JPH06100891B2 - 液晶表示装置の欠陥検査方法 - Google Patents
液晶表示装置の欠陥検査方法Info
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- JPH06100891B2 JPH06100891B2 JP61269066A JP26906686A JPH06100891B2 JP H06100891 B2 JPH06100891 B2 JP H06100891B2 JP 61269066 A JP61269066 A JP 61269066A JP 26906686 A JP26906686 A JP 26906686A JP H06100891 B2 JPH06100891 B2 JP H06100891B2
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- Japan
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- liquid crystal
- display device
- crystal display
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- defect
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- G—PHYSICS
- G09—EDUCATION; CRYPTOGRAPHY; DISPLAY; ADVERTISING; SEALS
- G09G—ARRANGEMENTS OR CIRCUITS FOR CONTROL OF INDICATING DEVICES USING STATIC MEANS TO PRESENT VARIABLE INFORMATION
- G09G3/00—Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes
- G09G3/006—Electronic inspection or testing of displays and display drivers, e.g. of LED or LCD displays
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- Engineering & Computer Science (AREA)
- Liquid Crystal (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Theoretical Computer Science (AREA)
- Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
- Liquid Crystal Display Device Control (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】 産業上の利用分野 本発明は、アクティブマトリックス基板と共通電極基板
で構成された液晶表示装置の欠陥検査方法に関するもの
である。
で構成された液晶表示装置の欠陥検査方法に関するもの
である。
従来の技術 近年、産業機器の小型化に伴い従来からの表示装置であ
ったブラウン管に代わる薄型平面表示装置が要望されて
いる。種々ある平面表示装置のなかで液晶を用いた表示
装置は、消費電力が少なく電池駆動が可能である点など
から携帯用機器の表示装置として注目されている。画像
や文字を表示するための液晶表示装置は、大別して単純
マトリックス方式と薄膜トランジスタ等を用いたアクテ
ィブマトリックス方式があるが、アクティブマトリック
ス方式を用いた液晶表示装置は必要な信号電圧を正確に
かつ独立に各絵素に伝達することが出来るのでクロスト
ークがなくコントラスト比の大きい表示が可能であり注
目されている。しかし、アクティブマトリックス方式で
は画面全体に数十万個のトランジスタを作る必要があ
り、このトランジスタを含めたアクティブマトリックス
基板の欠陥をいかになくすかということが技術的課題で
ある。
ったブラウン管に代わる薄型平面表示装置が要望されて
いる。種々ある平面表示装置のなかで液晶を用いた表示
装置は、消費電力が少なく電池駆動が可能である点など
から携帯用機器の表示装置として注目されている。画像
や文字を表示するための液晶表示装置は、大別して単純
マトリックス方式と薄膜トランジスタ等を用いたアクテ
ィブマトリックス方式があるが、アクティブマトリック
ス方式を用いた液晶表示装置は必要な信号電圧を正確に
かつ独立に各絵素に伝達することが出来るのでクロスト
ークがなくコントラスト比の大きい表示が可能であり注
目されている。しかし、アクティブマトリックス方式で
は画面全体に数十万個のトランジスタを作る必要があ
り、このトランジスタを含めたアクティブマトリックス
基板の欠陥をいかになくすかということが技術的課題で
ある。
アクティブマトリックス方式液晶表示装置に用いられる
薄膜トランジスタとしては、例えば特開昭60-192369号
公報に示されるように第２図のような構成になってい
た。すなわち、トランジスタ51のゲート電極はゲート線
X1〜XMへ、ソース電極はY1〜YNへ接続され、ドレイン電
極は絵素電極52に接続されている。そして、絵素電極と
対向共通電極の間に液晶53が挿入され独立した絵素54を
構成する。第２図のような構成の薄膜トランジスタの欠
陥のうち短絡欠陥は表示画質の重大な低下をもたらす。
トランジスタのゲート電極とソース電極の短絡は、短絡
部分を含むゲート線とソース線に接続されている全絵素
が点燈しなくなるいわゆる線欠陥となる。一方、ゲート
電極とドレイン電極の短絡およびソース電極とドレイン
電極の短絡は、その欠陥を含むトランジスタが接続され
ている絵素だけが影響を受けるいわゆる点欠陥となる。
ここで、ゲート電極とソース電極の短絡である線欠陥の
検査の場合は、アクティブマトリックス基板のゲート線
とソース線が短絡状態となるため比較的容易に欠陥検査
を行なうことができるが、ゲート電極とドレイン電極、
又は、ソース電極とドレイン電極の短絡である点欠陥の
検査の場合は、テストプローブ等を用いて各電極に直接
接触をとり欠陥検査を行なう以外有効な方法はなかっ
た。
薄膜トランジスタとしては、例えば特開昭60-192369号
公報に示されるように第２図のような構成になってい
た。すなわち、トランジスタ51のゲート電極はゲート線
X1〜XMへ、ソース電極はY1〜YNへ接続され、ドレイン電
極は絵素電極52に接続されている。そして、絵素電極と
対向共通電極の間に液晶53が挿入され独立した絵素54を
構成する。第２図のような構成の薄膜トランジスタの欠
陥のうち短絡欠陥は表示画質の重大な低下をもたらす。
トランジスタのゲート電極とソース電極の短絡は、短絡
部分を含むゲート線とソース線に接続されている全絵素
が点燈しなくなるいわゆる線欠陥となる。一方、ゲート
電極とドレイン電極の短絡およびソース電極とドレイン
電極の短絡は、その欠陥を含むトランジスタが接続され
ている絵素だけが影響を受けるいわゆる点欠陥となる。
ここで、ゲート電極とソース電極の短絡である線欠陥の
検査の場合は、アクティブマトリックス基板のゲート線
とソース線が短絡状態となるため比較的容易に欠陥検査
を行なうことができるが、ゲート電極とドレイン電極、
又は、ソース電極とドレイン電極の短絡である点欠陥の
検査の場合は、テストプローブ等を用いて各電極に直接
接触をとり欠陥検査を行なう以外有効な方法はなかっ
た。
発明が解決しようとする問題点 上記のように液晶表示装置の点欠陥の検査方法には、テ
ストプローブを用いてアクティブマトリックス基板のト
ランジスタを直接検査する以外有効な手段はなかった。
しかし、テストプローブを用いる方法では、テストプロ
ーブを直接トランジスタや絵素電極に接触させるため表
面を損傷するおそれがあり、また、テストプローブを移
動させながら全トランジスタの検査を行なわなければな
らないため検査に膨大な時間を要する。液晶を注入、封
止後全面に画像等を表示させた場合、点欠陥の有無の確
認は容易であるが位置を調べるためには絵素の座標を数
える必要があり現実上ほとんど不可能である。上記のよ
うな理由により液晶表示装置の点欠陥の検査は、ほとん
ど行なわれていないのが現実であった。
ストプローブを用いてアクティブマトリックス基板のト
ランジスタを直接検査する以外有効な手段はなかった。
しかし、テストプローブを用いる方法では、テストプロ
ーブを直接トランジスタや絵素電極に接触させるため表
面を損傷するおそれがあり、また、テストプローブを移
動させながら全トランジスタの検査を行なわなければな
らないため検査に膨大な時間を要する。液晶を注入、封
止後全面に画像等を表示させた場合、点欠陥の有無の確
認は容易であるが位置を調べるためには絵素の座標を数
える必要があり現実上ほとんど不可能である。上記のよ
うな理由により液晶表示装置の点欠陥の検査は、ほとん
ど行なわれていないのが現実であった。
本発明はかかる点に鑑みてなされたもので、液晶表示装
置の点欠陥の検査を容易に行なう検査方法を提供するこ
とを目的としている。
置の点欠陥の検査を容易に行なう検査方法を提供するこ
とを目的としている。
問題点を解決するための手段 本発明は上記問題点を解決するために、アクティブマト
リックス方式液晶表示装置において、任意のゲート線ま
たはソース線に電気信号を供給、欠陥を有する絵素を点
燈状態として、その絵素の位置を検出するものである。
リックス方式液晶表示装置において、任意のゲート線ま
たはソース線に電気信号を供給、欠陥を有する絵素を点
燈状態として、その絵素の位置を検出するものである。
作用 本発明は上記した構成より、液晶を注入、封止した液晶
表示装置について、外部よりゲート線およびソース線に
信号を供給し欠陥位置を検出することで、液晶表示装置
全体の点欠陥の検査を効率よく行なうことができる。
表示装置について、外部よりゲート線およびソース線に
信号を供給し欠陥位置を検出することで、液晶表示装置
全体の点欠陥の検査を効率よく行なうことができる。
実施例 以下本発明の一実施例の液晶表示装置の欠陥検査方法に
ついて図面を参照しながら説明する。第１図は本発明の
一実施例における液晶表示装置の欠陥検査方法を示した
ものである。第１図においてX1〜XMはゲート線、Y1〜YN
はソース線、T11〜TMNはトランジスタ、C11〜CMNは絵
素、11はゲート線の交流電気信号源、12はソース線の交
流電気信号源、21、22は電気信号を接断するためのスイ
ッチである。そして、31はトランジスタのゲート電極と
ドレイン電極間の短絡部分を、32はソース電極とドレイ
ン電極間の短絡部分を示している。
ついて図面を参照しながら説明する。第１図は本発明の
一実施例における液晶表示装置の欠陥検査方法を示した
ものである。第１図においてX1〜XMはゲート線、Y1〜YN
はソース線、T11〜TMNはトランジスタ、C11〜CMNは絵
素、11はゲート線の交流電気信号源、12はソース線の交
流電気信号源、21、22は電気信号を接断するためのスイ
ッチである。そして、31はトランジスタのゲート電極と
ドレイン電極間の短絡部分を、32はソース電極とドレイ
ン電極間の短絡部分を示している。
以上のように構成された本実施例について以下その動作
を図面を参照しながら説明する。第１図においてスイッ
チ21を閉じて、液晶を光が十分に透過する状態に保つこ
とができる大きさの信号を出力する信号源11をゲート線
X1に接続した場合を考える。この場合、ソース線Y1〜YN
は開放状態にあるのでアクティブマトリックスに欠陥が
なければゲート線X1に接続されている絵素は非点燈状態
である。しかし、例えばゲート線X1に接続されているト
ランジスタT12にゲート電極とドレイン電極間の短絡部
分31があれば絵素C12には短絡部分31を通じて信号源11
の信号が加わり絵素C12は点燈状態になる。通常、トラ
ンジスタのゲート電極とドレイン電極が短絡状態にある
場合、表示をさせるとその欠陥部分の絵素は非電燈状態
となる。これは、表示させている時はゲート線を走査し
ており、トランジスタがオン状態である時間よりオフ状
態である時間のほうがはるかに長いため、一旦絵素に充
電された電荷が短絡部分を通じて放電してしまうためで
ある。一方、本実施例ではゲート線の走査は行なわず固
定しておくため絵素には常に電荷が供給されて点燈状態
となる。
を図面を参照しながら説明する。第１図においてスイッ
チ21を閉じて、液晶を光が十分に透過する状態に保つこ
とができる大きさの信号を出力する信号源11をゲート線
X1に接続した場合を考える。この場合、ソース線Y1〜YN
は開放状態にあるのでアクティブマトリックスに欠陥が
なければゲート線X1に接続されている絵素は非点燈状態
である。しかし、例えばゲート線X1に接続されているト
ランジスタT12にゲート電極とドレイン電極間の短絡部
分31があれば絵素C12には短絡部分31を通じて信号源11
の信号が加わり絵素C12は点燈状態になる。通常、トラ
ンジスタのゲート電極とドレイン電極が短絡状態にある
場合、表示をさせるとその欠陥部分の絵素は非電燈状態
となる。これは、表示させている時はゲート線を走査し
ており、トランジスタがオン状態である時間よりオフ状
態である時間のほうがはるかに長いため、一旦絵素に充
電された電荷が短絡部分を通じて放電してしまうためで
ある。一方、本実施例ではゲート線の走査は行なわず固
定しておくため絵素には常に電荷が供給されて点燈状態
となる。
また、スイッチ22を閉じてソース線Y1に信号源12を接続
し、ゲート線を全て開放とした場合を考える。この場合
もアクティブマトリックスに欠陥がなければトランジス
タは動作しないためソース線Y1に接続されている絵素は
全て非点燈状態である。しかし、例えばソース線Y1に接
続されているトランジスタT21にソース電極とドレイン
電極間の短絡部分32があれば、絵素C21には短絡部分32
を通じて信号源12の信号が常時加わるため絵素C21は点
燈状態となる。
し、ゲート線を全て開放とした場合を考える。この場合
もアクティブマトリックスに欠陥がなければトランジス
タは動作しないためソース線Y1に接続されている絵素は
全て非点燈状態である。しかし、例えばソース線Y1に接
続されているトランジスタT21にソース電極とドレイン
電極間の短絡部分32があれば、絵素C21には短絡部分32
を通じて信号源12の信号が常時加わるため絵素C21は点
燈状態となる。
ここで、ゲート線やソース線に供給する信号を交流とし
たのは、液晶材料によっては交流駆動を行なわないと動
作しない表示装置があるためである。
たのは、液晶材料によっては交流駆動を行なわないと動
作しない表示装置があるためである。
上記説明のように任意のゲート線またはソース線を選ん
で電気信号を供給した場合、トランジスタのゲート電極
とドレイン電極が短絡状態にある絵素（例えば絵素
C12）やソース電極とドレイン電極が短絡状態にある絵
素（例えば絵素C21）が点燈状態となる。従って、この
点燈状態となった欠陥を有する絵素を光学的手段を用い
て検出することで液晶表示装置の欠陥検査を容易に行な
うことができる。
で電気信号を供給した場合、トランジスタのゲート電極
とドレイン電極が短絡状態にある絵素（例えば絵素
C12）やソース電極とドレイン電極が短絡状態にある絵
素（例えば絵素C21）が点燈状態となる。従って、この
点燈状態となった欠陥を有する絵素を光学的手段を用い
て検出することで液晶表示装置の欠陥検査を容易に行な
うことができる。
短絡欠陥のために点燈状態となった絵素を光学的に検出
する手段としては、フォトトランジスタ等を用いてもよ
いし目視で行なうこともできる。例えば目視で検査を行
なう場合、任意のゲート線またはソース線に電気信号を
供給し欠陥を有する絵素を点燈状態とした後、ゲート線
に信号を供給した場合であれば加えて任意のソース線
に、ソース線に信号を供給した場合であれば加えて任意
のゲート線に信号を供給する。すると、信号を供給して
いるゲート線とソース線の交点にあるトランジスタが動
作状態となりトランジスタに接続されている絵素が点燈
状態となる。そして、追加して信号を供給したゲート線
やソース線を移動させて点燈状態にある交点の絵素を欠
陥絵素と一致させることで容易に欠陥を有する絵素の位
置を検出することができる。
する手段としては、フォトトランジスタ等を用いてもよ
いし目視で行なうこともできる。例えば目視で検査を行
なう場合、任意のゲート線またはソース線に電気信号を
供給し欠陥を有する絵素を点燈状態とした後、ゲート線
に信号を供給した場合であれば加えて任意のソース線
に、ソース線に信号を供給した場合であれば加えて任意
のゲート線に信号を供給する。すると、信号を供給して
いるゲート線とソース線の交点にあるトランジスタが動
作状態となりトランジスタに接続されている絵素が点燈
状態となる。そして、追加して信号を供給したゲート線
やソース線を移動させて点燈状態にある交点の絵素を欠
陥絵素と一致させることで容易に欠陥を有する絵素の位
置を検出することができる。
上記説明はトランジスタ部分に短絡欠陥がある場合につ
いて行なったが、ゲート線と絵素電極、又は、ソース線
と絵素電極が直接短絡状態にある場合も同様にして欠陥
検査を行なうことができる。
いて行なったが、ゲート線と絵素電極、又は、ソース線
と絵素電極が直接短絡状態にある場合も同様にして欠陥
検査を行なうことができる。
発明の効果 以上の説明から明らかなように、本発明はアクティブマ
トリックス方式液晶表示装置について任意のゲート線、
ソース線に電気信号を供給し、欠陥を有する絵素を点燈
状態とした後、光学的手段によって欠陥を有する絵素の
位置を検出することより液晶表示装置の欠陥検査を容易
に、かつ効率よく行なうことができる。
トリックス方式液晶表示装置について任意のゲート線、
ソース線に電気信号を供給し、欠陥を有する絵素を点燈
状態とした後、光学的手段によって欠陥を有する絵素の
位置を検出することより液晶表示装置の欠陥検査を容易
に、かつ効率よく行なうことができる。
第１図は本発明の一実施例による液晶表示装置の欠陥検
査方法を示す構成図、第２図はアクティブマトリックス
方式液晶表示装置に用いられる薄膜トランジスタアレイ
の一構成図である。 X1〜XM……ゲート線、Y1〜YN……ソース線、T11〜TMN…
…トランジスタ、C11〜CMN……絵素、11,12……電気信
号源、21,22……スイッチ、31……ゲート電極とドレイ
ン電極の短絡部分、32……ソース電極とドレイン電極の
短絡部分。
査方法を示す構成図、第２図はアクティブマトリックス
方式液晶表示装置に用いられる薄膜トランジスタアレイ
の一構成図である。 X1〜XM……ゲート線、Y1〜YN……ソース線、T11〜TMN…
…トランジスタ、C11〜CMN……絵素、11,12……電気信
号源、21,22……スイッチ、31……ゲート電極とドレイ
ン電極の短絡部分、32……ソース電極とドレイン電極の
短絡部分。
Claims (2)
- 【請求項１】アクティブマトリックス方式液晶表示装置
であって、任意のゲート線またはソース線に電気信号を
供給時に、前記ゲート線または前記ソース線と接続さ
れ、かつ点燈状態となる絵素を光学的手段によって検出
することを特徴とする液晶表示装置の欠陥検査方法。 - 【請求項２】欠陥検査時にゲート線またはソース線に
は、液晶を光が十分透過する状態に保つことができる大
きさの信号を供給することを特徴とする特許請求の範囲
第（１）項記載の液晶表示装置の欠陥検査方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP61269066A JPH06100891B2 (ja) | 1986-11-12 | 1986-11-12 | 液晶表示装置の欠陥検査方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP61269066A JPH06100891B2 (ja) | 1986-11-12 | 1986-11-12 | 液晶表示装置の欠陥検査方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS63123093A JPS63123093A (ja) | 1988-05-26 |
| JPH06100891B2 true JPH06100891B2 (ja) | 1994-12-12 |
Family
ID=17467181
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP61269066A Expired - Lifetime JPH06100891B2 (ja) | 1986-11-12 | 1986-11-12 | 液晶表示装置の欠陥検査方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH06100891B2 (ja) |
Families Citing this family (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2820233B2 (ja) * | 1993-06-11 | 1998-11-05 | シャープ株式会社 | 表示装置の検査装置および検査方法 |
| JP3213472B2 (ja) * | 1994-04-26 | 2001-10-02 | シャープ株式会社 | アクティブマトリクス基板又はアクティブマトリクス液晶パネルの欠陥検出検査方法、欠陥検出検査装置 |
| JP3880416B2 (ja) | 2002-02-13 | 2007-02-14 | シャープ株式会社 | アクティブマトリクス基板 |
Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS58155328A (ja) * | 1982-03-11 | 1983-09-16 | Seiko Instr & Electronics Ltd | 液晶表示装置用検査装置 |
Family Cites Families (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS60125685U (ja) * | 1984-02-02 | 1985-08-24 | セイコーインスツルメンツ株式会社 | 液晶表示装置 |
-
1986
- 1986-11-12 JP JP61269066A patent/JPH06100891B2/ja not_active Expired - Lifetime
Patent Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS58155328A (ja) * | 1982-03-11 | 1983-09-16 | Seiko Instr & Electronics Ltd | 液晶表示装置用検査装置 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS63123093A (ja) | 1988-05-26 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| EXPY | Cancellation because of completion of term |