JPH0563832B2 - - Google Patents
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- JPH0563832B2 JPH0563832B2 JP19142888A JP19142888A JPH0563832B2 JP H0563832 B2 JPH0563832 B2 JP H0563832B2 JP 19142888 A JP19142888 A JP 19142888A JP 19142888 A JP19142888 A JP 19142888A JP H0563832 B2 JPH0563832 B2 JP H0563832B2
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Landscapes
- Preparing Plates And Mask In Photomechanical Process (AREA)
- Image Analysis (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
<産業上の利用分野>
本発明は、写真画像などの被処理原画における
所望の画像領域(特定画像領域)に対する抜きマ
スク(トリミングマスクとも称される)を作成す
る際に用いる画像輪郭データの作成方法に関す
る。
所望の画像領域(特定画像領域)に対する抜きマ
スク(トリミングマスクとも称される)を作成す
る際に用いる画像輪郭データの作成方法に関す
る。
<従来の技術>
一般に、商品カタログ等を印刷する場合、印刷
原画としての商品写真は通常必要な商品画像部の
周囲に背景が撮影されているが、印刷物としては
その背景部を消去して商品部分のみを表示するこ
とが多い。抜きマスクは、このような場合に用い
られるもので、電子的な画像処理では、例えば次
のようにして作成される。
原画としての商品写真は通常必要な商品画像部の
周囲に背景が撮影されているが、印刷物としては
その背景部を消去して商品部分のみを表示するこ
とが多い。抜きマスクは、このような場合に用い
られるもので、電子的な画像処理では、例えば次
のようにして作成される。
まず必要な画像領域の輪郭線のベクトルデータ
または2値データを作成し、次に輪郭線の内部領
域(この領域のデータを以下、画データと記す)
または外部領域(この領域のデータを以下、非画
データと記す)のいずれか一方を“H”レベルに
し、他方を“L”レベルにした抜きマスクパター
ンデータを作成し、抜きマスクパターンデータに
基づいて被処理原画のうちの所望画像領域のみを
抽出して複製画像を得る。
または2値データを作成し、次に輪郭線の内部領
域(この領域のデータを以下、画データと記す)
または外部領域(この領域のデータを以下、非画
データと記す)のいずれか一方を“H”レベルに
し、他方を“L”レベルにした抜きマスクパター
ンデータを作成し、抜きマスクパターンデータに
基づいて被処理原画のうちの所望画像領域のみを
抽出して複製画像を得る。
この抜きマスクパターンデータ作成の基になる
輪郭データを作成する方法の一つに、特定画像の
輪郭線の画像側(以下、単に内側とも記す)の濃
度レベルと不要画像側(以下、単に背景側または
外側とも記す)の濃度レベルとの差を利用するも
のがある(特公昭63−5745号公報(発明の名称
「抜きマスク版の作成方法」)参照)。
輪郭データを作成する方法の一つに、特定画像の
輪郭線の画像側(以下、単に内側とも記す)の濃
度レベルと不要画像側(以下、単に背景側または
外側とも記す)の濃度レベルとの差を利用するも
のがある(特公昭63−5745号公報(発明の名称
「抜きマスク版の作成方法」)参照)。
その方法は、CRTモニタに表示された原画像
のうちの抽出すべき特定画像の輪郭線を含む小領
域を円形や矩形等の部分画像区画枠(以下、ノズ
ルと記す)で輪郭線に沿つて順次に指定し、個々
の指定位置ごとにノズル内の各画素の濃度レベル
と適宜設定される基準濃度レベルとを比較し、例
えば、画素濃度レベルが基準濃度レベル以上の画
素部位については、これを“H”とし、画素濃度
レベルが基準濃度レベル未満の画素部位について
は、これを“L”として2値化することによつ
て、その“H”、“L”の変化点を結んだ線の座標
データや画素列データを特定画像の輪郭データと
して得るものである。
のうちの抽出すべき特定画像の輪郭線を含む小領
域を円形や矩形等の部分画像区画枠(以下、ノズ
ルと記す)で輪郭線に沿つて順次に指定し、個々
の指定位置ごとにノズル内の各画素の濃度レベル
と適宜設定される基準濃度レベルとを比較し、例
えば、画素濃度レベルが基準濃度レベル以上の画
素部位については、これを“H”とし、画素濃度
レベルが基準濃度レベル未満の画素部位について
は、これを“L”として2値化することによつ
て、その“H”、“L”の変化点を結んだ線の座標
データや画素列データを特定画像の輪郭データと
して得るものである。
この場合、ノズルの移動に伴い、特定画像の濃
度レベルと背景画像の濃度レベルのいずれか一方
または両方が変化するので、オペレータがいちい
ち基準濃度レベルの設定を変更する必要があり、
この操作は大変に煩わしいだけでなく、どのレベ
ルまで変更すべきかの判断がむずかしい。さら
に、特定画像濃度レベルと背景画像濃度レベルと
の差が特に小さい領域において、的確に検出でき
ない場合がある。
度レベルと背景画像の濃度レベルのいずれか一方
または両方が変化するので、オペレータがいちい
ち基準濃度レベルの設定を変更する必要があり、
この操作は大変に煩わしいだけでなく、どのレベ
ルまで変更すべきかの判断がむずかしい。さら
に、特定画像濃度レベルと背景画像濃度レベルと
の差が特に小さい領域において、的確に検出でき
ない場合がある。
そこで、このような不都合を解消する画像輪郭
データ作成方法として、ノズル内の各画素ごとに
微分処理を施して微分値(いわば、濃度勾配値)
を得て、その微分値と適当な基準値との比較に基
づいて各画素の微分値を2値化し、その2値デー
タにより輪郭データを作成する方法が提案されて
いる。
データ作成方法として、ノズル内の各画素ごとに
微分処理を施して微分値(いわば、濃度勾配値)
を得て、その微分値と適当な基準値との比較に基
づいて各画素の微分値を2値化し、その2値デー
タにより輪郭データを作成する方法が提案されて
いる。
この微分−2値化方法によれば、特定画像濃度
レベルと背景画像濃度レベルとの差が小さくて
も、輪郭部ではそれらの微分値は大き値となるの
で、輪郭データの検出能力が向上する。
レベルと背景画像濃度レベルとの差が小さくて
も、輪郭部ではそれらの微分値は大き値となるの
で、輪郭データの検出能力が向上する。
なお、この明細書では、「濃度」という用語を、
狭義の光学的濃度値のみでなく、マンセルバリユ
ーや原画読取り装置の出力信号レベル、それに、
網点画像記録における網点面積率など、光学的濃
度値に応じた量一般を指す用語として使用する。
狭義の光学的濃度値のみでなく、マンセルバリユ
ーや原画読取り装置の出力信号レベル、それに、
網点画像記録における網点面積率など、光学的濃
度値に応じた量一般を指す用語として使用する。
<発明が解決しようとする課題>
しかしながら、この微分−2値化方法において
は、画素間の濃度変化部が全て対象データとなる
ので、2値化して得られる輪郭線(以下これを微
分輪郭線と記す)のデータODのパターンは、通
常、第8図に示すようにある線幅をもつ輪郭とし
て検出され、さらにその輪郭線上の濃度変化の少
ない部分では、ピンホールPHや切れ部が発生す
ることが多い。
は、画素間の濃度変化部が全て対象データとなる
ので、2値化して得られる輪郭線(以下これを微
分輪郭線と記す)のデータODのパターンは、通
常、第8図に示すようにある線幅をもつ輪郭とし
て検出され、さらにその輪郭線上の濃度変化の少
ない部分では、ピンホールPHや切れ部が発生す
ることが多い。
このようなデータから慣用される心線化技法
(パターンの中心線を求めるデータ処理方法で、
詳細は「多面的画像処理とそのソフトウエア・シ
スムに関する研究」電子技術総合研究所研究報告
第835号;第3章第25頁〜第64頁;田村秀行;昭
和59年2月発行を参照されたい)により、その中
心線を輪郭線として求めると、ピンホールPHの
部分で第8図のCLのように枝分かれした輪郭線
となる。
(パターンの中心線を求めるデータ処理方法で、
詳細は「多面的画像処理とそのソフトウエア・シ
スムに関する研究」電子技術総合研究所研究報告
第835号;第3章第25頁〜第64頁;田村秀行;昭
和59年2月発行を参照されたい)により、その中
心線を輪郭線として求めると、ピンホールPHの
部分で第8図のCLのように枝分かれした輪郭線
となる。
このため、心線化の前にそれらを見つけ、手作
業でピンホールPHを1つずつ埋めたり切れ部を
つないだりする必要があるが、それらが小面積で
あり、また、その箇所が多いほど多大な手間を要
する。
業でピンホールPHを1つずつ埋めたり切れ部を
つないだりする必要があるが、それらが小面積で
あり、また、その箇所が多いほど多大な手間を要
する。
また、微分輪郭線は、所望の輪郭線に対して背
景側よりも内側に太く検出される傾向があるが、
通常は、手工的方法による場合でも、背景画像と
特定画像との境界よりもわずかに内側に寄つた部
分を最終的な輪郭線とした方が好ましいとされて
おり、慣用的な心線化処理では、このような輪郭
線のデータを作成するのは容易でない。
景側よりも内側に太く検出される傾向があるが、
通常は、手工的方法による場合でも、背景画像と
特定画像との境界よりもわずかに内側に寄つた部
分を最終的な輪郭線とした方が好ましいとされて
おり、慣用的な心線化処理では、このような輪郭
線のデータを作成するのは容易でない。
本発明の目的の一つは、ピンホールのない特定
画像の輪郭線を有するデータを作成し、そのデー
タから通常のデータ処理により、適正な位置に所
望の特定輪郭データを簡単に作成することであ
る。
画像の輪郭線を有するデータを作成し、そのデー
タから通常のデータ処理により、適正な位置に所
望の特定輪郭データを簡単に作成することであ
る。
本発明の他の目的は、輪郭データ作成の過程を
パターンとして見やすくするとともに、目視で発
見しにくいとされている微分輪郭線上の切れ部を
容易に見つけ出すことができるようにすることで
ある。
パターンとして見やすくするとともに、目視で発
見しにくいとされている微分輪郭線上の切れ部を
容易に見つけ出すことができるようにすることで
ある。
<課題を解決するための手段>
本発明の主たる画像輪郭データ作成方法は、原
画像の中の特定画像の輪郭域を全周にわたつて微
分−2値化して輪郭データ(微分輪郭データ)を
作成し、該輪郭データのパターンをその内部に含
むリング状パターンのデータを作成し、 該リング状パターンのデータを微分輪郭データ
で部分クリア(非画データとすることを意味し、
画面上での塗り消し処理に当たる)して該リング
状パターンの領域を2分割し、その2つの領域の
うち不要画像領域側のデータをクリアし、 その結果残つたデータと微分輪郭データとの合
成データを作成し、該合成データに基づいて所要
の輪郭データを作成する画像輪郭データ作成方
法、 および、その画像輪郭データ作成方法におい
て、少なくとも原画像、微分輪郭データの画像、
および得られたリング状パターンデータとを位置
整合させながら、所望の順序で重ねて表示する輪
郭データ作成過程の表示方法である。
画像の中の特定画像の輪郭域を全周にわたつて微
分−2値化して輪郭データ(微分輪郭データ)を
作成し、該輪郭データのパターンをその内部に含
むリング状パターンのデータを作成し、 該リング状パターンのデータを微分輪郭データ
で部分クリア(非画データとすることを意味し、
画面上での塗り消し処理に当たる)して該リング
状パターンの領域を2分割し、その2つの領域の
うち不要画像領域側のデータをクリアし、 その結果残つたデータと微分輪郭データとの合
成データを作成し、該合成データに基づいて所要
の輪郭データを作成する画像輪郭データ作成方
法、 および、その画像輪郭データ作成方法におい
て、少なくとも原画像、微分輪郭データの画像、
および得られたリング状パターンデータとを位置
整合させながら、所望の順序で重ねて表示する輪
郭データ作成過程の表示方法である。
<作用>
主となる発明においては、通常、こうして得ら
れる微分輪郭データは、ある幅のある輪郭線の画
素列データとなり、さらにはその輪郭線上にピン
ホールを有する画素列データとなる場合がある
が、一方、リング状のパターンのデータはそのパ
ターン内部がピンホールのない画データとして得
られる。
れる微分輪郭データは、ある幅のある輪郭線の画
素列データとなり、さらにはその輪郭線上にピン
ホールを有する画素列データとなる場合がある
が、一方、リング状のパターンのデータはそのパ
ターン内部がピンホールのない画データとして得
られる。
このリング状パターンのデータを前記の微分輪
郭データでクリアすると、リング状パターンは2
つのリング状パターンに分割されるが、その不要
画像側のみをさらにクリアすると、残つたデータ
は画像領域側のリング状パターンに微分輪郭デー
タのパターン内部のピンホールが画データとして
加わつたデータとなる。
郭データでクリアすると、リング状パターンは2
つのリング状パターンに分割されるが、その不要
画像側のみをさらにクリアすると、残つたデータ
は画像領域側のリング状パターンに微分輪郭デー
タのパターン内部のピンホールが画データとして
加わつたデータとなる。
したがつて、このデータと微分輪郭データとの
合成データは、パターンとしてはその内部が全域
にわたつて密なピンホールのない画データとな
り、しかも、まさにそのパターンの外側の輪郭線
は特定画像の輪郭線にほぼ対応するので、その後
は慣用される種々の方法で加工することにより所
望の輪郭データが容易に得られる。
合成データは、パターンとしてはその内部が全域
にわたつて密なピンホールのない画データとな
り、しかも、まさにそのパターンの外側の輪郭線
は特定画像の輪郭線にほぼ対応するので、その後
は慣用される種々の方法で加工することにより所
望の輪郭データが容易に得られる。
もう一つの発明は、上記の発明において、元の
画像と、微分輪郭データの画像とリング状パター
ンの画像とが整合して重ね表示されるので、輪郭
データが作成される過程を画像として目視確認し
やすくするとともに、切れ部を検出しやすくす
る。
画像と、微分輪郭データの画像とリング状パター
ンの画像とが整合して重ね表示されるので、輪郭
データが作成される過程を画像として目視確認し
やすくするとともに、切れ部を検出しやすくす
る。
<実施例>
以下、本発明の実施例を図面に基づいて詳細に
説明する。
説明する。
第1図は本発明の画像輪郭データ作成方法を実
施するシステムの概略構成を示す。
施するシステムの概略構成を示す。
図において、1は、システム全体を制御するた
めのマイクロコンピユータにおけるCPU、2は、
実行プログラムを格納したROM(またはRAM)、
3は、後述する微分値テーブル3a、微分値度数
分布(ヒストグラム)テーブル3b、その他のデ
ータテーブルを有するRAMである。
めのマイクロコンピユータにおけるCPU、2は、
実行プログラムを格納したROM(またはRAM)、
3は、後述する微分値テーブル3a、微分値度数
分布(ヒストグラム)テーブル3b、その他のデ
ータテーブルを有するRAMである。
4は、被処理原画を光電走査して得られたカラ
ー画像のデータを、Y(イエロー)、M(マゼン
タ)、C(シアン)、K(墨)の4色に色分解して格
納しているデイスクメモリ、5は、CPU1の制
御によつてバスライン6を介してデイスクメモリ
4から読み出されたYMCKの各色分解版の画像
データをストアするイメージメモリであつて、Y
メモリ5Y,Mメモリ5M,Cメモリ5C,Kメモ
リ5Kの4つからなる。
ー画像のデータを、Y(イエロー)、M(マゼン
タ)、C(シアン)、K(墨)の4色に色分解して格
納しているデイスクメモリ、5は、CPU1の制
御によつてバスライン6を介してデイスクメモリ
4から読み出されたYMCKの各色分解版の画像
データをストアするイメージメモリであつて、Y
メモリ5Y,Mメモリ5M,Cメモリ5C,Kメモ
リ5Kの4つからなる。
7は、後述のように、本発明のデータ処理の各
種のパターンのデータをストアするためのマスク
メモリであつて、第1マスクメモリ71、第2マ
スクメモリ72、第3マスクメモリ73および第4
マスクメモリ74から構成されている。
種のパターンのデータをストアするためのマスク
メモリであつて、第1マスクメモリ71、第2マ
スクメモリ72、第3マスクメモリ73および第4
マスクメモリ74から構成されている。
8は、D/A変換機能、イメージメモリ5から
読み出したYMCKの各色分解版の画像データを
R(赤)、G(緑)、B(青)の信号に変換する機能、
デジタイザ10でのスタイラスペン11の指示位
置に合わせてターゲツト(カーソル)またはター
ゲツトとともにそのターゲツトを中心とするノズ
ルNの形状を表示する機能、変倍機能、画像回転
機能、コントラスト調整機能、マスクメモリ7内
のデータをパターンとして着色して表示する機
能、さらには同データを半透明で表示する機能、
表示優先順序の変更機能、イメージメモリ5内の
データとマスクメモリ7内のデータとを重畳して
表示する機能等を有する画像表示調整装置であ
る。
読み出したYMCKの各色分解版の画像データを
R(赤)、G(緑)、B(青)の信号に変換する機能、
デジタイザ10でのスタイラスペン11の指示位
置に合わせてターゲツト(カーソル)またはター
ゲツトとともにそのターゲツトを中心とするノズ
ルNの形状を表示する機能、変倍機能、画像回転
機能、コントラスト調整機能、マスクメモリ7内
のデータをパターンとして着色して表示する機
能、さらには同データを半透明で表示する機能、
表示優先順序の変更機能、イメージメモリ5内の
データとマスクメモリ7内のデータとを重畳して
表示する機能等を有する画像表示調整装置であ
る。
なお、本明細書においては、「データを表示す
る」は特に注釈しない限り「そのデータを画像と
して表示する」ことを意味するものとする。
る」は特に注釈しない限り「そのデータを画像と
して表示する」ことを意味するものとする。
9は、CRTデイスプレイ等のカラー画像表示
装置(以下、CRTと略記する)である。
装置(以下、CRTと略記する)である。
10は、スタイラスペン11による座標点指定
により、イメージメモリ5のアドレスと対応した
座標点データを入力するX−Yデジタイザであ
り、CRT9の画面においてターゲツトTG(ノズ
ルNの中心)の座標を指示する。スタイラスペン
11は、それに付属のスイツチを押すことによつ
て、微分2値化の指示や塗り消しの開始点の指示
や修正の指示をする。
により、イメージメモリ5のアドレスと対応した
座標点データを入力するX−Yデジタイザであ
り、CRT9の画面においてターゲツトTG(ノズ
ルNの中心)の座標を指示する。スタイラスペン
11は、それに付属のスイツチを押すことによつ
て、微分2値化の指示や塗り消しの開始点の指示
や修正の指示をする。
12は、データ入力や、その他の指示をするた
めのキーボード、13は、ノズルNの大きさを、
円形ノズルであればその半径、矩形ノズルであれ
ばその辺の長さ等で設定しあるいは変更したり、
塗り消し処理の際の塗り消し速度を設定あるいは
変更するための第1エンコーダ、14は、後述す
るp−タイル比を設定あるいは変更する第2エン
コーダで、共にその設定部(可変抵抗器等)は各
エンコーダに含め図示していない。
めのキーボード、13は、ノズルNの大きさを、
円形ノズルであればその半径、矩形ノズルであれ
ばその辺の長さ等で設定しあるいは変更したり、
塗り消し処理の際の塗り消し速度を設定あるいは
変更するための第1エンコーダ、14は、後述す
るp−タイル比を設定あるいは変更する第2エン
コーダで、共にその設定部(可変抵抗器等)は各
エンコーダに含め図示していない。
次に、この実施例の動作を第2図のフローチヤ
ートを中心にし、第3図〜第5図の動作模式図を
参照しつつ説明する。
ートを中心にし、第3図〜第5図の動作模式図を
参照しつつ説明する。
第2図Aは全体のフローを概略的に示したもの
で、第2図B,CおよびDは各々、第2図Aのス
テツプS5,S6およびS9のサブルーチンの動作の
詳細を示す。
で、第2図B,CおよびDは各々、第2図Aのス
テツプS5,S6およびS9のサブルーチンの動作の
詳細を示す。
まず、抽出すべき特定画像を含む画像の
YMCKの各色分解版の画像データをデイスクメ
モリ4から読み出し、イメージメモリ5の対応す
るYメモリ5Y,Mメモリ5M,Cメモリ5C,K
メモリ5Kにそれぞれ格納する。画像がモノクロ
画像である場合には、4つのメモリのうちのいず
れか一つを選択してその選択されたメモリに画像
データを格納する(ステツプS1)。
YMCKの各色分解版の画像データをデイスクメ
モリ4から読み出し、イメージメモリ5の対応す
るYメモリ5Y,Mメモリ5M,Cメモリ5C,K
メモリ5Kにそれぞれ格納する。画像がモノクロ
画像である場合には、4つのメモリのうちのいず
れか一つを選択してその選択されたメモリに画像
データを格納する(ステツプS1)。
そして、第1〜第4マスクメモリ71〜74のそ
れぞれを全面クリアする(ステツプS2)。
れぞれを全面クリアする(ステツプS2)。
なお、この後は作業が終了するまで優先度(後
述する)の高い順に、第1マスクメモリ71、第
3マスクメモリ73、第2マスクメモリ72、イメ
ージメモリ5の順に各々の内部の後述する微分輪
郭データ、第2リング状パターンデータ、ワーク
プレーン内データ、原画像データを順次に位置整
合させながら、繰り返し(例えば、1/30秒程度毎
に)、重畳してCRT9に表示される(ステツプ
S3)。
述する)の高い順に、第1マスクメモリ71、第
3マスクメモリ73、第2マスクメモリ72、イメ
ージメモリ5の順に各々の内部の後述する微分輪
郭データ、第2リング状パターンデータ、ワーク
プレーン内データ、原画像データを順次に位置整
合させながら、繰り返し(例えば、1/30秒程度毎
に)、重畳してCRT9に表示される(ステツプ
S3)。
なお、マスクメモリ71,73,72のデータは、
半透明で表示される。この表示によりデータ処理
過程を画像として確認しながら操作することがで
きる。優先度は、必ずしもこの順でなくてよい。
半透明で表示される。この表示によりデータ処理
過程を画像として確認しながら操作することがで
きる。優先度は、必ずしもこの順でなくてよい。
次に、オペレータは、YMCKの色分解版のう
ち輪郭線の明確なものから順に(詳細は後述す
る)、幾つの色分解版を採用するかの採用版数T
の初期値を入力する。CPU1は、入力された採
用版数Tの初期値をRAM3に格納する(ステツ
プS4)。
ち輪郭線の明確なものから順に(詳細は後述す
る)、幾つの色分解版を採用するかの採用版数T
の初期値を入力する。CPU1は、入力された採
用版数Tの初期値をRAM3に格納する(ステツ
プS4)。
微分輪郭データとリング状パターンデータの作成
第3図は、微分輪郭データおよびリング状パタ
ーンのデータを作成する過程を、パターンにより
模式的に表したものである。図中、Iは、原画
(特定画像に対する処理過程を明確にするため、
特に図示しない)を表し、また、N1はターゲツ
トTG(×マークで示す)をその中心として設定
された円形の第1ノズルで、N2はN1より半径が
1〜数画素以上大きい円形の第2ノズルである。
lは輪郭線を表す。
ーンのデータを作成する過程を、パターンにより
模式的に表したものである。図中、Iは、原画
(特定画像に対する処理過程を明確にするため、
特に図示しない)を表し、また、N1はターゲツ
トTG(×マークで示す)をその中心として設定
された円形の第1ノズルで、N2はN1より半径が
1〜数画素以上大きい円形の第2ノズルである。
lは輪郭線を表す。
次いで、ステツプS5における微分輪郭データ
ODおよび第1、第2のリング状パターンデータ
RP1,RP2を作成するサブルーチンの動作を実行
する。この動作は、第2図Bに示すとおりであ
る。
ODおよび第1、第2のリング状パターンデータ
RP1,RP2を作成するサブルーチンの動作を実行
する。この動作は、第2図Bに示すとおりであ
る。
ステツプS501ではデジタイザ10と第1エン
コーダ13より座標点データとノズルN1の大き
さを読み取り、RAM3に格納するとともに、
CRT9上の対応位置にノズルN1およびN2の形状
を表示する。
コーダ13より座標点データとノズルN1の大き
さを読み取り、RAM3に格納するとともに、
CRT9上の対応位置にノズルN1およびN2の形状
を表示する。
なお、ステツプS502〜S504は、データ処理終
了の表示や修正の指示に係わるフローで、以後の
説明の中で説明する。
了の表示や修正の指示に係わるフローで、以後の
説明の中で説明する。
オペレータは、CRT9の画面を見ながら、ス
タイラスペン11を操作し、表示されている輪郭
線lにターゲツトTGが接近するようにスタイラ
スペン11を操作する。
タイラスペン11を操作し、表示されている輪郭
線lにターゲツトTGが接近するようにスタイラ
スペン11を操作する。
ステツプS505でスタイラスペン11のスイツ
チが押されると、イメージメモリ5から第1ノズ
ルN1領域に対応したYMCKの各色分解版の画像
データを読み出して各々に微分処理を施し、その
結果得られた微分値を微分値テーブル3aに格納
するとともに、微分値のヒストグラムテーブル3
bを作成し、さらに、ばらつき(分布度合い)を
表す統計量を算出する(ステツプS506)。
チが押されると、イメージメモリ5から第1ノズ
ルN1領域に対応したYMCKの各色分解版の画像
データを読み出して各々に微分処理を施し、その
結果得られた微分値を微分値テーブル3aに格納
するとともに、微分値のヒストグラムテーブル3
bを作成し、さらに、ばらつき(分布度合い)を
表す統計量を算出する(ステツプS506)。
なお、上述した微分処理は、「画像の情報処理」
(第268頁〜第277頁;榎本肇著;コロナ社)に詳
述されているように、例えば、3×3微分オペレ
ータでは3×3画素の中心画素と隣接する周囲の
画素間の濃度データの差分により、中心画素の微
分値が演算される。
(第268頁〜第277頁;榎本肇著;コロナ社)に詳
述されているように、例えば、3×3微分オペレ
ータでは3×3画素の中心画素と隣接する周囲の
画素間の濃度データの差分により、中心画素の微
分値が演算される。
この微分値は濃度勾配の大きな画素では大きく
なるので輪郭線lに対しては大きく、その両側域
においてはそれより小さな値となる。この微分値
テーブル3aを適切な基準値で2値化すれば輪郭
データに相応したデータが得られる。
なるので輪郭線lに対しては大きく、その両側域
においてはそれより小さな値となる。この微分値
テーブル3aを適切な基準値で2値化すれば輪郭
データに相応したデータが得られる。
第6図は上述のY,M,C,Kの各ヒストグラ
ムの一例である。ばらつきを表す統計量として
は、分散や残差の絶対値和等があり、それぞれ例
えば次式に基づいて算出される。
ムの一例である。ばらつきを表す統計量として
は、分散や残差の絶対値和等があり、それぞれ例
えば次式に基づいて算出される。
分散=1/no
〓i=1
Ei 2−(1/no
〓i=1
Ei)2
残差の絶対値和=o
〓i=1
|Ei−|
ただし、ここで、=1/no
〓i=1
Eiとする。
この統計量は、明確な輪郭線をもつ色分解版で
は大きな値となり、第6図A〜Dで、各統計量を
SY,SM,SC,SKとすると、この例では、SC>SY,
SM>SKとなつている。
は大きな値となり、第6図A〜Dで、各統計量を
SY,SM,SC,SKとすると、この例では、SC>SY,
SM>SKとなつている。
各色分解版に対する輪郭線の明確さの判定は、
この統計量SY,SM,SC,SKの大小関係に基づい
て行い、その大きさの順に色分解版を採用する。
この場合では統計量の大きい方からC版、Y版、
M版を採用することになる。
この統計量SY,SM,SC,SKの大小関係に基づい
て行い、その大きさの順に色分解版を採用する。
この場合では統計量の大きい方からC版、Y版、
M版を採用することになる。
次いで、キーボード12から採用版数Tの変更
の指示があれば、RAM3に格納する採用版数T
を更新する。変更がなければ、RAM3内にすで
に格納されている採用版数Tを保持する(ステツ
プS507)。
の指示があれば、RAM3に格納する採用版数T
を更新する。変更がなければ、RAM3内にすで
に格納されている採用版数Tを保持する(ステツ
プS507)。
そして、第2エンコーダ14からp−タイル比
を読み込みRAM3に格納する(ステツプS508)。
そして、統計量の最も大きいC版を選択する(ス
テツプS509)。p−タイル比は、ヒストグラムに
おける基準値以上の面積と残りの面積との比(ま
たは各面積の全体に占める割合)を意味し、実際
のデータ処理としては面積の代わりに画素数が用
いられる。そして、その比はオペレータの判断
で、第2エンコーダ14で適当な値に設定され
る。こうして、2値化のための基準値(Eth)は
ヒストグラムをこのp−タイル比で二分する値と
して求められる(ステツプS510)。
を読み込みRAM3に格納する(ステツプS508)。
そして、統計量の最も大きいC版を選択する(ス
テツプS509)。p−タイル比は、ヒストグラムに
おける基準値以上の面積と残りの面積との比(ま
たは各面積の全体に占める割合)を意味し、実際
のデータ処理としては面積の代わりに画素数が用
いられる。そして、その比はオペレータの判断
で、第2エンコーダ14で適当な値に設定され
る。こうして、2値化のための基準値(Eth)は
ヒストグラムをこのp−タイル比で二分する値と
して求められる(ステツプS510)。
第7図は、微分値のヒストグラムから、p−タ
イル比=80%とした場合のEthを決定している図
を表す。
イル比=80%とした場合のEthを決定している図
を表す。
この基準値Ethで微分値テーブル3a内の各画
素の微分値を2値化し、得られた2値化データと
第1マスクメモリ71内のデータとの論理和
(OR)をとつて、その結果を再び第1マスクメ
モリ71内に書き込む(ステツプS511)。
素の微分値を2値化し、得られた2値化データと
第1マスクメモリ71内のデータとの論理和
(OR)をとつて、その結果を再び第1マスクメ
モリ71内に書き込む(ステツプS511)。
こうして色分解版の総数が採用版数Tに達する
まで次に大きな統計量の色分解版を選択し(ステ
ツプS512〜S513)、前述同様の処理を行う。これ
は、採用版数Tを1以上とすることにより、微分
輪郭データODの連続性を一層向上させるためで
ある。当然のことながら、輪郭線が明確で条件の
良い画像の場合は、T=1であつてもよい。
まで次に大きな統計量の色分解版を選択し(ステ
ツプS512〜S513)、前述同様の処理を行う。これ
は、採用版数Tを1以上とすることにより、微分
輪郭データODの連続性を一層向上させるためで
ある。当然のことながら、輪郭線が明確で条件の
良い画像の場合は、T=1であつてもよい。
次に、第1ノズルN1の領域内のすべての画素
データを“H”にしたパターンと第4マスクメモ
リ74の内容との論理和をとり、その結果を第4
マスクメモリ74に格納する(ステツプS514)。
データを“H”にしたパターンと第4マスクメモ
リ74の内容との論理和をとり、その結果を第4
マスクメモリ74に格納する(ステツプS514)。
続いて、第2ノズルN2の領域内のすべての画
素データを“H”にしたパターンと、第2マスク
メモリ72の内容との論理和をとり、その結果を
第2マスクメモリ72に格納する(ステツプ
S515)。
素データを“H”にしたパターンと、第2マスク
メモリ72の内容との論理和をとり、その結果を
第2マスクメモリ72に格納する(ステツプ
S515)。
次いで、ステツプS501に戻り、デジタイザ1
0におけるスタイラスペン11の操作によつて、
ノズルN1,N2を前のノズルN1,N2に一部重な
るように輪郭線に沿つて移動し、ステツプS505
でスタイラスペン11が押されたら前述同様の動
作を実行する。これによつて、第1マスクメモリ
71には、前の第1ノズルN1での微分輪郭データ
ODとその次の第1ノズルN1での微分輪郭データ
ODとが、それらのデータの論理和をとることに
より合成されて一連のデータとなつて格納され、
CRT9に表示される。
0におけるスタイラスペン11の操作によつて、
ノズルN1,N2を前のノズルN1,N2に一部重な
るように輪郭線に沿つて移動し、ステツプS505
でスタイラスペン11が押されたら前述同様の動
作を実行する。これによつて、第1マスクメモリ
71には、前の第1ノズルN1での微分輪郭データ
ODとその次の第1ノズルN1での微分輪郭データ
ODとが、それらのデータの論理和をとることに
より合成されて一連のデータとなつて格納され、
CRT9に表示される。
以下、第3図のBに示すように、ノズルN1,
N2を輪郭線lに沿つてその一部が重畳する状態
で順次移動させながら同様の処理を実行し、最後
には1番目のノズルN1,N2と重畳接続する。
N2を輪郭線lに沿つてその一部が重畳する状態
で順次移動させながら同様の処理を実行し、最後
には1番目のノズルN1,N2と重畳接続する。
以上によつて輪郭線lに沿つて一巡した処理が
完了し、第1マスクメモリ71には第3図Cのよ
うに数画素の幅をもつた微分輪郭データODが格
納され、第4マスクメモリ74には第3図Dのよ
うに閉ループの第1リング状パターンデータRP1
が格納され、第2マスクメモリ72には第3図E
のように閉ループの第2リング状パターンデータ
RP2が格納される。なお、ワークプレーンである
第3マスクメモリ73は全面クリアの状態を保つ
ている。
完了し、第1マスクメモリ71には第3図Cのよ
うに数画素の幅をもつた微分輪郭データODが格
納され、第4マスクメモリ74には第3図Dのよ
うに閉ループの第1リング状パターンデータRP1
が格納され、第2マスクメモリ72には第3図E
のように閉ループの第2リング状パターンデータ
RP2が格納される。なお、ワークプレーンである
第3マスクメモリ73は全面クリアの状態を保つ
ている。
そして、オペレータのキーボード12からの処
理終了の指示により、ステツプS504からメイン
ルーチンに戻る。この処理終了の指示は、デジタ
イザ10から行うように構成してもよい。
理終了の指示により、ステツプS504からメイン
ルーチンに戻る。この処理終了の指示は、デジタ
イザ10から行うように構成してもよい。
なお、操作ミスか、原画像の状態により、所望
の微分輪郭データが得られないような場合は、ス
テツプS502で修正を指示して手操作により修正
することができる(ステツプS503)。
の微分輪郭データが得られないような場合は、ス
テツプS502で修正を指示して手操作により修正
することができる(ステツプS503)。
また、ノズルN1,N2の移動の仕方としては、
必ずしも輪郭線lに沿つて連続的に移動させる必
要はなく、任意に移動させたり、同じ箇所に繰り
返して処理してもよく、最終的に輪郭線lの全周
が処理されればよい。
必ずしも輪郭線lに沿つて連続的に移動させる必
要はなく、任意に移動させたり、同じ箇所に繰り
返して処理してもよく、最終的に輪郭線lの全周
が処理されればよい。
合成データの作成
第4図Aは第3図Cと同一の微分輪郭データ
ODのパターンで、以後の説明のために示したも
のである。第2マスクメモリ72に格納されてい
る第2リング状パターンデータRP2を、第4図B
に示すようにワークプレーンである第3マスクメ
モリ73に転送する(ステツプS61)。第1マスク
メモリ71に格納されている微分輪郭データODを
もつて、第4図Cに示すように第3マスクメモリ
73内の第2リング状パターンデータRP2を部分
クリアして、外側領域データRP20UTと内側領域
データRP21Nに2分割し、その結果を第3マスク
メモリ73に先のデータと入れ替えて格納する
(ステツプS62)。は微分輪郭データODが抜け
た空データ部分である。
ODのパターンで、以後の説明のために示したも
のである。第2マスクメモリ72に格納されてい
る第2リング状パターンデータRP2を、第4図B
に示すようにワークプレーンである第3マスクメ
モリ73に転送する(ステツプS61)。第1マスク
メモリ71に格納されている微分輪郭データODを
もつて、第4図Cに示すように第3マスクメモリ
73内の第2リング状パターンデータRP2を部分
クリアして、外側領域データRP20UTと内側領域
データRP21Nに2分割し、その結果を第3マスク
メモリ73に先のデータと入れ替えて格納する
(ステツプS62)。は微分輪郭データODが抜け
た空データ部分である。
ここに、第4図A′〜E′は同図A〜Eの各々の
微分輪郭データODの一部を拡大した図である。
微分輪郭データODの一部を拡大した図である。
第4図A′の微分輪郭データODには、問題点で
説明したピンホールPH(非画データ)が示され
ており、同図C′のにはピンホールPHの反転
データとしての(画データ)が含まれてい
る。
説明したピンホールPH(非画データ)が示され
ており、同図C′のにはピンホールPHの反転
データとしての(画データ)が含まれてい
る。
次に、オペレータはCRT画面を見ながら、第
4図Cに示すように、第2リング状パターンデー
タの外側領域の任意の位置にターゲツトTGを移
動させスタイラスペン11のスイツチを押すと
(ステツプS63〜S64)、その点を開始点として、
その外側領域データRP20UTの内部を塗り消して
非画データ(=“L”)とする(第4図D)。
4図Cに示すように、第2リング状パターンデー
タの外側領域の任意の位置にターゲツトTGを移
動させスタイラスペン11のスイツチを押すと
(ステツプS63〜S64)、その点を開始点として、
その外側領域データRP20UTの内部を塗り消して
非画データ(=“L”)とする(第4図D)。
この塗り消し処理の基になる領域塗りつぶし方
法としては、近年のコンピユータグラフイツクス
で慣用される「如意棒法」、「ふちどり法」あるい
は「ベーシツクフイル法」等の方法を用いること
ができる。
法としては、近年のコンピユータグラフイツクス
で慣用される「如意棒法」、「ふちどり法」あるい
は「ベーシツクフイル法」等の方法を用いること
ができる。
塗り消し処理ルーチン内には、一定のエリアを
塗り消しするたびに第1エンコーダ13より塗り
消し速度データを読み取り、このデータに比例し
て一定時間ウエイトするウエイトルーチンが組み
込まれており、塗り消し速度を調節することがで
きる。
塗り消しするたびに第1エンコーダ13より塗り
消し速度データを読み取り、このデータに比例し
て一定時間ウエイトするウエイトルーチンが組み
込まれており、塗り消し速度を調節することがで
きる。
こうして、その塗り消し処理の結果残された塗
り残しデータNDは、第3マスクメモリ73に格
納されるが、そのパターンは第4図D′のように
なり、RP21Nと前述の残留ピンホールが含ま
れている(以上ステツプS65)。
り残しデータNDは、第3マスクメモリ73に格
納されるが、そのパターンは第4図D′のように
なり、RP21Nと前述の残留ピンホールが含ま
れている(以上ステツプS65)。
塗り消し処理が完了したステツプS67では、第
3マスクメモリ73内のデータRP21Nと、第1マ
スクメモリ71内の微分輪郭データODとの論理和
をとつて合成データGDとし、これを第3マスク
メモリ73に格納し、メインルーチンへ戻る。
3マスクメモリ73内のデータRP21Nと、第1マ
スクメモリ71内の微分輪郭データODとの論理和
をとつて合成データGDとし、これを第3マスク
メモリ73に格納し、メインルーチンへ戻る。
この合成データGDにおいては、微分輪郭デー
タOD上に存在したピンホールPHPH(非画デー
タ)は、すべて画データとなつて、第4図E′に示
すように消える。そして、外側の輪郭線は、微分
処理による若干の太りはあるが、輪郭線lにほぼ
相応したものとなる。
タOD上に存在したピンホールPHPH(非画デー
タ)は、すべて画データとなつて、第4図E′に示
すように消える。そして、外側の輪郭線は、微分
処理による若干の太りはあるが、輪郭線lにほぼ
相応したものとなる。
なお、第2ノズルN2は第1ノズルN1に対して
1画素ないし2画素以上外側へ大きく設定してあ
るので、微分輪郭データODが第1ノズルN1の境
界部で検出された場合でも塗り消し開始点の指示
が1回で済むようになつている。
1画素ないし2画素以上外側へ大きく設定してあ
るので、微分輪郭データODが第1ノズルN1の境
界部で検出された場合でも塗り消し開始点の指示
が1回で済むようになつている。
この塗り消し処理においては、もし、微分輪郭
データOD上に切れ部(非画データ)が存在する
と、データ上では画データとなつて外側領域
データRP20UTと内側領域データRP21Nの画データ
がつながるので、切れ部から内側領域データ
RP21Nにも塗り消し処理が及ぶことになり、画面
の表示状態を通してオペレータに知らせることが
できる。
データOD上に切れ部(非画データ)が存在する
と、データ上では画データとなつて外側領域
データRP20UTと内側領域データRP21Nの画データ
がつながるので、切れ部から内側領域データ
RP21Nにも塗り消し処理が及ぶことになり、画面
の表示状態を通してオペレータに知らせることが
できる。
また、切れ部の位置については、塗り消し処理
速度を第1エンコーダ13により、オペレータが
目視で切れ部を検出できる程度に設定することに
より、画面の表示状態を通じてオペレータに知ら
せることができる。オペレータは切れ部の存在と
その位置を確認した時点でキーボード12または
スタイラスペン11の操作により、塗り消しを中
止しメインルーチンへ戻る(ステツプS66)。
速度を第1エンコーダ13により、オペレータが
目視で切れ部を検出できる程度に設定することに
より、画面の表示状態を通じてオペレータに知ら
せることができる。オペレータは切れ部の存在と
その位置を確認した時点でキーボード12または
スタイラスペン11の操作により、塗り消しを中
止しメインルーチンへ戻る(ステツプS66)。
切れ部が存在するときは、ステツプS8に進ん
で第3マスクメモリ73を全面クリアした後、ス
テツプS5に戻り、その部分の微分輪郭データOD
を検出し直すか、ステツプS503で手操作により
修正を行う。
で第3マスクメモリ73を全面クリアした後、ス
テツプS5に戻り、その部分の微分輪郭データOD
を検出し直すか、ステツプS503で手操作により
修正を行う。
輪郭データの作成
次に、第3マスクメモリ73内の合成データGD
に対してそのパターンを数画素分細らせる細らせ
処理で細らせデータSDを得て、これを第3マス
クメモリ73に格納する(ステツプS91)。公知の
8連結細線化処理あるいは4連結細線化処理を数
サイクル繰り返して行うが、合成データGDの内
側からの細らせは行わず、外側(背景側)からの
み細らせるようになつている。
に対してそのパターンを数画素分細らせる細らせ
処理で細らせデータSDを得て、これを第3マス
クメモリ73に格納する(ステツプS91)。公知の
8連結細線化処理あるいは4連結細線化処理を数
サイクル繰り返して行うが、合成データGDの内
側からの細らせは行わず、外側(背景側)からの
み細らせるようになつている。
細らせ処理における内側、外側の判定は細線化
処理の過程において、第4マスクメモリ74内の
第1リング状パターンの対応する画素が“H”に
なつている合成データGDの輪郭画素のみを細ら
せの対象とすることにより行う。すなわち、合成
データGDの内側の境界画素は、第2ノズルN2を
第1ノズルN1より1ないし2画素以上大きくし
てあるため、必ず、第1リング状パターンの
“L”の部分に対応することを利用している。
処理の過程において、第4マスクメモリ74内の
第1リング状パターンの対応する画素が“H”に
なつている合成データGDの輪郭画素のみを細ら
せの対象とすることにより行う。すなわち、合成
データGDの内側の境界画素は、第2ノズルN2を
第1ノズルN1より1ないし2画素以上大きくし
てあるため、必ず、第1リング状パターンの
“L”の部分に対応することを利用している。
合成データGDに対する数画素分の細らせ処理
は、微分輪郭データODが数画素の幅をもつて検
出されることを補正するためと、課題の項でのべ
たように、輪郭線lよりわずかに特定画像側に寄
つた所望の位置に輪郭データを得るためである。
は、微分輪郭データODが数画素の幅をもつて検
出されることを補正するためと、課題の項でのべ
たように、輪郭線lよりわずかに特定画像側に寄
つた所望の位置に輪郭データを得るためである。
次に、ステツプS92で、第3マスクメモリ73内
の細らせデータSDに対して、公知の2値図形に
対する8連結または4連結境界線検出処理を施し
て、細らせデータSDの外側の境界線データSD1
と内側の境界線データSD2を取り出し、それらを
前の細らせデータSDと入れ替えて第3マスクメ
モリ73に格納する(第5図A)。
の細らせデータSDに対して、公知の2値図形に
対する8連結または4連結境界線検出処理を施し
て、細らせデータSDの外側の境界線データSD1
と内側の境界線データSD2を取り出し、それらを
前の細らせデータSDと入れ替えて第3マスクメ
モリ73に格納する(第5図A)。
そして、ステツプS93で、第2マスクメモリ72
の第2リング状パターンデータRP2に対して、ス
テツプS92と同じく2値図形境界線検出処理を施
して、第2リング状パターンデータRP2の外側境
界線データXD1と、内側境界線データXD2とを取
り出し、それらを前の第2リング状パターンデー
タRP2と入れ替えて第2マスクメモリ72に格納
する(第5図B)。
の第2リング状パターンデータRP2に対して、ス
テツプS92と同じく2値図形境界線検出処理を施
して、第2リング状パターンデータRP2の外側境
界線データXD1と、内側境界線データXD2とを取
り出し、それらを前の第2リング状パターンデー
タRP2と入れ替えて第2マスクメモリ72に格納
する(第5図B)。
次のステツプS94で、第3マスクメモリ73内の
境界線データSD1およびSD2を第2マスクメモリ
72内の境界線データXD1およびXD2によつて部
分クリアする。
境界線データSD1およびSD2を第2マスクメモリ
72内の境界線データXD1およびXD2によつて部
分クリアする。
このとき、第3マスクメモリ73の内側境界線
データSD2と第2マスクメモリ72の内側境界線
データXD2とは共に第2リング状パターンの内側
の境界線そのもので全く同一のものなので、第3
マスクメモリ73の内側境界線データSD2は完全
にクリアされ、外側境界線データSD1のみが第3
マスクメモリ73内に残ることになる。この外側
境界線データSD1が求める最終の輪郭データ
ODENDとなる(第5図C)。
データSD2と第2マスクメモリ72の内側境界線
データXD2とは共に第2リング状パターンの内側
の境界線そのもので全く同一のものなので、第3
マスクメモリ73の内側境界線データSD2は完全
にクリアされ、外側境界線データSD1のみが第3
マスクメモリ73内に残ることになる。この外側
境界線データSD1が求める最終の輪郭データ
ODENDとなる(第5図C)。
得られた輪郭データODENDや既述した合成デー
タGDの内側を画データとして塗りつぶし、その
結果得られるデータに基づいてスキヤナ等の走査
記録装置によりフイルム等にフオトマスクを作成
することもできる。
タGDの内側を画データとして塗りつぶし、その
結果得られるデータに基づいてスキヤナ等の走査
記録装置によりフイルム等にフオトマスクを作成
することもできる。
また、ステツプS92〜S94の代わりに、ステツ
プS65において指示された塗り消し開始点を記憶
し、ステツプS91で細らせ処理された第3マスク
メモリ73内の細らせデータSDに対し、この塗り
消し開始点をラスタ走査開始点として公知の「8
ないし4連結ラスタ走査+追跡型輪郭座標抽出
法」を適用して輪郭線座標列データを得ることも
可能である。
プS65において指示された塗り消し開始点を記憶
し、ステツプS91で細らせ処理された第3マスク
メモリ73内の細らせデータSDに対し、この塗り
消し開始点をラスタ走査開始点として公知の「8
ないし4連結ラスタ走査+追跡型輪郭座標抽出
法」を適用して輪郭線座標列データを得ることも
可能である。
「ラスタ走査+追跡型輪郭座標抽出法」は、2
値図形等をある点よりラスタ走査し、最初に画デ
ータとなる画素を輪郭座標列の始点とし、この点
より指定された連結性に従つて輪郭画素を一周り
追跡し、座標列やチエーンコード化する手法であ
り、その結果は、例えば写真製版作業で汎用され
るピールオフフイルムをカツテイングプロツタで
刻線し切り抜きマスクを作成することなどに適し
ている。
値図形等をある点よりラスタ走査し、最初に画デ
ータとなる画素を輪郭座標列の始点とし、この点
より指定された連結性に従つて輪郭画素を一周り
追跡し、座標列やチエーンコード化する手法であ
り、その結果は、例えば写真製版作業で汎用され
るピールオフフイルムをカツテイングプロツタで
刻線し切り抜きマスクを作成することなどに適し
ている。
なお、細らせデータSDに対し、塗り消し開始
点をラスタ走査開始点とする理由は、「ラスタ走
査+追跡型輪郭座標抽出法」において、細らせデ
ータSDの外側境界線データSD1の座標のみを得
るためである。
点をラスタ走査開始点とする理由は、「ラスタ走
査+追跡型輪郭座標抽出法」において、細らせデ
ータSDの外側境界線データSD1の座標のみを得
るためである。
また、本発明では、特定画像の輪郭域を全周に
わたつてノズルでなぞりながら所要の輪郭データ
を得ているが、特定画像の状態によつては、その
全周の一部に慣用技術として記述した濃度差法を
利用または併用し、両方の輪郭データを結合し
て、所要の輪郭データとすることも容易である。
わたつてノズルでなぞりながら所要の輪郭データ
を得ているが、特定画像の状態によつては、その
全周の一部に慣用技術として記述した濃度差法を
利用または併用し、両方の輪郭データを結合し
て、所要の輪郭データとすることも容易である。
<発明の効果>
以上のように、本発明の主となる画像輪郭デー
タ作成方法によれば、得られた合成データはピン
ホールのない輪郭データとして得ることができる
ので、その後は慣用されるデータ処理を行うこと
により、適正な位置において所望の輪郭データを
簡単に作成することができるという効果を奏す
る。
タ作成方法によれば、得られた合成データはピン
ホールのない輪郭データとして得ることができる
ので、その後は慣用されるデータ処理を行うこと
により、適正な位置において所望の輪郭データを
簡単に作成することができるという効果を奏す
る。
また、もう一つの方法によれば、そのデータ処
理過程をパターンとして確認しやすくすることに
より、微分−2値化によつて得られる微分輪郭デ
ータ上では発見しにくかつた輪郭データ上の切れ
部を容易に見つけ出すことができるという効果を
奏する。
理過程をパターンとして確認しやすくすることに
より、微分−2値化によつて得られる微分輪郭デ
ータ上では発見しにくかつた輪郭データ上の切れ
部を容易に見つけ出すことができるという効果を
奏する。
第1図は画像輪郭データ作成方法を実施するシ
ステムの概略構成図、第2図は微分輪郭データ作
成のための動作説明に供するフローチヤート、第
3図から第5図は動作説明図、第6図は各色分解
版のノズル内の微分値のヒストグラムの例を表す
図、第7図はヒストグラムにおけるp−タイル比
およびそれにより求まる基準値を説明する図、第
8図は微分輪郭データの状態説明図である。 I……特定画像、l……輪郭線、OD……微分
輪郭データ、RP1……第1リング状パターンデー
タ、RP2……第2リング状パターンデータ、N1
……第1ノズル、N2……第2ノズル、TG……タ
ーゲツト、CL……心線、……空データ部分、
ND……塗り残しデータ、GD……合成データ、
SD……細らせデータ、RP21N……内側領域デー
タ、RP20UT……外側領域データ、XD1……第2リ
ング状パターンデータの外側境界線データ、
SD2,XD2……細らせデータおよび第2リング状
パターンデータの内側境界線データ、SD1……細
らせデータの外側境界線データ、ODEND……最終
の輪郭データ、PH……ピンホール、……PH
の反転データ。
ステムの概略構成図、第2図は微分輪郭データ作
成のための動作説明に供するフローチヤート、第
3図から第5図は動作説明図、第6図は各色分解
版のノズル内の微分値のヒストグラムの例を表す
図、第7図はヒストグラムにおけるp−タイル比
およびそれにより求まる基準値を説明する図、第
8図は微分輪郭データの状態説明図である。 I……特定画像、l……輪郭線、OD……微分
輪郭データ、RP1……第1リング状パターンデー
タ、RP2……第2リング状パターンデータ、N1
……第1ノズル、N2……第2ノズル、TG……タ
ーゲツト、CL……心線、……空データ部分、
ND……塗り残しデータ、GD……合成データ、
SD……細らせデータ、RP21N……内側領域デー
タ、RP20UT……外側領域データ、XD1……第2リ
ング状パターンデータの外側境界線データ、
SD2,XD2……細らせデータおよび第2リング状
パターンデータの内側境界線データ、SD1……細
らせデータの外側境界線データ、ODEND……最終
の輪郭データ、PH……ピンホール、……PH
の反転データ。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1 原画像の中の特定画像の輪郭域を全周にわた
つて微分−2値化して輪郭データ(微分輪郭デー
タ)を作成し、該輪郭データのパターンをその内
部に含むリング状パターンのデータを作成し、 該リング状パターンのデータを微分輪郭データ
で部分クリアして該リング状パターンの領域を2
分割し、その2つの領域のうち不要画像領域側の
データをクリアし、 その結果残つたデータと微分輪郭データとの合
成データを作成し、該合成データに基づいて所要
の輪郭データを作成することを特徴とする画像輪
郭データ作成方法。 2 請求項1に記載の方法において、 (i) 該合成データのパターンの不要画像領域側か
ら所要画素数の細らせ処理を行つて細らせデー
タを作成し、 (ii) その細らせデータの画像側および不要画像側
の輪郭線上の第1の画素列のデータを作成し、 (iii) 該リング状パターンのデータの画像側および
不要画像側の輪郭線上の第2の画素列のデータ
を作成し、 (iv) 第2のデータで第1のデータをクリアし、 (v) 第1のデータの残つたデータを輪郭データと
する 画像輪郭データ作成方法。 3 請求項1に記載の方法において、 (i) 該合成データのパターンの不要画像領域側か
ら所要画素数の細らせ処理を行つて細らせデー
タを作成し、 (ii) 得られた細らせデータの不要画像領域側の輪
郭線の画素列を追跡して輪郭線の座標列データ
とする 画像輪郭データ作成方法。 4 請求項1に記載の方法において、少なくとも
原画像、微分輪郭線画像、およびリング状パター
ンデータとを位置整合させながら、所望の順序で
重ねて表示する輪郭データ作成過程の表示方法。
Priority Applications (4)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP63191428A JPH0240777A (ja) | 1988-07-29 | 1988-07-29 | 画像輸郭データ作成方法及びその作成過程の表示方法 |
DE68918886T DE68918886T2 (de) | 1988-04-08 | 1989-04-07 | Verfahren zur Gewinnung der Aussenlinie eines Objektes in einem Bild. |
EP89106143A EP0336430B1 (en) | 1988-04-08 | 1989-04-07 | Method of extracting contour of subject image from original |
US07/335,866 US5091967A (en) | 1988-04-08 | 1989-04-10 | Method of extracting contour of a subject image from an original |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP63191428A JPH0240777A (ja) | 1988-07-29 | 1988-07-29 | 画像輸郭データ作成方法及びその作成過程の表示方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH0240777A JPH0240777A (ja) | 1990-02-09 |
JPH0563832B2 true JPH0563832B2 (ja) | 1993-09-13 |
Family
ID=16274450
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP63191428A Granted JPH0240777A (ja) | 1988-04-08 | 1988-07-29 | 画像輸郭データ作成方法及びその作成過程の表示方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH0240777A (ja) |
Families Citing this family (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP4597509B2 (ja) * | 1999-08-26 | 2010-12-15 | 株式会社ナノジオメトリ研究所 | パターン検査装置およびパターン検査方法 |
JP4714989B2 (ja) * | 2000-12-28 | 2011-07-06 | 凸版印刷株式会社 | マスクパターン形状計測装置及びマスクパターン形状計測方法並びに記録媒体 |
-
1988
- 1988-07-29 JP JP63191428A patent/JPH0240777A/ja active Granted
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPH0240777A (ja) | 1990-02-09 |
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