JPH0587735A - 視程測定装置 - Google Patents

視程測定装置

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JPH0587735A
JPH0587735A JP4472791A JP4472791A JPH0587735A JP H0587735 A JPH0587735 A JP H0587735A JP 4472791 A JP4472791 A JP 4472791A JP 4472791 A JP4472791 A JP 4472791A JP H0587735 A JPH0587735 A JP H0587735A
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JP
Japan
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light
light receiving
light emitting
optical axis
visual range
Prior art date
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Pending
Application number
JP4472791A
Other languages
English (en)
Inventor
Noriko Horibata
典子 堀端
Takashi Yoshikawa
孝 吉川
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Panasonic Holdings Corp
Original Assignee
Matsushita Electric Industrial Co Ltd
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Publication date
Application filed by Matsushita Electric Industrial Co Ltd filed Critical Matsushita Electric Industrial Co Ltd
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Abstract

(57)【要約】 【目的】 光軸の調整を不要として容易に設置すること
ができる。外部の力による光軸の狂いを防止すると共
に、大気中の汚れ、レンズ系の汚れ、光源の劣化による
影響を防止して測定精度を向上させる。 【構成】 一つの筐体1に発光部7と透過光用の第1の
受光部8と散乱光用の第2の受光部9を一体的に支持す
る。視程測定に際し、雪、霧21が発生すると発光部7
から発射した光20は雪、霧21に当たり、透過光22
は減少し、散乱光23は増加する。透過光22と散乱光
23の受光量から演算処理回路18で演算処理すること
により雪、霧21の濃度に応じた視程距離を求める。透
過光22、散乱光23から演算処理することにより、あ
る程度のレンズ系の汚れや発光部7の光源10の劣化の
影響を防止することができる。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、自動車の運転や航空機
の運航の安全等を図るために視界を計測する視程測定装
置に関する。
【0002】
【従来の技術】図4は従来の視程測定装置の構成を示し
ている。
【0003】図4において、31は発光器、32は受光
器であり、これら発光器31と受光器32は光軸を共通
にし、50m〜100m離隔して地面33上に設置され
ている。
【0004】以上の構成において、以下、その動作につ
いて説明する。発光器31から常時、発光し、受光器3
2で常時、受光する。ここで、快晴時(このときの視程
を無限大とする)の受光レベルを最大とし、雨、雪、霧
等により視界が遮られた最悪の状態を視程距離0とす
る。これらの相関の一例を表わすと図5に示すようにな
る。したがって、受光器32で受光した透過光レベル3
4から視界の状態、すなわち、視程距離を数値的に測定
することができる。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上記従
来の視程測定装置では、発光器31と受光器32を50
〜100m離隔して設置するため、長期にわたって使用
する間には地震や暴風により互いの光軸に狂いが生じ、
これに伴い、図5に示す受光レベルと視程距離の相関に
誤差を生じさせる。また、大気中の汚れ、レンズ系の汚
れ、光源の劣化により透過光レベル34にそれらの影響
が与えられるため、測定精度が劣る。また、設置の際に
光軸を調整しなければならず、この調整作業が煩わしい
などの問題があった。
【0006】本発明は、このような従来の問題を解決す
るものであり、光軸の調整を不要として設置作業を容易
に行うことができ、また、地震や暴風による光軸への影
響を防止すると共に、大気中の汚れ、レンズ系の汚れ、
光源の劣化の影響を防止して測定精度を向上させること
ができるようにした視程測定装置を提供することを目的
とするものである。
【0007】
【課題を解決するための手段】本発明は、上記目的を達
成するために、一つの発光部と、この発光部と光軸が一
致するように配置され、上記発光部からの透過光を受光
する第1の受光部と、上記発光部および第1の受光部と
光軸が異なるように配置され、上記発光部から発した光
の散乱光の一部を受光する第2の受光部と、上記発光部
および第1、第2の受光部を一体的に支持する支持手段
とを備えたものである。
【0008】
【作用】したがって、本発明によれば、発光部と受光部
を支持手段で一体的に支持するので、設置する際、光軸
の調整を不要とすることができ、また、たとえ外部から
力が加わっても発光部と受光部の光軸に相対的な狂いが
生じるのを防止することができる。また、透過光用の第
1の受光部に加えて散乱光用の第2の受光部を用い、透
過光レベルと散乱光レベルを演算処理することにより、
視程距離と受光相対値の相関を得ることができ、大気中
の汚れ、レンズ系の汚れ、光源の劣化による影響を防止
することができる。
【0009】
【実施例】以下、本発明の一実施例について図面を参照
しながら説明する。
【0010】図1(a)、(b)は本発明の一実施例に
おける視程測定装置を示し、(a)は平面図、(b)は
斜視図である。
【0011】図1(a)、(b)に示すように、筐体1
は一対の支持部2、3の基端部間が連結部4により連結
されて枠状に形成され、支持部2、3間が基部側から先
端側に至るに従い次第に幅広になり、先端部間が視程測
定のための所望の距離となるように設定されている。筐
体1は複数本の支柱5により地面6上に支持されてい
る。筐体1の支持部2、3の先端部間には対向して光軸
を共通にする発光部7と透過光用の第1の受光部8が取
り付けられ、支持部3には第1の受光部8の内側方にお
いて第1の発光部8および第1の受光部9と光軸を異に
する散乱光用の第2の受光部9が取り付けられ、これら
一つの発光部7と第1、第2の受光部8、9が筐体1に
より一体的に支持されている。発光部7には、発光ダイ
オード、またはレーザダイド等からなる光源10と、そ
の駆動回路11が組み込まれている。第1の受光部8に
は、集光レンズ12と受光素子13と検出回路14が組
み込まれている。第2の受光部9にも同様に集光レンズ
15と受光素子16と検出回路17が組み込まれてい
る。筐体1の支持部2内には演算処理回路18が設けら
れ、この演算処理回路18は第1と第2の受光部8と9
の検出回路14と17の信号を比較演算し、また、発光
部7の駆動回路11に電源を供給する。
【0012】以上の構成において、以下、その動作につ
いて説明する。発光部7は駆動回路11の駆動により光
源10から約2KHzで変調された光線20を第1の受光
部8に向けて発射する。このように光源10から発射す
る光を約2KHzに変調することにより、太陽光や照明光
の影響を避けることができる。大気中に汚れがなけれ
ば、光線20はほとんど減衰を起こさず、第1の受光部
8の集光レンズ12で受光素子13に集光される。した
がって、この場合、第2の受光部9にはほとんど光は入
射しない。今、大気中に雪や霧21が発生した場合、光
線20は大きく減衰し、光線22となって第1の受光部
8に入射する。一方、雪や霧21によって散乱した光の
一部は光線23となって第2の受光部9に入射し、集光
レンズ15で受光素子16に集光される。
【0013】これら大気中に汚れのない状態から雪や霧
21等による透過光22の減衰と散乱光23の増加をそ
れぞれ検出回路14と17で検出したときの出力を図2
の相関図に示す。24は透過光22の変遷を、25は散
乱光23の変遷を表わす。図3は上記散乱光レベル25
と透過光レベル24を演算処理回路18で割り算処理し
た場合の結果の一例である受光相対レベル26を示す。
【0014】大気中に雪や霧21等が発生すれば、透過
光レベル24で示すように透過光22は減衰し、散乱光
レベル25で示すように散乱光23はあるレベルまで増
加する。この二者を演算処理回路18で演算処理するこ
とにより、視程距離と受光相対値には図3の受光相対レ
ベル26で示すようにほぼ直線の相関が得られ、したが
って、雪や霧21等の濃度に応じた正確な視程距離が測
定される。また、上記のように透過光22と散乱光23
の二者を検出することにより、視程距離の測定に際し、
集光レンズ系12、15の汚れや、光源10の劣化によ
る影響を相殺することができる。
【0015】そして、上記のような視程距離の測定に際
し、発光部7と、第1、第2の受光部8、9を筐体1に
一体的に支持しているので、現場で光軸調整を必要とせ
ず、地震や暴風等による光軸への影響を防止することが
できる。
【0016】
【発明の効果】以上説明したように本発明によれば、発
光部と受光部を支持手段で一体的に支持するので、設置
する際の光軸の調整を必要とせず、設置作業が容易とな
る。また、地震や暴風による光軸への影響を防止するこ
とができ、しかも、受光部を2個設けて透過光と散乱光
を検出するようにしているので、大気中の汚れ、レンズ
系の汚れ、光源の劣化の影響を防止することができ、し
たがって、測定精度を向上させることができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】(a)は本発明の一実施例における視程測定装
置の平面図 (b)は同視程測定装置の斜視図
【図2】(a)は同視程測定装置により得る透過光、散
乱光のレベルと視程距離の相関図
【図3】同視程測定装置により得る視程距離と受光相対
値の相関図
【図4】従来の視程測定装置の側面図
【図5】同従来例により得る視程距離と受光レベルの相
関図
【符号の説明】
1 筐体 7 発光部 8 第1の受光部 9 第2の受光部 18 演算処理回路
─────────────────────────────────────────────────────
【手続補正書】
【提出日】平成4年9月21日
【手続補正1】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】図2
【補正方法】変更
【補正内容】
【図2】視程測定装置により得る透過光、散乱光のレ
ベルと視程距離の相関図

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 一つの発光部と、この発光部と光軸が一
    致するように配置され、上記発光部からの透過光を受光
    する第1の受光部と、上記発光部および第1の受光部と
    光軸が異なるように配置され、上記発光部から発した光
    の散乱光の一部を受光する第2の受光部と、上記発光部
    および第1、第2の受光部を一体的に支持する支持手段
    とを備えた視程測定装置。
JP4472791A 1991-03-11 1991-03-11 視程測定装置 Pending JPH0587735A (ja)

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