JPH0533342B2 - - Google Patents
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- JPH0533342B2 JPH0533342B2 JP60020299A JP2029985A JPH0533342B2 JP H0533342 B2 JPH0533342 B2 JP H0533342B2 JP 60020299 A JP60020299 A JP 60020299A JP 2029985 A JP2029985 A JP 2029985A JP H0533342 B2 JPH0533342 B2 JP H0533342B2
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- 239000002245 particle Substances 0.000 claims description 80
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims description 62
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 claims description 31
- 230000004044 response Effects 0.000 claims description 2
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 3
- 210000000601 blood cell Anatomy 0.000 description 2
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 2
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 239000007788 liquid Substances 0.000 description 2
- 230000007257 malfunction Effects 0.000 description 2
- 239000000725 suspension Substances 0.000 description 2
- 239000008151 electrolyte solution Substances 0.000 description 1
- 230000015654 memory Effects 0.000 description 1
- 150000003839 salts Chemical class 0.000 description 1
- XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N water Substances O XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
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- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N15/00—Investigating characteristics of particles; Investigating permeability, pore-volume or surface-area of porous materials
- G01N15/10—Investigating individual particles
- G01N15/1031—Investigating individual particles by measuring electrical or magnetic effects
- G01N15/12—Investigating individual particles by measuring electrical or magnetic effects by observing changes in resistance or impedance across apertures when traversed by individual particles, e.g. by using the Coulter principle
- G01N15/131—Details
- G01N15/132—Circuits
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Description
【発明の詳細な説明】
産業上の利用分野〕
この発明は、血球などの粒子の粒度を測定する
粒子分析装置に関し、さらに詳しくは粒子検出信
号波のピーク値をデジタル値に変換し、そのデジ
タル値に基づいて粒度を測定する粒子分析装置に
関するものである。[Detailed Description of the Invention] Industrial Application Field] The present invention relates to a particle analyzer that measures the particle size of particles such as blood cells, and more specifically, converts the peak value of a particle detection signal wave into a digital value, and converts the peak value of a particle detection signal wave into a digital value. The present invention relates to a particle analyzer that measures particle size based on a value.
血球などの粒子の粒度を測定する装置として、
導電式粒子検出装置がある。導電式粒子検出装置
において、粒子の検出は次のようにして行なわれ
る。塩濃度0.8％程度の薄い電解質液中に測定用
粒子を浮遊させた懸濁液を作成し、その懸濁液に
微細孔を有する絶縁壁で隔絶された一対の電極を
浸漬する。そして一対の電極間に電位差を与え、
前記微細孔を通じてのみ、電極間に電流が流れる
ようにし、絶縁壁で隔絶された液間に水圧差を加
え、微細孔を通じて液とともに粒子を流過させ
る。このとき、粒子径に対する微細孔径を適切に
選べば、流過する粒子の体積に比例した電流変化
が電極間に生ずる。その電流変化を示す粒子検出
信号から測定用粒子の粒度を求める。
As a device to measure the particle size of particles such as blood cells,
There is a conductive particle detection device. In the conductive particle detection device, particles are detected as follows. A suspension of measurement particles is created in a thin electrolyte solution with a salt concentration of about 0.8%, and a pair of electrodes separated by an insulating wall with micropores is immersed in the suspension. Then, a potential difference is applied between the pair of electrodes,
A current is allowed to flow between the electrodes only through the micropores, a water pressure difference is applied between the liquid separated by the insulating wall, and the particles flow together with the liquid through the micropores. At this time, if the micropore diameter is appropriately selected relative to the particle diameter, a current change proportional to the volume of the flowing particles will occur between the electrodes. The particle size of the measurement particles is determined from the particle detection signal indicating the current change.
上述のようにして得られた粒子検出信号が、
Ａ／Ｄ（アナログ／デジタル）変換され、マイク
ロコンピユータなどで処理され、その処理結果の
粒度分布情報などが粒度記録装置に出力される。 The particle detection signal obtained as described above is
It is A/D (analog/digital) converted, processed by a microcomputer, etc., and the particle size distribution information etc. as a result of the processing is output to a particle size recording device.
このような粒子分析装置において、粒子検出信
号波のピーク値を粒子の大きさとして求めるため
に、粒子検出信号がＡ／Ｄ変換されるが、２つの
粒子が前記微細孔をほぼ同時に連続して流過する
と、２つ粒子の検出を示す２つのピークの間隔が
非常に接近してしまう。通常、そのピーク間隔は
数100μsecであるが、そのときは10μsecと極端に
短くなる。このような場合においても検出誤差が
生じないようにＡ／Ｄ変換を行なうには、一般的
にそれに見合う高速動作のＡ／Ｄ変換器が必要と
される。 In such a particle analyzer, the particle detection signal is A/D converted in order to determine the peak value of the particle detection signal wave as the particle size. When flowing through, the two peaks indicating the detection of two particles become very close to each other. Normally, the peak interval is several hundred microseconds, but in that case it becomes extremely short, 10 microseconds. In order to perform A/D conversion so that detection errors do not occur even in such a case, an A/D converter that operates at a correspondingly high speed is generally required.
しかし、一般的に高速動作のＡ／Ｄ変換器が高
価であることと、10μsec以内に連続して粒子が流
過する確率が低いなどの理由で、高速動作のＡ／
Ｄ変換器が用いられることは少ない。従来では低
速動作のＡ／Ｄ変換器を用いて、上述のような状
態において検出誤差が生じないようにするために
その検出波高値に対して補正が行なわれている。
その補正率は装置ごとに異なり、一定とはならな
いため、機差による検出誤差が生じる。
However, in general, high-speed A/D converters are expensive, and the probability that particles will pass continuously within 10 μsec is low.
D converters are rarely used. Conventionally, a low-speed operating A/D converter is used to correct the detected peak value in order to prevent detection errors from occurring in the above-mentioned conditions.
Since the correction factor differs from device to device and is not constant, detection errors occur due to machine differences.
他の従来例として、特願昭54−107395号に示さ
れるように、分周回路を用いて一定比率で粒子検
出信号を抽出し、Ａ／Ｄ変換することが考えられ
るが、この場合検出情報が減るため、粒子の濃度
が薄いときや計数時間が短いときには、滑らかな
粒子分布曲線が得られない。また得られた測定結
果の信頼性も低い。 As another conventional example, as shown in Japanese Patent Application No. 54-107395, it is possible to extract particle detection signals at a fixed ratio using a frequency dividing circuit and perform A/D conversion, but in this case, the detection information As a result, a smooth particle distribution curve cannot be obtained when the particle concentration is low or when the counting time is short. Furthermore, the reliability of the obtained measurement results is also low.
その他、特願昭58−50449号に示されるように、
信号記憶メモリを複数設けた例もあるが、この場
合制御回路が複雑となるとともに、複数の同じ装
置の並設が必要となる問題がある。 In addition, as shown in Japanese Patent Application No. 58-50449,
Although there are examples in which a plurality of signal storage memories are provided, in this case, there is a problem that the control circuit becomes complicated and a plurality of the same devices need to be installed in parallel.
この発明の目的は、回路構成が簡単でかつ分析
精度の高い粒子分析装置を提供することである。 An object of the present invention is to provide a particle analyzer with a simple circuit configuration and high analysis accuracy.
この発明の粒子分析装置は、粒子を検出し粒子
の大きさに対応したピークを有する粒子検出信号
を出力する粒子検出手段と、前記粒子検出信号を
入力しピーク値を交互に保持する第１および第２
のピーク値保持手段と、前記粒子検出信号の前記
ピークを検出するピーク検出手段と、このピーク
検出手段の出力に応答して前記第１および第２の
ピーク値保持手段のピーク値保持動作を交互に切
り換えて制御する制御手段と、前記第１および第
２のピーク値保持手段からのそれぞれの出力を交
互に切り換えて出力する切換手段と、この切換手
段の出力をデジタル値に変換するアナログ／デジ
タル変換手段とを備え、前記切換手段は前記アナ
ログ／デジタル変換手段の変換動作終了信号に基
づいて切換動作を行なうことを特徴とする。
The particle analyzer of the present invention includes a particle detection means for detecting particles and outputting a particle detection signal having a peak corresponding to the size of the particle; Second
a peak value holding means, a peak detecting means for detecting the peak of the particle detection signal, and a peak value holding operation of the first and second peak value holding means is alternately performed in response to the output of the peak detecting means. a control means for switching and controlling the output from the first and second peak value holding means, a switching means for alternately switching and outputting the respective outputs from the first and second peak value holding means, and an analog/digital controller for converting the output of the switching means into a digital value. converting means, and the switching means performs a switching operation based on a conversion operation completion signal from the analog/digital converting means.
この発明の粒子分析装置は、粒子検出信号のピ
ーク検出毎にピーク値を第１および第２のピーク
値保持手段で交互に保持し、第１および第２のピ
ーク値保持手段からのそれぞれの出力をアナロ
グ／デジタル変換動作終了時点で切り換えてアナ
ログ／デジタル変換手段に与え、デジタル値に変
換するので、粒子検出信号のピーク間隔が比較的
短いときでも検出誤差のない分析結果が得られ、
高い分析精度を保つことができる。
The particle analyzer of the present invention alternately holds the peak value in the first and second peak value holding means each time a peak of the particle detection signal is detected, and outputs the respective outputs from the first and second peak value holding means. is switched at the end of the analog/digital conversion operation and fed to the analog/digital conversion means to be converted into a digital value, so even when the peak interval of the particle detection signal is relatively short, analysis results without detection errors can be obtained.
High analysis accuracy can be maintained.
この発明の一実施例を第１図および第２図に基
づいて説明する。第１図はこの発明の一実施例の
粒子分析装置の構成を示すブロツク図であり、第
２図はその動作を説明するためのタイミングチヤ
ートである。
An embodiment of the present invention will be described based on FIGS. 1 and 2. FIG. 1 is a block diagram showing the configuration of a particle analyzer according to an embodiment of the present invention, and FIG. 2 is a timing chart for explaining its operation.
粒子検出手段１は、従来技術で述べたような構
成で粒子を検出し、第２図Ａに示されるような粒
子検出信号SGを出力する。粒子検出信号SGは粒
子の大きさに対応したピークＰ１１，Ｐ１２，Ｐ
１３，Ｐ１４を有する。粒子検出手段１から出力
された粒子検出信号SGは、ピーク値保持手段で
あるサンプルホールド回路２，３およびピーク検
出手段４に与えられる。 The particle detection means 1 detects particles with the configuration described in the prior art and outputs a particle detection signal SG as shown in FIG. 2A. The particle detection signal SG has peaks P11, P12, P corresponding to the particle size.
13, P14. The particle detection signal SG outputted from the particle detection means 1 is given to sample hold circuits 2 and 3, which are peak value holding means, and to the peak detection means 4.
ピーク検出手段４は、粒子検出信号SGが与え
られ、そのピークＰ１１〜Ｐ１４が入力される毎
に第２図Ｂに示されるようなピーク検出パルスＰ
を切換回路５に出力する。 The peak detection means 4 is supplied with the particle detection signal SG, and generates a peak detection pulse P as shown in FIG. 2B every time the peaks P11 to P14 are input.
is output to the switching circuit 5.
フリツプフロツプである切換回路５は、ピーク
検出パルスＰが入力される毎に、第２図Ｃ，Ｄに
示されるようなその２つの切換信号Ｐ１，Ｐ２の
出力レベルを切り換えて、サンプルホールド制御
回路６，７に与える。 The switching circuit 5, which is a flip-flop, switches the output levels of the two switching signals P1 and P2 as shown in FIG. ,7.
サンプルホールド制御回路６，７は、フリツプ
フロツプから成り、第２図Ｅ，Ｆに示されている
ような制御信号PH１，PH２を出力する。制御
信号PH１，PH２は、前記サンプルホールド回
路２，３およびＡ／Ｄ変換制御回路８に与えられ
る。 The sample and hold control circuits 6 and 7 are comprised of flip-flops and output control signals PH1 and PH2 as shown in FIG. 2E and F. Control signals PH1 and PH2 are given to the sample and hold circuits 2 and 3 and the A/D conversion control circuit 8.
各サンプルホールド回路２，３に、与えられた
粒子検出信号SGを制御信号PH１，PH２に従つ
てサンプルホールドし、第２図Ｇ，Ｈに示される
ようなサンプルホールド信号SH１，SH２をそれ
ぞれ切換回路９に出力する。 The sample and hold circuits 2 and 3 sample and hold the applied particle detection signal SG according to the control signals PH1 and PH2, and switch the sample and hold signals SH1 and SH2 as shown in FIG. 2G and H, respectively. Output to 9.
切換回路９は、与えられた２つのサンプルホー
ルド信号SH１，SH２を交互に切り換え、第２図
Ｉに示されるような信号SHをＡ／Ｄ変換器１０
に出力する。 The switching circuit 9 alternately switches the two sample and hold signals SH1 and SH2 given to it, and sends the signal SH as shown in FIG. 2I to the A/D converter 10.
Output to.
Ａ／Ｄ変換器１０は、前記Ａ／Ｄ変換制御回路
８から出力される第２図Ｊに示されるような変換
開始信号CSTに基づいて、前記信号SHをデジタ
ル値に変換する。そのデジタル化信号は、ラツチ
回路１１を介してデータ入力インタフエイス１２
に与えられる。またＡ／Ｄ変換器１０は、第２図
Ｋに示されるようなそのＡ／Ｄ変換期間ハイレベ
ルとなるパルスCCを、Ａ／Ｄ変換制御回路８、
ラツチ回路１１、データ入力インタフエイス１
２、切換回路１３およびホールドリセツト回路１
４に出力する。 The A/D converter 10 converts the signal SH into a digital value based on a conversion start signal CST as shown in FIG. 2J outputted from the A/D conversion control circuit 8. The digitized signal is passed through a latch circuit 11 to a data input interface 12.
given to. Further, the A/D converter 10 sends the pulse CC, which is at a high level during the A/D conversion period as shown in FIG. 2K, to the A/D conversion control circuit 8,
Latch circuit 11, data input interface 1
2. Switching circuit 13 and hold reset circuit 1
Output to 4.
切換回路１３は、Ａ／Ｄ変換器１０のＡ／Ｄ変
換動作終了時点を示す入力されるパルスc.c.の立ち
下がりに同期して、レベルが反転する第２図Ｌに
示されるような切換信号SELを切換回路９および
ホールドリセツト回路１４に出力する。切換回路
９は、Ａ／Ｄ変換器１０のＡ／Ｄ変換動作終了時
点でレベルの反転するこの切換信号SELに基づい
て、サンプルホールド回路２，３から入力される
サンプルホールド信号SH１，SH２の切換動作を
行なう。 The switching circuit 13 generates a switching signal SEL as shown in FIG. is output to the switching circuit 9 and the hold reset circuit 14. The switching circuit 9 switches the sample and hold signals SH1 and SH2 inputted from the sample and hold circuits 2 and 3 based on this switching signal SEL whose level is inverted at the end of the A/D conversion operation of the A/D converter 10. Perform the action.
ホールドリセツト回路１４は、入力される前記
パルスCCの立ち下がりに同期してローレベルと
なる第２図Ｍに示されるようなパルスHRを前記
サンプルホールド制御回路６，７に出力する。サ
ンプルホールド制御回路６，７は、このパルス
HRに従つて、サンプルホールド回路２，３のサ
ンプルホールド期間を制御する。 The hold reset circuit 14 outputs to the sample and hold control circuits 6 and 7 a pulse HR as shown in FIG. The sample and hold control circuits 6 and 7
The sample and hold periods of sample and hold circuits 2 and 3 are controlled according to HR.
次にこの粒子分析装置の経時的動作について説
明する。時間t1において、粒子検出信号SGにピ
ークＰ１１が存在すると、ピーク検出手段４から
ピーク検出パルスＰが、切換回路５に与えられ
る。切換回路５では、ピーク検出パルスＰの立ち
上がりに同期して、その出力信号Ｐ１がローレベ
ルからハイレベルとなつて出力される。サンプル
ホールド制御回路６は、入力信号Ｐ１の立ち上が
りに同期して、制御信号PH１をハイレベルと
し、サンプルホールド回路２に対してサンプル指
示を与える。このとき、サンプルホールド制御回
路７から出力される制御信号PH２は、ローレベ
ルのままであり、サンプルホールド回路３では、
サンプルホールド動作がなされない。 Next, the operation of this particle analyzer over time will be explained. At time t 1 , when a peak P11 exists in the particle detection signal SG, a peak detection pulse P is applied from the peak detection means 4 to the switching circuit 5 . In the switching circuit 5, in synchronization with the rise of the peak detection pulse P, its output signal P1 changes from low level to high level and is output. The sample and hold control circuit 6 sets the control signal PH1 to a high level in synchronization with the rise of the input signal P1, and gives a sample instruction to the sample and hold circuit 2. At this time, the control signal PH2 output from the sample and hold control circuit 7 remains at low level, and the sample and hold circuit 3
Sample hold operation is not performed.
時間t2では、Ａ／Ｄ変換器１０において、切換
回路９から与えられた信号SHのデジタル変換が
終了し、ハイレベルであつたパルスCCがローレ
ベルとして出力される。このパルスCCの立ち下
がりに同期して、制御信号PH１がハイレベルか
らローレベルとなり、サンプルホールド回路２に
おけるサンプルホールド動作が終了する。 At time t2 , the A/D converter 10 completes the digital conversion of the signal SH applied from the switching circuit 9, and the pulse CC, which was at a high level, is output as a low level. In synchronization with the fall of this pulse CC, the control signal PH1 changes from a high level to a low level, and the sample and hold operation in the sample and hold circuit 2 is completed.
次にこの発明が有利に実施される粒子検出信号
SGのピークＰ１２，Ｐ１３が間隔が接近してい
る場合の動作について説明する。時間t3におい
て、ピークＰ２が検出されると、ピーク検出手段
４からピーク検出パルスＰが出力される。このピ
ーク検出パルスＰの立ち上がりに同期して、切換
回路５の出力信号Ｐ２がローレベルからハイレベ
ルとなり、サンプルホールド制御回路７から出力
される制御信号PH２がローレベルからハイレベ
ルとなる。したがつてサンプルホールド回路３で
は、粒子検出信号SGのサンプルホールド動作が
行なわれる。 Next, a particle detection signal in which the present invention is advantageously implemented
The operation when the SG peaks P12 and P13 are close to each other will be described. When peak P2 is detected at time t3 , peak detection pulse P is output from peak detection means 4. In synchronization with the rise of this peak detection pulse P, the output signal P2 of the switching circuit 5 changes from a low level to a high level, and the control signal PH2 output from the sample hold control circuit 7 changes from a low level to a high level. Therefore, the sample and hold circuit 3 performs a sample and hold operation on the particle detection signal SG.
時間t4では、粒子検出信号SGのピークＰ１３
が検出され、ピーク検出手段４からピーク検出パ
ルスＰが出力される。検知パルスＰが入力される
と、切換回路５の出力信号Ｐ１，Ｐ２のレベルが
反転され、サンプルホールド制御回路６から出力
される制御信号PH１がローレベルからハイレベ
ルとなつて、サンプルホールド回路２のサンプル
ホールド動作が開始される。このときサンプルホ
ールド回路３では、Ａ／Ｄ変換器１０における
Ａ／Ｄ変換動作が終了していないので、サンプル
ホールド動作中である。 At time t4 , the peak P13 of the particle detection signal SG
is detected, and a peak detection pulse P is output from the peak detection means 4. When the detection pulse P is input, the levels of the output signals P1 and P2 of the switching circuit 5 are inverted, and the control signal PH1 output from the sample and hold control circuit 6 changes from a low level to a high level, and the level of the output signals P1 and P2 of the switching circuit 5 is reversed. sample hold operation is started. At this time, in the sample and hold circuit 3, since the A/D conversion operation in the A/D converter 10 has not been completed, the sample and hold circuit 3 is performing a sample and hold operation.
時間t5において、Ａ／Ｄ変換器１０におけるサ
ンプルホールド信号SH２のＡ／Ｄ変換動作が終
了すると、切換回路１３から出力される切換信号
SELのレベルが反転し、サンプルホールド信号
SH１が切換回路９で選択され、Ａ／Ｄ変換器１
０に与えられる。 At time t5 , when the A/D conversion operation of the sample and hold signal SH2 in the A/D converter 10 is completed, a switching signal is output from the switching circuit 13.
The SEL level is inverted and the sample hold signal
SH1 is selected by the switching circuit 9, and the A/D converter 1
given to 0.
時間t6では、Ａ／Ｄ変換器１０におけるサンプ
ルホールド信号SH１のＡ／Ｄ変換動作の終了に
ともなつて、サンプルホールド回路２のサンプル
ホールド動作が終了される。 At time t6 , as the A/D conversion operation of the sample hold signal SH1 in the A/D converter 10 ends, the sample hold operation of the sample hold circuit 2 ends.
従来例では、粒子検出信号の１つのピーク値が
Ａ／Ｄ変換されている途中で、近接した次のピー
クが検出されても、そのピーク値が保持されず無
視されて、検出誤差が生じていた。しかし、この
実施例では１つの粒子検出信号SGを入力する２
つのサンプルホールド回路２，３を設け、粒子検
出信号SGのピークを１回検出する毎に、そのピ
ーク値の保持ためのサンプルホールド回路２，３
のサンプルホールド動作を交互に切り換えるよう
にしたので、上述の問題点を解決することができ
る。したがつて比較的低速動作のＡ／Ｄ変換器を
用いて高精度な粒子分析を行なうことができる。 In the conventional example, even if a nearby peak is detected while one peak value of a particle detection signal is being A/D converted, that peak value is not held and ignored, resulting in a detection error. Ta. However, in this embodiment, two particles that input one particle detection signal SG are
Each time a peak of the particle detection signal SG is detected, the sample and hold circuits 2 and 3 are provided to hold the peak value.
Since the sample and hold operations are alternately switched, the above-mentioned problem can be solved. Therefore, highly accurate particle analysis can be performed using an A/D converter operating at relatively low speed.
この発明に従つて、サンプルホールド回路を２
つ設けた場合、Ａ／Ｄ変換器の変換所要時間がtc
のとき、ｎ個目のパルスと（ｎ＋ｍ）個目のパル
スの間隔がtc×（ｍ−１）より長ければ、Ａ／Ｄ
変換誤動作は生じない。 According to the invention, the sample and hold circuit is
If one is provided, the conversion time of the A/D converter is tc
If the interval between the n-th pulse and the (n+m)-th pulse is longer than tc x (m-1), then the A/D
No conversion malfunctions occur.
一般に粒子検出信号のパルス間隔は、ポアソン
分布していることが知られており、たとえば平均
のパルス間隔が400μsecとすると、パルス間隔が
20μsec以下となる確率は、約4.9％となる。変換
所要時間が20μsecのＡ／Ｄ変換器を用いた場合、
サンプルホールド回路が１つのとき、そのＡ／Ｄ
変換誤動作の生じる確率は、4.9％となる。この
発明に従つてサンプルホールド回路を２つ設ける
と、その確率は約0.14％と大幅に減少することが
できる。また変換所要時間が４倍の80μsecのＡ／
Ｄ変換器を用いた場合でも、サンプルホールド回
路を２つ設けることによつて、前記確率は約2.9
％となり、従来技術のように変換所要時間が
20μsecのＡ／Ｄ変換器を１つ用いるときの確率よ
りも低くなる。 It is generally known that the pulse interval of a particle detection signal has a Poisson distribution. For example, if the average pulse interval is 400 μsec, the pulse interval is
The probability that it will be 20 μsec or less is approximately 4.9%. When using an A/D converter with a conversion time of 20μsec,
When there is one sample and hold circuit, its A/D
The probability that a conversion malfunction will occur is 4.9%. If two sample and hold circuits are provided according to the present invention, this probability can be significantly reduced to about 0.14%. In addition, the conversion time is 4 times that of 80 μsec.
Even when using a D converter, the above probability can be reduced to approximately 2.9 by providing two sample and hold circuits.
%, and the time required for conversion is reduced compared to conventional technology.
The probability is lower than that when using one 20 μsec A/D converter.
この発明の粒子分析装置によれば、粒子検出信
号の連続した２個のピークを第１および第２のピ
ーク値保持手段でそれぞれ別々に保持することが
可能となり、粒子検出信号の先のピークのアナロ
グ／デジタル変換が終了するのを待つて、粒子検
出信号の後のピークをアナログ／デジタル変換回
路へ送つてアナログ／デジタル変換を開始させる
ことができ、粒子検出信号の２個のピークがアナ
ログ／デジタル変換手段の変換周期より短い時間
間隔で存在する場合においても、粒子検出信号の
２個のピークをアナログ／デジタル変換すること
が可能となり、アナログ／デジタル変換手段とし
て変換速度の遅い安価なものを使用しても粒子分
析を精度よく行うことが可能となる。
According to the particle analyzer of the present invention, it is possible to hold two consecutive peaks of a particle detection signal separately in the first and second peak value holding means, and the previous peak of the particle detection signal can be held separately. After waiting for the analog/digital conversion to finish, the latter peak of the particle detection signal can be sent to the analog/digital conversion circuit to start the analog/digital conversion, so that the two peaks of the particle detection signal are analog/digital. Even if the two peaks of the particle detection signal exist at a time interval shorter than the conversion period of the digital conversion means, it is possible to convert the two peaks of the particle detection signal from analog to digital, and an inexpensive analog/digital conversion means with a slow conversion speed can be used. Even if used, particle analysis can be performed with high accuracy.
第１図はこの発明の一実施例の粒子分析装置の
構成を示すブロツク図、第２図は第１図の粒子分
析装置の動作を説明するためのタイミングチヤー
トである。
１…粒子検出信号、２，３…サンプルホールド
回路、４…ピーク検出手段、６，７…サンプルホ
ールド制御回路、９…切換回路、１０…Ａ／Ｄ変
換器。
FIG. 1 is a block diagram showing the configuration of a particle analyzer according to an embodiment of the present invention, and FIG. 2 is a timing chart for explaining the operation of the particle analyzer shown in FIG. DESCRIPTION OF SYMBOLS 1... Particle detection signal, 2, 3... Sample hold circuit, 4... Peak detection means, 6, 7... Sample hold control circuit, 9... Switching circuit, 10... A/D converter.
Claims (1)
を有する粒子検出信号を出力する粒子検出手段
と、前記粒子検出信号を入力しピーク値を交互に
保持する第１および第２のピーク値保持手段と、
前記粒子検出信号の前記ピークを検出するピーク
検出手段と、このピーク検出手段の出力に応答し
て前記第１および第２のピーク値保持手段のピー
ク値保持動作を交互に切り換えて制御する制御手
段と、前記第１および第２のピーク値保持手段か
らのそれぞれの出力を交互に切り換えて出力する
切換手段と、この切換手段の出力をデジタル値に
変換するアナログ／デジタル変換手段とを備え、
前記切換手段は前記アナログ／デジタル変換手段
の変換動作終了信号に基づいて切換動作を行なう
ことを特徴とする粒子分析装置。1. Particle detection means for detecting particles and outputting a particle detection signal having a peak corresponding to the size of the particle, and first and second peak value holding means for inputting the particle detection signal and alternately holding peak values. and,
peak detection means for detecting the peak of the particle detection signal; and control means for alternately switching and controlling peak value holding operations of the first and second peak value holding means in response to the output of the peak detection means. and a switching means for alternately switching and outputting the respective outputs from the first and second peak value holding means, and an analog/digital conversion means for converting the output of the switching means into a digital value,
A particle analysis apparatus characterized in that said switching means performs a switching operation based on a conversion operation completion signal of said analog/digital conversion means.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP60020299A JPS61178643A (en) | 1985-02-05 | 1985-02-05 | Particle analyser |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP60020299A JPS61178643A (en) | 1985-02-05 | 1985-02-05 | Particle analyser |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS61178643A JPS61178643A (en) | 1986-08-11 |
| JPH0533342B2 true JPH0533342B2 (en) | 1993-05-19 |
Family
ID=12023271
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP60020299A Granted JPS61178643A (en) | 1985-02-05 | 1985-02-05 | Particle analyser |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS61178643A (en) |
Families Citing this family (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0718787B2 (en) * | 1988-08-26 | 1995-03-06 | 富士電機株式会社 | Particle measuring device |
| JP2002022646A (en) | 2000-07-07 | 2002-01-23 | Horiba Ltd | Particle size distribution-measuring apparatus |
| US6864979B2 (en) | 2000-12-08 | 2005-03-08 | Horiba, Ltd | Particle size distribution measuring apparatus |
| JP4266075B2 (en) | 2001-02-19 | 2009-05-20 | 株式会社堀場製作所 | Particle size distribution measuring device |
Citations (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5068173A (en) * | 1973-10-16 | 1975-06-07 | ||
| JPS568527A (en) * | 1979-07-02 | 1981-01-28 | Toa Medical Electronics Co Ltd | Particle analyzing device |
| JPS5841336A (en) * | 1981-09-04 | 1983-03-10 | Toa Medical Electronics Co Ltd | Particle analyzer |
| JPS61126447A (en) * | 1984-11-26 | 1986-06-13 | Hitachi Ltd | Particle analyzing instrument |
-
1985
- 1985-02-05 JP JP60020299A patent/JPS61178643A/en active Granted
Patent Citations (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5068173A (en) * | 1973-10-16 | 1975-06-07 | ||
| JPS568527A (en) * | 1979-07-02 | 1981-01-28 | Toa Medical Electronics Co Ltd | Particle analyzing device |
| JPS5841336A (en) * | 1981-09-04 | 1983-03-10 | Toa Medical Electronics Co Ltd | Particle analyzer |
| JPS61126447A (en) * | 1984-11-26 | 1986-06-13 | Hitachi Ltd | Particle analyzing instrument |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS61178643A (en) | 1986-08-11 |
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