JPH06162531A - 光ヘッド - Google Patents
光ヘッドInfo
- Publication number
- JPH06162531A JPH06162531A JP4335591A JP33559192A JPH06162531A JP H06162531 A JPH06162531 A JP H06162531A JP 4335591 A JP4335591 A JP 4335591A JP 33559192 A JP33559192 A JP 33559192A JP H06162531 A JPH06162531 A JP H06162531A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- light
- light receiving
- optical
- regions
- transparent body
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Withdrawn
Links
Landscapes
- Optical Recording Or Reproduction (AREA)
- Optical Head (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】 フォーカシングの検出範囲(いわゆるS字曲
線の、原点付近のほぼ線形な部分)を小さくすることな
く、偏光ビームスプリッタの厚さを薄くする。 【構成】 受光素子9の領域Ai,Bi,Ci,Di,
Ao,Bo,Co、およびDoで受光された受光量に対応す
る電圧から、次式にしたがってフォーカスエラー信号F
ESが算出される。 FES=k((Ao+Co)−(Bo+Do)) +((Ai+Ci)−(Bi+Di)) 但し、k>1
線の、原点付近のほぼ線形な部分)を小さくすることな
く、偏光ビームスプリッタの厚さを薄くする。 【構成】 受光素子9の領域Ai,Bi,Ci,Di,
Ao,Bo,Co、およびDoで受光された受光量に対応す
る電圧から、次式にしたがってフォーカスエラー信号F
ESが算出される。 FES=k((Ao+Co)−(Bo+Do)) +((Ai+Ci)−(Bi+Di)) 但し、k>1
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、例えば光ディスクや光
磁気ディスクなどの光学式記録媒体に情報を記録または
再生する光ディスクや光磁気ディスク装置などに用いて
好適な光ヘッドに関する。
磁気ディスクなどの光学式記録媒体に情報を記録または
再生する光ディスクや光磁気ディスク装置などに用いて
好適な光ヘッドに関する。
【0002】
【従来の技術】図9は、従来の光磁気ディスク装置の一
例の構成を示すブロック図である。半導体レーザ2は、
所定の波長のレーザ光を発光し、コリメータレンズ3に
射出する。半導体レーザ2からのレーザ光は、コリメー
タレンズ3で平行光に変換され、ビームスプリッタ4に
入射される。ビームスプリッタ4は、半導体レーザ2か
らコリメータレンズ3を介して入射されたレーザ光を透
過し、対物レンズ5に入射させる。対物レンズ5は、入
射されたレーザ光を光磁気ディスク(以下、ディスク)
1上に集光する。
例の構成を示すブロック図である。半導体レーザ2は、
所定の波長のレーザ光を発光し、コリメータレンズ3に
射出する。半導体レーザ2からのレーザ光は、コリメー
タレンズ3で平行光に変換され、ビームスプリッタ4に
入射される。ビームスプリッタ4は、半導体レーザ2か
らコリメータレンズ3を介して入射されたレーザ光を透
過し、対物レンズ5に入射させる。対物レンズ5は、入
射されたレーザ光を光磁気ディスク(以下、ディスク)
1上に集光する。
【0003】ディスク1への情報の記録時においては、
このようにディスク1上に光ビームが集光されるととも
に、記録する情報(信号の0、または1)に対応して、
ディスク1に対向して配置された磁石(図示せず)の磁
極が変化され、いわゆるキューリ点記録方式により、デ
ィスク1が垂直方向に磁化される。
このようにディスク1上に光ビームが集光されるととも
に、記録する情報(信号の0、または1)に対応して、
ディスク1に対向して配置された磁石(図示せず)の磁
極が変化され、いわゆるキューリ点記録方式により、デ
ィスク1が垂直方向に磁化される。
【0004】また、ディスク1に記録された情報の再生
時においては、いわゆる磁気カー効果により、ディスク
1に集光された光ビームが反射するときに、その偏光面
がディスク1の磁化方向に対応して、右または左に(θ
または−θだけ)回転するので、ディスク1からの反射
光の偏光面の回転角の変化が検出される。
時においては、いわゆる磁気カー効果により、ディスク
1に集光された光ビームが反射するときに、その偏光面
がディスク1の磁化方向に対応して、右または左に(θ
または−θだけ)回転するので、ディスク1からの反射
光の偏光面の回転角の変化が検出される。
【0005】即ち、ディスク1からの反射光は、対物レ
ンズ5を透過し、ビームスプリッタ4で反射され、1/
2波長板6に入射する。1/2波長板6は、ディスク1
からの反射光の偏光面を、1/2波長分、つまり45度
だけ右または左に回転する。そして、偏光面が回転され
た光は、集光レンズ7で集光され、偏光ビームスプリッ
タ41に入射する。
ンズ5を透過し、ビームスプリッタ4で反射され、1/
2波長板6に入射する。1/2波長板6は、ディスク1
からの反射光の偏光面を、1/2波長分、つまり45度
だけ右または左に回転する。そして、偏光面が回転され
た光は、集光レンズ7で集光され、偏光ビームスプリッ
タ41に入射する。
【0006】偏光ビームスプリッタ41は、集光レンズ
7と対抗する面に偏光膜(図示せず)が形成された平板
状の透明体で、集光レンズ7で集光された、ディスク1
からの反射光の光軸に対して、所定の角度(例えば、4
5度など)だけ傾けて配置されており、偏光膜への入射
面に垂直なディスク1からの反射光の偏光成分(例え
ば、S偏光成分)を反射して2分割受光素子43に出射
するとともに、偏光膜への入射面に平行なディスク1か
らの反射光の偏光成分(例えば、P偏光成分)を透過し
て4分割受光素子42に出射する。
7と対抗する面に偏光膜(図示せず)が形成された平板
状の透明体で、集光レンズ7で集光された、ディスク1
からの反射光の光軸に対して、所定の角度(例えば、4
5度など)だけ傾けて配置されており、偏光膜への入射
面に垂直なディスク1からの反射光の偏光成分(例え
ば、S偏光成分)を反射して2分割受光素子43に出射
するとともに、偏光膜への入射面に平行なディスク1か
らの反射光の偏光成分(例えば、P偏光成分)を透過し
て4分割受光素子42に出射する。
【0007】2分割受光素子43は、ディスク1のトラ
ック方向と同方向の分割線43aによって2分割されて
おり、分割線43a上に偏光ビームスプリッタ41で反
射されたS偏光成分の光スポットの中心が位置するよう
に配置されている。そして、各分割面で、偏光ビームス
プリッタ41からのS偏光成分を受光し、その受光量に
対応した電圧を出力する。この電圧は、信号処理回路
(図示せず)に出力され、そこで、いわゆるプッシュプ
ル法によってトラッキングエラー信号が検出される。
ック方向と同方向の分割線43aによって2分割されて
おり、分割線43a上に偏光ビームスプリッタ41で反
射されたS偏光成分の光スポットの中心が位置するよう
に配置されている。そして、各分割面で、偏光ビームス
プリッタ41からのS偏光成分を受光し、その受光量に
対応した電圧を出力する。この電圧は、信号処理回路
(図示せず)に出力され、そこで、いわゆるプッシュプ
ル法によってトラッキングエラー信号が検出される。
【0008】一方、4分割受光素子42は、互いに直交
する2つの分割線42aおよび42bによって4分割さ
れており、分割線42aと42bとの交点上に、偏光ビ
ームスプリッタ41を透過したP偏光成分の光スポット
の中心が位置するように、且つ集光レンズ7と偏光ビー
ムスプリッタ41によるメリジオナル面とサジタル面と
によって発生する非点収差のほぼ中間付近に配置されて
いる。そして、各分割面で、偏光ビームスプリッタ41
からのP偏光成分を受光し、その受光量に対応した電圧
を出力する。この電圧は、信号処理回路に出力され、い
わゆる非点収差法によりフォーカスエラー信号が検出さ
れる。
する2つの分割線42aおよび42bによって4分割さ
れており、分割線42aと42bとの交点上に、偏光ビ
ームスプリッタ41を透過したP偏光成分の光スポット
の中心が位置するように、且つ集光レンズ7と偏光ビー
ムスプリッタ41によるメリジオナル面とサジタル面と
によって発生する非点収差のほぼ中間付近に配置されて
いる。そして、各分割面で、偏光ビームスプリッタ41
からのP偏光成分を受光し、その受光量に対応した電圧
を出力する。この電圧は、信号処理回路に出力され、い
わゆる非点収差法によりフォーカスエラー信号が検出さ
れる。
【0009】以上のようにして検出されたトラッキング
エラー信号、またはフォーカスエラー信号は、サーボ回
路(図示せず)にそれぞれ供給され、サーボ回路におい
て、このトラッキングエラー信号、またはフォーカスエ
ラー信号をそれぞれ0にするように、トラッキング、ま
たはフォーカシングの制御がなされる。
エラー信号、またはフォーカスエラー信号は、サーボ回
路(図示せず)にそれぞれ供給され、サーボ回路におい
て、このトラッキングエラー信号、またはフォーカスエ
ラー信号をそれぞれ0にするように、トラッキング、ま
たはフォーカシングの制御がなされる。
【0010】また、4分割受光素子42または2分割受
光素子43から出力された受光量に対応する電圧は、信
号処理回路においてそれぞれ加算され、さらにその差ま
たは和がとられることにより、再生差信号または再生和
信号が生成される。
光素子43から出力された受光量に対応する電圧は、信
号処理回路においてそれぞれ加算され、さらにその差ま
たは和がとられることにより、再生差信号または再生和
信号が生成される。
【0011】なお、記録時においても、上述したように
してトラッキングエラー信号およびフォーカスエラー信
号が生成され、トラッキングおよびフォーカシングの制
御が行われる。
してトラッキングエラー信号およびフォーカスエラー信
号が生成され、トラッキングおよびフォーカシングの制
御が行われる。
【0012】
【発明が解決しようとする課題】ところで、図9に示す
ような平行平板状の偏光ビームスプリッタ41により非
点収差を発生させる場合、フォーカシングの検出範囲
(いわゆるS字曲線の、原点付近のほぼ線形な部分)を
大きくしようとすると、偏光ビームスプリッタ41の厚
さdを大きくする必要があった。
ような平行平板状の偏光ビームスプリッタ41により非
点収差を発生させる場合、フォーカシングの検出範囲
(いわゆるS字曲線の、原点付近のほぼ線形な部分)を
大きくしようとすると、偏光ビームスプリッタ41の厚
さdを大きくする必要があった。
【0013】従って、この場合、光ヘッドの重量が増加
し、そのアクセスタイムの短縮が困難になるとともに、
装置全体が大型化する課題あった。
し、そのアクセスタイムの短縮が困難になるとともに、
装置全体が大型化する課題あった。
【0014】本発明は、このような状況に鑑みてなされ
たものであり、装置の軽量化と小型化を図ることができ
るようにするものである。
たものであり、装置の軽量化と小型化を図ることができ
るようにするものである。
【0015】
【課題を解決するための手段】請求項1に記載の光ヘッ
ドは、例えばディスク1などの記録媒体に照射する光を
発光する発光手段としての半導体レーザ2と、非点収差
を発生する光学手段としての偏光ビームスプリッタ8
と、偏光ビームスプリッタ8を介した、ディスク1から
の反射光または透過光を受光する、受光面を内側の領域
と外側の領域とに分割する円状の円状分割線9aと、内
側の領域および外側の領域をそれぞれ4つの領域Ai,
Bi,Ci、およびDi、並びにAo,Bo,Co、およびD
oに分割する、円状分割線9aの中心点を交点としてほ
ぼ直交する2つの直線分割線9b並びに9cとによって
8つの領域Ai,Bi,Ci,Di,Ao,Bo,Co、およ
びDoに分割された第1の受光手段としての受光素子9
とを備え、受光素子9の4つの内側の領域Ai,Bi,C
i、およびDiの2組の対角に位置する領域Aiおよび
Ci、またはBiおよびDiそれぞれにおける受光信号の
和((Ai+Ci),(Bi+Di))の差((Ai+Ci)
−(Bi+Di))を算出するとともに、4つの外側の領
域Ao,Bo,Co、およびDoの2組の対角に位置する領
域AoおよびCo、またはBoおよびDoそれぞれにおける
受光信号の和((Ao+Co),(Bo+Do))の差
((Ao+Co)−(Bo+Do))を算出し、外側の領域
から算出された差((Ao+Co)−(Bo+Do))を1
より大きい所定数倍だけしてから、内側の領域から算出
された差((Ai+Ci)−(Bi+Di))との和を算出
することによって、フォーカスエラー信号を生成するこ
とを特徴とする。
ドは、例えばディスク1などの記録媒体に照射する光を
発光する発光手段としての半導体レーザ2と、非点収差
を発生する光学手段としての偏光ビームスプリッタ8
と、偏光ビームスプリッタ8を介した、ディスク1から
の反射光または透過光を受光する、受光面を内側の領域
と外側の領域とに分割する円状の円状分割線9aと、内
側の領域および外側の領域をそれぞれ4つの領域Ai,
Bi,Ci、およびDi、並びにAo,Bo,Co、およびD
oに分割する、円状分割線9aの中心点を交点としてほ
ぼ直交する2つの直線分割線9b並びに9cとによって
8つの領域Ai,Bi,Ci,Di,Ao,Bo,Co、およ
びDoに分割された第1の受光手段としての受光素子9
とを備え、受光素子9の4つの内側の領域Ai,Bi,C
i、およびDiの2組の対角に位置する領域Aiおよび
Ci、またはBiおよびDiそれぞれにおける受光信号の
和((Ai+Ci),(Bi+Di))の差((Ai+Ci)
−(Bi+Di))を算出するとともに、4つの外側の領
域Ao,Bo,Co、およびDoの2組の対角に位置する領
域AoおよびCo、またはBoおよびDoそれぞれにおける
受光信号の和((Ao+Co),(Bo+Do))の差
((Ao+Co)−(Bo+Do))を算出し、外側の領域
から算出された差((Ao+Co)−(Bo+Do))を1
より大きい所定数倍だけしてから、内側の領域から算出
された差((Ai+Ci)−(Bi+Di))との和を算出
することによって、フォーカスエラー信号を生成するこ
とを特徴とする。
【0016】請求項2に記載の光ヘッドは、受光素子9
を分割する2つの直線分割線9bおよび9cのうち、デ
ィスク1のトラック方向に沿った直線分割線9cにより
分割された受光素子9の2つの領域(領域Ai,Ao,B
i,Boからなる領域と、領域Ci,Co,Di,Doからな
る領域)における受光信号の差((Ai+Ao+Bi+
Bo)−(Ci+Co+Di+Do))を算出することによ
って、トラッキングエラー信号を生成することを特徴と
する。
を分割する2つの直線分割線9bおよび9cのうち、デ
ィスク1のトラック方向に沿った直線分割線9cにより
分割された受光素子9の2つの領域(領域Ai,Ao,B
i,Boからなる領域と、領域Ci,Co,Di,Doからな
る領域)における受光信号の差((Ai+Ao+Bi+
Bo)−(Ci+Co+Di+Do))を算出することによ
って、トラッキングエラー信号を生成することを特徴と
する。
【0017】請求項3に記載の光ヘッドは、受光素子9
の4つの内側の領域それぞれにおける受光信号Ai,
Bi,Ci,Diのみに基づいて、再生信号を生成するこ
とを特徴とする。
の4つの内側の領域それぞれにおける受光信号Ai,
Bi,Ci,Diのみに基づいて、再生信号を生成するこ
とを特徴とする。
【0018】請求項4に記載の光ヘッドは、偏光ビーム
スプリッタ8が、ディスク1からの反射光または透過光
の光軸に対して傾けて配置した、光を反射および透過す
る平板形状の透明体であり、受光素子9が、透明体を透
過した光を受光することを特徴とする。
スプリッタ8が、ディスク1からの反射光または透過光
の光軸に対して傾けて配置した、光を反射および透過す
る平板形状の透明体であり、受光素子9が、透明体を透
過した光を受光することを特徴とする。
【0019】請求項5に記載の光ヘッドは、偏光ビーム
スプリッタ8としての透明体で反射された光を受光する
第2の受光手段としての受光素子10をさらに備えるこ
とを特徴とする。
スプリッタ8としての透明体で反射された光を受光する
第2の受光手段としての受光素子10をさらに備えるこ
とを特徴とする。
【0020】請求項6に記載の光ヘッドは、偏光ビーム
スプリッタ8としての透明体が、ディスク1からの反射
光または透過光を透過および反射することによって、互
いに直交する偏光成分の光に分離することを特徴とす
る。
スプリッタ8としての透明体が、ディスク1からの反射
光または透過光を透過および反射することによって、互
いに直交する偏光成分の光に分離することを特徴とす
る。
【0021】請求項7に記載の光ヘッドは、偏光ビーム
スプリッタ8としての透明体が、透明体を透過した光の
光軸と、透明体を反射した光の光軸とのなす角度が90
度未満になるように配置されていることを特徴とする。
スプリッタ8としての透明体が、透明体を透過した光の
光軸と、透明体を反射した光の光軸とのなす角度が90
度未満になるように配置されていることを特徴とする。
【0022】
【作用】請求項1に記載の光ヘッドにおいては、受光面
を内側の領域と外側の領域とに分割する円状の円状分割
線9aと、内側の領域および外側の領域をそれぞれ4つ
の領域Ai,Bi、Ci、およびDi、並びにAo,Bo、C
o、およびDoに分割する、円状分割線9aの中心点を交
点としてほぼ直交する2つの直線分割線9b並びに9c
とによって8つの領域Ai,Bi、Ci,Di,Ao,Bo、
Co、およびDoに分割された受光素子9により、非点収
差を発生する偏光ビームスプリッタ8を介した、ディス
ク1からの反射光または透過光を受光する。そして、4
つの内側の領域Ai,Bi、Ci、およびDiの2組の対角
に位置する領域AiおよびCi、またはBiおよびDiそれ
ぞれにおける受光信号の和((Ai+Ci),(Bi+
Di))の差((Ai+Ci)−(Bi+Di))を算出す
るとともに、4つの外側の領域Ao,Bo、Co、および
Doの2組の対角に位置する領域AoおよびCo、または
BoおよびDoそれぞれにおける受光信号の和((Ao+
Co),(Bo+Do))の差((Ao+Co)−(Bo+D
o))を算出し、外側の領域から算出された差((Ao+
Co)−(Bo+Do))を1より大きい所定数倍だけし
てから、内側の領域から算出された差((Ai+Ci)−
(Bi+Di))との和を算出することによって、フォー
カスエラー信号を生成する。従って、偏光ビームスプリ
ッタ8の厚さを薄くしても、十分大きなフォーカシング
検出範囲を得ることができ、さらに装置の軽量化および
小型化を図ることができる。
を内側の領域と外側の領域とに分割する円状の円状分割
線9aと、内側の領域および外側の領域をそれぞれ4つ
の領域Ai,Bi、Ci、およびDi、並びにAo,Bo、C
o、およびDoに分割する、円状分割線9aの中心点を交
点としてほぼ直交する2つの直線分割線9b並びに9c
とによって8つの領域Ai,Bi、Ci,Di,Ao,Bo、
Co、およびDoに分割された受光素子9により、非点収
差を発生する偏光ビームスプリッタ8を介した、ディス
ク1からの反射光または透過光を受光する。そして、4
つの内側の領域Ai,Bi、Ci、およびDiの2組の対角
に位置する領域AiおよびCi、またはBiおよびDiそれ
ぞれにおける受光信号の和((Ai+Ci),(Bi+
Di))の差((Ai+Ci)−(Bi+Di))を算出す
るとともに、4つの外側の領域Ao,Bo、Co、および
Doの2組の対角に位置する領域AoおよびCo、または
BoおよびDoそれぞれにおける受光信号の和((Ao+
Co),(Bo+Do))の差((Ao+Co)−(Bo+D
o))を算出し、外側の領域から算出された差((Ao+
Co)−(Bo+Do))を1より大きい所定数倍だけし
てから、内側の領域から算出された差((Ai+Ci)−
(Bi+Di))との和を算出することによって、フォー
カスエラー信号を生成する。従って、偏光ビームスプリ
ッタ8の厚さを薄くしても、十分大きなフォーカシング
検出範囲を得ることができ、さらに装置の軽量化および
小型化を図ることができる。
【0023】請求項2に記載の光ヘッドにおいては、受
光素子9を分割する2つの直線分割線9bおよび9cの
うち、ディスク1のトラック方向に沿った直線分割線9
cにより分割された受光素子9の2つの領域(領域
Ai,Ao,Bi,Boからなる領域と、領域Ci,Co,D
i,Doからなる領域)における受光信号の差((Ai+
Ao+Bi+Bo)−(Di+Do+Ci+Co))を算出す
ることによって、トラッキングエラー信号を生成する。
従って、フォーカスエラー信号とトラッキングエラー信
号を同一の受光素子9から得ることができるので、装置
の軽量化および小型化をさらに図ることができる。
光素子9を分割する2つの直線分割線9bおよび9cの
うち、ディスク1のトラック方向に沿った直線分割線9
cにより分割された受光素子9の2つの領域(領域
Ai,Ao,Bi,Boからなる領域と、領域Ci,Co,D
i,Doからなる領域)における受光信号の差((Ai+
Ao+Bi+Bo)−(Di+Do+Ci+Co))を算出す
ることによって、トラッキングエラー信号を生成する。
従って、フォーカスエラー信号とトラッキングエラー信
号を同一の受光素子9から得ることができるので、装置
の軽量化および小型化をさらに図ることができる。
【0024】請求項3に記載の光ヘッドにおいては、受
光素子9の4つの内側の領域それぞれにおける受光信号
Ai,Bi,Ci,Diのみに基づいて、再生信号を生成す
る。従って、フォーカスエラー信号と再生信号を同一の
受光素子9から得ることができるので、装置の軽量化お
よび小型化を図ることができる。
光素子9の4つの内側の領域それぞれにおける受光信号
Ai,Bi,Ci,Diのみに基づいて、再生信号を生成す
る。従って、フォーカスエラー信号と再生信号を同一の
受光素子9から得ることができるので、装置の軽量化お
よび小型化を図ることができる。
【0025】請求項4に記載の光ヘッドにおいては、偏
光ビームスプリッタ8が、ディスク1からの反射光また
は透過光の光軸に対して傾けて配置した、光を反射およ
び透過する平板形状の透明体であり、受光素子9が、透
明体を透過した光を受光する。従って、装置の軽量化お
よび小型化を図ることができる。
光ビームスプリッタ8が、ディスク1からの反射光また
は透過光の光軸に対して傾けて配置した、光を反射およ
び透過する平板形状の透明体であり、受光素子9が、透
明体を透過した光を受光する。従って、装置の軽量化お
よび小型化を図ることができる。
【0026】請求項5に記載の光ヘッドにおいては、受
光素子10で偏光ビームスプリッタ8としての透明体で
反射された光を受光する。従って、トラッキングエラー
信号の他、受光素子9で受光された光と合わせて、S/
Nの高い再生信号を容易に得ることができる。
光素子10で偏光ビームスプリッタ8としての透明体で
反射された光を受光する。従って、トラッキングエラー
信号の他、受光素子9で受光された光と合わせて、S/
Nの高い再生信号を容易に得ることができる。
【0027】請求項6に記載の光ヘッドにおいては、偏
光ビームスプリッタ8としての透明体が、ディスク1か
らの反射光または透過光を透過および反射することによ
って、互いに直交する偏光成分の光に分離する。従っ
て、磁気カー効果に基づく情報の再生信号を容易に得る
ことができる。
光ビームスプリッタ8としての透明体が、ディスク1か
らの反射光または透過光を透過および反射することによ
って、互いに直交する偏光成分の光に分離する。従っ
て、磁気カー効果に基づく情報の再生信号を容易に得る
ことができる。
【0028】請求項7に記載の光ヘッドにおいては、偏
光ビームスプリッタ8としての透明体が、透明体を透過
した光の光軸と、透明体を反射した光の光軸とのなす角
度が90度未満になるように配置されている。従って、
透明体を透過した光、または透明体を反射した光をそれ
ぞれ受光する素子を同一平面内に配置することができる
ので、装置を小型に構成することができる。
光ビームスプリッタ8としての透明体が、透明体を透過
した光の光軸と、透明体を反射した光の光軸とのなす角
度が90度未満になるように配置されている。従って、
透明体を透過した光、または透明体を反射した光をそれ
ぞれ受光する素子を同一平面内に配置することができる
ので、装置を小型に構成することができる。
【0029】
【実施例】図1は、本発明の光ヘッドを応用した光磁気
ディスク装置の一実施例の構成を示すブロック図であ
る。図中、図9における場合と対応する部分について
は、同一の符号を付してある。偏光ビームスプリッタ8
は、平行平板状の、厚さの薄い透明体に、集光レンズ7
と対抗する面に偏光膜(図示せず)を形成したもので、
集光レンズ7で集光された、ディスク1からの反射光の
光軸に対して、所定の角度(例えば、45度など)だけ
傾けて配置されており、偏光膜への入射面に垂直なディ
スク1からの反射光の偏光成分(例えば、S偏光成分)
を反射し、時計回り方向に90度方向を変えて受光素子
10に出射するとともに、偏光膜への入射面に平行なデ
ィスク1からの反射光の偏光成分(例えば、P偏光成
分)を透過して受光素子9に出射する。
ディスク装置の一実施例の構成を示すブロック図であ
る。図中、図9における場合と対応する部分について
は、同一の符号を付してある。偏光ビームスプリッタ8
は、平行平板状の、厚さの薄い透明体に、集光レンズ7
と対抗する面に偏光膜(図示せず)を形成したもので、
集光レンズ7で集光された、ディスク1からの反射光の
光軸に対して、所定の角度(例えば、45度など)だけ
傾けて配置されており、偏光膜への入射面に垂直なディ
スク1からの反射光の偏光成分(例えば、S偏光成分)
を反射し、時計回り方向に90度方向を変えて受光素子
10に出射するとともに、偏光膜への入射面に平行なデ
ィスク1からの反射光の偏光成分(例えば、P偏光成
分)を透過して受光素子9に出射する。
【0030】受光素子9は、受光面を内側の領域と外側
の領域とに分割する円状の円状分割線9aと、内側の領
域および外側の領域をそれぞれ4つの領域Ai,Bi、C
i、およびDi、並びにAo,Bo、Co、およびDoに分割
する、円状分割線9aの中心点を交点としてほぼ直交す
る2つの直線分割線9b並びに9cとによって8つの領
域Ai,Bi、Ci,Di,Ao,Bo、Co、およびDoに分
割されている。そして、受光素子9は、直線分割線9a
と9bとの交点上に、偏光ビームスプリッタ8を透過し
たP偏光成分の光スポットの中心が位置するように、且
つ集光レンズ7と偏光ビームスプリッタ8によるメリジ
オナル面とサジタル面とによって発生する非点収差のほ
ぼ中間付近に配置されている。そして、各領域(分割
面)Ai,Bi、Ci,Di,Ao,Bo、Co、またはD
oで、偏光ビームスプリッタ8からのP偏光成分を受光
し、その受光量に対応した電圧を出力する。
の領域とに分割する円状の円状分割線9aと、内側の領
域および外側の領域をそれぞれ4つの領域Ai,Bi、C
i、およびDi、並びにAo,Bo、Co、およびDoに分割
する、円状分割線9aの中心点を交点としてほぼ直交す
る2つの直線分割線9b並びに9cとによって8つの領
域Ai,Bi、Ci,Di,Ao,Bo、Co、およびDoに分
割されている。そして、受光素子9は、直線分割線9a
と9bとの交点上に、偏光ビームスプリッタ8を透過し
たP偏光成分の光スポットの中心が位置するように、且
つ集光レンズ7と偏光ビームスプリッタ8によるメリジ
オナル面とサジタル面とによって発生する非点収差のほ
ぼ中間付近に配置されている。そして、各領域(分割
面)Ai,Bi、Ci,Di,Ao,Bo、Co、またはD
oで、偏光ビームスプリッタ8からのP偏光成分を受光
し、その受光量に対応した電圧を出力する。
【0031】なお、受光素子9の円状分割線9aは、フ
ォーカスが合っているときのP偏光成分のほぼ円形の光
スポットとほぼ同一となるように(全く同一かP偏光成
分の光スポットより少し大きいか、あるいは少し小さく
なるように)形成されている。
ォーカスが合っているときのP偏光成分のほぼ円形の光
スポットとほぼ同一となるように(全く同一かP偏光成
分の光スポットより少し大きいか、あるいは少し小さく
なるように)形成されている。
【0032】受光素子10は、ディスク1のトラック方
向と同方向の直線分割線10aによって、領域EとFに
2分割されており、直線分割線10a上に偏光ビームス
プリッタ8で反射されたS偏光成分の光スポットの中心
が位置するように、且つ集光レンズ7による焦点位置の
手前あるいは後方に配置されている。そして、各領域
(分割面)EまたはFで、偏光ビームスプリッタ8から
のS偏光成分をそれぞれ受光し、その受光量に対応した
電圧を出力する。
向と同方向の直線分割線10aによって、領域EとFに
2分割されており、直線分割線10a上に偏光ビームス
プリッタ8で反射されたS偏光成分の光スポットの中心
が位置するように、且つ集光レンズ7による焦点位置の
手前あるいは後方に配置されている。そして、各領域
(分割面)EまたはFで、偏光ビームスプリッタ8から
のS偏光成分をそれぞれ受光し、その受光量に対応した
電圧を出力する。
【0033】さらに、図2は、図1の受光素子9および
10より出力される電圧から、フォーカスエラー信号F
ES、トラッキングエラー信号TES、並びに再生信号
(RF和信号およびRF差信号)を演算する信号処理回
路の一実施例の構成を示す回路図である。
10より出力される電圧から、フォーカスエラー信号F
ES、トラッキングエラー信号TES、並びに再生信号
(RF和信号およびRF差信号)を演算する信号処理回
路の一実施例の構成を示す回路図である。
【0034】演算器21aは、その2つの入力端子に、
受光素子9の外側の領域の2組の対角に位置する領域A
oとCo、およびBoとDoのうち、領域AoとCoより出力
される電圧(受光信号)が供給されるようになされてお
り、その電圧を加算して差動増幅器22aの非反転入力
端子に供給する。演算器21bは、その2つの入力端子
に、受光素子9の外側の領域の2組の対角に位置する領
域AoとCo、およびBoとDoのうち、領域BoとDoより
出力される電圧(受光信号)が供給されるようになされ
ており、その電圧を加算して差動増幅器22aの反転入
力端子に供給する。
受光素子9の外側の領域の2組の対角に位置する領域A
oとCo、およびBoとDoのうち、領域AoとCoより出力
される電圧(受光信号)が供給されるようになされてお
り、その電圧を加算して差動増幅器22aの非反転入力
端子に供給する。演算器21bは、その2つの入力端子
に、受光素子9の外側の領域の2組の対角に位置する領
域AoとCo、およびBoとDoのうち、領域BoとDoより
出力される電圧(受光信号)が供給されるようになされ
ており、その電圧を加算して差動増幅器22aの反転入
力端子に供給する。
【0035】演算器21cは、その2つの入力端子に、
受光素子9の内側の領域の2組の対角に位置する領域A
iとCi、およびBiとDiのうち、領域AiとCiより出力
される電圧(受光信号)が供給されるようになされてお
り、その電圧を加算して差動増幅器22bの非反転入力
端子に供給する。演算器21dは、その2つの入力端子
に、受光素子9の内側の領域の2組の対角に位置する領
域AiとCi、およびBiとDiのうち、領域BiとDiより
出力される電圧(受光信号)が供給されるようになされ
ており、その電圧を加算して差動増幅器22bの反転入
力端子に供給する。
受光素子9の内側の領域の2組の対角に位置する領域A
iとCi、およびBiとDiのうち、領域AiとCiより出力
される電圧(受光信号)が供給されるようになされてお
り、その電圧を加算して差動増幅器22bの非反転入力
端子に供給する。演算器21dは、その2つの入力端子
に、受光素子9の内側の領域の2組の対角に位置する領
域AiとCi、およびBiとDiのうち、領域BiとDiより
出力される電圧(受光信号)が供給されるようになされ
ており、その電圧を加算して差動増幅器22bの反転入
力端子に供給する。
【0036】差動増幅器22aまたは22bは、その非
反転入力端子に供給される電圧と、その反転入力端子に
供給される電圧との差をとり、その出力端子に出力す
る。差動増幅器22aの出力端子は、乗算器23の入力
端子に接続されており、差動増幅器22aの出力電圧
は、そこでk(>1)倍されて演算器25の一方の入力
端子に供給されるようになされている。演算器25は、
その他方の入力端子が、差動増幅器22bの出力端子と
接続されており、2つの入力端子に供給される電圧を加
算して出力する。
反転入力端子に供給される電圧と、その反転入力端子に
供給される電圧との差をとり、その出力端子に出力す
る。差動増幅器22aの出力端子は、乗算器23の入力
端子に接続されており、差動増幅器22aの出力電圧
は、そこでk(>1)倍されて演算器25の一方の入力
端子に供給されるようになされている。演算器25は、
その他方の入力端子が、差動増幅器22bの出力端子と
接続されており、2つの入力端子に供給される電圧を加
算して出力する。
【0037】さらに、演算器21a乃至21dの出力端
子は、演算器24の4つの入力端子にもそれぞれ接続さ
れている。演算器24は、4つの入力端子に供給される
電圧を加算して、その出力端子に出力する。演算器24
の出力端子は、差動増幅器28の非反転入力端子および
演算器29の一方の入力端子に接続されている。
子は、演算器24の4つの入力端子にもそれぞれ接続さ
れている。演算器24は、4つの入力端子に供給される
電圧を加算して、その出力端子に出力する。演算器24
の出力端子は、差動増幅器28の非反転入力端子および
演算器29の一方の入力端子に接続されている。
【0038】差動増幅器26は、その反転入力端子また
は非反転入力端子に、受光素子10の領域FまたはEよ
り出力される電圧がそれぞれ供給されるようになされて
おり、領域EとFからの電圧の差をとり、その出力端子
に出力する。さらに、受光素子10の領域FまたはEよ
り出力される電圧は、演算器27の2つの入力端子にも
供給されるようになされており、演算器27は、この電
圧を加算して差動増幅器28の反転入力端子および演算
器29の他方の入力端子に供給する。
は非反転入力端子に、受光素子10の領域FまたはEよ
り出力される電圧がそれぞれ供給されるようになされて
おり、領域EとFからの電圧の差をとり、その出力端子
に出力する。さらに、受光素子10の領域FまたはEよ
り出力される電圧は、演算器27の2つの入力端子にも
供給されるようになされており、演算器27は、この電
圧を加算して差動増幅器28の反転入力端子および演算
器29の他方の入力端子に供給する。
【0039】差動増幅器28は、演算器24より供給さ
れる電圧と、演算器27より供給される電圧との差をと
って出力する。演算器29は、演算器24より供給され
る電圧と、演算器27より供給される電圧とを加算して
出力する。
れる電圧と、演算器27より供給される電圧との差をと
って出力する。演算器29は、演算器24より供給され
る電圧と、演算器27より供給される電圧とを加算して
出力する。
【0040】次に、その動作について説明する。図1に
おける半導体レーザ2からの直線偏光の光ビームは、コ
リメータレンズ3で平行光に変換され、ビームスプリッ
タ4および対物レンズ5を介してディスク1上に集光さ
れる。この光ビームは、ディスク1上で反射され、再び
対物レンズ5を介してビームスプリッタ4に入射する。
このディスク1からの反射光は、ビームスプリッタ4で
反射され、90度方向を変えて1/2波長板6へ入射
し、そこで、その偏光面が1/2波長分だけ回転され
る。そして、このディスク1からの反射光は、集光レン
ズ7を介して偏光ビームスプリッタ8に入射する。
おける半導体レーザ2からの直線偏光の光ビームは、コ
リメータレンズ3で平行光に変換され、ビームスプリッ
タ4および対物レンズ5を介してディスク1上に集光さ
れる。この光ビームは、ディスク1上で反射され、再び
対物レンズ5を介してビームスプリッタ4に入射する。
このディスク1からの反射光は、ビームスプリッタ4で
反射され、90度方向を変えて1/2波長板6へ入射
し、そこで、その偏光面が1/2波長分だけ回転され
る。そして、このディスク1からの反射光は、集光レン
ズ7を介して偏光ビームスプリッタ8に入射する。
【0041】偏光ビームスプリッタ8では、その偏光膜
への入射面に垂直なディスク1からの反射光の偏光成分
としてのS偏光成分が反射され、時計回り方向に90度
方向を変えて受光素子10に出射されるとともに、偏光
膜への入射面に平行なディスク1からの反射光の偏光成
分としてのP偏光成分が透過され、受光素子9に出射さ
れる。
への入射面に垂直なディスク1からの反射光の偏光成分
としてのS偏光成分が反射され、時計回り方向に90度
方向を変えて受光素子10に出射されるとともに、偏光
膜への入射面に平行なディスク1からの反射光の偏光成
分としてのP偏光成分が透過され、受光素子9に出射さ
れる。
【0042】受光素子10に入射するS偏光成分の反射
光は、中心が直線分割線10a上に位置する光スポット
を形成する。ここで、ディスク1上に照射される光ビー
ムがディスク1のトラックからずれていると、受光素子
10上の光スポットの直線分割線10aに直交する方向
の光強度分布に偏りが生じる。そして、このトラックず
れによる光強度の偏りは、受光素子10の領域Eまたは
Fよりそれぞれ出力される電圧の差として現れる。
光は、中心が直線分割線10a上に位置する光スポット
を形成する。ここで、ディスク1上に照射される光ビー
ムがディスク1のトラックからずれていると、受光素子
10上の光スポットの直線分割線10aに直交する方向
の光強度分布に偏りが生じる。そして、このトラックず
れによる光強度の偏りは、受光素子10の領域Eまたは
Fよりそれぞれ出力される電圧の差として現れる。
【0043】従って、図2に示す差動増幅器26では、
受光素子10の領域EまたはFよりそれぞれ出力された
電圧の差がとられ、これがトラッキングエラー信号TE
Sとして出力される。
受光素子10の領域EまたはFよりそれぞれ出力された
電圧の差がとられ、これがトラッキングエラー信号TE
Sとして出力される。
【0044】つまり、トラッキングエラー信号TES
が、式 TES=E−F にしたがって算出されることになる。
が、式 TES=E−F にしたがって算出されることになる。
【0045】一方、受光素子9に入射するP偏光成分の
反射光は、中心が直線分割線9aと9bとの交点に位置
する光スポットを形成する。この光スポットの光強度分
布は、ディスク1上に照射される光ビームの焦点位置と
ディスク1との距離に対応したものになる。
反射光は、中心が直線分割線9aと9bとの交点に位置
する光スポットを形成する。この光スポットの光強度分
布は、ディスク1上に照射される光ビームの焦点位置と
ディスク1との距離に対応したものになる。
【0046】即ち、前述したように、受光素子9は、集
光レンズ7と偏光ビームスプリッタ8によるメリジオナ
ル面とサジタル面とによって発生する非点収差のほぼ中
間付近に配置されているので、ディスク1が合焦位置に
あれば、光強度がほぼ円形状に均一な光スポットが形成
される。さらに、ディスク1が合焦位置より近くなる
と、光強度が楕円形状に均一な光スポットが形成され
る。また、ディスク1が合焦位置より遠くなると、光強
度が、上述の楕円形を90度回転した楕円形状に均一な
光スポットが形成される。
光レンズ7と偏光ビームスプリッタ8によるメリジオナ
ル面とサジタル面とによって発生する非点収差のほぼ中
間付近に配置されているので、ディスク1が合焦位置に
あれば、光強度がほぼ円形状に均一な光スポットが形成
される。さらに、ディスク1が合焦位置より近くなる
と、光強度が楕円形状に均一な光スポットが形成され
る。また、ディスク1が合焦位置より遠くなると、光強
度が、上述の楕円形を90度回転した楕円形状に均一な
光スポットが形成される。
【0047】従って、ディスク1の合焦位置からのずれ
は、受光素子9の円状分割線9aの内側の領域Ai乃至
Diにおいて、対角に位置する領域AiおよびCiより出
力される電圧(受光信号)の和と、領域BiおよびDiよ
り出力される電圧(受光信号)の和との間の差((Ai
+Ci)−(Bi+Di))となるとともに、その外側の
領域Ao乃至Doにおいて、対角に位置する領域Aoおよ
びCoより出力される電圧(受光信号)の和と、領域Bo
およびDoより出力される電圧(受光信号)の和との間
の差((Ao+Co)−(Bo+Do))となり、これがフ
ォーカスエラー信号とされる。
は、受光素子9の円状分割線9aの内側の領域Ai乃至
Diにおいて、対角に位置する領域AiおよびCiより出
力される電圧(受光信号)の和と、領域BiおよびDiよ
り出力される電圧(受光信号)の和との間の差((Ai
+Ci)−(Bi+Di))となるとともに、その外側の
領域Ao乃至Doにおいて、対角に位置する領域Aoおよ
びCoより出力される電圧(受光信号)の和と、領域Bo
およびDoより出力される電圧(受光信号)の和との間
の差((Ao+Co)−(Bo+Do))となり、これがフ
ォーカスエラー信号とされる。
【0048】しかしながら、前述したように、偏光ビー
ムスプリッタ8の厚さが薄いと、いずれの差((Ai+
Ci)−(Bi+Di)、または(Ao+Co)−(Bo+D
o))を用いても、フォーカシングの検出範囲(いわゆ
るS字曲線の、原点付近のほぼ線形な部分)は小さくな
る。
ムスプリッタ8の厚さが薄いと、いずれの差((Ai+
Ci)−(Bi+Di)、または(Ao+Co)−(Bo+D
o))を用いても、フォーカシングの検出範囲(いわゆ
るS字曲線の、原点付近のほぼ線形な部分)は小さくな
る。
【0049】そこで、本発明においては、図2に示す信
号処理回路によりフォーカスエラー信号が演算される。
号処理回路によりフォーカスエラー信号が演算される。
【0050】即ち、受光素子9の4つの内側の領域Ai
乃至Diの2組の対角に位置する領域AiおよびCi、ま
たはBiおよびDiにおける受光信号の和((Ai+
Ci),(Bi+Di))が、演算器21cまたは21d
によりそれぞれ算出され、差動増幅器22bに出力され
るとともに、受光素子9の4つの外側の領域Ao乃至Do
の2組の対角に位置する領域AoおよびCo、またはBo
およびDoおける受光信号の和((Ao+Co),(Bo+
Do))が、演算器21aまたは21bによりそれぞれ
算出され、差動増幅器22aに出力される。
乃至Diの2組の対角に位置する領域AiおよびCi、ま
たはBiおよびDiにおける受光信号の和((Ai+
Ci),(Bi+Di))が、演算器21cまたは21d
によりそれぞれ算出され、差動増幅器22bに出力され
るとともに、受光素子9の4つの外側の領域Ao乃至Do
の2組の対角に位置する領域AoおよびCo、またはBo
およびDoおける受光信号の和((Ao+Co),(Bo+
Do))が、演算器21aまたは21bによりそれぞれ
算出され、差動増幅器22aに出力される。
【0051】差動増幅器22aでは、演算器21aまた
は21bよりそれぞれ出力された受光信号の和(Ao+
Co)または(Bo+Do)の差((Ao+Co)−(Bo+
Do))が算出され、乗算器23に出力される。乗算器
23において、差動増幅器22aの出力((Ao+Co)
−(Bo+Do))がk(>1)倍され、演算器25に出
力される。同時に、差動増幅器22bにおいて、演算器
21cまたは21dよりそれぞれ出力された受光信号の
和(Ai+Ci)または(Bi+Di)の差((Ai+Ci)
−(Bi+Di))が算出され、演算器25に出力され
る。
は21bよりそれぞれ出力された受光信号の和(Ao+
Co)または(Bo+Do)の差((Ao+Co)−(Bo+
Do))が算出され、乗算器23に出力される。乗算器
23において、差動増幅器22aの出力((Ao+Co)
−(Bo+Do))がk(>1)倍され、演算器25に出
力される。同時に、差動増幅器22bにおいて、演算器
21cまたは21dよりそれぞれ出力された受光信号の
和(Ai+Ci)または(Bi+Di)の差((Ai+Ci)
−(Bi+Di))が算出され、演算器25に出力され
る。
【0052】演算器25において、乗算器23の出力
(k((Ao+Co)−(Bo+Do)))と差動増幅器2
2bの出力((Ai+Ci)−(Bi+Di))とが加算さ
れ、これがフォーカスエラー信号FESとして出力され
る。
(k((Ao+Co)−(Bo+Do)))と差動増幅器2
2bの出力((Ai+Ci)−(Bi+Di))とが加算さ
れ、これがフォーカスエラー信号FESとして出力され
る。
【0053】つまり、フォーカスエラー信号FESが、
式 FES=k((Ao+Co)−(Bo+Do)) +((Ai+Ci)−(Bi+Di)) にしたがって算出されることになる。
式 FES=k((Ao+Co)−(Bo+Do)) +((Ai+Ci)−(Bi+Di)) にしたがって算出されることになる。
【0054】上式において、k=1である場合は、図9
における場合のように、4分割受光素子42を用いて非
点収差法によりフォーカスエラー信号が算出されるのと
同様の結果となるが、本発明においては、k>1とした
ので、フォーカシングの検出範囲(いわゆるS字曲線
の、原点付近のほぼ線形な部分)を小さくすることな
く、むしろ大きくして偏光ビームスプリッタ8の厚さを
薄くすることができるようになる。
における場合のように、4分割受光素子42を用いて非
点収差法によりフォーカスエラー信号が算出されるのと
同様の結果となるが、本発明においては、k>1とした
ので、フォーカシングの検出範囲(いわゆるS字曲線
の、原点付近のほぼ線形な部分)を小さくすることな
く、むしろ大きくして偏光ビームスプリッタ8の厚さを
薄くすることができるようになる。
【0055】ここで、k=1とした場合と、k=5とし
た場合のフォーカスエラー信号FESのS字曲線を図4
に示す。k=5とした場合、k=1とした場合に比較し
て約2倍のフォーカシングの検出範囲が得られているこ
とがわかる。
た場合のフォーカスエラー信号FESのS字曲線を図4
に示す。k=5とした場合、k=1とした場合に比較し
て約2倍のフォーカシングの検出範囲が得られているこ
とがわかる。
【0056】従って、いわゆる非点収差法によりフォー
カスエラー信号を検出する場合、十分大きなフォーカシ
ングの検出範囲を得ようとすると、図1において点線で
示すような厚さの偏光ビームスプリッタを用いて、同じ
く点線で示す位置に受光素子を配置しなければならなか
ったが、本発明によれば、フォーカシングの検出範囲を
大きくして、偏光ビームスプリッタ8の厚さを薄くし、
さらに受光素子9をより偏光ビームスプリッタ8に近い
位置に配置することができる。
カスエラー信号を検出する場合、十分大きなフォーカシ
ングの検出範囲を得ようとすると、図1において点線で
示すような厚さの偏光ビームスプリッタを用いて、同じ
く点線で示す位置に受光素子を配置しなければならなか
ったが、本発明によれば、フォーカシングの検出範囲を
大きくして、偏光ビームスプリッタ8の厚さを薄くし、
さらに受光素子9をより偏光ビームスプリッタ8に近い
位置に配置することができる。
【0057】この結果、装置の小型化および軽量化を図
ることができ、さらにアクセスタイムを短縮することが
できる。
ることができ、さらにアクセスタイムを短縮することが
できる。
【0058】ところで、図2の信号処理回路において
は、演算器21a乃至21dの出力は演算器24にも供
給され、そこで加算されて差動増幅器28の非反転入力
端子および演算器29の一方の入力端子に供給される。
は、演算器21a乃至21dの出力は演算器24にも供
給され、そこで加算されて差動増幅器28の非反転入力
端子および演算器29の一方の入力端子に供給される。
【0059】これにより、受光素子9で受光された、デ
ィスク1の反射光すべてのP偏光成分の光強度に対応す
る電圧(Ai+Bi+Ci+Di+Ao+Bo+Co+Do)
が、差動増幅器28および演算器29に供給されること
になる。
ィスク1の反射光すべてのP偏光成分の光強度に対応す
る電圧(Ai+Bi+Ci+Di+Ao+Bo+Co+Do)
が、差動増幅器28および演算器29に供給されること
になる。
【0060】また、受光素子10の領域EまたはFより
それぞれ出力された電圧は、演算器27に供給され、そ
こで加算されて差動増幅器28の反転入力端子および演
算器29の他方の入力端子に供給される。
それぞれ出力された電圧は、演算器27に供給され、そ
こで加算されて差動増幅器28の反転入力端子および演
算器29の他方の入力端子に供給される。
【0061】これにより、受光素子10で受光された、
ディスク1の反射光すべてのS偏光成分の光強度に対応
する電圧(E+F)が、差動増幅器28および演算器2
9に供給されることになる。
ディスク1の反射光すべてのS偏光成分の光強度に対応
する電圧(E+F)が、差動増幅器28および演算器2
9に供給されることになる。
【0062】差動増幅器28においては、演算器24よ
り供給された電圧と、演算器27より供給された電圧と
の差がとられ、RF差信号RFdiffが出力される。
り供給された電圧と、演算器27より供給された電圧と
の差がとられ、RF差信号RFdiffが出力される。
【0063】つまり、RF差信号RFdiffが、式 RFdiff=(Ai+Bi+Ci+Di+Ao+Bo+Co+Do) −(E+F) にしたがって算出されることになる。
【0064】また、演算器29においては、演算器24
より供給された電圧と、演算器27より供給された電圧
とが加算され、RF和信号RFsumが出力される。
より供給された電圧と、演算器27より供給された電圧
とが加算され、RF和信号RFsumが出力される。
【0065】つまり、RF和信号RFsumが、式 RFsum=(Ai+Bi+Ci+Di+Ao+Bo+Co+Do) +(E+F) にしたがって算出されることになる。
【0066】RF差信号RFdiffは、ディスク1が光磁
気ディスクである場合の再生信号として用いられ、RF
和信号RFsumは、例えばディスク1が光ディスクであ
る場合の再生信号や、半導体レーザ2のレーザ光のパワ
ー制御用の信号として用いられる。
気ディスクである場合の再生信号として用いられ、RF
和信号RFsumは、例えばディスク1が光ディスクであ
る場合の再生信号や、半導体レーザ2のレーザ光のパワ
ー制御用の信号として用いられる。
【0067】なお、受光素子9の円状分割線9aを、フ
ォーカスが合っているときのP偏光成分のほぼ円形の光
スポットより幾分大きく形成するようにすることができ
る。この場合、フォーカスがあっていれば、受光素子9
の円状分割線9a内の領域Ai乃至Diにおいて、ディス
ク1の反射光すべてのP偏光成分が受光されることにな
るので、RF和信号およびRF差信号は、図5に示す信
号処理回路により算出することができるようになる。
ォーカスが合っているときのP偏光成分のほぼ円形の光
スポットより幾分大きく形成するようにすることができ
る。この場合、フォーカスがあっていれば、受光素子9
の円状分割線9a内の領域Ai乃至Diにおいて、ディス
ク1の反射光すべてのP偏光成分が受光されることにな
るので、RF和信号およびRF差信号は、図5に示す信
号処理回路により算出することができるようになる。
【0068】即ち、図5では、図2の4入力の演算器2
4の代わりに2入力の演算器30が用いられている他
は、図2における場合と同一の構成になっている。演算
器30は、その入力端子に、演算器21cおよび21d
の出力が供給されるようになされており、それを加算す
る。
4の代わりに2入力の演算器30が用いられている他
は、図2における場合と同一の構成になっている。演算
器30は、その入力端子に、演算器21cおよび21d
の出力が供給されるようになされており、それを加算す
る。
【0069】従って、RF差信号RFdiffは、式 RFdiff=(Ai+Bi+Ci+Di)−(E+F) にしたがって算出され、RF和信号RFsumは、式 RFsum=(Ai+Bi+Ci+Di)+(E+F) にしたがって算出されることになる。
【0070】よって、この場合、図2における場合と比
較して、電圧Ao乃至Doを加算せずに、電圧Ai乃至Di
からRF和信号およびRF差信号を求めることができ、
これにより信号Ao乃至Doに含まれるノイズも加算せず
に済むので、信号のS/Nを向上させることができる。
較して、電圧Ao乃至Doを加算せずに、電圧Ai乃至Di
からRF和信号およびRF差信号を求めることができ、
これにより信号Ao乃至Doに含まれるノイズも加算せず
に済むので、信号のS/Nを向上させることができる。
【0071】さらに、偏光ビームスプリッタ8を、その
直線分割線9bおよび9cのうちの一方、例えば直線分
割線9cをディスク1のトラック方向に合わせ、受光素
子9上の非点収差をトラック方向に対して45度だけ傾
いた方向に発生させるように配置することができる。
直線分割線9bおよび9cのうちの一方、例えば直線分
割線9cをディスク1のトラック方向に合わせ、受光素
子9上の非点収差をトラック方向に対して45度だけ傾
いた方向に発生させるように配置することができる。
【0072】この場合、ディスク1が合焦位置にあれ
ば、図3(c)に示すように、光強度がほぼ円形上に均
一な光スポットが形成される。また、ディスク1が合焦
位置より近くなると、例えば図3(b)に示すようにト
ラック方向に対して45度右上がり(45度左下がり)
の楕円形の光スポットが形成される。ディスク1が合焦
位置よりさらに近くなると、例えば図3(a)に示すよ
うにトラック方向に対して45度右上がりの、大きな楕
円形の光スポットが形成される。
ば、図3(c)に示すように、光強度がほぼ円形上に均
一な光スポットが形成される。また、ディスク1が合焦
位置より近くなると、例えば図3(b)に示すようにト
ラック方向に対して45度右上がり(45度左下がり)
の楕円形の光スポットが形成される。ディスク1が合焦
位置よりさらに近くなると、例えば図3(a)に示すよ
うにトラック方向に対して45度右上がりの、大きな楕
円形の光スポットが形成される。
【0073】また、ディスク1が合焦位置より遠くなる
と、例えば図3(d)に示すようにトラック方向に対し
て45度左上がり(45度右下がり)の楕円形の光スポ
ットが形成される。ディスク1が合焦位置よりさらに遠
くなると、例えば図3(e)に示すようにトラック方向
に対して45度左上がりの、大きな楕円形の光スポット
が形成される。
と、例えば図3(d)に示すようにトラック方向に対し
て45度左上がり(45度右下がり)の楕円形の光スポ
ットが形成される。ディスク1が合焦位置よりさらに遠
くなると、例えば図3(e)に示すようにトラック方向
に対して45度左上がりの、大きな楕円形の光スポット
が形成される。
【0074】さらに、この場合、ディスク1上に照射さ
れる光ビームがディスク1のトラックからずれている
と、受光素子9上の光スポットの、トラック方向と直交
する直線分割線9bと同じ方向の光強度分布に偏りが生
じる。即ち、このトラックずれによる光強度の偏りは、
受光素子9の領域Ai,Ao,Bi、およびBoから出力さ
れる電圧の総和と、領域Ci,Co,Di、およびDoから
出力される電圧の総和との差として現れる。
れる光ビームがディスク1のトラックからずれている
と、受光素子9上の光スポットの、トラック方向と直交
する直線分割線9bと同じ方向の光強度分布に偏りが生
じる。即ち、このトラックずれによる光強度の偏りは、
受光素子9の領域Ai,Ao,Bi、およびBoから出力さ
れる電圧の総和と、領域Ci,Co,Di、およびDoから
出力される電圧の総和との差として現れる。
【0075】従って、この場合、図5に示す信号処理回
路は、図6に示すように構成することができる。なお、
図中、図5における場合と対応する部分については、同
一の符号を付してある。図6の信号処理回路において
は、4入力の演算器31aに、領域Ai,Ao,Bi、お
よびBoから出力される電圧が供給されるようになされ
ており、そこで加算され、差動増幅器32の非反転入力
端子に出力される。
路は、図6に示すように構成することができる。なお、
図中、図5における場合と対応する部分については、同
一の符号を付してある。図6の信号処理回路において
は、4入力の演算器31aに、領域Ai,Ao,Bi、お
よびBoから出力される電圧が供給されるようになされ
ており、そこで加算され、差動増幅器32の非反転入力
端子に出力される。
【0076】さらに、4入力の演算器31bには、領域
Ci,Do,Di、およびDoから出力される電圧が供給さ
れるようになされており、そこで加算され、差動増幅器
32の反転入力端子に出力される。
Ci,Do,Di、およびDoから出力される電圧が供給さ
れるようになされており、そこで加算され、差動増幅器
32の反転入力端子に出力される。
【0077】差動増幅器32においては、演算器31a
の出力(Ai+Ao+Bi+Bo)と、演算器31bの出力
(Ci+Co+Ci+Co)との差分が算出され、トラッキ
ングエラー信号TESとして出力される。
の出力(Ai+Ao+Bi+Bo)と、演算器31bの出力
(Ci+Co+Ci+Co)との差分が算出され、トラッキ
ングエラー信号TESとして出力される。
【0078】つまり、トラッキングエラー信号TES
が、式 TES=(Ai+Ao+Bi+Bo)−(Ci+Co+Ci+Co) にしたがって算出されることになる。
が、式 TES=(Ai+Ao+Bi+Bo)−(Ci+Co+Ci+Co) にしたがって算出されることになる。
【0079】従って、フォーカスエラー信号とともに、
トラッキングエラー信号が受光素子9より出力された電
圧により算出されるので、図に示すように偏光ビームス
プリッタ8からのS偏光成分を受光する受光素子10は
分割せずに済むことになる。
トラッキングエラー信号が受光素子9より出力された電
圧により算出されるので、図に示すように偏光ビームス
プリッタ8からのS偏光成分を受光する受光素子10は
分割せずに済むことになる。
【0080】よって、受光素子10が分割されていた場
合に比較して、分割ギャップによる受光量の損失がなく
なり、S/Nの向上したRF和信号およびRF和信号を
得ることができるようになる。
合に比較して、分割ギャップによる受光量の損失がなく
なり、S/Nの向上したRF和信号およびRF和信号を
得ることができるようになる。
【0081】次に、図7は、本発明の光ヘッドを応用し
た光磁気ディスク装置の第2実施例の構成を示すブロッ
ク図である。図中、図1における場合と対応する部分に
ついては、同一の符号を付してある。
た光磁気ディスク装置の第2実施例の構成を示すブロッ
ク図である。図中、図1における場合と対応する部分に
ついては、同一の符号を付してある。
【0082】この光ディスク装置においては、偏光ビー
ムスプリッタ8が、集光レンズ7で集光された、ディス
ク1からの反射光の光軸に対して45度未満だけ傾けて
配置されており、即ち偏光ビームスプリッタ8が、それ
を通過するP偏光成分の光の光軸と、そこで反射される
S偏光成分の光の光軸とのなす角度が90度未満になる
ように配置されている。
ムスプリッタ8が、集光レンズ7で集光された、ディス
ク1からの反射光の光軸に対して45度未満だけ傾けて
配置されており、即ち偏光ビームスプリッタ8が、それ
を通過するP偏光成分の光の光軸と、そこで反射される
S偏光成分の光の光軸とのなす角度が90度未満になる
ように配置されている。
【0083】さらに、偏光ビームスプリッタ8の厚さが
薄いので、そこを通過するP偏光成分と、そこで反射さ
れるS偏光成分との距離(間隔)が小さくなり、従って
図に示すように、受光素子9および10を、受光素子パ
ッケージ11の中のほぼ同一平面上に形成することがで
きるようになる。
薄いので、そこを通過するP偏光成分と、そこで反射さ
れるS偏光成分との距離(間隔)が小さくなり、従って
図に示すように、受光素子9および10を、受光素子パ
ッケージ11の中のほぼ同一平面上に形成することがで
きるようになる。
【0084】よって、受光素子9および10(受光素子
パッケージ11)を、容易に製造し、組み立てて調整す
ることができる。さらに、装置を小型に構成することが
でき、低コスト化を図ることができる。
パッケージ11)を、容易に製造し、組み立てて調整す
ることができる。さらに、装置を小型に構成することが
でき、低コスト化を図ることができる。
【0085】以上、本発明の光ヘッドを光磁気ディスク
装置に適用した場合について説明したが、本発明は、光
磁気ディスク装置だけでなく、例えば光ディスク装置や
光カード読み取り装置などにも適用することができる。
装置に適用した場合について説明したが、本発明は、光
磁気ディスク装置だけでなく、例えば光ディスク装置や
光カード読み取り装置などにも適用することができる。
【0086】なお、コリメータレンズ3は、半導体レー
ザ2とビームスプリッタ4の間に配置するのではなく、
図8に示すように、ビームスプリッタ4と対物レンズ5
の間に配置するようにしても良い。
ザ2とビームスプリッタ4の間に配置するのではなく、
図8に示すように、ビームスプリッタ4と対物レンズ5
の間に配置するようにしても良い。
【0087】さらに、例えば図2の信号処理回路におい
ては、差動増幅器22aの出力をk倍するようにした
が、差動増幅器22aの出力をk倍するのではなく、差
動増幅器22bの出力を1/k倍するようにしても良
い。
ては、差動増幅器22aの出力をk倍するようにした
が、差動増幅器22aの出力をk倍するのではなく、差
動増幅器22bの出力を1/k倍するようにしても良
い。
【0088】また、1/2波長板6は、必ずしも必要で
はない。
はない。
【0089】
【発明の効果】請求項1に記載の光ヘッドによれば、受
光面を内側の領域と外側の領域とに分割する円状の円状
分割線と、内側の領域および外側の領域をそれぞれ4つ
の領域に分割する、円状分割線の中心点を交点としてほ
ぼ直交する2つの直線分割線とによって8つの領域に分
割された第1の受光手段により、非点収差を発生する光
学手段を介した、記録媒体からの反射光または透過光を
受光する。そして、4つの内側の領域の2組の対角に位
置する領域それぞれにおける受光信号の和の差を算出す
るとともに、4つの外側の領域の2組の対角に位置する
領域それぞれにおける受光信号の和の差を算出し、外側
の領域から算出された差を1より大きい所定数倍だけし
てから、内側の領域から算出された差との和を算出する
ことによって、フォーカスエラー信号を生成する。従っ
て、光学手段の厚さを薄くしても、十分大きなフォーカ
シング検出範囲を得ることができ、さらに装置の軽量化
および小型化を図ることができる。
光面を内側の領域と外側の領域とに分割する円状の円状
分割線と、内側の領域および外側の領域をそれぞれ4つ
の領域に分割する、円状分割線の中心点を交点としてほ
ぼ直交する2つの直線分割線とによって8つの領域に分
割された第1の受光手段により、非点収差を発生する光
学手段を介した、記録媒体からの反射光または透過光を
受光する。そして、4つの内側の領域の2組の対角に位
置する領域それぞれにおける受光信号の和の差を算出す
るとともに、4つの外側の領域の2組の対角に位置する
領域それぞれにおける受光信号の和の差を算出し、外側
の領域から算出された差を1より大きい所定数倍だけし
てから、内側の領域から算出された差との和を算出する
ことによって、フォーカスエラー信号を生成する。従っ
て、光学手段の厚さを薄くしても、十分大きなフォーカ
シング検出範囲を得ることができ、さらに装置の軽量化
および小型化を図ることができる。
【0090】請求項2に記載の光ヘッドによれば、第1
の受光手段を分割する2つの直線分割線のうち、記録媒
体のトラック方向に沿った直線分割線により分割された
第1の受光手段の2つの領域における受光信号の差を算
出することによって、トラッキングエラー信号を生成す
る。従って、フォーカスエラー信号とトラッキングエラ
ー信号を同一の第1の受光手段から得ることができるの
で、装置の軽量化および小型化をさらに図ることができ
る。
の受光手段を分割する2つの直線分割線のうち、記録媒
体のトラック方向に沿った直線分割線により分割された
第1の受光手段の2つの領域における受光信号の差を算
出することによって、トラッキングエラー信号を生成す
る。従って、フォーカスエラー信号とトラッキングエラ
ー信号を同一の第1の受光手段から得ることができるの
で、装置の軽量化および小型化をさらに図ることができ
る。
【0091】請求項3に記載の光ヘッドによれば、第1
の受光手段の4つの内側の領域それぞれにおける受光信
号のみに基づいて、再生信号を生成する。従って、フォ
ーカスエラー信号と再生信号を同一の第1の受光手段か
ら得ることができるので、装置の軽量化および小型化を
図ることができる。
の受光手段の4つの内側の領域それぞれにおける受光信
号のみに基づいて、再生信号を生成する。従って、フォ
ーカスエラー信号と再生信号を同一の第1の受光手段か
ら得ることができるので、装置の軽量化および小型化を
図ることができる。
【0092】請求項4に記載の光ヘッドによれば、光学
手段が、記録媒体からの反射光または透過光の光軸に対
して傾けて配置した、光を反射および透過する平板形状
の透明体であり、第1の受光手段が、透明体を透過した
光を受光する。従って、装置の軽量化および小型化を図
ることができる。
手段が、記録媒体からの反射光または透過光の光軸に対
して傾けて配置した、光を反射および透過する平板形状
の透明体であり、第1の受光手段が、透明体を透過した
光を受光する。従って、装置の軽量化および小型化を図
ることができる。
【0093】請求項5に記載の光ヘッドによれば、第2
の受光素子で光学手段としての透明体で反射された光を
受光する。従って、トラッキングエラー信号の他、第1
の受光手段で受光された光と合わせて、S/Nの高い再
生信号を容易に得ることができる。
の受光素子で光学手段としての透明体で反射された光を
受光する。従って、トラッキングエラー信号の他、第1
の受光手段で受光された光と合わせて、S/Nの高い再
生信号を容易に得ることができる。
【0094】請求項6に記載の光ヘッドによれば、光学
手段としての透明体が、記録媒体からの反射光または透
過光を透過および反射することによって、互いに直交す
る偏光成分の光に分離する。従って、磁気カー効果に基
づく情報の再生信号を容易に得ることができる。
手段としての透明体が、記録媒体からの反射光または透
過光を透過および反射することによって、互いに直交す
る偏光成分の光に分離する。従って、磁気カー効果に基
づく情報の再生信号を容易に得ることができる。
【0095】請求項7に記載の光ヘッドによれば、光学
手段としての透明体が、透明体を透過した光の光軸と、
透明体を反射した光の光軸とのなす角度が90度未満に
なるように配置されている。従って、透明体を透過した
光、または透明体を反射した光をそれぞれ受光する素子
を同一平面内に配置することができるので、装置を小型
に構成することができる。
手段としての透明体が、透明体を透過した光の光軸と、
透明体を反射した光の光軸とのなす角度が90度未満に
なるように配置されている。従って、透明体を透過した
光、または透明体を反射した光をそれぞれ受光する素子
を同一平面内に配置することができるので、装置を小型
に構成することができる。
【図1】本発明の光ヘッドを応用した光磁気ディスク装
置の一実施例の構成を示すブロック図である。
置の一実施例の構成を示すブロック図である。
【図2】受光素子9および10から出力される受光信号
(電圧)を信号処理する信号処理回路の一実施例の構成
を示す回路図である。
(電圧)を信号処理する信号処理回路の一実施例の構成
を示す回路図である。
【図3】フォーカスずれに対応するビーム光の光スポッ
トの光強度分布の変化を説明するための図である。
トの光強度分布の変化を説明するための図である。
【図4】フォーカスエラー信号のS字曲線を示す図であ
る。
る。
【図5】受光素子9および10から出力される受光信号
(電圧)を信号処理する信号処理回路の第2実施例の構
成を示す回路図である。
(電圧)を信号処理する信号処理回路の第2実施例の構
成を示す回路図である。
【図6】受光素子9および10から出力される受光信号
(電圧)を信号処理する信号処理回路の第3実施例の構
成を示す回路図である。
(電圧)を信号処理する信号処理回路の第3実施例の構
成を示す回路図である。
【図7】本発明の光ヘッドを応用した光磁気ディスク装
置の第2実施例の構成を示すブロック図である。
置の第2実施例の構成を示すブロック図である。
【図8】本発明の光ヘッドを応用した光磁気ディスク装
置の第3実施例の構成を示すブロック図である。
置の第3実施例の構成を示すブロック図である。
【図9】従来の光磁気ディスク装置の一例の構成を示す
ブロック図である。
ブロック図である。
1 ディスク 2 半導体レーザ 3 コリメータレンズ 4 ビームスプリッタ 5 対物レンズ 6 1/2波長板 7 集光レンズ 8 偏光ビームスプリッタ 9 受光素子 9a 円状分割線 9b,9c 直線分割線 10 受光素子 10a 直線分割線 11 受光素子パッケージ 21a乃至21d 演算器 22a,22b 差動増幅器 23 乗算器 24,25 演算器 26 差動増幅器 27 演算器 28 差動増幅器 29,30,31a,31b 演算器 32 差動増幅器 41 偏光ビームスプリッタ 42 4分割受光素子 42a,42b 分割線 43 2分割受光素子 43a 分割線
Claims (7)
- 【請求項1】 記録媒体に照射する光を発光する発光手
段と、 非点収差を発生する光学手段と、 前記光学手段を介した、前記記録媒体からの反射光また
は透過光を受光する、受光面を内側の領域と外側の領域
とに分割する円状の円状分割線と、前記内側の領域およ
び外側の領域をそれぞれ4つの領域に分割する、前記円
状分割線の中心点を交点としてほぼ直交する2つの直線
分割線とによって8つの領域に分割された第1の受光手
段とを備え、 前記第1の受光手段の前記4つの内側の領域の2組の対
角に位置する領域それぞれにおける受光信号の和の差を
算出するとともに、前記4つの外側の領域の2組の対角
に位置する領域それぞれにおける受光信号の和の差を算
出し、前記外側の領域から算出された前記差を1より大
きい所定数倍だけしてから、前記内側の領域から算出さ
れた前記差との和を算出することによって、フォーカス
エラー信号を生成することを特徴とする光ヘッド。 - 【請求項2】 前記第1の受光手段を分割する前記2つ
の直線分割線のうち、前記記録媒体のトラック方向に沿
った直線分割線により分割された前記第1の受光手段の
2つの領域における受光信号の差を算出することによっ
て、トラッキングエラー信号を生成することを特徴とす
る請求項1に記載の光ヘッド。 - 【請求項3】 前記第1の受光手段の前記4つの内側の
領域それぞれにおける受光信号のみに基づいて、再生信
号を生成することを特徴とする請求項1または2に記載
の光ヘッド。 - 【請求項4】 前記光学手段は、前記記録媒体からの反
射光または透過光の光軸に対して傾けて配置した、光を
反射および透過する平板形状の透明体であり、 前記第1の受光手段は、前記透明体を透過した光を受光
することを特徴とする請求項1乃至3のいずれかに記載
の光ヘッド。 - 【請求項5】 前記光学手段としての透明体で反射され
た光を受光する第2の受光手段をさらに備えることを特
徴とする請求項4に記載の光ヘッド。 - 【請求項6】 前記光学手段としての透明体は、前記記
録媒体からの反射光または透過光を透過および反射する
ことによって、互いに直交する偏光成分の光に分離する
ことを特徴とする請求項4または5に記載の光ヘッド。 - 【請求項7】 前記光学手段としての透明体は、前記透
明体を透過した光の光軸と、前記透明体を反射した光の
光軸とのなす角度が90度未満になるように配置されて
いることを特徴とする請求項4乃至6のいずれかに記載
の光ヘッド。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP4335591A JPH06162531A (ja) | 1992-11-20 | 1992-11-20 | 光ヘッド |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP4335591A JPH06162531A (ja) | 1992-11-20 | 1992-11-20 | 光ヘッド |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH06162531A true JPH06162531A (ja) | 1994-06-10 |
Family
ID=18290303
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP4335591A Withdrawn JPH06162531A (ja) | 1992-11-20 | 1992-11-20 | 光ヘッド |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH06162531A (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US6392965B1 (en) | 1998-08-06 | 2002-05-21 | Sharp Kabushiki Kaisha | Optical pickup device |
-
1992
- 1992-11-20 JP JP4335591A patent/JPH06162531A/ja not_active Withdrawn
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US6392965B1 (en) | 1998-08-06 | 2002-05-21 | Sharp Kabushiki Kaisha | Optical pickup device |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JPH0731837B2 (ja) | 光ピツクアツプ装置 | |
JPH02230517A (ja) | 光ヘッド | |
JPH0757320A (ja) | 光磁気記録媒体再生装置 | |
JPH11110809A (ja) | 光学的情報記憶装置 | |
JP3362912B2 (ja) | ビーム整形及びビーム分離装置 | |
JPH06162531A (ja) | 光ヘッド | |
JP2636846B2 (ja) | 光磁気デイスクの光学ピツクアツプ装置 | |
JP2751899B2 (ja) | 光学ピックアップ装置 | |
JP3264346B2 (ja) | 光磁気記録再生用ピックアップ装置 | |
JPS63291238A (ja) | 光メモリ−装置 | |
JPH02193347A (ja) | 光磁気記録装置用光学ヘッド構造 | |
JPH0327978B2 (ja) | ||
JP2625738B2 (ja) | 光学ヘッド | |
JPH0668540A (ja) | 光学ピックアップ装置 | |
JPH01250905A (ja) | 偏光光学素子 | |
JP3461541B2 (ja) | 光学ピックアップ装置 | |
JP3211483B2 (ja) | 光ピックアップ装置 | |
JP3360380B2 (ja) | 光ピックアップ | |
JP2711474B2 (ja) | 光ピックアップ装置の焦点調整装置 | |
JPH0798896A (ja) | 光磁気記録再生用ピックアップ装置 | |
JPH06259790A (ja) | 光ピックアップ装置 | |
JPH11110808A (ja) | 光学的情報記憶装置 | |
JP2000163821A (ja) | 光学式ヘッド | |
JPH06338090A (ja) | 光ピックアップ | |
JPS63279448A (ja) | 光磁気記録再生装置 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A300 | Withdrawal of application because of no request for examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A300 Effective date: 20000201 |