JPH0566820A - 計測機能を有する数値制御装置 - Google Patents
計測機能を有する数値制御装置Info
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- JPH0566820A JPH0566820A JP25697491A JP25697491A JPH0566820A JP H0566820 A JPH0566820 A JP H0566820A JP 25697491 A JP25697491 A JP 25697491A JP 25697491 A JP25697491 A JP 25697491A JP H0566820 A JPH0566820 A JP H0566820A
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 タッチセンサの状態がＯＦＦ→ＯＮとなる時
にも、ＯＮ→ＯＦＦとなる時にも送り軸の検出位置デー
タをラッチできるようにして、タッチセンサの２回計測
による計測を短時間で完了できるようにする。 【構成】 送り軸の検出位置データを計測位置データと
してラッチするタイミングを、タッチセンサがＯＦＦか
らＯＮへ変化したときと、ＯＮからＯＦＦへ変化したと
きのいずれにするかをプログラムで指令し、その指令に
従って、タッチセンサの状態がＯＦＦ→ＯＮ又はＯＦＮ
→ＯＦＦに変化したときにデータをラッチするようにす
る。
にも、ＯＮ→ＯＦＦとなる時にも送り軸の検出位置デー
タをラッチできるようにして、タッチセンサの２回計測
による計測を短時間で完了できるようにする。 【構成】 送り軸の検出位置データを計測位置データと
してラッチするタイミングを、タッチセンサがＯＦＦか
らＯＮへ変化したときと、ＯＮからＯＦＦへ変化したと
きのいずれにするかをプログラムで指令し、その指令に
従って、タッチセンサの状態がＯＦＦ→ＯＮ又はＯＦＮ
→ＯＦＦに変化したときにデータをラッチするようにす
る。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、タッチセンサを用いた
機内計測機能を有する数値制御装置に関する。
機内計測機能を有する数値制御装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】数値制御工作機械の送り軸の軸移動部に
タッチセンサを装備し、送り軸を制御することによりタ
ッチセンサを計測対象物に接触させ、その際のタッチセ
ンサからの信号を利用して計測を行なう数値制御工作機
械の機内計測機能が実用化されている。
タッチセンサを装備し、送り軸を制御することによりタ
ッチセンサを計測対象物に接触させ、その際のタッチセ
ンサからの信号を利用して計測を行なう数値制御工作機
械の機内計測機能が実用化されている。
【０００３】図７は、従来の計測機能を有する数値制御
装置の機能を示すブロック図である。加工プログラム入
力部１により入力された加工プログラムＳＡは、加工プ
ログラム保存部２に保存される。加工プログラムＳＡの
中には、機内計測を実行することを指令する機内計測実
行指令と、図６の（Ａ）に示すような機内計測を行なう
際のタッチセンサ９の軸移動開始点となる計測開始点
Ａ、タッチセンサ９の軸移動の目標点である仮想目標点
Ｂ、計測対象物１０の計測対象面の仮想の位置である仮
想対象ワーク面Ｃの各データとが指令されている。加工
プログラム解釈部３では、加工プログラム保存部２の加
工プログラムＳＡをブロック単位で読出しながらその意
味を解釈し、加工プログラムＳＡの中に機内計測を行な
う機内計測指令があった場合は、機内計測指令及び前記
点Ａ〜Ｃのデータである機内計測関係データＳＣを機内
計測処理指令部４に送出する。機内計測処理指令部４は
機内計測関係データＳＣの点Ａ〜Ｃのデータをもとに、
タッチセンサ９を計測開始点Ａから仮想目標点Ｂへ軸移
動させるために送り軸制御指令ＳＤを指令する。軸移動
演算部５は軸移動制御指令ＳＤにより軸移動の演算を行
ない、その演算結果ＳＥに基づいて送り軸制御部６がモ
ータ７を制御し、タッチセンサ９の軸移動が行なわれ
る。送り軸の軸移動部に装備されているタッチセンサ９
の現在位置は位置検出部８が常に検出しており、常に検
出位置データＳＨとして送出されている。
装置の機能を示すブロック図である。加工プログラム入
力部１により入力された加工プログラムＳＡは、加工プ
ログラム保存部２に保存される。加工プログラムＳＡの
中には、機内計測を実行することを指令する機内計測実
行指令と、図６の（Ａ）に示すような機内計測を行なう
際のタッチセンサ９の軸移動開始点となる計測開始点
Ａ、タッチセンサ９の軸移動の目標点である仮想目標点
Ｂ、計測対象物１０の計測対象面の仮想の位置である仮
想対象ワーク面Ｃの各データとが指令されている。加工
プログラム解釈部３では、加工プログラム保存部２の加
工プログラムＳＡをブロック単位で読出しながらその意
味を解釈し、加工プログラムＳＡの中に機内計測を行な
う機内計測指令があった場合は、機内計測指令及び前記
点Ａ〜Ｃのデータである機内計測関係データＳＣを機内
計測処理指令部４に送出する。機内計測処理指令部４は
機内計測関係データＳＣの点Ａ〜Ｃのデータをもとに、
タッチセンサ９を計測開始点Ａから仮想目標点Ｂへ軸移
動させるために送り軸制御指令ＳＤを指令する。軸移動
演算部５は軸移動制御指令ＳＤにより軸移動の演算を行
ない、その演算結果ＳＥに基づいて送り軸制御部６がモ
ータ７を制御し、タッチセンサ９の軸移動が行なわれ
る。送り軸の軸移動部に装備されているタッチセンサ９
の現在位置は位置検出部８が常に検出しており、常に検
出位置データＳＨとして送出されている。
【０００４】タッチセンサ９は、計測対象物１０の対象
ワーク面に接触していない時はＯＦＦ状態であり、接触
した瞬間にＯＮ状態に変化する。センサ信号検出部１１
は、このタッチセンサ９の状態変化を表わすセンサ信号
ＳＩを検出しており、センサ信号ＳＩがＯＦＦからＯＮ
に変化した時にセンサラッチ信号ＳＪを送出する。ま
た、計測値データ計測部１２は、センサラッチ信号ＳＪ
を入力したときの検出位置データＳＨを計測対象物１０
の対象ワーク面の計測位置データＳＫとしてラッチし、
その計測位置データＳＫを機内計測処理指令部４に送出
する。この計測位置データＳＫが計測結果であり、計測
対象物１０の対象ワーク面の計測位置を示すことにな
る。機内計測処理指令部４は、計測位置データＳＫを入
力すると機内計測が完了したとして、送り軸制御指令Ｓ
Ｄを軸移動演算部５へ出力して送り軸の移動を停止さ
せ、機内計測完了信号ＳＬを加工プログラム解釈部３へ
出力する。また、機内計測処理指令部４は、位置検出部
８より常に検出位置データＳＨを入力しており、計測位
置データＳＫを入力する前に検出位置データＳＨが仮想
目標点Ｂに等しくなったときも、送り軸制御指令ＳＤを
軸移動演算部５へ出力して送り軸の移動を停止させ、機
内計測完了信号ＳＬを加工プログラム解釈部３へ出力す
る。完了信号ＳＬにより加工プログラム解釈部３は加工
プログラムＳＡの次の指令、例えば図６の（Ａ）に示す
ように、タッチセンサ９を計測対象物１０の対象ワーク
面から離す軸移動指令を実行する。
ワーク面に接触していない時はＯＦＦ状態であり、接触
した瞬間にＯＮ状態に変化する。センサ信号検出部１１
は、このタッチセンサ９の状態変化を表わすセンサ信号
ＳＩを検出しており、センサ信号ＳＩがＯＦＦからＯＮ
に変化した時にセンサラッチ信号ＳＪを送出する。ま
た、計測値データ計測部１２は、センサラッチ信号ＳＪ
を入力したときの検出位置データＳＨを計測対象物１０
の対象ワーク面の計測位置データＳＫとしてラッチし、
その計測位置データＳＫを機内計測処理指令部４に送出
する。この計測位置データＳＫが計測結果であり、計測
対象物１０の対象ワーク面の計測位置を示すことにな
る。機内計測処理指令部４は、計測位置データＳＫを入
力すると機内計測が完了したとして、送り軸制御指令Ｓ
Ｄを軸移動演算部５へ出力して送り軸の移動を停止さ
せ、機内計測完了信号ＳＬを加工プログラム解釈部３へ
出力する。また、機内計測処理指令部４は、位置検出部
８より常に検出位置データＳＨを入力しており、計測位
置データＳＫを入力する前に検出位置データＳＨが仮想
目標点Ｂに等しくなったときも、送り軸制御指令ＳＤを
軸移動演算部５へ出力して送り軸の移動を停止させ、機
内計測完了信号ＳＬを加工プログラム解釈部３へ出力す
る。完了信号ＳＬにより加工プログラム解釈部３は加工
プログラムＳＡの次の指令、例えば図６の（Ａ）に示す
ように、タッチセンサ９を計測対象物１０の対象ワーク
面から離す軸移動指令を実行する。
【０００５】
【発明が解決しようとする課題】ここで、上述のような
計測機能を有する数値制御装置において、計測対象物の
同じ対象ワーク面を２回計測して、１回目の計測位置デ
ータを利用して２回目の計測を行なうことにより、２回
目の計測によって精度の高い計測データを得る方法を考
える。
計測機能を有する数値制御装置において、計測対象物の
同じ対象ワーク面を２回計測して、１回目の計測位置デ
ータを利用して２回目の計測を行なうことにより、２回
目の計測によって精度の高い計測データを得る方法を考
える。
【０００６】従来の計測機能を有する数値制御装置にお
いて、計測対象物の対象ワーク面を２回計測する方法と
しては図６の（Ｂ）に示すように、まず計測開始点
Ａ１、仮想目標点Ｂ１、仮想対象ワーク面Ｃとして第１
回目の計測を行ない、次に第１回目の計測位置データＳ
Ｋ１を第２回目の計測の仮想目標点Ｂ２に設定し、計測
開始点Ａ２、仮想目標点Ｂ２、仮想対象ワーク面Ｃと
し、送り軸の送り速度を１回目の計測より遅くして第２
回目の計測を行なう方法が一般に行なわれている。この
計測方法では、タッチセンサ９が図６の（Ｂ）に示すよ
うな経路を移動するように送り軸の軸移動を行なって、
２回の計測を実施しており、タッチセンサ９を計測対象
物１０の対象ワーク面に２回接触させて計測を行なうこ
とになる。この理由は、前述のようにセンサ信号ＳＩが
ＯＦＦからＯＮに変化したとき、タッチセンサ９が検出
位置データＳＨを計測対象物１０の対象ワーク面の計測
位置データＳＫとしてラッチするので、タッチセンサ９
のセンサ信号ＳＩがＯＦＦからＯＮに変化する状態を２
回発生させるためである。しかし、タッチセンサ９が図
６（Ｂ）に示すような経路を移動するようにして、計測
対象物１０の対象ワーク面に２回接触させて計測を行な
うと、計測のために長い時間が必要となり、その間は加
工を行なうことができないので、計測機能として実用上
問題があった。
いて、計測対象物の対象ワーク面を２回計測する方法と
しては図６の（Ｂ）に示すように、まず計測開始点
Ａ１、仮想目標点Ｂ１、仮想対象ワーク面Ｃとして第１
回目の計測を行ない、次に第１回目の計測位置データＳ
Ｋ１を第２回目の計測の仮想目標点Ｂ２に設定し、計測
開始点Ａ２、仮想目標点Ｂ２、仮想対象ワーク面Ｃと
し、送り軸の送り速度を１回目の計測より遅くして第２
回目の計測を行なう方法が一般に行なわれている。この
計測方法では、タッチセンサ９が図６の（Ｂ）に示すよ
うな経路を移動するように送り軸の軸移動を行なって、
２回の計測を実施しており、タッチセンサ９を計測対象
物１０の対象ワーク面に２回接触させて計測を行なうこ
とになる。この理由は、前述のようにセンサ信号ＳＩが
ＯＦＦからＯＮに変化したとき、タッチセンサ９が検出
位置データＳＨを計測対象物１０の対象ワーク面の計測
位置データＳＫとしてラッチするので、タッチセンサ９
のセンサ信号ＳＩがＯＦＦからＯＮに変化する状態を２
回発生させるためである。しかし、タッチセンサ９が図
６（Ｂ）に示すような経路を移動するようにして、計測
対象物１０の対象ワーク面に２回接触させて計測を行な
うと、計測のために長い時間が必要となり、その間は加
工を行なうことができないので、計測機能として実用上
問題があった。
【０００７】すなわち、従来の計測機能を有する数値制
御装置のタッチセンサによる計測方法では、タッチセン
サを計測対象物に接触させ、その際タッチセンサがＯＦ
Ｆ状態からＯＮ状態に変化することを利用して計測を行
なっている。ところが、タッチセンサがＯＦＦ状態から
ＯＮ状態に変化する際にのみ計測を行なうと、タッチセ
ンサの２回計測による計測では、タッチセンサを計測対
象物に２回接触させる必要があり、機内計測をするため
に長い時間が必要であった。
御装置のタッチセンサによる計測方法では、タッチセン
サを計測対象物に接触させ、その際タッチセンサがＯＦ
Ｆ状態からＯＮ状態に変化することを利用して計測を行
なっている。ところが、タッチセンサがＯＦＦ状態から
ＯＮ状態に変化する際にのみ計測を行なうと、タッチセ
ンサの２回計測による計測では、タッチセンサを計測対
象物に２回接触させる必要があり、機内計測をするため
に長い時間が必要であった。
【０００８】本発明は上述のような事情によってなされ
たものであり、本発明の目的は、計測機能を有する数値
制御装置において、タッチセンサが送り軸の検出位置デ
ータを計測位置データとしてラッチするタイミングを、
タッチセンサの状態がＯＦＦからＯＮに変化するとき、
又はＯＮからＯＦＦに変化するときとすることにより、
短時間で精度の高い計測を行なうことができる実用的な
計測機能を有する数値制御装置を提供することにある。
たものであり、本発明の目的は、計測機能を有する数値
制御装置において、タッチセンサが送り軸の検出位置デ
ータを計測位置データとしてラッチするタイミングを、
タッチセンサの状態がＯＦＦからＯＮに変化するとき、
又はＯＮからＯＦＦに変化するときとすることにより、
短時間で精度の高い計測を行なうことができる実用的な
計測機能を有する数値制御装置を提供することにある。
【０００９】
【発明を解決するための手段】本発明は計測機能を有す
る数値制御装置に関するものであり、本発明の上記目的
は、加工プログラムの指令に、機内計測実行指令及び計
測開始点Ａ、仮想目標点Ｂ、仮想対象ワーク面Ｃの各デ
ータに加えて、予め送り軸の検出位置データを計測位置
データとしてラッチするタイミングを、タッチセンサが
ＯＦＦからＯＮへ変化したとき、又はＯＮからＯＦＦへ
変化したときのいずれにするかを指令するラッチタイミ
ング指令を指令しておき、そのラッチタイミング指令に
従って、タッチセンサの状態がＯＦＦからＯＮに変化す
るとき、又はＯＮからＯＦＦに変化するときに、タッチ
センサが送り軸の検出位置データを計測位置データとし
てラッチするようにすることで達成される。
る数値制御装置に関するものであり、本発明の上記目的
は、加工プログラムの指令に、機内計測実行指令及び計
測開始点Ａ、仮想目標点Ｂ、仮想対象ワーク面Ｃの各デ
ータに加えて、予め送り軸の検出位置データを計測位置
データとしてラッチするタイミングを、タッチセンサが
ＯＦＦからＯＮへ変化したとき、又はＯＮからＯＦＦへ
変化したときのいずれにするかを指令するラッチタイミ
ング指令を指令しておき、そのラッチタイミング指令に
従って、タッチセンサの状態がＯＦＦからＯＮに変化す
るとき、又はＯＮからＯＦＦに変化するときに、タッチ
センサが送り軸の検出位置データを計測位置データとし
てラッチするようにすることで達成される。
【００１０】
【作用】本発明の計測機能を有する数値制御装置によれ
ば、タッチセンサの状態がＯＦＦからＯＮに変化すると
き、又はＯＮからＯＦＦに変化するときに、タッチセン
サが送り軸の検出位置データを計測位置データとしてラ
ッチするので、短かい時間で精度の良い計測を行なうこ
とができる。タッチセンサの２回計測による計測を、タ
ッチセンサを計測対象物に１度接触させるだけで行なう
ことができるので、計測を短時間で完了することができ
る。
ば、タッチセンサの状態がＯＦＦからＯＮに変化すると
き、又はＯＮからＯＦＦに変化するときに、タッチセン
サが送り軸の検出位置データを計測位置データとしてラ
ッチするので、短かい時間で精度の良い計測を行なうこ
とができる。タッチセンサの２回計測による計測を、タ
ッチセンサを計測対象物に１度接触させるだけで行なう
ことができるので、計測を短時間で完了することができ
る。
【００１１】
【実施例】図１は、本発明による計測機能を有する数値
制御装置の機能を示すブロック図である。図７に示す従
来の計測機能を有する数値制御装置と同一箇所には、同
一符号を付して詳細な説明を省略する。本発明の数値制
御装置においては、図７に示す従来の数値制御装置に対
して、ラッチタイミング制御部１３、センサ信号変換部
１４、センサ信号ＯＮ／ＯＦＦ検出部１５、ラッチタイ
ミング制御機内計測処理指令部１６が新しく設けられて
いる。加工プログラムＳＡには、機内計測実行指令及び
計測開始点Ａ、仮想目標点Ｂ、仮想対象ワーク面Ｃの各
データに加えて、予め送り軸の検出位置データを計測位
置データとしてラッチするタイミングを、タッチセンサ
９がＯＦＦからＯＮへ変化したとき、又はＯＮからＯＦ
Ｆへ変化したときのいずれにするかを指令するラッチタ
イミング指令を指令しておく。ラッチタイミング制御機
内計測処理指令部１６は、加工プログラム解釈部３より
機内計測指令、前記点Ａ〜Ｃのデータ及びラッチタイミ
ング指令である機内計測関係データＳＱを入力し、ラッ
チタイミング指令ＳＭをラッチタイミング制御部１３へ
出力する。その一方、機内計測関係データＳＱの点Ａ〜
Ｃのデータを基に、送り軸制御指令ＳＤを軸移動演算部
５に出力する。センサ信号ＯＮ／ＯＦＦ検出部１５は、
タッチセンサ９の状態を表わすセンサ信号ＳＩを入力し
ており、センサ信号ＳＩがＯＦＦからＯＮに変化したと
きにセンサ状態変化信号ＳＯ１を送出し、センサ信号Ｓ
ＩがＯＮからＯＦＦに変化したときにセンサ状態変化信
号ＳＯ２を送出する。
制御装置の機能を示すブロック図である。図７に示す従
来の計測機能を有する数値制御装置と同一箇所には、同
一符号を付して詳細な説明を省略する。本発明の数値制
御装置においては、図７に示す従来の数値制御装置に対
して、ラッチタイミング制御部１３、センサ信号変換部
１４、センサ信号ＯＮ／ＯＦＦ検出部１５、ラッチタイ
ミング制御機内計測処理指令部１６が新しく設けられて
いる。加工プログラムＳＡには、機内計測実行指令及び
計測開始点Ａ、仮想目標点Ｂ、仮想対象ワーク面Ｃの各
データに加えて、予め送り軸の検出位置データを計測位
置データとしてラッチするタイミングを、タッチセンサ
９がＯＦＦからＯＮへ変化したとき、又はＯＮからＯＦ
Ｆへ変化したときのいずれにするかを指令するラッチタ
イミング指令を指令しておく。ラッチタイミング制御機
内計測処理指令部１６は、加工プログラム解釈部３より
機内計測指令、前記点Ａ〜Ｃのデータ及びラッチタイミ
ング指令である機内計測関係データＳＱを入力し、ラッ
チタイミング指令ＳＭをラッチタイミング制御部１３へ
出力する。その一方、機内計測関係データＳＱの点Ａ〜
Ｃのデータを基に、送り軸制御指令ＳＤを軸移動演算部
５に出力する。センサ信号ＯＮ／ＯＦＦ検出部１５は、
タッチセンサ９の状態を表わすセンサ信号ＳＩを入力し
ており、センサ信号ＳＩがＯＦＦからＯＮに変化したと
きにセンサ状態変化信号ＳＯ１を送出し、センサ信号Ｓ
ＩがＯＮからＯＦＦに変化したときにセンサ状態変化信
号ＳＯ２を送出する。
【００１２】また、ラッチタイミング制御部１３は、ラ
ッチタイミング指令ＳＭにより送り軸の検出位置データ
を計測位置データとしてラッチするタイミングを、タッ
チセンサ９がＯＦＦからＯＮへ変化したときとする場合
はタイミング信号ＳＮ１を、タッチセンサ９がＯＮから
ＯＦＦへ変化したときとする場合はタイミング信号ＳＮ
２を送出する。そして、センサ信号変換部１４では、ラ
ッチタイミング制御部１３からタイミング信号ＳＮ１を
入力している場合は、センサ状態変化信号ＳＯ１を入力
した時にセンサラッチ信号ＳＰを出力し、タイミング信
号ＳＮ２を入力している場合は、センサ状態変化信号Ｓ
Ｏ２を入力した時にセンサラッチ信号ＳＰを出力する。
計測値データ計測部１２は、センサラッチ信号ＳＰを入
力したときの検出位置データＳＨを計測対象物１０の対
象ワーク面の計測位置データＳＫとしてラッチし、ラッ
チされた計測位置データＳＫをラッチタイミング制御機
内計測処理指令部１６に送出する。ラッチタイミング制
御機内計測処理指令部１６は計測位置データＳＫを入力
すると、機内計測が完了したとして送り軸制御指令ＳＤ
を軸移動演算部５へ出力して送り軸の移動を停止させ、
機内計測完了信号ＳＬを加工プログラム解釈部３へ出力
する。また、ラッチタイミング制御機内計測処理指令部
１６は位置検出部８より常に検出位置データＳＨを入力
しており、計測位置データＳＫを入力する前に検出位置
データＳＨが仮想目標点Ｂに等しくなったときも、送り
軸制御指令ＳＤを軸移動演算部５へ出力して送り軸の移
動を停止させ、機内計測完了信号ＳＬを加工プログラム
解釈部３へ出力する。
ッチタイミング指令ＳＭにより送り軸の検出位置データ
を計測位置データとしてラッチするタイミングを、タッ
チセンサ９がＯＦＦからＯＮへ変化したときとする場合
はタイミング信号ＳＮ１を、タッチセンサ９がＯＮから
ＯＦＦへ変化したときとする場合はタイミング信号ＳＮ
２を送出する。そして、センサ信号変換部１４では、ラ
ッチタイミング制御部１３からタイミング信号ＳＮ１を
入力している場合は、センサ状態変化信号ＳＯ１を入力
した時にセンサラッチ信号ＳＰを出力し、タイミング信
号ＳＮ２を入力している場合は、センサ状態変化信号Ｓ
Ｏ２を入力した時にセンサラッチ信号ＳＰを出力する。
計測値データ計測部１２は、センサラッチ信号ＳＰを入
力したときの検出位置データＳＨを計測対象物１０の対
象ワーク面の計測位置データＳＫとしてラッチし、ラッ
チされた計測位置データＳＫをラッチタイミング制御機
内計測処理指令部１６に送出する。ラッチタイミング制
御機内計測処理指令部１６は計測位置データＳＫを入力
すると、機内計測が完了したとして送り軸制御指令ＳＤ
を軸移動演算部５へ出力して送り軸の移動を停止させ、
機内計測完了信号ＳＬを加工プログラム解釈部３へ出力
する。また、ラッチタイミング制御機内計測処理指令部
１６は位置検出部８より常に検出位置データＳＨを入力
しており、計測位置データＳＫを入力する前に検出位置
データＳＨが仮想目標点Ｂに等しくなったときも、送り
軸制御指令ＳＤを軸移動演算部５へ出力して送り軸の移
動を停止させ、機内計測完了信号ＳＬを加工プログラム
解釈部３へ出力する。
【００１３】図２の（Ｂ）は、タイミング信号ＳＮ１又
はタイミング信号ＳＮ２が出力されている場合につい
て、センサ信号ＳＩとセンサ状態変化信号ＳＯ１、セン
サ状態変化信号ＳＯ２、センサラッチ信号ＳＰとの関係
を示すタイムチャートである。いま、図２の（Ａ）に示
すように、タッチセンサ９をまず計測対象物１０の対象
ワーク面に接近させるように送り軸を移動させて計測を
行ない、タッチセンサ９が計測対象物１０の対象ワーク
面に接触した後、続いて計測対象物１０の対象ワーク面
から離れるように送り軸を移動させて計測を行なった場
合を考える。この場合、タッチセンサ９は、ＯＦＦ状態
→ＯＮ状態→ＯＦＦ状態の様に変化する。そして、タイ
ミング信号ＳＮ１が出力されている場合は、センサ状態
変化信号ＳＯ１が出力された時にセンサラッチ信号ＳＰ
が出力され、タイミング信号ＳＮ２が出力されている場
合は、センサ状態変化信号ＳＯ２が出力された時にセン
サラッチ信号ＳＰが出力される。
はタイミング信号ＳＮ２が出力されている場合につい
て、センサ信号ＳＩとセンサ状態変化信号ＳＯ１、セン
サ状態変化信号ＳＯ２、センサラッチ信号ＳＰとの関係
を示すタイムチャートである。いま、図２の（Ａ）に示
すように、タッチセンサ９をまず計測対象物１０の対象
ワーク面に接近させるように送り軸を移動させて計測を
行ない、タッチセンサ９が計測対象物１０の対象ワーク
面に接触した後、続いて計測対象物１０の対象ワーク面
から離れるように送り軸を移動させて計測を行なった場
合を考える。この場合、タッチセンサ９は、ＯＦＦ状態
→ＯＮ状態→ＯＦＦ状態の様に変化する。そして、タイ
ミング信号ＳＮ１が出力されている場合は、センサ状態
変化信号ＳＯ１が出力された時にセンサラッチ信号ＳＰ
が出力され、タイミング信号ＳＮ２が出力されている場
合は、センサ状態変化信号ＳＯ２が出力された時にセン
サラッチ信号ＳＰが出力される。
【００１４】図３は、上述した本発明による計測機能を
有する数値制御装置において、計測対象物１０の同じ対
象ワーク面を２回計測して、１回目の計測位置データを
利用して２回目の計測を行なうことにより、２回目の計
測によって精度の高い計測データを得る方法である。す
なわち、本発明による数値制御装置においては、第１回
目の計測において送り軸の検出位置データを計測位置デ
ータとしてラッチするタイミングを、タッチセンサ９が
ＯＦＦからＯＮへ変化したときとなるように指令して、
計測開始点Ａ１、仮想目標点Ｂ１、仮想対象ワーク面Ｃ
として第１回目の計測を行なった後、第１回目の計測位
置データＳＫ１を第２回目の計測の計測開始点Ａ２に設
定し、次に第２回目の計測で、送り軸の検出位置データ
を計測位置データとしてラッチするタイミングを、タッ
チセンサ９がＯＮからＯＦＦへ変化したときとなるよう
に指令して、計測開始点Ａ２、仮想目標点Ｂ２、仮想対
象ワーク面Ｃとして第２回目の計測を行ない、タッチセ
ンサ９が図３に示すような経路を移動するように送り軸
の軸移動を行なって、２回の計測を実施する。この場
合、タッチセンサ９は計測対象物１０の対象ワーク面に
は１回接触させるのみで計測を行なうことができる。
有する数値制御装置において、計測対象物１０の同じ対
象ワーク面を２回計測して、１回目の計測位置データを
利用して２回目の計測を行なうことにより、２回目の計
測によって精度の高い計測データを得る方法である。す
なわち、本発明による数値制御装置においては、第１回
目の計測において送り軸の検出位置データを計測位置デ
ータとしてラッチするタイミングを、タッチセンサ９が
ＯＦＦからＯＮへ変化したときとなるように指令して、
計測開始点Ａ１、仮想目標点Ｂ１、仮想対象ワーク面Ｃ
として第１回目の計測を行なった後、第１回目の計測位
置データＳＫ１を第２回目の計測の計測開始点Ａ２に設
定し、次に第２回目の計測で、送り軸の検出位置データ
を計測位置データとしてラッチするタイミングを、タッ
チセンサ９がＯＮからＯＦＦへ変化したときとなるよう
に指令して、計測開始点Ａ２、仮想目標点Ｂ２、仮想対
象ワーク面Ｃとして第２回目の計測を行ない、タッチセ
ンサ９が図３に示すような経路を移動するように送り軸
の軸移動を行なって、２回の計測を実施する。この場
合、タッチセンサ９は計測対象物１０の対象ワーク面に
は１回接触させるのみで計測を行なうことができる。
【００１５】また、タッチセンサ９の状態変化の特性に
ヒステリシスがある場合は、図１のブロック図で示した
数値制御装置に対して計測値データ補正部１７及び計測
補正データ記憶部１８を設けた図４に示すような計測機
能を有する数値制御装置を構成する。そして、計測対象
物１０の同じ対象ワーク面を、タッチセンサ９がＯＦＦ
からＯＮに変化したときにラッチした計測位置データ
と、タッチセンサ９がＯＮからＯＦＦに変化したときに
ラッチした計測位置データとの差を、予め計測方向補正
値ＳＲとして計測補正データ記憶部１８に記憶してお
き、計測値データ補正部１７で計測位置データＳＫに補
正をかけるようにして、タッチセンサ９のヒステリシス
の影響のない計測位置データを得ることができる。
ヒステリシスがある場合は、図１のブロック図で示した
数値制御装置に対して計測値データ補正部１７及び計測
補正データ記憶部１８を設けた図４に示すような計測機
能を有する数値制御装置を構成する。そして、計測対象
物１０の同じ対象ワーク面を、タッチセンサ９がＯＦＦ
からＯＮに変化したときにラッチした計測位置データ
と、タッチセンサ９がＯＮからＯＦＦに変化したときに
ラッチした計測位置データとの差を、予め計測方向補正
値ＳＲとして計測補正データ記憶部１８に記憶してお
き、計測値データ補正部１７で計測位置データＳＫに補
正をかけるようにして、タッチセンサ９のヒステリシス
の影響のない計測位置データを得ることができる。
【００１６】図５は、本発明の計測機能を有する数値制
御装置の動作例を示すフローチャートである。まず、加
工プログラムより機内計測実行指令、計測開始点Ａ、仮
想目標点Ｂ、仮想対象ワーク面Ｃの各データ、及びラッ
チタイミング指令を読込み（ステップＳ１）、計測開始
点Ａ、仮想目標点Ｂ、仮想対象ワーク面Ｃの各データに
従って軸移動が開始される（ステップＳ２）。そして、
ラッチタイミング指令が、タッチセンサ９の状態がＯＦ
ＦからＯＮへ変化したとき、又はＯＮからＯＦＦへ変化
したときのいずれになっているかが判断される（ステッ
プＳ３）。ラッチタイミング指令が、タッチセンサ９の
状態がＯＦＦからＯＮへ変化したときである場合、軸移
動の途中でタッチセンサ９の状態がＯＦＦからＯＮへ変
化したときは、データ計測が行なわれ（ステップＳ４、
ステップＳ６）、タッチセンサ９の状態がＯＮからＯＦ
Ｆへ変化するか、又は全く変化しない場合は、軸移動を
続行して仮想目標点Ｂに到達する（ステップＳ８）。逆
にラッチタイミング指令が、タッチセンサ９の状態がＯ
ＮからＯＦＦへ変化したときである場合、軸移動の途中
でタッチセンサ９の状態がＯＮからＯＦＦへ変化したと
きはデータ計測が行なわれ（ステップＳ５、ステップＳ
６）、タッチセンサ９の状態がＯＦＦからＯＮへ変化す
るか又は全く変化しない場合は、軸移動を続行して仮想
目標点Ｂに到達する（ステップＳ８）。データ計測が完
了すると軸移動は停止し（ステップＳ７）、機内計測は
終了する。また、データ計測が行なわれないまま仮想目
標点Ｂに到達した場合は、仮想目標点Ｂにて軸移動が停
止し（ステップＳ７）、全ての動作が終了する。
御装置の動作例を示すフローチャートである。まず、加
工プログラムより機内計測実行指令、計測開始点Ａ、仮
想目標点Ｂ、仮想対象ワーク面Ｃの各データ、及びラッ
チタイミング指令を読込み（ステップＳ１）、計測開始
点Ａ、仮想目標点Ｂ、仮想対象ワーク面Ｃの各データに
従って軸移動が開始される（ステップＳ２）。そして、
ラッチタイミング指令が、タッチセンサ９の状態がＯＦ
ＦからＯＮへ変化したとき、又はＯＮからＯＦＦへ変化
したときのいずれになっているかが判断される（ステッ
プＳ３）。ラッチタイミング指令が、タッチセンサ９の
状態がＯＦＦからＯＮへ変化したときである場合、軸移
動の途中でタッチセンサ９の状態がＯＦＦからＯＮへ変
化したときは、データ計測が行なわれ（ステップＳ４、
ステップＳ６）、タッチセンサ９の状態がＯＮからＯＦ
Ｆへ変化するか、又は全く変化しない場合は、軸移動を
続行して仮想目標点Ｂに到達する（ステップＳ８）。逆
にラッチタイミング指令が、タッチセンサ９の状態がＯ
ＮからＯＦＦへ変化したときである場合、軸移動の途中
でタッチセンサ９の状態がＯＮからＯＦＦへ変化したと
きはデータ計測が行なわれ（ステップＳ５、ステップＳ
６）、タッチセンサ９の状態がＯＦＦからＯＮへ変化す
るか又は全く変化しない場合は、軸移動を続行して仮想
目標点Ｂに到達する（ステップＳ８）。データ計測が完
了すると軸移動は停止し（ステップＳ７）、機内計測は
終了する。また、データ計測が行なわれないまま仮想目
標点Ｂに到達した場合は、仮想目標点Ｂにて軸移動が停
止し（ステップＳ７）、全ての動作が終了する。
【００１７】
【発明の効果】以上のように本発明の計測機能を有する
数値制御装置によれば、タッチセンサによる機内計測を
高精度に短時間で行なうことができる。すなわち、タッ
チセンサの２回計測による計測を、センサを計測対象物
に１回接触させるだけで行なうことができるので、計測
を短時間で完了できる。
数値制御装置によれば、タッチセンサによる機内計測を
高精度に短時間で行なうことができる。すなわち、タッ
チセンサの２回計測による計測を、センサを計測対象物
に１回接触させるだけで行なうことができるので、計測
を短時間で完了できる。
【図１】本発明による計測機能を有する数値制御旋盤の
機能を示すブロック図である。
機能を示すブロック図である。
【図２】本発明による計測機能を有する数値制御旋盤に
おいて、実際に計測を行なう際のタイミング信号、セン
サ状態変化信号及びセンサ信号の関係を説明するための
図とタイムチャートである。
おいて、実際に計測を行なう際のタイミング信号、セン
サ状態変化信号及びセンサ信号の関係を説明するための
図とタイムチャートである。
【図３】本発明による計測機能を有する数値制御旋盤に
おいて、計測対象物の同じ対象ワーク面を２回計測し
て、１回目の計測位置データを用いて２回目の計測を行
なうことにより、２回目の計測で精度の高い計測データ
を得る方法を説明するための図である。
おいて、計測対象物の同じ対象ワーク面を２回計測し
て、１回目の計測位置データを用いて２回目の計測を行
なうことにより、２回目の計測で精度の高い計測データ
を得る方法を説明するための図である。
【図４】本発明による計測機能を有する数値制御旋盤に
おいて、タッチセンサの状態変化のヒステリシスを補正
する機能を持つ数値制御装置の機能を示すブロック図で
ある。
おいて、タッチセンサの状態変化のヒステリシスを補正
する機能を持つ数値制御装置の機能を示すブロック図で
ある。
【図５】本発明による計測機能を有する数値制御旋盤の
動作例を示すフローチャートである。
動作例を示すフローチャートである。
【図６】従来の計測機能を有する数値制御旋盤の機内計
測の方法を説明するための図である。
測の方法を説明するための図である。
【図７】従来の計測機能を有する数値制御旋盤の機能を
示すブロック図である。
示すブロック図である。
１ 加工プログラム入力部 ２ 加工プログラム保存部 ３ 加工プログラム解釈部 ４ 機内計測処理指令部 ５ 軸移動演算部 ６ 送り軸制御部 ７ モータ ８ 位置検出部 ９ タッチセンサ １０ 計測対象物の対象 １１ センサ信号検出部 １２ 計測データ計測部 １３ ラッチタイミング制御部 １４ センサ信号変換部 １５ センサ信号ＯＮ／ＯＦＦ検出部 １６ ラッチタイミング制御機内計測処理部 １７ 計測値データ補正部 １８ 計測値補正データ記憶部
Claims (2)
- 【請求項１】 タッチセンサを用いた機内計測機能を有
する数値制御装置において、送り軸の検出位置データを
計測位置データとしてラッチするタイミングを、前記タ
ッチセンサがＯＦＦからＯＮへ変化したときと、ＯＮか
らＯＦＦへ変化したときのいずれにするかをプログラム
で指令可能としたことを特徴とする計測機能を有する数
値制御装置。 - 【請求項２】 同一位置において、前記タッチセンサが
ＯＦＦからＯＮに変化したときにラッチした計測位置デ
ータと、前記タッチセンサがＯＮからＯＦＦに変化した
ときにラッチした計測位置データとの差を計測方向補正
値として予め保存しておき、計測時に前記タッチセンサ
の移動方向によって求めた前記計測位置データに対して
前記計測方向補正値の補正をかけるようにした請求項１
に記載の計測機能を有する数値制御装置
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP25697491A JPH0566820A (ja) | 1991-09-09 | 1991-09-09 | 計測機能を有する数値制御装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP25697491A JPH0566820A (ja) | 1991-09-09 | 1991-09-09 | 計測機能を有する数値制御装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0566820A true JPH0566820A (ja) | 1993-03-19 |
Family
ID=17299966
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP25697491A Pending JPH0566820A (ja) | 1991-09-09 | 1991-09-09 | 計測機能を有する数値制御装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0566820A (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| DE102013004321A1 (de) | 2012-03-19 | 2013-09-19 | Fanuc Corporation | Numerisches Steuersystem, das eine E/A-Einheit zur Zeitmessung verwendet |
| DE102015007522A1 (de) | 2014-06-13 | 2015-12-17 | Fanuc Corporation | Numerisches Steuersystem |
| DE102016004569A1 (de) | 2015-04-22 | 2016-10-27 | Fanuc Corporation | Numerische Steuervorrichtung mit Koordinatenwerterfassungsfunktion, die weder ein Skip-Signal noch eine Tastenbetätigung benötigt |
-
1991
- 1991-09-09 JP JP25697491A patent/JPH0566820A/ja active Pending
Cited By (10)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| DE102013004321A1 (de) | 2012-03-19 | 2013-09-19 | Fanuc Corporation | Numerisches Steuersystem, das eine E/A-Einheit zur Zeitmessung verwendet |
| DE102013004321B4 (de) * | 2012-03-19 | 2015-10-01 | Fanuc Corporation | Numerisches Steuersystem, das eine E/A-Einheit zur Zeitmessung verwendet |
| US9377770B2 (en) | 2012-03-19 | 2016-06-28 | Fanuc Corporation | Numerical control system using I/O unit for time measurement |
| DE102015007522A1 (de) | 2014-06-13 | 2015-12-17 | Fanuc Corporation | Numerisches Steuersystem |
| CN105320072A (zh) * | 2014-06-13 | 2016-02-10 | 发那科株式会社 | 数值控制*** |
| US9791850B2 (en) | 2014-06-13 | 2017-10-17 | Fanuc Corporation | Numerical control system |
| DE102015007522B4 (de) | 2014-06-13 | 2021-07-29 | Fanuc Corporation | Numerisches Steuersystem |
| DE102016004569A1 (de) | 2015-04-22 | 2016-10-27 | Fanuc Corporation | Numerische Steuervorrichtung mit Koordinatenwerterfassungsfunktion, die weder ein Skip-Signal noch eine Tastenbetätigung benötigt |
| US10185301B2 (en) | 2015-04-22 | 2019-01-22 | Fanuc Corporation | Numerical controller having acquisition function of coordinate value needing neither skip signal nor key operation |
| DE102016004569B4 (de) * | 2015-04-22 | 2020-03-26 | Fanuc Corporation | Numerische Steuervorrichtung mit Koordinatenwerterfassungsfunktion, die weder ein Skip-Signal noch eine Tastenbetätigung benötigt |
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