JPH0545987Y2 - - Google Patents
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- JPH0545987Y2 JPH0545987Y2 JP5698687U JP5698687U JPH0545987Y2 JP H0545987 Y2 JPH0545987 Y2 JP H0545987Y2 JP 5698687 U JP5698687 U JP 5698687U JP 5698687 U JP5698687 U JP 5698687U JP H0545987 Y2 JPH0545987 Y2 JP H0545987Y2
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- contact
- spring
- outer cylinder
- conductive
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Links
- 239000000523 sample Substances 0.000 claims description 13
- 238000007689 inspection Methods 0.000 description 24
- 238000012360 testing method Methods 0.000 description 23
- 238000003780 insertion Methods 0.000 description 14
- 230000037431 insertion Effects 0.000 description 14
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 4
- 239000000463 material Substances 0.000 description 4
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 238000000034 method Methods 0.000 description 2
- RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N Copper Chemical compound [Cu] RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000004020 conductor Substances 0.000 description 1
- 229910052802 copper Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010949 copper Substances 0.000 description 1
- 230000002950 deficient Effects 0.000 description 1
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 1
- 230000005611 electricity Effects 0.000 description 1
- 238000009434 installation Methods 0.000 description 1
- 239000011810 insulating material Substances 0.000 description 1
- 239000012212 insulator Substances 0.000 description 1
- 230000005405 multipole Effects 0.000 description 1
- 230000002093 peripheral effect Effects 0.000 description 1
- 239000003566 sealing material Substances 0.000 description 1
- 238000011179 visual inspection Methods 0.000 description 1
Landscapes
- Testing Of Short-Circuits, Discontinuities, Leakage, Or Incorrect Line Connections (AREA)
- Tests Of Electronic Circuits (AREA)
- Contacts (AREA)
- Measuring Leads Or Probes (AREA)
Description
【考案の詳細な説明】
(産業上の利用分野)
本考案は、例えばプリント基板回路の動作試験
を行うときに用いられるプリント基板検査治具等
のコンタクトピン等に、スプリング力を利用した
接触圧を印加することによつて、それぞれの上記
コンタクトピンがプリント基板検査治具に確実に
取付けられているか否かを検査させるための接触
圧力可変接点に関するものである。
を行うときに用いられるプリント基板検査治具等
のコンタクトピン等に、スプリング力を利用した
接触圧を印加することによつて、それぞれの上記
コンタクトピンがプリント基板検査治具に確実に
取付けられているか否かを検査させるための接触
圧力可変接点に関するものである。
(従来の技術)
従来、プリント基板回路の動作試験を行うとき
に用いられるプリント基板検査治具は、プリント
基板面の所定のテストポイントに接触させてそれ
ぞれのテストポイントに検査信号を印加するため
の抜差可能なコンタクトピンを備えている。プリ
ント基板検査治具の上記それぞれのコンタクトピ
ンは、前記プリント基板面のテストポイントの配
置位置に対応するプリント基板検査治具の差込穴
に差込まれるもので、被検査プリント基板に応じ
て差込位置が任意に変えられるように構成されて
いる。上記コンタクトピンがプリント基板検査治
具に差込まれたときのコンタクトピンの抜止め防
止手段として、一般にそれぞれのコンタクトピン
にはロツクスプリングが設けられている。上記コ
ンタクトピンのロツクスプリングは、コンタクト
ピンがプリント基板検査治具の差込穴に挿入され
る過程では、差込穴内周面に圧接されるため、コ
ンタクトピンの外径と同一面に圧縮されている
が、コンタクトピンが所定の深さまで差込まれ、
ロツクスプリングが差込穴の外側に位置した瞬間
に、ロツクスプリングは差込穴の直径以上に外側
方向に開き、反挿入方向、即ち、プリント基板面
のテストポイントと接触する方向から力が加えら
れてもコンタクトピンが抜けないようにロツクさ
れる。
に用いられるプリント基板検査治具は、プリント
基板面の所定のテストポイントに接触させてそれ
ぞれのテストポイントに検査信号を印加するため
の抜差可能なコンタクトピンを備えている。プリ
ント基板検査治具の上記それぞれのコンタクトピ
ンは、前記プリント基板面のテストポイントの配
置位置に対応するプリント基板検査治具の差込穴
に差込まれるもので、被検査プリント基板に応じ
て差込位置が任意に変えられるように構成されて
いる。上記コンタクトピンがプリント基板検査治
具に差込まれたときのコンタクトピンの抜止め防
止手段として、一般にそれぞれのコンタクトピン
にはロツクスプリングが設けられている。上記コ
ンタクトピンのロツクスプリングは、コンタクト
ピンがプリント基板検査治具の差込穴に挿入され
る過程では、差込穴内周面に圧接されるため、コ
ンタクトピンの外径と同一面に圧縮されている
が、コンタクトピンが所定の深さまで差込まれ、
ロツクスプリングが差込穴の外側に位置した瞬間
に、ロツクスプリングは差込穴の直径以上に外側
方向に開き、反挿入方向、即ち、プリント基板面
のテストポイントと接触する方向から力が加えら
れてもコンタクトピンが抜けないようにロツクさ
れる。
上記コンタクトピンがプリント基板検査治具の
差込穴に挿入されたとき、ロツクスプリングによ
り抜止めが完全に行なわれれば問題がないが、コ
ンタクトピンが所定の深さまで挿入される途中で
差込力が加えられなくなると、コンタクトピンの
ロツクスプリングによる抜止めロツクができなく
なる。そのため、不完全装着状態にあるコンタク
トピンが被検査プリント基板のテストポイントに
当接した瞬間に、そのコンタクトピンが抜け出し
てしまうことがあつた。コンタクトピンが抜け出
してしまうと、そのコンタクトピンと接触すべき
テストポイントに検査信号が印加されなくなつた
り、不充分な印加状態となるため、正確な動作試
験ができなくなるという問題があつた。
差込穴に挿入されたとき、ロツクスプリングによ
り抜止めが完全に行なわれれば問題がないが、コ
ンタクトピンが所定の深さまで挿入される途中で
差込力が加えられなくなると、コンタクトピンの
ロツクスプリングによる抜止めロツクができなく
なる。そのため、不完全装着状態にあるコンタク
トピンが被検査プリント基板のテストポイントに
当接した瞬間に、そのコンタクトピンが抜け出し
てしまうことがあつた。コンタクトピンが抜け出
してしまうと、そのコンタクトピンと接触すべき
テストポイントに検査信号が印加されなくなつた
り、不充分な印加状態となるため、正確な動作試
験ができなくなるという問題があつた。
そのため、従来より前記コンタクトピンがプリ
ント基板検査治具の差込穴に完全に差込まれてい
るか、否かを確認する必要があり、その手段とし
ては目視検査をするか、反挿入方向から試験力を
加えてコンタクトピンが抜けるか否かを確認する
という手段が採用されていた。なお、上記コンタ
クトピンは上記のようにプリント基板検査治具に
限ることなく一般のコネクタに使用されるコンタ
クトピンに対しても同様の検査手段で抜止めが完
全か否かを確認していた。
ント基板検査治具の差込穴に完全に差込まれてい
るか、否かを確認する必要があり、その手段とし
ては目視検査をするか、反挿入方向から試験力を
加えてコンタクトピンが抜けるか否かを確認する
という手段が採用されていた。なお、上記コンタ
クトピンは上記のようにプリント基板検査治具に
限ることなく一般のコネクタに使用されるコンタ
クトピンに対しても同様の検査手段で抜止めが完
全か否かを確認していた。
(考案が解決しようとする問題点)
しかしながら、前記プリント基板検査治具、も
しくは一般のコネクタに装着されるコンタクトピ
ンの装着状態が正しいかどうかを目視確認する場
合、被検査コネクタが多極コネクタの場合はコン
タクトピンの装着ピツチが小さいため装着不完全
なコンタクトピンを発見することは困難である。
また、前記のように装着不完全なコンタクトピン
があつた場合でも不完全ながら電気的に接触する
ことが多いために通電試験をしても通電が可能と
なりプリント基板検査治具、あるいは一般のコネ
クタ等が良品として処理されてしまうという問題
があつた。
しくは一般のコネクタに装着されるコンタクトピ
ンの装着状態が正しいかどうかを目視確認する場
合、被検査コネクタが多極コネクタの場合はコン
タクトピンの装着ピツチが小さいため装着不完全
なコンタクトピンを発見することは困難である。
また、前記のように装着不完全なコンタクトピン
があつた場合でも不完全ながら電気的に接触する
ことが多いために通電試験をしても通電が可能と
なりプリント基板検査治具、あるいは一般のコネ
クタ等が良品として処理されてしまうという問題
があつた。
そこで本考案においては、装着不完全状態にあ
るコンタクトピンを差込穴から押出すことができ
るような接触圧を発生させることができ、かつ、
完全装着状態にあるコンタクトピンに対する接触
圧によつて内部の接点が閉じ、検査信号を通電さ
せることができる接触圧力可変接点を提供するこ
とによつて、前記従来の問題を解決することを技
術的課題とするものである。
るコンタクトピンを差込穴から押出すことができ
るような接触圧を発生させることができ、かつ、
完全装着状態にあるコンタクトピンに対する接触
圧によつて内部の接点が閉じ、検査信号を通電さ
せることができる接触圧力可変接点を提供するこ
とによつて、前記従来の問題を解決することを技
術的課題とするものである。
(問題点を解決するための手段)
上記課題解決のための技術的手段は、接触圧力
可変接点を、被接触体12,12Xに押圧接触さ
せる導電性の接触子1と、その接触子1が螺合状
態で取着される導電性の接触子取付部2Aと、そ
の接触子取付部2Aと一体的に且つ同軸状に形成
された導電性の細棒から成る第1の接点2Bと、
その第1の接点2Bの外周部に挿通されるととも
に一端部が前記接触子取付部2Aの端面に弾着さ
れる第1のスプリングSP1と、その第1のスプ
リングSP1の他端部が弾着される弾着面を有す
るスリーブ3A及びそのスリーブ3Aより小径の
ネジ部3Bが一体的に形成されるとともに前記第
1の接点2Bが摺動可能に挿通される中空穴3C
が軸方向にあけられたネジ付きスリーブ3と、そ
のネジ付きスリーブ3のネジ部3Bが螺合される
ネジ4Aが内径面に形成された導電性のパイプ4
と、その導電性のパイプ4のネジ4Aと螺合され
るネジ部5A及びそのネジ部5Aより大径のフラ
ンジ5Bが一体的に形成されるとともに軸心部に
中空穴5Cがあけられた絶縁ブツシユ5と、その
絶縁ブツシユ5の中空穴5Cに嵌合され、固定さ
れる外筒6A及びその外筒6Aの中空端部に一端
部が弾着された第2のスプリングSP2及び外筒
6Aの開口側から中空部に摺動可能に挿通される
とともに基端部が第2のスプリングSP2の他端
部と当接する一方、先端部が外筒6Aの外側に突
出するように第2のスプリングSP2により付勢
された第2の接点6Dを有するプローブ6とを備
え、前記接触子1が接触子取付部2Aに取り付け
られ、且つ前記第1のスプリングSP1を前記第
1の接点2Bに外挿したうえ、ネジ付きスリーブ
3とパイプ4と絶縁ブツシユ5とを組付けた状態
で、接触子1が前記被接触体12に押圧接触され
ない状態では前記第1のスプリングSP1の弾性
力により、前記第1の接点2Bと第2の接点6D
とが離れる一方、接触子1が前記被接触体12に
押圧接触された場合には第1のスプリングSP1
が圧縮され、第1の接点2Bが第2の接点6Dに
接触するように構成することである。
可変接点を、被接触体12,12Xに押圧接触さ
せる導電性の接触子1と、その接触子1が螺合状
態で取着される導電性の接触子取付部2Aと、そ
の接触子取付部2Aと一体的に且つ同軸状に形成
された導電性の細棒から成る第1の接点2Bと、
その第1の接点2Bの外周部に挿通されるととも
に一端部が前記接触子取付部2Aの端面に弾着さ
れる第1のスプリングSP1と、その第1のスプ
リングSP1の他端部が弾着される弾着面を有す
るスリーブ3A及びそのスリーブ3Aより小径の
ネジ部3Bが一体的に形成されるとともに前記第
1の接点2Bが摺動可能に挿通される中空穴3C
が軸方向にあけられたネジ付きスリーブ3と、そ
のネジ付きスリーブ3のネジ部3Bが螺合される
ネジ4Aが内径面に形成された導電性のパイプ4
と、その導電性のパイプ4のネジ4Aと螺合され
るネジ部5A及びそのネジ部5Aより大径のフラ
ンジ5Bが一体的に形成されるとともに軸心部に
中空穴5Cがあけられた絶縁ブツシユ5と、その
絶縁ブツシユ5の中空穴5Cに嵌合され、固定さ
れる外筒6A及びその外筒6Aの中空端部に一端
部が弾着された第2のスプリングSP2及び外筒
6Aの開口側から中空部に摺動可能に挿通される
とともに基端部が第2のスプリングSP2の他端
部と当接する一方、先端部が外筒6Aの外側に突
出するように第2のスプリングSP2により付勢
された第2の接点6Dを有するプローブ6とを備
え、前記接触子1が接触子取付部2Aに取り付け
られ、且つ前記第1のスプリングSP1を前記第
1の接点2Bに外挿したうえ、ネジ付きスリーブ
3とパイプ4と絶縁ブツシユ5とを組付けた状態
で、接触子1が前記被接触体12に押圧接触され
ない状態では前記第1のスプリングSP1の弾性
力により、前記第1の接点2Bと第2の接点6D
とが離れる一方、接触子1が前記被接触体12に
押圧接触された場合には第1のスプリングSP1
が圧縮され、第1の接点2Bが第2の接点6Dに
接触するように構成することである。
(作用)
上記構成の接触圧力可変接点に依れば、被接触
体の形状、もしくは材質等に合致した接触子が前
記接触子取付部に取付けられた状態で被接触体に
接触されると第1のスプリングの作用により、接
触子と被接触体の間に接触圧力が発生する。この
第1のスプリングの作用により発生した接触圧力
が被接触体に加えられると、被接触体が前記プリ
ント基板検査治具に取付けられたコンタクトピ
ン、もしくは一般のコネクタに取付けられたコン
タクトピンである場合を例にとると、コンタクト
ピンの装着状態が完全であり、抜け止めロツクが
かかつている場合は、前記導電性のパイプにより
第1のスプリングが圧縮され、前記接触子取付部
と同軸状に形成された導電性の細棒の端面と、前
記外筒内径部に摺動可能に取付けられた導電性の
細棒の端面とが当接する。この状態から、さらに
前記パイプが接触子方向に摺動されると、第1の
スプリングの弾性力により、第1の接点部の細棒
が第2の接点部の細棒を第2のスプリングの弾力
に抗して押圧するため、第1の接点部細棒と第2
の接点部細棒が通電可能状態となつて、外部から
通電された検査信号を第2の接点部細棒を介し、
第2の接点部の外筒から出力させる。
体の形状、もしくは材質等に合致した接触子が前
記接触子取付部に取付けられた状態で被接触体に
接触されると第1のスプリングの作用により、接
触子と被接触体の間に接触圧力が発生する。この
第1のスプリングの作用により発生した接触圧力
が被接触体に加えられると、被接触体が前記プリ
ント基板検査治具に取付けられたコンタクトピ
ン、もしくは一般のコネクタに取付けられたコン
タクトピンである場合を例にとると、コンタクト
ピンの装着状態が完全であり、抜け止めロツクが
かかつている場合は、前記導電性のパイプにより
第1のスプリングが圧縮され、前記接触子取付部
と同軸状に形成された導電性の細棒の端面と、前
記外筒内径部に摺動可能に取付けられた導電性の
細棒の端面とが当接する。この状態から、さらに
前記パイプが接触子方向に摺動されると、第1の
スプリングの弾性力により、第1の接点部の細棒
が第2の接点部の細棒を第2のスプリングの弾力
に抗して押圧するため、第1の接点部細棒と第2
の接点部細棒が通電可能状態となつて、外部から
通電された検査信号を第2の接点部細棒を介し、
第2の接点部の外筒から出力させる。
一方、上記コンタクトピンの装着状態が不完全
である場合は、コンタクトピンが前記接触圧力を
受けたときに、同コンタクトピンは同圧力により
プリント基板検査治具もしくは一般のコネクタか
ら抜けてしまうため、前記第1の接点部の細棒
と、第2の接点部の細棒が接触しない。その結
果、前記検査信号の通電が遮断されるため、コン
タクトピン、即ち被接触体の不完全装着を発見す
ることができる。
である場合は、コンタクトピンが前記接触圧力を
受けたときに、同コンタクトピンは同圧力により
プリント基板検査治具もしくは一般のコネクタか
ら抜けてしまうため、前記第1の接点部の細棒
と、第2の接点部の細棒が接触しない。その結
果、前記検査信号の通電が遮断されるため、コン
タクトピン、即ち被接触体の不完全装着を発見す
ることができる。
(実施例)
次に本考案の実施例を図面に従つて説明する。
第1図〜第9図は本考案の一実施例の接触圧力可
変接点を構成する部品及び部品組付けした状態の
側面図である。第1図の1のA,B,Cは任意の
図示しない被接触体に接触させる各種の接触子1
の側面形状を示したもので、接触子1は例えば銅
系材で形成され、被接触体の形状に応じて適切な
ものが選定される。それぞれの接触子1の軸心部
には例えば接触子1と同材でオネジMSが形成さ
れる。なお、接触子1の形状は第1図に示す形状
以外にも被接触体の形状に応じて様々なものが考
えられる。
第1図〜第9図は本考案の一実施例の接触圧力可
変接点を構成する部品及び部品組付けした状態の
側面図である。第1図の1のA,B,Cは任意の
図示しない被接触体に接触させる各種の接触子1
の側面形状を示したもので、接触子1は例えば銅
系材で形成され、被接触体の形状に応じて適切な
ものが選定される。それぞれの接触子1の軸心部
には例えば接触子1と同材でオネジMSが形成さ
れる。なお、接触子1の形状は第1図に示す形状
以外にも被接触体の形状に応じて様々なものが考
えられる。
第2図に示す接触子取付部2Aは導電材で形成
され、前記接触子1に形成された前記オネジMS
を螺合させるためのメネジFSを軸心内径部に形
成し、選択された接触子1を螺合により支持させ
るものである。一方、接触子取付部2Aの接触子
取付面と反対の面には細棒状の第1の接点2Bが
接触子取付部2Aと同材質で接触子取付部2Aと
同軸状に形成されている。なお、第1図の2に示
すように接触子1と細棒状の第1の接点2Bを一
体化した接触子1Aを用いることも可能である。
第3図は前記第1の接点2Bに外装される第1の
スプリングSP1を示したもので、第1のスプリ
ングSP1の一端は、第4図に示すように前記接
触子取付部2Aの端面に圧接し、同スプリング
SP1の他端は後述のネジ付きスリーブ3の端面
に弾着される。第5図は導電材で形成されたネジ
付きスリーブ3の側面図であり、図に示すように
ネジ付きスリーブ3は前記第1のスプリングSP
1を弾着させる弾着面を有する円形体のスリーブ
3A及びスリーブ3Aより小径のネジ部3Bで形
成され、さらに、スリーブ3の軸心部全長に亘つ
て、前記第1の接点2Bを摺動可能に挿通させる
ための中空穴3Cが形成されている。
され、前記接触子1に形成された前記オネジMS
を螺合させるためのメネジFSを軸心内径部に形
成し、選択された接触子1を螺合により支持させ
るものである。一方、接触子取付部2Aの接触子
取付面と反対の面には細棒状の第1の接点2Bが
接触子取付部2Aと同材質で接触子取付部2Aと
同軸状に形成されている。なお、第1図の2に示
すように接触子1と細棒状の第1の接点2Bを一
体化した接触子1Aを用いることも可能である。
第3図は前記第1の接点2Bに外装される第1の
スプリングSP1を示したもので、第1のスプリ
ングSP1の一端は、第4図に示すように前記接
触子取付部2Aの端面に圧接し、同スプリング
SP1の他端は後述のネジ付きスリーブ3の端面
に弾着される。第5図は導電材で形成されたネジ
付きスリーブ3の側面図であり、図に示すように
ネジ付きスリーブ3は前記第1のスプリングSP
1を弾着させる弾着面を有する円形体のスリーブ
3A及びスリーブ3Aより小径のネジ部3Bで形
成され、さらに、スリーブ3の軸心部全長に亘つ
て、前記第1の接点2Bを摺動可能に挿通させる
ための中空穴3Cが形成されている。
第6図は前記ネジ付きスリーブ3のネジ部3B
と螺合するネジ4Aが内径面に形成された導電性
のパイプ4を示したものである。パイプ4にはネ
ジ付きスリーブ3が結合されるとともに、第7図
に示すような絶縁ブツシユ5のネジ部5Aがネジ
4Aに螺合される。絶縁ブツシユ5は前記ネジ部
5Aとフランジ5Bから形成され、軸心部には第
8図に示すような信号検出用のプローブ6を挿通
させるための中空穴5Cが全長に亘つて形成され
ている。なお、プローブ6の外筒6Aに形成され
た突状のストツパ6Bは、第9図に示すように絶
縁ブツシユ5がプローブ6の外筒6Aに嵌合され
たとき、絶縁ブツシユ5の嵌合位置を規制するた
めに形成されている。さらに、絶縁ブツシユ5の
嵌合をより強固にするため、絶縁ブツシユ5とプ
ローブ6の接合部分にシール材7が充填される。
と螺合するネジ4Aが内径面に形成された導電性
のパイプ4を示したものである。パイプ4にはネ
ジ付きスリーブ3が結合されるとともに、第7図
に示すような絶縁ブツシユ5のネジ部5Aがネジ
4Aに螺合される。絶縁ブツシユ5は前記ネジ部
5Aとフランジ5Bから形成され、軸心部には第
8図に示すような信号検出用のプローブ6を挿通
させるための中空穴5Cが全長に亘つて形成され
ている。なお、プローブ6の外筒6Aに形成され
た突状のストツパ6Bは、第9図に示すように絶
縁ブツシユ5がプローブ6の外筒6Aに嵌合され
たとき、絶縁ブツシユ5の嵌合位置を規制するた
めに形成されている。さらに、絶縁ブツシユ5の
嵌合をより強固にするため、絶縁ブツシユ5とプ
ローブ6の接合部分にシール材7が充填される。
プローブ6は上記のように外筒6Aを備え、外
筒6Aの中空部には導電性の第2のスプリング
SP2が内挿されており、外筒6Aの開口側に摺
動可能に挿通された第2の接点6Dの端面に弾着
されている。
筒6Aの中空部には導電性の第2のスプリング
SP2が内挿されており、外筒6Aの開口側に摺
動可能に挿通された第2の接点6Dの端面に弾着
されている。
第10図は上記それぞれの構成品を組立てた状
態での接触圧力可変接点の外形を示したもので、
この接点を例えばコネクタCNに取付ける場合
は、コネクタCNの接点挿入穴CNHにパイプ4を
嵌合させて接点を固定する。
態での接触圧力可変接点の外形を示したもので、
この接点を例えばコネクタCNに取付ける場合
は、コネクタCNの接点挿入穴CNHにパイプ4を
嵌合させて接点を固定する。
次に、上記のようにコネクタCNに本実施例の
接点を取付けて検査コネクタを構成し、例えば第
13図に示すようなプリント基板検査治具11に
取付けられたコンタクトピン12の端面に接触子
1を圧接させ、同コンタクトピン12が確実に前
記プリント基板検査治具11に取付けられている
か否かを検査するときの作用を説明する。接触子
1が上記コンタクトピン12に接触する前は、第
11図に示すように第1の接点2Bと第2の接点
6Dは離れた状態にあるが、接触子1が上記コン
タクトピン12に圧接されるに従つて第1のスプ
リングSP1が圧縮され、上記コンタクトピン1
2に接触圧が加えられるに従い次第に第1の接点
2Bと第2の接点6Dは接近し、第12図に示す
ように接触するに至る。第1の接点2Bと第2の
接点6Dが接触を開始した時点で第1のスプリン
グSP1がまだ圧縮途中にあつた場合、第2の接
点6Dがプローブ6の第2のスプリングSP2を
圧縮させ、第1の接点2Bと第2の接点6Dの接
触を確実に保証させる。
接点を取付けて検査コネクタを構成し、例えば第
13図に示すようなプリント基板検査治具11に
取付けられたコンタクトピン12の端面に接触子
1を圧接させ、同コンタクトピン12が確実に前
記プリント基板検査治具11に取付けられている
か否かを検査するときの作用を説明する。接触子
1が上記コンタクトピン12に接触する前は、第
11図に示すように第1の接点2Bと第2の接点
6Dは離れた状態にあるが、接触子1が上記コン
タクトピン12に圧接されるに従つて第1のスプ
リングSP1が圧縮され、上記コンタクトピン1
2に接触圧が加えられるに従い次第に第1の接点
2Bと第2の接点6Dは接近し、第12図に示す
ように接触するに至る。第1の接点2Bと第2の
接点6Dが接触を開始した時点で第1のスプリン
グSP1がまだ圧縮途中にあつた場合、第2の接
点6Dがプローブ6の第2のスプリングSP2を
圧縮させ、第1の接点2Bと第2の接点6Dの接
触を確実に保証させる。
もし、第13図のコンタクトピン12Xのよう
にプリント基板検査治具11に対して不完全な状
態で、即ち、コンタクトピン12Xのロツクスプ
リング12L,12Lが、他のコンタクトピン1
2のように開かれていないような状態で不完全装
着されていた場合は、上記過程で接触子1の接触
圧力により不完全装着状態にあるコンタクトピン
12Xはプリント基板検査治具11の装着穴から
矢印Fの方向に押出されてしまうため、第14図
に示すように、検査信号出力回路13から出力さ
れ、パイプ4、ネジ付きスリーブ3、接点2B及
び接点6Dを介して通電されていた検査信号は接
点2Bと接点6D間で遮断され、検査表示器14
がNG表示をするため不完全装着状態にあるコン
タクトピン12Xを容易に発見することができ
る。
にプリント基板検査治具11に対して不完全な状
態で、即ち、コンタクトピン12Xのロツクスプ
リング12L,12Lが、他のコンタクトピン1
2のように開かれていないような状態で不完全装
着されていた場合は、上記過程で接触子1の接触
圧力により不完全装着状態にあるコンタクトピン
12Xはプリント基板検査治具11の装着穴から
矢印Fの方向に押出されてしまうため、第14図
に示すように、検査信号出力回路13から出力さ
れ、パイプ4、ネジ付きスリーブ3、接点2B及
び接点6Dを介して通電されていた検査信号は接
点2Bと接点6D間で遮断され、検査表示器14
がNG表示をするため不完全装着状態にあるコン
タクトピン12Xを容易に発見することができ
る。
なお、接触圧力を調整する場合は、前記絶縁ブ
ツシユ5のネジ5A、もしくは前記パイプ4の長
さを変えることによつて実現できる。
ツシユ5のネジ5A、もしくは前記パイプ4の長
さを変えることによつて実現できる。
また、第15図に示すように前記検査信号出力
回路13から出力される検査信号が前記それぞれ
のコンタクトピン12に印加されるように回路が
形成されている場合は、パイプ4に検査信号を通
電させることを必要としないため、パイプ4は絶
縁物で形成しても良い。
回路13から出力される検査信号が前記それぞれ
のコンタクトピン12に印加されるように回路が
形成されている場合は、パイプ4に検査信号を通
電させることを必要としないため、パイプ4は絶
縁物で形成しても良い。
(考案の効果)
以上のように本考案によれば、接触圧力可変接
点は任意の接触圧を発生させることができるため
に、例えばプリント基板検査治具などに装着され
たコンタクトピン等の不完全装着の発見を容易に
させることができるという効果がある。
点は任意の接触圧を発生させることができるため
に、例えばプリント基板検査治具などに装着され
たコンタクトピン等の不完全装着の発見を容易に
させることができるという効果がある。
図面は実施例に係り、第1図の1は各種の接触
子の側面図、第1図の2は接触子と第1の接点を
一体化した場合の接触子側面図、第2図は接触子
取付部と第1の接点を示した側面図、第3図は第
1のスプリング外観図、第4図は部分組付状態側
面図、第5図はネジ付きスリーブの側面図、第6
図はパイプの側面図、第7図は絶縁ブツシユの側
面図、第8図はプローブの側面図、第9図は絶縁
ブツシユをプローブに挿入した状態の側面図、第
10図は全体組付状態での側面図、第11図は接
点が開状態のときの説明図、第12図は接点が閉
状態のときの説明図、第13図はコンタクトピン
取付状態図、第14図及び第15図は検査電気回
路図である。 1……接触子、2A……接触子取付部、2B…
…第1の接点、3……ネジ付きスリーブ、4……
パイプ、5……絶縁ブツシユ、6……プローブ、
6D……第2の接点、SP1……第1のスプリン
グ、SP2……第2のスプリング。
子の側面図、第1図の2は接触子と第1の接点を
一体化した場合の接触子側面図、第2図は接触子
取付部と第1の接点を示した側面図、第3図は第
1のスプリング外観図、第4図は部分組付状態側
面図、第5図はネジ付きスリーブの側面図、第6
図はパイプの側面図、第7図は絶縁ブツシユの側
面図、第8図はプローブの側面図、第9図は絶縁
ブツシユをプローブに挿入した状態の側面図、第
10図は全体組付状態での側面図、第11図は接
点が開状態のときの説明図、第12図は接点が閉
状態のときの説明図、第13図はコンタクトピン
取付状態図、第14図及び第15図は検査電気回
路図である。 1……接触子、2A……接触子取付部、2B…
…第1の接点、3……ネジ付きスリーブ、4……
パイプ、5……絶縁ブツシユ、6……プローブ、
6D……第2の接点、SP1……第1のスプリン
グ、SP2……第2のスプリング。
Claims (1)
- 【実用新案登録請求の範囲】 1 被接触体12,12Xに押圧接触させる導電
性の接触子1と、その接触子1が螺合状態で取
着される導電性の接触子取付部2Aと、その接
触子取付部2Aと一体的に且つ同軸状に形成さ
れた導電性の細棒から成る第1の接点2Bと、
その第1の接点2Bの外周部に挿通されるとと
もに一端部が前記接触子取付部2Aの端面に弾
着される第1のスプリングSP1と、その第1
のスプリングSP1の他端部が弾着される弾着
面を有するスリーブ3A及びそのスリーブ3A
より小径のネジ部3Bが一体的に形成されると
ともに前記第1の接点2Bが摺動可能に挿通さ
れる中空穴3Cが軸方向にあけられたネジ付き
スリーブ3と、そのネジ付きスリーブ3のネジ
部3Bが螺合されるネジ4Aが内径面に形成さ
れた導電性のパイプ4と、その導電性のパイプ
4のネジ4Aと螺合されるネジ部5A及びその
ネジ部5Aより大径のフランジ5Bが一体的に
形成されるとともに軸心部に中空穴5Cがあけ
られた絶縁ブツシユ5と、その絶縁ブツシユ5
の中空穴5Cに嵌合され、固定される外筒6A
及びその外筒6Aの中空端部に一端部が弾着さ
れた第2のスプリングSP2及び外筒6Aの開
口側から中空部に摺動可能に挿通されるととも
に基端部が第2のスプリングSP2の他端部と
当接する一方、先端部が外筒6Aの外側に突出
するように第2のスプリングSP2により付勢
された第2の接点6Dを有するプローブ6とを
備え、前記接触子1が接触子取付部2Aに取り
付けられ、且つ前記第1のスプリングSP1を
前記第1の接点2Bに外挿したうえ、ネジ付き
スリーブ3とパイプ4と絶縁ブツシユ5とを組
付けた状態で、接触子1が前記被接触体12に
押圧接触されない状態では前記第1のスプリン
グSP1の弾性力により、前記第1の接点2B
と第2の接点6Dとが離れる一方、接触子1が
被接触体12に押圧接触された場合には第1の
スプリングSP1が圧縮され、第1の接点2B
が第2の接点6Dに接触するように構成したこ
とを特徴とする接触圧力可変接点。 2 接触子と第1の接点とを予め一体的に形成し
たことを特徴とする実用新案登録請求の範囲第
1項記載の接触圧力可変接点。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP5698687U JPH0545987Y2 (ja) | 1987-04-15 | 1987-04-15 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP5698687U JPH0545987Y2 (ja) | 1987-04-15 | 1987-04-15 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS63163470U JPS63163470U (ja) | 1988-10-25 |
JPH0545987Y2 true JPH0545987Y2 (ja) | 1993-11-30 |
Family
ID=30886285
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP5698687U Expired - Lifetime JPH0545987Y2 (ja) | 1987-04-15 | 1987-04-15 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH0545987Y2 (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2002107376A (ja) * | 2000-08-21 | 2002-04-10 | Tektronix Inc | 測定プローブ用プローブ・チップ・アダプタ |
Families Citing this family (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0622226Y2 (ja) * | 1988-12-26 | 1994-06-08 | 株式会社エスケイ工機 | ワイヤハーネス検査用具 |
JP2901402B2 (ja) * | 1990-12-14 | 1999-06-07 | 群馬日本電気株式会社 | 接触試験器およびそれを用いた導通試験装置 |
JP5898862B2 (ja) * | 2011-06-10 | 2016-04-06 | 日鉄住金テックスエンジ株式会社 | 大電流用コンタクトプローブ |
JP2015194476A (ja) * | 2014-03-19 | 2015-11-05 | 沖電気工業株式会社 | 基板検査冶具および基板接続冶具 |
-
1987
- 1987-04-15 JP JP5698687U patent/JPH0545987Y2/ja not_active Expired - Lifetime
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2002107376A (ja) * | 2000-08-21 | 2002-04-10 | Tektronix Inc | 測定プローブ用プローブ・チップ・アダプタ |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPS63163470U (ja) | 1988-10-25 |
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