JPH05322657A - スキャナ分光測色装置 - Google Patents
スキャナ分光測色装置Info
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- JPH05322657A JPH05322657A JP12360492A JP12360492A JPH05322657A JP H05322657 A JPH05322657 A JP H05322657A JP 12360492 A JP12360492 A JP 12360492A JP 12360492 A JP12360492 A JP 12360492A JP H05322657 A JPH05322657 A JP H05322657A
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- light
- spectral
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 光学系の分光特性に拘わらず、かつ簡単な計
算処理で、分光反射率を求めること。 【構成】 試料台14に載置された試料18は、光源2
2によって照射され、反射光がレンズ26及びフィルタ
レット28の干渉フィルタを通過しCCDセンサー30
に照射される。CCDセンサー30の出力は制御装置5
6に入力される。制御装置56は、予め、スキャナ光学
系20の各素子の分光特性を総合したチャンネル毎の中
心波長を求める。次に、色票44の基準値に基づきチャ
ンネル毎の補正値Cを求め、試料18を計測した計測値
を補正値Cにより校正した値を画素の分光反射率とす
る。この離散的な分光反射率に基づいて、連続的な分光
反射率の分布を推定する。この処理は、画素毎、すなわ
ちCCDセンサー30の1素子毎に繰り返し行われ、最
終的に画面全体の画素毎の分光反射率分布を得る。
算処理で、分光反射率を求めること。 【構成】 試料台14に載置された試料18は、光源2
2によって照射され、反射光がレンズ26及びフィルタ
レット28の干渉フィルタを通過しCCDセンサー30
に照射される。CCDセンサー30の出力は制御装置5
6に入力される。制御装置56は、予め、スキャナ光学
系20の各素子の分光特性を総合したチャンネル毎の中
心波長を求める。次に、色票44の基準値に基づきチャ
ンネル毎の補正値Cを求め、試料18を計測した計測値
を補正値Cにより校正した値を画素の分光反射率とす
る。この離散的な分光反射率に基づいて、連続的な分光
反射率の分布を推定する。この処理は、画素毎、すなわ
ちCCDセンサー30の1素子毎に繰り返し行われ、最
終的に画面全体の画素毎の分光反射率分布を得る。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、スキャナ分光測色装置
にかかり、特に、カラー画像の色彩を表現する色彩特徴
量を計測するために光学フィルターを用いて分光反射率
を計測するスキャナ分光測色装置に関する。
にかかり、特に、カラー画像の色彩を表現する色彩特徴
量を計測するために光学フィルターを用いて分光反射率
を計測するスキャナ分光測色装置に関する。
【0002】
【従来の技術】従来、面の分光反射率が特定できれば三
刺激値X,Y,Zを求めることができ、その表面色を特
定できることが知られている。そこで、カラー画像等の
原稿や物体表面に忠実な色を表現するための色再現を実
現するため、原稿や物体表面の分光反射率を測定するこ
とが行われている。この分光反射率の測定に際し、スキ
ャナによって反射光を検出するものもあり、このスキャ
ナによって画面画素の色分解出力系から、試料面の微小
領域における分光反射率を推定する方法が提案されてい
る(「カラースキャナのための分光反射率推定法」中山
責、他、日本色彩学会誌Vol.14.No.1,1990)。
刺激値X,Y,Zを求めることができ、その表面色を特
定できることが知られている。そこで、カラー画像等の
原稿や物体表面に忠実な色を表現するための色再現を実
現するため、原稿や物体表面の分光反射率を測定するこ
とが行われている。この分光反射率の測定に際し、スキ
ャナによって反射光を検出するものもあり、このスキャ
ナによって画面画素の色分解出力系から、試料面の微小
領域における分光反射率を推定する方法が提案されてい
る(「カラースキャナのための分光反射率推定法」中山
責、他、日本色彩学会誌Vol.14.No.1,1990)。
【0003】この方法によれば、所定の波長域(以下、
チャンネルという)、すなわち限られた複数の狭帯域の
干渉フィルタを用いたスキャナのチャンネル毎の出力
(以下、チャンネル出力という)に基づいて分光反射率
を推定するものであり、スキャナ光学系における光源、
光学フィルタ、受光素子等の特性を全て含めた総合特性
を、分光反射率が既知の複数の試料を用いて決定し、こ
の特性を反射率が未知の試料の計測値に適用することに
より分光反射率を推定できる。
チャンネルという)、すなわち限られた複数の狭帯域の
干渉フィルタを用いたスキャナのチャンネル毎の出力
(以下、チャンネル出力という)に基づいて分光反射率
を推定するものであり、スキャナ光学系における光源、
光学フィルタ、受光素子等の特性を全て含めた総合特性
を、分光反射率が既知の複数の試料を用いて決定し、こ
の特性を反射率が未知の試料の計測値に適用することに
より分光反射率を推定できる。
【0004】また、同様の方法として、Stepen K.Park
等による、総合特性を求めるもの(Applied Optics Vo
l.16,No.12,1977)、またMaloney による(J.Opt.Sci.A
m.A Vol.3,No.10,1986)ものもある。Stepen K.Park 等
の方法は、必ずしも狭帯域ではないチャンネル出力に対
し、シャノンのデータ抽出定理を適用して分光反射率を
推定するものである。また、Maloney の方法は、反射率
がチャンネル出力の重み付き線型和で表されるとし、最
小二乗法により分光反射率を推定するものである。
等による、総合特性を求めるもの(Applied Optics Vo
l.16,No.12,1977)、またMaloney による(J.Opt.Sci.A
m.A Vol.3,No.10,1986)ものもある。Stepen K.Park 等
の方法は、必ずしも狭帯域ではないチャンネル出力に対
し、シャノンのデータ抽出定理を適用して分光反射率を
推定するものである。また、Maloney の方法は、反射率
がチャンネル出力の重み付き線型和で表されるとし、最
小二乗法により分光反射率を推定するものである。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上記何
れの方法も、使用するフィルタのバンド幅が比較的広く
とられるので、スキャナ光学系における光源の分光分布
や受光素子の分光感度分布が滑らかであることを条件と
して少数のチャンネル出力から分光反射率を推定するも
のであるが、これらの方法では多くの計測と複雑な計算
が必要でかつ、光学条件が変化したときに、同様な手続
で再設定しなければならない、という問題がある。
れの方法も、使用するフィルタのバンド幅が比較的広く
とられるので、スキャナ光学系における光源の分光分布
や受光素子の分光感度分布が滑らかであることを条件と
して少数のチャンネル出力から分光反射率を推定するも
のであるが、これらの方法では多くの計測と複雑な計算
が必要でかつ、光学条件が変化したときに、同様な手続
で再設定しなければならない、という問題がある。
【0006】また、受光素子にCCDラインセンサを用
いるスキャナでは、線光源として、よく蛍光灯が用いら
れるが、この蛍光灯からは封入ガスの成分に応じた輝線
スペクトルが発生するために、分光分布は滑らかでな
く、前記のような分光特性が滑らかであることを前提と
した方法では、誤差を生ずることになる。
いるスキャナでは、線光源として、よく蛍光灯が用いら
れるが、この蛍光灯からは封入ガスの成分に応じた輝線
スペクトルが発生するために、分光分布は滑らかでな
く、前記のような分光特性が滑らかであることを前提と
した方法では、誤差を生ずることになる。
【0007】本発明は、上記事実を考慮して、光学系の
分光特性に拘わらず、かつ簡単な計算処理で、分光反射
率を求めることができるスキャナ分光測色装置を得るこ
とが目的である。
分光特性に拘わらず、かつ簡単な計算処理で、分光反射
率を求めることができるスキャナ分光測色装置を得るこ
とが目的である。
【0008】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に本発明は、光源、該光源から射出された光による物体
からの反射光量を検出する受光手段、及び各々重複しな
い所定波長域の光を透過すると共に該波長域以外の光を
遮光する複数の光学フィルタを備え、該反射光量を、該
光学フィルタを透過した光を計測することによって計測
する光学手段と、前記所定波長域毎に、少なくとも前記
光源のエネルギー分布、前記光学フィルタの透過率分布
及び前記受光手段の感度分布の組合せにより得られる分
光分布に基づいて補正された中心波長を求める補正手段
と、前記所定波長域の中心波長毎に、基準板の反射率を
基準にした分光反射率になるように試料の計測値を校正
する校正手段と、前記中心波長毎に校正された分光反射
率に基づいて分光反射率分布を推定する推定手段と、を
備えたことを特徴としている。
に本発明は、光源、該光源から射出された光による物体
からの反射光量を検出する受光手段、及び各々重複しな
い所定波長域の光を透過すると共に該波長域以外の光を
遮光する複数の光学フィルタを備え、該反射光量を、該
光学フィルタを透過した光を計測することによって計測
する光学手段と、前記所定波長域毎に、少なくとも前記
光源のエネルギー分布、前記光学フィルタの透過率分布
及び前記受光手段の感度分布の組合せにより得られる分
光分布に基づいて補正された中心波長を求める補正手段
と、前記所定波長域の中心波長毎に、基準板の反射率を
基準にした分光反射率になるように試料の計測値を校正
する校正手段と、前記中心波長毎に校正された分光反射
率に基づいて分光反射率分布を推定する推定手段と、を
備えたことを特徴としている。
【0009】請求項2に記載の発明は、請求項1に記載
のスキャナ分光測色装置において、前記校正手段は、前
記所定波長域の中心波長毎に、色が異なる複数の色票の
各分光反射率の基準値及び計測値に基づいて補正値を求
めて該補正値に基づいて基準板の反射率を基準にした分
光反射率になるように試料の計測値を校正することを特
徴としている。
のスキャナ分光測色装置において、前記校正手段は、前
記所定波長域の中心波長毎に、色が異なる複数の色票の
各分光反射率の基準値及び計測値に基づいて補正値を求
めて該補正値に基づいて基準板の反射率を基準にした分
光反射率になるように試料の計測値を校正することを特
徴としている。
【0010】
【作用】本発明のスキャナ分光測色装置の光学手段は、
光源、該光源から射出された光による物体からの反射光
量を検出する受光手段、及び各々重複しない所定波長域
の光を透過すると共に該波長域以外の光を遮光する複数
の光学フィルタを備えており、この物体からの反射光量
を、光学フィルタを透過した光を計測することによって
計測する。従って、この光学フィルタを変更することに
より、光学フィルタを透過する光の波長域による色分解
出力、すなわちチャンネル出力を得ることができる。補
正手段は、所定波長域毎に、少なくとも光源のエネルギ
ー分布、光学フィルタの透過率分布及び受光手段の感度
分布の組合せにより得られる分光分布に基づいて補正さ
れた中心波長を求める。従って、チャンネル毎のチャン
ネル出力による諸々の演算は、求められた中心波長に基
づくことができる。校正手段は、所定波長域の中心波長
毎に、基準板の反射率を基準にした分光反射率になるよ
うに試料の計測値を校正する。この中心波長毎に校正さ
れた分光反射率に基づいて推定手段は分光反射率分布を
推定する。このように、光源、光学フィルタ、及び受光
手段の光学手段によりチャンネル出力を得て、チャンネ
ル出力の中心波長を求め、試料の分光反射率の校正を行
い、試料の分光反射率の分布を推定する。従って、複数
の光学フィルタにより各々重複しない所定波長域の光を
透過すると共に該波長域以外の光を遮光することができ
るため、独立したチャンネル毎にそれぞれ独立に分光反
射率を求めることができ、試料の分光反射率の分布の推
定を容易にすることができる。
光源、該光源から射出された光による物体からの反射光
量を検出する受光手段、及び各々重複しない所定波長域
の光を透過すると共に該波長域以外の光を遮光する複数
の光学フィルタを備えており、この物体からの反射光量
を、光学フィルタを透過した光を計測することによって
計測する。従って、この光学フィルタを変更することに
より、光学フィルタを透過する光の波長域による色分解
出力、すなわちチャンネル出力を得ることができる。補
正手段は、所定波長域毎に、少なくとも光源のエネルギ
ー分布、光学フィルタの透過率分布及び受光手段の感度
分布の組合せにより得られる分光分布に基づいて補正さ
れた中心波長を求める。従って、チャンネル毎のチャン
ネル出力による諸々の演算は、求められた中心波長に基
づくことができる。校正手段は、所定波長域の中心波長
毎に、基準板の反射率を基準にした分光反射率になるよ
うに試料の計測値を校正する。この中心波長毎に校正さ
れた分光反射率に基づいて推定手段は分光反射率分布を
推定する。このように、光源、光学フィルタ、及び受光
手段の光学手段によりチャンネル出力を得て、チャンネ
ル出力の中心波長を求め、試料の分光反射率の校正を行
い、試料の分光反射率の分布を推定する。従って、複数
の光学フィルタにより各々重複しない所定波長域の光を
透過すると共に該波長域以外の光を遮光することができ
るため、独立したチャンネル毎にそれぞれ独立に分光反
射率を求めることができ、試料の分光反射率の分布の推
定を容易にすることができる。
【0011】また、請求項2に記載の発明によれば、中
心波長毎に、色が異なる複数の色票の各分光反射率の基
準値及び計測値に基づいて補正値を求めて該補正値に基
づいて基準板の反射率を基準にした分光反射率になるよ
うに試料の計測値を校正する。このように、色、すなわ
ち、色相、明度及び彩度が異なる標準となる複数の色票
を校正に際して計測することにより、校正の簡易化を図
ることができる。
心波長毎に、色が異なる複数の色票の各分光反射率の基
準値及び計測値に基づいて補正値を求めて該補正値に基
づいて基準板の反射率を基準にした分光反射率になるよ
うに試料の計測値を校正する。このように、色、すなわ
ち、色相、明度及び彩度が異なる標準となる複数の色票
を校正に際して計測することにより、校正の簡易化を図
ることができる。
【0012】
【実施例】以下、図面を参照して、本発明の実施例を詳
細に説明する。
細に説明する。
【0013】図1に示したように、本実施例のスキャナ
分光測色装置10は、ケーシング12の上面12Aに透
明ガラス製の試料台14が配設されている。この試料台
14には、測色するための試料18が載置可能とされ
る。
分光測色装置10は、ケーシング12の上面12Aに透
明ガラス製の試料台14が配設されている。この試料台
14には、測色するための試料18が載置可能とされ
る。
【0014】この試料台14の一方(図1矢印B方向)
の端部付近には、標準白色紙40、及び帯状に配列され
標準となる色票44を複数備えた色票群42が順に設け
られている。この色票群42には、光源22によって光
が同時に照射されるように、色相、彩度及び明度の異な
る色票44が、50枚程度1列に配列されている(図2
参照)。
の端部付近には、標準白色紙40、及び帯状に配列され
標準となる色票44を複数備えた色票群42が順に設け
られている。この色票群42には、光源22によって光
が同時に照射されるように、色相、彩度及び明度の異な
る色票44が、50枚程度1列に配列されている(図2
参照)。
【0015】試料台14の下方でケーシング12の内部
にはスキャナ光学系20が配設されている。スキャナ光
学系20は、スキャナ筐体21内部に収納されており、
光源22、ミラー24、25、レンズ26、フィルタレ
ット28、CCDセンサー30から構成されている。
にはスキャナ光学系20が配設されている。スキャナ光
学系20は、スキャナ筐体21内部に収納されており、
光源22、ミラー24、25、レンズ26、フィルタレ
ット28、CCDセンサー30から構成されている。
【0016】本実施例では、光源22は、試料18に同
時に1ライン光を照射できるように線光源としての機能
を有する蛍光灯を用いている。この光源22は試料18
の計測面と略平行(図1紙面に垂直方向)に配設され
る。なお、この光源22は、ハロゲンランプ等の白色光
源であってもよい。また、光源22はスキャナ筐体21
内部の上方に、左右から均等に照射するためおよび光量
を増すために2個配設され、その周囲には光源22から
射出される光を上方(図1矢印A方向)のみへ向かうよ
うにするための断面コ字状のカバー23が配設されてい
る。スキャナ筐体21の上面には、3つの長孔38A,
38B,38Cが略等間隔かつ略平行に穿設されてお
り、両端部の長孔38A,38Bにそれぞれ対応して光
源22が位置している。また、光源22は、光源22か
ら射出され長孔38A,38Bを通過する光軸が試料1
8に対する入射角度として略45°になりかつ、2つの
光源22から射出された光が長孔38C上方の試料18
の同一部位を照射するように位置している。この光源2
2の試料照射部位の鉛直下方(図1反矢印A方向)には
ミラー24が配設されている。このミラー24には、試
料18で反射された光が案内され、ミラー24によって
反射された光がミラー25を介してレンズ26へ案内さ
れる。レンズ26の射出側には後述するフィルタレット
28、CCDセンサー30が順に配設され、レンズ26
に入射された光がフィルタレット28を介してCCDセ
ンサー30へ集光される。このCCDセンサー30は制
御装置56に接続されている。
時に1ライン光を照射できるように線光源としての機能
を有する蛍光灯を用いている。この光源22は試料18
の計測面と略平行(図1紙面に垂直方向)に配設され
る。なお、この光源22は、ハロゲンランプ等の白色光
源であってもよい。また、光源22はスキャナ筐体21
内部の上方に、左右から均等に照射するためおよび光量
を増すために2個配設され、その周囲には光源22から
射出される光を上方(図1矢印A方向)のみへ向かうよ
うにするための断面コ字状のカバー23が配設されてい
る。スキャナ筐体21の上面には、3つの長孔38A,
38B,38Cが略等間隔かつ略平行に穿設されてお
り、両端部の長孔38A,38Bにそれぞれ対応して光
源22が位置している。また、光源22は、光源22か
ら射出され長孔38A,38Bを通過する光軸が試料1
8に対する入射角度として略45°になりかつ、2つの
光源22から射出された光が長孔38C上方の試料18
の同一部位を照射するように位置している。この光源2
2の試料照射部位の鉛直下方(図1反矢印A方向)には
ミラー24が配設されている。このミラー24には、試
料18で反射された光が案内され、ミラー24によって
反射された光がミラー25を介してレンズ26へ案内さ
れる。レンズ26の射出側には後述するフィルタレット
28、CCDセンサー30が順に配設され、レンズ26
に入射された光がフィルタレット28を介してCCDセ
ンサー30へ集光される。このCCDセンサー30は制
御装置56に接続されている。
【0017】このスキャナ光学系20の下方には、スク
リューネジ32が配設されており、スクリューネジ32
の回転軸と試料台14とは平行に設定されている。この
スクリューネジ32はナット34を有しており、このナ
ット34にはスキャナ光学系20が固定されている。ま
た、スクリューネジ32には、図示しない取付部材によ
ってケーシング12に固定されたモータ36の回転軸が
固着されており、モータ36の回転によってナット34
が回転軸に沿う方向(図1矢印B及び反矢印B方向)に
移動する。このモータ36は、制御装置56に接続され
ており、制御装置からの制御信号に応じて回転する。従
って、制御装置からの制御信号に応じてスキャナ光学系
20が試料台14に沿って平行移動する。なお、モータ
の回転を伝達するスキャナ光学系の移動機構は上述のス
クリューネジによるもの以外に、例えば、ピニオンギヤ
やベルト等を用いてもよい。
リューネジ32が配設されており、スクリューネジ32
の回転軸と試料台14とは平行に設定されている。この
スクリューネジ32はナット34を有しており、このナ
ット34にはスキャナ光学系20が固定されている。ま
た、スクリューネジ32には、図示しない取付部材によ
ってケーシング12に固定されたモータ36の回転軸が
固着されており、モータ36の回転によってナット34
が回転軸に沿う方向(図1矢印B及び反矢印B方向)に
移動する。このモータ36は、制御装置56に接続され
ており、制御装置からの制御信号に応じて回転する。従
って、制御装置からの制御信号に応じてスキャナ光学系
20が試料台14に沿って平行移動する。なお、モータ
の回転を伝達するスキャナ光学系の移動機構は上述のス
クリューネジによるもの以外に、例えば、ピニオンギヤ
やベルト等を用いてもよい。
【0018】図3に示したように、上記フィルタレット
28には、複数(本実施例では9個)の干渉フィルタ4
6が同心円状に配列されている。干渉フィルタ46は、
図4に示したように狭帯域で略一定の透過率を有する略
矩形状の反射率分布を有する分光透過率特性を有してい
る。また、フィルタレット28は、レンズ26とCCD
センサー30の間に配設されかつ、干渉フィルタ46の
中心付近に光軸が位置するように回転可能に配設され
る。このフィルタレット28の回転中心軸にはステッピ
ングモータ等により構成されるモータ48の回転軸が固
定される。このモータ48は、制御装置56に接続され
ており、制御装置からの制御信号に応じた回転角度に回
転する。従って、制御装置からの制御信号に応じたモー
タ48の回転によって所定の波長域の干渉フィルタ46
に変更できる。
28には、複数(本実施例では9個)の干渉フィルタ4
6が同心円状に配列されている。干渉フィルタ46は、
図4に示したように狭帯域で略一定の透過率を有する略
矩形状の反射率分布を有する分光透過率特性を有してい
る。また、フィルタレット28は、レンズ26とCCD
センサー30の間に配設されかつ、干渉フィルタ46の
中心付近に光軸が位置するように回転可能に配設され
る。このフィルタレット28の回転中心軸にはステッピ
ングモータ等により構成されるモータ48の回転軸が固
定される。このモータ48は、制御装置56に接続され
ており、制御装置からの制御信号に応じた回転角度に回
転する。従って、制御装置からの制御信号に応じたモー
タ48の回転によって所定の波長域の干渉フィルタ46
に変更できる。
【0019】なお、レンズ26の入射側には、フィルタ
ガイド50及びフィルタ板52から構成されるフィルタ
ユニットが配設されている。このフィルタ板52には複
数(本実施例では3個)の光学フィルタが配設可能とさ
れ、フィルタ板52を移動(図3矢印C方向)すること
によって、光軸内に固定的にフィルタを配設できるよう
になっている。この光学フィルタには、シャープカット
フィルタや減光フィルタ(NDフィルタ等)が利用で
き、シャープカットフィルタの挿入によって所定の干渉
フィルタの波長域を更に狭くすることや減光フィルタを
挿入によって試料18の反射率が高いときの外乱光を吸
収することができる。
ガイド50及びフィルタ板52から構成されるフィルタ
ユニットが配設されている。このフィルタ板52には複
数(本実施例では3個)の光学フィルタが配設可能とさ
れ、フィルタ板52を移動(図3矢印C方向)すること
によって、光軸内に固定的にフィルタを配設できるよう
になっている。この光学フィルタには、シャープカット
フィルタや減光フィルタ(NDフィルタ等)が利用で
き、シャープカットフィルタの挿入によって所定の干渉
フィルタの波長域を更に狭くすることや減光フィルタを
挿入によって試料18の反射率が高いときの外乱光を吸
収することができる。
【0020】図5に示したように、制御装置56は、通
信制御部58、演算処理部60、データ記憶部62及び
インターフェイス部64から構成されている。通信制御
部58は、一方がスキャナ光学系20の構造部、すなわ
ち、フィルタレット28を回転するためのモータ48、
CCDセンサー30及びモータ36に接続されており
(図1参照)、他方が演算処理部60に接続されてい
る。従って、通信制御部58は、スキャナ光学系20の
駆動を制御すると共に計測された計測データのデータ授
受を行う。演算処理部60は、スキャナ光学系20を制
御するための演算やスキャナ光学系20によって計測さ
れた計測データを処理するものである。この演算処理部
60は、データ記憶部62及びインタフェース部64に
接続されている。なお、データ記憶部62には、詳細は
後述するが計測に基づいて設定されるチャンネル毎の中
心波長、及び校正のための補正値Cが記憶される。また
データ記憶部62には、予め分光反射率計測の基準装置
等で計測された各チャンネルに対応する各色票44の分
光反射率が記憶されている。インターフェイス部64に
は、ホストコンピュータや、CRTやプリンタ等の出力
装置が接続され、このインターフェイス部64で演算処
理部60で求めた演算値を出力するために、他の装置と
コマンド及びデータの授受を行う。
信制御部58、演算処理部60、データ記憶部62及び
インターフェイス部64から構成されている。通信制御
部58は、一方がスキャナ光学系20の構造部、すなわ
ち、フィルタレット28を回転するためのモータ48、
CCDセンサー30及びモータ36に接続されており
(図1参照)、他方が演算処理部60に接続されてい
る。従って、通信制御部58は、スキャナ光学系20の
駆動を制御すると共に計測された計測データのデータ授
受を行う。演算処理部60は、スキャナ光学系20を制
御するための演算やスキャナ光学系20によって計測さ
れた計測データを処理するものである。この演算処理部
60は、データ記憶部62及びインタフェース部64に
接続されている。なお、データ記憶部62には、詳細は
後述するが計測に基づいて設定されるチャンネル毎の中
心波長、及び校正のための補正値Cが記憶される。また
データ記憶部62には、予め分光反射率計測の基準装置
等で計測された各チャンネルに対応する各色票44の分
光反射率が記憶されている。インターフェイス部64に
は、ホストコンピュータや、CRTやプリンタ等の出力
装置が接続され、このインターフェイス部64で演算処
理部60で求めた演算値を出力するために、他の装置と
コマンド及びデータの授受を行う。
【0021】ここで、本実施例における計測領域として
の微小領域及び面の分光計測について説明する。
の微小領域及び面の分光計測について説明する。
【0022】図6に示したように、光源22による標準
白色紙40の反射光を複数の干渉フィルタ46全てに対
して計測し、各々の干渉フィルタ46についてスキャナ
分光測色装置10の出力値が最大値(例えば、255)
になるように校正する。
白色紙40の反射光を複数の干渉フィルタ46全てに対
して計測し、各々の干渉フィルタ46についてスキャナ
分光測色装置10の出力値が最大値(例えば、255)
になるように校正する。
【0023】次に、試料台14に試料18を配設し、光
源22による試料18の反射光量Ii(i=1、2・・
・n:nはCCDセンサー30の素子数)を複数の干渉
フィルタ46全てに対して計測する。この計測時は、C
CDセンサー30の1素子毎に計測する。この反射光量
Iiから、分光反射率ri(i=1、2・・・n)を以
下の式(1)に基づいて求める。
源22による試料18の反射光量Ii(i=1、2・・
・n:nはCCDセンサー30の素子数)を複数の干渉
フィルタ46全てに対して計測する。この計測時は、C
CDセンサー30の1素子毎に計測する。この反射光量
Iiから、分光反射率ri(i=1、2・・・n)を以
下の式(1)に基づいて求める。
【0024】 ri=Ii/256 −−−(1) これによって、CCDセンサー30の1素子毎に、干渉
フィルタ46に対する、すなわちチャンネル毎の分光反
射率を求めることができる。従って、CCDセンサー3
0の1素子である微小領域の分光反射率を求めることが
できると共に、1画面の画素全てを対応するCCDセン
サー30の素子毎について分光反射率を求め、この平均
等の統計処理を行うことによって、最終的に画面全体の
チャンネル毎の分光反射率を得ることができる。このチ
ャンネル毎の分光反射率に基づいて試料の分光反射率の
分布を推定できる。
フィルタ46に対する、すなわちチャンネル毎の分光反
射率を求めることができる。従って、CCDセンサー3
0の1素子である微小領域の分光反射率を求めることが
できると共に、1画面の画素全てを対応するCCDセン
サー30の素子毎について分光反射率を求め、この平均
等の統計処理を行うことによって、最終的に画面全体の
チャンネル毎の分光反射率を得ることができる。このチ
ャンネル毎の分光反射率に基づいて試料の分光反射率の
分布を推定できる。
【0025】以下、本実施例の作用を説明する。先ず、
図10に示したスキャナ分光測色装置10の制御ルーチ
ンを参照して校正及び計測の概略を説明する。ステップ
102では、本実施例のスキャナ分光測色装置10にお
ける、光源22の分光エネルギー分布、干渉フィルタ4
6の分光透過率特性、及びCCDセンサー30の分光感
度特性を総合した各干渉フィルタ46によるチャンネル
毎の中心波長、及び総合特性を求め、データ記憶部62
に記憶する。次のステップ104では、試料18を計測
したときの計測値を標準となる色票44で校正するため
の補正値Cを求め、データ記憶部62に記憶する。この
補正値Cは、色票44をチャンネル毎に計測して分光反
射率を求め、この色票44の予め記憶された基準の分光
反射率に基づき、中心波長毎の複数の計測値に対し回帰
処理を行い、この回帰係数を求めることで得られる。
図10に示したスキャナ分光測色装置10の制御ルーチ
ンを参照して校正及び計測の概略を説明する。ステップ
102では、本実施例のスキャナ分光測色装置10にお
ける、光源22の分光エネルギー分布、干渉フィルタ4
6の分光透過率特性、及びCCDセンサー30の分光感
度特性を総合した各干渉フィルタ46によるチャンネル
毎の中心波長、及び総合特性を求め、データ記憶部62
に記憶する。次のステップ104では、試料18を計測
したときの計測値を標準となる色票44で校正するため
の補正値Cを求め、データ記憶部62に記憶する。この
補正値Cは、色票44をチャンネル毎に計測して分光反
射率を求め、この色票44の予め記憶された基準の分光
反射率に基づき、中心波長毎の複数の計測値に対し回帰
処理を行い、この回帰係数を求めることで得られる。
【0026】次のステップ106では、干渉フィルタ4
6の波長域に対応するチャンネル毎に試料18を計測す
る。試料18の計測値は、標準白色紙40をスキャナ光
学系20により計測した値で基準化され、階調度として
通信制御部58から演算処理部60へ送られる。この試
料18の計測値は、演算処理部60で補正値Cにより校
正され、この値を画素の分光反射率として中心波長と対
応付けてデータ記憶部62に記憶する。この求めた離散
的な分光反射率に基づいて、次のステップ108におい
て、連続的な分光反射率の分布を推定する。この分光反
射率の分布は中心波長と共にデータ記憶部62に記憶さ
れかつインタフェース部64により、CRTやプリンタ
等の出力部へ出力される。分光反射率を求める処理は、
画素毎、すなわちCCDセンサー30の1素子毎に繰り
返し行われ、最終的に画面全体の画素毎の分光反射率分
布を得る。
6の波長域に対応するチャンネル毎に試料18を計測す
る。試料18の計測値は、標準白色紙40をスキャナ光
学系20により計測した値で基準化され、階調度として
通信制御部58から演算処理部60へ送られる。この試
料18の計測値は、演算処理部60で補正値Cにより校
正され、この値を画素の分光反射率として中心波長と対
応付けてデータ記憶部62に記憶する。この求めた離散
的な分光反射率に基づいて、次のステップ108におい
て、連続的な分光反射率の分布を推定する。この分光反
射率の分布は中心波長と共にデータ記憶部62に記憶さ
れかつインタフェース部64により、CRTやプリンタ
等の出力部へ出力される。分光反射率を求める処理は、
画素毎、すなわちCCDセンサー30の1素子毎に繰り
返し行われ、最終的に画面全体の画素毎の分光反射率分
布を得る。
【0027】上記チャンネルの変更、すなわち、干渉フ
ィルタ46の変更は、フィルタレット28の回転によっ
て行われる。すなわち、通信制御部58から出力される
制御信号に応じてモータ48が所定角度回転することに
よって所定の透過波長域の干渉フィルタ46に変更され
る。
ィルタ46の変更は、フィルタレット28の回転によっ
て行われる。すなわち、通信制御部58から出力される
制御信号に応じてモータ48が所定角度回転することに
よって所定の透過波長域の干渉フィルタ46に変更され
る。
【0028】また、試料台14に載置された試料18の
面の測定は、スキャナ光学系20の走査によって行われ
る。すなわち、通信制御部58から出力される制御信号
に応じてモータ36が回転することによって、スキャナ
光学系20が試料18の面に沿って(図1矢印B及び反
矢印B方向)移動する。従って、光源22は試料18の
面に沿って移動し、この移動によって、光源22からの
光は、試料18の全面に渡り順次照射される。
面の測定は、スキャナ光学系20の走査によって行われ
る。すなわち、通信制御部58から出力される制御信号
に応じてモータ36が回転することによって、スキャナ
光学系20が試料18の面に沿って(図1矢印B及び反
矢印B方向)移動する。従って、光源22は試料18の
面に沿って移動し、この移動によって、光源22からの
光は、試料18の全面に渡り順次照射される。
【0029】次に、ステップ102を図11を参照して
詳細に説明する。本ルーチンが実行されると、ステップ
112へ進み、干渉フィルタ46の波長域に対応するチ
ャンネル毎の総合特性を求める。すなわち、本実施例の
スキャナ分光測色装置10は、自光式のスキャナ方式で
あり、図8に示したように、光源22の分光エネルギー
分布70、干渉フィルタ46の分光透過率特性72、及
びCCDセンサー30の分光感度特性74の各々が計測
可能である。この分光エネルギー分布70、分光透過率
特性72及び分光感度特性74を、合成演算処理78に
よって合成することによりチャンネル毎の総合特性76
を求めることができる。
詳細に説明する。本ルーチンが実行されると、ステップ
112へ進み、干渉フィルタ46の波長域に対応するチ
ャンネル毎の総合特性を求める。すなわち、本実施例の
スキャナ分光測色装置10は、自光式のスキャナ方式で
あり、図8に示したように、光源22の分光エネルギー
分布70、干渉フィルタ46の分光透過率特性72、及
びCCDセンサー30の分光感度特性74の各々が計測
可能である。この分光エネルギー分布70、分光透過率
特性72及び分光感度特性74を、合成演算処理78に
よって合成することによりチャンネル毎の総合特性76
を求めることができる。
【0030】次のステップ114では、後述する1次モ
ーメントSを最小にする演算によりチャンネル毎の中心
波長λoを求め、ステップ116において求めた中心波
長λoを各チャンネルと対応付けてデータ記憶部62に
記憶する。上記処理を全てのチャンネルに対して行い
(ステップ118)、本ルーチンを終了する。
ーメントSを最小にする演算によりチャンネル毎の中心
波長λoを求め、ステップ116において求めた中心波
長λoを各チャンネルと対応付けてデータ記憶部62に
記憶する。上記処理を全てのチャンネルに対して行い
(ステップ118)、本ルーチンを終了する。
【0031】ここで、各チャンネルの透過光の波長域
(いわゆるバンドパスフィルタのバンド幅)はあまり広
くないので、以下の式(2)に基づいて総合特性76の
波形分布の1次モーメントSを最小にする計算により、
滑らかでない分布に対する補正された重心位置としての
中心波長を得ることができる。すなわち、1次モーメン
トSを最小にするλoが重心位置の波長となり、これを
中心波長とすることができる。
(いわゆるバンドパスフィルタのバンド幅)はあまり広
くないので、以下の式(2)に基づいて総合特性76の
波形分布の1次モーメントSを最小にする計算により、
滑らかでない分布に対する補正された重心位置としての
中心波長を得ることができる。すなわち、1次モーメン
トSを最小にするλoが重心位置の波長となり、これを
中心波長とすることができる。
【0032】
【数1】
【0033】但し、f(λ) :各チャンネルの総合特
性波形の波長λに対する振幅の大きさ。
性波形の波長λに対する振幅の大きさ。
【0034】次に、ステップ104の補正値Cの算出に
ついて図12を参照して詳細に説明する。
ついて図12を参照して詳細に説明する。
【0035】本ルーチンが実行されると、ステップ12
2へ進み、本体に内蔵された標準となる複数の色票44
を計測し、ステップ124においてチャンネル毎でかつ
CCDセンサー30の1素子毎に分光反射率rを求め
る。この場合の分光反射率rは、以下の式(3)によっ
て求めることができる。
2へ進み、本体に内蔵された標準となる複数の色票44
を計測し、ステップ124においてチャンネル毎でかつ
CCDセンサー30の1素子毎に分光反射率rを求め
る。この場合の分光反射率rは、以下の式(3)によっ
て求めることができる。
【0036】 r=(nc /nw )・100(%) −−−(3) 但し、nc :色票44を計測したときのCCDセンサー
30出力 nw :標準白色紙40を計測したときのCCDセンサー
30出力。
30出力 nw :標準白色紙40を計測したときのCCDセンサー
30出力。
【0037】次のステップ126では、計測した色票4
4の予め基準となる分光計測装置で計測された基準の分
光反射率roをデータ記憶部62から読み取り、ステッ
プ128へ進み、後述するように同じ色票の反射率r、
roを比較することにより補正値Cを求める。求めた補
正値Cはステップ130においてデータ記憶部62に記
憶する。上記処理をチャンネル毎に行い全てのチャンネ
ルの補正値Cを求めた後(ステップ132)、本ルーチ
ンを終了する。
4の予め基準となる分光計測装置で計測された基準の分
光反射率roをデータ記憶部62から読み取り、ステッ
プ128へ進み、後述するように同じ色票の反射率r、
roを比較することにより補正値Cを求める。求めた補
正値Cはステップ130においてデータ記憶部62に記
憶する。上記処理をチャンネル毎に行い全てのチャンネ
ルの補正値Cを求めた後(ステップ132)、本ルーチ
ンを終了する。
【0038】上記補正値Cは、チャンネル毎に、上記ス
テップ102で求めた中心波長に対応する波長帯の基準
となる分光計測装置による分光反射率と本実施例のスキ
ャナ分光測色装置10による色票の分光反射率とを対比
し、線型回帰を行い回帰係数を得る等、統計処理により
得られる係数を求めることにより得られる。線型回帰に
よる方法を用いた場合、回帰直線は、以下の式(4)、
回帰係数は以下の式(5)で表すことができる。
テップ102で求めた中心波長に対応する波長帯の基準
となる分光計測装置による分光反射率と本実施例のスキ
ャナ分光測色装置10による色票の分光反射率とを対比
し、線型回帰を行い回帰係数を得る等、統計処理により
得られる係数を求めることにより得られる。線型回帰に
よる方法を用いた場合、回帰直線は、以下の式(4)、
回帰係数は以下の式(5)で表すことができる。
【0039】
【数2】
【0040】上記手順により求められる補正値Cは、装
置の光学系の経時変化が少ない場合は繰り返し他の試料
を計測するのに用いることができる。これにより、補正
値Cを求める手順を省略することができる。
置の光学系の経時変化が少ない場合は繰り返し他の試料
を計測するのに用いることができる。これにより、補正
値Cを求める手順を省略することができる。
【0041】次に、ステップ106を図13を参照して
試料18の分光反射率算出について詳細に説明する。
試料18の分光反射率算出について詳細に説明する。
【0042】先ず、ステップ142において、標準白色
紙40をスキャナ光学系20により計測する。次のステ
ップ144では、試料18の反射光量を計測する。次の
ステップ146では、標準白色紙40と試料18との計
測値に基づいてチャンネル毎の分光反射率ρを求める。
この場合の分光反射率ρは、上記式(3)と同様に以下
の式(6)によって求めることができる。
紙40をスキャナ光学系20により計測する。次のステ
ップ144では、試料18の反射光量を計測する。次の
ステップ146では、標準白色紙40と試料18との計
測値に基づいてチャンネル毎の分光反射率ρを求める。
この場合の分光反射率ρは、上記式(3)と同様に以下
の式(6)によって求めることができる。
【0043】 ρ=(ns /nw )・100(%) −−−(6) 但し、ns :試料18を計測したときのCCDセンサー
30出力 nw :標準白色紙40を計測したときのCCDセンサー
30出力。
30出力 nw :標準白色紙40を計測したときのCCDセンサー
30出力。
【0044】従って、試料18で反射された光は、CC
Dセンサ30により受光量に比例する出力として取り出
され、この値が標準白色紙40を計測して得られた出力
値で基準化され、階調度に対応する分光反射率ρとして
通信制御部58から演算処理部60へ送られる。
Dセンサ30により受光量に比例する出力として取り出
され、この値が標準白色紙40を計測して得られた出力
値で基準化され、階調度に対応する分光反射率ρとして
通信制御部58から演算処理部60へ送られる。
【0045】次のステップ148では、上記ステップ1
04において記憶された補正値Cを用い以下の式(7)
に基づいて校正された分光反射率ρ’を求め、ステップ
152において、この値を画素の分光反射率として中心
波長と対応付けてデータ記憶部62に記憶する。上記処
理をチャンネル毎に行い全てのチャンネルについて試料
18を計測した後(ステップ154)、本ルーチンを終
了する。
04において記憶された補正値Cを用い以下の式(7)
に基づいて校正された分光反射率ρ’を求め、ステップ
152において、この値を画素の分光反射率として中心
波長と対応付けてデータ記憶部62に記憶する。上記処
理をチャンネル毎に行い全てのチャンネルについて試料
18を計測した後(ステップ154)、本ルーチンを終
了する。
【0046】 ρ’=ρ・C −−−(7) 従って、図9に示したように、試料18を計測したとき
の出力ns 、標準白色紙40を計測したときの出力
nw 、に基づき除算処理80により分光反射率ρを求
め、この分光反射率ρと記憶された補正値Cとに基づき
乗算処理82によって校正された分光反射率ρ’を求め
ることができる。
の出力ns 、標準白色紙40を計測したときの出力
nw 、に基づき除算処理80により分光反射率ρを求
め、この分光反射率ρと記憶された補正値Cとに基づき
乗算処理82によって校正された分光反射率ρ’を求め
ることができる。
【0047】次に、ステップ108を図14を参照して
詳細に説明する。先ず、ステップ162では、チャンネ
ル毎の中心波長と対応付けてデータ記憶部62に記憶さ
れた分光反射率ρ’を読み取る。次のステップ164で
は、チャンネル毎の離散的な分光反射率ρ’に、演算処
理部60においてチャンネルの波長領域の長・短波長端
の外側の波長帯域(本実施例では、380nm及び750
nm)について経験則による補足点の分光反射率を追加し
た分光反射率R(λ)を求める(図7参照)。なお、こ
の経験則は、以下規則(a),(b),(c),(d)
によるものである。
詳細に説明する。先ず、ステップ162では、チャンネ
ル毎の中心波長と対応付けてデータ記憶部62に記憶さ
れた分光反射率ρ’を読み取る。次のステップ164で
は、チャンネル毎の離散的な分光反射率ρ’に、演算処
理部60においてチャンネルの波長領域の長・短波長端
の外側の波長帯域(本実施例では、380nm及び750
nm)について経験則による補足点の分光反射率を追加し
た分光反射率R(λ)を求める(図7参照)。なお、こ
の経験則は、以下規則(a),(b),(c),(d)
によるものである。
【0048】 (a) R(λ) = 0 (λ<350nm) (b) R(380)= ρ’1 /2(λ=400nm) (c) R(λ) = ρ’i (λ1 ≦λi <λn ) (d) R(λ) = ρ’n (λ>650nm) 但し、i=1、2、・・n(nはチャンネルの総数) λ :波長 ρ’i :チャンネルiのときの分光反射率ρ’ λi :チャンネルiの中心波長。
【0049】この追加された補足点を含む離散的な分光
反射率R(λ)について、3次スプライン補間やラグラ
ンジュ補間等の高次代数多項式による内挿補間を行い、
連続する分光反射率分布特性を求める。得られた分光反
射率分布は中心波長とともにデータ記憶部62に記憶さ
れかつインタフェース部64により、CRTやプリンタ
等の出力部へ出力する(ステップ166)。上記分光反
射率を求める処理は、画素毎に繰り返し行われ、最終的
に画面全体の画素毎の分光反射率を得ることができる。
反射率R(λ)について、3次スプライン補間やラグラ
ンジュ補間等の高次代数多項式による内挿補間を行い、
連続する分光反射率分布特性を求める。得られた分光反
射率分布は中心波長とともにデータ記憶部62に記憶さ
れかつインタフェース部64により、CRTやプリンタ
等の出力部へ出力する(ステップ166)。上記分光反
射率を求める処理は、画素毎に繰り返し行われ、最終的
に画面全体の画素毎の分光反射率を得ることができる。
【0050】このように、本実施例では、チャンネル数
を増加させることによって分光特性を向上させ、かつチ
ャンネル毎に独立して分光分布の校正及び補正を行うこ
とにより、スキャナ光学系の総合的な分光特性が滑らか
な特性でなくともよく、また単純な演算処理で分光反射
率を求めることができる。
を増加させることによって分光特性を向上させ、かつチ
ャンネル毎に独立して分光分布の校正及び補正を行うこ
とにより、スキャナ光学系の総合的な分光特性が滑らか
な特性でなくともよく、また単純な演算処理で分光反射
率を求めることができる。
【0051】ところで、従来のスキャナによる測色装置
のスキャナ光学系において、RGBフィルタ等を用い3
色分解測色を行うことにより、試料のRGB表色値を測
色することは可能であるが、分光反射率を計測すること
ができないため、標準表色系であるXYZ表色系の三刺
激値を計測することができない。従って、光源色を帯び
る任意の光源に適用することができない。
のスキャナ光学系において、RGBフィルタ等を用い3
色分解測色を行うことにより、試料のRGB表色値を測
色することは可能であるが、分光反射率を計測すること
ができないため、標準表色系であるXYZ表色系の三刺
激値を計測することができない。従って、光源色を帯び
る任意の光源に適用することができない。
【0052】本実施例では、複数(9個)の干渉フィル
タ46によって可視光の波長域を網羅するチャンネルを
形成している(図4参照)。これによって、標準表色系
であるXYZ表色系の三刺激値を求めることがき、光源
の分光エネルギー分布に拘わらず任意の光源を測色用の
光源として適用することができる。
タ46によって可視光の波長域を網羅するチャンネルを
形成している(図4参照)。これによって、標準表色系
であるXYZ表色系の三刺激値を求めることがき、光源
の分光エネルギー分布に拘わらず任意の光源を測色用の
光源として適用することができる。
【0053】また、本実施例では、標準色票を試料台に
配設または載せるのみで自動的に標準となる色票の分光
反射率を計測でき、この計測値と基準値によって容易に
補正値を求めることができる。
配設または載せるのみで自動的に標準となる色票の分光
反射率を計測でき、この計測値と基準値によって容易に
補正値を求めることができる。
【0054】更に、本実施例では、試料を試料台に載せ
るだけで、自動的に基準値が計測され、かつ自動的に分
光反射率が計測される。このとき、CCDセンサー30
のCCD素子の1素子毎に、上記処理を行うことにより
微小領域の分光反射率計測ができると共に、スキャナ光
学系を移動による走査により、CCDセンサー30のC
CD素子全てを試料面、例えばA3サイズの面を画素と
して計測できるため、試料面の分光反射率をも求めるこ
とができ、微小領域及び面の分光反射率分布を求めるこ
とができる。
るだけで、自動的に基準値が計測され、かつ自動的に分
光反射率が計測される。このとき、CCDセンサー30
のCCD素子の1素子毎に、上記処理を行うことにより
微小領域の分光反射率計測ができると共に、スキャナ光
学系を移動による走査により、CCDセンサー30のC
CD素子全てを試料面、例えばA3サイズの面を画素と
して計測できるため、試料面の分光反射率をも求めるこ
とができ、微小領域及び面の分光反射率分布を求めるこ
とができる。
【0055】
【発明の効果】以上説明したように本発明によれば、光
学系を構成する各要素によって複合的に変化する分光特
性に拘わらず試料の分光反射率特性を求めることがで
き、かつ簡単な計算処理で分光反射率を求めることがで
きるため、装置の大型化や処理時間が増加することなく
分光反射率を求めることができる、という効果がある。
学系を構成する各要素によって複合的に変化する分光特
性に拘わらず試料の分光反射率特性を求めることがで
き、かつ簡単な計算処理で分光反射率を求めることがで
きるため、装置の大型化や処理時間が増加することなく
分光反射率を求めることができる、という効果がある。
【図1】本発明が適用されたスキャナ分光測色装置の概
略を示した構成図である。
略を示した構成図である。
【図2】標準白色紙及び色票群の配列を示したイメージ
図である。
図である。
【図3】本実施例におけるフィルタレットの周辺構造を
示した斜視図である。
示した斜視図である。
【図4】実施例に用いた干渉フィルタの分光透過率を示
した特性曲線である。
した特性曲線である。
【図5】本発明の実施例における制御装置の概略構成を
示したブロック図である。
示したブロック図である。
【図6】本実施例における校正原理を示す斜視図であ
る。
る。
【図7】本実施例における分光反射率の推定過程を示す
イメージ図である。
イメージ図である。
【図8】光源、フィルタ、及び受光素子の分光特性か
ら、スキャナ光学系の総合的な分光特性を求める過程を
示したイメージ図である。
ら、スキャナ光学系の総合的な分光特性を求める過程を
示したイメージ図である。
【図9】標準白色紙の計測値及び補正値に基づき分光反
射率を求める過程を示したイメージ図である。
射率を求める過程を示したイメージ図である。
【図10】本実施例のメイン制御ルーチンを示すフロー
チャートである。
チャートである。
【図11】本実施例の総合特性算出ルーチンを示すフロ
ーチャートである。
ーチャートである。
【図12】本実施例の補正値算出ルーチンを示すフロー
チャートである。
チャートである。
【図13】本実施例の試料計測ルーチンを示すフローチ
ャートである。
ャートである。
【図14】本実施例の分光反射率演算ルーチンを示すフ
ローチャートである。
ローチャートである。
10 スキャナ分光測色装置 20 スキャナ光学系 22 光源 28 フィルタレット 30 CCDセンサー 40 標準白色紙 44 色票 46 干渉フィルタ 56 制御装置 58 通信制御部 60 演算制御部 62 データ記憶部
フロントページの続き (72)発明者 渡部 桂子 愛知県愛知郡長久手町大字長湫字横道41番 地の1株式会社豊田中央研究所内 (72)発明者 高木 淳 愛知県豊田市トヨタ町1番地 トヨタ自動 車株式会社内
Claims (2)
- 【請求項1】 光源、該光源から射出された光による物
体からの反射光量を検出する受光手段、及び各々重複し
ない所定波長域の光を透過すると共に該波長域以外の光
を遮光する複数の光学フィルタを備え、該反射光量を、
該光学フィルタを透過した光を計測することによって計
測する光学手段と、 前記所定波長域毎に、少なくとも前記光源のエネルギー
分布、前記光学フィルタの透過率分布及び前記受光手段
の感度分布の組合せにより得られる分光分布に基づいて
補正された中心波長を求める補正手段と、 前記所定波長域の中心波長毎に、基準板の反射率を基準
にした分光反射率になるように試料の計測値を校正する
校正手段と、 前記中心波長毎に校正された分光反射率に基づいて分光
反射率分布を推定する推定手段と、 を備えたスキャナ分光測色装置。 - 【請求項2】 前記校正手段は、前記所定波長域の中心
波長毎に、色が異なる複数の色票の各分光反射率の基準
値及び計測値に基づいて補正値を求めて該補正値に基づ
いて基準板の反射率を基準にした分光反射率になるよう
に試料の計測値を校正することを特徴とする請求項1に
記載のスキャナ分光測色装置。
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- 1992-05-15 JP JP04123604A patent/JP3119528B2/ja not_active Expired - Fee Related
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