JPH06101B2 - 眼科機械用アライメント装置 - Google Patents
眼科機械用アライメント装置Info
- Publication number
- JPH06101B2 JPH06101B2 JP60159619A JP15961985A JPH06101B2 JP H06101 B2 JPH06101 B2 JP H06101B2 JP 60159619 A JP60159619 A JP 60159619A JP 15961985 A JP15961985 A JP 15961985A JP H06101 B2 JPH06101 B2 JP H06101B2
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- Japan
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- alignment
- cornea
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Description
【発明の詳細な説明】 本発明は、オートレフラクトメータ、眼底カメラ等の眼
科機械とその検査・処置対象である被検眼とのアライメ
ントを行うための眼科機械用アライメント装置に関す
る。
科機械とその検査・処置対象である被検眼とのアライメ
ントを行うための眼科機械用アライメント装置に関す
る。
従来、眼科機械用アライメント装置は多くの種類のもの
が知られている。例えば、被検眼を横あるいは斜め横か
ら直接観察する光学系を設けたものであるが、これはア
ライメント時の検者の位置が比較的制限されてしまうと
ともに、作動距離（ワーキングディスタンス）及びこれ
と直交する方向のアライメントの精度を高くすることが
困難であるという問題があった。また、他の例では、被
検眼角膜に異なった方向から複数のターゲット光束を入
射させ、該角膜によってつくられたターゲット像を撮像
してモニタテレビにより観察するものがあったが、ター
ゲツト光束を形成する光学系が複雑である問題があっ
た。
が知られている。例えば、被検眼を横あるいは斜め横か
ら直接観察する光学系を設けたものであるが、これはア
ライメント時の検者の位置が比較的制限されてしまうと
ともに、作動距離（ワーキングディスタンス）及びこれ
と直交する方向のアライメントの精度を高くすることが
困難であるという問題があった。また、他の例では、被
検眼角膜に異なった方向から複数のターゲット光束を入
射させ、該角膜によってつくられたターゲット像を撮像
してモニタテレビにより観察するものがあったが、ター
ゲツト光束を形成する光学系が複雑である問題があっ
た。
本発明は従来のアライメント装置の上記問題点に鑑みな
されたものであって、極めて簡単な指標投影光学系を有
し、しかも高い精度で効率的にアライメントを行うこと
ができるアライメント装置を提供することを目的とす
る。
されたものであって、極めて簡単な指標投影光学系を有
し、しかも高い精度で効率的にアライメントを行うこと
ができるアライメント装置を提供することを目的とす
る。
本発明は、上記目的を達成するため、被検眼の角膜に円
環状指標を投影する指標投影手段と、該指標の前記角膜
による反射像を互いに異なる少なくとも２方向から電気
的に検出する検出手段と、前記検出手段のそれぞれによ
り検出された前記反射像相互の位置ずれに基いてアライ
メント情報を表示する表示手段とを有することを特徴と
して構成される。
環状指標を投影する指標投影手段と、該指標の前記角膜
による反射像を互いに異なる少なくとも２方向から電気
的に検出する検出手段と、前記検出手段のそれぞれによ
り検出された前記反射像相互の位置ずれに基いてアライ
メント情報を表示する表示手段とを有することを特徴と
して構成される。
従つて、本発明によるアライメント装置は、極めて簡単
な指標投影系を有し、眼科機械のアライメントを高い精
度で効率的に行うことができる。
な指標投影系を有し、眼科機械のアライメントを高い精
度で効率的に行うことができる。
実施例 以下、本発明の実施例を図に基づいて説明する。第１図
は本発明を示す光学配置図及び電気系のブロックダイヤ
グラムである。指標板１０には、装置光軸Ａに中心をも
つ円環状スリット１１が形成されている。このスリツト
１１の後方には円環状の光源１２及び反射鏡１３からな
る指標照明部がある。スリット１１からお光は、第２図
に示すように、被検眼角膜Ｃで反射され、円環状の虚像
１１′を作る。この虚像１１′からの光は、指標板１０
に設けられたレンズ１６、１７を介して検出器１４、１
５によつてそれぞれ検出される。
は本発明を示す光学配置図及び電気系のブロックダイヤ
グラムである。指標板１０には、装置光軸Ａに中心をも
つ円環状スリット１１が形成されている。このスリツト
１１の後方には円環状の光源１２及び反射鏡１３からな
る指標照明部がある。スリット１１からお光は、第２図
に示すように、被検眼角膜Ｃで反射され、円環状の虚像
１１′を作る。この虚像１１′からの光は、指標板１０
に設けられたレンズ１６、１７を介して検出器１４、１
５によつてそれぞれ検出される。
本実施例では、検出器１４、１５は面積型ＣＣＤで構成
され、その検出信号は、アライメント検出系２０の映像
信号処理回路２１、２２及び角膜形状測定系３０の検出
信号係数回路３１、３２へ出力される。
され、その検出信号は、アライメント検出系２０の映像
信号処理回路２１、２２及び角膜形状測定系３０の検出
信号係数回路３１、３２へ出力される。
本実施例におけるアライメント検出系３０は、装置視野
内に被検眼を捕えるための粗アライメント調整用として
利用される。それぞれの検出器１４、１５からの検出信
号は映像処理回路２１、２２で映像信号に変換され、映
像信号合成回路２３で両方の検出器からの映像信号を合
成し、ＣＲＴまたは液晶デイスプレイからなる表示装置
２４に、例えば第５図に示すように画像表示する。
内に被検眼を捕えるための粗アライメント調整用として
利用される。それぞれの検出器１４、１５からの検出信
号は映像処理回路２１、２２で映像信号に変換され、映
像信号合成回路２３で両方の検出器からの映像信号を合
成し、ＣＲＴまたは液晶デイスプレイからなる表示装置
２４に、例えば第５図に示すように画像表示する。
第５図において、１１ａ″は検出器１４による指標画像
を示し、１１ｂ″は検出器１５による指標画像を示して
いる。アライメトが不完全なとき、すなわち被検眼と装
置のワーキングディスタンスが正規の距離にないとき
は、第５図に示すように、両画像１１ａ″、１１ｂ″は
ずれて表示される。また、被検光軸と垂直な平面内での
左右上下方向のずれがあるときは、画像の中心が表示面
上に形成されたレクチル線４０の交点Ｑとずれて表示さ
れる。測定者は、表示装置２４上の画像１１ａ″、１１
ｂ″を見ながら、両画像が点線▲▼″で示すよう
に、合致し、かつその中心が交点Ｑと略一致するように
装置筐体を前後、左右、上下に移動させる。
を示し、１１ｂ″は検出器１５による指標画像を示して
いる。アライメトが不完全なとき、すなわち被検眼と装
置のワーキングディスタンスが正規の距離にないとき
は、第５図に示すように、両画像１１ａ″、１１ｂ″は
ずれて表示される。また、被検光軸と垂直な平面内での
左右上下方向のずれがあるときは、画像の中心が表示面
上に形成されたレクチル線４０の交点Ｑとずれて表示さ
れる。測定者は、表示装置２４上の画像１１ａ″、１１
ｂ″を見ながら、両画像が点線▲▼″で示すよう
に、合致し、かつその中心が交点Ｑと略一致するように
装置筐体を前後、左右、上下に移動させる。
第６図は、表示形式の他の例を示すもので、映像合成回
路２３には映像信号処理回路２１から検出器１４の上半
分の画面フレームに相当する信号が入力する。一方、映
像信号処理回路２２からは検出器１５の下半分の画面フ
レームに相当する信号が入力される。両入力信号は映像
信号合成回路２３において合成されて表示装置２４で同
時に表示される。該表示は、ワーキングディスタンスが
不適正であるときは、像１１ａ″と１１ｂ″が左右に互
いにずれる。また、左右上下方向のアライメントずれ
は、指標像１１ａ″、１１ｂ″の分割比の差として表示
される。測定者は、点線▲▼″で示すように分離指
標像１１ａ″、１１ｂ″が合致し、かつ、その中心が交
点Ｑと略一致するように装置を前後、左右、上下に移動
させる。
路２３には映像信号処理回路２１から検出器１４の上半
分の画面フレームに相当する信号が入力する。一方、映
像信号処理回路２２からは検出器１５の下半分の画面フ
レームに相当する信号が入力される。両入力信号は映像
信号合成回路２３において合成されて表示装置２４で同
時に表示される。該表示は、ワーキングディスタンスが
不適正であるときは、像１１ａ″と１１ｂ″が左右に互
いにずれる。また、左右上下方向のアライメントずれ
は、指標像１１ａ″、１１ｂ″の分割比の差として表示
される。測定者は、点線▲▼″で示すように分離指
標像１１ａ″、１１ｂ″が合致し、かつ、その中心が交
点Ｑと略一致するように装置を前後、左右、上下に移動
させる。
上述のラフアライメントが終了すると検出器１４、１５
からの検出信号は係数回路３１、３２に入力される。係
数回路３１は、第３図に示すように、投像指標像１１″
を走査し、予め定めたスレッショルトレベルを基準とし
て各画素毎に２値化信号を得る。投影指標像が投影され
た画素は信号“１”を出力し、投影されていない画素は
信号“０”を出力する。さらに信号“１”を出力した画
素の番地情報Ｅ（ｘ、ｙ）を検出する。
からの検出信号は係数回路３１、３２に入力される。係
数回路３１は、第３図に示すように、投像指標像１１″
を走査し、予め定めたスレッショルトレベルを基準とし
て各画素毎に２値化信号を得る。投影指標像が投影され
た画素は信号“１”を出力し、投影されていない画素は
信号“０”を出力する。さらに信号“１”を出力した画
素の番地情報Ｅ（ｘ、ｙ）を検出する。
同様に、計数回路３２は、検出器１５の検出出力に基づ
いて投影指標像が投影された画素の番地情報を検出す
る。係数回路３１、３２の検出した番地情報はともに演
算回路３３に入力される。
いて投影指標像が投影された画素の番地情報を検出す
る。係数回路３１、３２の検出した番地情報はともに演
算回路３３に入力される。
演算回路３３は、指標像１１′のそれぞれの番地情報Ｅ
（ｘ、ｙ）について、以下の演算をして指標像の中心点
Ｇを求める。すなわち、番地情報Ｅ（ｘ、ｙ）から、同
じｘａ番地をもつ画素対Ｅ１、Ｅ２のｙａ、ｙｂ番地か
らｙａ＋ｙｂ／２＝1ypをもとめＰ１（ｘａ、1yp）の番
地を求める。同様の演算を他の同じｘ番地をもつ画素対
についても実行し、中点Ｐｉ（ｉ＝１、２、−−ｎ）を
求め、これら中点Ｐｉを通る直線Ｐを求める。次に番地
情報Ｅ（ｘ、ｙ）から同じｙ番地、例えばｙｅ番地をも
つ画素対Ｅ５（ｘｅ、ｙｅ）、Ｅ６（ｘｆ、ｙｅ）を選
び、ｘｅ＋ｙｆ／２＝ixqを演算して中点Ｑ１（1xq、ye)
を求める。以下同様に中点Ｑｉ（ｉ＝１、２、３−−−
ｎ）を求めこれら中点Ｑｉを通る直線を求める。これ
ら求められた２直線、の交点から指標の中心Ｇを求
める。
（ｘ、ｙ）について、以下の演算をして指標像の中心点
Ｇを求める。すなわち、番地情報Ｅ（ｘ、ｙ）から、同
じｘａ番地をもつ画素対Ｅ１、Ｅ２のｙａ、ｙｂ番地か
らｙａ＋ｙｂ／２＝1ypをもとめＰ１（ｘａ、1yp）の番
地を求める。同様の演算を他の同じｘ番地をもつ画素対
についても実行し、中点Ｐｉ（ｉ＝１、２、−−ｎ）を
求め、これら中点Ｐｉを通る直線Ｐを求める。次に番地
情報Ｅ（ｘ、ｙ）から同じｙ番地、例えばｙｅ番地をも
つ画素対Ｅ５（ｘｅ、ｙｅ）、Ｅ６（ｘｆ、ｙｅ）を選
び、ｘｅ＋ｙｆ／２＝ixqを演算して中点Ｑ１（1xq、ye)
を求める。以下同様に中点Ｑｉ（ｉ＝１、２、３−−−
ｎ）を求めこれら中点Ｑｉを通る直線を求める。これ
ら求められた２直線、の交点から指標の中心Ｇを求
める。
次に、求められた中心Ｇを中心とする番地情報Ｅ（ｘ、
ｙ）の放射状の半径距離Ｐｉ（第４図）を次式により
少なくとも３方向について求める。
ｙ）の放射状の半径距離Ｐｉ（第４図）を次式により
少なくとも３方向について求める。
Ｐｗi（θi）＝Ｒ1−R2）cos２（θi−Ａ）＋Ｒ1 ここで、Ｒ１、Ｒ２は角膜の互いに直交する２方向の曲
率半径であり、Ａは角膜の主径線軸角度を示す。算出さ
れた３つの式の連立方程式を解くことにより角膜の曲率
半径Ｒ１、Ｒ２及び主径線軸角度Ａを求めることができ
る。この測定結果Ｒ１、Ｒ２、Ａは表示装置３４により
デジタル表示される。
率半径であり、Ａは角膜の主径線軸角度を示す。算出さ
れた３つの式の連立方程式を解くことにより角膜の曲率
半径Ｒ１、Ｒ２及び主径線軸角度Ａを求めることができ
る。この測定結果Ｒ１、Ｒ２、Ａは表示装置３４により
デジタル表示される。
ワーキングディスタンスに誤差があると指標投影像の検
出器１４、１５への投影倍率が変わるため、測定誤差を
招く。しかし、本発明では指標投影像の中心Ｇを求めて
おり、Ｇが予め定めた、すなわち正しいワーキングディ
スタンスのときに位置すべき番地と異なる番地をとると
き、そのずれ量を演算する。このずれ量とレンズ１６、
１７の倍率から装置が正規のワーキングディスタンスに
位置するときの指標像の大きさを演算する。この演算に
より求められた指標像の番地情報Ｒ１、Ｒ２、Ａを演算
する。従って、本発明の装置においてはワーキングディ
スタンスの調整を精密に行うことを要しない。また、検
出器１４、１５の検出面を投影指標像に比して十分大き
くしておけば、左右上下方向のアライメントは多少のア
ライメント誤差があつても投影指標像の形状は求められ
るので測定が可能である。
出器１４、１５への投影倍率が変わるため、測定誤差を
招く。しかし、本発明では指標投影像の中心Ｇを求めて
おり、Ｇが予め定めた、すなわち正しいワーキングディ
スタンスのときに位置すべき番地と異なる番地をとると
き、そのずれ量を演算する。このずれ量とレンズ１６、
１７の倍率から装置が正規のワーキングディスタンスに
位置するときの指標像の大きさを演算する。この演算に
より求められた指標像の番地情報Ｒ１、Ｒ２、Ａを演算
する。従って、本発明の装置においてはワーキングディ
スタンスの調整を精密に行うことを要しない。また、検
出器１４、１５の検出面を投影指標像に比して十分大き
くしておけば、左右上下方向のアライメントは多少のア
ライメント誤差があつても投影指標像の形状は求められ
るので測定が可能である。
なお、本発明では光源１２は可視光、不可視光（赤外
光）のいずれの光を発光してもよい。またスリット１１
の角膜反射像１１′を図示しない前眼部拡大観察手段で
観察することにより、反射像１１′の乱れから被検角膜
の不正乱視の有無を知ることができる。また、この反射
像を前記検出器１４、１５で検出することにより不正乱
視量を求めることも可能である。さらに、第６図の例で
は前眼部拡大観察手段を用いる代りに、検出器１４、１
５を前眼部観察手段として兼用することができる。
光）のいずれの光を発光してもよい。またスリット１１
の角膜反射像１１′を図示しない前眼部拡大観察手段で
観察することにより、反射像１１′の乱れから被検角膜
の不正乱視の有無を知ることができる。また、この反射
像を前記検出器１４、１５で検出することにより不正乱
視量を求めることも可能である。さらに、第６図の例で
は前眼部拡大観察手段を用いる代りに、検出器１４、１
５を前眼部観察手段として兼用することができる。
第１図は本発明に係る装置の光学装置と電気系のブロッ
クダイヤグラムを示す図、第２図は指標からの光が検出
器へ入射する光路を示す光路図、第３図は検出指標像の
中心を求める方法を示す模式図、第４図は角膜形状を求
める原理を示す模式図、第５図は表示方式の一例を示す
説明図、第６図は表示方式の他の例を示す説明図であ
る。 １１……スリット指標、 １６、１７……レンズ、 １４、２５……検出器、 ２０……アライメント系、 ３０……角膜形状検出系。
クダイヤグラムを示す図、第２図は指標からの光が検出
器へ入射する光路を示す光路図、第３図は検出指標像の
中心を求める方法を示す模式図、第４図は角膜形状を求
める原理を示す模式図、第５図は表示方式の一例を示す
説明図、第６図は表示方式の他の例を示す説明図であ
る。 １１……スリット指標、 １６、１７……レンズ、 １４、２５……検出器、 ２０……アライメント系、 ３０……角膜形状検出系。
Claims (2)
- 【請求項１】被検眼の角膜に円環状指標を投影する指標
投影手段と、該指標の前記角膜による反射像を互いに異
なる少なくとも２方向から光電的に検出する検出手段
と、前記検出手段のそれぞれにより検出された前記反射
像相互の位置ずれに基いてアライメント情報を表示する
表示手段とを有することを特徴とする眼科機械用アライ
メント装置。 - 【請求項２】前記表示手段は、前記検出手段のそれぞれ
によって検出された指標の角膜による反射像の像を重ね
て表示する特許請求の範囲第（１）項に記載の眼科機械
用アライメント装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP60159619A JPH06101B2 (ja) | 1985-07-19 | 1985-07-19 | 眼科機械用アライメント装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP60159619A JPH06101B2 (ja) | 1985-07-19 | 1985-07-19 | 眼科機械用アライメント装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6219146A JPS6219146A (ja) | 1987-01-27 |
| JPH06101B2 true JPH06101B2 (ja) | 1994-01-05 |
Family
ID=15697671
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP60159619A Expired - Fee Related JPH06101B2 (ja) | 1985-07-19 | 1985-07-19 | 眼科機械用アライメント装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH06101B2 (ja) |
Families Citing this family (7)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6434318A (en) * | 1987-07-31 | 1989-02-03 | Canon Kk | Photokeratometer |
| JP2975393B2 (ja) * | 1990-03-26 | 1999-11-10 | キヤノン株式会社 | 眼測定装置 |
| JP3315517B2 (ja) * | 1994-03-07 | 2002-08-19 | キヤノン株式会社 | 角膜形状測定装置 |
| JP3088993B2 (ja) * | 1997-10-15 | 2000-09-18 | 株式会社コーナン | 眼科装置 |
| JP5900919B2 (ja) * | 2012-02-24 | 2016-04-06 | 株式会社トプコン | 眼科撮影装置 |
| JP6185101B2 (ja) * | 2016-03-02 | 2017-08-23 | 株式会社トプコン | 眼科装置 |
| JP6869074B2 (ja) * | 2017-03-29 | 2021-05-12 | 株式会社トプコン | 眼科装置 |
-
1985
- 1985-07-19 JP JP60159619A patent/JPH06101B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS6219146A (ja) | 1987-01-27 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |