JPH056564A - 光デイスク読取り装置におけるトラツキング誤差検出方式 - Google Patents
光デイスク読取り装置におけるトラツキング誤差検出方式Info
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- JPH056564A JPH056564A JP3183443A JP18344391A JPH056564A JP H056564 A JPH056564 A JP H056564A JP 3183443 A JP3183443 A JP 3183443A JP 18344391 A JP18344391 A JP 18344391A JP H056564 A JPH056564 A JP H056564A
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- G11B7/00—Recording or reproducing by optical means, e.g. recording using a thermal beam of optical radiation by modifying optical properties or the physical structure, reproducing using an optical beam at lower power by sensing optical properties; Record carriers therefor
- G11B7/08—Disposition or mounting of heads or light sources relatively to record carriers
- G11B7/09—Disposition or mounting of heads or light sources relatively to record carriers with provision for moving the light beam or focus plane for the purpose of maintaining alignment of the light beam relative to the record carrier during transducing operation, e.g. to compensate for surface irregularities of the latter or for track following
- G11B7/0901—Disposition or mounting of heads or light sources relatively to record carriers with provision for moving the light beam or focus plane for the purpose of maintaining alignment of the light beam relative to the record carrier during transducing operation, e.g. to compensate for surface irregularities of the latter or for track following for track following only
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- G11B7/12—Heads, e.g. forming of the optical beam spot or modulation of the optical beam
- G11B7/13—Optical detectors therefor
- G11B7/131—Arrangement of detectors in a multiple array
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- Optics & Photonics (AREA)
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 光ディスク読取り装置において、トラッキン
グ誤差(TE)信号をプッシュプル法で検出する場合に、TE
信号を高感度で検出すると共に、対物レンズの変位や光
ディスクの傾斜に基づく直流オフセットの発生を防止し
たTE検出方式を提供する。 【構成】 トラッキングサーボ用光検出器1の受光面に
対して、対物レンズの変位等が生じても反射光ファーフ
ィールドパターンの０次回折光と１次回折光が重複する
領域S1,S2内にTE検出用光センサc,dを配設し、また両セ
ンサc,d間の中央部にそれらの配設方向と直交する方向
に位置調整用光センサa,bを配設しておき、センサc,dと
センサa,bの出力差を増幅する誤差増幅器2,3の出力が0
になるように光検出器1の位置調整を行った後、誤差増
幅器2の出力をTE信号としてトラッキングサーボを実行
させる。
グ誤差(TE)信号をプッシュプル法で検出する場合に、TE
信号を高感度で検出すると共に、対物レンズの変位や光
ディスクの傾斜に基づく直流オフセットの発生を防止し
たTE検出方式を提供する。 【構成】 トラッキングサーボ用光検出器1の受光面に
対して、対物レンズの変位等が生じても反射光ファーフ
ィールドパターンの０次回折光と１次回折光が重複する
領域S1,S2内にTE検出用光センサc,dを配設し、また両セ
ンサc,d間の中央部にそれらの配設方向と直交する方向
に位置調整用光センサa,bを配設しておき、センサc,dと
センサa,bの出力差を増幅する誤差増幅器2,3の出力が0
になるように光検出器1の位置調整を行った後、誤差増
幅器2の出力をTE信号としてトラッキングサーボを実行
させる。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は光ディスク読取り装置に
おけるトラッキング誤差検出方式に係り、シングルビー
ムによるプッシュプル方式でトラッキング誤差(TE)信号
を検出する光ディスク装置において、TE信号を高感度で
検出すると共に、直流オフセットを発生させない方式を
提供することを目的とする。
おけるトラッキング誤差検出方式に係り、シングルビー
ムによるプッシュプル方式でトラッキング誤差(TE)信号
を検出する光ディスク装置において、TE信号を高感度で
検出すると共に、直流オフセットを発生させない方式を
提供することを目的とする。
【０００２】
【従来の技術】光ディスク読取り装置においては、レー
ザビームのトラック追従誤差による再生信号のフレーム
エラーレート(FER)特性を所定以下に保つためにトラッ
キングサーボ(TS)システムが組込まれており、ディスク
が偏心した状態で動作しても光ピックアップのレーザビ
ームをトラック(1.6μm間隔)に沿って正確にトレースさ
せるようになっている。このTE信号の検出方式にはシン
グルビーム方式や３ビーム方式があり、更にそれぞれの
方式においても各種の信号処理方法があるが、プリグル
ーブの存在確認及び光利用効率についてはプッシュプル
方式が最も簡易な構成による方式といえる。
ザビームのトラック追従誤差による再生信号のフレーム
エラーレート(FER)特性を所定以下に保つためにトラッ
キングサーボ(TS)システムが組込まれており、ディスク
が偏心した状態で動作しても光ピックアップのレーザビ
ームをトラック(1.6μm間隔)に沿って正確にトレースさ
せるようになっている。このTE信号の検出方式にはシン
グルビーム方式や３ビーム方式があり、更にそれぞれの
方式においても各種の信号処理方法があるが、プリグル
ーブの存在確認及び光利用効率についてはプッシュプル
方式が最も簡易な構成による方式といえる。
【０００３】そして、前記のプッシュプル方式を適用し
た場合の光ディスク読取り装置は、一例として図４に示
すような光学的構成が採用され得る。同図において、光
源(レーザダイオード)51から照射されたレーザビームは
ビームスプリッタ(BS)52を通過してコリメータレンズ53
で平行光となり、1/4波長板54を通過した後、対物レン
ズ55で焦点を絞られて情報記録媒体である光ディスク56
の反射面にビームスポットを結ぶ。一方、光ディスク56
からの反射光は、逆に対物レンズ55から1/4波長板54と
コリメータレンズ53を経てBS52へ戻るが、BS52はその戻
り光の角度を90°変更させて隣接したBS57へ入射させ、
BS57ではその入射光の一部をそのまま再生信号検出用光
検出器58へ入射結像させるが、入射光の他の一部につい
ては更に角度を90°変更させてTS用光検出器59へ入射さ
せる。
た場合の光ディスク読取り装置は、一例として図４に示
すような光学的構成が採用され得る。同図において、光
源(レーザダイオード)51から照射されたレーザビームは
ビームスプリッタ(BS)52を通過してコリメータレンズ53
で平行光となり、1/4波長板54を通過した後、対物レン
ズ55で焦点を絞られて情報記録媒体である光ディスク56
の反射面にビームスポットを結ぶ。一方、光ディスク56
からの反射光は、逆に対物レンズ55から1/4波長板54と
コリメータレンズ53を経てBS52へ戻るが、BS52はその戻
り光の角度を90°変更させて隣接したBS57へ入射させ、
BS57ではその入射光の一部をそのまま再生信号検出用光
検出器58へ入射結像させるが、入射光の他の一部につい
ては更に角度を90°変更させてTS用光検出器59へ入射さ
せる。
【０００４】プッシュプル方式では、前記の光検出器59
は２分割フォトディテクタ(PD)からなり、それぞれのフ
ォトダイオードC,Dの出力差を誤差増幅器60で増幅してT
E信号を得ている。ここで、この方式の原理を図５及び
図６を用いて詳細に説明する。光ディスク56からの反射
光は対物レンズ54から前記の光学系を介して光検出器59
の受光面にファーフィールドパターン61を形成するが、
光ディスク56の表面にグルーブ(又はピット)62aが形成
されていることにより、ファーフィールドパターン61に
はグルーブ(又はピット)62aで直接反射される０次回折
光63とランド部62bまで入射して波面が曲がった１次回
折光64,65との重複領域(斜線領域)S1,S2が形成される。
そして、その重複領域S1,S2の光量分布はグルーブ(又は
ピット)62aの存在による光の干渉効果で大きく変化する
ため、各領域S1,S2にフォトダイオードC,Dを配設してお
くことによりTEを検出できることになる。即ち、光検出
器59の受光面の光量分布は、図６の(1)に示すようにグ
ルーブ(又はピット)62aの中心位置にビームスポットが
ある場合(又はランド部62bの中心にある場合)には分布
曲線66のように対称となってTE信号が0Vとなり、一方、
図６の(2)に示すようにビームスポットがグルーブ(又は
ピット)62aからズレた位置にある場合には分布曲線67の
ように非対称となってTE信号がEV(E≠0)となる。その結
果、図７に示すように、光ピックアップの移動につれて
TE信号は0Vを中心に変化し、TE信号が0Vになる位置が交
互にオントラックとオフトラックを示すことになる。
は２分割フォトディテクタ(PD)からなり、それぞれのフ
ォトダイオードC,Dの出力差を誤差増幅器60で増幅してT
E信号を得ている。ここで、この方式の原理を図５及び
図６を用いて詳細に説明する。光ディスク56からの反射
光は対物レンズ54から前記の光学系を介して光検出器59
の受光面にファーフィールドパターン61を形成するが、
光ディスク56の表面にグルーブ(又はピット)62aが形成
されていることにより、ファーフィールドパターン61に
はグルーブ(又はピット)62aで直接反射される０次回折
光63とランド部62bまで入射して波面が曲がった１次回
折光64,65との重複領域(斜線領域)S1,S2が形成される。
そして、その重複領域S1,S2の光量分布はグルーブ(又は
ピット)62aの存在による光の干渉効果で大きく変化する
ため、各領域S1,S2にフォトダイオードC,Dを配設してお
くことによりTEを検出できることになる。即ち、光検出
器59の受光面の光量分布は、図６の(1)に示すようにグ
ルーブ(又はピット)62aの中心位置にビームスポットが
ある場合(又はランド部62bの中心にある場合)には分布
曲線66のように対称となってTE信号が0Vとなり、一方、
図６の(2)に示すようにビームスポットがグルーブ(又は
ピット)62aからズレた位置にある場合には分布曲線67の
ように非対称となってTE信号がEV(E≠0)となる。その結
果、図７に示すように、光ピックアップの移動につれて
TE信号は0Vを中心に変化し、TE信号が0Vになる位置が交
互にオントラックとオフトラックを示すことになる。
【０００５】
【発明が解決しようとする課題】ところで、前記の原理
は図４における結像光学系と誤差検出光学系の光軸が完
全に一致していることを前提に成立し、それらの光軸に
不一致があるとTE信号に直流オフセットが発生する。例
えば、図８に示すように、対物レンズ55が中立状態(光
学系で正規位置にある状態)から左又は右に変位(変位
量:ω)していた場合には、光検出器59の受光面でファー
フィールドパターン61がズレることになり、TE信号に直
流オフセットが現われてしまう。また、図９に示すよう
に、ディスク56が対物レンズ55の光軸の直交面から傾斜
(傾斜角:θ)していると、反射光の光軸がシフトして同
様の結果を招く。即ち、TE信号は、図１０に示すように
オフセット電圧Vosを中心に変化するようになり、その
信号が0Vを示していても照射ビームがトラックの中心に
位置していないことになる。
は図４における結像光学系と誤差検出光学系の光軸が完
全に一致していることを前提に成立し、それらの光軸に
不一致があるとTE信号に直流オフセットが発生する。例
えば、図８に示すように、対物レンズ55が中立状態(光
学系で正規位置にある状態)から左又は右に変位(変位
量:ω)していた場合には、光検出器59の受光面でファー
フィールドパターン61がズレることになり、TE信号に直
流オフセットが現われてしまう。また、図９に示すよう
に、ディスク56が対物レンズ55の光軸の直交面から傾斜
(傾斜角:θ)していると、反射光の光軸がシフトして同
様の結果を招く。即ち、TE信号は、図１０に示すように
オフセット電圧Vosを中心に変化するようになり、その
信号が0Vを示していても照射ビームがトラックの中心に
位置していないことになる。
【０００６】更に、TE信号の感度を高くするにはファー
フィールドパターンの中心に２分割PDの中心(フォトダ
イオードC,Dの分割線の中点)を合わせる必要があり、従
来から光検出器59の各フォトダイオードC,Dの出力を参
照しながら調整する方法が採用されているが、その方法
によればファーフィールドパターンの中心を分割線上に
合わせることは容易であるが、その分割線の中点に位置
させることは困難である。即ち、ファーフィールドパタ
ーンの中心が前記の分割線上にあれば、各フォトダイオ
ードC,Dは常に同一出力となるために分割線の中点まで
求めることができず、分割線上で反射光の光軸と分割線
の中点が一致しないことにより光検出器59の感度が低下
することになる。
フィールドパターンの中心に２分割PDの中心(フォトダ
イオードC,Dの分割線の中点)を合わせる必要があり、従
来から光検出器59の各フォトダイオードC,Dの出力を参
照しながら調整する方法が採用されているが、その方法
によればファーフィールドパターンの中心を分割線上に
合わせることは容易であるが、その分割線の中点に位置
させることは困難である。即ち、ファーフィールドパタ
ーンの中心が前記の分割線上にあれば、各フォトダイオ
ードC,Dは常に同一出力となるために分割線の中点まで
求めることができず、分割線上で反射光の光軸と分割線
の中点が一致しないことにより光検出器59の感度が低下
することになる。
【０００７】そこで、本発明は、プッシュプル方式でTE
信号を検出する光ディスク読取り装置において、TS用光
検出器がTE信号を常に高感度で検出し、且つそのTE信号
に直流オフセットが発生しないTE検出方式を提供するこ
とを目的として創作された。
信号を検出する光ディスク読取り装置において、TS用光
検出器がTE信号を常に高感度で検出し、且つそのTE信号
に直流オフセットが発生しないTE検出方式を提供するこ
とを目的として創作された。
【０００８】
【課題を解決するための手段】第１の発明は、プッシュ
プル方式によりトラッキング誤差信号を検出する光ディ
スク読取り装置において、トラッキングサーボ用光検出
器の受光面に対して、結像光学系と誤差検出光学系の間
で光軸の不一致が生じた場合にも光ディスクからの反射
光ファーフィールドパターン内で０次回折光と１次回折
光が重複すると想定される２領域内にそれぞれトラッキ
ング誤差検出用光センサを配設すると共に、前記の各光
センサ間の中央領域にそれらの光センサの中心を結ぶ線
分で分割された２個の位置検出用光センサを配設してお
き、トラッキング誤差検出用光センサと位置検出用光セ
ンサの各光量検出信号を参照して前記の線分の中点を反
射光ファーフィールドパターンの中心に合致させるべく
トラッキングサーボ用光検出器の位置を調整固定し、ト
ラッキング誤差検出用光センサの各光量検出信号を用い
てトラッキング誤差を検出することを特徴とした光ディ
スク読取り装置におけるトラッキング誤差検出方式に係
る。
プル方式によりトラッキング誤差信号を検出する光ディ
スク読取り装置において、トラッキングサーボ用光検出
器の受光面に対して、結像光学系と誤差検出光学系の間
で光軸の不一致が生じた場合にも光ディスクからの反射
光ファーフィールドパターン内で０次回折光と１次回折
光が重複すると想定される２領域内にそれぞれトラッキ
ング誤差検出用光センサを配設すると共に、前記の各光
センサ間の中央領域にそれらの光センサの中心を結ぶ線
分で分割された２個の位置検出用光センサを配設してお
き、トラッキング誤差検出用光センサと位置検出用光セ
ンサの各光量検出信号を参照して前記の線分の中点を反
射光ファーフィールドパターンの中心に合致させるべく
トラッキングサーボ用光検出器の位置を調整固定し、ト
ラッキング誤差検出用光センサの各光量検出信号を用い
てトラッキング誤差を検出することを特徴とした光ディ
スク読取り装置におけるトラッキング誤差検出方式に係
る。
【０００９】また、第２の発明は、TS用光検出器の受光
面に対するTE検出用光センサの配設条件に関しては第１
の発明と同様であるが、位置検出用光センサについては
３分割以上に多分割されたものをTE検出用光センサ間の
中央領域に配設させ、各位置検出用光センサの光量検出
信号を参照して各TE検出用光センサの中心を結ぶ線分の
中点を反射光ファーフィールドパターンの中心に合致さ
せるべくTS用光検出器の位置を調整固定し、TE検出用光
センサの各光量検出信号を用いてTEを検出することを特
徴とした光ディスク読取り装置におけるTE検出方式に係
る。
面に対するTE検出用光センサの配設条件に関しては第１
の発明と同様であるが、位置検出用光センサについては
３分割以上に多分割されたものをTE検出用光センサ間の
中央領域に配設させ、各位置検出用光センサの光量検出
信号を参照して各TE検出用光センサの中心を結ぶ線分の
中点を反射光ファーフィールドパターンの中心に合致さ
せるべくTS用光検出器の位置を調整固定し、TE検出用光
センサの各光量検出信号を用いてTEを検出することを特
徴とした光ディスク読取り装置におけるTE検出方式に係
る。
【００１０】
【作用】第１の発明では、TS用光検出器の位置を調整す
るに際して、各TE検出用光センサの光量検出信号を利用
してそのセンサの配設方向に係る中点を、位置検出用光
センサの各光量検出信号を参照して前記の配設方向に直
交する方向に係る中点を求めることができ、TS用光検出
器の最高感度位置（両方のTE検出用光センサの対称中心
に相当する位置）をファーフィールドパターンの中心に
合致させることができる。
るに際して、各TE検出用光センサの光量検出信号を利用
してそのセンサの配設方向に係る中点を、位置検出用光
センサの各光量検出信号を参照して前記の配設方向に直
交する方向に係る中点を求めることができ、TS用光検出
器の最高感度位置（両方のTE検出用光センサの対称中心
に相当する位置）をファーフィールドパターンの中心に
合致させることができる。
【００１１】第２の発明では、前記の位置調整に際し
て、TE検出用光センサは利用せず、位置検出用光センサ
のみを用いてファーフィールドパターンの中心を最高感
度位置に調整する。即ち、３分割以上の位置検出用光セ
ンサの各光量検出信号を用いれば、平面上での最高感度
位置を特定することが可能になり、TE検出用光センサを
用いることなく位置調整ができる。
て、TE検出用光センサは利用せず、位置検出用光センサ
のみを用いてファーフィールドパターンの中心を最高感
度位置に調整する。即ち、３分割以上の位置検出用光セ
ンサの各光量検出信号を用いれば、平面上での最高感度
位置を特定することが可能になり、TE検出用光センサを
用いることなく位置調整ができる。
【００１２】そして、双方の発明では、対物レンズの変
位や光ディスクの傾斜によりファーフィールドパターン
がズレたり反射光の光軸がシフトしたりした場合を考慮
して、TE検出用センサを反射光ファーフィールドパター
ン内で０次回折光と１次回折光が重複すると想定される
２領域内に位置させてあるため、TE検出用光センサの信
号をプッシュプル法で処理することにより常にTE成分の
みを検出することが可能になる。即ち、TE信号に直流オ
フセットが生じることを防止できる。
位や光ディスクの傾斜によりファーフィールドパターン
がズレたり反射光の光軸がシフトしたりした場合を考慮
して、TE検出用センサを反射光ファーフィールドパター
ン内で０次回折光と１次回折光が重複すると想定される
２領域内に位置させてあるため、TE検出用光センサの信
号をプッシュプル法で処理することにより常にTE成分の
みを検出することが可能になる。即ち、TE信号に直流オ
フセットが生じることを防止できる。
【００１３】
【実施例】以下、図１から図３を用いて本発明の実施例
を説明する。図１は第１の実施例に係る光ディスク読取
り装置におけるTS用光検出器の平面図及び信号検出回路
を示す。同図において、1はTS用光検出器であり、その
受光面にはフォトダイオードであるTE検出用光センサc,
dと位置調整用光センサa,bが配設されており、各TE検出
用光センサc,dの出力は誤差増幅器2に、各位置調整用光
センサa,bの出力は誤差増幅器3に接続されている。ま
た、図１において、X-X方向は光ディスク平面との光学
的関係でトラック横断方向を、Y-Y方向はトラック方向
を示す。
を説明する。図１は第１の実施例に係る光ディスク読取
り装置におけるTS用光検出器の平面図及び信号検出回路
を示す。同図において、1はTS用光検出器であり、その
受光面にはフォトダイオードであるTE検出用光センサc,
dと位置調整用光センサa,bが配設されており、各TE検出
用光センサc,dの出力は誤差増幅器2に、各位置調整用光
センサa,bの出力は誤差増幅器3に接続されている。ま
た、図１において、X-X方向は光ディスク平面との光学
的関係でトラック横断方向を、Y-Y方向はトラック方向
を示す。
【００１４】このTS用光検出器1において、各光センサ
c,d,a,bの配設関係は次のようになっている。先ず、TS
用光検出器1を正規の位置に取付けた状態で対物レンズ
の変位範囲や光ディスクの傾斜範囲を仮定すると、光デ
ィスク読取り装置の光学系を解析することにより、その
受光面上には前記の範囲での変位や傾斜があったとして
も光ディスクからの反射光ファーフィールドパターン内
で０次回折光と１次回折光が重複しているような２領域
S1,S2が想定できるが、各TE検出用光センサc,dはそれぞ
れ前記の２領域S1,S2内に配設されている。尚、図１に
おいて、4及び5,6はそれぞれ０次回折光及び１次回折光
のパターンを示す。
c,d,a,bの配設関係は次のようになっている。先ず、TS
用光検出器1を正規の位置に取付けた状態で対物レンズ
の変位範囲や光ディスクの傾斜範囲を仮定すると、光デ
ィスク読取り装置の光学系を解析することにより、その
受光面上には前記の範囲での変位や傾斜があったとして
も光ディスクからの反射光ファーフィールドパターン内
で０次回折光と１次回折光が重複しているような２領域
S1,S2が想定できるが、各TE検出用光センサc,dはそれぞ
れ前記の２領域S1,S2内に配設されている。尚、図１に
おいて、4及び5,6はそれぞれ０次回折光及び１次回折光
のパターンを示す。
【００１５】一方、位置調整用光センサa,bは、前記の
各TE検出用光センサc,dの間に構成される領域の中央部
において、各TE検出用光センサc,dの中心を結ぶ線分で
分割された態様で配設されている。
各TE検出用光センサc,dの間に構成される領域の中央部
において、各TE検出用光センサc,dの中心を結ぶ線分で
分割された態様で配設されている。
【００１６】従って、図４に示した光ディスク読取り装
置において、従来のTS用光検出器59の代りに図１のTS用
光検出器1を仮止めし、トラックの存在しない調整用光
ディスクを読取らせた状態で誤差増幅器2,3の各出力が0
VとなるようにTS用光検出器1の位置を調整すると、各TE
検出用光センサc,dの中心を結ぶ線分の中点に反射光フ
ァーフィールドパターンの中心を合致させることがで
き、最高感度でのTE検出ができるようになる。即ち、誤
差増幅器2の出力はX軸方向の調整信号として、また誤差
増幅器3の出力はY軸方向の調整信号として用いることが
でき、調整用光ディスクの反射光ファーフィールドパタ
ーンにおいてはその中心で最大光量となり、且つ周囲の
同心円上では中心から遠ざかるにつれて減衰するような
光量分布状態になっていることから、誤差増幅器2,3の
各出力が0Vとなる位置で最高感度が得られることにな
る。尚、具体的な調整手段としては、誤差増幅器2,3の
出力電圧を電圧計又はオシロスコープ等で計測しなが
ら、位置調整治具を用いてTS用光検出器1の位置を微調
整することになる。
置において、従来のTS用光検出器59の代りに図１のTS用
光検出器1を仮止めし、トラックの存在しない調整用光
ディスクを読取らせた状態で誤差増幅器2,3の各出力が0
VとなるようにTS用光検出器1の位置を調整すると、各TE
検出用光センサc,dの中心を結ぶ線分の中点に反射光フ
ァーフィールドパターンの中心を合致させることがで
き、最高感度でのTE検出ができるようになる。即ち、誤
差増幅器2の出力はX軸方向の調整信号として、また誤差
増幅器3の出力はY軸方向の調整信号として用いることが
でき、調整用光ディスクの反射光ファーフィールドパタ
ーンにおいてはその中心で最大光量となり、且つ周囲の
同心円上では中心から遠ざかるにつれて減衰するような
光量分布状態になっていることから、誤差増幅器2,3の
各出力が0Vとなる位置で最高感度が得られることにな
る。尚、具体的な調整手段としては、誤差増幅器2,3の
出力電圧を電圧計又はオシロスコープ等で計測しなが
ら、位置調整治具を用いてTS用光検出器1の位置を微調
整することになる。
【００１７】前記のようにしてTS用光検出器1の位置調
整が完了すると、その状態でTS用光検出器1を光ピック
アップのアッセンブリ機構に完全固定し、通常の光ディ
スクを読取ることになるが、各TE検出用光センサc,dは
それぞれ各領域S1,S2内に配設されているため、図３に
示すように対物レンズ55が中立位置(N)から左右に変位
した場合(L)(R)においても、各TE検出用光センサc,dは
常に反射光ファーフィールドパターン内における０次回
折光と１次回折光が重複している位置に存在することに
なり、誤差増幅器2からは常に直流オフセットが存在し
ないTE信号を得られる。これは、光ディスク56が図９の
ように傾斜した場合についても同様であり、直流オフセ
ットのないTE信号による正確なトラッキング制御を可能
にする。
整が完了すると、その状態でTS用光検出器1を光ピック
アップのアッセンブリ機構に完全固定し、通常の光ディ
スクを読取ることになるが、各TE検出用光センサc,dは
それぞれ各領域S1,S2内に配設されているため、図３に
示すように対物レンズ55が中立位置(N)から左右に変位
した場合(L)(R)においても、各TE検出用光センサc,dは
常に反射光ファーフィールドパターン内における０次回
折光と１次回折光が重複している位置に存在することに
なり、誤差増幅器2からは常に直流オフセットが存在し
ないTE信号を得られる。これは、光ディスク56が図９の
ように傾斜した場合についても同様であり、直流オフセ
ットのないTE信号による正確なトラッキング制御を可能
にする。
【００１８】次に、図２は第２の実施例に係るTS用光検
出器の平面図及び信号検出回路を示す。同図において、
11はTS用光検出器であり、その受光面にはフォトダイオ
ードであるTE検出用光センサc,dと位置調整用光センサ
e,f,g,hが配設されている。そして、各TE検出用光セン
サc,dの出力は誤差増幅器12に接続されているが、各位
置調整用光センサe,f,g,hの出力については、センサe,f
の出力が加算回路13に、センサg,hの出力が加算回路14
に、センサe,gの出力が加算回路15に、センサf,hの出力
が加算回路16に接続されており、更に加算回路13,14の
出力が誤差増幅器17に、加算回路15,16の出力が誤差増
幅器18に接続された回路構成を有している。
出器の平面図及び信号検出回路を示す。同図において、
11はTS用光検出器であり、その受光面にはフォトダイオ
ードであるTE検出用光センサc,dと位置調整用光センサ
e,f,g,hが配設されている。そして、各TE検出用光セン
サc,dの出力は誤差増幅器12に接続されているが、各位
置調整用光センサe,f,g,hの出力については、センサe,f
の出力が加算回路13に、センサg,hの出力が加算回路14
に、センサe,gの出力が加算回路15に、センサf,hの出力
が加算回路16に接続されており、更に加算回路13,14の
出力が誤差増幅器17に、加算回路15,16の出力が誤差増
幅器18に接続された回路構成を有している。
【００１９】また、このTS用光検出器11における各光セ
ンサc,d,e,f,g,hの配設関係は、TE検出用光センサc,dに
ついては前記の実施例１の場合と同様であるが、位置調
整用光センサe,f,g,hについては、TE検出用光センサc,d
の中心を結ぶ線分とその線分の中点において直交する線
分で４分割された領域に配設されている。
ンサc,d,e,f,g,hの配設関係は、TE検出用光センサc,dに
ついては前記の実施例１の場合と同様であるが、位置調
整用光センサe,f,g,hについては、TE検出用光センサc,d
の中心を結ぶ線分とその線分の中点において直交する線
分で４分割された領域に配設されている。
【００２０】この実施例においては、TS用光検出器11の
最高感度位置への調整を位置調整用光センサe,f,g,hの
みで行い、実施例１のようにTE検出用光センサc,dを用
いない。即ち、前記の実施例１と同様にTS用光検出器11
を仮止めした状態で、各位置調整用光センサe,f,g,hの
出力をVe,Vf,Vg,Vhとすると、誤差増幅器17からはX軸方
向の調整信号としてVx＝(Ve＋Vf)−(Vg＋Vh)が、誤差増
幅器18からはY軸方向の調整信号としてVy＝(Ve＋Vg)−
(Vf＋Vh)が得られるが、これらの調整信号Vx,Vyが双方
とも0になるようにTS用光検出器11の位置を調整する。
そして、調整用光ディスクの反射光ファーフィールドパ
ターンが前記のような対称性を有した光量分布を呈する
ことから、Vx＝Vy＝0の状態において、各TE検出用光セ
ンサc,dの中心を結ぶ線分の中点に反射光ファーフィー
ルドパターンの中心を合致させることができ、その位置
でTS用光検出器11を固定することにより最高感度でのTE
検出が可能になる。尚、この実施例ではTS用光検出器11
に４分割PDを用いていることになるが、原理的には３分
割以上のPDを用いれば前記の調整を行うことが可能であ
る。
最高感度位置への調整を位置調整用光センサe,f,g,hの
みで行い、実施例１のようにTE検出用光センサc,dを用
いない。即ち、前記の実施例１と同様にTS用光検出器11
を仮止めした状態で、各位置調整用光センサe,f,g,hの
出力をVe,Vf,Vg,Vhとすると、誤差増幅器17からはX軸方
向の調整信号としてVx＝(Ve＋Vf)−(Vg＋Vh)が、誤差増
幅器18からはY軸方向の調整信号としてVy＝(Ve＋Vg)−
(Vf＋Vh)が得られるが、これらの調整信号Vx,Vyが双方
とも0になるようにTS用光検出器11の位置を調整する。
そして、調整用光ディスクの反射光ファーフィールドパ
ターンが前記のような対称性を有した光量分布を呈する
ことから、Vx＝Vy＝0の状態において、各TE検出用光セ
ンサc,dの中心を結ぶ線分の中点に反射光ファーフィー
ルドパターンの中心を合致させることができ、その位置
でTS用光検出器11を固定することにより最高感度でのTE
検出が可能になる。尚、この実施例ではTS用光検出器11
に４分割PDを用いていることになるが、原理的には３分
割以上のPDを用いれば前記の調整を行うことが可能であ
る。
【００２１】また、この実施例において通常の光ディス
ク56を読取った場合にも、各TE検出用光センサc,dはそ
れぞれ対物レンズ55の変位や光ディスク56の傾斜を考慮
して０次回折光と１次回折光が重複する領域S1,S2内に
配設されているため、常に直流オフセットの存在しない
TE信号を検出できることになる。
ク56を読取った場合にも、各TE検出用光センサc,dはそ
れぞれ対物レンズ55の変位や光ディスク56の傾斜を考慮
して０次回折光と１次回折光が重複する領域S1,S2内に
配設されているため、常に直流オフセットの存在しない
TE信号を検出できることになる。
【００２２】
【発明の効果】本発明の光ディスク読取り装置における
トラッキング誤差検出方式は、以上の構成を有している
ことにより、プッシュプル方式によるTE信号検出感度を
最高に設定するためのTS用光検出器の位置調整を容易す
ると共に、TE検出用センサを結像光学系と誤差検出光学
系の間で光軸の不一致が生じた場合にも光ディスクから
の反射光ファーフィールドパターン内で０次回折光と１
次回折光が重複すると想定される２領域内に設けている
ことにより、対物レンズの変位や光ディスクの傾斜が生
じてもTE信号に直流オフセットが発生することを防止で
き、光ピックアップに対する正確なトラッキング制御を
可能にする。
トラッキング誤差検出方式は、以上の構成を有している
ことにより、プッシュプル方式によるTE信号検出感度を
最高に設定するためのTS用光検出器の位置調整を容易す
ると共に、TE検出用センサを結像光学系と誤差検出光学
系の間で光軸の不一致が生じた場合にも光ディスクから
の反射光ファーフィールドパターン内で０次回折光と１
次回折光が重複すると想定される２領域内に設けている
ことにより、対物レンズの変位や光ディスクの傾斜が生
じてもTE信号に直流オフセットが発生することを防止で
き、光ピックアップに対する正確なトラッキング制御を
可能にする。
【図１】本発明の光ディスク読取り装置におけるトラッ
キング誤差検出方式に係る第１の実施例に対応したTS用
光検出器の平面図及び信号検出回路である。
キング誤差検出方式に係る第１の実施例に対応したTS用
光検出器の平面図及び信号検出回路である。
【図２】第２の実施例に対応したTS用光検出器の平面図
及び信号検出回路である。
及び信号検出回路である。
【図３】対物レンズが変位した場合にTS用光検出器の受
光面に構成される反射光ファーフィールドパターンとTE
信号検出用光センサの位置関係を示す図である。
光面に構成される反射光ファーフィールドパターンとTE
信号検出用光センサの位置関係を示す図である。
【図４】TE信号の検出にプッシュプル方式を適用した場
合の光ディスク読取り装置の光学的構成を示す図であ
る。
合の光ディスク読取り装置の光学的構成を示す図であ
る。
【図５】プッシュプル方式によるTE信号検出原理を示す
図である。
図である。
【図６】プッシュプル方式によるTE信号検出原理を示す
図である。
図である。
【図７】光ピックアップの移動に対応したTE信号の変化
(直流オフセットの発生がない状態)を示すグラフであ
る。
(直流オフセットの発生がない状態)を示すグラフであ
る。
【図８】対物レンズが変位した場合におけるTS用光検出
器の受光面に構成される反射光ファーフィールドパター
ンの変化の態様を示す図である。
器の受光面に構成される反射光ファーフィールドパター
ンの変化の態様を示す図である。
【図９】光ディスクが傾斜した場合におけるTS用光検出
器の受光面に構成される反射光ファーフィールドパター
ンの変化の態様を示す図である。
器の受光面に構成される反射光ファーフィールドパター
ンの変化の態様を示す図である。
【図１０】光ピックアップの移動に対応したTE信号の変
化(直流オフセット発生状態)を示すグラフである。
化(直流オフセット発生状態)を示すグラフである。
1,11…TS用光検出器、2,3,12,17,18…誤差増幅器、4…
０次回折光パターン、5,6…１次回折光パターン、13,1
4,15,16…加算回路、a,b,e,f,g,h…位置調整用光セン
サ、c,d…TE検出用光センサ、S1,S2…０次回折光と１次
回折光が常時重複する領域。
０次回折光パターン、5,6…１次回折光パターン、13,1
4,15,16…加算回路、a,b,e,f,g,h…位置調整用光セン
サ、c,d…TE検出用光センサ、S1,S2…０次回折光と１次
回折光が常時重複する領域。
Claims (2)
- 【請求項１】 プッシュプル方式によりトラッキング誤
差信号を検出する光ディスク読取り装置において、トラ
ッキングサーボ用光検出器の受光面に対して、結像光学
系と誤差検出光学系の間で光軸の不一致が生じた場合に
も光ディスクからの反射光ファーフィールドパターン内
で０次回折光と１次回折光が重複すると想定される２領
域内にそれぞれトラッキング誤差検出用光センサを配設
すると共に、前記の各光センサ間の中央領域にそれらの
光センサの中心を結ぶ線分で分割された２個の位置検出
用光センサを配設しておき、トラッキング誤差検出用光
センサと位置検出用光センサの各光量検出信号を参照し
て前記の線分の中点を反射光ファーフィールドパターン
の中心に合致させるべくトラッキングサーボ用光検出器
の位置を調整固定し、トラッキング誤差検出用光センサ
の各光量検出信号を用いてトラッキング誤差を検出する
ことを特徴とした光ディスク読取り装置におけるトラッ
キング誤差検出方式。 - 【請求項２】 プッシュプル方式によりトラッキング誤
差信号を検出する光ディスク読取り装置において、トラ
ッキングサーボ用光検出器の受光面に対して、結像光学
系と誤差検出光学系の間で光軸の不一致が生じた場合に
も光ディスクからの反射光ファーフィールドパターン内
で０次回折光と１次回折光が重複すると想定される２領
域内にそれぞれトラッキング誤差検出用光センサを配設
すると共に、前記の各光センサ間の中央領域に３分割以
上に多分割された位置検出用光センサを配設しておき、
各位置検出用光センサの光量検出信号を参照して各トラ
ッキング誤差検出用光センサの中心を結ぶ線分の中点を
反射光ファーフィールドパターンの中心に合致させるべ
くトラッキングサーボ用光検出器の位置を調整固定し、
トラッキング誤差検出用光センサの各光量検出信号を用
いてトラッキング誤差を検出することを特徴とした光デ
ィスク読取り装置におけるトラッキング誤差検出方式。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3183443A JPH056564A (ja) | 1991-06-28 | 1991-06-28 | 光デイスク読取り装置におけるトラツキング誤差検出方式 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3183443A JPH056564A (ja) | 1991-06-28 | 1991-06-28 | 光デイスク読取り装置におけるトラツキング誤差検出方式 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH056564A true JPH056564A (ja) | 1993-01-14 |
Family
ID=16135861
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP3183443A Pending JPH056564A (ja) | 1991-06-28 | 1991-06-28 | 光デイスク読取り装置におけるトラツキング誤差検出方式 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH056564A (ja) |
Cited By (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| DE4317190A1 (de) * | 1993-05-22 | 1994-11-24 | Thomson Brandt Gmbh | Fehlerratenverringerung |
| FR2722905A1 (fr) * | 1994-07-20 | 1996-01-26 | Nec Corp | Procede et appareil pour detecter un signal d'erreur de suivi de piste pour un disque optique |
| US6996311B1 (en) | 2002-11-07 | 2006-02-07 | Pentax Corporation | Optical communication device |
| US7050677B2 (en) | 2002-11-05 | 2006-05-23 | Pentax Corporation | Optical fiber and method for producing the same |
| US7252634B2 (en) | 2002-11-05 | 2007-08-07 | Pentax Corporation | Confocal probe having scanning mirrors mounted to a transparent substrate in an optical path of the probe |
| US10163595B2 (en) | 2013-12-12 | 2018-12-25 | Valeo Electrical Systems Korea Ltd. | Gasket, magnetic switch of starter comprising same, and starter provided with magnetic switch |
-
1991
- 1991-06-28 JP JP3183443A patent/JPH056564A/ja active Pending
Cited By (8)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| DE4317190A1 (de) * | 1993-05-22 | 1994-11-24 | Thomson Brandt Gmbh | Fehlerratenverringerung |
| DE4317190B4 (de) * | 1993-05-22 | 2005-12-22 | Deutsche Thomson-Brandt Gmbh | Fehlerratenverringerung |
| FR2722905A1 (fr) * | 1994-07-20 | 1996-01-26 | Nec Corp | Procede et appareil pour detecter un signal d'erreur de suivi de piste pour un disque optique |
| US5612936A (en) * | 1994-07-20 | 1997-03-18 | Nec Corporation | Method and apparatus for detecting tracking error signal for optical disk using pairs of photosensors |
| US7050677B2 (en) | 2002-11-05 | 2006-05-23 | Pentax Corporation | Optical fiber and method for producing the same |
| US7252634B2 (en) | 2002-11-05 | 2007-08-07 | Pentax Corporation | Confocal probe having scanning mirrors mounted to a transparent substrate in an optical path of the probe |
| US6996311B1 (en) | 2002-11-07 | 2006-02-07 | Pentax Corporation | Optical communication device |
| US10163595B2 (en) | 2013-12-12 | 2018-12-25 | Valeo Electrical Systems Korea Ltd. | Gasket, magnetic switch of starter comprising same, and starter provided with magnetic switch |
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