JPH0536775A - 半導体装置 - Google Patents
半導体装置Info
- Publication number
- JPH0536775A JPH0536775A JP19334891A JP19334891A JPH0536775A JP H0536775 A JPH0536775 A JP H0536775A JP 19334891 A JP19334891 A JP 19334891A JP 19334891 A JP19334891 A JP 19334891A JP H0536775 A JPH0536775 A JP H0536775A
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- semiconductor device
- test circuit
- detection
- circuit
- terminals
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
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- Testing Of Individual Semiconductor Devices (AREA)
- Testing Or Measuring Of Semiconductors Or The Like (AREA)
- Semiconductor Integrated Circuits (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】半導体装置の端子数が通常動作に必要な数に対
し、余分がないときでも、テスト回路の動作を可能にす
る。 【構成】検出回路３及び検出回路４を有し、この検出回
路３，４はそれぞれ違った使用環境項目のある特定の環
境状態を検出するように設定しておく。そして、その検
出回路３及び４の検出信号によりテスト回路２が動作す
るようにする。そうすることで、使用環境項目のうち検
出回路３及び４の２項目がある特定の環境状態になった
ときのみテスト回路２が動作する。
し、余分がないときでも、テスト回路の動作を可能にす
る。 【構成】検出回路３及び検出回路４を有し、この検出回
路３，４はそれぞれ違った使用環境項目のある特定の環
境状態を検出するように設定しておく。そして、その検
出回路３及び４の検出信号によりテスト回路２が動作す
るようにする。そうすることで、使用環境項目のうち検
出回路３及び４の２項目がある特定の環境状態になった
ときのみテスト回路２が動作する。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は半導体装置に関し、特に
テスト回路に関する。
テスト回路に関する。
【０００２】
【従来の技術】従来の半導体装置のテスト回路は、図３
に示すように、半導体装置１の通常の動作を行うための
入力１〜入力ｍを出力１，２〜出力ｎの外に、テスト用
の端子であるテスト１〜テストｔを有し、このテスト１
〜テストｔまでの端子で半導体装置１内のテスト回路を
動作させ、入力１〜入力ｍ及び出力１〜出力ｎの端子で
は実現が非常に困難な動作あるいは条件を作り出すこと
で半導体装置１自身の動作確認を容易にし、あるいは半
導体装置１自身の性能を保証している。
に示すように、半導体装置１の通常の動作を行うための
入力１〜入力ｍを出力１，２〜出力ｎの外に、テスト用
の端子であるテスト１〜テストｔを有し、このテスト１
〜テストｔまでの端子で半導体装置１内のテスト回路を
動作させ、入力１〜入力ｍ及び出力１〜出力ｎの端子で
は実現が非常に困難な動作あるいは条件を作り出すこと
で半導体装置１自身の動作確認を容易にし、あるいは半
導体装置１自身の性能を保証している。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】このような従来のテス
ト回路は、半導体装置１の端子が通常動作に必要な数よ
り多くある場合には可能であり有効であるが、半導体装
置１の端子数に余分がない場合には実現できなくなると
いう問題点があった。
ト回路は、半導体装置１の端子が通常動作に必要な数よ
り多くある場合には可能であり有効であるが、半導体装
置１の端子数に余分がない場合には実現できなくなると
いう問題点があった。
【０００４】本発明の目的は、前記問題点を解決し、端
子数に余分がない場合でも、必要なテストが行えるよう
にした半導体装置を提供することにある。
子数に余分がない場合でも、必要なテストが行えるよう
にした半導体装置を提供することにある。
【０００５】
【課題を解決するための手段】本発明の半導体装置の構
成は、半導体装置内に使用環境項目のうち２項目以上の
条件が推奨動作条件以上かつ絶対最大定格以下のある値
になったとき動作するテスト回路を備えていることを特
徴とするこのため、本発明によれば、端子数に余分がな
くともテスト回路によるテスティングができる。
成は、半導体装置内に使用環境項目のうち２項目以上の
条件が推奨動作条件以上かつ絶対最大定格以下のある値
になったとき動作するテスト回路を備えていることを特
徴とするこのため、本発明によれば、端子数に余分がな
くともテスト回路によるテスティングができる。
【０００６】
【実施例】図１は本発明の第１の実施例の半導体装置の
ブロック図である。
ブロック図である。
【０００７】図１において、本実施例は、半導体装置１
内に内蔵した検出回路３及び検出回路４を有し、それぞ
れの検出信号によってテスト回路２が動作するように構
成したものである。
内に内蔵した検出回路３及び検出回路４を有し、それぞ
れの検出信号によってテスト回路２が動作するように構
成したものである。
【０００８】次に動作について具体的な例を当てて説明
する。例えば、検出回路３は温度検出回路であり、その
設定値を１００℃とする。検出回路４は電源電圧検出回
路でその設定値を１０Ｖとする。
する。例えば、検出回路３は温度検出回路であり、その
設定値を１００℃とする。検出回路４は電源電圧検出回
路でその設定値を１０Ｖとする。
【０００９】そして、この半導体装置１の推奨動作範囲
が動作温度約８５℃，動作電圧約８Ｖとすれば検出回路
３，４共、推奨動作条件下ではテスト回路２へのアクセ
ス信号は発せられない為、テスト回路２は通常動作に影
響を与えない。
が動作温度約８５℃，動作電圧約８Ｖとすれば検出回路
３，４共、推奨動作条件下ではテスト回路２へのアクセ
ス信号は発せられない為、テスト回路２は通常動作に影
響を与えない。
【００１０】しかし、温度が１００℃以上で電源電圧が
１０Ｖ以上になったときに、テスト回路２は動作する。
このテスト回路２を動作させる条件項目が１項目の場
合、通常動作環境の中でもノイズ等により推奨動作範囲
を超え誤動作を起こす確率は十分高い。しかし、条件項
目が２項目になれば誤動作の確率は非常に小さくなる。
更に条件項目が３項目以上になれば、更に誤動作の確率
は小さくなる。
１０Ｖ以上になったときに、テスト回路２は動作する。
このテスト回路２を動作させる条件項目が１項目の場
合、通常動作環境の中でもノイズ等により推奨動作範囲
を超え誤動作を起こす確率は十分高い。しかし、条件項
目が２項目になれば誤動作の確率は非常に小さくなる。
更に条件項目が３項目以上になれば、更に誤動作の確率
は小さくなる。
【００１１】図２は本発明の第２の実施例の半導体装置
を示すブロック図である。
を示すブロック図である。
【００１２】図２において、本実施例の場合、テスト回
路２を動作状態にする為の検出回路３，４の外に、入力
ｍ端子出力ｎ端子もテスト回路２の動作に関係してい
る。本実施例の場合、図１の実施例に比べ、より範囲の
広いテストが可能となる。
路２を動作状態にする為の検出回路３，４の外に、入力
ｍ端子出力ｎ端子もテスト回路２の動作に関係してい
る。本実施例の場合、図１の実施例に比べ、より範囲の
広いテストが可能となる。
【００１３】
【発明の効果】以上説明したように、本発明は、半導体
装置の端子数に余分がなくてもテスト回路を設けること
ができるという効果を有する。
装置の端子数に余分がなくてもテスト回路を設けること
ができるという効果を有する。
【図１】本発明の第１の実施例の半導体装置を示すブロ
ック図である。
ック図である。
【図２】本発明の第２の実施例を示すブロック図であ
る。
る。
【図３】従来のテスティング要領を示すブロック図であ
る。
る。
１ 半導体装置
２ テスト回路
３，４ 検出回路
５ 通常動作回路
Claims (2)
- 【請求項１】 使用環境項目のうち２項目以上の条件が
推奨動作条件以上かつ絶対最大定格以下のある値になっ
たときに動作するテスト回路を設けたことを特徴とする
半導体装置。 - 【請求項２】 テスト回路が、入力端子及び出力端子と
接続されている請求項１記載の半導体装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP19334891A JPH0536775A (ja) | 1991-08-02 | 1991-08-02 | 半導体装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP19334891A JPH0536775A (ja) | 1991-08-02 | 1991-08-02 | 半導体装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0536775A true JPH0536775A (ja) | 1993-02-12 |
Family
ID=16306409
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP19334891A Pending JPH0536775A (ja) | 1991-08-02 | 1991-08-02 | 半導体装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0536775A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5603624A (en) * | 1993-12-20 | 1997-02-18 | Yazki Corporation | Connector with fitting operation lever |
| US5619742A (en) * | 1994-11-18 | 1997-04-08 | Fuji Photo Film Co., Ltd. | Photographic processing condition managing method, and method and apparatus for managing image forming devices |
-
1991
- 1991-08-02 JP JP19334891A patent/JPH0536775A/ja active Pending
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5603624A (en) * | 1993-12-20 | 1997-02-18 | Yazki Corporation | Connector with fitting operation lever |
| US5619742A (en) * | 1994-11-18 | 1997-04-08 | Fuji Photo Film Co., Ltd. | Photographic processing condition managing method, and method and apparatus for managing image forming devices |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A02 | Decision of refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 Effective date: 20010925 |