JPH0568094B2 - - Google Patents

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JPH0568094B2
JPH0568094B2 JP31561889A JP31561889A JPH0568094B2 JP H0568094 B2 JPH0568094 B2 JP H0568094B2 JP 31561889 A JP31561889 A JP 31561889A JP 31561889 A JP31561889 A JP 31561889A JP H0568094 B2 JPH0568094 B2 JP H0568094B2
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JP
Japan
Prior art keywords
substrate
cup
spin chuck
processing liquid
airflow
Prior art date
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Expired - Lifetime
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JP31561889A
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English (en)
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JPH03175617A (ja
Inventor
Hiroshi Matsui
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Dainippon Screen Manufacturing Co Ltd
Original Assignee
Dainippon Screen Manufacturing Co Ltd
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Publication date
Application filed by Dainippon Screen Manufacturing Co Ltd filed Critical Dainippon Screen Manufacturing Co Ltd
Priority to JP31561889A priority Critical patent/JPH03175617A/ja
Publication of JPH03175617A publication Critical patent/JPH03175617A/ja
Publication of JPH0568094B2 publication Critical patent/JPH0568094B2/ja
Granted legal-status Critical Current

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  • Photosensitive Polymer And Photoresist Processing (AREA)
  • Exposure Of Semiconductors, Excluding Electron Or Ion Beam Exposure (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】 ≪産業上の利用分野≫ この発明は半導体基板、液晶用ガラス基板等
(以下基板と称する)を回転させながら、その表
面に例えばフオトレジスト液、現像液、エツチン
グ液、あるいは液体ドーパント剤等を基板の上方
に設けたノズルから供給することにより、基板の
表面処理を行う回転式表面処理装置に関するもの
である。
≪従来の技術≫ この種の回転式表面処理装置としては、従来よ
り例えば本出願人の提案に係る第2図に示すもの
(特開昭63−77569号公報:以下従来例1という)、
あるいは第3図に示すもの(特公昭53−37189号
公報:以下従来例2という)が知られている。
従来例1は、第2図に示すように、基板Wを略
水平に保持して回転するスピンチヤツク101
と、スピンチヤツク101の上方に設けられ基板
Wに処理液を供給するノズル102と、回転する
基板Wを囲うようにして設けられ、処理液の回収
と処理液飛沫の飛散を防止する飛散防止カツプ1
04と、飛散防止カツプ104内を排気する排気
手段120とを備えて成り、飛散防止カツプ10
4は上部に外気取入口105aを備え、処理液飛
沫を傾斜面105bで下方へ案内する上カツプ1
05と、上カツプ105の下部周壁105cに内
接する排液ゾーン107及びこの排液ゾーン10
7の内側にリング状の排気ゾーン108を区画形
成した下カツプ106とから成り、スピンチヤツ
ク101の下方には外気取入口105aから流下
する気流Aを傾斜整流面103aで下カツプに整
流して案内する円形整流部材103を設け、排気
ゾーン108を円形整流部材103の下側に位置
させ、排液ゾーン107と排気ゾーン108とを
両ゾーンの隔壁に形成した絞り開口108aで連
通して排気するように構成されている。なお符号
117は排気ダクトである。
従来例2は、第3図に示すように、ケーシング
204の下半部を飛散防止カツプとして形成し、
その内部にスピンチヤツク201を設け、スピン
チヤツク201で保持した基板Wの下方に気流案
内板203を水平配置し、気流案内板203の下
側に環状のエア噴射ノズル211を設け、基板W
の下面にエアA2を吹きつけて、表面処理液の飛
沫が基板Wの裏面に付着するのを防止するように
構成されている。なお、第3図中符号220は基
板Wの上面に気流Aを吹き付ける気体供給用ノズ
ル、217はケーシング204に開口された排気
口である。
≪発明が解決しようとする課題≫ 上記従来例1は、排気ゾーン108を円形整流
部材の下側にリング形状をなすように設け、その
外周に排液ゾーン107を区画形成して両ゾーン
107,108を絞り開口108aで連通し、基
板Wの周縁より流下する気流Aが均一となるよう
に構成されており、フオトレジスト等の膜厚を均
一に高精度で形成できるものであるが、次のよう
な難点がある。
基板Wの周縁より流下する気流Aの一部が、基
板Wと円形整流板103との間〓に流入し、処理
液の飛沫が基板Wの裏面に付着するという問題が
ある。
一方、従来例2は上記のような問題点はない
が、排気口217がケーシング204の側壁20
4bにあけられ、しかもスピンチヤツク201よ
りも上方に位置するため、排気流Bに乗つて処理
液の飛沫が基板Wの上方に吹き上げられ、それが
基板Wの表面へ再付着するという問題がある。な
お、排気ダクトを第2図のようにケーシング20
4の下部に開口することも考えられるが、その場
合でも気流案内板203の下側に設けたエア噴射
ノズル211から基板Wの下面にエアA2を吹き
付ける構造であるため、基板Wの周縁部より流下
する気流は均一とならず乱流を生じ易い。このた
め、塗膜を均一に、高精度で形成することができ
ない。
本発明はこのような事情を考慮してなされたも
ので、基板の表面処理の均一性を確保しながら
も、基板の裏面への処理液の飛沫が付着するのを
防止することを技術課題とする。
≪課題を解決するための手段≫ 本発明は上記課題を解決するために前記従来の
回転式表面処理装置を以下のように改良したもの
である。
即ち、前記従来例1の基板の回転式表面処理装
置において、飛散防止カツプを外カツプで囲い、
飛散防止カツプと外カツプとの間に上記気流を流
通する迂回流路を形成し、迂回流路を飛散防止カ
ツプ内の基板と円形整流部材の傾斜整流面との間
〓に連通したことを特徴とするものである。
≪作用≫ 本発明では、飛散防止カツプと外カツプとの間
に形成された迂回流路が、基板と円形整流部材の
傾斜整流面との間〓に連通されており、基板の周
縁より流下する気流によつて、当該迂回流路が負
圧になる。従つて、この迂回流路を流通する気流
は、基板の下側を周縁部へ向かつて流れ、上記流
下気流と合流することになるが、従来例のように
吹き付けによるものではないので、流下気流の乱
れは生じない。これにより、基板の表面処理の均
一性は確保され、かつ基板の裏面へ処理液飛沫が
付着することもない。
≪実施例≫ 第1図は本発明の一実施例を示す回転式表面処
理装置の縦断面図である。
この回転式表面処理装置は、第1図に示すよう
に、基板Wを略水平に保持して回転するスピンチ
ヤツク1と、スピンチヤツク1の上方に設けられ
基板Wに処理液2aを供給するノズル2と、スピ
ンチヤツク1で保持した基板の下方に配置され、
流下気流Aを傾斜整流面3aで整流して案内する
円形整流部材3と、回転する基板Wを囲うように
して設けられ、処理液2aの回収と処理液飛沫の
飛散防止とに役立つ飛散防止カツプ5と、飛散防
止カツプ4を囲う外カツプ10と、排気手段20
とを具備して成る。
飛散防止カツプ4は、上部に外気取入口5aを
備え処理液飛沫を傾斜面5bで下方へ案内する上
カツプ5と、上カツプ5を着脱自在に受止め支持
し、上カツプ5の下部周壁5cに内接する排液ゾ
ーン7及びこの排液ゾーン7の内側にリング状の
排気ゾーン8を区画形成した下カツプ6とから成
る。
排気ゾーン8は円形整流部材3の下側にリング
形状をなすように設けられ、排液ゾーン7から排
気ゾーン8へは排気ゾーン8の周囲にスリツト状
に形成した絞り開口8aで連通し、排気ゾーン8
内に設けた排気ダクト17より排気するように構
成されている。なお、第1図中符号16は排液ゾ
ーン7内に設けられた排液ドレンである。
上記外カツプ10は、飛散防止カツプ4を囲
い、飛散防止カツプ4との間に気流Aの一部を流
通する迂回流路11を形成する。この迂回流路1
1はスピンチヤツク1で吸着保持した基板Wの下
面と、円形整流部材3の傾斜整流面3aとの間〓
に連通されており、基板Wの周縁より流下する気
流A1によつて当該間〓及び迂回流路11が負圧
になる。つまり、この迂回流路11を流通する気
流A2は基板Wの下側を周縁へ向かつて流れ、流
下気流A1と合流するが、吹き付けによるもので
はないので、流下気流A1の乱れは生じない。
次にこの装置の動作について説明する。
先ず、スピンチヤツク1に基板Wを中心合わせ
して吸着保持させ、排気ダクト17より強制排気
する。
次いで、基板Wの上面中央部にノズル2より例
えばフオトレジスト液2aを吐出させ、すぐに基
板Wを回転させる。すると、基板Wの回転に伴
い、その表面にフオトレジスト液の塗膜が形成さ
れ、余剰の液は基板Wの周縁から飛沫となつて飛
散する。この飛沫は上カツプ5の傾斜面5bに衝
突し、外向き斜め下方に案内され、一部はさらに
円形整流部材3の傾斜整流面3aに衝突し、下カ
ツプ6へ案内される。
一方、排気手段20によつて排気ダクト17か
ら強制排気されていることから、外気取入口5a
から飛散防止カツプ4内に流入する外気Aは基板
Wの上面に沿つて放射方向へ流れ、基板Wの周縁
を通る流下気流A1となり、円形整流板3の傾斜
整流面3aに沿つて流下する。
他方、負圧によつて迂回流路11を流通する気
流A2は、傾斜整流面3aの上縁と基板Wの下面
との間〓を通つて放射状に流出し、上記流下気流
A1と合流する。これにより、基板Wの裏面へ処
理液飛沫がまわり込んで付着するのを防止する。
そして、流下気流A1は下カツプ6の排液ゾーン
7を経由し、絞り開口8aによつて通風抵抗を受
けながら排気ゾーン8内へ流入し、排気ダクト1
7より排気される。
つまり、流下気流A1は、絞り開口8aを介し
て排気されるようになつているので、基板W上の
気流Aは全方向へ均一な流れとなり、塗膜のムラ
も生じない。
≪発明の効果≫ 以上の説明で明らかなように、本発明では飛散
防止カツプを外カツプで囲い、両カツプの間〓に
迂回流路を形成して基板下面と傾斜整流面との間
〓に連通したので、下記の効果を奏する。
イ 迂回流路を流通する気流は、負圧によつて基
板の下側を周縁部へ向けて流れ、処理液飛沫が
基板の裏面へまわり込み付着するのを防止する
ことができる。
ロ 基板の下側を周縁部へ向けて流通する気流は
流下気流と合流するが、従来例のように吹き付
けにより流下気流の乱れを生じさせることもな
いので、基板の表面処理の均一性を確保するこ
とができる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明に係る回転式表面処理装置の縦
断面図、第2図及び第3図はそれぞれ従来例1及
び従来例2に係る回転式表面処理装置の縦断面図
である。 1……スピンチヤツク、2……ノズル、3……
円形整流部材、3a……傾斜整流面、4……飛散
防止カツプ、5……上カツプ、5a……外気取入
口、6……下カツプ、7……排液ゾーン、8……
排気ゾーン、8a……絞り開口、10……外カツ
プ、11……迂回流路。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1 基板を保持して回転するスピンチヤツクと、
    スピンチヤツクの上方に設けられ基板に処理液を
    供給するノズルと、回転する基板を囲うようにし
    て設けられ、処理液の回収及び処理液飛沫の飛散
    防止のための飛散防止カツプと、飛散防止カツプ
    内を排気する排気手段と、スピンチヤツクの下方
    に飛散防止カツプの上部に設けた外気取入口から
    流下する気流を傾斜整流面で飛散防止カツプ下部
    の下カツプに整流して案内する円形整流部材とを
    備えて成り、 飛散防止カツプを外カツプで囲い、飛散防止カ
    ツプと外カツプとの間に気流を流通する迂回流路
    を形成し、 迂回流路を飛散防止カツプ内の基板と円形整流
    部材の傾斜整流面との間〓に連通したことを特徴
    とする基板の回転式表面処理装置。
JP31561889A 1989-12-04 1989-12-04 基板の回転式表面処理装置 Granted JPH03175617A (ja)

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JP31561889A JPH03175617A (ja) 1989-12-04 1989-12-04 基板の回転式表面処理装置

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JPH03175617A JPH03175617A (ja) 1991-07-30
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JPH05109612A (ja) * 1991-10-18 1993-04-30 Fujitsu Ltd レジスト塗布装置
US7030039B2 (en) 1994-10-27 2006-04-18 Asml Holding N.V. Method of uniformly coating a substrate
US6977098B2 (en) 1994-10-27 2005-12-20 Asml Holding N.V. Method of uniformly coating a substrate
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JPH0945611A (ja) * 1995-07-27 1997-02-14 Dainippon Screen Mfg Co Ltd 回転式基板塗布装置
JP5802444B2 (ja) * 2011-06-15 2015-10-28 東京応化工業株式会社 塗布装置及び塗布方法
JP6543534B2 (ja) 2015-08-26 2019-07-10 株式会社Screenホールディングス 基板処理装置

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JPH03175617A (ja) 1991-07-30

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