JPH06138155A - 電流検出方法 - Google Patents
電流検出方法Info
- Publication number
- JPH06138155A JPH06138155A JP29188192A JP29188192A JPH06138155A JP H06138155 A JPH06138155 A JP H06138155A JP 29188192 A JP29188192 A JP 29188192A JP 29188192 A JP29188192 A JP 29188192A JP H06138155 A JPH06138155 A JP H06138155A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- voltage
- socket
- package
- power
- measuring resistor
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Withdrawn
Links
Landscapes
- Measurement Of Current Or Voltage (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】 LSI 素子を有するパッケージをテストボード
に実装し、該LSI 素子の電源入力端子に電圧測定用抵抗
を接続し、該電圧測定用抵抗に於ける電位差を該計測器
によって計測することで電流を検出する電流検出方法に
関し、種類の異なるLSI 素子に対する計測が電圧測定用
抵抗R の交換を行うことなく行えるようにすることで、
検出精度の向上を図ることを目的とする。 【構成】 ソケットを介してLSI 素子を有するパッケー
ジを実装するテストボードと、電圧を測定する測定器と
を備え、該LSI 素子の電源入力端子に供給される電源が
所定の抵抗値を有する電圧測定用抵抗を介して行われよ
う該電圧測定用抵抗を該パッケージまたは該ソケットに
内設し、該ソケットのコンタクトピンに前記測定器を接
続することで、該電圧測定用抵抗に於ける電位差を計測
し、計測された該電位差によって該電源入力端子に供給
される電源電流を検出するように構成する。
に実装し、該LSI 素子の電源入力端子に電圧測定用抵抗
を接続し、該電圧測定用抵抗に於ける電位差を該計測器
によって計測することで電流を検出する電流検出方法に
関し、種類の異なるLSI 素子に対する計測が電圧測定用
抵抗R の交換を行うことなく行えるようにすることで、
検出精度の向上を図ることを目的とする。 【構成】 ソケットを介してLSI 素子を有するパッケー
ジを実装するテストボードと、電圧を測定する測定器と
を備え、該LSI 素子の電源入力端子に供給される電源が
所定の抵抗値を有する電圧測定用抵抗を介して行われよ
う該電圧測定用抵抗を該パッケージまたは該ソケットに
内設し、該ソケットのコンタクトピンに前記測定器を接
続することで、該電圧測定用抵抗に於ける電位差を計測
し、計測された該電位差によって該電源入力端子に供給
される電源電流を検出するように構成する。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、LSI 素子を有するパッ
ケージをテストボードに実装し、該LSI 素子の電源入力
端子に電圧測定用抵抗を接続し、該電圧測定用抵抗に於
ける電位差を該計測器によって計測することで電流を検
出する電流検出方法に関する。
ケージをテストボードに実装し、該LSI 素子の電源入力
端子に電圧測定用抵抗を接続し、該電圧測定用抵抗に於
ける電位差を該計測器によって計測することで電流を検
出する電流検出方法に関する。
【０００２】多くのLSI 素子を有するパッケージによっ
て電子装置を形成する場合は、パッケージに内設される
それぞれのLSI 素子の種類によって消費電力が異なるた
め、予め、異なる種類のLSI 素子に於ける消費電力を測
定することが行われ、例えば、電源装置の出力電源の容
量を決定することが行われる。
て電子装置を形成する場合は、パッケージに内設される
それぞれのLSI 素子の種類によって消費電力が異なるた
め、予め、異なる種類のLSI 素子に於ける消費電力を測
定することが行われ、例えば、電源装置の出力電源の容
量を決定することが行われる。
【０００３】したがって、消費電力の測定が正確に行わ
れない場合は、出力電源の容量に過不足が生じることに
なる。そこで、このような消費電力の測定は極力正確に
行うことが要望される。
れない場合は、出力電源の容量に過不足が生じることに
なる。そこで、このような消費電力の測定は極力正確に
行うことが要望される。
【０００４】
【従来の技術】従来は、図３の従来の説明図に示すよう
に構成されていた。図３に示すように、LSI 素子5 を有
するパッケージ4 がソケット2 を介してテストボード1
に実装され、パッケージ4 の入出力ピン4Aがソケット2
に挿脱自在に接続され、ソケット2 のコンタクトピン3
がテストボード1 にボンディングされることで接続され
るように形成されている。
に構成されていた。図３に示すように、LSI 素子5 を有
するパッケージ4 がソケット2 を介してテストボード1
に実装され、パッケージ4 の入出力ピン4Aがソケット2
に挿脱自在に接続され、ソケット2 のコンタクトピン3
がテストボード1 にボンディングされることで接続され
るように形成されている。
【０００５】また、テストボード1 には中継端子M1とM2
との間に接続された電圧測定用抵抗R が設けられ、供給
される電源V を電圧測定用抵抗R に接続し、電圧測定用
抵抗R に於ける電源V の電位差VCを計測するよう測定器
6 が測定端子T1,T2 が設けられている。
との間に接続された電圧測定用抵抗R が設けられ、供給
される電源V を電圧測定用抵抗R に接続し、電圧測定用
抵抗R に於ける電源V の電位差VCを計測するよう測定器
6 が測定端子T1,T2 が設けられている。
【０００６】そこで、端子P1に電源V を、端子P2にグラ
ンドG を、端子TA1 〜TAN,TB1 〜TBN に信号SA1 〜SAN,
SB1 〜SBN をそれぞれ接続し、LSI 素子5 が稼動状態の
時、測定器6 を測定端子T1,T2 に接続し、計測された電
位差VCを基に、LSI 素子5 の電源入力端子VDD に供給さ
れる電流の検出が行われる。
ンドG を、端子TA1 〜TAN,TB1 〜TBN に信号SA1 〜SAN,
SB1 〜SBN をそれぞれ接続し、LSI 素子5 が稼動状態の
時、測定器6 を測定端子T1,T2 に接続し、計測された電
位差VCを基に、LSI 素子5 の電源入力端子VDD に供給さ
れる電流の検出が行われる。
【０００７】このような構成では、測定すべきLSI 素子
5 の種類に応じて、電圧測定用抵抗R の抵抗値は、電源
V を供給した時、LSI 素子5 の動作に影響がない値とな
る所定の値に設定される。
5 の種類に応じて、電圧測定用抵抗R の抵抗値は、電源
V を供給した時、LSI 素子5 の動作に影響がない値とな
る所定の値に設定される。
【０００８】したがって、所定のLSI 素子5 を有するパ
ッケージ4 の測定が終了した後、異なったLSI 素子5 を
有するパッケージ4 の測定を行う場合は、電圧測定用抵
抗Rの抵抗値が、そのLSI 素子5 に適した所定の値なる
よう電圧測定用抵抗R を交換することが必要となる。
ッケージ4 の測定が終了した後、異なったLSI 素子5 を
有するパッケージ4 の測定を行う場合は、電圧測定用抵
抗Rの抵抗値が、そのLSI 素子5 に適した所定の値なる
よう電圧測定用抵抗R を交換することが必要となる。
【０００９】
【発明が解決しようとする課題】しかし、このような中
継端子M1とM2との間に設けられる電圧測定用抵抗R は、
通常、半田付けによって接続されるため、半田付けされ
た電圧測定用抵抗R を一旦、取外し、再度、新たな電圧
測定用抵抗R を半田付けする交換を行うことで、測定器
6 の接続される線路抵抗が微量に変化することになる。
継端子M1とM2との間に設けられる電圧測定用抵抗R は、
通常、半田付けによって接続されるため、半田付けされ
た電圧測定用抵抗R を一旦、取外し、再度、新たな電圧
測定用抵抗R を半田付けする交換を行うことで、測定器
6 の接続される線路抵抗が微量に変化することになる。
【００１０】したがって、電圧測定用抵抗R を交換した
前後では、測定値に微細な差が生じることになり、実際
に正確な電位差VCの測定を行うことができない問題を有
していた。
前後では、測定値に微細な差が生じることになり、実際
に正確な電位差VCの測定を行うことができない問題を有
していた。
【００１１】そこで、本発明では、種類の異なるLSI 素
子に対する計測が電圧測定用抵抗Rの交換を行うことな
く行えるようにすることで、検出精度の向上を図ること
を目的とする。
子に対する計測が電圧測定用抵抗Rの交換を行うことな
く行えるようにすることで、検出精度の向上を図ること
を目的とする。
【００１２】
【課題を解決するための手段】図１は本発明の原理説明
図であり、図１に示すように、ソケット2 を介してLSI
素子5 を有するパッケージ4 を実装するテストボード1
と、電圧を測定する測定器6 とを備え、該LSI 素子5 の
電源入力端子VDD に供給される電源が所定の抵抗値を有
する電圧測定用抵抗R を介して行われよう該電圧測定用
抵抗R を該パッケージ4 または該ソケット2 に内設し、
該ソケット2 のコンタクトピン3 に前記測定器6 を接続
することで、該電圧測定用抵抗R に於ける電位差VCを計
測し、計測した該電位差VCによって該電源入力端子VDD
に供給される電源電流を検出するように構成する。
図であり、図１に示すように、ソケット2 を介してLSI
素子5 を有するパッケージ4 を実装するテストボード1
と、電圧を測定する測定器6 とを備え、該LSI 素子5 の
電源入力端子VDD に供給される電源が所定の抵抗値を有
する電圧測定用抵抗R を介して行われよう該電圧測定用
抵抗R を該パッケージ4 または該ソケット2 に内設し、
該ソケット2 のコンタクトピン3 に前記測定器6 を接続
することで、該電圧測定用抵抗R に於ける電位差VCを計
測し、計測した該電位差VCによって該電源入力端子VDD
に供給される電源電流を検出するように構成する。
【００１３】このように構成することによって前述の課
題は解決される。
題は解決される。
【００１４】
【作用】即ち、所定の抵抗値を有する電圧測定用抵抗R
を予め、ソケット2 またはパッケージ4 に内設し、電位
差VCを測定する測定器6 をソケット2 のコンタクト3 に
接続することで電位差VCの計測が行えるようにしたもの
である。
を予め、ソケット2 またはパッケージ4 に内設し、電位
差VCを測定する測定器6 をソケット2 のコンタクト3 に
接続することで電位差VCの計測が行えるようにしたもの
である。
【００１５】したがって、電圧測定用抵抗R をパッケー
ジ4 に内設した場合は、ソケット2に異なったLSI 素子5
の有するパッケージ4 を挿脱させることで、また、電
圧測定用抵抗R をソケット2 に内設した場合は、テスト
ボード1 に実装されたソケット2 を挿脱させることで容
易に測定を行うことができ、測定条件を極力変えること
なく連続した測定が行え、測定精度の向上を図ることが
でき、更に、従来のような測定すべきパッケージ4 に応
じて、テストボード1 に所定の抵抗値を有する電圧測定
用抵抗R を選択して取り替えることが不要となり、測定
作業の短縮を図ることができる。
ジ4 に内設した場合は、ソケット2に異なったLSI 素子5
の有するパッケージ4 を挿脱させることで、また、電
圧測定用抵抗R をソケット2 に内設した場合は、テスト
ボード1 に実装されたソケット2 を挿脱させることで容
易に測定を行うことができ、測定条件を極力変えること
なく連続した測定が行え、測定精度の向上を図ることが
でき、更に、従来のような測定すべきパッケージ4 に応
じて、テストボード1 に所定の抵抗値を有する電圧測定
用抵抗R を選択して取り替えることが不要となり、測定
作業の短縮を図ることができる。
【００１６】
【実施例】以下本発明を図２を参考に詳細に説明する図
２は本発明による一実施例の説明図である。全図を通じ
て、同一符号は同一対象物を示す。
２は本発明による一実施例の説明図である。全図を通じ
て、同一符号は同一対象物を示す。
【００１７】本発明は、図２に示すように、パッケージ
4 の入出力ピン4-1 と4-2 との間に電圧測定用抵抗R を
接続することでパッケージ4 に電圧測定用抵抗R を内設
するか、または、ソケット2 のコンタクトピン3-1 と3-
2 との間に電圧測定用抵抗Rを接続することでソケット2
に電圧測定用抵抗R を内設するように形成したもので
ある。
4 の入出力ピン4-1 と4-2 との間に電圧測定用抵抗R を
接続することでパッケージ4 に電圧測定用抵抗R を内設
するか、または、ソケット2 のコンタクトピン3-1 と3-
2 との間に電圧測定用抵抗Rを接続することでソケット2
に電圧測定用抵抗R を内設するように形成したもので
ある。
【００１８】そこで、パッケージ4 に電圧測定用抵抗R
が内設された場合は、電源端子P1に接続された電源V
は、点線で示す接続によってコンタクトピン3-1 と、入
出力ピン4-1 とに接続され、電圧測定用抵抗R を介して
LSI 素子5 の電源入力端子VDDに供給され、電源入力端
子VDD の電位は入出力ピン4-2 と、コンタクトピン3-2
との接続により測定端子T2に接続される。
が内設された場合は、電源端子P1に接続された電源V
は、点線で示す接続によってコンタクトピン3-1 と、入
出力ピン4-1 とに接続され、電圧測定用抵抗R を介して
LSI 素子5 の電源入力端子VDDに供給され、電源入力端
子VDD の電位は入出力ピン4-2 と、コンタクトピン3-2
との接続により測定端子T2に接続される。
【００１９】また、ソケット2 に電圧測定用抵抗R が内
設された場合は、電源端子P1に接続された電源V は、実
線で示す接続によってコンタクトピン3-1 に接続され、
電圧測定用抵抗R と、入出力ピン4-1 とを介してLSI 素
子5 の電源入力端子VDD に供給され、電源入力端子VDD
の電位は入出力ピン4-1 と、コンタクトピン3-2 との接
続により測定端子T2に接続される。
設された場合は、電源端子P1に接続された電源V は、実
線で示す接続によってコンタクトピン3-1 に接続され、
電圧測定用抵抗R と、入出力ピン4-1 とを介してLSI 素
子5 の電源入力端子VDD に供給され、電源入力端子VDD
の電位は入出力ピン4-1 と、コンタクトピン3-2 との接
続により測定端子T2に接続される。
【００２０】したがって、いづれの場合でも、端子P1に
電源V を、端子P2にグランドG を、端子TA1 〜TAN,TB1
〜TBN に信号SA1 〜SAN,SB1 〜SBN をそれぞれ接続し、
LSI素子5 が稼動状態の時、測定器6 を測定端子T1,T2
に接続することで電位差VCを計測することが行え、LSI
素子5 に供給される消費電力の検出を行うことができ
る。
電源V を、端子P2にグランドG を、端子TA1 〜TAN,TB1
〜TBN に信号SA1 〜SAN,SB1 〜SBN をそれぞれ接続し、
LSI素子5 が稼動状態の時、測定器6 を測定端子T1,T2
に接続することで電位差VCを計測することが行え、LSI
素子5 に供給される消費電力の検出を行うことができ
る。
【００２１】このように構成すと、異なる種類のLSI 素
子5 を有するパッケージ4 の測定を行う場合、電圧測定
用抵抗R がパッケージ4 に内設される時は、パッケージ
4 を、また、電圧測定用抵抗R がソケット2 に内設され
る時は、ソケット2 をそれぞれ単に、交換することで良
く、テストボード1 の接続を変更することなく、測定を
行うことができる。
子5 を有するパッケージ4 の測定を行う場合、電圧測定
用抵抗R がパッケージ4 に内設される時は、パッケージ
4 を、また、電圧測定用抵抗R がソケット2 に内設され
る時は、ソケット2 をそれぞれ単に、交換することで良
く、テストボード1 の接続を変更することなく、測定を
行うことができる。
【００２２】
【発明の効果】以上説明したように、本発明では、所定
の抵抗値を有する電圧測定用抵抗を予め、パッケージま
たはソケットに内設し、電圧測定用抵抗に於ける電位差
を測定することでLSI 素子に供給される電源の消費電力
を検出するようにしたものである。
の抵抗値を有する電圧測定用抵抗を予め、パッケージま
たはソケットに内設し、電圧測定用抵抗に於ける電位差
を測定することでLSI 素子に供給される電源の消費電力
を検出するようにしたものである。
【００２３】したがって、従来のような異なる種類のLS
I 素子を有するパッケージの測定を連続して行うこと
が、電圧測定用抵抗を変えること、および、テストボー
ドの接続を変更することが不要となり、極力測定条件を
変えることなく、しかも、測定を容易にすることがで
き、実用的効果は大である。
I 素子を有するパッケージの測定を連続して行うこと
が、電圧測定用抵抗を変えること、および、テストボー
ドの接続を変更することが不要となり、極力測定条件を
変えることなく、しかも、測定を容易にすることがで
き、実用的効果は大である。
【図１】 本発明の原理説明図
【図２】 本発明による一実施例の説明図
【図３】 従来の説明図
１ テストボード ２ ソケット ３ コンタクトピン ４ パッケージ ５ LSI 素子 ６ 測定器 Ｒ 電圧測定用抵抗 VC 電位差 VDD 電源入力端子
Claims (1)
- 【請求項１】 ソケット(2) を介してLSI 素子(5) を有
するパッケージ(4)を実装するテストボード(1) と、電
圧を測定する測定器(6) とを備え、該LSI 素子(5) の電
源入力端子(VDD) に供給される電源が所定の抵抗値を有
する電圧測定用抵抗(R) を介して行われよう該電圧測定
用抵抗(R) を該パッケージ(4) または該ソケット(2) に
内設し、該ソケット(2) のコンタクトピン(3) に前記測
定器(6) を接続することで、該電圧測定用抵抗(R) に於
ける電位差(VC)を計測し、計測した該電位差(VC)によっ
て該電源入力端子(VDD) に供給される電源電流を検出す
ることを特徴とする電流検出方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP29188192A JPH06138155A (ja) | 1992-10-30 | 1992-10-30 | 電流検出方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP29188192A JPH06138155A (ja) | 1992-10-30 | 1992-10-30 | 電流検出方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH06138155A true JPH06138155A (ja) | 1994-05-20 |
Family
ID=17774654
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP29188192A Withdrawn JPH06138155A (ja) | 1992-10-30 | 1992-10-30 | 電流検出方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH06138155A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US7301361B2 (en) | 2005-10-11 | 2007-11-27 | Mitsubishi Denki Kabushiki Kaisha | Logic circuit for board power-supply evaluation and board power-supply evaluating method |
| JP2013057625A (ja) * | 2011-09-09 | 2013-03-28 | Nec System Technologies Ltd | 電流測定治具 |
-
1992
- 1992-10-30 JP JP29188192A patent/JPH06138155A/ja not_active Withdrawn
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US7301361B2 (en) | 2005-10-11 | 2007-11-27 | Mitsubishi Denki Kabushiki Kaisha | Logic circuit for board power-supply evaluation and board power-supply evaluating method |
| JP2013057625A (ja) * | 2011-09-09 | 2013-03-28 | Nec System Technologies Ltd | 電流測定治具 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| US7392147B2 (en) | USB port tester | |
| US4216424A (en) | Method and apparatus for testing electrolytic capacitors | |
| US7075307B1 (en) | Method and apparatus for detecting shorts on inaccessible pins using capacitive measurements | |
| US6836137B2 (en) | Configuration for testing semiconductor devices | |
| JP3963952B2 (ja) | 集積回路内の導体を含む接続部試験方法 | |
| JPH06138155A (ja) | 電流検出方法 | |
| JP3675678B2 (ja) | プローブ接触状態検出方法およびプローブ接触状態検出装置 | |
| JP3415681B2 (ja) | インピーダンス測定装置 | |
| JPH0275087A (ja) | 磁気ラインセンサ | |
| JPH07104026A (ja) | 実装部品の半田付け不良検出方法 | |
| US20020060563A1 (en) | Electronic device and manufacturing method thereof | |
| CN1201481C (zh) | 用于移动电话的放大器 | |
| JP2580064Y2 (ja) | 四端子測定回路 | |
| JP2730504B2 (ja) | 試験用プローブピンの接触不良判断方法およびインサーキットテスタ | |
| KR100476740B1 (ko) | 인쇄회로기판상의 rlc 병렬 회로 검사 방법 | |
| JPH0737954A (ja) | コンタクト不良検出装置 | |
| JP3493686B2 (ja) | 磁気カードリーダ | |
| KR100608436B1 (ko) | 듀얼포트 릴레이를 이용한 소자의 누설전류 측정 방법 및장치 | |
| JPH0222707Y2 (ja) | ||
| JPH07113850A (ja) | 半導体集積回路 | |
| JP3323150B2 (ja) | プローブカードチェッカー | |
| JPS63256872A (ja) | ２点間測定式導通試験器 | |
| CN115290983A (zh) | 一种测量晶圆测试中探针焊垫接触电阻的方法 | |
| JP2884780B2 (ja) | Ｔａｂ型半導体装置 | |
| JPH0366622B2 (ja) |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A300 | Withdrawal of application because of no request for examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A300 Effective date: 20000104 |