JPH05289899A - ハードウェアの診断プログラム実行時間計測方式 - Google Patents
ハードウェアの診断プログラム実行時間計測方式Info
- Publication number
- JPH05289899A JPH05289899A JP4118558A JP11855892A JPH05289899A JP H05289899 A JPH05289899 A JP H05289899A JP 4118558 A JP4118558 A JP 4118558A JP 11855892 A JP11855892 A JP 11855892A JP H05289899 A JPH05289899 A JP H05289899A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- time
- execution
- hardware
- end time
- diagnostic item
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Landscapes
- Debugging And Monitoring (AREA)
- Test And Diagnosis Of Digital Computers (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】 計測の度にストップウォッチ等を利用するこ
となく正しい計測時間を知る。 【構成】 ROM部1内の診断項目選択処理部2により
診断項目の選択を行い、診断項目実行処理の実行開始時
刻および実行終了時刻を計時手段11から計時手段読込
み処理部3により開始時刻および終了時刻を読み込ん
で、RAM部7内の実行開始時刻格納エリア8,実行終
了時刻格納エリア9にデータ格納処理部5により格納
し、出力処理部6によってRAM部7内の格納データを
出力装置10に出力する。
となく正しい計測時間を知る。 【構成】 ROM部1内の診断項目選択処理部2により
診断項目の選択を行い、診断項目実行処理の実行開始時
刻および実行終了時刻を計時手段11から計時手段読込
み処理部3により開始時刻および終了時刻を読み込ん
で、RAM部7内の実行開始時刻格納エリア8,実行終
了時刻格納エリア9にデータ格納処理部5により格納
し、出力処理部6によってRAM部7内の格納データを
出力装置10に出力する。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明はハードウェアの診断プロ
グラム実行時間計測方式に係り、特に診断プログラム中
の診断項目が選択され、テストを開始した時刻とそのテ
ストが終了した時刻を計時手段により読み込んで主記憶
メモリ(以下、RAMと呼称する)内のエリアに格納す
る方式と、このエリアに格納されたデータを出力する方
式を備えたハードウェアの診断プログラム実行時間計測
方式に関するものである。
グラム実行時間計測方式に係り、特に診断プログラム中
の診断項目が選択され、テストを開始した時刻とそのテ
ストが終了した時刻を計時手段により読み込んで主記憶
メモリ(以下、RAMと呼称する)内のエリアに格納す
る方式と、このエリアに格納されたデータを出力する方
式を備えたハードウェアの診断プログラム実行時間計測
方式に関するものである。
【0002】
【従来の技術】従来、プログラムによりデータ処理を行
う各種データ処理装置のハードウェア診断プログラムの
実行時間を計測する場合は、各診断項目の実行開始時刻
と実行終了時刻をストップウォッチなどで計測してい
た。
う各種データ処理装置のハードウェア診断プログラムの
実行時間を計測する場合は、各診断項目の実行開始時刻
と実行終了時刻をストップウォッチなどで計測してい
た。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】上述した従来の各種デ
ータ処理装置のハードウェア診断プログラムの実行時間
を計測する方式では、各診断項目を選択して実行時間の
測定を行う際には、人手によりストップウォッチなどで
計測しているため計測誤差が出たり、計測の度に人手が
必要になるという課題があった。
ータ処理装置のハードウェア診断プログラムの実行時間
を計測する方式では、各診断項目を選択して実行時間の
測定を行う際には、人手によりストップウォッチなどで
計測しているため計測誤差が出たり、計測の度に人手が
必要になるという課題があった。
【0004】
【課題を解決するための手段】本発明のハードウェアの
診断プログラムの実行時間計測方式は、読み出し専用メ
モリ(以下、ROMと呼称する)とRAMと表示部を有
する各種データ処理装置のハードウェアの診断プログラ
ムにおいて、上記RAM内にハードウェア診断プログラ
ムの各ハードウェア診断項目毎に実行開始時刻を格納す
る実行開始時刻エリアとテスト終了時刻を格納する実行
終了時刻エリアを有し、選択されたハードウェア診断項
目のテストが開始された時刻を計時手段により読み込ん
で上記RAM内の実行開始時刻エリアに格納する第1ス
テップと、選択されたハードウェア診断項目のテスト終
了時刻を上記計時手段により読み込んで上記RAM内の
実行終了時刻エリアに格納する第2ステップと、この第
2ステップで格納された実行開始時刻および実行終了時
刻を出力装置に出力する第3ステップを有するものであ
る。
診断プログラムの実行時間計測方式は、読み出し専用メ
モリ(以下、ROMと呼称する)とRAMと表示部を有
する各種データ処理装置のハードウェアの診断プログラ
ムにおいて、上記RAM内にハードウェア診断プログラ
ムの各ハードウェア診断項目毎に実行開始時刻を格納す
る実行開始時刻エリアとテスト終了時刻を格納する実行
終了時刻エリアを有し、選択されたハードウェア診断項
目のテストが開始された時刻を計時手段により読み込ん
で上記RAM内の実行開始時刻エリアに格納する第1ス
テップと、選択されたハードウェア診断項目のテスト終
了時刻を上記計時手段により読み込んで上記RAM内の
実行終了時刻エリアに格納する第2ステップと、この第
2ステップで格納された実行開始時刻および実行終了時
刻を出力装置に出力する第3ステップを有するものであ
る。
【0005】
【作用】本発明においては、ROMとRAMを有し、プ
ログラムによりデータ処理を行う各種データ処理装置に
おいて、特に診断プログラムの診断項目が選択され、テ
ストを開始した時刻とそのテストが終了した時刻を計時
手段により読み込んでRAM内の各エリアに格納し、そ
のデータを出力装置により出力(表示)する。
ログラムによりデータ処理を行う各種データ処理装置に
おいて、特に診断プログラムの診断項目が選択され、テ
ストを開始した時刻とそのテストが終了した時刻を計時
手段により読み込んでRAM内の各エリアに格納し、そ
のデータを出力装置により出力(表示)する。
【0006】
【実施例】図1は本発明の一実施例を示すブロック図で
ある。この図1において、1はROM部で、このROM
部1は、診断項目選択処理部2と,この診断項目選択処
理部2の出力を入力とする計時手段読込み処理部3と,
この計時手段読込み処理部3との間において情報の授受
を行う診断項目実行処理部4と,この診断項目実行処理
部4の出力と計時手段読込み処理部3の出力を入力とす
るデータ格納処理部5およびこのデータ格納処理部5の
出力を入力とする出力処理部6から構成されている。7
はRAM部で、このRAM部7内にはハードウェア診断
プログラムの各ハードウェア診断項目毎に実行開始時刻
を格納する実行開始時刻格納エリア8とテスト終了時刻
を格納する実行終了時刻格納エリア9を有している。1
0は出力処理部6の出力を入力とする出力装置、11は
計時手段である。
ある。この図1において、1はROM部で、このROM
部1は、診断項目選択処理部2と,この診断項目選択処
理部2の出力を入力とする計時手段読込み処理部3と,
この計時手段読込み処理部3との間において情報の授受
を行う診断項目実行処理部4と,この診断項目実行処理
部4の出力と計時手段読込み処理部3の出力を入力とす
るデータ格納処理部5およびこのデータ格納処理部5の
出力を入力とする出力処理部6から構成されている。7
はRAM部で、このRAM部7内にはハードウェア診断
プログラムの各ハードウェア診断項目毎に実行開始時刻
を格納する実行開始時刻格納エリア8とテスト終了時刻
を格納する実行終了時刻格納エリア9を有している。1
0は出力処理部6の出力を入力とする出力装置、11は
計時手段である。
【0007】つぎにこの図1に示す実施例の動作を説明
する。まず、ハードウェア診断プログラムの立ち上げに
より診断項目選択処理部2に制御が移り、各診断項目が
選択されると、計時手段読込み処理部3では計時手段1
1から実行開始時刻を読み込んでデータ格納処理部5に
より実行開始時刻格納エリア8に格納し、診断項目実行
処理部4により診断項目が実行される。つぎに、終了時
計時手段読込み処理部3では、計時手段11から実行終
了時刻を読み込んで、データ格納処理部5により実行終
了時刻格納エリア9に格納し、出力処理部6では、上記
エリアに格納されたデータを出力装置10から出力す
る。
する。まず、ハードウェア診断プログラムの立ち上げに
より診断項目選択処理部2に制御が移り、各診断項目が
選択されると、計時手段読込み処理部3では計時手段1
1から実行開始時刻を読み込んでデータ格納処理部5に
より実行開始時刻格納エリア8に格納し、診断項目実行
処理部4により診断項目が実行される。つぎに、終了時
計時手段読込み処理部3では、計時手段11から実行終
了時刻を読み込んで、データ格納処理部5により実行終
了時刻格納エリア9に格納し、出力処理部6では、上記
エリアに格納されたデータを出力装置10から出力す
る。
【0008】図2は図1の動作説明に供するフローチャ
ートで、ハードウェアの診断プログラム実行時間計測方
式の処理の流れを示すものである。まず、ハードウェア
診断プログラムの立ち上げを行い、診断項目選択処理部
2により各診断項目が選択される(判断ステップ10
1)と、計時手段読込み処理部3により実行開始時刻を
読み込んで実行開始時刻格納エリア8に格納する処理ス
テップ104を実行する(処理ステップ102,10
3)。ここで、この処理ステップ104は選択されたハ
ードウェア診断項目のテストが開始された時刻を計時手
段11により読み込んでRAM内の実行開始時刻エリア
に格納するステップである。
ートで、ハードウェアの診断プログラム実行時間計測方
式の処理の流れを示すものである。まず、ハードウェア
診断プログラムの立ち上げを行い、診断項目選択処理部
2により各診断項目が選択される(判断ステップ10
1)と、計時手段読込み処理部3により実行開始時刻を
読み込んで実行開始時刻格納エリア8に格納する処理ス
テップ104を実行する(処理ステップ102,10
3)。ここで、この処理ステップ104は選択されたハ
ードウェア診断項目のテストが開始された時刻を計時手
段11により読み込んでRAM内の実行開始時刻エリア
に格納するステップである。
【0009】そして、診断項目実行処理部4により診断
項目実行処理を行い(処理ステップ105)、処理終了
時計時手段読込み処理部3により実行終了時刻を読み込
んで実行終了時刻格納エリア9に格納する処理ステップ
108を実行する(処理ステップ106,107)。こ
こで、この処理ステップ108は選択されたハードウェ
ア診断項目のテスト終了時刻を計時手段11により読み
込んでRAM内の実行終了時刻エリアに格納するステッ
プである。つぎに、出力処理部6では実行開始時刻エリ
ア8および実行終了時刻格納エリア9のデータを出力装
置10により出力する処理ステップ110を行う(処理
ステップ109)。ここで、この処理ステップ110は
上記処理ステップ108で格納された実行開始時刻およ
び実行終了時刻を出力装置10に出力するステップであ
る。
項目実行処理を行い(処理ステップ105)、処理終了
時計時手段読込み処理部3により実行終了時刻を読み込
んで実行終了時刻格納エリア9に格納する処理ステップ
108を実行する(処理ステップ106,107)。こ
こで、この処理ステップ108は選択されたハードウェ
ア診断項目のテスト終了時刻を計時手段11により読み
込んでRAM内の実行終了時刻エリアに格納するステッ
プである。つぎに、出力処理部6では実行開始時刻エリ
ア8および実行終了時刻格納エリア9のデータを出力装
置10により出力する処理ステップ110を行う(処理
ステップ109)。ここで、この処理ステップ110は
上記処理ステップ108で格納された実行開始時刻およ
び実行終了時刻を出力装置10に出力するステップであ
る。
【0010】
【発明の効果】以上説明したように本発明は、ROMと
RAMを有し、プログラムによりデータ処理を行う各種
データ処理装置において、特に診断プログラムの診断項
目が選択され、テストを開始した時刻とそのテストが終
了した時刻を計時手段により読み込んでRAM内の各エ
リアに格納し、そのデータを出力装置により出力(表
示)するようにしたので、計測の度にストップウォッチ
等を利用することなく、正しい計測時間を知ることがで
きる効果がある。
RAMを有し、プログラムによりデータ処理を行う各種
データ処理装置において、特に診断プログラムの診断項
目が選択され、テストを開始した時刻とそのテストが終
了した時刻を計時手段により読み込んでRAM内の各エ
リアに格納し、そのデータを出力装置により出力(表
示)するようにしたので、計測の度にストップウォッチ
等を利用することなく、正しい計測時間を知ることがで
きる効果がある。
【図1】本発明の一実施例を示すブロック図である。
【図2】図1の動作説明に供するフローチャートであ
る。
る。
1 ROM部 2 診断項目選択処理部 3 計時手段読込み処理部 4 診断項目実行処理部 5 データ格納処理部 6 出力処理部 7 RAM部 8 実行開始時刻格納エリア 9 実行終了時刻格納エリア 10 出力装置 11 計時手段 104 処理ステップ 108 処理ステップ 110 処理ステップ
Claims (1)
- 【請求項1】 読み出し専用メモリと主記憶メモリと表
示部を有する各種データ処理装置のハードウェアの診断
プログラムにおいて、前記主記憶メモリ内にハードウェ
ア診断プログラムの各ハードウェア診断項目毎に実行開
始時刻を格納する実行開始時刻エリアとテスト終了時刻
を格納する実行終了時刻エリアを有し、選択されたハー
ドウェア診断項目のテストが開始された時刻を計時手段
により読み込んで前記主記憶メモリ内の実行開始時刻エ
リアに格納する第1ステップと、選択されたハードウェ
ア診断項目のテスト終了時刻を前記計時手段により読み
込んで前記主記憶メモリ内の実行終了時刻エリアに格納
する第2ステップと、この第2ステップで格納された実
行開始時刻および実行終了時刻を出力装置に出力する第
3ステップを有することを特徴とするハードウェアの診
断プログラム実行時間計測方式。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP4118558A JPH05289899A (ja) | 1992-04-13 | 1992-04-13 | ハードウェアの診断プログラム実行時間計測方式 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP4118558A JPH05289899A (ja) | 1992-04-13 | 1992-04-13 | ハードウェアの診断プログラム実行時間計測方式 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH05289899A true JPH05289899A (ja) | 1993-11-05 |
Family
ID=14739566
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP4118558A Pending JPH05289899A (ja) | 1992-04-13 | 1992-04-13 | ハードウェアの診断プログラム実行時間計測方式 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH05289899A (ja) |
-
1992
- 1992-04-13 JP JP4118558A patent/JPH05289899A/ja active Pending
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JPH05289899A (ja) | ハードウェアの診断プログラム実行時間計測方式 | |
KR950024105A (ko) | 화상처리장치 | |
JP3786555B2 (ja) | 測定装置 | |
JP3546013B2 (ja) | 信号処理装置 | |
JPH0635741A (ja) | 診断プログラムの実行時間測定方式 | |
JPS594051B2 (ja) | ワンチツプ・マイクロプロセツサのテスト処理方式 | |
JPH11326392A (ja) | 波形測定器 | |
JPS59221710A (ja) | シ−ケンスプログラムの演算処理時間測定方式 | |
JP3675542B2 (ja) | 波形記録計 | |
JP2545234Y2 (ja) | タイミング補正回路 | |
JP2990099B2 (ja) | トレースバッファ制御方式 | |
JPH02126345A (ja) | 情報処理装置 | |
JP2910548B2 (ja) | データチェック装置 | |
JP3169736B2 (ja) | 時間間隔通知方式 | |
JP3341260B2 (ja) | 情報処理装置 | |
JPH04148245A (ja) | プログラム開発支援装置 | |
JPH08240448A (ja) | 表示装置 | |
JPS5826585B2 (ja) | プログラムデバツグキコウツキデ−タシヨリソウチ | |
JPH10206501A (ja) | 半導体集積回路装置およびそのテスト方法 | |
KR20000027054A (ko) | 마이크로 컨트롤러 및 그의 진단 검사 방법 | |
JP3216325B2 (ja) | マイクロプロセッサ | |
JPS62125442A (ja) | プログラム性能測定方式 | |
SU792258A1 (ru) | Устройство дл тестового диагностировани | |
JP2583305Y2 (ja) | 計測器 | |
JPS63181045A (ja) | デ−タ処理装置 |