JPH06109473A - 鉛直変位の遠隔測定方法 - Google Patents
鉛直変位の遠隔測定方法Info
- Publication number
- JPH06109473A JPH06109473A JP27777992A JP27777992A JPH06109473A JP H06109473 A JPH06109473 A JP H06109473A JP 27777992 A JP27777992 A JP 27777992A JP 27777992 A JP27777992 A JP 27777992A JP H06109473 A JPH06109473 A JP H06109473A
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- JP
- Japan
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- displacement
- reflecting
- light
- laser beam
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Abstract
(57)【要約】
【目的】測定点までの配線を必要とせず、簡単な構造に
よって正確に効率よく変位を計測することのできる鉛直
変位の遠隔測定方法を提供することを目的とする。 【構成】本発明は、レーザー光線を発光する発光装置
と、このレーザー光線を受けて反射させる反射装置と、
この反射光線を受光する受光装置とよりなり、反射装置
は円錐状に反射鏡を形成し、受光装置は反射光の位置
を、鉛直方法において認識できるセンサーによって構成
した、鉛直変位の遠隔測定方法である。
よって正確に効率よく変位を計測することのできる鉛直
変位の遠隔測定方法を提供することを目的とする。 【構成】本発明は、レーザー光線を発光する発光装置
と、このレーザー光線を受けて反射させる反射装置と、
この反射光線を受光する受光装置とよりなり、反射装置
は円錐状に反射鏡を形成し、受光装置は反射光の位置
を、鉛直方法において認識できるセンサーによって構成
した、鉛直変位の遠隔測定方法である。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、構造物が鉛直方向へ変
位した場合の変位量を遠隔位置から測定する方法に関す
るものである。
位した場合の変位量を遠隔位置から測定する方法に関す
るものである。
【０００２】
【従来の技術】特に高層の建築物においては鉛直方向に
おける変位を正確に測定することは重要である。なぜな
ら建築物は、施工の過程においてすでに傾いたり沈下し
たりする場合があるからであり、さらに施工の安全面か
らも変位の把握は必要である。そのために従来から各種
の傾斜計、変位計、あるいは沈下計が開発されて利用さ
れている。
おける変位を正確に測定することは重要である。なぜな
ら建築物は、施工の過程においてすでに傾いたり沈下し
たりする場合があるからであり、さらに施工の安全面か
らも変位の把握は必要である。そのために従来から各種
の傾斜計、変位計、あるいは沈下計が開発されて利用さ
れている。
【０００３】
【発明が解決しようとする問題点】しかし従来使用され
ている鉛直変位の遠隔測定方法にあっては、次のような
問題点がある。 ＜イ＞レーザー光を回転させて受光側にリニアラインセ
ンサを取り付けて変化量を測定する方法が存在する。こ
の方法では測定側に受光回路が必要となり、そのために
計測位置までの配線が必要となる。 ＜ロ＞計測目標点にターゲットを張り付け、その動きを
レンズを通して測定する方法が存在する。この方法で
は、測定距離によって計測用レンズの交換や、傾いた場
合方向を変えることが必要となるために膨大な費用が必
要となる。
ている鉛直変位の遠隔測定方法にあっては、次のような
問題点がある。 ＜イ＞レーザー光を回転させて受光側にリニアラインセ
ンサを取り付けて変化量を測定する方法が存在する。こ
の方法では測定側に受光回路が必要となり、そのために
計測位置までの配線が必要となる。 ＜ロ＞計測目標点にターゲットを張り付け、その動きを
レンズを通して測定する方法が存在する。この方法で
は、測定距離によって計測用レンズの交換や、傾いた場
合方向を変えることが必要となるために膨大な費用が必
要となる。
【０００４】
【本発明の目的】本発明は上記したような従来の問題を
解決するためになされたもので、測定点までの配線を必
要とせず、簡単な構造によって正確に効率よく変位を計
測することのできる鉛直変位の遠隔測定方法を提供する
ことを目的とする。
解決するためになされたもので、測定点までの配線を必
要とせず、簡単な構造によって正確に効率よく変位を計
測することのできる鉛直変位の遠隔測定方法を提供する
ことを目的とする。
【０００５】
【問題点を解決するための手段】すなわち本発明は、レ
ーザー光線を発光する発光装置と、このレーザー光線を
受けて反射させる反射装置と、この反射光線を受光する
受光装置とよりなり、反射装置は円錐状に反射鏡を形成
し、受光装置は反射光の位置を、鉛直方法において認識
できるセンサーによって構成した、鉛直変位の遠隔測定
方法である。
ーザー光線を発光する発光装置と、このレーザー光線を
受けて反射させる反射装置と、この反射光線を受光する
受光装置とよりなり、反射装置は円錐状に反射鏡を形成
し、受光装置は反射光の位置を、鉛直方法において認識
できるセンサーによって構成した、鉛直変位の遠隔測定
方法である。
【０００６】
【本発明の構成】以下図面を参照しながら本発明鉛直変
位の遠隔測定方法について説明する。 ＜イ＞全体の構成 本発明の測定方法においては、発光装置１と、反射装置
２と受光装置３を使用して行う。発光装置１は、レーザ
ー光線を発光する装置である。反射装置２は、発光装置
１よりのレーザー光線を受けてこれを反射させる装置で
ある。受光装置３は、この反射光線を受光するための装
置である。
位の遠隔測定方法について説明する。 ＜イ＞全体の構成 本発明の測定方法においては、発光装置１と、反射装置
２と受光装置３を使用して行う。発光装置１は、レーザ
ー光線を発光する装置である。反射装置２は、発光装置
１よりのレーザー光線を受けてこれを反射させる装置で
ある。受光装置３は、この反射光線を受光するための装
置である。
【０００７】＜ロ＞発光装置 発光装置１としては、一般のレーザー光線を発光する装
置を使用できるが、さらに次のような装置を使用すると
実際上で有効である。例えば、レーザー光線の発光部分
にシリンドリカルレンズなどの拡散機能を有するレンズ
を設置し、光線に面を維持せしめた状態で扇状に拡散さ
せる装置である。すると光線の面の高さは正確であって
しかも水平方向には広がっているから、ターゲットの位
置が左右方向に移動してもレーザー光線の水平面を捕ら
えることができる。ただし用途によっては面を構成する
必要がなく、直線状の光線によって目的を達成できる場
合もある。
置を使用できるが、さらに次のような装置を使用すると
実際上で有効である。例えば、レーザー光線の発光部分
にシリンドリカルレンズなどの拡散機能を有するレンズ
を設置し、光線に面を維持せしめた状態で扇状に拡散さ
せる装置である。すると光線の面の高さは正確であって
しかも水平方向には広がっているから、ターゲットの位
置が左右方向に移動してもレーザー光線の水平面を捕ら
えることができる。ただし用途によっては面を構成する
必要がなく、直線状の光線によって目的を達成できる場
合もある。
【０００８】＜ハ＞反射装置 本発明においては特に反射装置２の構成に特徴を有す
る。すなわち反射装置２は円錐形の内面に反射鏡を形成
したものを使用する。円錐形の反射鏡の内面によって、
入射光（ｉ）を反射するものであるから、その結果、次
のような作用上の特徴を得ることができる。 (1) 光線は、入射光（ｉ）に対して正確に平行な反射光
（ｒ）（ｒ）となって反射する。 (2) 反射装置２が鉛直に移動した場合、入射光（ｉ）に
対して反射光（ｒ）は、反射装置２の移動量（Δｘ）の
２倍の寸法（２Δｘ）だけずれた状態で反射する。 (3) 反射装置２が傾斜しても、上記の作用は同様であ
る。
る。すなわち反射装置２は円錐形の内面に反射鏡を形成
したものを使用する。円錐形の反射鏡の内面によって、
入射光（ｉ）を反射するものであるから、その結果、次
のような作用上の特徴を得ることができる。 (1) 光線は、入射光（ｉ）に対して正確に平行な反射光
（ｒ）（ｒ）となって反射する。 (2) 反射装置２が鉛直に移動した場合、入射光（ｉ）に
対して反射光（ｒ）は、反射装置２の移動量（Δｘ）の
２倍の寸法（２Δｘ）だけずれた状態で反射する。 (3) 反射装置２が傾斜しても、上記の作用は同様であ
る。
【０００９】＜ニ＞受光装置 受光装置３は反射光（ｒ）の位置を、鉛直方法において
認識できるセンサーを使用する。そのために例えばＣＣ
Ｄを鉛直の線状に配置したリニアラインセンサーを使用
する。その他同様の機能を達成できる市販のリニアライ
ンセンサーを使用することができる。
認識できるセンサーを使用する。そのために例えばＣＣ
Ｄを鉛直の線状に配置したリニアラインセンサーを使用
する。その他同様の機能を達成できる市販のリニアライ
ンセンサーを使用することができる。
【００１０】
【測定方法】次に実際の測定方法について説明する。 ＜イ＞変位前 図１に示すように、発光装置１と受光装置３とを不動の
位置に固定する。一方、建築物などの被測定物には、反
射装置２を固定する。反射装置２は円錐形の内面に反射
鏡を張り付けた形状を有するから、円錐形の底面にあた
る側を発光装置１側に向けて設置する。その場合に両者
間を配線などで接続する必要はない。そして受光装置３
にはデータ処理用のパソコンなどを接続しておく。こう
して発光装置１からレーザー光線を発射する。するとこ
の光線は、反射装置２において正確な平行光線として反
射して受光装置３に入射する。（図２） この反射光（ｒ）の入射位置が以降の測定の比較値にな
るから、記憶しておく必要がある。
位置に固定する。一方、建築物などの被測定物には、反
射装置２を固定する。反射装置２は円錐形の内面に反射
鏡を張り付けた形状を有するから、円錐形の底面にあた
る側を発光装置１側に向けて設置する。その場合に両者
間を配線などで接続する必要はない。そして受光装置３
にはデータ処理用のパソコンなどを接続しておく。こう
して発光装置１からレーザー光線を発射する。するとこ
の光線は、反射装置２において正確な平行光線として反
射して受光装置３に入射する。（図２） この反射光（ｒ）の入射位置が以降の測定の比較値にな
るから、記憶しておく必要がある。
【００１１】＜ロ＞鉛直方向に変位した場合（図３） 被測定物が鉛直に下方にΔｘだけ変位した場合には、変
位前の入射位置と比較して２Δｘだけ移動した反射光
（ｒ）として受光装置３に入射する。したがって、受光
装置３においては変位前の受光位置と変位後の受光位置
との差から、被測定物の鉛直方向の変位量を簡単に知る
ことができる。もちろん上方に変位した場合も同様であ
る。
位前の入射位置と比較して２Δｘだけ移動した反射光
（ｒ）として受光装置３に入射する。したがって、受光
装置３においては変位前の受光位置と変位後の受光位置
との差から、被測定物の鉛直方向の変位量を簡単に知る
ことができる。もちろん上方に変位した場合も同様であ
る。
【００１２】＜ハ＞傾斜変位した場合（図４） 被測定物が傾斜した場合には、反射装置２も同様に傾斜
する。しかし前記したように入射光（ｉ）と反射光
（ｒ）とはやはり正確な平行線となり、反射光（ｒ）が
移動した距離は、被測定物の垂直変位量の２倍である。
したがって被測定物が傾斜して変位しても、その鉛直変
位量Δは簡単に知ることができる。
する。しかし前記したように入射光（ｉ）と反射光
（ｒ）とはやはり正確な平行線となり、反射光（ｒ）が
移動した距離は、被測定物の垂直変位量の２倍である。
したがって被測定物が傾斜して変位しても、その鉛直変
位量Δは簡単に知ることができる。
【００１３】
【発明の効果】本発明の鉛直変位の遠隔測定方法は以上
説明したよう、円錐状の内面を形成した反射鏡によっ
て、発光装置からの光線を平行線として反射させる方法
である。したがって、測定側から被測定物までに配線を
するような手間を必要とせず、簡単に正確な移動量を測
定することができる。また測定する装置は特に高価なも
のを使用する必要がないから、経済的に正確な測定を行
うことができる。
説明したよう、円錐状の内面を形成した反射鏡によっ
て、発光装置からの光線を平行線として反射させる方法
である。したがって、測定側から被測定物までに配線を
するような手間を必要とせず、簡単に正確な移動量を測
定することができる。また測定する装置は特に高価なも
のを使用する必要がないから、経済的に正確な測定を行
うことができる。
【図１】鉛直変位の遠隔測定方法の説明図
【図２】鉛直変位の遠隔測定方法の説明図
【図３】鉛直変位の遠隔測定方法の説明図
【図４】鉛直変位の遠隔測定方法の説明図
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 山田 敏夫 東京都新宿区西新宿一丁目25番１号 大成 建設株式会社内 (72)発明者 原島 弘 東京都新宿区西新宿一丁目25番１号 大成 建設株式会社内 (72)発明者 山崎 秀夫 神奈川県川崎市中原区苅宿549
Claims (2)
- 【請求項１】レーザー光線を発光する発光装置と、 このレーザー光線を受けて反射させる反射装置と、 この反射光線を受光する受光装置とよりなり、 反射装置は円錐状に反射鏡を形成し、 受光装置は反射光の位置を、鉛直方法において認識でき
るセンサーによって構成した、 鉛直変位の遠隔測定方法 - 【請求項２】レーザー光線を発光する発光装置と、 このレーザー光線を受けて反射させる反射装置と、 この反射光線を受光する受光装置とよりなり、 発光装置は水平面状のレーザー光線を発光するように構
成し、 反射装置は円錐状に反射鏡を形成し、 受光装置は反射光の位置を、鉛直方法において認識でき
るセンサーによって構成した、 鉛直変位の遠隔測定方法
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP27777992A JPH06109473A (ja) | 1992-09-24 | 1992-09-24 | 鉛直変位の遠隔測定方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP27777992A JPH06109473A (ja) | 1992-09-24 | 1992-09-24 | 鉛直変位の遠隔測定方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH06109473A true JPH06109473A (ja) | 1994-04-19 |
Family
ID=17588199
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP27777992A Pending JPH06109473A (ja) | 1992-09-24 | 1992-09-24 | 鉛直変位の遠隔測定方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH06109473A (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN108221706A (zh) * | 2018-03-23 | 2018-06-29 | 中国五冶集团有限公司 | 一种双肢薄壁墩翻模法模板及使用方法 |
| CN112797953A (zh) * | 2021-02-21 | 2021-05-14 | 王鹏 | 一种移位辅助测量机构及其水库大坝监测预警装置 |
| CN112833858A (zh) * | 2021-02-21 | 2021-05-25 | 王鹏 | 一种水库大坝监测预警装置 |
-
1992
- 1992-09-24 JP JP27777992A patent/JPH06109473A/ja active Pending
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN108221706A (zh) * | 2018-03-23 | 2018-06-29 | 中国五冶集团有限公司 | 一种双肢薄壁墩翻模法模板及使用方法 |
| CN108221706B (zh) * | 2018-03-23 | 2023-04-14 | 中国五冶集团有限公司 | 一种双肢薄壁墩翻模法模板及使用方法 |
| CN112797953A (zh) * | 2021-02-21 | 2021-05-14 | 王鹏 | 一种移位辅助测量机构及其水库大坝监测预警装置 |
| CN112833858A (zh) * | 2021-02-21 | 2021-05-25 | 王鹏 | 一种水库大坝监测预警装置 |
| CN112833858B (zh) * | 2021-02-21 | 2022-06-24 | 王鹏 | 一种水库大坝监测预警装置 |
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