JPH0532242A - 位置ずれ検出装置の検査装置 - Google Patents
位置ずれ検出装置の検査装置Info
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- JPH0532242A JPH0532242A JP18752291A JP18752291A JPH0532242A JP H0532242 A JPH0532242 A JP H0532242A JP 18752291 A JP18752291 A JP 18752291A JP 18752291 A JP18752291 A JP 18752291A JP H0532242 A JPH0532242 A JP H0532242A
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- JP
- Japan
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- synchronization
- sensor
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- mechanical angle
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 たばこの包か詰品をコンベアで搬送するとき
に、包か詰品のシールを検出する光センサーの検出信号
とコンベアの間欠動作に同期する同期信号との時間差か
らシールの位置ずれを検出する装置について、シールの
検出信号と同期信号とのタイミング等を調整し易くす
る。 【構成】包か詰品を搬送するコンベアのカム曲線と同期
信号の機械角度の情報をパーソナルコンピュータに記憶
する。光センサーの出力信号と同期信号とをディジタル
信号に変換してパーソナルコンピュータに取り込み、カ
ム曲線と同期信号の機械角度の情報をもちいて、取り込
んだディジタル信号から、シールの検出信号と同期信号
との時間差を変位量に変換してディスプレイに表示す
る。
に、包か詰品のシールを検出する光センサーの検出信号
とコンベアの間欠動作に同期する同期信号との時間差か
らシールの位置ずれを検出する装置について、シールの
検出信号と同期信号とのタイミング等を調整し易くす
る。 【構成】包か詰品を搬送するコンベアのカム曲線と同期
信号の機械角度の情報をパーソナルコンピュータに記憶
する。光センサーの出力信号と同期信号とをディジタル
信号に変換してパーソナルコンピュータに取り込み、カ
ム曲線と同期信号の機械角度の情報をもちいて、取り込
んだディジタル信号から、シールの検出信号と同期信号
との時間差を変位量に変換してディスプレイに表示す
る。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、たばこ製造用機械など
同種複数の製品を搬送しながら順次製造する各種製造機
械の搬送工程で、搬送される製品に貼り付けられたシー
ル片の搬送方向の位置ずれを検出する位置ずれ検出装置
に係わり、この位置ずれ検出の検出精度を調整する場合
などに、位置ずれに対する検出装置の実際の判定条件を
調べるのに適した位置ずれ検出装置の検査装置に関す
る。
同種複数の製品を搬送しながら順次製造する各種製造機
械の搬送工程で、搬送される製品に貼り付けられたシー
ル片の搬送方向の位置ずれを検出する位置ずれ検出装置
に係わり、この位置ずれ検出の検出精度を調整する場合
などに、位置ずれに対する検出装置の実際の判定条件を
調べるのに適した位置ずれ検出装置の検査装置に関す
る。
【0002】
【従来の技術】図17に示したように、従来、たばこの
包装品は巻たばこをアルミ箔aと包装紙hで包装し、ア
ルミ箔aの開閉部分がシールsによって封止され、その
外周はセロハンcで包装されている。
包装品は巻たばこをアルミ箔aと包装紙hで包装し、ア
ルミ箔aの開閉部分がシールsによって封止され、その
外周はセロハンcで包装されている。
【0003】図4および図5は上記のようなたばこの包
装を行う包装機の一部を示す概略図であり、図4は上面
図、図5は正面図である。包か形成部10で所定本数の
巻たばこがアルミ箔と包装紙とで包かされ、この包かさ
れた包か詰品(たばこ)Aは反転ターレット10aによ
ってコンベア20に順次供給される。コンベア20に載
置された包か詰品Aはコンベア20で順次搬送され、こ
の搬送行程中に設けられたシール貼り付け部30および
シール折り込み部40により、シールsが貼り付けられ
る。
装を行う包装機の一部を示す概略図であり、図4は上面
図、図5は正面図である。包か形成部10で所定本数の
巻たばこがアルミ箔と包装紙とで包かされ、この包かさ
れた包か詰品(たばこ)Aは反転ターレット10aによ
ってコンベア20に順次供給される。コンベア20に載
置された包か詰品Aはコンベア20で順次搬送され、こ
の搬送行程中に設けられたシール貼り付け部30および
シール折り込み部40により、シールsが貼り付けられ
る。
【0004】そして、不良品検出部50を通過すると
き、シールsがずれていたりシールが貼られていないよ
うな品質規格外の不良品が検出され、検出された不良品
は排除部60で排除され、良品の包か詰品Aはセロハン
上包工程70に順次供給されてセロハン包装が行われ
る。また、コンベア20上の不良品を排除した位置には
補助ホッパ80から良品が補給される。
き、シールsがずれていたりシールが貼られていないよ
うな品質規格外の不良品が検出され、検出された不良品
は排除部60で排除され、良品の包か詰品Aはセロハン
上包工程70に順次供給されてセロハン包装が行われ
る。また、コンベア20上の不良品を排除した位置には
補助ホッパ80から良品が補給される。
【0005】なお、このような工程は、コンベア20へ
の供給動作、シールの貼り付け・折り込み動作、排除動
作、供給動作など、各部の動作を一定の停止位置で行う
必要があるため、コンベア20はインデックスカム等の
カムにより間欠動作を行い、図4および図5に示したよ
うに、載置された包か詰品Aのピッチpと等しい長さを
1回の搬送ストロークとして間欠的に搬送動作を行うよ
うになっている。
の供給動作、シールの貼り付け・折り込み動作、排除動
作、供給動作など、各部の動作を一定の停止位置で行う
必要があるため、コンベア20はインデックスカム等の
カムにより間欠動作を行い、図4および図5に示したよ
うに、載置された包か詰品Aのピッチpと等しい長さを
1回の搬送ストロークとして間欠的に搬送動作を行うよ
うになっている。
【0006】不良品検出部50において、11 ,12 は
それぞれ投光部と受光部を備え、図4の図面に直角な方
向に並設された2つの光センサであり、包か詰品Aはシ
ールsを光センサ11 ,12 側に向けた状態で、コンベ
ア20によって一定間隔をおいて図の矢印の方向に搬
送される。
それぞれ投光部と受光部を備え、図4の図面に直角な方
向に並設された2つの光センサであり、包か詰品Aはシ
ールsを光センサ11 ,12 側に向けた状態で、コンベ
ア20によって一定間隔をおいて図の矢印の方向に搬
送される。
【0007】光センサ11 ,12 は、それぞれ投光部か
ら包か詰品Aに向けて光を照射してその反射光を受光部
で受光し、この受光量に応じて、光センサ11 ,12 の
位置を通過する部分が、包か詰品Aの前記図17に示し
たシールsの部分かアルミ箔aの部分かを検出する。
ら包か詰品Aに向けて光を照射してその反射光を受光部
で受光し、この受光量に応じて、光センサ11 ,12 の
位置を通過する部分が、包か詰品Aの前記図17に示し
たシールsの部分かアルミ箔aの部分かを検出する。
【0008】すなわち、アルミ箔aの部分は反射光が強
くシールsの部分は反射光が弱いので、各光センサ
11 ,12 の受光出力は、アルミ箔aの部分で高く、シ
ールsの部分で低くなる。なお、この受光出力は、コン
トローラ等により所定のしきい値で“H”レベルと
“L”レベルの信号に変換され、この信号は“H”レベ
ルおよび“L”レベルの信号は例えば“1”および
“0”に対応させたセンサー信号に変換される。
くシールsの部分は反射光が弱いので、各光センサ
11 ,12 の受光出力は、アルミ箔aの部分で高く、シ
ールsの部分で低くなる。なお、この受光出力は、コン
トローラ等により所定のしきい値で“H”レベルと
“L”レベルの信号に変換され、この信号は“H”レベ
ルおよび“L”レベルの信号は例えば“1”および
“0”に対応させたセンサー信号に変換される。
【0009】そして、後述説明するように、コンベア2
0の間欠的な搬送周期(インデックスカムの回転周期)
に同期して発生される同期信号と上記センサー信号とに
基づいてシールsの位置ずれおよびシール無しが判定さ
れる。
0の間欠的な搬送周期(インデックスカムの回転周期)
に同期して発生される同期信号と上記センサー信号とに
基づいてシールsの位置ずれおよびシール無しが判定さ
れる。
【0010】図6は搬送される包か詰品Aと光センサ1
1 ,12との相対位置の変化を示す図である。先ず、図
6(A) に示したように、光センサ11 ,12 がアルミ箔
aを検出している状態では、各センサー信号はそれぞれ
“1”になり、包か詰品Aが搬送されて、図6(B) に示
したように光センサ11 ,12 が包か詰品Aの間隙の部
分になると、各センサー信号はそれぞれ“0”に変化す
る。
1 ,12との相対位置の変化を示す図である。先ず、図
6(A) に示したように、光センサ11 ,12 がアルミ箔
aを検出している状態では、各センサー信号はそれぞれ
“1”になり、包か詰品Aが搬送されて、図6(B) に示
したように光センサ11 ,12 が包か詰品Aの間隙の部
分になると、各センサー信号はそれぞれ“0”に変化す
る。
【0011】次に、図6(C) に示したように、光センサ
11 ,12 が次の包か詰品Aのアルミ箔aを検出するよ
うになると、各センサー信号は再び“1”になり、図6
(D)に示したように、光センサ11 ,12 が包か詰品A
のシールsの位置にくると、各センサー信号は“0”に
なる。さらに、包か詰品Aが搬送され、図6(E) に示し
たように、光センサ11 ,1 2 がアルミ箔aの位置にな
ると、各センサー信号はそれぞれ“1”になる。
11 ,12 が次の包か詰品Aのアルミ箔aを検出するよ
うになると、各センサー信号は再び“1”になり、図6
(D)に示したように、光センサ11 ,12 が包か詰品A
のシールsの位置にくると、各センサー信号は“0”に
なる。さらに、包か詰品Aが搬送され、図6(E) に示し
たように、光センサ11 ,1 2 がアルミ箔aの位置にな
ると、各センサー信号はそれぞれ“1”になる。
【0012】この一連の動作によりコンベア20の搬送
動作とセンサー信号との関係は、例えば図7のようにな
る。図7の横軸θはコンベア20を駆動するインデック
スカムの回動角度に対応する機械角度であり、この例で
は、コンベア20は165°〜45°の240°の間で
1ストローク搬送し、45°〜165°の120°の間
は停止する。また、インデックスカムは一定速度で回転
しており、この機械角度θは、コンベア20の1ストロ
ーク間の経過時間に対応している。
動作とセンサー信号との関係は、例えば図7のようにな
る。図7の横軸θはコンベア20を駆動するインデック
スカムの回動角度に対応する機械角度であり、この例で
は、コンベア20は165°〜45°の240°の間で
1ストローク搬送し、45°〜165°の120°の間
は停止する。また、インデックスカムは一定速度で回転
しており、この機械角度θは、コンベア20の1ストロ
ーク間の経過時間に対応している。
【0013】包裹詰品Aは、アルミ薄aが光センサ
11 ,12 に対向するような位置で停止されるので、移
動区間内のセンサー信号には、包裹詰品Aの間隙に対応
する部分とシールsに対応する部分の2か所に“0”の
区間が生じる。そこで、シールsに対応する“0”の区
間に同期区間を設定し、この同期区間におけるセンサー
信号の“0”の区間をシール検出を示すセンサー検出信
号とすることができる。
11 ,12 に対向するような位置で停止されるので、移
動区間内のセンサー信号には、包裹詰品Aの間隙に対応
する部分とシールsに対応する部分の2か所に“0”の
区間が生じる。そこで、シールsに対応する“0”の区
間に同期区間を設定し、この同期区間におけるセンサー
信号の“0”の区間をシール検出を示すセンサー検出信
号とすることができる。
【0014】上記のように、包か詰品Aが搬送される
と、シールsが光センサ11 ,12 の位置を通過する間
に上記センサー検出信号が出力され、このセンサー検出
信号の立ち下がりと立ち上がりは、それぞれシールsの
搬送方向の前方端部と後方端部に対応してる。
と、シールsが光センサ11 ,12 の位置を通過する間
に上記センサー検出信号が出力され、このセンサー検出
信号の立ち下がりと立ち上がりは、それぞれシールsの
搬送方向の前方端部と後方端部に対応してる。
【0015】一方、包か詰品Aにおいてシールsを貼る
位置は決められており、このシールsはシール幅より僅
かに大きく設定された所定の許容範囲内に貼られなけれ
ばならない。また、各包か詰品Aは、コンベア20上の
所定位置に一定ピッチpで順次保持されて搬送されるの
で、各包か詰品Aにおける上記許容範囲は、それぞれコ
ンベア20に対して固定された位置になり、コンベア2
0とともに移動する。
位置は決められており、このシールsはシール幅より僅
かに大きく設定された所定の許容範囲内に貼られなけれ
ばならない。また、各包か詰品Aは、コンベア20上の
所定位置に一定ピッチpで順次保持されて搬送されるの
で、各包か詰品Aにおける上記許容範囲は、それぞれコ
ンベア20に対して固定された位置になり、コンベア2
0とともに移動する。
【0016】したがって、コンベア20の間欠動作に同
期して予め設定した一定のタイミングで例えば前記の同
期区間において1ストローク毎に同期信号を出力し、こ
の同期信号とセンサー検出信号のタイミングに基づいて
シールのずれを検出することができる。
期して予め設定した一定のタイミングで例えば前記の同
期区間において1ストローク毎に同期信号を出力し、こ
の同期信号とセンサー検出信号のタイミングに基づいて
シールのずれを検出することができる。
【0017】例えば、図8に示したように、機械角度
(以後、同期角度という。)a°で“1”から“0”に
変化し、同期角度b°で“0”から“1”に変化するよ
うな同期信号(以後、ずれ同期信号という。)を出力す
る。また、シール無しの状態を検出するために、センサ
ー検出信号より短い期間、すなわち、同期角度c°,d
°の範囲で“0”となるような同期信号(以後、無し同
期信号という。)を出力する。
(以後、同期角度という。)a°で“1”から“0”に
変化し、同期角度b°で“0”から“1”に変化するよ
うな同期信号(以後、ずれ同期信号という。)を出力す
る。また、シール無しの状態を検出するために、センサ
ー検出信号より短い期間、すなわち、同期角度c°,d
°の範囲で“0”となるような同期信号(以後、無し同
期信号という。)を出力する。
【0018】このようにすると、例えば図9(A) に示し
たようにシールsが搬送方向にずれて許容範囲をはみ出
すと、図9(B) に示したように、センサー検出信号がず
れ同期信号からはみ出すようになるので、例えば同期角
度a°でセンサー信号が“0”となったことにより、シ
ールのずれと判定することができる。
たようにシールsが搬送方向にずれて許容範囲をはみ出
すと、図9(B) に示したように、センサー検出信号がず
れ同期信号からはみ出すようになるので、例えば同期角
度a°でセンサー信号が“0”となったことにより、シ
ールのずれと判定することができる。
【0019】また、図10(A) に示したようにシールs
が斜めに貼られて許容範囲をはみ出した場合でも、図1
0(B) に示したように、センサー信号の少なくとも一方
の“0”の区間がずれ同期信号の“0”の区間からはみ
出すようになるので、例えば同期角度b°でセンサー信
号が“0”となったことにより、シールのずれと判定す
ることができる。
が斜めに貼られて許容範囲をはみ出した場合でも、図1
0(B) に示したように、センサー信号の少なくとも一方
の“0”の区間がずれ同期信号の“0”の区間からはみ
出すようになるので、例えば同期角度b°でセンサー信
号が“0”となったことにより、シールのずれと判定す
ることができる。
【0020】さらに、図11(A) に示したようにシール
が貼られていない包か詰品A´であった場合には、図1
1(B) に示したように、無し同期信号の“0”の区間で
もセンサー信号が“1”となるので、これによってシー
ル無しと判定することができる。
が貼られていない包か詰品A´であった場合には、図1
1(B) に示したように、無し同期信号の“0”の区間で
もセンサー信号が“1”となるので、これによってシー
ル無しと判定することができる。
【0021】なお、このような信号レベルの比較および
判定はマイクロコンピュータ等からなる制御盤により行
われているが、このような判定を行うためには光センサ
ー1 1 ,12 の感度、取付け位置あるいは同期角度等の
設定が適正でなければならず、これらの設定が適正でな
いと、誤った判定を行って、良品を不良品として排除し
たり、逆に不良品を良品として扱ってしまうなどの問題
が生じる。
判定はマイクロコンピュータ等からなる制御盤により行
われているが、このような判定を行うためには光センサ
ー1 1 ,12 の感度、取付け位置あるいは同期角度等の
設定が適正でなければならず、これらの設定が適正でな
いと、誤った判定を行って、良品を不良品として排除し
たり、逆に不良品を良品として扱ってしまうなどの問題
が生じる。
【0022】次に、上記のような光センサーの感度、取
付け位置あるいは同期角度等の設定条件について、具体
例に基づいて説明する。例えば、図12に示したように
シールsの幅が20mmで、許容範囲が左右2mmずつとす
ると、シールsが左右いずれかに2mm以上ずれたときに
「シールずれ」と判定できるようにするためには、ずれ
同期信号の立ち下がりおよび立ち上がりの時点で、それ
ぞれ許容範囲の左右端点P1 ,P2 が光センサー11 ,
12 を通過するように、光センサー11 ,12 の位置を
同期信号の同期角度に応じて適正な位置に設定しなけれ
ばならない。
付け位置あるいは同期角度等の設定条件について、具体
例に基づいて説明する。例えば、図12に示したように
シールsの幅が20mmで、許容範囲が左右2mmずつとす
ると、シールsが左右いずれかに2mm以上ずれたときに
「シールずれ」と判定できるようにするためには、ずれ
同期信号の立ち下がりおよび立ち上がりの時点で、それ
ぞれ許容範囲の左右端点P1 ,P2 が光センサー11 ,
12 を通過するように、光センサー11 ,12 の位置を
同期信号の同期角度に応じて適正な位置に設定しなけれ
ばならない。
【0023】例えば図13に示したように、光センサー
11 ,12 の位置が、破線で示した適正な位置から(例
えば1mm)ずれていると、図14に示したように、例え
ばずれ同期信号の前の同期角度a°での許容幅が3mm、
後の同期角度b°での許容幅が1mmというように、同期
角度の前後での許容幅が異なることになり、「シールず
れ」の判定精度が低下する。このような問題は、ずれ同
期信号の同期角度a°,b°の設定が適正でない場合に
も生じる。
11 ,12 の位置が、破線で示した適正な位置から(例
えば1mm)ずれていると、図14に示したように、例え
ばずれ同期信号の前の同期角度a°での許容幅が3mm、
後の同期角度b°での許容幅が1mmというように、同期
角度の前後での許容幅が異なることになり、「シールず
れ」の判定精度が低下する。このような問題は、ずれ同
期信号の同期角度a°,b°の設定が適正でない場合に
も生じる。
【0024】また、光センサーの出力は、所定のしきい
値によって“0”または“1”のセンサー検出信号に変
換されるので、光センサーの感度を高く調整すると、セ
ンサー検出信号は、同じ幅のシールsに対しても“0”
の幅が狭くなり、逆に感度を低く調整すると“0”の幅
が広くなる。したがって、例えば感度が高く調整され
て、シールsに対するセンサー検出信号の“0”の幅が
18mmに相当するようになった場合、左右均等と仮定し
て、3mm以上ずれなければ「シールずれ」を検出するこ
とができなくなる。
値によって“0”または“1”のセンサー検出信号に変
換されるので、光センサーの感度を高く調整すると、セ
ンサー検出信号は、同じ幅のシールsに対しても“0”
の幅が狭くなり、逆に感度を低く調整すると“0”の幅
が広くなる。したがって、例えば感度が高く調整され
て、シールsに対するセンサー検出信号の“0”の幅が
18mmに相当するようになった場合、左右均等と仮定し
て、3mm以上ずれなければ「シールずれ」を検出するこ
とができなくなる。
【0025】このように、光センサーの感度は所望の判
定基準になるように調整しなければならない。なお、た
ばこの種類によっては、シールsの中に模様などによる
反射率の高い部分を有するものがあり、光センサーの感
度を高く調整するとシールsの部分でセンサー検出信号
が“1”となって前記のように「シール無し」と判定さ
れることがあるので、このような場合には、同期信号の
幅を調整するようにしなければならない。
定基準になるように調整しなければならない。なお、た
ばこの種類によっては、シールsの中に模様などによる
反射率の高い部分を有するものがあり、光センサーの感
度を高く調整するとシールsの部分でセンサー検出信号
が“1”となって前記のように「シール無し」と判定さ
れることがあるので、このような場合には、同期信号の
幅を調整するようにしなければならない。
【0026】
【発明が解決しようとする課題】上記のように光センサ
ーの位置と同期信号の同期角度との調整を行う場合、従
来は、機械を運転しながらシンクロスコープ等の電子計
測器を使用して例えば図15に示したようなセンサー検
出信号と各同期信号との波形を観測し、センサー検出信
号と同期信号との時間差t1 ,t2 を調べて調整の目安
にしていた。
ーの位置と同期信号の同期角度との調整を行う場合、従
来は、機械を運転しながらシンクロスコープ等の電子計
測器を使用して例えば図15に示したようなセンサー検
出信号と各同期信号との波形を観測し、センサー検出信
号と同期信号との時間差t1 ,t2 を調べて調整の目安
にしていた。
【0027】しかしながら、コンベア20のようにイン
デックスカムによって間欠的に搬送動作を行う工程で
は、1ストロークの搬送動作と停止とを滑らかに行うた
めにも、一般に1ストローク内での搬送速度は一定速度
ではなく、インデックスカムに対応する所謂カム曲線で
示されるような不等速運動を行う。
デックスカムによって間欠的に搬送動作を行う工程で
は、1ストロークの搬送動作と停止とを滑らかに行うた
めにも、一般に1ストローク内での搬送速度は一定速度
ではなく、インデックスカムに対応する所謂カム曲線で
示されるような不等速運動を行う。
【0028】このため、図15のようにセンサー検出信
号と同期信号との時間差t1 ,t2 がt1 =t2 であっ
たとしても、時間差t1 の間と時間差t2 の間とでは、
それぞれコンベア20の搬送速度が異なるため、この時
間差t1 ,t2に対応する実際の包か詰品における左右
のシールの端部と許容範囲の端点との間隔は異なること
になる。すなわち、このような従来の方法では、センサ
ー検出信号と同期信号とのタイミングが時間の情報とし
てか得られないため、実際上に適正な調整位置を知るこ
とができなかった。
号と同期信号との時間差t1 ,t2 がt1 =t2 であっ
たとしても、時間差t1 の間と時間差t2 の間とでは、
それぞれコンベア20の搬送速度が異なるため、この時
間差t1 ,t2に対応する実際の包か詰品における左右
のシールの端部と許容範囲の端点との間隔は異なること
になる。すなわち、このような従来の方法では、センサ
ー検出信号と同期信号とのタイミングが時間の情報とし
てか得られないため、実際上に適正な調整位置を知るこ
とができなかった。
【0029】また、他の調整方法として、従来、機械を
停止させた状態で手回しハンドル等でゆっくり運転し、
このときのセンサー検出信号の変化点で、機械に取付け
られた目盛板から機械角度を読み取り、この機械角度と
同期信号の同期角度とからシールの端部と許容範囲の端
点との間隔を求める方法も行われているが、作業に時間
を要し、機械の稼働率の点でも問題があった。また、機
械を手回しする者、目盛を読み取る者など、少なくとも
2人の人手を要するという問題があった。
停止させた状態で手回しハンドル等でゆっくり運転し、
このときのセンサー検出信号の変化点で、機械に取付け
られた目盛板から機械角度を読み取り、この機械角度と
同期信号の同期角度とからシールの端部と許容範囲の端
点との間隔を求める方法も行われているが、作業に時間
を要し、機械の稼働率の点でも問題があった。また、機
械を手回しする者、目盛を読み取る者など、少なくとも
2人の人手を要するという問題があった。
【0030】本発明は、上記たばこの製造機械の不良検
出部のような位置ずれ検出装置のセンサー検出信号と、
位置ずれ検出のための同期信号とのタイミングを、機械
を運転しながら長さの情報として得られるようにし、位
置ずれ検出装置の検査と調整を簡単に行うことができる
ようにすることを課題とする。
出部のような位置ずれ検出装置のセンサー検出信号と、
位置ずれ検出のための同期信号とのタイミングを、機械
を運転しながら長さの情報として得られるようにし、位
置ずれ検出装置の検査と調整を簡単に行うことができる
ようにすることを課題とする。
【0031】
【課題を解決するための手段】上記の課題を解決するた
めになした本発明の位置ずれ検出装置の検査装置は、同
種複数の製品を一定のピッチで保持するとともに、イン
デックスカムにより上記ピッチと等しい長さの搬送動作
を一定周期で間欠的に行って上記製品を順次搬送する搬
送装置について、該搬送装置の近傍に配した光センサー
により、該搬送装置で搬送される製品に付されたシール
片の該搬送方向の端部を検出し、該搬送装置の間欠動作
に同期して発生させた同期信号と上記光センサーの検出
信号との時間差に基づいて上記シール片の搬送方向の位
置ずれを検出する位置ずれ検出装置の検査装置であっ
て、前記搬送装置における一周期の搬送変位と前記イン
デックスカムの機械角度との関係を示すカム曲線の情
報、および前記同期信号の機械角度の情報を記憶するカ
ム曲線記憶手段と、前記光センサーの出力と上記同期信
号の出力とをディジタル信号に変換するアナログ/ディ
ジタル変換手段と、上記アナログ/ディジタル変換手段
からのディジタル信号をサンプリングする信号読取手段
と、上記信号読取手段で読み取ったディジタル信号を記
憶する記憶手段と、上記記憶手段に記憶したディジタル
信号と前記カム曲線記憶手段に記憶している前記同期信
号の機械角度の情報とに基づいて前記光センサーの検出
信号の機械角度を演算し、上記カム曲線記憶手段に記憶
している前記カム曲線の情報により、上記検出信号の機
械角度と上記同期信号の機械角度との差を変位量に変換
する演算手段と、上記演算手段で得られた変位量を表示
する表示手段とを備えたことを特徴とする。
めになした本発明の位置ずれ検出装置の検査装置は、同
種複数の製品を一定のピッチで保持するとともに、イン
デックスカムにより上記ピッチと等しい長さの搬送動作
を一定周期で間欠的に行って上記製品を順次搬送する搬
送装置について、該搬送装置の近傍に配した光センサー
により、該搬送装置で搬送される製品に付されたシール
片の該搬送方向の端部を検出し、該搬送装置の間欠動作
に同期して発生させた同期信号と上記光センサーの検出
信号との時間差に基づいて上記シール片の搬送方向の位
置ずれを検出する位置ずれ検出装置の検査装置であっ
て、前記搬送装置における一周期の搬送変位と前記イン
デックスカムの機械角度との関係を示すカム曲線の情
報、および前記同期信号の機械角度の情報を記憶するカ
ム曲線記憶手段と、前記光センサーの出力と上記同期信
号の出力とをディジタル信号に変換するアナログ/ディ
ジタル変換手段と、上記アナログ/ディジタル変換手段
からのディジタル信号をサンプリングする信号読取手段
と、上記信号読取手段で読み取ったディジタル信号を記
憶する記憶手段と、上記記憶手段に記憶したディジタル
信号と前記カム曲線記憶手段に記憶している前記同期信
号の機械角度の情報とに基づいて前記光センサーの検出
信号の機械角度を演算し、上記カム曲線記憶手段に記憶
している前記カム曲線の情報により、上記検出信号の機
械角度と上記同期信号の機械角度との差を変位量に変換
する演算手段と、上記演算手段で得られた変位量を表示
する表示手段とを備えたことを特徴とする。
【0032】
【作用】本発明の検査装置に係わる位置ずれ検出装置
は、搬送装置の近傍に配した光センサーにより、搬送さ
れる製品に付されたシール片の該搬送方向の端部を検出
して検出信号を出力するとともに、搬送装置の間欠動作
に同期した同期信号を出力する。
は、搬送装置の近傍に配した光センサーにより、搬送さ
れる製品に付されたシール片の該搬送方向の端部を検出
して検出信号を出力するとともに、搬送装置の間欠動作
に同期した同期信号を出力する。
【0033】ここで本発明の検査装置は、アナログ/デ
ィジタル変換手段を介して得られる光センサーの出力と
同期信号の出力のディジタル信号を、信号読取手段でサ
ンプリングして記憶手段に記憶し、演算手段により、こ
のディジタル信号とカム曲線記憶手段に記憶している同
期信号の機械角度の情報とに基づいて光センサーの検出
信号の機械角度を演算し、カム曲線記憶手段に記憶して
いるカム曲線の情報により、検出信号の機械角度と同期
信号の機械角度との差を変位量に変換する。そして検出
信号と同期信号のずれ等を変位量として表示手段に表示
する。
ィジタル変換手段を介して得られる光センサーの出力と
同期信号の出力のディジタル信号を、信号読取手段でサ
ンプリングして記憶手段に記憶し、演算手段により、こ
のディジタル信号とカム曲線記憶手段に記憶している同
期信号の機械角度の情報とに基づいて光センサーの検出
信号の機械角度を演算し、カム曲線記憶手段に記憶して
いるカム曲線の情報により、検出信号の機械角度と同期
信号の機械角度との差を変位量に変換する。そして検出
信号と同期信号のずれ等を変位量として表示手段に表示
する。
【0034】
【実施例】図3は本発明実施例に係わるたばこ製造機械
の不良検出部を示す斜視図であり、前記図4および図5
に示した不良検出部50と同様に、シールsが貼られた
包か詰品Aをセロハン上包部に搬送する工程に取付けら
れたものである。なお、図4および図5と同様の要素に
は同符号を付記してある。
の不良検出部を示す斜視図であり、前記図4および図5
に示した不良検出部50と同様に、シールsが貼られた
包か詰品Aをセロハン上包部に搬送する工程に取付けら
れたものである。なお、図4および図5と同様の要素に
は同符号を付記してある。
【0035】コンベア20において、コンベアベルト2
0aには、包か詰品Aの横幅に整合する間隔をあけてプ
ッシャー20bが一定ピッチで立設され、コンベアベル
ト20aの両側には、このたばこ製造機械に固定された
一対のフレーム20cが配設されている。そして、コン
ベアベルト20は、図示しないインデックスカムによ
り、包か詰品Aを図の矢印の方向に間欠的に搬送す
る。
0aには、包か詰品Aの横幅に整合する間隔をあけてプ
ッシャー20bが一定ピッチで立設され、コンベアベル
ト20aの両側には、このたばこ製造機械に固定された
一対のフレーム20cが配設されている。そして、コン
ベアベルト20は、図示しないインデックスカムによ
り、包か詰品Aを図の矢印の方向に間欠的に搬送す
る。
【0036】光センサー11 ,12 は、包か詰品Aのシ
ールsの上下幅内でシールsと対面する投光レンズ1a
1 ,1a2および受光レンズ1b1 ,1b2 を備え、投
光レンズ1a1 ,1a2 からの光をそれぞれ受光レンズ
1b1,1b2 で受光することによりセンサー信号を出
力し、このセンサー信号は後述説明する検査装置3に入
力される。なお、この光センサ11,12 はアンプを内
蔵している。
ールsの上下幅内でシールsと対面する投光レンズ1a
1 ,1a2および受光レンズ1b1 ,1b2 を備え、投
光レンズ1a1 ,1a2 からの光をそれぞれ受光レンズ
1b1,1b2 で受光することによりセンサー信号を出
力し、このセンサー信号は後述説明する検査装置3に入
力される。なお、この光センサ11,12 はアンプを内
蔵している。
【0037】上方の光センサ11 は水平プレート21と
垂直プレート22によってL型プレート23に取付けら
れ、下方の光センサー12 は水平プレート24によって
L型プレート23に取付けられている。L型プレート2
3は機械に立設されており、ネジ23aによってコンベ
アベルト20aの搬送方向と平行な方向に位置調整可能
になっている。
垂直プレート22によってL型プレート23に取付けら
れ、下方の光センサー12 は水平プレート24によって
L型プレート23に取付けられている。L型プレート2
3は機械に立設されており、ネジ23aによってコンベ
アベルト20aの搬送方向と平行な方向に位置調整可能
になっている。
【0038】また、光センサー11 側の垂直プレート2
2はネジ22aによってL型プレート23に対して上下
方向に位置調整可能にされ、水平プレート21はネジ2
1aによって垂直プレート22に対してコンベアベルト
20aの搬送方向と平行な方向に位置調整可能になって
いる。さらに、光センサ12 側の水平プレート24はネ
ジ24aによってL型プレート23に対して上下方向に
位置調整可能にされている。これにより、光センサー1
1 と光センサー12 はそれぞれ上下左右に位置調整可能
になっている。
2はネジ22aによってL型プレート23に対して上下
方向に位置調整可能にされ、水平プレート21はネジ2
1aによって垂直プレート22に対してコンベアベルト
20aの搬送方向と平行な方向に位置調整可能になって
いる。さらに、光センサ12 側の水平プレート24はネ
ジ24aによってL型プレート23に対して上下方向に
位置調整可能にされている。これにより、光センサー1
1 と光センサー12 はそれぞれ上下左右に位置調整可能
になっている。
【0039】図1は実施例の検査装置を示すブロック図
であり、この実施例の検査装置3は、光センサー11 ,
12 のセンサー信号とずれ同期信号をそれぞれ出力レベ
ルに対応するディジタル信号に変換するA/D変換器3
1、このA/D変換器31の出力信号を入力するための
インターフェース回路32およびこのインターフェース
回路32に接続されたパーソナルコンピュータ33から
構成されている。
であり、この実施例の検査装置3は、光センサー11 ,
12 のセンサー信号とずれ同期信号をそれぞれ出力レベ
ルに対応するディジタル信号に変換するA/D変換器3
1、このA/D変換器31の出力信号を入力するための
インターフェース回路32およびこのインターフェース
回路32に接続されたパーソナルコンピュータ33から
構成されている。
【0040】A/D変換器31、インターフェース回路
32は、センサー信号とずれ同期信号に対応したチャン
ネルを有し、A/D変換器31によりセンサー検出信号
とずれ同期信号について一定周期でサンプリンブして得
られるディジタル信号が、インターフェース回路32を
介してそれぞれパーソナルコンピュータ33に入力され
る。このとき、パーソナルコンピュータ33は、センサ
ー信号とずれ同期信号をそれぞれサンプリングしたディ
ジタル信号の入力待機状態になり、一定間隔で入力され
るディジタル信号をセンサー信号とずれ同期信号に区別
してそれぞれ記憶する。
32は、センサー信号とずれ同期信号に対応したチャン
ネルを有し、A/D変換器31によりセンサー検出信号
とずれ同期信号について一定周期でサンプリンブして得
られるディジタル信号が、インターフェース回路32を
介してそれぞれパーソナルコンピュータ33に入力され
る。このとき、パーソナルコンピュータ33は、センサ
ー信号とずれ同期信号をそれぞれサンプリングしたディ
ジタル信号の入力待機状態になり、一定間隔で入力され
るディジタル信号をセンサー信号とずれ同期信号に区別
してそれぞれ記憶する。
【0041】パーソナルコンピュータ33は、CPU3
3a、ROM33b、RAM33c、I/Oポート33
d、ハードディスク33e、ディスプレイ33fおよび
キーボード33gを備えている。ハードディスク33e
には位置ずれ検出装置の検査を行う検査プログラム予め
書き込まれている。なお、以下の説明において、光セン
サ11 ,12 の一方の光センサのセンサー検出信号の検
査を行う場合について説明する。
3a、ROM33b、RAM33c、I/Oポート33
d、ハードディスク33e、ディスプレイ33fおよび
キーボード33gを備えている。ハードディスク33e
には位置ずれ検出装置の検査を行う検査プログラム予め
書き込まれている。なお、以下の説明において、光セン
サ11 ,12 の一方の光センサのセンサー検出信号の検
査を行う場合について説明する。
【0042】ハードディスク33eには、コンベア20
についてのカム曲線の式をプログラム化したデータとこ
のコンベア20におけるずれ同期信号と無し同期信号の
同期角度のデータ、他の機械に対応するカム曲線の式お
よびずれ同期信号と無し同期信号の同期角度のデータが
それぞれ記憶されている。
についてのカム曲線の式をプログラム化したデータとこ
のコンベア20におけるずれ同期信号と無し同期信号の
同期角度のデータ、他の機械に対応するカム曲線の式お
よびずれ同期信号と無し同期信号の同期角度のデータが
それぞれ記憶されている。
【0043】CPU33aは、リセット信号等によりハ
ードディスク33eから検査プログラムを読み出して起
動し、ハードディスク33eに記録されているカム曲線
の式に対応する機械の番号(機械番号)をディスプレイ
33fに表示し、キーボード33gの入力状態を監視す
る。キーボード33gから機械番号が入力されると、こ
の入力された機械番号に対応するカム曲線の式とずれ同
期信号の同期角度のデータをハードディスク33eから
読み出してRAM33bの予め決められた記憶領域に格
納し、キーボード33gから検査スタートを示す所定キ
ーの入力があるまで待機する。これにより、使用者は、
機械を運転して検査を開始できる状態になる。
ードディスク33eから検査プログラムを読み出して起
動し、ハードディスク33eに記録されているカム曲線
の式に対応する機械の番号(機械番号)をディスプレイ
33fに表示し、キーボード33gの入力状態を監視す
る。キーボード33gから機械番号が入力されると、こ
の入力された機械番号に対応するカム曲線の式とずれ同
期信号の同期角度のデータをハードディスク33eから
読み出してRAM33bの予め決められた記憶領域に格
納し、キーボード33gから検査スタートを示す所定キ
ーの入力があるまで待機する。これにより、使用者は、
機械を運転して検査を開始できる状態になる。
【0044】機械が運転され、キーボード33gから検
査スタートの指令が入力されると、CPUは、インター
フェース32を介してA/D変換器31からセンサー検
出信号のディジタル信号(以後、センサーデータとい
う。)と、ずれ同期信号のディジタル信号(以後、同期
データという。)をそれぞれ順番に取り込む。
査スタートの指令が入力されると、CPUは、インター
フェース32を介してA/D変換器31からセンサー検
出信号のディジタル信号(以後、センサーデータとい
う。)と、ずれ同期信号のディジタル信号(以後、同期
データという。)をそれぞれ順番に取り込む。
【0045】ここで、各取り込み時点のセンサーデータ
と同期データは1組にされ、所定組数のデータが取り込
まれる。また、この取り込んだ全データは、RAM33
c内の予め決められた取り込み専用レジスタに記憶され
る。この取り込み専用レジスタに記憶されたデータのう
ち、各組の同期データに対して一定の閾値と順次比較し
て“1”から“0”への変化点を捜し、取り込み開始点
からのポイント数を演算する。
と同期データは1組にされ、所定組数のデータが取り込
まれる。また、この取り込んだ全データは、RAM33
c内の予め決められた取り込み専用レジスタに記憶され
る。この取り込み専用レジスタに記憶されたデータのう
ち、各組の同期データに対して一定の閾値と順次比較し
て“1”から“0”への変化点を捜し、取り込み開始点
からのポイント数を演算する。
【0046】そして、変化点がないかまたはポイント数
が所定の範囲にない場合は、同期付近のデータが取り込
まれていないものと判定して、取り込み専用レジスタに
記憶されている全データを無効とし、再び取り込みを行
って取り込み専用レジスタの記憶内容を新しいデータで
置き換える。
が所定の範囲にない場合は、同期付近のデータが取り込
まれていないものと判定して、取り込み専用レジスタに
記憶されている全データを無効とし、再び取り込みを行
って取り込み専用レジスタの記憶内容を新しいデータで
置き換える。
【0047】一方、同期付近のデータが取り込まれてい
ると判定されたときは、取り込み専用レジスタの記憶内
容を格納専用のレジスタに転送する。なお、格納専用レ
ジスタは、先に格納されたデータと重複しないようにし
て、新しいデータの取り込みを行う。そして、所定数の
包か詰品についてセンサーデータと同期データの取り込
みが終了すると、各データの評価を行う。
ると判定されたときは、取り込み専用レジスタの記憶内
容を格納専用のレジスタに転送する。なお、格納専用レ
ジスタは、先に格納されたデータと重複しないようにし
て、新しいデータの取り込みを行う。そして、所定数の
包か詰品についてセンサーデータと同期データの取り込
みが終了すると、各データの評価を行う。
【0048】まず、格納専用レジスタに記憶された全デ
ータについて、一定の閾値と順次比較し、次に、サンプ
リング開始時からのポイント数を演算する。そして、次
式(1)によりセンサー検出信号の立下りについての機
械角度θn 1 と立上りについての機械角度θn 2 を演算
する。
ータについて、一定の閾値と順次比較し、次に、サンプ
リング開始時からのポイント数を演算する。そして、次
式(1)によりセンサー検出信号の立下りについての機
械角度θn 1 と立上りについての機械角度θn 2 を演算
する。
【数1】
【0049】なお、式(1)において、a°はずれ同期
信号の立ち下がりの同期角度、b°はずれ同期信号の立
ち上がりの同期角度、Paは同期信号の立ち下がり時の
サンプリング開始時からのポイント数、Pbは同期信号
の立ち上がり時のサンプリング開始時からのポイント
数、Pn1 はセンサー検出信号の立ち下がり時のサンプ
リング開始時からのポイント数、Pn2 はセンサー検出
信号の立ち上がり時のサンプリング開始時からのポイン
ト数であり、サンプリング開始時からの各ポイント数P
n1 ,Pn2 ,Pa,Pbは、それぞれセンサーデータ
および同期データを取り込んだときからの演算されたデ
ータ、同期角度a°,b°はハードディスク33eから
読み込まれたデータである。
信号の立ち下がりの同期角度、b°はずれ同期信号の立
ち上がりの同期角度、Paは同期信号の立ち下がり時の
サンプリング開始時からのポイント数、Pbは同期信号
の立ち上がり時のサンプリング開始時からのポイント
数、Pn1 はセンサー検出信号の立ち下がり時のサンプ
リング開始時からのポイント数、Pn2 はセンサー検出
信号の立ち上がり時のサンプリング開始時からのポイン
ト数であり、サンプリング開始時からの各ポイント数P
n1 ,Pn2 ,Pa,Pbは、それぞれセンサーデータ
および同期データを取り込んだときからの演算されたデ
ータ、同期角度a°,b°はハードディスク33eから
読み込まれたデータである。
【0050】また、a,b,θn 1 ,θn 2 ,Pn 1 ,
Pn 2 ,Pa,Pbを使用して、ノイズがあるものや、
実際に不良品のデータが取り込まれたものなど、数項目
のチェックを行い、異常な包か詰品のデータを取り除
き、平均値を計算する。次に、RAM33bに格納した
カム曲線の式から、同期角度a°、機械角度θn1 、同
期角度b°、機械角度θn2 および、ハードディスク3
3eから読み込んだ無し同期信号の同期角度c,dをコ
ンベア20の変位に変換する。
Pn 2 ,Pa,Pbを使用して、ノイズがあるものや、
実際に不良品のデータが取り込まれたものなど、数項目
のチェックを行い、異常な包か詰品のデータを取り除
き、平均値を計算する。次に、RAM33bに格納した
カム曲線の式から、同期角度a°、機械角度θn1 、同
期角度b°、機械角度θn2 および、ハードディスク3
3eから読み込んだ無し同期信号の同期角度c,dをコ
ンベア20の変位に変換する。
【0051】ところで、カム曲線は、例えば図2に示し
たようにコンベア20の1ストロークの周期に対応する
無次元時間Tと、この1ストロークの変位に対応する無
次元変位Sの関係を示すものであり、この実施例のコン
ベア20のカム曲線は、変形台形曲線に設定されてい
る。
たようにコンベア20の1ストロークの周期に対応する
無次元時間Tと、この1ストロークの変位に対応する無
次元変位Sの関係を示すものであり、この実施例のコン
ベア20のカム曲線は、変形台形曲線に設定されてい
る。
【0052】そこで、図7に示した1ストロークの開始
点に対応する機械角度θ0 (165°)、1ストローク
の間隔に対応する機械角度差Δθ(240°)を用い
て、次式(2)により、同期角度a°、機械角度θ
n1 、機械角度θn2 、同期角度b°、同期角度c°お
よび同期角度d°を無次元時間T1 ,T2 ,T3 ,
T4 ,T 5 ,T6 に変換する。
点に対応する機械角度θ0 (165°)、1ストローク
の間隔に対応する機械角度差Δθ(240°)を用い
て、次式(2)により、同期角度a°、機械角度θ
n1 、機械角度θn2 、同期角度b°、同期角度c°お
よび同期角度d°を無次元時間T1 ,T2 ,T3 ,
T4 ,T 5 ,T6 に変換する。
【数2】
【0053】また、上記のようにして得られた無次元時
間T1 ,T2 ,T3 ,T4 ,T5 ,T6 と、カム曲線の
公式から、図2に示したように、同期角度a°、機械角
度θn1 、機械角度θn2 、同期角度b°、同期角度c
°および同期角度d°に対応する無次元変位S1 ,
S2 ,S3,S4 ,S5 ,S6 を求める。
間T1 ,T2 ,T3 ,T4 ,T5 ,T6 と、カム曲線の
公式から、図2に示したように、同期角度a°、機械角
度θn1 、機械角度θn2 、同期角度b°、同期角度c
°および同期角度d°に対応する無次元変位S1 ,
S2 ,S3,S4 ,S5 ,S6 を求める。
【0054】そして、同期角度a°の無次元変位S1 と
機械角度θn1 の無次元変位S2 との差ΔSa、同期角
度b°の無次元変位S4 と機械角度θn2 の無次元変位
S3 との差ΔSb、機械角度θn1 の無次元変位S2 と
機械角度θn2 の無次元変位S3 との差ΔSc、同期角
度a°の無次元変位S1 と同期角度b°の無次元変位S
4 との差ΔSd、機械角度θn1 の無次元変位S2 と同
期角度c°の無次元変位S5 との差ΔSeおよび機械角
度θn2 の無次元変位S3 と同期角度d°の無次元変位
S6 との差ΔSfをそれぞれ求め、無次元変位S=1に
相当するコンベア20の1ストロークの長さすなわちピ
ッチp(例えば、69.85mm)を変位の差ΔSa,Δ
Sb,ΔSc,ΔSd,ΔSe,ΔSfにそれぞれ乗算
する。
機械角度θn1 の無次元変位S2 との差ΔSa、同期角
度b°の無次元変位S4 と機械角度θn2 の無次元変位
S3 との差ΔSb、機械角度θn1 の無次元変位S2 と
機械角度θn2 の無次元変位S3 との差ΔSc、同期角
度a°の無次元変位S1 と同期角度b°の無次元変位S
4 との差ΔSd、機械角度θn1 の無次元変位S2 と同
期角度c°の無次元変位S5 との差ΔSeおよび機械角
度θn2 の無次元変位S3 と同期角度d°の無次元変位
S6 との差ΔSfをそれぞれ求め、無次元変位S=1に
相当するコンベア20の1ストロークの長さすなわちピ
ッチp(例えば、69.85mm)を変位の差ΔSa,Δ
Sb,ΔSc,ΔSd,ΔSe,ΔSfにそれぞれ乗算
する。
【0055】さらに、ハードディスク33eに記憶され
ている製品品質規格(ずれの基準2mm)と、ΔSa×
p、ΔSb×p、ΔSe×pおよびΔSf×pをそれぞ
れ比較し、所定の擦れ不良品を排除する検出力が適正か
どうか、同じくハードディスク33eに記憶されている
実際のシール幅とΔSc×pを比較してセンサー感度が
適正かどうか、さらに、ΔSa×pとΔSb×pとの差
から同期タイミングがどちらの方向へどの程度ずれてい
るか等を演算し、それぞれディスプレイ33fに表示す
る。
ている製品品質規格(ずれの基準2mm)と、ΔSa×
p、ΔSb×p、ΔSe×pおよびΔSf×pをそれぞ
れ比較し、所定の擦れ不良品を排除する検出力が適正か
どうか、同じくハードディスク33eに記憶されている
実際のシール幅とΔSc×pを比較してセンサー感度が
適正かどうか、さらに、ΔSa×pとΔSb×pとの差
から同期タイミングがどちらの方向へどの程度ずれてい
るか等を演算し、それぞれディスプレイ33fに表示す
る。
【0056】このようにして、使用者は、不良品検出装
置の設定状態を、それぞれ長さのデータとして容易に知
ることができ、そして、設定状態が適正でない場合に、
センサの搬送方法の取り付け位置の調整方向と調整量な
ど、具体的に調整内容を知ることができ、その作業がよ
うに行なえる。
置の設定状態を、それぞれ長さのデータとして容易に知
ることができ、そして、設定状態が適正でない場合に、
センサの搬送方法の取り付け位置の調整方向と調整量な
ど、具体的に調整内容を知ることができ、その作業がよ
うに行なえる。
【0057】上記の実施例では、カム曲線のデータとし
てカム曲線の公式を用いるようにしているが、カム曲線
の公式を用いて計算できるのは、無次元時間Tから無次
元変位Sを求める方向だけであり、逆に公式を展開して
無次元変位Sから無次元時間Tを求める計算はできな
い。
てカム曲線の公式を用いるようにしているが、カム曲線
の公式を用いて計算できるのは、無次元時間Tから無次
元変位Sを求める方向だけであり、逆に公式を展開して
無次元変位Sから無次元時間Tを求める計算はできな
い。
【0058】そこで、例えば次表1に示したように、無
次元時間Tを2400等分した数字と、この分割した無
次元時間に対応する無次元変位との相関表としてハード
ディスク33eに記憶し、この相関表のデータをRAM
33bに読み込み、前記のようにして得られた無次元時
間Tと、この相関表から、同期角度a°、機械角度θn
1 、同期角度b°および機械角度θn2 に対応する無次
元変位S1 ,S2 ,S 3 ,S4 を求めるようにしてお
く。
次元時間Tを2400等分した数字と、この分割した無
次元時間に対応する無次元変位との相関表としてハード
ディスク33eに記憶し、この相関表のデータをRAM
33bに読み込み、前記のようにして得られた無次元時
間Tと、この相関表から、同期角度a°、機械角度θn
1 、同期角度b°および機械角度θn2 に対応する無次
元変位S1 ,S2 ,S 3 ,S4 を求めるようにしてお
く。
【表1】
【0059】このようにすると、例えば、図16に示し
たように光センサー11 ´,12 ´の搬送方向の位置調
整ができないような装置や、図3の装置でセンサーの搬
送方向の取付位置の調整やセンサー感度ボリュームの調
整などでは調整が行えないときに、それぞれ同期角度を
修正して調整を行う方法に対しても、無次元変位Sから
無次元時間Tに変換することができるので、調整量を具
体的数値の同期角度で表示することができ、ずれ同期信
号および無し同期信号の調整を容易に行なえるようにす
ることができる。
たように光センサー11 ´,12 ´の搬送方向の位置調
整ができないような装置や、図3の装置でセンサーの搬
送方向の取付位置の調整やセンサー感度ボリュームの調
整などでは調整が行えないときに、それぞれ同期角度を
修正して調整を行う方法に対しても、無次元変位Sから
無次元時間Tに変換することができるので、調整量を具
体的数値の同期角度で表示することができ、ずれ同期信
号および無し同期信号の調整を容易に行なえるようにす
ることができる。
【0060】図16の不良検出ブロックは、光センサー
11 ´,12 ´がそれぞれ投受光レンズ1a1 ´,1a
2 ´とアンプ1b1 ´,1b2 ´を光ファイバー1c1
´,1c2 ´で接続されており、アンプ1b1 ´,1b
2 ´は、光ファイバー光ファイバー1c1 ´,1c2 ´
を介して投受光レンズ1a1 ´,1a2 ´による投光と
受光を行い、受光量に応じたセンサー検出信号を出力す
るものである。
11 ´,12 ´がそれぞれ投受光レンズ1a1 ´,1a
2 ´とアンプ1b1 ´,1b2 ´を光ファイバー1c1
´,1c2 ´で接続されており、アンプ1b1 ´,1b
2 ´は、光ファイバー光ファイバー1c1 ´,1c2 ´
を介して投受光レンズ1a1 ´,1a2 ´による投光と
受光を行い、受光量に応じたセンサー検出信号を出力す
るものである。
【0061】そして、投受光レンズ1a1 ´,1a2 ´
を固定する昇降板41が左右のホルダー42に保持さ
れ、投光レンズ1a1 ´,1a2 ´の上下位置の調整を
可能にしたものである。なお、図16において、前記図
3と同様の要素には同符号を付記してある。
を固定する昇降板41が左右のホルダー42に保持さ
れ、投光レンズ1a1 ´,1a2 ´の上下位置の調整を
可能にしたものである。なお、図16において、前記図
3と同様の要素には同符号を付記してある。
【0062】
【発明の効果】以上説明したように本発明の位置ずれ検
出装置の検査装置によれば、インデックスカムにより間
欠的に搬送される製品に付されたシール片の搬送方向の
端部を光センサーにより検出するとともに、搬送時の間
欠動作に同期して発生させた同期信号と光センサーの検
出信号との時間差に基づいて上記シール片の位置ずれを
検出する位置ずれ検出装置に対して、光センサーの出力
と同期信号の出力をディジタル信号としてサンプリング
し、このディジタル信号と同期信号の機械角度の情報と
に基づいて光センサーの検出信号の機械角度を演算し、
カム曲線の情報により、検出信号の機械角度と同期信号
の機械角度との差を変位量に変換して検出信号と同期信
号のずれ等を変位量として表示手段に表示するようにし
たので、たばこの製造機械のシールのような位置ずれ検
出装置のセンサー検出信号と、位置ずれ検出のための同
期信号とのタイミングを、機械を運転しながら長さの情
報として得ることができ、位置ずれ検出装置の検査と調
整を簡単に行うことができる。
出装置の検査装置によれば、インデックスカムにより間
欠的に搬送される製品に付されたシール片の搬送方向の
端部を光センサーにより検出するとともに、搬送時の間
欠動作に同期して発生させた同期信号と光センサーの検
出信号との時間差に基づいて上記シール片の位置ずれを
検出する位置ずれ検出装置に対して、光センサーの出力
と同期信号の出力をディジタル信号としてサンプリング
し、このディジタル信号と同期信号の機械角度の情報と
に基づいて光センサーの検出信号の機械角度を演算し、
カム曲線の情報により、検出信号の機械角度と同期信号
の機械角度との差を変位量に変換して検出信号と同期信
号のずれ等を変位量として表示手段に表示するようにし
たので、たばこの製造機械のシールのような位置ずれ検
出装置のセンサー検出信号と、位置ずれ検出のための同
期信号とのタイミングを、機械を運転しながら長さの情
報として得ることができ、位置ずれ検出装置の検査と調
整を簡単に行うことができる。
【図1】本発明実施例の位置ずれ検出装置の検査装置を
示すブロック図である。
示すブロック図である。
【図2】実施例におけるカム曲線を示す図である。
【図3】実施例における位置ずれ検出装置の光センサー
の一例を示す図である。
の一例を示す図である。
【図4】本発明に係わる搬送装置の一例を示す上面図で
ある。
ある。
【図5】本発明に係わる図4の搬送装置の正面図であ
る。
る。
【図6】本発明に係わる図4および図5の搬送装置にお
ける包か詰品と光センサーとの相対位置の変化を示す図
である。
ける包か詰品と光センサーとの相対位置の変化を示す図
である。
【図7】本発明に係わる図4および図5の搬送装置にお
けるセンサー信号とコンベア動作を示す図である。
けるセンサー信号とコンベア動作を示す図である。
【図8】本発明に係わる図4および図5の搬送装置にお
けるセンサー信号と同期信号の一例を示す図である。
けるセンサー信号と同期信号の一例を示す図である。
【図9】本発明に係わる包か詰品におけるシールの横ず
れとセンサー信号および同期信号の一例を示す図であ
る。
れとセンサー信号および同期信号の一例を示す図であ
る。
【図10】本発明に係わる包か詰品におけるシールの斜
めれとセンサー信号および同期信号の一例を示す図であ
る。
めれとセンサー信号および同期信号の一例を示す図であ
る。
【図11】本発明に係わる包か詰品におけるシール無し
とセンサー信号および同期信号の一例を示す図である。
とセンサー信号および同期信号の一例を示す図である。
【図12】本発明に係わる包か詰品のシールの適正な貼
り付け位置とセンサー信号および同期信号の一例を示す
図である。
り付け位置とセンサー信号および同期信号の一例を示す
図である。
【図13】本発明に係わる光センサーの位置ずれの一例
を示す図である。
を示す図である。
【図14】図13の光センサーの位置ずれに対するセン
サー信号と同期信号の一例を示す図である。
サー信号と同期信号の一例を示す図である。
【図15】従来の検査方法の問題点を説明する図であ
る。
る。
【図16】実施例における位置ずれ検出装置の光センサ
ーの他の例を示す図である。
ーの他の例を示す図である。
【図17】本発明に係わる紙巻たばこの外観を示す図で
ある。
ある。
11 ,12 光センサー 3 位置ずれ検出装置の検査装置 20 コンベア 31 A/D変換器 32 インターフェース回路 34 パーソナルコンピュータ
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 【請求項1】 同種複数の製品を一定のピッチで保持す
るとともに、インデックスカムにより上記ピッチと等し
い長さの搬送動作を一定周期で間欠的に行って上記製品
を順次搬送する搬送装置について、該搬送装置の近傍に
配した光センサーにより、該搬送装置で搬送される製品
に付されたシール片の該搬送方向の端部を検出し、該搬
送装置の間欠動作に同期して発生させた同期信号と上記
光センサーの検出信号との時間差に基づいて上記シール
片の搬送方向の位置ずれを検出する位置ずれ検出装置の
検査装置であって、 前記搬送装置における一周期の搬送変位と前記インデッ
クスカムの機械角度との関係を示すカム曲線の情報、お
よび前記同期信号の機械角度の情報を記憶するカム曲線
記憶手段と、 前記光センサーの出力と上記同期信号の出力とをディジ
タル信号に変換するアナログ/ディジタル変換手段と、 上記アナログ/ディジタル変換手段からのディジタル信
号をサンプリングする信号読取手段と、 上記信号読取手段で読み取ったディジタル信号を記憶す
る記憶手段と、 上記記憶手段に記憶したディジタル信号と前記カム曲線
記憶手段に記憶している前記同期信号の機械角度の情報
とに基づいて前記光センサーの検出信号の機械角度を演
算し、上記カム曲線記憶手段に記憶している前記カム曲
線の情報により、上記検出信号の機械角度と上記同期信
号の機械角度との差を変位量に変換する演算手段と、 上記演算手段で得られた変位量を表示する表示手段とを
備えたことを特徴とする位置ずれ検出装置の検査装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP18752291A JP2901790B2 (ja) | 1991-07-26 | 1991-07-26 | 位置ずれ検出装置の検査装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP18752291A JP2901790B2 (ja) | 1991-07-26 | 1991-07-26 | 位置ずれ検出装置の検査装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH0532242A true JPH0532242A (ja) | 1993-02-09 |
JP2901790B2 JP2901790B2 (ja) | 1999-06-07 |
Family
ID=16207557
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP18752291A Expired - Fee Related JP2901790B2 (ja) | 1991-07-26 | 1991-07-26 | 位置ずれ検出装置の検査装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2901790B2 (ja) |
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN102195345A (zh) * | 2011-03-25 | 2011-09-21 | 杭州再灵电子科技有限公司 | 一种电力控制装置 |
CN103693225A (zh) * | 2013-12-26 | 2014-04-02 | 红塔烟草(集团)有限责任公司 | B1包装机烟支空头检测器校准方法 |
CN109110226A (zh) * | 2018-08-09 | 2019-01-01 | 广西中烟工业有限责任公司 | 一种烟包分拣排列*** |
JP2019027939A (ja) * | 2017-07-31 | 2019-02-21 | アズビル株式会社 | 情報処理装置 |
-
1991
- 1991-07-26 JP JP18752291A patent/JP2901790B2/ja not_active Expired - Fee Related
Cited By (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN102195345A (zh) * | 2011-03-25 | 2011-09-21 | 杭州再灵电子科技有限公司 | 一种电力控制装置 |
CN103693225A (zh) * | 2013-12-26 | 2014-04-02 | 红塔烟草(集团)有限责任公司 | B1包装机烟支空头检测器校准方法 |
JP2019027939A (ja) * | 2017-07-31 | 2019-02-21 | アズビル株式会社 | 情報処理装置 |
CN109110226A (zh) * | 2018-08-09 | 2019-01-01 | 广西中烟工业有限责任公司 | 一种烟包分拣排列*** |
CN109110226B (zh) * | 2018-08-09 | 2023-12-19 | 广西中烟工业有限责任公司 | 一种烟包分拣排列*** |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2901790B2 (ja) | 1999-06-07 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
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A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
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