JPH0566820A - 計測機能を有する数値制御装置 - Google Patents
計測機能を有する数値制御装置Info
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- JPH0566820A JPH0566820A JP25697491A JP25697491A JPH0566820A JP H0566820 A JPH0566820 A JP H0566820A JP 25697491 A JP25697491 A JP 25697491A JP 25697491 A JP25697491 A JP 25697491A JP H0566820 A JPH0566820 A JP H0566820A
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 タッチセンサの状態がOFF→ONとなる時
にも、ON→OFFとなる時にも送り軸の検出位置デー
タをラッチできるようにして、タッチセンサの2回計測
による計測を短時間で完了できるようにする。 【構成】 送り軸の検出位置データを計測位置データと
してラッチするタイミングを、タッチセンサがOFFか
らONへ変化したときと、ONからOFFへ変化したと
きのいずれにするかをプログラムで指令し、その指令に
従って、タッチセンサの状態がOFF→ON又はOFN
→OFFに変化したときにデータをラッチするようにす
る。
にも、ON→OFFとなる時にも送り軸の検出位置デー
タをラッチできるようにして、タッチセンサの2回計測
による計測を短時間で完了できるようにする。 【構成】 送り軸の検出位置データを計測位置データと
してラッチするタイミングを、タッチセンサがOFFか
らONへ変化したときと、ONからOFFへ変化したと
きのいずれにするかをプログラムで指令し、その指令に
従って、タッチセンサの状態がOFF→ON又はOFN
→OFFに変化したときにデータをラッチするようにす
る。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、タッチセンサを用いた
機内計測機能を有する数値制御装置に関する。
機内計測機能を有する数値制御装置に関する。
【0002】
【従来の技術】数値制御工作機械の送り軸の軸移動部に
タッチセンサを装備し、送り軸を制御することによりタ
ッチセンサを計測対象物に接触させ、その際のタッチセ
ンサからの信号を利用して計測を行なう数値制御工作機
械の機内計測機能が実用化されている。
タッチセンサを装備し、送り軸を制御することによりタ
ッチセンサを計測対象物に接触させ、その際のタッチセ
ンサからの信号を利用して計測を行なう数値制御工作機
械の機内計測機能が実用化されている。
【0003】図7は、従来の計測機能を有する数値制御
装置の機能を示すブロック図である。加工プログラム入
力部1により入力された加工プログラムSAは、加工プ
ログラム保存部2に保存される。加工プログラムSAの
中には、機内計測を実行することを指令する機内計測実
行指令と、図6の(A)に示すような機内計測を行なう
際のタッチセンサ9の軸移動開始点となる計測開始点
A、タッチセンサ9の軸移動の目標点である仮想目標点
B、計測対象物10の計測対象面の仮想の位置である仮
想対象ワーク面Cの各データとが指令されている。加工
プログラム解釈部3では、加工プログラム保存部2の加
工プログラムSAをブロック単位で読出しながらその意
味を解釈し、加工プログラムSAの中に機内計測を行な
う機内計測指令があった場合は、機内計測指令及び前記
点A〜Cのデータである機内計測関係データSCを機内
計測処理指令部4に送出する。機内計測処理指令部4は
機内計測関係データSCの点A〜Cのデータをもとに、
タッチセンサ9を計測開始点Aから仮想目標点Bへ軸移
動させるために送り軸制御指令SDを指令する。軸移動
演算部5は軸移動制御指令SDにより軸移動の演算を行
ない、その演算結果SEに基づいて送り軸制御部6がモ
ータ7を制御し、タッチセンサ9の軸移動が行なわれ
る。送り軸の軸移動部に装備されているタッチセンサ9
の現在位置は位置検出部8が常に検出しており、常に検
出位置データSHとして送出されている。
装置の機能を示すブロック図である。加工プログラム入
力部1により入力された加工プログラムSAは、加工プ
ログラム保存部2に保存される。加工プログラムSAの
中には、機内計測を実行することを指令する機内計測実
行指令と、図6の(A)に示すような機内計測を行なう
際のタッチセンサ9の軸移動開始点となる計測開始点
A、タッチセンサ9の軸移動の目標点である仮想目標点
B、計測対象物10の計測対象面の仮想の位置である仮
想対象ワーク面Cの各データとが指令されている。加工
プログラム解釈部3では、加工プログラム保存部2の加
工プログラムSAをブロック単位で読出しながらその意
味を解釈し、加工プログラムSAの中に機内計測を行な
う機内計測指令があった場合は、機内計測指令及び前記
点A〜Cのデータである機内計測関係データSCを機内
計測処理指令部4に送出する。機内計測処理指令部4は
機内計測関係データSCの点A〜Cのデータをもとに、
タッチセンサ9を計測開始点Aから仮想目標点Bへ軸移
動させるために送り軸制御指令SDを指令する。軸移動
演算部5は軸移動制御指令SDにより軸移動の演算を行
ない、その演算結果SEに基づいて送り軸制御部6がモ
ータ7を制御し、タッチセンサ9の軸移動が行なわれ
る。送り軸の軸移動部に装備されているタッチセンサ9
の現在位置は位置検出部8が常に検出しており、常に検
出位置データSHとして送出されている。
【0004】タッチセンサ9は、計測対象物10の対象
ワーク面に接触していない時はOFF状態であり、接触
した瞬間にON状態に変化する。センサ信号検出部11
は、このタッチセンサ9の状態変化を表わすセンサ信号
SIを検出しており、センサ信号SIがOFFからON
に変化した時にセンサラッチ信号SJを送出する。ま
た、計測値データ計測部12は、センサラッチ信号SJ
を入力したときの検出位置データSHを計測対象物10
の対象ワーク面の計測位置データSKとしてラッチし、
その計測位置データSKを機内計測処理指令部4に送出
する。この計測位置データSKが計測結果であり、計測
対象物10の対象ワーク面の計測位置を示すことにな
る。機内計測処理指令部4は、計測位置データSKを入
力すると機内計測が完了したとして、送り軸制御指令S
Dを軸移動演算部5へ出力して送り軸の移動を停止さ
せ、機内計測完了信号SLを加工プログラム解釈部3へ
出力する。また、機内計測処理指令部4は、位置検出部
8より常に検出位置データSHを入力しており、計測位
置データSKを入力する前に検出位置データSHが仮想
目標点Bに等しくなったときも、送り軸制御指令SDを
軸移動演算部5へ出力して送り軸の移動を停止させ、機
内計測完了信号SLを加工プログラム解釈部3へ出力す
る。完了信号SLにより加工プログラム解釈部3は加工
プログラムSAの次の指令、例えば図6の(A)に示す
ように、タッチセンサ9を計測対象物10の対象ワーク
面から離す軸移動指令を実行する。
ワーク面に接触していない時はOFF状態であり、接触
した瞬間にON状態に変化する。センサ信号検出部11
は、このタッチセンサ9の状態変化を表わすセンサ信号
SIを検出しており、センサ信号SIがOFFからON
に変化した時にセンサラッチ信号SJを送出する。ま
た、計測値データ計測部12は、センサラッチ信号SJ
を入力したときの検出位置データSHを計測対象物10
の対象ワーク面の計測位置データSKとしてラッチし、
その計測位置データSKを機内計測処理指令部4に送出
する。この計測位置データSKが計測結果であり、計測
対象物10の対象ワーク面の計測位置を示すことにな
る。機内計測処理指令部4は、計測位置データSKを入
力すると機内計測が完了したとして、送り軸制御指令S
Dを軸移動演算部5へ出力して送り軸の移動を停止さ
せ、機内計測完了信号SLを加工プログラム解釈部3へ
出力する。また、機内計測処理指令部4は、位置検出部
8より常に検出位置データSHを入力しており、計測位
置データSKを入力する前に検出位置データSHが仮想
目標点Bに等しくなったときも、送り軸制御指令SDを
軸移動演算部5へ出力して送り軸の移動を停止させ、機
内計測完了信号SLを加工プログラム解釈部3へ出力す
る。完了信号SLにより加工プログラム解釈部3は加工
プログラムSAの次の指令、例えば図6の(A)に示す
ように、タッチセンサ9を計測対象物10の対象ワーク
面から離す軸移動指令を実行する。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】ここで、上述のような
計測機能を有する数値制御装置において、計測対象物の
同じ対象ワーク面を2回計測して、1回目の計測位置デ
ータを利用して2回目の計測を行なうことにより、2回
目の計測によって精度の高い計測データを得る方法を考
える。
計測機能を有する数値制御装置において、計測対象物の
同じ対象ワーク面を2回計測して、1回目の計測位置デ
ータを利用して2回目の計測を行なうことにより、2回
目の計測によって精度の高い計測データを得る方法を考
える。
【0006】従来の計測機能を有する数値制御装置にお
いて、計測対象物の対象ワーク面を2回計測する方法と
しては図6の(B)に示すように、まず計測開始点
A1、仮想目標点B1、仮想対象ワーク面Cとして第1
回目の計測を行ない、次に第1回目の計測位置データS
K1を第2回目の計測の仮想目標点B2に設定し、計測
開始点A2、仮想目標点B2、仮想対象ワーク面Cと
し、送り軸の送り速度を1回目の計測より遅くして第2
回目の計測を行なう方法が一般に行なわれている。この
計測方法では、タッチセンサ9が図6の(B)に示すよ
うな経路を移動するように送り軸の軸移動を行なって、
2回の計測を実施しており、タッチセンサ9を計測対象
物10の対象ワーク面に2回接触させて計測を行なうこ
とになる。この理由は、前述のようにセンサ信号SIが
OFFからONに変化したとき、タッチセンサ9が検出
位置データSHを計測対象物10の対象ワーク面の計測
位置データSKとしてラッチするので、タッチセンサ9
のセンサ信号SIがOFFからONに変化する状態を2
回発生させるためである。しかし、タッチセンサ9が図
6(B)に示すような経路を移動するようにして、計測
対象物10の対象ワーク面に2回接触させて計測を行な
うと、計測のために長い時間が必要となり、その間は加
工を行なうことができないので、計測機能として実用上
問題があった。
いて、計測対象物の対象ワーク面を2回計測する方法と
しては図6の(B)に示すように、まず計測開始点
A1、仮想目標点B1、仮想対象ワーク面Cとして第1
回目の計測を行ない、次に第1回目の計測位置データS
K1を第2回目の計測の仮想目標点B2に設定し、計測
開始点A2、仮想目標点B2、仮想対象ワーク面Cと
し、送り軸の送り速度を1回目の計測より遅くして第2
回目の計測を行なう方法が一般に行なわれている。この
計測方法では、タッチセンサ9が図6の(B)に示すよ
うな経路を移動するように送り軸の軸移動を行なって、
2回の計測を実施しており、タッチセンサ9を計測対象
物10の対象ワーク面に2回接触させて計測を行なうこ
とになる。この理由は、前述のようにセンサ信号SIが
OFFからONに変化したとき、タッチセンサ9が検出
位置データSHを計測対象物10の対象ワーク面の計測
位置データSKとしてラッチするので、タッチセンサ9
のセンサ信号SIがOFFからONに変化する状態を2
回発生させるためである。しかし、タッチセンサ9が図
6(B)に示すような経路を移動するようにして、計測
対象物10の対象ワーク面に2回接触させて計測を行な
うと、計測のために長い時間が必要となり、その間は加
工を行なうことができないので、計測機能として実用上
問題があった。
【0007】すなわち、従来の計測機能を有する数値制
御装置のタッチセンサによる計測方法では、タッチセン
サを計測対象物に接触させ、その際タッチセンサがOF
F状態からON状態に変化することを利用して計測を行
なっている。ところが、タッチセンサがOFF状態から
ON状態に変化する際にのみ計測を行なうと、タッチセ
ンサの2回計測による計測では、タッチセンサを計測対
象物に2回接触させる必要があり、機内計測をするため
に長い時間が必要であった。
御装置のタッチセンサによる計測方法では、タッチセン
サを計測対象物に接触させ、その際タッチセンサがOF
F状態からON状態に変化することを利用して計測を行
なっている。ところが、タッチセンサがOFF状態から
ON状態に変化する際にのみ計測を行なうと、タッチセ
ンサの2回計測による計測では、タッチセンサを計測対
象物に2回接触させる必要があり、機内計測をするため
に長い時間が必要であった。
【0008】本発明は上述のような事情によってなされ
たものであり、本発明の目的は、計測機能を有する数値
制御装置において、タッチセンサが送り軸の検出位置デ
ータを計測位置データとしてラッチするタイミングを、
タッチセンサの状態がOFFからONに変化するとき、
又はONからOFFに変化するときとすることにより、
短時間で精度の高い計測を行なうことができる実用的な
計測機能を有する数値制御装置を提供することにある。
たものであり、本発明の目的は、計測機能を有する数値
制御装置において、タッチセンサが送り軸の検出位置デ
ータを計測位置データとしてラッチするタイミングを、
タッチセンサの状態がOFFからONに変化するとき、
又はONからOFFに変化するときとすることにより、
短時間で精度の高い計測を行なうことができる実用的な
計測機能を有する数値制御装置を提供することにある。
【0009】
【発明を解決するための手段】本発明は計測機能を有す
る数値制御装置に関するものであり、本発明の上記目的
は、加工プログラムの指令に、機内計測実行指令及び計
測開始点A、仮想目標点B、仮想対象ワーク面Cの各デ
ータに加えて、予め送り軸の検出位置データを計測位置
データとしてラッチするタイミングを、タッチセンサが
OFFからONへ変化したとき、又はONからOFFへ
変化したときのいずれにするかを指令するラッチタイミ
ング指令を指令しておき、そのラッチタイミング指令に
従って、タッチセンサの状態がOFFからONに変化す
るとき、又はONからOFFに変化するときに、タッチ
センサが送り軸の検出位置データを計測位置データとし
てラッチするようにすることで達成される。
る数値制御装置に関するものであり、本発明の上記目的
は、加工プログラムの指令に、機内計測実行指令及び計
測開始点A、仮想目標点B、仮想対象ワーク面Cの各デ
ータに加えて、予め送り軸の検出位置データを計測位置
データとしてラッチするタイミングを、タッチセンサが
OFFからONへ変化したとき、又はONからOFFへ
変化したときのいずれにするかを指令するラッチタイミ
ング指令を指令しておき、そのラッチタイミング指令に
従って、タッチセンサの状態がOFFからONに変化す
るとき、又はONからOFFに変化するときに、タッチ
センサが送り軸の検出位置データを計測位置データとし
てラッチするようにすることで達成される。
【0010】
【作用】本発明の計測機能を有する数値制御装置によれ
ば、タッチセンサの状態がOFFからONに変化すると
き、又はONからOFFに変化するときに、タッチセン
サが送り軸の検出位置データを計測位置データとしてラ
ッチするので、短かい時間で精度の良い計測を行なうこ
とができる。タッチセンサの2回計測による計測を、タ
ッチセンサを計測対象物に1度接触させるだけで行なう
ことができるので、計測を短時間で完了することができ
る。
ば、タッチセンサの状態がOFFからONに変化すると
き、又はONからOFFに変化するときに、タッチセン
サが送り軸の検出位置データを計測位置データとしてラ
ッチするので、短かい時間で精度の良い計測を行なうこ
とができる。タッチセンサの2回計測による計測を、タ
ッチセンサを計測対象物に1度接触させるだけで行なう
ことができるので、計測を短時間で完了することができ
る。
【0011】
【実施例】図1は、本発明による計測機能を有する数値
制御装置の機能を示すブロック図である。図7に示す従
来の計測機能を有する数値制御装置と同一箇所には、同
一符号を付して詳細な説明を省略する。本発明の数値制
御装置においては、図7に示す従来の数値制御装置に対
して、ラッチタイミング制御部13、センサ信号変換部
14、センサ信号ON/OFF検出部15、ラッチタイ
ミング制御機内計測処理指令部16が新しく設けられて
いる。加工プログラムSAには、機内計測実行指令及び
計測開始点A、仮想目標点B、仮想対象ワーク面Cの各
データに加えて、予め送り軸の検出位置データを計測位
置データとしてラッチするタイミングを、タッチセンサ
9がOFFからONへ変化したとき、又はONからOF
Fへ変化したときのいずれにするかを指令するラッチタ
イミング指令を指令しておく。ラッチタイミング制御機
内計測処理指令部16は、加工プログラム解釈部3より
機内計測指令、前記点A〜Cのデータ及びラッチタイミ
ング指令である機内計測関係データSQを入力し、ラッ
チタイミング指令SMをラッチタイミング制御部13へ
出力する。その一方、機内計測関係データSQの点A〜
Cのデータを基に、送り軸制御指令SDを軸移動演算部
5に出力する。センサ信号ON/OFF検出部15は、
タッチセンサ9の状態を表わすセンサ信号SIを入力し
ており、センサ信号SIがOFFからONに変化したと
きにセンサ状態変化信号SO1を送出し、センサ信号S
IがONからOFFに変化したときにセンサ状態変化信
号SO2を送出する。
制御装置の機能を示すブロック図である。図7に示す従
来の計測機能を有する数値制御装置と同一箇所には、同
一符号を付して詳細な説明を省略する。本発明の数値制
御装置においては、図7に示す従来の数値制御装置に対
して、ラッチタイミング制御部13、センサ信号変換部
14、センサ信号ON/OFF検出部15、ラッチタイ
ミング制御機内計測処理指令部16が新しく設けられて
いる。加工プログラムSAには、機内計測実行指令及び
計測開始点A、仮想目標点B、仮想対象ワーク面Cの各
データに加えて、予め送り軸の検出位置データを計測位
置データとしてラッチするタイミングを、タッチセンサ
9がOFFからONへ変化したとき、又はONからOF
Fへ変化したときのいずれにするかを指令するラッチタ
イミング指令を指令しておく。ラッチタイミング制御機
内計測処理指令部16は、加工プログラム解釈部3より
機内計測指令、前記点A〜Cのデータ及びラッチタイミ
ング指令である機内計測関係データSQを入力し、ラッ
チタイミング指令SMをラッチタイミング制御部13へ
出力する。その一方、機内計測関係データSQの点A〜
Cのデータを基に、送り軸制御指令SDを軸移動演算部
5に出力する。センサ信号ON/OFF検出部15は、
タッチセンサ9の状態を表わすセンサ信号SIを入力し
ており、センサ信号SIがOFFからONに変化したと
きにセンサ状態変化信号SO1を送出し、センサ信号S
IがONからOFFに変化したときにセンサ状態変化信
号SO2を送出する。
【0012】また、ラッチタイミング制御部13は、ラ
ッチタイミング指令SMにより送り軸の検出位置データ
を計測位置データとしてラッチするタイミングを、タッ
チセンサ9がOFFからONへ変化したときとする場合
はタイミング信号SN1を、タッチセンサ9がONから
OFFへ変化したときとする場合はタイミング信号SN
2を送出する。そして、センサ信号変換部14では、ラ
ッチタイミング制御部13からタイミング信号SN1を
入力している場合は、センサ状態変化信号SO1を入力
した時にセンサラッチ信号SPを出力し、タイミング信
号SN2を入力している場合は、センサ状態変化信号S
O2を入力した時にセンサラッチ信号SPを出力する。
計測値データ計測部12は、センサラッチ信号SPを入
力したときの検出位置データSHを計測対象物10の対
象ワーク面の計測位置データSKとしてラッチし、ラッ
チされた計測位置データSKをラッチタイミング制御機
内計測処理指令部16に送出する。ラッチタイミング制
御機内計測処理指令部16は計測位置データSKを入力
すると、機内計測が完了したとして送り軸制御指令SD
を軸移動演算部5へ出力して送り軸の移動を停止させ、
機内計測完了信号SLを加工プログラム解釈部3へ出力
する。また、ラッチタイミング制御機内計測処理指令部
16は位置検出部8より常に検出位置データSHを入力
しており、計測位置データSKを入力する前に検出位置
データSHが仮想目標点Bに等しくなったときも、送り
軸制御指令SDを軸移動演算部5へ出力して送り軸の移
動を停止させ、機内計測完了信号SLを加工プログラム
解釈部3へ出力する。
ッチタイミング指令SMにより送り軸の検出位置データ
を計測位置データとしてラッチするタイミングを、タッ
チセンサ9がOFFからONへ変化したときとする場合
はタイミング信号SN1を、タッチセンサ9がONから
OFFへ変化したときとする場合はタイミング信号SN
2を送出する。そして、センサ信号変換部14では、ラ
ッチタイミング制御部13からタイミング信号SN1を
入力している場合は、センサ状態変化信号SO1を入力
した時にセンサラッチ信号SPを出力し、タイミング信
号SN2を入力している場合は、センサ状態変化信号S
O2を入力した時にセンサラッチ信号SPを出力する。
計測値データ計測部12は、センサラッチ信号SPを入
力したときの検出位置データSHを計測対象物10の対
象ワーク面の計測位置データSKとしてラッチし、ラッ
チされた計測位置データSKをラッチタイミング制御機
内計測処理指令部16に送出する。ラッチタイミング制
御機内計測処理指令部16は計測位置データSKを入力
すると、機内計測が完了したとして送り軸制御指令SD
を軸移動演算部5へ出力して送り軸の移動を停止させ、
機内計測完了信号SLを加工プログラム解釈部3へ出力
する。また、ラッチタイミング制御機内計測処理指令部
16は位置検出部8より常に検出位置データSHを入力
しており、計測位置データSKを入力する前に検出位置
データSHが仮想目標点Bに等しくなったときも、送り
軸制御指令SDを軸移動演算部5へ出力して送り軸の移
動を停止させ、機内計測完了信号SLを加工プログラム
解釈部3へ出力する。
【0013】図2の(B)は、タイミング信号SN1又
はタイミング信号SN2が出力されている場合につい
て、センサ信号SIとセンサ状態変化信号SO1、セン
サ状態変化信号SO2、センサラッチ信号SPとの関係
を示すタイムチャートである。いま、図2の(A)に示
すように、タッチセンサ9をまず計測対象物10の対象
ワーク面に接近させるように送り軸を移動させて計測を
行ない、タッチセンサ9が計測対象物10の対象ワーク
面に接触した後、続いて計測対象物10の対象ワーク面
から離れるように送り軸を移動させて計測を行なった場
合を考える。この場合、タッチセンサ9は、OFF状態
→ON状態→OFF状態の様に変化する。そして、タイ
ミング信号SN1が出力されている場合は、センサ状態
変化信号SO1が出力された時にセンサラッチ信号SP
が出力され、タイミング信号SN2が出力されている場
合は、センサ状態変化信号SO2が出力された時にセン
サラッチ信号SPが出力される。
はタイミング信号SN2が出力されている場合につい
て、センサ信号SIとセンサ状態変化信号SO1、セン
サ状態変化信号SO2、センサラッチ信号SPとの関係
を示すタイムチャートである。いま、図2の(A)に示
すように、タッチセンサ9をまず計測対象物10の対象
ワーク面に接近させるように送り軸を移動させて計測を
行ない、タッチセンサ9が計測対象物10の対象ワーク
面に接触した後、続いて計測対象物10の対象ワーク面
から離れるように送り軸を移動させて計測を行なった場
合を考える。この場合、タッチセンサ9は、OFF状態
→ON状態→OFF状態の様に変化する。そして、タイ
ミング信号SN1が出力されている場合は、センサ状態
変化信号SO1が出力された時にセンサラッチ信号SP
が出力され、タイミング信号SN2が出力されている場
合は、センサ状態変化信号SO2が出力された時にセン
サラッチ信号SPが出力される。
【0014】図3は、上述した本発明による計測機能を
有する数値制御装置において、計測対象物10の同じ対
象ワーク面を2回計測して、1回目の計測位置データを
利用して2回目の計測を行なうことにより、2回目の計
測によって精度の高い計測データを得る方法である。す
なわち、本発明による数値制御装置においては、第1回
目の計測において送り軸の検出位置データを計測位置デ
ータとしてラッチするタイミングを、タッチセンサ9が
OFFからONへ変化したときとなるように指令して、
計測開始点A1、仮想目標点B1、仮想対象ワーク面C
として第1回目の計測を行なった後、第1回目の計測位
置データSK1を第2回目の計測の計測開始点A2に設
定し、次に第2回目の計測で、送り軸の検出位置データ
を計測位置データとしてラッチするタイミングを、タッ
チセンサ9がONからOFFへ変化したときとなるよう
に指令して、計測開始点A2、仮想目標点B2、仮想対
象ワーク面Cとして第2回目の計測を行ない、タッチセ
ンサ9が図3に示すような経路を移動するように送り軸
の軸移動を行なって、2回の計測を実施する。この場
合、タッチセンサ9は計測対象物10の対象ワーク面に
は1回接触させるのみで計測を行なうことができる。
有する数値制御装置において、計測対象物10の同じ対
象ワーク面を2回計測して、1回目の計測位置データを
利用して2回目の計測を行なうことにより、2回目の計
測によって精度の高い計測データを得る方法である。す
なわち、本発明による数値制御装置においては、第1回
目の計測において送り軸の検出位置データを計測位置デ
ータとしてラッチするタイミングを、タッチセンサ9が
OFFからONへ変化したときとなるように指令して、
計測開始点A1、仮想目標点B1、仮想対象ワーク面C
として第1回目の計測を行なった後、第1回目の計測位
置データSK1を第2回目の計測の計測開始点A2に設
定し、次に第2回目の計測で、送り軸の検出位置データ
を計測位置データとしてラッチするタイミングを、タッ
チセンサ9がONからOFFへ変化したときとなるよう
に指令して、計測開始点A2、仮想目標点B2、仮想対
象ワーク面Cとして第2回目の計測を行ない、タッチセ
ンサ9が図3に示すような経路を移動するように送り軸
の軸移動を行なって、2回の計測を実施する。この場
合、タッチセンサ9は計測対象物10の対象ワーク面に
は1回接触させるのみで計測を行なうことができる。
【0015】また、タッチセンサ9の状態変化の特性に
ヒステリシスがある場合は、図1のブロック図で示した
数値制御装置に対して計測値データ補正部17及び計測
補正データ記憶部18を設けた図4に示すような計測機
能を有する数値制御装置を構成する。そして、計測対象
物10の同じ対象ワーク面を、タッチセンサ9がOFF
からONに変化したときにラッチした計測位置データ
と、タッチセンサ9がONからOFFに変化したときに
ラッチした計測位置データとの差を、予め計測方向補正
値SRとして計測補正データ記憶部18に記憶してお
き、計測値データ補正部17で計測位置データSKに補
正をかけるようにして、タッチセンサ9のヒステリシス
の影響のない計測位置データを得ることができる。
ヒステリシスがある場合は、図1のブロック図で示した
数値制御装置に対して計測値データ補正部17及び計測
補正データ記憶部18を設けた図4に示すような計測機
能を有する数値制御装置を構成する。そして、計測対象
物10の同じ対象ワーク面を、タッチセンサ9がOFF
からONに変化したときにラッチした計測位置データ
と、タッチセンサ9がONからOFFに変化したときに
ラッチした計測位置データとの差を、予め計測方向補正
値SRとして計測補正データ記憶部18に記憶してお
き、計測値データ補正部17で計測位置データSKに補
正をかけるようにして、タッチセンサ9のヒステリシス
の影響のない計測位置データを得ることができる。
【0016】図5は、本発明の計測機能を有する数値制
御装置の動作例を示すフローチャートである。まず、加
工プログラムより機内計測実行指令、計測開始点A、仮
想目標点B、仮想対象ワーク面Cの各データ、及びラッ
チタイミング指令を読込み(ステップS1)、計測開始
点A、仮想目標点B、仮想対象ワーク面Cの各データに
従って軸移動が開始される(ステップS2)。そして、
ラッチタイミング指令が、タッチセンサ9の状態がOF
FからONへ変化したとき、又はONからOFFへ変化
したときのいずれになっているかが判断される(ステッ
プS3)。ラッチタイミング指令が、タッチセンサ9の
状態がOFFからONへ変化したときである場合、軸移
動の途中でタッチセンサ9の状態がOFFからONへ変
化したときは、データ計測が行なわれ(ステップS4、
ステップS6)、タッチセンサ9の状態がONからOF
Fへ変化するか、又は全く変化しない場合は、軸移動を
続行して仮想目標点Bに到達する(ステップS8)。逆
にラッチタイミング指令が、タッチセンサ9の状態がO
NからOFFへ変化したときである場合、軸移動の途中
でタッチセンサ9の状態がONからOFFへ変化したと
きはデータ計測が行なわれ(ステップS5、ステップS
6)、タッチセンサ9の状態がOFFからONへ変化す
るか又は全く変化しない場合は、軸移動を続行して仮想
目標点Bに到達する(ステップS8)。データ計測が完
了すると軸移動は停止し(ステップS7)、機内計測は
終了する。また、データ計測が行なわれないまま仮想目
標点Bに到達した場合は、仮想目標点Bにて軸移動が停
止し(ステップS7)、全ての動作が終了する。
御装置の動作例を示すフローチャートである。まず、加
工プログラムより機内計測実行指令、計測開始点A、仮
想目標点B、仮想対象ワーク面Cの各データ、及びラッ
チタイミング指令を読込み(ステップS1)、計測開始
点A、仮想目標点B、仮想対象ワーク面Cの各データに
従って軸移動が開始される(ステップS2)。そして、
ラッチタイミング指令が、タッチセンサ9の状態がOF
FからONへ変化したとき、又はONからOFFへ変化
したときのいずれになっているかが判断される(ステッ
プS3)。ラッチタイミング指令が、タッチセンサ9の
状態がOFFからONへ変化したときである場合、軸移
動の途中でタッチセンサ9の状態がOFFからONへ変
化したときは、データ計測が行なわれ(ステップS4、
ステップS6)、タッチセンサ9の状態がONからOF
Fへ変化するか、又は全く変化しない場合は、軸移動を
続行して仮想目標点Bに到達する(ステップS8)。逆
にラッチタイミング指令が、タッチセンサ9の状態がO
NからOFFへ変化したときである場合、軸移動の途中
でタッチセンサ9の状態がONからOFFへ変化したと
きはデータ計測が行なわれ(ステップS5、ステップS
6)、タッチセンサ9の状態がOFFからONへ変化す
るか又は全く変化しない場合は、軸移動を続行して仮想
目標点Bに到達する(ステップS8)。データ計測が完
了すると軸移動は停止し(ステップS7)、機内計測は
終了する。また、データ計測が行なわれないまま仮想目
標点Bに到達した場合は、仮想目標点Bにて軸移動が停
止し(ステップS7)、全ての動作が終了する。
【0017】
【発明の効果】以上のように本発明の計測機能を有する
数値制御装置によれば、タッチセンサによる機内計測を
高精度に短時間で行なうことができる。すなわち、タッ
チセンサの2回計測による計測を、センサを計測対象物
に1回接触させるだけで行なうことができるので、計測
を短時間で完了できる。
数値制御装置によれば、タッチセンサによる機内計測を
高精度に短時間で行なうことができる。すなわち、タッ
チセンサの2回計測による計測を、センサを計測対象物
に1回接触させるだけで行なうことができるので、計測
を短時間で完了できる。
【図1】本発明による計測機能を有する数値制御旋盤の
機能を示すブロック図である。
機能を示すブロック図である。
【図2】本発明による計測機能を有する数値制御旋盤に
おいて、実際に計測を行なう際のタイミング信号、セン
サ状態変化信号及びセンサ信号の関係を説明するための
図とタイムチャートである。
おいて、実際に計測を行なう際のタイミング信号、セン
サ状態変化信号及びセンサ信号の関係を説明するための
図とタイムチャートである。
【図3】本発明による計測機能を有する数値制御旋盤に
おいて、計測対象物の同じ対象ワーク面を2回計測し
て、1回目の計測位置データを用いて2回目の計測を行
なうことにより、2回目の計測で精度の高い計測データ
を得る方法を説明するための図である。
おいて、計測対象物の同じ対象ワーク面を2回計測し
て、1回目の計測位置データを用いて2回目の計測を行
なうことにより、2回目の計測で精度の高い計測データ
を得る方法を説明するための図である。
【図4】本発明による計測機能を有する数値制御旋盤に
おいて、タッチセンサの状態変化のヒステリシスを補正
する機能を持つ数値制御装置の機能を示すブロック図で
ある。
おいて、タッチセンサの状態変化のヒステリシスを補正
する機能を持つ数値制御装置の機能を示すブロック図で
ある。
【図5】本発明による計測機能を有する数値制御旋盤の
動作例を示すフローチャートである。
動作例を示すフローチャートである。
【図6】従来の計測機能を有する数値制御旋盤の機内計
測の方法を説明するための図である。
測の方法を説明するための図である。
【図7】従来の計測機能を有する数値制御旋盤の機能を
示すブロック図である。
示すブロック図である。
1 加工プログラム入力部 2 加工プログラム保存部 3 加工プログラム解釈部 4 機内計測処理指令部 5 軸移動演算部 6 送り軸制御部 7 モータ 8 位置検出部 9 タッチセンサ 10 計測対象物の対象 11 センサ信号検出部 12 計測データ計測部 13 ラッチタイミング制御部 14 センサ信号変換部 15 センサ信号ON/OFF検出部 16 ラッチタイミング制御機内計測処理部 17 計測値データ補正部 18 計測値補正データ記憶部
Claims (2)
- 【請求項1】 タッチセンサを用いた機内計測機能を有
する数値制御装置において、送り軸の検出位置データを
計測位置データとしてラッチするタイミングを、前記タ
ッチセンサがOFFからONへ変化したときと、ONか
らOFFへ変化したときのいずれにするかをプログラム
で指令可能としたことを特徴とする計測機能を有する数
値制御装置。 - 【請求項2】 同一位置において、前記タッチセンサが
OFFからONに変化したときにラッチした計測位置デ
ータと、前記タッチセンサがONからOFFに変化した
ときにラッチした計測位置データとの差を計測方向補正
値として予め保存しておき、計測時に前記タッチセンサ
の移動方向によって求めた前記計測位置データに対して
前記計測方向補正値の補正をかけるようにした請求項1
に記載の計測機能を有する数値制御装置
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP25697491A JPH0566820A (ja) | 1991-09-09 | 1991-09-09 | 計測機能を有する数値制御装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP25697491A JPH0566820A (ja) | 1991-09-09 | 1991-09-09 | 計測機能を有する数値制御装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH0566820A true JPH0566820A (ja) | 1993-03-19 |
Family
ID=17299966
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP25697491A Pending JPH0566820A (ja) | 1991-09-09 | 1991-09-09 | 計測機能を有する数値制御装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH0566820A (ja) |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE102013004321A1 (de) | 2012-03-19 | 2013-09-19 | Fanuc Corporation | Numerisches Steuersystem, das eine E/A-Einheit zur Zeitmessung verwendet |
DE102015007522A1 (de) | 2014-06-13 | 2015-12-17 | Fanuc Corporation | Numerisches Steuersystem |
DE102016004569A1 (de) | 2015-04-22 | 2016-10-27 | Fanuc Corporation | Numerische Steuervorrichtung mit Koordinatenwerterfassungsfunktion, die weder ein Skip-Signal noch eine Tastenbetätigung benötigt |
-
1991
- 1991-09-09 JP JP25697491A patent/JPH0566820A/ja active Pending
Cited By (10)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE102013004321A1 (de) | 2012-03-19 | 2013-09-19 | Fanuc Corporation | Numerisches Steuersystem, das eine E/A-Einheit zur Zeitmessung verwendet |
DE102013004321B4 (de) * | 2012-03-19 | 2015-10-01 | Fanuc Corporation | Numerisches Steuersystem, das eine E/A-Einheit zur Zeitmessung verwendet |
US9377770B2 (en) | 2012-03-19 | 2016-06-28 | Fanuc Corporation | Numerical control system using I/O unit for time measurement |
DE102015007522A1 (de) | 2014-06-13 | 2015-12-17 | Fanuc Corporation | Numerisches Steuersystem |
CN105320072A (zh) * | 2014-06-13 | 2016-02-10 | 发那科株式会社 | 数值控制*** |
US9791850B2 (en) | 2014-06-13 | 2017-10-17 | Fanuc Corporation | Numerical control system |
DE102015007522B4 (de) | 2014-06-13 | 2021-07-29 | Fanuc Corporation | Numerisches Steuersystem |
DE102016004569A1 (de) | 2015-04-22 | 2016-10-27 | Fanuc Corporation | Numerische Steuervorrichtung mit Koordinatenwerterfassungsfunktion, die weder ein Skip-Signal noch eine Tastenbetätigung benötigt |
US10185301B2 (en) | 2015-04-22 | 2019-01-22 | Fanuc Corporation | Numerical controller having acquisition function of coordinate value needing neither skip signal nor key operation |
DE102016004569B4 (de) * | 2015-04-22 | 2020-03-26 | Fanuc Corporation | Numerische Steuervorrichtung mit Koordinatenwerterfassungsfunktion, die weder ein Skip-Signal noch eine Tastenbetätigung benötigt |
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