JPH0550058B2 - - Google Patents

Description

【発明の詳細な説明】 ［発明の技術分野］ この発明は、例えばCD（光学式コンパクトデイ
スク）方式のDAD（デジタルオーデイオデイス
ク）用に好適する光学式デイスク再生装置に係
り、特にデイスクの傷や外部振動に応じてトラツ
キングサーボを適切な特性に制御し、これによつ
て安定したデイスク再生を行なえるように改良し
たものに関する。

［発明の技術的背景］ 従来より、光学式デイスク再生装置にあつて
は、CD方式のものを例にとつてみると、デイス
クに記録された情報信号を明確に読み出すため
に、光学式ピツクアツプから照射される光ビーム
がデイスクのピツト列からずれることなく、つま
りトラツキングエラーを生じることなく正確にピ
ツト列上をトレースするように、トラツキングエ
ラー制御（トラツキングサーボ）が施されてい
る。ところが、このトラツキングサーボ利得を通
常再生状態にしたままではデイスクの傷や外部振
動があつたとき光ビームのトラツキングジヤンプ
が起る恐れがある。このため、CD再生装置では
第５図に示すデイスク傷検出回路あるいは第７図
に示す振動検出回路を設け、その検出出力に応じ
てトラツキングサーボ利得を制御することにより
トラツクジヤンプを起こさないようになされてい
る。

まず、第５図のデイスク傷検出回路は、図示し
ない光学式ピツクアツプにより得られたRF信号
（ピツトの有無に対応）をコンデンサ１１でAC結
合し、その振幅及びオフセツト電圧を波形整形回
路１２で一定した後、EFM信号生成回路１３に
供給してEFM信号（デジタル信号）に変換する
と共に、RF信号をエンベロープ検波回路１４に
供給してそのエンベロープ信号RFEを取出し、
信号比較回路１５で所定レベル（スライスレベル
Ｖ１）以下になつたことを検出してその区間に傷
検出パルスＰ１を発生させるようにしたものであ
る。このパルスＰ１が発生するときはデイスクの
傷によりRF信号のエンベロープRFEに大きな変
化が現われたときであるから、このときは傷によ
りトラツクジヤンプを起こさないように上記トラ
ツキングサーボの利得を下げた方がよい。したが
つて、CD再生装置では、増幅器１６で増幅した
トラツキングエラー信号TEを位相補償回路１７
を介して図示しないトラツキングアクチユエータ
に供給することによつて対物レンズを移動制御す
るトラツキングサーボループに対し、上記増幅器
１６の出力端に抵抗１８，１９及びアナログスイ
ツチ２０よりなる利得調整回路を設け、上記デイ
スク傷検出回路の傷検出パルスＰ１発生時にアナ
ログスイツチ２０をオンさせ、増幅器１６の出力
を減衰するようになされている。

すなわち、通常再生状態ではスイツチ２０をオ
フ状態に設定して振動等によりトラツクヤンプを
起こさないようにトラツキングサーボの利得を上
げておく。ここで、デイスクに傷があり、第６図
ａに示すように傷によつてRF信号がなくなると、
同図ｂに示すように傷部分の再生時ＴにRF信号
のエンベロープレベルRFEがスライスレベルＶ
１を下回るので、同図ｃに示すような傷検出パル
スＰ１が得られる。このとき、トラツキングエラ
ー信号TEは同図ｄに示すように大きく変化する
が、上記傷検出パルスＰ１によつてスイツチ２０
がオンとなり、トラツキングアクチユエータへの
供給量は減衰するようになる。これによつて、傷
部分の再生時でもトラツクジヤンプを起こし難く
なる。

また、第７図の振動検出回路は信号比較回路２
１でトラツキングエラー信号TEが両極性の基準
レベル（スライスレベル）±Ｖ２を越えるとき振
動検出パルスＰ２を発生させるようにしたもので
ある。このパルスＰ２が発生するときは振動によ
りトラツキングエラーが大きくなるときであるか
ら、このときは振動によりトラツクジヤンプを起
こさないように上記トラツキングサーボの利得を
上げた方がよい。したがつて、CD再生装置では、
前記増幅器１６に抵抗２２，２３及びアナログス
イツチ２４よりなる利得調整回路を設け、上記信
号比較回路２１の出力パルスＰ２によりモノマル
チバイブレータ２５を起動させ、このバイブレー
タ２５の出力Ｐ３により上記スイツチ２４をオン
させて増幅器１６の利得を上げるようになされて
いる。

すなわち、通常再生状態ではスイツチ２０をオ
フ状態に設定して傷等によりトラツクジヤンプを
起こさないようにトラツキングサーボの利得を下
げておく。ここで時刻ｔに外部振動があつたとす
ると、第８図ａに示すように振動によつてトラツ
キングエラー信号TEが大きく変化してスライス
レベル＋Ｖ２を越え、同図ｂに示すように振動検
出パルスＰ２が得られる。このため、モノマルチ
バイブレータ２５は出力Ｐ３を同図ｃに示すよう
に光ビームをピツト列上に引込むのに充分な時間
Ｔ２だけＨ（ハイ）レベルに設定してスイツチ２
４をオン状態とし、増幅器１６の利得を増加させ
る。これによつて、振動発生時にはトラツキング
サーボの利得が上がるので、トラツクジヤンプを
起こし難くなる。尚、振動発生時のRF信号は同
図ｄに示すように光ビームのトラツキングエラー
に応じて変動している。

［背景技術の問題点］ しかしながら、上記のようなデイスク傷検出回
路あるいは振動検出回路を用いた光学式デイスク
再生装置では、いずれの検出回路も誤検出する恐
れがあるため、逆にトラツクジヤンプを起こし易
くなつてしまうことがある。つまり、第５図に示
したデイスク傷検出回路では、第８図ｄに示した
ように振動が発生した場合にトラツキングエラー
信号TEばかりでなくRF信号も変動してしまうの
で、このときに誤検出して振動が発生しているに
もかかわらずトラツキングサーボの利得を下げて
しまうことがある。また、第７図に示した振動検
出回路では、第６図ｄに示したようにデイスクに
傷があつた場合にRF信号ばかりでなくトラツキ
ングエラー信号TEも変動してしまうので、この
ときに誤検出して傷部分の再生時であるにもかか
わらずトラツキングサーボの利得を上げてしまう
ことがある。このように、従来の光学式デイスク
再生装置では、デイスク傷検出回路あるいは振動
検出回路によるトラツクジヤンプ防止機構を設け
ていても安定した再生を行なえるとは限らなかつ
た。

［発明の目的］ この発明は上記のような事情を考慮してなされ
たもので、デイスクの傷や外部振動に応じてトラ
ツキングサーボを適切な特性に制御し、これによ
つて安定したデイスク再生を行なうことのできる
光学式デイスク再生装置を提供することを目的と
する。

［発明の概要］ すなわち、この発明に係る光学式デイスク再生
装置は、光学式デイスクに対し、光学式ピツクア
ツプを用いて光ビームを照射しその反射光を受光
して光電変換を行なうことにより前記デイスクに
記録されている情報信号を読み出すもので、前記
光学式ピツクアツプの出力信号に基づいてトラツ
キングエラー信号を生成しこのトラツキングエラ
ー信号に基づいて対物レンズを移動制御すること
により前記光ビームを常にトラツクの中央に照射
させるトラツキングサーボを有するものにおい
て、前記トラツキングエラー信号が所定レベル以
上となつている状態を検出する第１の信号比較手
段と、この第１の信号比較手段の検出出力を該検
出出力がなくなつた後も保持する保持手段と、前
記光学式ピツクアツプの出力信号が所定レベル以
下となつている状態を検出する第２の信号比較手
段と、前記第１の信号比較手段の検出の有無にか
かわらず前記第２の信号比較手段から検出出力が
得られるとき前記トラツキングサーボの利得を保
持するかまたは下げ、前記第２の信号比較手段か
ら検出出力が得られない状態で前記第１の信号比
較手段の検出時から前記保持手段によつて設定さ
れる期間の終了まで前記トラツキングサーボの利
得を上げる利得調整手段とを具備したことを特徴
とするものである。

［発明の実施例］ 以下、第１図乃至第３図を参照してこの発明の
一実施例を詳細に説明する。

第１図は３ビーム方式の光学式ピツクアツプを
用いたCD再生装置にこの発明を適用した場合の
構成を示すもので、図中符号３１は前記ピツト列
の中央に照射するメインビームのデイスク反射光
を光電変換する４分割デイテクタ、３２，３３は
それぞれ前記ピツト列の両側に位置するように照
射する２つのザブビームの反射光を光電変換する
サブデイテクタである。上記４分割デイテクタ３
１の各受光領域Ａ〜Ｄの各出力は共に加算され、
前記RF信号として増幅器３４、コンデンサ３５、
波形整形回路３６を介してEFM信号生成回路３
７に供給され、デジタル信号に変換される。一
方、２つのサブデイテクタ３２，３３の各出力は
減算器３８で減算され、第１のローパスフイルタ
（LPF）３９で電圧信号に変換され、ここにトラ
ツキングエラー信号TEが生成される。このトラ
ツキングエラー信号TEは増幅器４０で増幅され、
位相補償回路４１及び駆動回路４２を介してトラ
ツキングアクチユエータコイル４３に供給され、
図示しない対物レンズの移動制御に供され、ここ
にトラツキングサーボループが構成される。

また、上記ローパスフイルタ３９から出力され
るトラツキングエラー信号TEは第１の信号比較
回路４４に供給される。この信号比較回路４４は
上記トラツキングエラー信号TEと両極性の基準
電圧±Ｖ３とを比較し、トラツキングエラー信号
TEが基準電圧レベル±Ｖ３を越えるときパルス
信号Ｐ４を発生するもので、このパルス信号Ｐ４
はモノマルチバイブレータ４５のトリガ端子（入
力パルスの立上がりで起動させる端子）に供給さ
れる。さらに、上記サブデイテクタ３２，３３の
各出力は加算器４６で加算され、第２のローパス
フイルタ４７で高域のピツト成分が除去された
後、第２の信号比較回路４８に供給される。この
信号比較回路４８は上記第２のローパスフイルタ
４７の出力Ｖ４７と基準電圧Ｖ４とを比較し、フ
イルタ出力Ｖ４７が基準電圧レベルＶ４以上とな
るときパルス信号Ｐ５を発生するもので、このパ
ルス信号Ｐ５は上記モノマルチバイブレータ４５
のリセツト端子（パルス信号を入力している間動
作を禁止させる端子）に供給される。このモノマ
ルチバイブレータ４５はトリガ端子のパルス入力
に応じてＨレベルとなる（リセツト端子のパルス
入力期間を除く）パルス信号Ｐ６を出力するもの
で、このパルス信号Ｐ６はアナログスイツチ４９
の制御端子に供給される。このアナログスイツチ
４９は抵抗５０，５１と共に増幅器４０の利得調
整回路を構成するもので、上記パルス信号Ｐ６が
Ｈレベルであるときオン状態となるものである。

上記のような構成において、以下第２図及び第
３図を参照してその動作について説明する。

第２図はデイスクに傷があつた場合の各信号出
力波形を示すもので、デイスク再生状態でRF信
号が傷により同図ａに示すように時間Ｔだけ欠落
したとすると、上記第１のローパスフイルタ３９
から出力されるトラツキングエラー信号TEは同
図ｂに示すように傷部分の再生時Ｔで大きく変化
し、基準電圧レベル±Ｖ３を越えるようになる。
一方、上記サブデイテクタ３２，３３に照射され
るサブビーム反射光は傷によつて全反射レベルか
ら大きく低下するため、上記第２のローパスフイ
ルタ４７で得られる電圧信号Ｖ４７は同図ｃに示
すように基準電圧レベルＶ４より低下するように
なる。このため、第１及び第２の信号比較回路４
４，４８からは同図ｄ，ｅに示すようなパルス信
号Ｐ４，Ｐ５が出力されるが、パルス信号Ｐ５が
出力されている間はモノマルチバイブレータ４５
は起動されないので、このマルチバイブレータ４
５は同図ｆに示すようにパルス信号Ｐ６を出力し
ない。したがつて、傷部分の再生時にはトラツキ
ングサーボの利得は変化しない。

第３図はデイスク再生時に時刻ｔにおいて振動
が生じた場合の各信号出力波形を示すもので、こ
のときRF信号が振動により同図ａに示すように
変動したとすると、上記第１のローパスフイルタ
３９から出力されるトラツキングエラー信号TE
は同図ｂに示すように振動の与えられた方向に大
きく変化し、基準電圧レベル（ここでは＋Ｖ３）
を越えるようになる。一方、上記サブデイテクタ
３２，３３に照射されるサブビーム反射光は振動
が生じても全反射レベルからほとんど変化しない
ため、上記第２のローパスフイルタ４７で得られ
る電圧信号Ｖ４７は同図ｃに示すように一定であ
り、基準電圧レベルＶ４より低下するようなこと
はない。このため、第１の信号比較回路４４から
は同図ｄに示すようなパルス信号Ｐ４が出力され
るが、第２の信号比較回路４８からはパルス信号
Ｐ５が出力されないので、モノマルチバイブレー
タ４５は時刻ｔに起動して同図ｆに示ようなパル
ス信号Ｐ６を出力する。したがつて、デイスク再
生時に振動が生じた場合にはアナログスイツチ４
９がオンとなつて増幅器４０の利得が上がり、こ
れによつてトラツキングサーボの利得が上がるよ
うになる。

すなわち、この発明では、トラツキングエラー
信号TEはデイスクの傷部分再生時でも外部振動
でも大きく変動するが、サブビーム検出信号の加
算信号であるローパスフイルタ４７の出力Ｖ４７
はデイスクに傷がなければフオーカスサーボがは
ずれないかぎりある一定レベル（全反射レベル）
であり、大きな変動がないことを利用している。
つまり、トラツキングエラー信号TEが大きく変
動したとき信号Ｖ４７が変動していなければ外部
振動が生じたということを検出することができ
る。これを上記第１及び第２の信号比較回路４
４，４８で検出している。すなわち、このCD再
生装置では、トラツキングサーボの利得を、通常
再生状態でデイスクの傷に対してトラツクジヤン
プを起こし難い利得に設定しておき、振動検出時
にモノマルチバイブレータ４５を起動して所定時
間トラツキングサーボの利得を上げて、振動によ
りトラツクジヤンプが起らないようにしている。

尚、上記モノマルチバイブレータ４５の出力パ
ルスＰ６の時間幅は、デイスクのピツト列からメ
インビームのスポツトが振動によつてはずれかか
つたときサーボの利得を上げ、はずれかかつたピ
ツト列に安定に収束するだけに必要である。

したがつて、上記のように構成したCD再生装
置は、デイスクの傷と外部振動とを識別し、トラ
ツキングサーボの特性をそれぞれの場合に適した
特性に切換えることができるので、安定したデイ
スク再生を行なうことができるものである。

尚、上記実施例のようにトラツキングサーボの
利得を通常再生状態でデイスクの傷に対してトラ
ツクジヤンプを起こし難いように下げておかなく
ても、傷の場合はサブビーム反射光による加算信
号のみで検出できるので、第４図に示すようにト
ラツキングサーボループに抵抗５２，５３及びア
ナログスイツチ５４よりなる第２の利得調整回路
を設け、そのスイツチ５４を第２の信号比較回路
４８の出力で切換制御するようにすればループ利
得を下げることができる。

［発明の効果］ 以上詳述したようにこの発明によれば、デイス
クの傷や外部振動に応じてトラツキングサーボを
適切な特性に制御し、これによつて安定したデイ
スク再生を行なうことのできる光学式デイスク再
生装置を提供することができる。

【図面の簡単な説明】

第１図はこの発明に係る光学式デイスク再生装
置の一実施例を示すブロツク回路図、第２図及び
第３図はそれぞれ同実施例の動作を説明するため
の動作説明図、第４図はこの発明に係る他の実施
例を示すブロツク回路図、第５図乃至第８図はそ
れぞれ従来の光学式デイスク再生装置に用いられ
ているトラツクジヤンプ防止機構の構成及び動作
を説明するための図である。 ３１……４分割デイテクタ、３２，３３……サ
ブデイテクタ、３６……波形整形回路、３７……
EFM信号生成回路、３８……減算器、３９，４
７……ローパスフイルタ、４０……増幅器、４１
……位相補償回路、４２……駆動回路、４３……
トラツキングアクチユエータコイル、４４，４８
……信号比較回路、４５……モノマルチバイブレ
ータ、４６……加算器、４９，５４……アナログ
スイツチ、５０〜５３……抵抗、TE……トラツ
キングエラー信号。

Claims (1)

【特許請求の範囲】
1. １ 光学式デイスクに対し、光学式ピツクアツプ
   を用いて光ビームを照射しその反射光を受光して
   光電変換を行なうことにより前記デイスクに記録
   されている情報信号を読み出すもので、前記光学
   式ピツクアツプの出力信号に基づいてトラツキン
   グエラー信号を生成しこのトラツキングエラー信
   号に基づいて対物レンズを移動制御することによ
   り前記光ビームを常にトラツクの中央に照射させ
   るトラツキングサーボを有する光学式デイスク再
   生装置において、前記トラツキングエラー信号が
   所定レベル以上となつている状態を検出する第１
   の信号比較手段と、この第１の信号比較手段の検
   出出力を該検出出力がなくなつた後も保持する保
   持手段と、前記光学式ピツクアツプの出力信号が
   所定レベル以下となつている状態を検出する第２
   の信号比較手段と、前記第１の信号比較手段の検
   出の有無にかかわらず前記第２の信号比較手段か
   ら検出出力が得られるとき前記トラツキングサー
   ボの利得を保持するかまたは下げ、前記第２の信
   号比較手段から検出出力が得られない状態で前記
   第１の信号比較手段の検出時から前記保持手段に
   よつて設定される期間の終了まで前記トラツキン
   グサーボの利得を上げる利得調整手段とを具備し
   たことを特徴とする光学式デイスク再生装置。