ソケット9
1内とガイド孔81内を,同軸線状にスライドすると共
に,その先端921が配線回路75と直接に当接するた
め,上記軸芯ズレと当接による損傷を受け易い。上記の
ごとく,従来の検査治具においては,配線回路の高密度
化に伴って,特にプローブのコンタクトピン92の細径
化と損傷,ガイド孔81の穴明精度等に問題がある。本
発明はかかる従来の問題点に鑑み,配線回路の高密度化
に伴うガイド孔とコンタクトピンの細径化と配列ピッチ
の狭小化に対応できると共に,コンタクトピンが損傷し
にくいプリント配線板の検査治具を提供しようとするも
のである。
1内とガイド孔81内を,同軸線状にスライドすると共
に,その先端921が配線回路75と直接に当接するた
め,上記軸芯ズレと当接による損傷を受け易い。上記の
ごとく,従来の検査治具においては,配線回路の高密度
化に伴って,特にプローブのコンタクトピン92の細径
化と損傷,ガイド孔81の穴明精度等に問題がある。本
発明はかかる従来の問題点に鑑み,配線回路の高密度化
に伴うガイド孔とコンタクトピンの細径化と配列ピッチ
の狭小化に対応できると共に,コンタクトピンが損傷し
にくいプリント配線板の検査治具を提供しようとするも
のである。
【0014】
【課題の解決手段】本発明は,プリント配線板における
配線回路を電気導通の有無により検査する検査治具であ
って,該検査治具は,上記配線回路と当接させるための
コンタクトピンと,一端をリードワイヤーと接続したス
トッパー端子と,上記コンタクトピンとストッパー端子
との間に介設して両者を外方に押圧するよう付勢された
伸縮自在な導電性のコイルスプリングと,上記各部材を
収納するハウジングとを有しており,上記ハウジング
は,上記コンタクトピンを進退可能に装着するガイド孔
を穿設したガイド板と,上記ストッパー端子を収納する
端子穴を配設した背面ボードと,上記ガイド板と背面ボ
ードとの間に配設され,上記コイルスプリングを収容す
る挿通穴を設けたメインボードとを有しており,かつ,
上記コイルスプリングとコンタクトピンの頭部との間に
は,両者と接触する導電性の中間部材を介設したことを
特徴とするプリント配線板の検査治具にある。
配線回路を電気導通の有無により検査する検査治具であ
って,該検査治具は,上記配線回路と当接させるための
コンタクトピンと,一端をリードワイヤーと接続したス
トッパー端子と,上記コンタクトピンとストッパー端子
との間に介設して両者を外方に押圧するよう付勢された
伸縮自在な導電性のコイルスプリングと,上記各部材を
収納するハウジングとを有しており,上記ハウジング
は,上記コンタクトピンを進退可能に装着するガイド孔
を穿設したガイド板と,上記ストッパー端子を収納する
端子穴を配設した背面ボードと,上記ガイド板と背面ボ
ードとの間に配設され,上記コイルスプリングを収容す
る挿通穴を設けたメインボードとを有しており,かつ,
上記コイルスプリングとコンタクトピンの頭部との間に
は,両者と接触する導電性の中間部材を介設したことを
特徴とするプリント配線板の検査治具にある。
【0015】本発明において最も注目すべきことは,上
記従来例の前記プローブをいわば3つに分割し,コンタ
クトピンとストッパー端子とコイルスプリングとにより
構成したことである。即ち,コンタクトピンを配線回路
に当接させ,一方ストッパー端子をリードワイヤーと接
続し,上記コンタクトピンとストッパー端子との間には
導電性のコイルスプリングを介設させる。そして,上記
コイルスプリングは導電性を有し,かつ伸縮自在であっ
て,上記コンタクトピン及びストッパー端子を外方に向
けて押圧するように付勢されている。
記従来例の前記プローブをいわば3つに分割し,コンタ
クトピンとストッパー端子とコイルスプリングとにより
構成したことである。即ち,コンタクトピンを配線回路
に当接させ,一方ストッパー端子をリードワイヤーと接
続し,上記コンタクトピンとストッパー端子との間には
導電性のコイルスプリングを介設させる。そして,上記
コイルスプリングは導電性を有し,かつ伸縮自在であっ
て,上記コンタクトピン及びストッパー端子を外方に向
けて押圧するように付勢されている。
【0016】また,上記各部材を収納するハウジング
を,コンタクトピンを装着するガイド板と,ストッパー
端子を収容する背面ボードと,コイルスプリングを収容
するメインボードとにより構成した。そして,ガイド板
にはコンタクトピンを進退可能に装着するガイド孔を設
け,背面ボードにはストッパー端子を収容する端子穴を
設け,そしてメインボードにはコイルスプリングを収容
する挿通穴を設けてある。
を,コンタクトピンを装着するガイド板と,ストッパー
端子を収容する背面ボードと,コイルスプリングを収容
するメインボードとにより構成した。そして,ガイド板
にはコンタクトピンを進退可能に装着するガイド孔を設
け,背面ボードにはストッパー端子を収容する端子穴を
設け,そしてメインボードにはコイルスプリングを収容
する挿通穴を設けてある。
【0017】また,上記コイルスプリングとコンタクト
ピンの頭部との間には,両者と接触する導電性の中間部
材を介設してある。なお,上記中間部材は,コイルスプ
リングの内部に挿入される胴部と,コンタクトピンの頭
部と平面接触する底部とよりなることが好ましい。
ピンの頭部との間には,両者と接触する導電性の中間部
材を介設してある。なお,上記中間部材は,コイルスプ
リングの内部に挿入される胴部と,コンタクトピンの頭
部と平面接触する底部とよりなることが好ましい。
【0018】これにより,上記中間部材はその底部がコ
ンタクトピンの頭部と平面接触する。従って,上記中間
部材とコンタクトピンとの電気的な導通は確実である。
また中間部材はコイルスプリングの内部にその胴部を挿
入するよう構成してあり,コイルスプリングとの電気的
な導通も確実である。その結果,中間部材を介してコン
タクトピンとコイルスプリングとの間の電気的接続が安
定的に確保されることになる。
ンタクトピンの頭部と平面接触する。従って,上記中間
部材とコンタクトピンとの電気的な導通は確実である。
また中間部材はコイルスプリングの内部にその胴部を挿
入するよう構成してあり,コイルスプリングとの電気的
な導通も確実である。その結果,中間部材を介してコン
タクトピンとコイルスプリングとの間の電気的接続が安
定的に確保されることになる。
【0019】
【作用及び効果】本発明の検査治具においては,ガイド
板のガイド孔内を進退して配線回路に当接するコンタク
トピンと,電気的導通状態の検出端であるストッパー端
子と,両者の間に介設した導電性のコイルスプリングと
に分割した構成としている。そして,上記コイルスプリ
ングはコンタクトピンとストッパー端子とを外方に向か
って押圧して両者の間を電気的に導通させている。即
ち,コンタクトピンとストッパー端子とコイルスプリン
グは,従来例におけるプローブのように,機械的に一体
化した構造となっていない。
板のガイド孔内を進退して配線回路に当接するコンタク
トピンと,電気的導通状態の検出端であるストッパー端
子と,両者の間に介設した導電性のコイルスプリングと
に分割した構成としている。そして,上記コイルスプリ
ングはコンタクトピンとストッパー端子とを外方に向か
って押圧して両者の間を電気的に導通させている。即
ち,コンタクトピンとストッパー端子とコイルスプリン
グは,従来例におけるプローブのように,機械的に一体
化した構造となっていない。
【0020】そしてストッパー端子とコンタクトピンと
は,コイルスプリングを介して電気的な導通が確保され
ればよい。それ故,コンタクトピンとストッパー端子と
コイルスプリングの相互の位置関係については相互に多
少の軸芯のずれがあっても問題はない。
は,コイルスプリングを介して電気的な導通が確保され
ればよい。それ故,コンタクトピンとストッパー端子と
コイルスプリングの相互の位置関係については相互に多
少の軸芯のずれがあっても問題はない。
【0021】なぜならば,コイルスプリングは可撓性を
有しており,上記3者の間に多少の軸芯の位置ずれがあ
っても,コイルスプリングが両者を押圧するよう付勢さ
れていれば3者が非接触状態となるようなことはなく,
電気的な導通は充分確保できるからである。
有しており,上記3者の間に多少の軸芯の位置ずれがあ
っても,コイルスプリングが両者を押圧するよう付勢さ
れていれば3者が非接触状態となるようなことはなく,
電気的な導通は充分確保できるからである。
【0022】更に,精密加部品であるコンタクトピンと
コイルスプリングとの間に中間部材を介設させることに
より,コンタクトピンとコイルスプリングとの間の電気
的導通をより確実にすることができる。即ち,コイルス
プリングは,螺旋状に形成されており,単にその端部を
コンタクトピンに押圧するだけでは,両者の間の電気的
導通に若干不安が残る。
コイルスプリングとの間に中間部材を介設させることに
より,コンタクトピンとコイルスプリングとの間の電気
的導通をより確実にすることができる。即ち,コイルス
プリングは,螺旋状に形成されており,単にその端部を
コンタクトピンに押圧するだけでは,両者の間の電気的
導通に若干不安が残る。
【0023】しかし,両者の間の中間部材を介設させる
ことによりコンタクトピンとコイルスプリングの間の電
気的接続をより安定化することが可能となる。例えば,
前記のように,中間部材の胴部をコイルスプリングの内
部に挿入させる構造とし,その底部をコンタクトピンと
平面的に接触させるようにすれば,コンタクトピンとコ
イルスプリングとの電気的導通はより確実となる。
ことによりコンタクトピンとコイルスプリングの間の電
気的接続をより安定化することが可能となる。例えば,
前記のように,中間部材の胴部をコイルスプリングの内
部に挿入させる構造とし,その底部をコンタクトピンと
平面的に接触させるようにすれば,コンタクトピンとコ
イルスプリングとの電気的導通はより確実となる。
【0024】上記のように本発明に係る検査治具は,従
来例のようにコンタクトピンを装着するガイド孔と,ス
トッパー端子を収容する端子穴と,コイルスプリングを
収容する挿通穴とはその軸芯を高精度に一致させる必要
がない。従って,ガイド孔と端子穴と挿通穴について従
来例のような高精度の軸芯の位置合わせが不要である。
来例のようにコンタクトピンを装着するガイド孔と,ス
トッパー端子を収容する端子穴と,コイルスプリングを
収容する挿通穴とはその軸芯を高精度に一致させる必要
がない。従って,ガイド孔と端子穴と挿通穴について従
来例のような高精度の軸芯の位置合わせが不要である。
【0025】また,ストッパー端子を端子穴に収容する
場合,両者の間に若干の遊びがあっても,上記3者間の
電気的な導通を危うくすることがない。従って,端子穴
とストッパー端子の形状上の加工精度は比較的粗くてよ
い。また,前記のようにその中心位置のガイド孔との位
置合わせも高精度を要求されない。従って,これらの部
材は,プリント配線板の高密度化への対応,細径化とピ
ッチの狭小化への対応が容易である。
場合,両者の間に若干の遊びがあっても,上記3者間の
電気的な導通を危うくすることがない。従って,端子穴
とストッパー端子の形状上の加工精度は比較的粗くてよ
い。また,前記のようにその中心位置のガイド孔との位
置合わせも高精度を要求されない。従って,これらの部
材は,プリント配線板の高密度化への対応,細径化とピ
ッチの狭小化への対応が容易である。
【0026】同じく,コイルスプリングと挿通穴の関係
についても,両者の間に多少の遊びがあっても問題がな
い。従って,コイルスプリング及びコイルスプリングを
収容する挿通穴についても,形状上の加工精度は比較的
粗くてよい。また,挿通穴に収容されるコイルスプリン
グには,従来例のプローブにおけるソケットのような外
装部材は不要であるから,従来のプローブより細径であ
り挿通穴の細径化は容易である。
についても,両者の間に多少の遊びがあっても問題がな
い。従って,コイルスプリング及びコイルスプリングを
収容する挿通穴についても,形状上の加工精度は比較的
粗くてよい。また,挿通穴に収容されるコイルスプリン
グには,従来例のプローブにおけるソケットのような外
装部材は不要であるから,従来のプローブより細径であ
り挿通穴の細径化は容易である。
【0027】また,中間部材50は,コイルスプリング
30とコンタクトピン10との間に介設され,両者3
0,10の間の電気的導通を確保すればよく,格別高精
度を要する部材ではない(実施例,図2参照)。上記の
ように,これらの部材はいずれもプリント配線板の高密
度化への対応,即ちコンタクトピンの細径化とそのピッ
チの狭小化への対応が容易である。
30とコンタクトピン10との間に介設され,両者3
0,10の間の電気的導通を確保すればよく,格別高精
度を要する部材ではない(実施例,図2参照)。上記の
ように,これらの部材はいずれもプリント配線板の高密
度化への対応,即ちコンタクトピンの細径化とそのピッ
チの狭小化への対応が容易である。
【0028】また,ガイド板のガイド孔の軸芯の穴あけ
は,プリント配線板の配線回路に一致させて穿設すれば
よく,従来のように挿通穴や端子穴との軸芯の位置合わ
せが不要となる。従って,高精度の加工が要求されず穿
設容易でプリント配線板の高密度化への対応が容易とな
る。また,ガイド孔はコンタクトピンのみの円滑スライ
ドを可能とすればよいので細径化が容易であり,またコ
ンタクトピンのガタつきがなくなり,コンタクトピンの
損傷が少なくなる。
は,プリント配線板の配線回路に一致させて穿設すれば
よく,従来のように挿通穴や端子穴との軸芯の位置合わ
せが不要となる。従って,高精度の加工が要求されず穿
設容易でプリント配線板の高密度化への対応が容易とな
る。また,ガイド孔はコンタクトピンのみの円滑スライ
ドを可能とすればよいので細径化が容易であり,またコ
ンタクトピンのガタつきがなくなり,コンタクトピンの
損傷が少なくなる。
【0029】また,コンタクトピンは,配線回路に直接
当接しガイド孔内をスライドするが,従来のプローブの
コンタクトピンのごとく,ガイド孔とプローブのソケッ
ト内の両方を直線状に進退することがないので,軸芯ズ
レ等により損傷を受けることがない。
当接しガイド孔内をスライドするが,従来のプローブの
コンタクトピンのごとく,ガイド孔とプローブのソケッ
ト内の両方を直線状に進退することがないので,軸芯ズ
レ等により損傷を受けることがない。
【0030】また,コンタクトピンは従来のプローブに
おけるコンタクトピンのように,プローブと一体化され
たものではなく,ガイド孔に装着された独立の1部材で
ある。従って,ハウジングからガイド板を分離すれば,
コンタクトピンのガイド板からの取り外しとその交換が
容易である。
おけるコンタクトピンのように,プローブと一体化され
たものではなく,ガイド孔に装着された独立の1部材で
ある。従って,ハウジングからガイド板を分離すれば,
コンタクトピンのガイド板からの取り外しとその交換が
容易である。
【0031】従って摩耗時の交換あるいは,他の検査治
具への再利用が容易である。同様にコイルスプリング
は,メインボードをハウジングから分離すれば,その挿
通穴からの取り外しと交換が容易である。従ってコイル
スプリングも交換や他の検査治具への再利用が容易であ
る。
具への再利用が容易である。同様にコイルスプリング
は,メインボードをハウジングから分離すれば,その挿
通穴からの取り外しと交換が容易である。従ってコイル
スプリングも交換や他の検査治具への再利用が容易であ
る。
【0032】上記のように,本発明の検査治具は,上記
各部材の加工が従来よりも大幅に容易となり,プリント
配線板の高密度化への対応が容易である。また,コンタ
クトピンは損傷しにくくなり,その耐久性が向上すると
共にその交換と再利用が容易となる。同様にコイルスプ
リングについてもその交換と再利用が容易である。従っ
て,本発明によれば,配線回路の高密度化に伴うコンタ
クトピンとガイド孔の細径化と配列ピッチの狭小化に対
応できると共に,コンタクトピンが損傷しにくいプリン
ト配線板の検査治具を提供することができる。
各部材の加工が従来よりも大幅に容易となり,プリント
配線板の高密度化への対応が容易である。また,コンタ
クトピンは損傷しにくくなり,その耐久性が向上すると
共にその交換と再利用が容易となる。同様にコイルスプ
リングについてもその交換と再利用が容易である。従っ
て,本発明によれば,配線回路の高密度化に伴うコンタ
クトピンとガイド孔の細径化と配列ピッチの狭小化に対
応できると共に,コンタクトピンが損傷しにくいプリン
ト配線板の検査治具を提供することができる。
【0033】
【実施例】本発明の実施例にかかる,プリント配線板の
検査治具につき,図1〜図4を用いて説明する。本例の
検査治具1は,図1に示すように,プリント配線板7の
配線回路71と当接させるためのコンタクトピン10
と,一端をリードワイヤー15と接続したストッパー端
子30と,上記コンタクトピン10とストッパー端子3
0との間に介設されて両者を外方に向かって押圧するよ
う付勢された伸縮自在の導電性のコイルスプリング20
と,上記各部材10,20,30を収容するハウジング
4とを有している。
検査治具につき,図1〜図4を用いて説明する。本例の
検査治具1は,図1に示すように,プリント配線板7の
配線回路71と当接させるためのコンタクトピン10
と,一端をリードワイヤー15と接続したストッパー端
子30と,上記コンタクトピン10とストッパー端子3
0との間に介設されて両者を外方に向かって押圧するよ
う付勢された伸縮自在の導電性のコイルスプリング20
と,上記各部材10,20,30を収容するハウジング
4とを有している。
【0034】そして,ハウジング4は,上記コンタクト
ピン10を進退可能に装着したガイド孔45を穿設した
ガイド板41と,上記ストッパー端子30を収容する端
子穴47を配設した背面ボード43と,上記ガイド板4
1と背面ボード43との間に配設され,上記コイルスプ
リング20を収容する挿通穴46とを設けたメインボー
ド42とを有している。
ピン10を進退可能に装着したガイド孔45を穿設した
ガイド板41と,上記ストッパー端子30を収容する端
子穴47を配設した背面ボード43と,上記ガイド板4
1と背面ボード43との間に配設され,上記コイルスプ
リング20を収容する挿通穴46とを設けたメインボー
ド42とを有している。
【0035】また,上記コイルスプリング20とコンタ
クトピン10の頭部11との間には,両者20,11と
接触する導電性の中間部材50を介設させている。そし
て,上記中間部材50は,図2に示すように,コイルス
プリング20の内部に挿入される胴部51と,コンタク
トピン10の頭部11と平面接触する底部52とよりな
る。
クトピン10の頭部11との間には,両者20,11と
接触する導電性の中間部材50を介設させている。そし
て,上記中間部材50は,図2に示すように,コイルス
プリング20の内部に挿入される胴部51と,コンタク
トピン10の頭部11と平面接触する底部52とよりな
る。
【0036】以下順を追って詳説する。本例の検査治具
1は,図1に示すように,ハウジング4の中に多数のコ
ンタクトピン10とコイルスプリング20とストッパー
端子30とを収容している。そして,コンタクトピン1
0とストッパー端子30とは互いにハウジング4の反対
側に配設されており,その中間にコイルスプリング20
が配置されている。
1は,図1に示すように,ハウジング4の中に多数のコ
ンタクトピン10とコイルスプリング20とストッパー
端子30とを収容している。そして,コンタクトピン1
0とストッパー端子30とは互いにハウジング4の反対
側に配設されており,その中間にコイルスプリング20
が配置されている。
【0037】コンタクトピン10は,ハウジング4を構
成するガイド板41に設けたガイド孔45の中に進退可
能に装着されている。そして,コンタクトピン10のピ
ン先101はハウジング4の外部に頭出している。ま
た,コンタクトピン10は,そのピン先101がプリン
ト配線板7の配線回路71の検査用パッドと1対1に対
向するように配設されている。
成するガイド板41に設けたガイド孔45の中に進退可
能に装着されている。そして,コンタクトピン10のピ
ン先101はハウジング4の外部に頭出している。ま
た,コンタクトピン10は,そのピン先101がプリン
ト配線板7の配線回路71の検査用パッドと1対1に対
向するように配設されている。
【0038】コンタクトピン10のピン先101とは反
対側の端部には,図2に示すように,外径が若干大きい
頭部11が形成されている。そして,上記頭部11は,
ガイド孔45と連通しガイド孔45より広い断面積を有
するピンルーム411内に収容されている。
対側の端部には,図2に示すように,外径が若干大きい
頭部11が形成されている。そして,上記頭部11は,
ガイド孔45と連通しガイド孔45より広い断面積を有
するピンルーム411内に収容されている。
【0039】一方,ストッパー端子30は,図1,図2
に示すように,背面ボード43の端子穴47に収容され
ており,該背面ボード43は,ハウジング4における上
記ガイド板41の反対側に設けられている。上記端子穴
47はガイド孔45と1対1に対応して同数だけ形成さ
れている。
に示すように,背面ボード43の端子穴47に収容され
ており,該背面ボード43は,ハウジング4における上
記ガイド板41の反対側に設けられている。上記端子穴
47はガイド孔45と1対1に対応して同数だけ形成さ
れている。
【0040】ストッパー端子30の一端には,リードワ
イヤー15が接続されており,該リードワイヤー15の
他端は,図1に示すように検査器18に接続されてい
る。検査器18は配線回路の良否を判定する演算回路や
表示部181等を有する部分である。
イヤー15が接続されており,該リードワイヤー15の
他端は,図1に示すように検査器18に接続されてい
る。検査器18は配線回路の良否を判定する演算回路や
表示部181等を有する部分である。
【0041】上記端子穴47は,図2に示すようにスト
ッパー端子30本体を収容する端子ルーム471とリー
ドワイヤー15を挿通するワイヤ穴472とからなる。
該ワイヤ穴472はリードワイヤー15を挿通できる大
きさで,かつストッパー端子30の径より小さな径に形
成されている。ストッパー端子30は,図3,図4に示
すように,筒状の端子筒31の中にリードワイヤー15
の先端部151を挿入し,両者を図4のようにかしめて
一体化したものである。
ッパー端子30本体を収容する端子ルーム471とリー
ドワイヤー15を挿通するワイヤ穴472とからなる。
該ワイヤ穴472はリードワイヤー15を挿通できる大
きさで,かつストッパー端子30の径より小さな径に形
成されている。ストッパー端子30は,図3,図4に示
すように,筒状の端子筒31の中にリードワイヤー15
の先端部151を挿入し,両者を図4のようにかしめて
一体化したものである。
【0042】コイルスプリング20は,図1に示すよう
に,挿通穴46中に挿入されており,該挿通穴46はメ
インボード42に穿設されている。そしてメインボード
42は背面ボード43とガイド板41の中間に配設され
ており,上記3者41〜43はノックピン891によっ
て一体化されている。そして,ノックピン891を取り
除くことによって,上記ガイド板41,メインボード4
2及び背面ボード43は容易に分離することができるよ
う形成されている。
に,挿通穴46中に挿入されており,該挿通穴46はメ
インボード42に穿設されている。そしてメインボード
42は背面ボード43とガイド板41の中間に配設され
ており,上記3者41〜43はノックピン891によっ
て一体化されている。そして,ノックピン891を取り
除くことによって,上記ガイド板41,メインボード4
2及び背面ボード43は容易に分離することができるよ
う形成されている。
【0043】コイルスプリング20は,ストッパー端子
30とコンタクトピン10とをそれぞれ外方に向かって
押圧するよう付勢されている。そして図2に示すよう
に,コイルスプリング20の上端部リング202は,ス
トッパー端子30の下面311と当接している。
30とコンタクトピン10とをそれぞれ外方に向かって
押圧するよう付勢されている。そして図2に示すよう
に,コイルスプリング20の上端部リング202は,ス
トッパー端子30の下面311と当接している。
【0044】また,図2に示すように,コイルスプリン
グ20とコンタクトピン10との間には,中間部材50
が介設されている。該中間部材50の上部には円柱状の
胴部51が形成されており,該胴部51はコイルスプリ
ング20の内部に挿入されている。そして,中間部材5
0の下部には,上記胴部51より径の大きい底部52が
形成されている。
グ20とコンタクトピン10との間には,中間部材50
が介設されている。該中間部材50の上部には円柱状の
胴部51が形成されており,該胴部51はコイルスプリ
ング20の内部に挿入されている。そして,中間部材5
0の下部には,上記胴部51より径の大きい底部52が
形成されている。
【0045】該底部52の底面521は平面であり,コ
ンタクトピン10の頭部11上面111と面接触してい
る。また,上記底部52の上面522は,コイルスプリ
ング20の下端部リング201に当接している。
ンタクトピン10の頭部11上面111と面接触してい
る。また,上記底部52の上面522は,コイルスプリ
ング20の下端部リング201に当接している。
【0046】次に,作用効果につき説明する。上下両面
に配線回路71を有するプリント配線板7の配線回路7
1の良否を電気導通により検査するに当たっては,図1
に示すように,各配線回路71に対してハウジング4を
上下方向より接近させ,ガイド板41をプリント配線板
7に対面させる。このとき,両者の当接前(図1上部)
及び当接直後(図1下部)においては,コンタクトピン
10はガイド板41よりも突出した状態にある。
に配線回路71を有するプリント配線板7の配線回路7
1の良否を電気導通により検査するに当たっては,図1
に示すように,各配線回路71に対してハウジング4を
上下方向より接近させ,ガイド板41をプリント配線板
7に対面させる。このとき,両者の当接前(図1上部)
及び当接直後(図1下部)においては,コンタクトピン
10はガイド板41よりも突出した状態にある。
【0047】そして,コンタクトピン10のピン先10
1を配線回路71に押圧する。そうすると,コンタクト
ピン10はコイルスプリング20の付勢力に抗してコイ
ルスプリング20を縮小させながら,ガイド孔45中を
内部に向かって進入する。そして,コンタクトピン10
のピン先101は上記コイルスプリング20の付勢力に
よって配線回路71を押圧し,両者間の電気的導通を確
実にする。
1を配線回路71に押圧する。そうすると,コンタクト
ピン10はコイルスプリング20の付勢力に抗してコイ
ルスプリング20を縮小させながら,ガイド孔45中を
内部に向かって進入する。そして,コンタクトピン10
のピン先101は上記コイルスプリング20の付勢力に
よって配線回路71を押圧し,両者間の電気的導通を確
実にする。
【0048】コンタクトピン10と中間部材50間,中
間部材50とコイルスプリング20間,及びコイルスプ
リング20とストッパー端子30との間も,同様にコイ
ルスプリング20の付勢力により電気的導通が確保され
る。 そして,図1に示すように,ストッパー端子30
に接続されたリードワイヤー15を介して,上記配線回
路71,コンタクトピン10,中間部材50,コイルス
プリング20,ストッパー端子30と検査器18との間
を接続し,配線回路71の良否を判定する。
間部材50とコイルスプリング20間,及びコイルスプ
リング20とストッパー端子30との間も,同様にコイ
ルスプリング20の付勢力により電気的導通が確保され
る。 そして,図1に示すように,ストッパー端子30
に接続されたリードワイヤー15を介して,上記配線回
路71,コンタクトピン10,中間部材50,コイルス
プリング20,ストッパー端子30と検査器18との間
を接続し,配線回路71の良否を判定する。
【0049】また,検査終了後は,ハウジング4をプリ
ント配線板7より遠ざける。そして,コンタクトピン1
0はコイルスプリング20の付勢力により,再びガイド
板41より突出し,元の状態(図1上部)に復元する。
ント配線板7より遠ざける。そして,コンタクトピン1
0はコイルスプリング20の付勢力により,再びガイド
板41より突出し,元の状態(図1上部)に復元する。
【0050】上記のように本例の検査治具1において
は,コンタクトピン10の軸芯と,中間部材50の軸芯
と,コイルスプリング20の中心と,ストッパー端子3
0の中心とは,多少の位置ずれがあっても,それぞれ1
0,50,20,30が当接していれば支障がない(図
5参照)。そのため,ガイド孔45は,プリント配線板
7の配線回路71に一致させて穿設すれば良く,従来例
のような挿通穴46及び端子穴47との高精度の位置合
わせは不要である。
は,コンタクトピン10の軸芯と,中間部材50の軸芯
と,コイルスプリング20の中心と,ストッパー端子3
0の中心とは,多少の位置ずれがあっても,それぞれ1
0,50,20,30が当接していれば支障がない(図
5参照)。そのため,ガイド孔45は,プリント配線板
7の配線回路71に一致させて穿設すれば良く,従来例
のような挿通穴46及び端子穴47との高精度の位置合
わせは不要である。
【0051】また,ガイド孔45はコンタクトピン10
のみの円滑スライドを可能とすれば良いので,細径のも
のを設けることができ,コンタクトピンのガタつきもな
い。従って,プリント配線板7の高密度化に対応できる
と共に,コンタクトピン10の損耗も従来例に比べて大
幅に減少する。そして,前記のようにコイルスプリング
20とその挿通穴46の加工,ストッパー端子30とそ
の端子穴47の加工,及び中間部材50の加工のいずれ
についても高精度を要求されない。
のみの円滑スライドを可能とすれば良いので,細径のも
のを設けることができ,コンタクトピンのガタつきもな
い。従って,プリント配線板7の高密度化に対応できる
と共に,コンタクトピン10の損耗も従来例に比べて大
幅に減少する。そして,前記のようにコイルスプリング
20とその挿通穴46の加工,ストッパー端子30とそ
の端子穴47の加工,及び中間部材50の加工のいずれ
についても高精度を要求されない。
【0052】また,前記のように,ガイド板41,メイ
ンボード42,背面ボード43の3者は容易に分離でき
るようになっている。従って,コンタクトピン10,中
間部材50,コイルスプリング20,及びストッパー端
子30をハウジング4から取り外して他の検査治具1に
流用することが容易である。
ンボード42,背面ボード43の3者は容易に分離でき
るようになっている。従って,コンタクトピン10,中
間部材50,コイルスプリング20,及びストッパー端
子30をハウジング4から取り外して他の検査治具1に
流用することが容易である。
【0053】即ち,ガイド板41,メインボード42,
背面ボード43はプリント配線板7の配線回路71に対
応して別個に製作する必要があるが,コンタクトピン1
0,中間部材50,コイルスプリング20,ストッパー
端子30は流用や取替えが容易であり,大幅なコストダ
ウンが可能となる。特に高価な精密部品であるコンタク
トピン10の流用は多大なコストダウン効果をもたらす
ことができる。
背面ボード43はプリント配線板7の配線回路71に対
応して別個に製作する必要があるが,コンタクトピン1
0,中間部材50,コイルスプリング20,ストッパー
端子30は流用や取替えが容易であり,大幅なコストダ
ウンが可能となる。特に高価な精密部品であるコンタク
トピン10の流用は多大なコストダウン効果をもたらす
ことができる。
【0054】上記のように,本例によれば,配線回路7
1の高密度化に伴うコンタクトピン10とガイド孔45
の細径化と配列ピッチの狭小化に対応できると共に,コ
ンタクトピン10が損傷しにくいプリント配線板7の検
査治具1を提供することができる。
1の高密度化に伴うコンタクトピン10とガイド孔45
の細径化と配列ピッチの狭小化に対応できると共に,コ
ンタクトピン10が損傷しにくいプリント配線板7の検
査治具1を提供することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】実施例にかかる検査治具の全体説明図。
【図2】実施例における検出部の拡大断面図。
【図3】実施例におけるストッパー端子の構成部材の加
工前における斜視図。
工前における斜視図。
【図4】実施例のストッパー端子の拡大斜視図。
【図5】実施例における検出部の他の拡大断面図。
【図6】従来例における検査治具の全体説明図。
【図7】従来例における検査治具のプローブ周りの説明
図。
図。
1...検査治具, 10...コンタクトピン, 11...頭部, 15...リードワイヤー, 18...検査器, 20...コイルスプリング, 30...ストッパー端子, 4...ハウジング, 41...ガイド板, 42...メインボード, 43...背面ボード, 45...ガイド孔, 46...挿通穴, 47...端子穴, 50...中間部材,
Claims (2)
- 【請求項1】 プリント配線板における配線回路を電気
導通の有無により検査する検査治具であって,該検査治
具は,上記配線回路と当接させるためのコンタクトピン
と,一端をリードワイヤーと接続したストッパー端子
と,上記コンタクトピンとストッパー端子との間に介設
して両者を外方に押圧するよう付勢された伸縮自在な導
電性のコイルスプリングと,上記各部材を収納するハウ
ジングとを有しており,上記ハウジングは,上記コンタ
クトピンを進退可能に装着するガイド孔を穿設したガイ
ド板と,上記ストッパー端子を収納する端子穴を配設し
た背面ボードと,上記ガイド板と背面ボードとの間に配
設され,上記コイルスプリングを収容する挿通穴を設け
たメインボードとを有しており,かつ,上記コイルスプ
リングとコンタクトピンの頭部との間には,両者と接触
する導電性の中間部材を介設したことを特徴とするプリ
ント配線板の検査治具。 - 【請求項2】 請求項1において,中間部材はコイルス
プリングの内部に挿入される胴部と,コンタクトピンの
頭部と平面接触する底部とよりなることを特徴とするプ
リント配線板の検査治具。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP4353671A JPH06180328A (ja) | 1992-12-14 | 1992-12-14 | プリント配線板の検査治具 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP4353671A JPH06180328A (ja) | 1992-12-14 | 1992-12-14 | プリント配線板の検査治具 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH06180328A true JPH06180328A (ja) | 1994-06-28 |
Family
ID=18432431
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP4353671A Pending JPH06180328A (ja) | 1992-12-14 | 1992-12-14 | プリント配線板の検査治具 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH06180328A (ja) |
Cited By (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2000073805A1 (fr) * | 1999-05-28 | 2000-12-07 | Nhk Spring Co., Ltd. | Contact conducteur |
JP2002048816A (ja) * | 2000-08-04 | 2002-02-15 | Inoue Shoji Kk | プリント配線板の導通検査治具 |
JP2002277501A (ja) * | 2001-03-16 | 2002-09-25 | Ibiden Co Ltd | 導通検査治具及びその製造方法 |
WO2002103373A1 (fr) * | 2000-05-01 | 2002-12-27 | Nhk Spring Co., Ltd. | Contacteur conducteur et ensemble de sondes electriques |
WO2003005044A1 (en) * | 2001-07-06 | 2003-01-16 | Nhk Spring Co., Ltd. | Conductive contact |
WO2009096318A1 (ja) * | 2008-02-01 | 2009-08-06 | Nhk Spring Co., Ltd. | プローブユニット |
-
1992
- 1992-12-14 JP JP4353671A patent/JPH06180328A/ja active Pending
Cited By (12)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2000073805A1 (fr) * | 1999-05-28 | 2000-12-07 | Nhk Spring Co., Ltd. | Contact conducteur |
US6655983B1 (en) | 1999-05-28 | 2003-12-02 | Nhk Spring Co., Ltd. | Electrical test probe provided with a signal transmitting wire having an enlarged portion for preventing the wire from coming out of the probe |
WO2002103373A1 (fr) * | 2000-05-01 | 2002-12-27 | Nhk Spring Co., Ltd. | Contacteur conducteur et ensemble de sondes electriques |
JP2002048816A (ja) * | 2000-08-04 | 2002-02-15 | Inoue Shoji Kk | プリント配線板の導通検査治具 |
JP2002277501A (ja) * | 2001-03-16 | 2002-09-25 | Ibiden Co Ltd | 導通検査治具及びその製造方法 |
JP4655392B2 (ja) * | 2001-03-16 | 2011-03-23 | イビデン株式会社 | 導通検査治具及びその製造方法 |
WO2003005044A1 (en) * | 2001-07-06 | 2003-01-16 | Nhk Spring Co., Ltd. | Conductive contact |
KR100892653B1 (ko) * | 2001-07-06 | 2009-04-15 | 닛폰 하츠죠 가부시키가이샤 | 도전성 접촉자 |
WO2009096318A1 (ja) * | 2008-02-01 | 2009-08-06 | Nhk Spring Co., Ltd. | プローブユニット |
CN101932941A (zh) * | 2008-02-01 | 2010-12-29 | 日本发条株式会社 | 探针单元 |
US8344747B2 (en) | 2008-02-01 | 2013-01-01 | Nhk Spring Co., Ltd. | Probe unit |
JP5607934B2 (ja) * | 2008-02-01 | 2014-10-15 | 日本発條株式会社 | プローブユニット |
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