JPH0536084A - 光学式情報再生装置および記録媒体 - Google Patents
光学式情報再生装置および記録媒体Info
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- JPH0536084A JPH0536084A JP4004190A JP419092A JPH0536084A JP H0536084 A JPH0536084 A JP H0536084A JP 4004190 A JP4004190 A JP 4004190A JP 419092 A JP419092 A JP 419092A JP H0536084 A JPH0536084 A JP H0536084A
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- mark
- marks
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- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
- G11B7/00—Recording or reproducing by optical means, e.g. recording using a thermal beam of optical radiation by modifying optical properties or the physical structure, reproducing using an optical beam at lower power by sensing optical properties; Record carriers therefor
- G11B7/004—Recording, reproducing or erasing methods; Read, write or erase circuits therefor
- G11B7/005—Reproducing
- G11B7/0051—Reproducing involving phase depth effects
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
- G11B7/00—Recording or reproducing by optical means, e.g. recording using a thermal beam of optical radiation by modifying optical properties or the physical structure, reproducing using an optical beam at lower power by sensing optical properties; Record carriers therefor
- G11B7/12—Heads, e.g. forming of the optical beam spot or modulation of the optical beam
- G11B7/135—Means for guiding the beam from the source to the record carrier or from the record carrier to the detector
- G11B7/1365—Separate or integrated refractive elements, e.g. wave plates
- G11B7/1367—Stepped phase plates
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
- G11B7/00—Recording or reproducing by optical means, e.g. recording using a thermal beam of optical radiation by modifying optical properties or the physical structure, reproducing using an optical beam at lower power by sensing optical properties; Record carriers therefor
- G11B7/24—Record carriers characterised by shape, structure or physical properties, or by the selection of the material
- G11B7/2407—Tracks or pits; Shape, structure or physical properties thereof
- G11B7/24085—Pits
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Optics & Photonics (AREA)
- Optical Recording Or Reproduction (AREA)
- Optical Head (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】高密度での情報の記録再生を可能にする光学式
情報再生装置を提供する。 【構成】半導体レーザー12を出た光はコリメートレン
ズ14で平行光束となり、光束の半分にπの位相差を与
える位相板16に入射する。これを透過した光は対物レ
ンズ22により光ディスク24に集光される。光ディス
ク24は光学的に検出可能な2つのマーク26から構成
されているマークセット28がトラックに沿って多数設
けられている。光ディスク24からの反射光は対物レン
ズ22で集められ、偏光ビームスプリッター18で反射
されて光検出器32に入射する。その受光素子32aと
32bの出力は、差動増幅器34と加算増幅器36の各
々に入力され、その出力は割算器38に入力される。情
報再生部40は、割算器38の出力に基づいて光ディス
クに記録されている情報を再生する。
情報再生装置を提供する。 【構成】半導体レーザー12を出た光はコリメートレン
ズ14で平行光束となり、光束の半分にπの位相差を与
える位相板16に入射する。これを透過した光は対物レ
ンズ22により光ディスク24に集光される。光ディス
ク24は光学的に検出可能な2つのマーク26から構成
されているマークセット28がトラックに沿って多数設
けられている。光ディスク24からの反射光は対物レン
ズ22で集められ、偏光ビームスプリッター18で反射
されて光検出器32に入射する。その受光素子32aと
32bの出力は、差動増幅器34と加算増幅器36の各
々に入力され、その出力は割算器38に入力される。情
報再生部40は、割算器38の出力に基づいて光ディス
クに記録されている情報を再生する。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、記録媒体に記録されて
いる情報を光学的に再生する光学式情報再生装置および
情報を記録するための記録媒体に関する。
いる情報を光学的に再生する光学式情報再生装置および
情報を記録するための記録媒体に関する。
【0002】
【従来の技術】近年の情報化社会に伴い、取り扱う情報
の量は増加の一途をたどる傾向にあり、大量の情報を記
録再生できるシステムの提供が望まれている。これに応
えるものとしては、現在、情報を高密度で記録し再生で
きる様々な光学式情報処理システムがある。このシステ
ムでは、情報は光学的に検出可能な物理的なマークに符
号化され記録媒体に記録される。また、これらのマーク
を光学的手段により検出することにより情報が再生され
る。このようなマークとしては、記録媒体に形成した凹
凸や開口などがある。
の量は増加の一途をたどる傾向にあり、大量の情報を記
録再生できるシステムの提供が望まれている。これに応
えるものとしては、現在、情報を高密度で記録し再生で
きる様々な光学式情報処理システムがある。このシステ
ムでは、情報は光学的に検出可能な物理的なマークに符
号化され記録媒体に記録される。また、これらのマーク
を光学的手段により検出することにより情報が再生され
る。このようなマークとしては、記録媒体に形成した凹
凸や開口などがある。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】このような光学式情報
処理システムは、現在の要望にかなり応えてはいるが、
また一方では、さらに高密度でのデータの記録が可能な
新しい情報処理システムが望まれてもいる。このような
要望もあって、新しい処理システムの研究や開発が現在
も盛んに進められている。
処理システムは、現在の要望にかなり応えてはいるが、
また一方では、さらに高密度でのデータの記録が可能な
新しい情報処理システムが望まれてもいる。このような
要望もあって、新しい処理システムの研究や開発が現在
も盛んに進められている。
【0004】本発明は、記録密度の向上を可能とする光
学式情報再生装置を提供することを目的とする。
学式情報再生装置を提供することを目的とする。
【0005】
【課題を解決するための手段】本発明は、記録媒体のト
ラックに沿って設けられた多数のマークセットの各々を
構成している複数の光学的に検出可能なマークの間隔と
して記録されている情報を光学的に再生する光学式情報
再生装置であり、再生光を射出する光源と、再生光をマ
ークセットに照射する手段と、マークセットからの再生
光が少なくともマークセットを構成している各マーク間
において所定の位相差を有するように再生光の一部の位
相を変化させる位相変化手段と、マークセットからの再
生光を受光して情報を再生する再生手段とを備えてい
る。ここで上記再生光は、光源からマークセットに照明
された光、マークセットより透過・反射した光の全てを
含むものである。
ラックに沿って設けられた多数のマークセットの各々を
構成している複数の光学的に検出可能なマークの間隔と
して記録されている情報を光学的に再生する光学式情報
再生装置であり、再生光を射出する光源と、再生光をマ
ークセットに照射する手段と、マークセットからの再生
光が少なくともマークセットを構成している各マーク間
において所定の位相差を有するように再生光の一部の位
相を変化させる位相変化手段と、マークセットからの再
生光を受光して情報を再生する再生手段とを備えてい
る。ここで上記再生光は、光源からマークセットに照明
された光、マークセットより透過・反射した光の全てを
含むものである。
【0006】
【作用】マークセットからの光は、その一方のマークか
らの位相が他方のマークからの位相に対して所定の角度
(好ましくはπ)ずれている。これは、例えば、振幅分
布が反転している光でマークセットを照明することによ
り得られる。振幅分布の反転している再生光は、例え
ば、再生光の一部が通過するように位相板を配置するこ
とにより得られる。あるいは、光源に多重モードで発振
するレーザー光源を用い、多重モードの中から振幅分布
の反転したモードの光のみを選択的に取り出して得るこ
ともできる。振幅分布の反転している再生光をマークセ
ットに照射した場合、その回折角は通常の光を照射した
場合に比べて小さくなり、その光強度分布において現れ
るピークの間隔(これはマーク間隔の情報を含んでい
る)が狭くなる。これは、対物レンズの開口数により制
限されるマーク間隔の下限が低くなることを意味し、し
たがって記録密度の向上が達成される。
らの位相が他方のマークからの位相に対して所定の角度
(好ましくはπ)ずれている。これは、例えば、振幅分
布が反転している光でマークセットを照明することによ
り得られる。振幅分布の反転している再生光は、例え
ば、再生光の一部が通過するように位相板を配置するこ
とにより得られる。あるいは、光源に多重モードで発振
するレーザー光源を用い、多重モードの中から振幅分布
の反転したモードの光のみを選択的に取り出して得るこ
ともできる。振幅分布の反転している再生光をマークセ
ットに照射した場合、その回折角は通常の光を照射した
場合に比べて小さくなり、その光強度分布において現れ
るピークの間隔(これはマーク間隔の情報を含んでい
る)が狭くなる。これは、対物レンズの開口数により制
限されるマーク間隔の下限が低くなることを意味し、し
たがって記録密度の向上が達成される。
【0007】
【実施例】次に図面を参照しながら本発明の実施例につ
いて説明しよう。
いて説明しよう。
【0008】この実施例における情報再生装置の光学系
を図1に示す。半導体レーザー12から出た光はコリメ
ートレンズ14により平行光束に変えられ、位相板16
に入射する。位相板16は、光学的に透明な2つの領域
16aと16bを有し、その一方の領域16aはそこを
通過する光に他の一方の光束に対してπの奇数倍の位相
変化を与える処理が施されている。つまり領域16aに
は、ZnSやMgFなどの薄膜が蒸着により、半導体レ
ーザー12の出す光の波長λに対してλ/2×(n−
1)の奇数倍の厚さで設けられている。これにより領域
16aを通過した光は、領域16bを通過した光に対し
て、その位相がπの奇数倍ずらされる。位相板16を通
過した平行光束は偏光ビームスプリッター18に入射す
る。半導体レーザー12から出るレーザー光は直線偏光
で、その偏光方向は偏光ビームスプリッター18を通過
できるように定められている。従って、位相板16を通
過した光は偏光ビームスプリッター18を透過してλ/
4板20に入射する。この直線偏光はλ/4板20を通
過する際に円偏光となり、対物レンズ22に入射して光
ディスク24に集光され、トラックに沿って多数設けら
れている中の一つのマークセット28を照明する。マー
クセット28は、光学的に検出可能な2つのマーク26
で構成されている。このようなマーク26としては、透
過型光学系における開口や反射型光学系におけるピット
などがある。光ディスク24で反射した光は対物レンズ
22で集められ、λ/4板20を通過して偏光ビームス
プリッター18に入射する。偏光ビームスプリッター1
8に入射する光は、λ/4板を2回通過することによ
り、半導体レーザー12から出た光に対して偏光方向が
90度回転した直線偏光となる。従って、偏光ビームス
プリッター18で反射される。偏光ビームスプリッター
18で反射された光は、ビームスプリッター30により
2本の光束に分割され、この2本の光束は光検出器32
と42にそれぞれ入射する。
を図1に示す。半導体レーザー12から出た光はコリメ
ートレンズ14により平行光束に変えられ、位相板16
に入射する。位相板16は、光学的に透明な2つの領域
16aと16bを有し、その一方の領域16aはそこを
通過する光に他の一方の光束に対してπの奇数倍の位相
変化を与える処理が施されている。つまり領域16aに
は、ZnSやMgFなどの薄膜が蒸着により、半導体レ
ーザー12の出す光の波長λに対してλ/2×(n−
1)の奇数倍の厚さで設けられている。これにより領域
16aを通過した光は、領域16bを通過した光に対し
て、その位相がπの奇数倍ずらされる。位相板16を通
過した平行光束は偏光ビームスプリッター18に入射す
る。半導体レーザー12から出るレーザー光は直線偏光
で、その偏光方向は偏光ビームスプリッター18を通過
できるように定められている。従って、位相板16を通
過した光は偏光ビームスプリッター18を透過してλ/
4板20に入射する。この直線偏光はλ/4板20を通
過する際に円偏光となり、対物レンズ22に入射して光
ディスク24に集光され、トラックに沿って多数設けら
れている中の一つのマークセット28を照明する。マー
クセット28は、光学的に検出可能な2つのマーク26
で構成されている。このようなマーク26としては、透
過型光学系における開口や反射型光学系におけるピット
などがある。光ディスク24で反射した光は対物レンズ
22で集められ、λ/4板20を通過して偏光ビームス
プリッター18に入射する。偏光ビームスプリッター1
8に入射する光は、λ/4板を2回通過することによ
り、半導体レーザー12から出た光に対して偏光方向が
90度回転した直線偏光となる。従って、偏光ビームス
プリッター18で反射される。偏光ビームスプリッター
18で反射された光は、ビームスプリッター30により
2本の光束に分割され、この2本の光束は光検出器32
と42にそれぞれ入射する。
【0009】この光学系では、情報は、マークセット2
8を構成している2つのマーク26の間隔として記録さ
れている。このマークセット28を照明して得られる干
渉パターンに現れるピークの位置はマーク間隔に依存し
て変化する。具体的には、マーク間隔が広くなると干渉
パターンのピーク間隔が狭くなり、逆にマーク間隔が狭
くなるとピーク間隔は広がる。従って、このピークの位
置を検出することにより情報を再生することができる。
検出器32は、このピークの位置を検出するためのもの
で、紙面に垂直な方向に分割された4つの受光素子32
aと32bと32cと32dを有している。そして、光
軸を中心として一方の側に受光素子32aと32bと
が、他方の側に受光素子32cと32dとが配置されて
いる。図の例では説明を簡単にするために、ピークの位
置検出には受光素子32aと32bだけを用いている。
受光素子32aと32bの出力は、差動増幅器34と加
算増幅器36の各々に入力される。差動増幅器34と加
算増幅器36の出力は割算器38に入力される。割算器
38は、2つの受光素子32a,32bの出力をそれぞ
れA,Bとすると、(A−B)/(A+B)を出力す
る。この出力は情報再生部40に入力され、情報再生部
40は、この演算結果に基づいてマーク間隔を求め、光
ディスクに記録されている情報を再生する。割算器38
の演算は、ゼロクロス検出回路46の出力パルスを同期
信号に用いて行なわれる。これについては後述する。
8を構成している2つのマーク26の間隔として記録さ
れている。このマークセット28を照明して得られる干
渉パターンに現れるピークの位置はマーク間隔に依存し
て変化する。具体的には、マーク間隔が広くなると干渉
パターンのピーク間隔が狭くなり、逆にマーク間隔が狭
くなるとピーク間隔は広がる。従って、このピークの位
置を検出することにより情報を再生することができる。
検出器32は、このピークの位置を検出するためのもの
で、紙面に垂直な方向に分割された4つの受光素子32
aと32bと32cと32dを有している。そして、光
軸を中心として一方の側に受光素子32aと32bと
が、他方の側に受光素子32cと32dとが配置されて
いる。図の例では説明を簡単にするために、ピークの位
置検出には受光素子32aと32bだけを用いている。
受光素子32aと32bの出力は、差動増幅器34と加
算増幅器36の各々に入力される。差動増幅器34と加
算増幅器36の出力は割算器38に入力される。割算器
38は、2つの受光素子32a,32bの出力をそれぞ
れA,Bとすると、(A−B)/(A+B)を出力す
る。この出力は情報再生部40に入力され、情報再生部
40は、この演算結果に基づいてマーク間隔を求め、光
ディスクに記録されている情報を再生する。割算器38
の演算は、ゼロクロス検出回路46の出力パルスを同期
信号に用いて行なわれる。これについては後述する。
【0010】次に本実施例の光学特性について詳しく説
明しよう。以下では説明を簡単にするため、図1の光学
系の代わりに、これと同等である図2の透過型光学系を
参照して説明する。
明しよう。以下では説明を簡単にするため、図1の光学
系の代わりに、これと同等である図2の透過型光学系を
参照して説明する。
【0011】対物レンズ22の前側焦点面に配置された
位相板16は、領域16aを通る光束と領域16bを通
る光束との間にπの位相差を与える。従って、対物レン
ズ22の後側焦点面上での複素振幅A(u)は、
位相板16は、領域16aを通る光束と領域16bを通
る光束との間にπの位相差を与える。従って、対物レン
ズ22の後側焦点面上での複素振幅A(u)は、
【数1】
で与えられる。
【0012】ここで、f(x) は位相板16の複素振幅透
過率を示し、
過率を示し、
【数2】
である。位相板16は、領域16aを通過する波面の位
相のみに変化を与え、振幅変化は与えないとした。従っ
て、(1)式と(2)式から
相のみに変化を与え、振幅変化は与えないとした。従っ
て、(1)式と(2)式から
【数3】
が得られる。ただし、uは
【数4】
である。
【0013】また、強度分布は、
【数5】
となる。
【0014】(3)式で与えられる対物レンズの後側焦
点面での光の振幅分布は図3に示すようになり、回折光
の振幅が反転することがわかる。以下、図3に示すよう
に回折像面(後側焦点面)での振幅が反転している光を
位相シフト光と呼ぶことにする。
点面での光の振幅分布は図3に示すようになり、回折光
の振幅が反転することがわかる。以下、図3に示すよう
に回折像面(後側焦点面)での振幅が反転している光を
位相シフト光と呼ぶことにする。
【0015】次に、位相シフト光でマークセット28を
照明する場合について考える。マークセット28は2つ
のマーク26で構成されていて、その各々は互いに位相
がπずれている光で照明される。
照明する場合について考える。マークセット28は2つ
のマーク26で構成されていて、その各々は互いに位相
がπずれている光で照明される。
【0016】説明を簡単にするため、マークセット28
には平面波が入射するものとする。このとき、観測面M
における複素振幅分布P(x0) は、マーク幅をb、マー
ク間隔をdとすると、次式で与えられる。
には平面波が入射するものとする。このとき、観測面M
における複素振幅分布P(x0) は、マーク幅をb、マー
ク間隔をdとすると、次式で与えられる。
【0017】
【数6】
【数7】
従って、強度分布I(x0)は、
【数8】
となる。
【0018】ところで、位相の揃っている通常の平面波
で照明した場合の回折像の強度分布は、
で照明した場合の回折像の強度分布は、
【数9】
である。
【0019】以上の結果、つまりマークセット28を位
相シフト光で照明したときの光強度分布を図4Aに、通
常の光で照明したときの光強度分布を図4Bに示す。な
お、図4では、マーク幅とマーク間隔の関係を
相シフト光で照明したときの光強度分布を図4Aに、通
常の光で照明したときの光強度分布を図4Bに示す。な
お、図4では、マーク幅とマーク間隔の関係を
【数10】
とし、m=1.2,1.5,2.0の場合について示し
てある。
てある。
【0020】以上の結果から分かるように、通常の光を
用いた場合には0次回折光が中心に現れ、1次回折光の
ピークは中心からsinθ=λ/dの位置に現れる。一
方、位相シフト光を用いた場合には0次回折光はなく、
1次回折光のピークは中心からsinθ=λ/2dの位
置に現れ、検出の対象である1次ローブの光量も増加す
る。最も重要な点は上記の式を比較して分かるように、
位相シフト光を用いると1次回折光の回折角が小さくな
るため、回折光を受けるレンズ22の開口数を変えるこ
となく、通常の光を用いた場合には受けることのできな
かった大きな回折角を有する1次回折光を受けられるよ
うになることである。これは、1次回折光がレンズ22
に入射しなければならないという理由から、レンズ22
の開口数により制限されるマーク間隔の下限をさらに低
く設定することができることを意味する。従って、従来
に比べてマークセットのマーク間隔を狭くできるので、
同じ記録領域に対してより多くの情報を記録できるよう
になる。すなわち記録密度が向上する。
用いた場合には0次回折光が中心に現れ、1次回折光の
ピークは中心からsinθ=λ/dの位置に現れる。一
方、位相シフト光を用いた場合には0次回折光はなく、
1次回折光のピークは中心からsinθ=λ/2dの位
置に現れ、検出の対象である1次ローブの光量も増加す
る。最も重要な点は上記の式を比較して分かるように、
位相シフト光を用いると1次回折光の回折角が小さくな
るため、回折光を受けるレンズ22の開口数を変えるこ
となく、通常の光を用いた場合には受けることのできな
かった大きな回折角を有する1次回折光を受けられるよ
うになることである。これは、1次回折光がレンズ22
に入射しなければならないという理由から、レンズ22
の開口数により制限されるマーク間隔の下限をさらに低
く設定することができることを意味する。従って、従来
に比べてマークセットのマーク間隔を狭くできるので、
同じ記録領域に対してより多くの情報を記録できるよう
になる。すなわち記録密度が向上する。
【0021】ところで、マークセットを構成する2つの
マークの中心を結ぶ線とトラックの中心線とが交わる角
度は色々と設定することができる。例えば、図5Aに示
すように、マークセット28を構成する2つのマーク2
6の中心を結ぶ線とトラックの中心線がほぼ直交するよ
うに設定してもよい。あるいは、図5Bに示すように、
マークセット28を構成する2つのマーク26の中心を
結ぶ線とトラックの中心線が交わる角度を0°、すなわ
ち全てのマーク26がトラックの中心線上に位置するよ
うに設定してもよい。さらには、図5Cに示すように、
マークセット28を構成する2つのマーク26の中心を
結ぶ線がトラックの中心線に対して所定の角度で斜めに
交わるように設定してもよい。以下では、マークセット
を構成する2つのマークの中心を結ぶ線がトラックの中
心線とほぼ直交するように設定した場合の情報再生のタ
イミングについて説明し、つづいて全てのマークがトラ
ックの中心線上に位置するように設定した場合の情報再
生のタイミングについて説明しよう。
マークの中心を結ぶ線とトラックの中心線とが交わる角
度は色々と設定することができる。例えば、図5Aに示
すように、マークセット28を構成する2つのマーク2
6の中心を結ぶ線とトラックの中心線がほぼ直交するよ
うに設定してもよい。あるいは、図5Bに示すように、
マークセット28を構成する2つのマーク26の中心を
結ぶ線とトラックの中心線が交わる角度を0°、すなわ
ち全てのマーク26がトラックの中心線上に位置するよ
うに設定してもよい。さらには、図5Cに示すように、
マークセット28を構成する2つのマーク26の中心を
結ぶ線がトラックの中心線に対して所定の角度で斜めに
交わるように設定してもよい。以下では、マークセット
を構成する2つのマークの中心を結ぶ線がトラックの中
心線とほぼ直交するように設定した場合の情報再生のタ
イミングについて説明し、つづいて全てのマークがトラ
ックの中心線上に位置するように設定した場合の情報再
生のタイミングについて説明しよう。
【0022】マークセットを構成する2つのマークの中
心を結ぶ線がトラックの中心線とほぼ直交するように設
定した場合のマークとビームスポットSの位置関係を図
6Aに、そのときの反射光強度変化を図6Bに示す。マ
ーク26は1μm径を有し、マークセット28は1.5
μmのピッチで並んでいる。位相シフト光は上述したよ
うに双峰性の光強度分布を有するため、光ディスク上に
形成されるビームスポットSは2つの円形スポットS1
とS2が接して並んだ形状となる。円形スポットS1とS
2は共に1.4μm径である。このビームスポットS
は、時間の経過と共にトラック上を図中の矢印の方向に
移動する。このとき反射光強度は、ビームスポットSが
マークセット28を最適に照明しているときに最小にな
り、マークセット28の中間を照明しているときに最大
となる。図には、反射光強度が最小となるときのビーム
スポットを破線で、最大となるときのビームスポットを
実線で示してある。割算器38の演算は反射光強度が最
小になったときに行なわれる。
心を結ぶ線がトラックの中心線とほぼ直交するように設
定した場合のマークとビームスポットSの位置関係を図
6Aに、そのときの反射光強度変化を図6Bに示す。マ
ーク26は1μm径を有し、マークセット28は1.5
μmのピッチで並んでいる。位相シフト光は上述したよ
うに双峰性の光強度分布を有するため、光ディスク上に
形成されるビームスポットSは2つの円形スポットS1
とS2が接して並んだ形状となる。円形スポットS1とS
2は共に1.4μm径である。このビームスポットS
は、時間の経過と共にトラック上を図中の矢印の方向に
移動する。このとき反射光強度は、ビームスポットSが
マークセット28を最適に照明しているときに最小にな
り、マークセット28の中間を照明しているときに最大
となる。図には、反射光強度が最小となるときのビーム
スポットを破線で、最大となるときのビームスポットを
実線で示してある。割算器38の演算は反射光強度が最
小になったときに行なわれる。
【0023】この演算を行なうタイミングは次のように
して決定される。図1において、ビームスプリッター3
0を透過した光は光検出器42に入射する。光検出器4
2は光量に比例した信号を出力し、その信号は微分回路
44に入力される。微分回路44は、光検出器42から
の信号を微分して出力し、その出力はゼロクロス検出回
路46に入力される。ゼロクロス検出回路46は、微分
回路44から出力される信号のゼロクロスを検出し、光
検出器42の受光する光強度が極小となったときにパル
ス信号を出力する。ゼロクロス検出回路46からのパル
ス信号は割算器38に入力され、割算器38はこのパル
ス信号を同期信号として演算を行なう。この結果、反射
光強度が最小になったときに上述した手法に基づいて、
その反射光強度分布のピークの位置が検出され、ピット
間隔として記録されている情報の再生が行なわれる。
して決定される。図1において、ビームスプリッター3
0を透過した光は光検出器42に入射する。光検出器4
2は光量に比例した信号を出力し、その信号は微分回路
44に入力される。微分回路44は、光検出器42から
の信号を微分して出力し、その出力はゼロクロス検出回
路46に入力される。ゼロクロス検出回路46は、微分
回路44から出力される信号のゼロクロスを検出し、光
検出器42の受光する光強度が極小となったときにパル
ス信号を出力する。ゼロクロス検出回路46からのパル
ス信号は割算器38に入力され、割算器38はこのパル
ス信号を同期信号として演算を行なう。この結果、反射
光強度が最小になったときに上述した手法に基づいて、
その反射光強度分布のピークの位置が検出され、ピット
間隔として記録されている情報の再生が行なわれる。
【0024】次に、全てのマークがトラックの中心線上
に位置するように設定した場合のマークとビームスポッ
トの位置関係を図7Aに、そのときの反射光強度変化を
図7Bに示す。マークは1μm径を有し、1.5μmの
ピッチで並んでいる。位相シフト光は上述したように双
峰性の光強度を示す。従って、光ディスクを照明するビ
ームスポットSは2つの円形スポットS1とS2が接して
並んだ形状となる。円形スポットS1とS2は共に1.4
μm径である。このビームスポットSは、時間の経過と
共にトラック上を図中の矢印の方向に移動する。このと
き反射光強度は、ビームスポットSの中心がマーク26
の中心に位置したときに最大になり、マーク26とマー
ク26の間の中心に位置したときに最小となる。図に
は、反射光強度が最大となるときの光スポットを実線
で、最小となるときの光スポットを破線で示してある。
割算器38の演算は、円形スポットS1とS2がそれぞれ
別のマーク26を照明したとき、すなわち反射光強度が
最小になったときに行なわれる。
に位置するように設定した場合のマークとビームスポッ
トの位置関係を図7Aに、そのときの反射光強度変化を
図7Bに示す。マークは1μm径を有し、1.5μmの
ピッチで並んでいる。位相シフト光は上述したように双
峰性の光強度を示す。従って、光ディスクを照明するビ
ームスポットSは2つの円形スポットS1とS2が接して
並んだ形状となる。円形スポットS1とS2は共に1.4
μm径である。このビームスポットSは、時間の経過と
共にトラック上を図中の矢印の方向に移動する。このと
き反射光強度は、ビームスポットSの中心がマーク26
の中心に位置したときに最大になり、マーク26とマー
ク26の間の中心に位置したときに最小となる。図に
は、反射光強度が最大となるときの光スポットを実線
で、最小となるときの光スポットを破線で示してある。
割算器38の演算は、円形スポットS1とS2がそれぞれ
別のマーク26を照明したとき、すなわち反射光強度が
最小になったときに行なわれる。
【0025】この演算を行なうタイミングは次のように
して決定される。図1において、ビームスプリッター3
0を透過した光は光検出器42に入射する。光検出器4
2は光量に比例した信号を出力し、その微分回路44に
入力される。微分回路44は、光検出器42からの信号
を微分して出力し、その出力はゼロクロス検出回路46
に入力される。ゼロクロス検出回路46は、微分回路4
4から出力される信号のゼロクロスを検出し、光検出器
42の受光する光強度が極小となったときにパルス信号
を出力する。ゼロクロス検出回路46からのパルス信号
は割算器38に入力され、割算器38はこのパルス信号
を同期信号として演算を行なう。この結果、反射光強度
が最小になったとき、すなわち円形スポットS1とS2が
それぞれ隣接した2つのマーク26の各々を照明したと
きに、その反射光強度分布(干渉パターン)のピークの
位置が検出され、マーク間隔として記録されている情報
の再生が行なわれる。
して決定される。図1において、ビームスプリッター3
0を透過した光は光検出器42に入射する。光検出器4
2は光量に比例した信号を出力し、その微分回路44に
入力される。微分回路44は、光検出器42からの信号
を微分して出力し、その出力はゼロクロス検出回路46
に入力される。ゼロクロス検出回路46は、微分回路4
4から出力される信号のゼロクロスを検出し、光検出器
42の受光する光強度が極小となったときにパルス信号
を出力する。ゼロクロス検出回路46からのパルス信号
は割算器38に入力され、割算器38はこのパルス信号
を同期信号として演算を行なう。この結果、反射光強度
が最小になったとき、すなわち円形スポットS1とS2が
それぞれ隣接した2つのマーク26の各々を照明したと
きに、その反射光強度分布(干渉パターン)のピークの
位置が検出され、マーク間隔として記録されている情報
の再生が行なわれる。
【0026】また、マークセットを構成する2つのマー
クの中心を結ぶ線がトラックの中心線に対して所定の角
度で斜めに交わるように設定した場合は、マークセット
を構成する2つのマークの中心を結ぶ線がトラックの中
心線とほぼ直交するように設定した場合と全く同じ手法
を用いて情報再生が行なわれる。このようにマークセッ
トを構成するマークを斜めに配置すると、トラックに直
交する方向にマークを配置する場合と比較して、同じ情
報つまり同じマーク間隔を有するマークセットを記録す
る際にマークセットがトラックに直交する方向に占める
幅が狭くなり、記録密度を更に高めることができる。
クの中心を結ぶ線がトラックの中心線に対して所定の角
度で斜めに交わるように設定した場合は、マークセット
を構成する2つのマークの中心を結ぶ線がトラックの中
心線とほぼ直交するように設定した場合と全く同じ手法
を用いて情報再生が行なわれる。このようにマークセッ
トを構成するマークを斜めに配置すると、トラックに直
交する方向にマークを配置する場合と比較して、同じ情
報つまり同じマーク間隔を有するマークセットを記録す
る際にマークセットがトラックに直交する方向に占める
幅が狭くなり、記録密度を更に高めることができる。
【0027】本発明は上述した実施例に限定されること
なく種々多くの変形が可能である。上述の実施例の変形
や変更や修正のいくつかを以下に述べるが、これらはす
べて特許請求の範囲に含まれるものである。
なく種々多くの変形が可能である。上述の実施例の変形
や変更や修正のいくつかを以下に述べるが、これらはす
べて特許請求の範囲に含まれるものである。
【0028】上述の実施例では、マークセットを照明し
て得られる強度分布のピーク間隔に基づいて情報を再生
しているが、全てのマークがトラック方向に沿って設け
られている光ディスクに対しては、光ディスクからの反
射光強度の時間的変化に基づいて情報を再生することも
できる。次にその原理について説明しよう。図7Cは、
1.4μmピッチで設けられたマークを位相シフト光で
照明したときの反射光強度の時間的変化を示す。図7B
と図7Cを比較すると、1.4μmピッチのマークを照
明して得られる強度変化と1.5μmピッチのマークを
照明して得られる強度変化とでは、その極値の現れるピ
ッチが異なることが分かる。また、図7Aと図7Bを比
較すると、ビームスポットSの中心がマーク26の中心
に位置したときに反射光強度が極大となることが分か
る。従って、反射光強度の極大の時間間隔を求めること
により、マーク間隔として記録されている情報を再生す
ることができる。このような情報再生を行なうための構
成を図8に示す。光検出器42は受けた光の光量に比例
した出力を微分回路44に供給する。微分回路44は入
力信号を微分した結果をゼロクロス検出器46に出力す
る。ゼロクロス検出器46は入力信号のゼロクロスを検
出し、光強度が極大となるタイミングでパルスを発生す
る。このパルスは、クロック発生回路50からクロック
信号と共に、ピーク間隔検出回路48に入力される。ピ
ーク間隔検出回路48は、ゼロクロス検出器46から出
力されるパルスの時間間隔すなわち光強度の極大値の時
間間隔に対応した信号を出力する。この信号はマーク間
隔に対応しており、情報再生回路52において再生情報
に変換されて出力される。
て得られる強度分布のピーク間隔に基づいて情報を再生
しているが、全てのマークがトラック方向に沿って設け
られている光ディスクに対しては、光ディスクからの反
射光強度の時間的変化に基づいて情報を再生することも
できる。次にその原理について説明しよう。図7Cは、
1.4μmピッチで設けられたマークを位相シフト光で
照明したときの反射光強度の時間的変化を示す。図7B
と図7Cを比較すると、1.4μmピッチのマークを照
明して得られる強度変化と1.5μmピッチのマークを
照明して得られる強度変化とでは、その極値の現れるピ
ッチが異なることが分かる。また、図7Aと図7Bを比
較すると、ビームスポットSの中心がマーク26の中心
に位置したときに反射光強度が極大となることが分か
る。従って、反射光強度の極大の時間間隔を求めること
により、マーク間隔として記録されている情報を再生す
ることができる。このような情報再生を行なうための構
成を図8に示す。光検出器42は受けた光の光量に比例
した出力を微分回路44に供給する。微分回路44は入
力信号を微分した結果をゼロクロス検出器46に出力す
る。ゼロクロス検出器46は入力信号のゼロクロスを検
出し、光強度が極大となるタイミングでパルスを発生す
る。このパルスは、クロック発生回路50からクロック
信号と共に、ピーク間隔検出回路48に入力される。ピ
ーク間隔検出回路48は、ゼロクロス検出器46から出
力されるパルスの時間間隔すなわち光強度の極大値の時
間間隔に対応した信号を出力する。この信号はマーク間
隔に対応しており、情報再生回路52において再生情報
に変換されて出力される。
【0029】また、位相シフト光を作り出すための位相
板を設ける代わりに、TEM01モードの光のみを射出す
る光源を使用して同様の効果が得られる。TEM01モー
ドの光は、その振幅分布とモードパターンを示す図9か
ら分かるように正に位相シフト光である。次に、TEM
01モードの光だけを取り出す手法を以下に説明する。一
般にガスレーザーにおいては、その横モードは多重モー
ドで同時発振する。このようなガスレーザーの共振器内
に絞りを設け、鏡の有効面積と小さくすると、基本モー
ドであるTEM00モードの光だけが取り出される。そし
て、絞りの径を徐々に大きくしていくと、次々と低次モ
ードから順に字数の高いモードを発振させることができ
る。その詳細は、「 W. W. Rigrod, "ISOLATION OF AXI
-SYMMETRICAL OPTICAL-RESONATOR MODES", APPLIED PHY
SICS LETTERS, Volume2, Number3, 1 February 1963, p
p.51-53 」に記述されている。従って、共振器内の絞り
の径を適当に調整することにより、TEM01モードの光
だけを取り出すことができる。また、半導体レーザーに
おいても、導波モードを制御することによりTEM01モ
ードの光のみを取り出せる。
板を設ける代わりに、TEM01モードの光のみを射出す
る光源を使用して同様の効果が得られる。TEM01モー
ドの光は、その振幅分布とモードパターンを示す図9か
ら分かるように正に位相シフト光である。次に、TEM
01モードの光だけを取り出す手法を以下に説明する。一
般にガスレーザーにおいては、その横モードは多重モー
ドで同時発振する。このようなガスレーザーの共振器内
に絞りを設け、鏡の有効面積と小さくすると、基本モー
ドであるTEM00モードの光だけが取り出される。そし
て、絞りの径を徐々に大きくしていくと、次々と低次モ
ードから順に字数の高いモードを発振させることができ
る。その詳細は、「 W. W. Rigrod, "ISOLATION OF AXI
-SYMMETRICAL OPTICAL-RESONATOR MODES", APPLIED PHY
SICS LETTERS, Volume2, Number3, 1 February 1963, p
p.51-53 」に記述されている。従って、共振器内の絞り
の径を適当に調整することにより、TEM01モードの光
だけを取り出すことができる。また、半導体レーザーに
おいても、導波モードを制御することによりTEM01モ
ードの光のみを取り出せる。
【0030】また、位相シフト光を作り出すための位相
板を設ける代わりに、光ディスクに再生光の一部が通る
光学的距離と残りの再生光の通る光学的距離との間に半
波長分の差を与えるものを用いても同様の効果が得られ
る。このようなものとしては、例えば反射型では図10
に示すように、再生光の波長λに対して、深さがλ/4
異なる2つのピット26から構成されたマークセット2
8を備えている光ディスク24がある。一方のピットで
反射した光と他方のピットで反射した光との間には往復
でλ/2の光路差(つまりπの位相差)が生じるため、
マークセットからの光は実施例のそれと同等になり、同
じ作用が得られる。一方、透過型では図11に示すよう
に、マークセット28を構成するマーク26の部分の厚
さが互いに異なっているものがある。この光ディスク2
4は光学的に透明な基板24aとその表面に設けた不透
明膜24bとを有し、マーク26は不透明膜24bに設
けた開口として構成される。透明基板24aには、マー
クセット28を構成している2つのマーク(開口)26
の間に高さLの段差が設けられている。このとき段差の
高さLは、透明基板24aの屈折率をnとして、(n−
1)L=λ/2となるように設定される。これにより、
一方の開口を通過した光と他方の開口を通過した光との
間にλ/2の位相差(すなわちπの位相差)が生じるた
め、実施例と同様に作用する。
板を設ける代わりに、光ディスクに再生光の一部が通る
光学的距離と残りの再生光の通る光学的距離との間に半
波長分の差を与えるものを用いても同様の効果が得られ
る。このようなものとしては、例えば反射型では図10
に示すように、再生光の波長λに対して、深さがλ/4
異なる2つのピット26から構成されたマークセット2
8を備えている光ディスク24がある。一方のピットで
反射した光と他方のピットで反射した光との間には往復
でλ/2の光路差(つまりπの位相差)が生じるため、
マークセットからの光は実施例のそれと同等になり、同
じ作用が得られる。一方、透過型では図11に示すよう
に、マークセット28を構成するマーク26の部分の厚
さが互いに異なっているものがある。この光ディスク2
4は光学的に透明な基板24aとその表面に設けた不透
明膜24bとを有し、マーク26は不透明膜24bに設
けた開口として構成される。透明基板24aには、マー
クセット28を構成している2つのマーク(開口)26
の間に高さLの段差が設けられている。このとき段差の
高さLは、透明基板24aの屈折率をnとして、(n−
1)L=λ/2となるように設定される。これにより、
一方の開口を通過した光と他方の開口を通過した光との
間にλ/2の位相差(すなわちπの位相差)が生じるた
め、実施例と同様に作用する。
【0031】また実施例中では位相シフト光の位相をず
らす角度をπとしたが、その角度はπに限らず、3π/
4〜5π/4の範囲においても同様の効果が得られた。
らす角度をπとしたが、その角度はπに限らず、3π/
4〜5π/4の範囲においても同様の効果が得られた。
【0032】
【発明の効果】本発明の光学式情報再生装置によれば、
対物レンズの開口数などにより制限される光学的に検出
可能なマーク間隔の下限を更に低くすることができ、従
って記録密度の向上に効果がある。
対物レンズの開口数などにより制限される光学的に検出
可能なマーク間隔の下限を更に低くすることができ、従
って記録密度の向上に効果がある。
【図1】本発明による光学式情報再生装置の実施例の構
成を示す。
成を示す。
【図2】図1の光学式情報再生装置の光学系を模式的に
示した図である。
示した図である。
【図3】光ディスク上での位相シフト光の振幅分布を示
すグラフである。
すグラフである。
【図4】図4Aは位相シフト光でマークセットを照明し
たときの光強度分布を示すグラフ、図4Bは通常の光で
マークセットを照明したときの光強度分布を示すグラフ
である。
たときの光強度分布を示すグラフ、図4Bは通常の光で
マークセットを照明したときの光強度分布を示すグラフ
である。
【図5】図5Aはトラックに直交する方向にマークを配
置したマークセットを示し、図5Bはトラックに沿って
マークを配置したマークセットを示し、図5Cはトラッ
クに対して斜めにマークを配置したマークセットを示
す。
置したマークセットを示し、図5Bはトラックに沿って
マークを配置したマークセットを示し、図5Cはトラッ
クに対して斜めにマークを配置したマークセットを示
す。
【図6】図6Aはトラックに直交する方向にマークを設
けたマークセットとビームスポットの位置関係を示し、
図6Bは図6Aのマークセットを照明して得られる時間
的に変化する反射光強度を示す。
けたマークセットとビームスポットの位置関係を示し、
図6Bは図6Aのマークセットを照明して得られる時間
的に変化する反射光強度を示す。
【図7】図7Aはトラックに沿ってマークを設けたマー
クセットとビームスポットの位置関係を示し、図7Bは
図7Aのマークセットを照明して得られる時間的に変化
する反射光強度を示し、図7Cは図7Aと異なるピッチ
でマークを設けたマークセットを照明して得られる時間
的に変化する反射光強度を示す。
クセットとビームスポットの位置関係を示し、図7Bは
図7Aのマークセットを照明して得られる時間的に変化
する反射光強度を示し、図7Cは図7Aと異なるピッチ
でマークを設けたマークセットを照明して得られる時間
的に変化する反射光強度を示す。
【図8】トラックに沿ってマークを設けたマークセット
から情報を再生するための別の構成を示す。
から情報を再生するための別の構成を示す。
【図9】TEM01モードの光のモードパターンと振幅分
布を示す。
布を示す。
【図10】位相シフト光を作り出す反射型光学系用の光
ディスクを示す。
ディスクを示す。
【図11】位相シフト光を作り出す透過型光学系用の光
ディスクを示す。
ディスクを示す。
12…半導体レーザー、16…位相板、22…対物レン
ズ、24…光ディスク、32…光検出器、34…差動増
幅器、36…加算増幅器、38…割算器、40…情報再
生部。
ズ、24…光ディスク、32…光検出器、34…差動増
幅器、36…加算増幅器、38…割算器、40…情報再
生部。
Claims (12)
- 【請求項1】 記録媒体のトラックに沿って設けられた
多数のマークセットの各々を構成している複数の光学的
に検出可能なマークの間隔として記録されている情報を
光学的に再生する光学式情報再生装置であり、 再生光を射出する光源と、 再生光をマークセットに照射する手段と、 マークセットからの再生光が、少なくともマークセット
を構成している各マーク間において所定の位相差を有す
るように、再生光の一部の位相を変化させる位相変化手
段と、 マークセットからの再生光を受光して情報を再生する再
生手段とを備えている光学式情報再生装置。 - 【請求項2】 位相変化手段は、再生光の一部が通る光
源から再生手段までの光学的距離を、再生光の残りが通
る光学的距離に対して変える光学的距離変化手段を備え
ている請求項1記載の光学式情報再生装置。 - 【請求項3】 光学的距離変化手段は、マークセットを
照明する再生光の一部が通過するよう配置した位相板で
ある請求項2記載の光学式情報再生装置。 - 【請求項4】 マークセットはトラックの中心線の両側
に設けられ、その中心を結ぶ線がトラックの中心線にほ
ぼ直交している2つのマークを少なくとも含み、 トラックの中心線に対して、一方の側が位相板を通過し
た光で照明され、他方の側が位相板を通らない光で照明
されるように、位相板が配置されている請求項3記載の
光学式情報再生装置。 - 【請求項5】 マークセットは、トラック方向に沿って
設けられた多数のマークの中の隣接する2つのマークで
構成され、 位相板を通過した光と位相板を通らない光が共にトラッ
ク上を照明するように、位相板が配置されている請求項
3記載の光学式情報再生装置。 - 【請求項6】 マークセットを構成するマークが記録媒
体に形成されたピットであって、光学的距離変化手段
は、深さの異なるピットから構成されたマークセットを
有している記録媒体である請求項2記載の光学式情報再
生装置。 - 【請求項7】 光学的距離変化手段は、再生光の一部が
通過する部分と残りが通過する部分とで異なる厚さを有
している記録媒体である請求項2記載の光学式情報再生
装置。 - 【請求項8】 光源が多重モードで発振するレーザーで
あって、位相変化手段は多重モードの中から振幅分布の
反転したモードの光のみを選択的に取り出す手段を備え
ている請求項1記載の光学式情報再生装置。 - 【請求項9】 マークセットはトラック方向に沿って設
けられた複数のマークの中の隣接する2つのマークで構
成され、 情報再生手段は、マークセットからの光の強度の時間的
変化に基づいてマーク間隔を検出し情報を再生する演算
手段とを備えている請求項1記載の光学式情報再生装
置。 - 【請求項10】 トラック方向に沿って複数形成されて
いる、情報に応じた間隔で形成された複数の光学的に検
出可能なマークから構成されているマークセットと、 マークセットを再生光が照明した際に、マークセットか
らの再生光の一部と残りとの間に位相差を与える手段を
備えている記録媒体。 - 【請求項11】 光学的に検出可能なマークは所定の深
さを有するピットであって、 位相差を与える手段は、深さの異なるピットから構成さ
れたマークセットである請求項10記載の記録媒体。 - 【請求項12】 記録媒体は、再生光を通す光学的に透
明な部材と、その表面に設けた再生光を通さない光学的
に不透明な膜とを有し、 光学的に検出可能なマークは不透明な膜に開けた開口で
あって、 位相差を与える手段は、再生光の一部が通過する部分と
残りが通過する部分とで異なる厚さを有している透明な
部材である請求項10記載の記録媒体。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
US08/186,249 US5610894A (en) | 1991-02-25 | 1994-01-24 | Optical information reproducing apparatus and recording medium |
Applications Claiming Priority (4)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP5330391 | 1991-02-25 | ||
JP3-53303 | 1991-05-15 | ||
JP11053091 | 1991-05-15 | ||
JP3-110530 | 1991-05-15 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH0536084A true JPH0536084A (ja) | 1993-02-12 |
JP3063805B2 JP3063805B2 (ja) | 2000-07-12 |
Family
ID=26394019
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP04004190A Expired - Lifetime JP3063805B2 (ja) | 1991-02-25 | 1992-01-13 | 光学式情報再生装置および記録媒体 |
Country Status (2)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US5610894A (ja) |
JP (1) | JP3063805B2 (ja) |
Families Citing this family (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0991761A (ja) * | 1995-09-28 | 1997-04-04 | Sony Corp | 光記録媒体 |
EP1950750B1 (en) * | 1999-06-30 | 2009-08-12 | Sharp Kabushiki Kaisha | Optical disc device for reproducing an optical disc having pits of different depth formed therein |
CN109634344A (zh) | 2017-03-08 | 2019-04-16 | 长江存储科技有限责任公司 | 一种高带宽低压差线性稳压器 |
Family Cites Families (16)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US3883232A (en) * | 1973-12-03 | 1975-05-13 | Hitachi Ltd | Random phase plate and optical system incorporating said plate |
NL177157C (nl) * | 1975-02-28 | 1985-08-01 | Philips Nv | Inrichting voor het uitlezen van een vlakke registratiedrager met een optisch uitleesbare informatiestruktuur. |
FR2359476A1 (fr) * | 1976-07-23 | 1978-02-17 | Thomson Csf | Procede de lecture optique d'un support d'information et lecteur optique mettant en oeuvre un tel procede de lecture |
NL7906576A (nl) * | 1979-09-03 | 1981-03-05 | Philips Nv | Registratiedrager waarin informatie is aangebracht in een optisch uitleesbare informatiestruktuur, alsmede uitleesinrichting daarvoor. |
JPS57108811A (en) * | 1980-12-26 | 1982-07-07 | Hitachi Ltd | Optical focus position detector |
US4359750A (en) * | 1981-04-30 | 1982-11-16 | Eastman Kodak Company | Optical disc structure |
EP0229035B1 (en) * | 1986-01-08 | 1993-08-18 | Victor Company Of Japan, Limited | Optical recording/reproducing of information signals |
JPH073710B2 (ja) * | 1987-06-17 | 1995-01-18 | 日本電気株式会社 | 光磁気ディスク装置 |
JPH0210523A (ja) * | 1988-06-29 | 1990-01-16 | Nec Corp | 光ヘッド装置 |
JPH073343B2 (ja) * | 1988-11-28 | 1995-01-18 | 日本ビクター株式会社 | 反射型光学式エンコーダ装置 |
JP2827266B2 (ja) * | 1989-04-04 | 1998-11-25 | 日本電気株式会社 | 光ヘッド装置 |
US5291471A (en) * | 1989-09-22 | 1994-03-01 | Russell James T | Recording/reproducing system using phase encoding of optical storage medium |
US5056080A (en) * | 1989-09-22 | 1991-10-08 | Russell James T | Optical recording/reproducing system using interference techniques |
JP2788777B2 (ja) * | 1990-03-02 | 1998-08-20 | パイオニア株式会社 | 光ピックアップ |
US5202878A (en) * | 1990-05-24 | 1993-04-13 | Olympus Optical Co., Ltd. | Optical recording and reproducing method and apparatus for the same |
JP2858455B2 (ja) * | 1990-11-27 | 1999-02-17 | キヤノン株式会社 | 光学的情報記録装置 |
-
1992
- 1992-01-13 JP JP04004190A patent/JP3063805B2/ja not_active Expired - Lifetime
-
1994
- 1994-01-24 US US08/186,249 patent/US5610894A/en not_active Expired - Fee Related
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
US5610894A (en) | 1997-03-11 |
JP3063805B2 (ja) | 2000-07-12 |
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