JPH06116759A - 両面同時エッチング装置 - Google Patents

両面同時エッチング装置

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JPH06116759A
JPH06116759A JP28684292A JP28684292A JPH06116759A JP H06116759 A JPH06116759 A JP H06116759A JP 28684292 A JP28684292 A JP 28684292A JP 28684292 A JP28684292 A JP 28684292A JP H06116759 A JPH06116759 A JP H06116759A
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etching
etched
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electrode
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Abstract

(57)【要約】 [目的] ハードディスク等の被エッチング材料に均一
なエッチング処理をする。 [構成] 両面同時エッチング装置1のエッチング室
内に、被エッチング材料であるハードディスク等の円板
状の基板Dが、高周波電極14が取り付けられているロ
ッド10とロッド9との間に固定される。この基板Dを
挟んでこの基板Dのエッチング処理面と平行にアース電
極11、12が配設される。高周波電極14から基板D
の中心部に高周波電位が印加される。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明はハードディスクのように
両面を同時にエッチングをするための両面同時エッチン
グ装置に関する。
【0002】
【従来の技術】図4は従来の基板ホルダーを示すもので
あるが、板状部材からなる基板ホルダーは全体として3
0で示され、これに多数の基板保持部31が形成されて
いる。この基板保持部31の詳細は図5に示されている
ように、ほぼ円形の開口32が形成され、図4に点線で
示すような角度範囲で、開口32の下側領域に円弧状の
溝33が形成されている。これに、例えばハードディス
クのようにカーボン膜の表と裏の両面にエッチング処理
がなされるドーナツ形の基板Dが保持される。図5は溝
33に基板Dが保持されているのを示す。
【0003】基板Dが保持された基板ホルダー30は図
6に示されているように仕込室から駆動機構37によ
りエッチング室に搬入される。エッチング室では図
7に示すように、基板ホルダー30とアース電極39、
39とが対向して配設されており、アース電極39、3
9の四隅には図6の一点鎖線(基板ホルダー30の手前
にはアース電極39があるがこれを一点鎖線で示す。)
で示すように高周波電極38の径よりも大きい開口39
aが形成され、ここを高周波電極38が貫通して基板ホ
ルダー30に対向して非接触状態で設けられている。こ
のような構造により、エッチング室が所定のエッチン
グ雰囲気となると、高周波電極38が軸心方向の基板ホ
ルダー側に移動(一点鎖線)することにより、電導体で
ある基板ホルダー30面に接触してこれに高周波電位が
印加され、この基板ホルダー30を介して基板Dの基板
保持部31と接触している部分に高周波電位が印加され
て、基板Dはエッチング処理される。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】このような従来の両面
同時エッチング装置は、基板ホルダーに複数枚の基板を
保持させて、基板に高周波電位を直接印加させることな
く、基板ホルダーを介して基板に高周波電位を印加させ
て、同時に基板の両面にエッチング処理を行なってい
た。これは、基板の外周には「チャンファー」と呼ばれ
る特殊形状の部分があり、外周面を均一に保持する構造
とできず、基板の外周のうち、ある限られた箇所で基板
ホルダーの溝に載せる。このため、基板ホルダーの溝と
各基板の接触や接触の度合いが一様でなく、基板ホルダ
ーからの各基板への高周波電位の伝達が均一とならな
い。また、基板の外周部の限られた箇所から高周波電位
が印加されるので、基板の電位分布が同心円状にできな
いという問題があった。
【0005】本発明は上記問題に鑑みてなされ、チャン
ファーの一部変形の恐れがなく、基板毎に、また基板の
表面における高周波電位の印加電圧のばらつきがなく、
適宜エッチング条件を変更できる両面エッチング装置を
提供することを目的とする。
【0006】
【課題を解決するための手段】上記目的は、真空室内
で、円板状の被エッチング材料に高周波電位を印加する
ための高周波電極と、前記被エッチング材料を挟んで該
被エッチング材料のエッチング処理面と平行に配設され
た第1のアース電極と第2のアース電極とを備えた両面
同時エッチング装置において、前記被エッチング材料の
中心部を前記高周波電極で支持させることを特徴とする
両面同時エッチング装置によって達成される。
【0007】
【作用】被エッチング材料の中心部を高周波電極で支持
させたので、高周波電極と被エッチング材料の電気的な
接触がよくなり、被エッチング材料に印加される電位が
安定し、好適なエッチング処理ができるようになる。
【0008】
【実施例】以下、本発明の第1実施例による両面エッチ
ング装置について図面を参照して説明する。尚、被エッ
チング材料は従来の技術で説明した基板Dを用いて説明
する。
【0009】図1は本発明に係わる基板Dの表裏両面を
エッチングする両面同時エッチング装置1と、基板Dを
エッチング装置1内に搬入、搬出する取り出し機構を室
内に有する搬送装置2を示す。両面同時エッチング装置
1の真空槽3は壁部5と上蓋部4と底部6とからなり、
これらにより形成されたエッチング室は搬送装置2の
基板搬送室と仕切弁13の開閉により連通又は気密に
遮断される。真空槽3の底部には排気口7が配設され、
この排気口7にはバルブ15を介して真空ポンプ18が
接続されている。
【0010】真空槽3の底壁部6には、円筒状のロッド
10がこの底壁部6に対し垂直に貫通し、かつ気密に配
設されている。ロッド10は真空槽3と電気的に隔絶さ
れた中空円柱状の高周波電極14と、そのまわりを囲繞
するアースシールド10’とから成り、高周波電極14
の上端部はアースシールド10’の上端部より僅かに上
方に突出している。高周波電極14の内部空間14aに
は図示されていないが、必要に応じて冷却水を流せるよ
うになっている。また、高周波電極14の上端部は、図
に示されている通り、本実施例でエッチング処理される
基板Dが載置されるようになっている。
【0011】高周波電極14とアースシールド10’と
から成るロッド10は矢印aに示すように垂直方向に上
下動が可能であり、高周波電極14には高周波電位が印
加できるように、高周波電源19に接続されており、ア
ースシールド10’はアースに接続されている。また、
高周波電極14の上方には、この上端面に対向して、基
板保持部9aが形成された円柱形のロッド9が、絶縁物
9bを介して上蓋4に固定されており、ロッド9のまわ
りは基板保持部9aの先端部を除いて、アースシールド
9’で囲繞されている。図2に示すようにロッド10が
上方に移動すると、基板Dはロッド10の高周波電極1
4とロッド9の基板保持部9aとの間に挟持される。
【0012】図1及び図2に示すように、真空槽3内に
は一対の平板状のアース電極11、12が設けられ、こ
れらは共に基板Dと同様にドーナツ形の平板形状であ
り、その中央部には開口が形成されている。これらのア
ース電極11、12のうち上方に配設されているアース
電極11はロッド9に開口を貫通されて、下方のアース
電極12はロッド10に開口を貫通されて配設されてい
る。また、これらのアース電極11、12は基板Dのエ
ッチング面とそれぞれ平行に配設され、アース電極1
1、12と基板Dとの距離は最適なエッチング処理に見
合うようにその間隔の大きさを変えることができる。
【0013】このような構造を有する両面同時エッチン
グ装置1は、更にエッチング室内を所定のエッチャン
トガス雰囲気にするガス導入口8が側壁部5に設けら
れ、エッチング装置1に仕切りバルブ13を介して連接
している搬送装置2内には基板Dを搬入、搬送するため
の搬送機構16が設けられている。
【0014】以上、本発明の両面同時エッチング装置1
の構成について説明したが、次にその作用、効果につい
て説明する。
【0015】図1に示されるように、ガス導入口8から
エッチングガスが導入され、バルブ15を介して真空ポ
ンプ18により、所定の圧力に排気されているエッチン
グ室において、搬送機構16のフォーク17の操作に
より、基板Dが高周波電極14の直上に移送されると、
ロッド10が図示されていない駆動手段により上方に移
動する。ロッド10がフォーク17の爪17a、17a
の間を通り抜け、基板Dが高周波電極14上に載置さ
れ、更に基板Dがロッド9の下端部の基板保持部9aに
当接したところで、ロッド10がその位置で静止する。
これにより、基板Dが高周波電極14とロッド9との間
で固定される。この後、搬送機構16のフォーク17が
搬送装置2内に戻され、仕切りバルブ13が閉じられ
る。
【0016】次に、エッチング室が所定の雰囲気、圧
力となると、高周波電極14に高周波電源19から高周
波電位が印加され、基板Dのエッチング処理面にエッチ
ングがなされる。尚、高周波電位が印加される基板Dの
エッチング面とアース電極11、12との間隔は、最適
なエッチング条件となるように、予めその間隔d1 、d
2 が調節されている。
【0017】本実施例では、高周波電極14が基板Dの
中心部に固定されているので、これらの接触状態が完全
で、電位が基板上で同心円状に均一に印加でき、良好な
エッチングがなされる。すなわち、基板ホルダーに高周
波電位が印加され、また基板保持部の溝に、唯単に基板
を載せる構造でないことから、従来のように基板保持部
と基板の個々の接触状態の違いから生じる高周波電位の
電位差の相違によるエッチング加工のばらつきを心配す
る必要がなく、エッチング速度が安定し、かつ均一なエ
ッチング作業が可能である。また、枚葉式であることか
ら基板毎にエッチングの加工条件を変更すること、例え
ば高周波電源の印加電圧を個々に変えたり、基板Dとア
ース電極11、12間の距離を変えたりすることで、適
宜エッチングの加工条件を変えることもできる。更に、
基板Dをエッチング室内に搬入、搬出するときやエッ
チング処理中において、一切、基板Dの外周部に触れる
必要がなく、チャンファー部の変形の心配がない。その
上、従来のように基板ホルダーを移動させるための駆動
機構は不要となり、これらの駆動によるダストの生じる
恐れがなくなる。
【0018】基板Dのエッチング処理が終了した後、仕
切弁13を開弁し、搬送機構16が基板Dをエッチング
内から搬出し、次の基板Dをエッチング室内に搬
入して、作業を続行する。
【0019】次に、本発明の第2実施例による両面同時
エッチング装置について図3を参照して説明する。
【0020】上述した第1実施例では、基板Dを高周波
電極14上に水平方向に載置してエッチング処理した
が、本第2実施例では、基板Dを垂直方向に向けてエッ
チング処理するものである。
【0021】すなわち、本実施例の両面同時エッチング
装置20は図3に示すように、上部に蓋22が設けられ
た真空槽21の壁部23a、23bを貫通して、水平方
向に円筒形のロッド25、26が壁部23a、23bに
対して、気密に取り付けられている。ロッド25は真空
槽21と電気的に隔絶された中空円柱状の高周波電極3
0とそのまわりを囲繞するアースシールド25’とから
成り、高周波電極30の先端部はアースシールド25’
の先端部より僅かに突出している。高周波電極30の内
部空間30aには図示されていないが、必要に応じて冷
却水を流せるようになっている。また、高周波電極30
は、図示されていない高周波電源に接続されており、ロ
ッド25は矢印dに示すように水平方向に左右動可能に
設けられている。ロッド25に対向して取り付けられて
いるロッド26は、基板保持部26aと絶縁物26bと
から成る円柱体のまわりを、基板保持部26aの先端部
を除いて、アースシールド26’で囲繞したもので、矢
印bに示すように水平方向に左右動可能に設けられてい
る。
【0022】基板Dをロッド25の高周波電極30とロ
ッド26の基板保持部26aが対向する位置まで搬送す
る搬送機構は真空槽21の底壁部23cに、基板Dと搬
送機構のアーム29が通過できるほどの開口Hが設けら
れ、アーム29が矢印cに示すように垂直方向に、図示
されていない駆動手段で移動されることにより行われ
る。アーム29の先端部の基板保持部は垂直方向に溝が
切られ、基板Dの外周部のある一定角度範囲を、この溝
に嵌め込むことにより行なわれる。尚、開口Hにはゲー
ト24が設けられ、図示されていない搬送機構室と真空
槽21内を仕切る。
【0023】基板Dが搬送機構のアーム29によりロッ
ド25、26間に搬送されると、ロッド25、26がそ
れぞれ左右に移動し、高周波電極30と基板保持部26
aの間で基板Dを挟持する。基板Dが挟持されると、ア
ーム29が戻され、エッチングが開始される。尚、真空
槽21内には基板Dがロッド25、26間に挟持された
状態で、この基板Dと平行に一対のアース電極27、2
8が配設され、図示されていないが第1実施例と同様に
真空槽の壁部にはガス導入口が、底壁部には排気口が設
けられている。
【0024】以上、本発明の第2実施例について説明し
たが、本実施例でも第1実施例と同様な効果を奏するこ
とは明らかである。
【0025】以上、本発明の各実施例について説明した
が、勿論、本発明はこれらに限定されることなく、本発
明の技術的思想に基いて種々の変形が可能である。
【0026】例えば、以上の第1実施例では高周波電極
14が取り付けられているロッド10を、第2実施例で
はロッド25、26をこの軸線方向に移動可能とした
が、ロッド9、10の双方、又はロッド25、26の一
方を軸線方向に移動可能としてもよい。
【0027】また、以上の各実施例では被エッチング材
料をハードディスクとして、ドーナツ形状で中央の開口
が形成されているものについて適用したが、本発明はこ
の開口が形成されていないものについても、勿論、適用
可能である。また両面を同時エッチングするものであれ
ば、ハードディスクに限らず他の部材にも適用すること
ができる。
【0028】更に、以上の各実施例では枚葉式とした
が、エッチング室に高周波電極を複数個配設してもよ
い。
【0029】
【発明の効果】以上述べたように、本発明の両面同時エ
ッチング装置によれば、被エッチング材料に均一にエッ
チングができることにより品質が著しく向上し、被エッ
チング材料間によるばらつきが全くなくなり、被エッチ
ング材料毎の生産管理を容易にすることができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の第1実施例による両面同時エッチング
装置と搬送装置の正面図である。
【図2】同両面同時エッチング装置の正面図である。
【図3】本発明の第2実施例による両面同時エッチング
装置の側面図である。
【図4】従来における両面同時エッチング装置の基板ホ
ルダーの正面図である。
【図5】同基板ホルダーの基板保持部に基板が保持され
ているところを示す側面図である。
【図6】同両面同時エッチング装置の内部を示す正面図
である。
【図7】同側面図である。
【符号の説明】
1 両面同時エッチング装置 11 アース電極 12 アース電極 14 高周波電極 20 両面同時エッチング装置 27 アース電極 28 アース電極 30 高周波電極 エッチング室 D 基板

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 真空室内で、円板状の被エッチング材料
    に高周波電位を印加するための高周波電極と、前記被エ
    ッチング材料を挟んで該被エッチング材料のエッチング
    処理面と平行に配設された第1のアース電極と第2のア
    ース電極とを備えた両面同時エッチング装置において、
    前記被エッチング材料の中心部を前記高周波電極で支持
    させることを特徴とする両面同時エッチング装置。
  2. 【請求項2】 前記高周波電極と、前記第1のアース電
    極及び前記第2のアース電極とはそれぞれの間の距離を
    調節自在に配設させた請求項1に記載の両面エッチング
    装置。
JP28684292A 1992-10-01 1992-10-01 両面同時エッチング装置 Expired - Lifetime JP3273978B2 (ja)

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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2007213730A (ja) * 2006-02-10 2007-08-23 Tdk Corp 基板保持装置及び磁気記録媒体の製造方法
JP2009102705A (ja) * 2007-10-24 2009-05-14 Hitachi Ltd プラズマエッチング装置及び磁気記録媒体の製造方法及び磁気記録媒体

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
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JP2007213730A (ja) * 2006-02-10 2007-08-23 Tdk Corp 基板保持装置及び磁気記録媒体の製造方法
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