JPH05297142A - シンチレ―ションカメラ - Google Patents
シンチレ―ションカメラInfo
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- JPH05297142A JPH05297142A JP10137992A JP10137992A JPH05297142A JP H05297142 A JPH05297142 A JP H05297142A JP 10137992 A JP10137992 A JP 10137992A JP 10137992 A JP10137992 A JP 10137992A JP H05297142 A JPH05297142 A JP H05297142A
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- Japan
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- curve
- circuit
- light
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- pmt
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- Nuclear Medicine (AREA)
- Photometry And Measurement Of Optical Pulse Characteristics (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】本発明は、様々な被検出光量レベルに対するＰ
ＭＴの検出信号を細かく調整し得、よってそれぞれのＰ
ＭＴに固有の検出感度特性によるむらを均一にし、高精
度な関心領域の表示ができるシンチレ―ションカメラを
提供することを目的とする。 【構成】本発明によるシンチレ―ションカメラは、複数
個の光電子増倍管の内少なくとも１個の近傍に配置され
る少なくとも１個の発光源手段からの発光光によるその
光電子増倍管の検出感度特性と、予め求めておいた光電
子増倍管の光量と出力との関係についての理想的な検出
感度特性データとを比較することにより光電子増倍管の
検出信号を補正するようにしたことを特徴とする。
ＭＴの検出信号を細かく調整し得、よってそれぞれのＰ
ＭＴに固有の検出感度特性によるむらを均一にし、高精
度な関心領域の表示ができるシンチレ―ションカメラを
提供することを目的とする。 【構成】本発明によるシンチレ―ションカメラは、複数
個の光電子増倍管の内少なくとも１個の近傍に配置され
る少なくとも１個の発光源手段からの発光光によるその
光電子増倍管の検出感度特性と、予め求めておいた光電
子増倍管の光量と出力との関係についての理想的な検出
感度特性データとを比較することにより光電子増倍管の
検出信号を補正するようにしたことを特徴とする。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、生体内に投与された放
射性同位元素（ラジオアイソト―プ又はＲＩと称するこ
ともある）から放射されるガンマ線を典型例とする放射
線をシンチレ―タにより光に変換し、その光を平面的か
つ稠密に配設された複数個の光電子増倍管（以下「ＰＭ
Ｔ」と略称する）により検出し、該検出信号に基づき前
記シンチレ―タにおける輝点発光位置に関するＲＩ分布
等の情報を得、病巣部分の形状や位置，大きさ等を診断
するようにしたシンチレ―ションカメラに関し、特に、
各ＰＭＴから出力される信号を調整する系を有するシン
チレ―ションカメラに関する。
射性同位元素（ラジオアイソト―プ又はＲＩと称するこ
ともある）から放射されるガンマ線を典型例とする放射
線をシンチレ―タにより光に変換し、その光を平面的か
つ稠密に配設された複数個の光電子増倍管（以下「ＰＭ
Ｔ」と略称する）により検出し、該検出信号に基づき前
記シンチレ―タにおける輝点発光位置に関するＲＩ分布
等の情報を得、病巣部分の形状や位置，大きさ等を診断
するようにしたシンチレ―ションカメラに関し、特に、
各ＰＭＴから出力される信号を調整する系を有するシン
チレ―ションカメラに関する。
【０００２】
【従来の技術】この種のシンチレ―ションカメラについ
て概説する。すなわち、ＮａＩ（ＴＩ）等で形成された
シンチレ―タに、コリメ―タを通過した放射線が入射さ
れると、シンチレ―ション光を生ずる。このシンチレ―
ション光が、アクリル樹脂等からなるライトガイドを介
してＰＭＴで検出され、電気信号として出力される。
て概説する。すなわち、ＮａＩ（ＴＩ）等で形成された
シンチレ―タに、コリメ―タを通過した放射線が入射さ
れると、シンチレ―ション光を生ずる。このシンチレ―
ション光が、アクリル樹脂等からなるライトガイドを介
してＰＭＴで検出され、電気信号として出力される。
【０００３】ＰＭＴは、シンチレ―タに対しライトガイ
ドを挟んで対向して複数個稠密にして配列される。各Ｐ
ＭＴの出力はそれぞれ検出感度を調整するためゲイン調
整系に与えられる。このゲイン調整系の出力は位置計算
回路に与えられる。その位置計算回路は、このゲイン調
整系の出力はＰＭＴの位置座標に対応する表示系の位置
に輝点を表示させる
ドを挟んで対向して複数個稠密にして配列される。各Ｐ
ＭＴの出力はそれぞれ検出感度を調整するためゲイン調
整系に与えられる。このゲイン調整系の出力は位置計算
回路に与えられる。その位置計算回路は、このゲイン調
整系の出力はＰＭＴの位置座標に対応する表示系の位置
に輝点を表示させる
【０００４】ところで、このゲイン調整系では、診断撮
影実動作毎にＰＭＴに対し一定の光量で一回発光する発
光源をＰＭＴの前面に配置し、その光量に対するＰＭＴ
の検出感度特性データを、理想感度特性メモリに格納さ
れている理想感度特性データと比較することにより一定
の調整値データを作成し、その一定の調整値データに基
づき実動作検出値データを調整するものである。
影実動作毎にＰＭＴに対し一定の光量で一回発光する発
光源をＰＭＴの前面に配置し、その光量に対するＰＭＴ
の検出感度特性データを、理想感度特性メモリに格納さ
れている理想感度特性データと比較することにより一定
の調整値データを作成し、その一定の調整値データに基
づき実動作検出値データを調整するものである。
【０００５】
【発明が解決ようとする課題】以上のような従来のシン
チレ―ションカメラにおいては、以下のような解決すべ
き課題がある。
チレ―ションカメラにおいては、以下のような解決すべ
き課題がある。
【０００６】ＰＭＴ検出感度特性は、ＰＭＴ単体毎に、
また同一のＰＭＴにおいても被検出光量レベルによって
も異なり、よってより高精度の表示を得るためには同一
のＰＭＴに対する調整値はＰＭＴ単体毎の一定調整値の
みでなく、被検出光量レベルに対応した複数の調整値を
有することが望ましい。
また同一のＰＭＴにおいても被検出光量レベルによって
も異なり、よってより高精度の表示を得るためには同一
のＰＭＴに対する調整値はＰＭＴ単体毎の一定調整値の
みでなく、被検出光量レベルに対応した複数の調整値を
有することが望ましい。
【０００７】しかし従来における出力信号調整処理工程
は、それぞれのＰＭＴに対応する唯一の調整値のみで調
整され、その結果、全てのＰＭＴ検出感度特性を均一に
することができず、またＰＴＭの直線性の補正について
もできず、高精度な表示を得ることができなかった。
は、それぞれのＰＭＴに対応する唯一の調整値のみで調
整され、その結果、全てのＰＭＴ検出感度特性を均一に
することができず、またＰＴＭの直線性の補正について
もできず、高精度な表示を得ることができなかった。
【０００８】そこで本発明の目的は、どのような被検出
光量レベルに対してもきめの細かい調整をなし得、よっ
てそれぞれのＰＭＴに固有の検出感度特性によるむらを
均一にし、高精度な関心領域の表示ができるシンチレ―
ションカメラを提供することにある。
光量レベルに対してもきめの細かい調整をなし得、よっ
てそれぞれのＰＭＴに固有の検出感度特性によるむらを
均一にし、高精度な関心領域の表示ができるシンチレ―
ションカメラを提供することにある。
【０００９】
【課題を解決するための手段】本発明は上記課題を解決
し且つ目的を達成するために次のような手段を講じた構
成としている。すなわち、本発明は、生体内に投与され
た放射性同位元素から放射される放射線をシンチレ―タ
により光に変換し、その光を複数個の光電子増倍管によ
り検出して表示に供するようにしたシンチレ―ションカ
メラにおいて、前記複数個の前記光電子増倍管の内少な
くとも１個の近傍に配置される少なくとも１個の発光源
手段からの発光光による前記光電子増倍管の検出感度特
性と、予めもとめておいた前記光電子増倍管の光量と出
力との関係についての理想的な検出感度特性データとを
比較することにより前記光電子増倍管の検出信号を補正
するようにしたことを特徴とする。
し且つ目的を達成するために次のような手段を講じた構
成としている。すなわち、本発明は、生体内に投与され
た放射性同位元素から放射される放射線をシンチレ―タ
により光に変換し、その光を複数個の光電子増倍管によ
り検出して表示に供するようにしたシンチレ―ションカ
メラにおいて、前記複数個の前記光電子増倍管の内少な
くとも１個の近傍に配置される少なくとも１個の発光源
手段からの発光光による前記光電子増倍管の検出感度特
性と、予めもとめておいた前記光電子増倍管の光量と出
力との関係についての理想的な検出感度特性データとを
比較することにより前記光電子増倍管の検出信号を補正
するようにしたことを特徴とする。
【００１０】
【作用】以上のように構成された本発明によれば、ＰＭ
Ｔそれぞれによってむらのある検出感度特性に対して
も、また同一のＰＭＴの被検出光量レベルによって差異
のある検出感度特性に対しても全てのＰＭＴの検出感度
特性を均一化することができる。
Ｔそれぞれによってむらのある検出感度特性に対して
も、また同一のＰＭＴの被検出光量レベルによって差異
のある検出感度特性に対しても全てのＰＭＴの検出感度
特性を均一化することができる。
【００１１】また上記の作用に加えて、発光源手段をシ
ンチレータ辺縁効果の影響外であり、かつＰＭＴに直接
に所望の光量を与えることができる位置（例えばシンチ
レータとＰＭＴとの間、あるいはＰＭＴの一端側面）に
配置することにより、直線性の補正も同時に達成するこ
とができる。
ンチレータ辺縁効果の影響外であり、かつＰＭＴに直接
に所望の光量を与えることができる位置（例えばシンチ
レータとＰＭＴとの間、あるいはＰＭＴの一端側面）に
配置することにより、直線性の補正も同時に達成するこ
とができる。
【００１２】
【実施例】以下、本発明の一実施例について説明する。
図１は本実施例のシンチレ―ションカメラの特徴部分の
構成を示すブロック図であり、図２は図１における入力
回路の構成を示すブロック図である。
図１は本実施例のシンチレ―ションカメラの特徴部分の
構成を示すブロック図であり、図２は図１における入力
回路の構成を示すブロック図である。
【００１３】本シンチレ―ションカメラは、生体内に投
与された放射性同位元素（ラジオアイソト―プ又はＲＩ
と称することもある）から放射されるガンマ線を典型例
とする放射線をシンチレ―タ（図示せず）により光に変
換し、その光を複数個稠密に配設されたＰＭＴ１０ｉに
より電気信号として検出し、その検出信号に基づき前記
シンチレ―タにおける輝点発光位置に関するＲＩ分布等
の情報を得る。各ＰＭＴ１０ｉは入力回路２０と補正回
路３０とを備えてなる。補正回路３０に含まれているコ
ントローラ３２と理想曲線メモリ３３とは全てのＰＭＴ
に共通でもよい。様々な光量で発光する発光源（ＬＥ
Ｄ）１は、ＰＭＴ１０ｉがその光量を検出できるように
配置されている。コントローラ３２は発光源５０に対し
例えば図３に示したように時間の経過と共に光量が段階
的に変化する発光制御信号を与えると共にその発光制御
信号をＰＭＴに対応する各出力曲線作成回路３１に対し
出力する。ＰＭＴ１０ｉの出力であるアナログ電気信号
である検出信号は増幅、Ａ／Ｄ変換等の処理をされるべ
く、入力回路２０に入力される。入力回路２０は、図２
に示されているように、プリアンプ２１と、Ｅ．Ｃ．ア
ンプ２２と、Ｐ．Ｌ．アンプ２３と、Ａ／Ｄ変換器２４
とで構成されており、それらは順に直列に配置されてい
る。入力回路２０は、補正回路３０に向けてそのディジ
タル信号化された検出信号を出力する。
与された放射性同位元素（ラジオアイソト―プ又はＲＩ
と称することもある）から放射されるガンマ線を典型例
とする放射線をシンチレ―タ（図示せず）により光に変
換し、その光を複数個稠密に配設されたＰＭＴ１０ｉに
より電気信号として検出し、その検出信号に基づき前記
シンチレ―タにおける輝点発光位置に関するＲＩ分布等
の情報を得る。各ＰＭＴ１０ｉは入力回路２０と補正回
路３０とを備えてなる。補正回路３０に含まれているコ
ントローラ３２と理想曲線メモリ３３とは全てのＰＭＴ
に共通でもよい。様々な光量で発光する発光源（ＬＥ
Ｄ）１は、ＰＭＴ１０ｉがその光量を検出できるように
配置されている。コントローラ３２は発光源５０に対し
例えば図３に示したように時間の経過と共に光量が段階
的に変化する発光制御信号を与えると共にその発光制御
信号をＰＭＴに対応する各出力曲線作成回路３１に対し
出力する。ＰＭＴ１０ｉの出力であるアナログ電気信号
である検出信号は増幅、Ａ／Ｄ変換等の処理をされるべ
く、入力回路２０に入力される。入力回路２０は、図２
に示されているように、プリアンプ２１と、Ｅ．Ｃ．ア
ンプ２２と、Ｐ．Ｌ．アンプ２３と、Ａ／Ｄ変換器２４
とで構成されており、それらは順に直列に配置されてい
る。入力回路２０は、補正回路３０に向けてそのディジ
タル信号化された検出信号を出力する。
【００１４】補正回路３０は、入力回路２０において増
幅されかつＡ／Ｄ変換された検出信号とコントローラ３
２からの発光制御信号とに基づきＰＭＴ１０ｉの出力近
似曲線を作成する出力曲線作成回路３１と、理想曲線を
格納する理想曲線メモリ３３と、出力曲線作成回路３１
で作成された出力曲線と理想曲線メモリ３３に格納され
ている理想曲線とを比較し調整値を作成する補正値作成
回路３４と、その調整値を格納する調整値メモリ７とを
具備している。出力曲線作成回路３１は、コントローラ
３２から発光制御信号と、入力回路２０から増幅されか
つＡ／Ｄ変換された検出信号を入力し、補正値作成回路
３４へＰＭＴ１０ｉの出力曲線を出力する。補正値作成
回路３４は理想曲線メモリ３３に格納されている理想曲
線と該出力曲線とを比較し、得られた例えば曲線を描く
調整データを補正データメモリ３５に送る。補正データ
メモリ３５はその調整データを格納すると共に、診断撮
影動作（実動作）における検出信号を入力回路２０から
直接入力し、その格納されている調整データに基づいて
検出信号を調整し、その調整された検出信号を位置計算
回路４０に出力する。次に以上のように構成された本装
置の動作について説明する。本装置は、実動作の前に常
にＰＭＴの検出感度特性に対する調整動作を行う。
幅されかつＡ／Ｄ変換された検出信号とコントローラ３
２からの発光制御信号とに基づきＰＭＴ１０ｉの出力近
似曲線を作成する出力曲線作成回路３１と、理想曲線を
格納する理想曲線メモリ３３と、出力曲線作成回路３１
で作成された出力曲線と理想曲線メモリ３３に格納され
ている理想曲線とを比較し調整値を作成する補正値作成
回路３４と、その調整値を格納する調整値メモリ７とを
具備している。出力曲線作成回路３１は、コントローラ
３２から発光制御信号と、入力回路２０から増幅されか
つＡ／Ｄ変換された検出信号を入力し、補正値作成回路
３４へＰＭＴ１０ｉの出力曲線を出力する。補正値作成
回路３４は理想曲線メモリ３３に格納されている理想曲
線と該出力曲線とを比較し、得られた例えば曲線を描く
調整データを補正データメモリ３５に送る。補正データ
メモリ３５はその調整データを格納すると共に、診断撮
影動作（実動作）における検出信号を入力回路２０から
直接入力し、その格納されている調整データに基づいて
検出信号を調整し、その調整された検出信号を位置計算
回路４０に出力する。次に以上のように構成された本装
置の動作について説明する。本装置は、実動作の前に常
にＰＭＴの検出感度特性に対する調整動作を行う。
【００１５】図３ないし図５を参照して説明する。発光
源５０がコントローラ３２に制御されて図４に示すよう
に時間“ｔ１”において電流量“Ａ１”を供給され、
“Ｌ１”の光量で発光すると、ＰＭＴ１０ｉはその光量
“Ｌ１”を受けて光量“Ｌ１”に相当する電気信号に変
換し、入力回路２０はその電気信号を受けて、その電気
信号をＰＲＥ−ＡＭＰ２１と、Ｅ．Ｃ．−ＡＭＰ２２
と、Ｐ．Ｉ．−ＡＭＰ２３とを直列に介して増幅しさら
にＡ／Ｄ−Ｃ２４においてＡ／Ｄ変換し、図３に示すよ
うに相当レベル“Ｓ１”の検出信号を出力曲線作成回路
３１に対し出力する。出力曲線作成回路３１は、同様に
所定の全ての光量レベルに対するＰＭＴ１０ｉの検出信
号とコントローラ３２からの発光制御信号とにより、適
宜の曲線近似手法により図３に示すような出力曲線６２
を得る。補正値作成回路３４では、この出力曲線作成回
路３１で作成された出力曲線６２と、図３に示すように
理想曲線メモリ３３に格納されている理想曲線６１とを
比較し、それらの差異を逆数変換することにより、つま
り理想曲線６１をｘ軸として出力曲線６２を逆数変換す
ることで、図５に示すような調整曲線５１を作成する。
調整曲線５１は補正データメモリ３５に格納される。
源５０がコントローラ３２に制御されて図４に示すよう
に時間“ｔ１”において電流量“Ａ１”を供給され、
“Ｌ１”の光量で発光すると、ＰＭＴ１０ｉはその光量
“Ｌ１”を受けて光量“Ｌ１”に相当する電気信号に変
換し、入力回路２０はその電気信号を受けて、その電気
信号をＰＲＥ−ＡＭＰ２１と、Ｅ．Ｃ．−ＡＭＰ２２
と、Ｐ．Ｉ．−ＡＭＰ２３とを直列に介して増幅しさら
にＡ／Ｄ−Ｃ２４においてＡ／Ｄ変換し、図３に示すよ
うに相当レベル“Ｓ１”の検出信号を出力曲線作成回路
３１に対し出力する。出力曲線作成回路３１は、同様に
所定の全ての光量レベルに対するＰＭＴ１０ｉの検出信
号とコントローラ３２からの発光制御信号とにより、適
宜の曲線近似手法により図３に示すような出力曲線６２
を得る。補正値作成回路３４では、この出力曲線作成回
路３１で作成された出力曲線６２と、図３に示すように
理想曲線メモリ３３に格納されている理想曲線６１とを
比較し、それらの差異を逆数変換することにより、つま
り理想曲線６１をｘ軸として出力曲線６２を逆数変換す
ることで、図５に示すような調整曲線５１を作成する。
調整曲線５１は補正データメモリ３５に格納される。
【００１６】そして診断動作の際、ＰＭＴ１０ｉを介し
て電気信号化され、入力回路２０を介して増幅、Ａ／Ｄ
変換等の処理を施されたＡ／Ｄ−Ｃ出力信号は、補正デ
ータメモリ３５を通過する際に格納されている調整曲線
５１における該Ａ／Ｄ−Ｃ出力信号のレベルに対応する
調整量を調整され位置計算回路４０に送られる。位置計
算回路４０から出力される位置信号から出力される表示
信号により、表示器（図示せず）の表示画面上に輝点が
表示され、これを予定時間集積して入射放射線分布像を
得るべく調整されたＰＭＴ１０ｉの検出信号の表示位置
を表示器に出力する。以上の説明では調整対象ＰＭＴが
１つの場合の調整曲線５１の作成と活用について説明し
たが、通常は複数個のＰＭＴを幾つかのグループに分
け、そのグループ毎に１つのＰＭＴを選択し、それぞれ
について個別に調整曲線を作成し活用するか、または発
光源は、調整対象ＰＭＴ毎に１つづつ配置してもよく、
これを特定するものではない。次に他の実施例について
説明する。
て電気信号化され、入力回路２０を介して増幅、Ａ／Ｄ
変換等の処理を施されたＡ／Ｄ−Ｃ出力信号は、補正デ
ータメモリ３５を通過する際に格納されている調整曲線
５１における該Ａ／Ｄ−Ｃ出力信号のレベルに対応する
調整量を調整され位置計算回路４０に送られる。位置計
算回路４０から出力される位置信号から出力される表示
信号により、表示器（図示せず）の表示画面上に輝点が
表示され、これを予定時間集積して入射放射線分布像を
得るべく調整されたＰＭＴ１０ｉの検出信号の表示位置
を表示器に出力する。以上の説明では調整対象ＰＭＴが
１つの場合の調整曲線５１の作成と活用について説明し
たが、通常は複数個のＰＭＴを幾つかのグループに分
け、そのグループ毎に１つのＰＭＴを選択し、それぞれ
について個別に調整曲線を作成し活用するか、または発
光源は、調整対象ＰＭＴ毎に１つづつ配置してもよく、
これを特定するものではない。次に他の実施例について
説明する。
【００１７】本実施例の構成は、先の実施例の構成と同
一であるが、発光源の配置箇所を以下のように限定す
る。本実施例における発光源の配置箇所は、該光の少な
くとも１部がシンチレータの周辺からの反射等の反射光
としてＰＭＴに入射しないような位置である。具体的に
は、シンチレータとＰＭＴの間に配置させるあるいはＰ
ＭＴのシンチレータ側の一端側面に付属させる。本実施
例の動作は先の実施例の動作と同様である。
一であるが、発光源の配置箇所を以下のように限定す
る。本実施例における発光源の配置箇所は、該光の少な
くとも１部がシンチレータの周辺からの反射等の反射光
としてＰＭＴに入射しないような位置である。具体的に
は、シンチレータとＰＭＴの間に配置させるあるいはＰ
ＭＴのシンチレータ側の一端側面に付属させる。本実施
例の動作は先の実施例の動作と同様である。
【００１８】以上のように本実施例によれば、どのよう
なエネルギ―帯のＲＩ線源を用いた場合であっても、ど
のようなＰＭＴ検出感度特性であっても適正な調整値を
得、検出信号を適確に調整することができ、それによっ
て信号処理系の全体に亙って高精度にディジタル調整を
なし得ることができる。本発明は上記実施例に限定され
るものではなく、本発明の要旨を逸脱しない範囲で種々
変形して実施できるものである。
なエネルギ―帯のＲＩ線源を用いた場合であっても、ど
のようなＰＭＴ検出感度特性であっても適正な調整値を
得、検出信号を適確に調整することができ、それによっ
て信号処理系の全体に亙って高精度にディジタル調整を
なし得ることができる。本発明は上記実施例に限定され
るものではなく、本発明の要旨を逸脱しない範囲で種々
変形して実施できるものである。
【００１９】
【発明の効果】以上のように本発明によれば、ＰＭＴそ
れぞれによってむらのある検出感度特性に対しても、ま
た同一のＰＭＴの被検出光量レベルによって差異のある
検出感度特性に対しても全てのＰＭＴの検出感度特性を
均一にさせることができ、よってどのような被検出光量
レベルに対してもきめの細かい調整をなし得、よってそ
れぞれのＰＭＴに固有の検出感度特性によるむらを均一
にし、高精度な関心領域の表示ができるシンチレ―ショ
ンカメラを提供することができる。
れぞれによってむらのある検出感度特性に対しても、ま
た同一のＰＭＴの被検出光量レベルによって差異のある
検出感度特性に対しても全てのＰＭＴの検出感度特性を
均一にさせることができ、よってどのような被検出光量
レベルに対してもきめの細かい調整をなし得、よってそ
れぞれのＰＭＴに固有の検出感度特性によるむらを均一
にし、高精度な関心領域の表示ができるシンチレ―ショ
ンカメラを提供することができる。
【００２０】さらには、直線性の補正も同時に達成する
ことができ、よってどのような被検出光量レベルに対し
てもきめの細かい調整をなし得、よってそれぞれのＰＭ
Ｔに固有の検出感度特性によるむらを均一にし、高精度
な関心領域の表示ができるシンチレ―ションカメラを提
供することができる。
ことができ、よってどのような被検出光量レベルに対し
てもきめの細かい調整をなし得、よってそれぞれのＰＭ
Ｔに固有の検出感度特性によるむらを均一にし、高精度
な関心領域の表示ができるシンチレ―ションカメラを提
供することができる。
【図１】本実施例のシンチレ―ションカメラの特徴部分
の構成を示すブロック図。
の構成を示すブロック図。
【図２】図１に示す入力回路の構成を示すブロック図。
【図３】ＰＭＴの測定出力曲線と理想曲線との関係を示
すグラフ。
すグラフ。
【図４】図１に示す発光源に供給される電流レベルの時
間的な変動を示すグラフ。
間的な変動を示すグラフ。
【図５】図１に示す出力曲線作成回路で作成される調整
曲線の一例を示すグラフ。
曲線の一例を示すグラフ。
１０ｉ…ＰＭＴ、２０…入力回路、３０…補正回路、３
１…出力曲線作成回路、３２…コントローラ、３３…理
想曲線メモリ、３４…補正値作成回路、３５…補正デー
タメモリ、４０…位置計算回路
１…出力曲線作成回路、３２…コントローラ、３３…理
想曲線メモリ、３４…補正値作成回路、３５…補正デー
タメモリ、４０…位置計算回路
Claims (2)
- 【請求項１】 生体内に投与された放射性同位元素から
放射される放射線をシンチレ―タにより光に変換し、そ
の光を複数個の光電子増倍管により検出して表示に供す
るようにしたシンチレ―ションカメラにおいて、 前記複数個の前記光電子増倍管の内少なくとも１個の近
傍に配置される少なくとも１個の発光源手段からの発光
光による前記光電子増倍管の検出感度特性と、予めもと
めておいた前記光電子増倍管の光量と出力との関係につ
いての理想的な検出感度特性データとを比較することに
より前記光電子増倍管の検出信号を補正するようにした
ことを特徴とするシンチレ―ションカメラ。 - 【請求項２】 前記発光源手段は、前記光電子増倍管に
対して直接に光を与える位置に配設されてなることを特
徴とする請求項１に記載のシンチレ―ションカメラ。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP10137992A JPH05297142A (ja) | 1992-04-21 | 1992-04-21 | シンチレ―ションカメラ |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP10137992A JPH05297142A (ja) | 1992-04-21 | 1992-04-21 | シンチレ―ションカメラ |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH05297142A true JPH05297142A (ja) | 1993-11-12 |
Family
ID=14299162
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP10137992A Pending JPH05297142A (ja) | 1992-04-21 | 1992-04-21 | シンチレ―ションカメラ |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH05297142A (ja) |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2002039076A1 (fr) * | 2000-11-10 | 2002-05-16 | Arkray, Inc. | Procede de correction de sortie de capteur |
| US7286215B2 (en) | 2003-11-21 | 2007-10-23 | Kenji Imura | Light measuring apparatus and a method for correcting non-linearity of a light measuring apparatus |
| JP2008256380A (ja) * | 2007-03-30 | 2008-10-23 | Hamamatsu Photonics Kk | 光計測装置及び光計測装置の調整方法 |
| JP2009133748A (ja) * | 2007-11-30 | 2009-06-18 | Toshiba Corp | 放射線検出器 |
-
1992
- 1992-04-21 JP JP10137992A patent/JPH05297142A/ja active Pending
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2002039076A1 (fr) * | 2000-11-10 | 2002-05-16 | Arkray, Inc. | Procede de correction de sortie de capteur |
| US7110901B2 (en) | 2000-11-10 | 2006-09-19 | Arkray, Inc. | Correction method for sensor output |
| US7286215B2 (en) | 2003-11-21 | 2007-10-23 | Kenji Imura | Light measuring apparatus and a method for correcting non-linearity of a light measuring apparatus |
| JP2008256380A (ja) * | 2007-03-30 | 2008-10-23 | Hamamatsu Photonics Kk | 光計測装置及び光計測装置の調整方法 |
| JP2009133748A (ja) * | 2007-11-30 | 2009-06-18 | Toshiba Corp | 放射線検出器 |
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