JPH052566B2 - - Google Patents

Description

【発明の詳細な説明】 ［産業上の利用分野］ 本発明は、コンデンサ、抵抗等のチツプ型電子
回路部品を収容するテープ状収容体に関し、更に
詳細には、電子回路部品の取り出し又は電子回路
部品の検査等が容易なテープ状収容体に関する。

［従来の技術］ 従来のチツプ型電子回路部品のテープ状収容体
は第１図に示す如く、可撓性のプラスチツクテー
プ状物体１にその長手方向に沿つて多数の電子回
路部品収容凹部２を設け、このテープ状物体１の
送りを容易に行うための孔３を設けた構造になつ
ている。尚、凹部２はテープ状物体１を加熱加圧
加工を行うことによつて箱型に形成され、４側面
部４，５，６，７と、底面部８とを有してテープ
状物体１から下方に突出している。電子回路部品
（図示せず）は凹部２に収納され、これが凹部２
から離脱しないようにテープ状封止体（図示せ
ず）がテープ状物体１の上面には貼着される。

第１図に示すようなテープ状収容体から電子回
路部品を自動マウント装置で取り出して回路基板
に供給する際には、一般には、吸気減圧されたノ
ズル即ち真空ピンセツトによつて電子回路部品を
吸着する。ところが、従来のテープ状収容体に於
いては、収容凹部２が箱型であるために、電子回
路部品の吸着時に収容凹部２の内が減圧状態とな
り、テープ状物体１がノズル方向に引かれて後続
する凹部２に収容されている電子回路部品が跳ね
出す恐れがあつた。

又、第１図のような収容体では、電子回路部品
の納入先の受入検査等に於いて、収容状態のまま
検査することが不可能であつた。従つて収容状態
を破壊して検査しなければならず、任意箇所の電
子回路部品の検査が面倒であつた。

この問題を解決するために、収容凹部２に開口
即ち穴を設けることが考えられる。この様に開口
を設けると、真空ピンセツトで部品を吸着する時
に収容凹部２が減圧状態になることが阻止され、
部品の取り出しを容易に行うことが可能になる。
また、開口を通して部品の検査を行うことが可能
になる。

［発明が解決しようとする問題点］ ところで、収容凹部２の側面の開口は、真空ピ
ンセツトで部品を吸着する時の収容凹部２が減圧
状態になることを防ぐために出来るだけ大きいこ
とが望ましい。しかし、この開口を大きくする
と、ここから部品が抜ける可能性がある。

そこで、本発明の目的はチツプ型電子回路部品
の取り出しを容易に行うことができる収容体を提
供することにある。

［問題点を解決するための手段］ 上記問題点を解決し、上記目的を達成するため
の本発明は、可撓性を有するテープ状物体の長さ
方向に一定間隔で配置された多数のチツプ型電子
回路部品収容凹部を有し、且つ前記収容凹部は底
面部と第１、第２、第３及び第４の側面部とを有
し、前記第１、第２、第３及び第４の側面部の内
の互いに対向する第１及び第３の側面部に開口を
それぞれ有し、前記開口の縁に多数の針状の凸部
が形成されていることを特徴とするチツプ型電子
回路部品の収容体に係わるものである。

［作用及び効果］ 上記発明における収容凹部の開口は、この縁に
多数の凸部を有するもので、比較的大きな面積の
開口を形成してもここから部品が抜け出ない。な
お、開口の面積を大きくすると、部品の真空吸着
時に収容凹部が減圧状態になつて収容体が振動
し、部品が跳ね出すような現象を防ぐことができ
る。

［実施例］ 次に、図面を参照して本発明の実施例について
述べる。

第２図〜第６図に示す本発明の実施例に係わる
テープ状のチツプ型電子回路部品の収容体１０
は、ポリプロピレン製の可撓性テープ状物体１に
円筒型磁気コンデンサチツプから成る電子回路部
品１１を収容する凹部２を加圧加工法で形成した
ものである。収容凹部２はテープ送り用孔３を有
するテープ状物体１から下方に突出し、第１、第
２、第３及び第４の側面部４，５，６，７と底面
部８とから成る。対向する第１及び第３の側面部
４，６は開口１２，１３を有する。即ちテープ状
物体１の幅方向に於ける凹部２の端面が開放され
ている。回路部品１１は第６図に示す如く両端に
電極１４，１５を有するコンデンサチツプであ
り、一対の電極１４，１５が開口１２，１３に対
応するように凹部２に収容される。回路部品１１
を回路基板に供給するまでは、第５図及び第６図
に示す如くテープ状の封止体１６が凹部２の入り
口を閉じるようにテープ状物体１の上に貼着され
ている。

なお、収容凹部２及び開口１２，１３は加圧加
工で形成されている。開口１２，１３はバリ即ち
針状の凸状部１９を有する。開口１２，１３の周
辺に生じた凸状部１９は電子回路部品１１の開口
１２，１３からの離脱阻止作用を有する。開口１
２，１３の面積が比較的大きくても、凸状部１９
があるのでここから部品１１が抜け出ない。

開口１２，１３は、凹部２が減圧状態になるこ
とを防ぐ働きを有する。即ち、テープ状封止体１
６を剥離して回路部品１１をノズルで減圧吸着即
ち真空吸引する場合に、開口１２，１３から空気
が流入し、凹部２内が減圧状態になることが阻止
される。従つて、回路部品１１と共にテープ状物
体１も真空吸引されて後続する回路部品１１が凹
部２から跳ね出るようなことが生じなくなる。こ
の時、開口１２，１３が比較的大きく形成されて
いると、収容凹部２が減圧状態になることを良好
に防ぐことができる。

また、開口１２，１３は第６図に示す如く回路
部品１１を凹部２に収容したまま電気的特性を測
定するために利用することができる。即ち、対向
する一対の側面の開口１２，１３から測定端子１
７，１８を挿入し、これを回路部品１１の電極１
４，１５に接触させて特性測定を行うことができ
る。この結果、任意に抽出して回路部品１１を検
査することが容易になる。

また、第６図の測定端子１７，１８と同じよう
な形状の回路部品押上げ部材を使用して回路部品
１１を機械的に押上げるか、又は圧縮気体を開口
１２，１３から導入し、回路部品１１の取り出し
を行うことができる。また真空吸着による取り出
しを開口１２，１３を利用して助けることもでき
る。

［変形例］ 以上、本発明の実施例について述べたが、本発
明はこれに限定されるものではなく、変形が可能
なものである。例えば、テープ状物体をケント紙
等の紙にしてもよいし、又は種々のプラスチツク
フイルムから選択してもよい。

【図面の簡単な説明】

第１図は従来の電子回路部品収容体を示す斜視
図である。第２図は本発明の実施例に係わる電子
回路部品収容体を示す斜視図である。第３図は第
２図の収容体の平面図である。第４図は第２図の
収容体の正面図である。第５図は電子回路部品を
収容した状態を示す第３図のＡ−Ａ線に対応する
部分の断面図である。第６図は電子回路部品の検
査の状態を示す第３図のＢ−Ｂ線に対応する部分
の断面図である。 １……テープ状物体、２……収容凹部、１１…
…電子回路部品、１２，１３……開口、１９……
凸状部。

Claims (1)

【特許請求の範囲】
1. １ 可撓性を有するテープ状物体の長さ方向に一
   定間隔で配置された多数のチツプ型電子回路部品
   収容凹部を有し、且つ前記収容凹部は底面部と第
   １、第２、第３及び第４の側面部とを有し、前記
   第１、第２、第３及び第４の側面部の内の互いに
   対向する第１及び第３の側面部に開口をそれぞれ
   有し、前記開口の縁に多数の針状の凸部が形成さ
   れていることを特徴とするチツプ型電子回路部品
   の収容体。