JPH0524193Y2 - - Google Patents
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- Publication number
- JPH0524193Y2 JPH0524193Y2 JP11271387U JP11271387U JPH0524193Y2 JP H0524193 Y2 JPH0524193 Y2 JP H0524193Y2 JP 11271387 U JP11271387 U JP 11271387U JP 11271387 U JP11271387 U JP 11271387U JP H0524193 Y2 JPH0524193 Y2 JP H0524193Y2
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- JP
- Japan
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- slit plate
- hole
- light emitting
- photodetector
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- Expired - Lifetime
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- 238000005259 measurement Methods 0.000 claims description 21
- 239000000835 fiber Substances 0.000 description 6
- 238000000034 method Methods 0.000 description 3
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 3
- 238000001444 catalytic combustion detection Methods 0.000 description 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 238000005401 electroluminescence Methods 0.000 description 1
- 239000004973 liquid crystal related substance Substances 0.000 description 1
- 230000035515 penetration Effects 0.000 description 1
Landscapes
- Photometry And Measurement Of Optical Pulse Characteristics (AREA)
- Testing Of Optical Devices Or Fibers (AREA)
Description
【考案の詳細な説明】
［産業上の利用分野］
本考案は面発光する物体の発光出力による輝度
の分布状態を測定する輝度分布測定装置に関する
ものである。
の分布状態を測定する輝度分布測定装置に関する
ものである。
［従来の技術］
面発光する物体である発光体の光出力による輝
度の分布状態を測定することによりこの発光体が
一定の輝度を持つて面発光しているかどうかを調
べる装置として輝度分布測定装置がある。この輝
度分布測定装置として従来CCD（chargecoupled
device）を用いたものがある。これはCCD側の
受光面を発光体の測定ポイント数に対応させて分
割し輝度の測定を行うものである。また、受光部
にピンホールの形成された光検出器を発光体の発
光面上にて移動させることにより所定のポイント
における輝度の測定を行うものがある。さらに、
この他光導波路であるフアイバを複数本束ねて発
光体からの光出力を検出して輝度の測定を行うも
のもある。
度の分布状態を測定することによりこの発光体が
一定の輝度を持つて面発光しているかどうかを調
べる装置として輝度分布測定装置がある。この輝
度分布測定装置として従来CCD（chargecoupled
device）を用いたものがある。これはCCD側の
受光面を発光体の測定ポイント数に対応させて分
割し輝度の測定を行うものである。また、受光部
にピンホールの形成された光検出器を発光体の発
光面上にて移動させることにより所定のポイント
における輝度の測定を行うものがある。さらに、
この他光導波路であるフアイバを複数本束ねて発
光体からの光出力を検出して輝度の測定を行うも
のもある。
［考案が解決しようとする問題点］
しかしながら、上述した何れの輝度分布測定装
置においても以下に述べる問題点があつた。
置においても以下に述べる問題点があつた。
すなわち、CCDを用いたものは、受光素子で
あるCCD自身が高価であるという欠点があつた。
また、ピンホールを有する光検出器を用いたもの
は、この光検出器を２次元に移動させるための移
動装置が必要であり、この移動装置が高価である
とともに構造が複雑であるという問題があつた。
また、光検出器を移動装置によつて移動させるこ
とにより発光面上の測定ポイントを選択的に可変
しているので、光検出器の移動に時間がかかりそ
のため測定速度が遅くなるという問題があつた。
さらに、光導波路であるフアイバを用いたもの
は、発光面上の測定ポイント数が増す毎にそれだ
けフアイバが多く必要になり、そのため装置が高
価になるたおいう欠点があつた。また、この装置
では測定ポイント数に合わせて複数本のフアイバ
を用いているので、フアイバの数だけ受光素子を
用意するか、あるいはフアイバ間に光路切換器を
設けなければならないという問題があつた。
あるCCD自身が高価であるという欠点があつた。
また、ピンホールを有する光検出器を用いたもの
は、この光検出器を２次元に移動させるための移
動装置が必要であり、この移動装置が高価である
とともに構造が複雑であるという問題があつた。
また、光検出器を移動装置によつて移動させるこ
とにより発光面上の測定ポイントを選択的に可変
しているので、光検出器の移動に時間がかかりそ
のため測定速度が遅くなるという問題があつた。
さらに、光導波路であるフアイバを用いたもの
は、発光面上の測定ポイント数が増す毎にそれだ
けフアイバが多く必要になり、そのため装置が高
価になるたおいう欠点があつた。また、この装置
では測定ポイント数に合わせて複数本のフアイバ
を用いているので、フアイバの数だけ受光素子を
用意するか、あるいはフアイバ間に光路切換器を
設けなければならないという問題があつた。
そこで、本考案は上述した問題点に鑑みてなさ
れたものであつて、その目的は構造が簡単で安価
に構成でき、発光体の発光面における測定ポイン
トに応じた輝度の測定が行える輝度分布測定装置
を提供することにある。
れたものであつて、その目的は構造が簡単で安価
に構成でき、発光体の発光面における測定ポイン
トに応じた輝度の測定が行える輝度分布測定装置
を提供することにある。
［問題点を解決するための手段］
上記目的を達成するため本考案による輝度分布
測定装置は、面発光する物体１の発光面に対応し
て設けられ、前記発光面の測定ポイントと対応す
る位置に貫通穴２を有する第１のスリツト板４
と、該第１のスリツト板に対応して設けられ、相
対的な移動によつて前記貫通穴２と一致する位置
に貫通穴３を有する第２のスリツト板５と、前記
第１のスリツト板あるいは第２のスリツト板の少
くともいずれか一方を移動させる移動手段６と、
前記第１のスリツト板および第２のスリツト板の
貫通穴２，３を同時に通過する前記発光面からの
光を受光検出する光検出器７とを備えたことを特
徴としている。
測定装置は、面発光する物体１の発光面に対応し
て設けられ、前記発光面の測定ポイントと対応す
る位置に貫通穴２を有する第１のスリツト板４
と、該第１のスリツト板に対応して設けられ、相
対的な移動によつて前記貫通穴２と一致する位置
に貫通穴３を有する第２のスリツト板５と、前記
第１のスリツト板あるいは第２のスリツト板の少
くともいずれか一方を移動させる移動手段６と、
前記第１のスリツト板および第２のスリツト板の
貫通穴２，３を同時に通過する前記発光面からの
光を受光検出する光検出器７とを備えたことを特
徴としている。
［作用］
発光体１が所定位置に位置決めされると、第１
のスリツト板４あるいは第２のスリツト板５のい
ずれか一方が移動手段６によつて移動し、この相
対的な移動によつて各スリツト板４，５に形成さ
れた貫通穴２，３が順々に重合して現れる。そし
て、各スリツト板４，５の貫通穴２，３を同時に
通過する光が光検出器７によつて受光検出するこ
とで測定ポイント毎の光出力の測定を行い、発光
体１の発光出力による輝度の分布状態を測定す
る。
のスリツト板４あるいは第２のスリツト板５のい
ずれか一方が移動手段６によつて移動し、この相
対的な移動によつて各スリツト板４，５に形成さ
れた貫通穴２，３が順々に重合して現れる。そし
て、各スリツト板４，５の貫通穴２，３を同時に
通過する光が光検出器７によつて受光検出するこ
とで測定ポイント毎の光出力の測定を行い、発光
体１の発光出力による輝度の分布状態を測定す
る。
［実施例］
第１図は本考案による輝度分布測定装置の一実
施例を示す平面図、第２図は同装置の側面図、第
３図は第１図におけるＡ−Ａ線断面図、第４図は
同装置における第１、第２のスリツト板部分を示
す部分断面図である。
施例を示す平面図、第２図は同装置の側面図、第
３図は第１図におけるＡ−Ａ線断面図、第４図は
同装置における第１、第２のスリツト板部分を示
す部分断面図である。
この実施例による輝度分布測定装置（以下測定
装置という）は、面発光する発光体１を所定の位
置で位置決めし、測定ポイントに対応して形成さ
れた貫通穴２，３を有する第１、第２のスリツト
板４，５の何れか一方のスリツト板を移動手段６
によつて移動させ、この相対的な移動によつて重
合する第１、第２のスリツト板４，５の貫通穴
２，３を同時に通過した発光体１からの光を光検
出器７によつて検出し、発光体の発光出力による
輝度の分布状態を測定するものである。
装置という）は、面発光する発光体１を所定の位
置で位置決めし、測定ポイントに対応して形成さ
れた貫通穴２，３を有する第１、第２のスリツト
板４，５の何れか一方のスリツト板を移動手段６
によつて移動させ、この相対的な移動によつて重
合する第１、第２のスリツト板４，５の貫通穴
２，３を同時に通過した発光体１からの光を光検
出器７によつて検出し、発光体の発光出力による
輝度の分布状態を測定するものである。
測定装置における断面コ字状をなす外枠８の中
央部には、凹部９が形成されている。この凹部９
内には発光体１を載せた搬送ベルト１０が移動で
きるようになつている。この搬送ベルト１０は一
定の周期、つまり発光体１の輝度分布の測定が完
了する毎に第１図中矢印Ｂ方向に移動するもの
で、発光体１が輝度分布の測定される外枠８の中
央部まで搬送されると、そこで停止し位置決めさ
れるようになつている。ここで、搬送ベルト１０
上に載置される発光体１は、面発光をするもの
で、例えば液晶、発光ダイオード、ブラウン管、
エレクトロルミネセンス等によるものである。
央部には、凹部９が形成されている。この凹部９
内には発光体１を載せた搬送ベルト１０が移動で
きるようになつている。この搬送ベルト１０は一
定の周期、つまり発光体１の輝度分布の測定が完
了する毎に第１図中矢印Ｂ方向に移動するもの
で、発光体１が輝度分布の測定される外枠８の中
央部まで搬送されると、そこで停止し位置決めさ
れるようになつている。ここで、搬送ベルト１０
上に載置される発光体１は、面発光をするもの
で、例えば液晶、発光ダイオード、ブラウン管、
エレクトロルミネセンス等によるものである。
外枠８の凹部９に形成された段部１１には、発
光体１の発光面に対向して第１のスリツト板４が
取り付けられている。この第１のスリツト板４に
は、発光体１より出射される光を検出するための
測定ポイントとなる位置に貫通穴２が形成されて
おり、この貫通穴２は発光体１の測定ポイント数
に合わせてその数および位置が予め定められてい
る。
光体１の発光面に対向して第１のスリツト板４が
取り付けられている。この第１のスリツト板４に
は、発光体１より出射される光を検出するための
測定ポイントとなる位置に貫通穴２が形成されて
おり、この貫通穴２は発光体１の測定ポイント数
に合わせてその数および位置が予め定められてい
る。
さらに、外枠８の両端部には、ローラ１２の取
り付けられた中心軸１３が軸支されている。ロー
ラ１２には第２のスリツト板５をなす無端ベルト
が取り付けられており、その一部が第１のスリツ
ト板４と重合している。この無端ベルトは移動手
段６としてのモータの駆動によつて常に第１図中
矢印Ｃ方向に移動できるようになつている。ま
た、無端ベルトには第１のスリツト板４に形成さ
れた貫通穴２より大径の貫通穴３が形成されてい
る。この貫通穴３は無端ベルトが矢印Ｃ方向に移
動した際に、第１のスリツト板４の貫通穴２と一
致するように無端ベルトの移動方向に沿つて形成
されており、無端ベルトの移動に伴つて常に一箇
所の貫通穴２，３のみが重合して発光体１からの
光が通過するようになつている。従つて、常に一
箇所の測定ポイントにおける発光体１の光出力の
測定を行うことができる。
り付けられた中心軸１３が軸支されている。ロー
ラ１２には第２のスリツト板５をなす無端ベルト
が取り付けられており、その一部が第１のスリツ
ト板４と重合している。この無端ベルトは移動手
段６としてのモータの駆動によつて常に第１図中
矢印Ｃ方向に移動できるようになつている。ま
た、無端ベルトには第１のスリツト板４に形成さ
れた貫通穴２より大径の貫通穴３が形成されてい
る。この貫通穴３は無端ベルトが矢印Ｃ方向に移
動した際に、第１のスリツト板４の貫通穴２と一
致するように無端ベルトの移動方向に沿つて形成
されており、無端ベルトの移動に伴つて常に一箇
所の貫通穴２，３のみが重合して発光体１からの
光が通過するようになつている。従つて、常に一
箇所の測定ポイントにおける発光体１の光出力の
測定を行うことができる。
なお、貫通穴３は貫通穴２とともに発光体１の
測定ポイント数に合わせてその数および位置が予
め定められている。
測定ポイント数に合わせてその数および位置が予
め定められている。
さらに、第１、第２のスリツト板４，５を挟ん
で発光体１と対向する位置には、光検出器７が設
けられている。この光検出器７は第１、第２のス
リツト板４，５の貫通穴２，３を同時に通過した
発光体１からの出力光を受光検出するためのもの
である。
で発光体１と対向する位置には、光検出器７が設
けられている。この光検出器７は第１、第２のス
リツト板４，５の貫通穴２，３を同時に通過した
発光体１からの出力光を受光検出するためのもの
である。
以上述べた構成において、最初に測定される発
光体１が測定位置である外枠８の凹部９まで搬送
されて停止すると、この発光体１より出射される
光は、第２のスリツト板５である無端ベルトを移
動させることにより各スリツト板４，５の貫通穴
２，３を同時に通過した光のみが順次光検出器７
によつて受光検出され、発光体１の個々の測定ポ
イントにおける輝度の分布状態の測定が行われ
る。その際光検出器７は固定されているので、発
光面からの光を安定して受光検出することができ
正確な測定結果を得ことができる。以下、搬送ベ
ルト１０を駆動させることにより次の発光体１を
測定位置まで移動させ、個々の測定ポイントにお
ける輝度の分布状態の測定が発光体毎に行われ
る。次に、第５図は第２のスリツト板の他の実施
例を示している。
光体１が測定位置である外枠８の凹部９まで搬送
されて停止すると、この発光体１より出射される
光は、第２のスリツト板５である無端ベルトを移
動させることにより各スリツト板４，５の貫通穴
２，３を同時に通過した光のみが順次光検出器７
によつて受光検出され、発光体１の個々の測定ポ
イントにおける輝度の分布状態の測定が行われ
る。その際光検出器７は固定されているので、発
光面からの光を安定して受光検出することができ
正確な測定結果を得ことができる。以下、搬送ベ
ルト１０を駆動させることにより次の発光体１を
測定位置まで移動させ、個々の測定ポイントにお
ける輝度の分布状態の測定が発光体毎に行われ
る。次に、第５図は第２のスリツト板の他の実施
例を示している。
この第２のスリツト板１５は、上述したものが
直線上を移動する無端ベルトであつたのに対し、
円盤状に形成されたもので、その表面には上述し
た無端ベルトと同様に、その回転時に第１のスリ
ツト板４の貫通穴２と一致する位置に貫通穴３が
形成されている。
直線上を移動する無端ベルトであつたのに対し、
円盤状に形成されたもので、その表面には上述し
た無端ベルトと同様に、その回転時に第１のスリ
ツト板４の貫通穴２と一致する位置に貫通穴３が
形成されている。
ところで、上述した実施例では第１、第２のス
リツト板４，５を各々重合した状態で設けた構成
としたが、第６図に示すように第１、第２のスリ
ツト板４，５間の距離を離して構成すれば、発光
体１の出射方向に対する光出力の測定を行うこと
ができ、従つて、発光面のNA（開口数）やFFP
（フアーフイールドパターン）等の測定を行うこ
とが可能である。
リツト板４，５を各々重合した状態で設けた構成
としたが、第６図に示すように第１、第２のスリ
ツト板４，５間の距離を離して構成すれば、発光
体１の出射方向に対する光出力の測定を行うこと
ができ、従つて、発光面のNA（開口数）やFFP
（フアーフイールドパターン）等の測定を行うこ
とが可能である。
［考案の効果］
以上説明したように本考案による輝度分布測定
装置によれば、第１、第２のスリツト板の相対的
な移動により、測定ポイントに対応して各スリツ
ト板に形成された貫通穴が順々に重合し、この貫
通穴を同時に通過した光のみが光検出器によつて
検出される構成なので、発光体の発光面における
測定ポイントに応じた輝度の測定が行え、この種
の装置を極めて簡単な構造で安価に製作すること
ができる。また、光検出器を動かすことがないの
で安定して発光体からの出力光を受光でき、測定
結果に対する信頼性がある。さらに、スリツト板
の貫通穴の位置を変えることにより容易に測定ポ
イントを変更することができる。
装置によれば、第１、第２のスリツト板の相対的
な移動により、測定ポイントに対応して各スリツ
ト板に形成された貫通穴が順々に重合し、この貫
通穴を同時に通過した光のみが光検出器によつて
検出される構成なので、発光体の発光面における
測定ポイントに応じた輝度の測定が行え、この種
の装置を極めて簡単な構造で安価に製作すること
ができる。また、光検出器を動かすことがないの
で安定して発光体からの出力光を受光でき、測定
結果に対する信頼性がある。さらに、スリツト板
の貫通穴の位置を変えることにより容易に測定ポ
イントを変更することができる。
第１図は本考案による輝度分布測定装置の一実
施例を示す平面図、第２図は同装置の側面図、第
３図は第１図におけるＡ−Ａ線断面図、第４図は
同装置における第１、第２のスリツト板部分を示
す部分断面図、第５図は同装置における第２のス
リツト板の他の実施例を示す図、第６図は同装置
において第１、第２のスリツト板間の距離を離し
たときの状態を示す部分断面図である。 １……発光体、２，３……貫通穴、４……第１
のスリツト板、５……第２のスリツト板（無端ベ
ルト）、６……移動手段、７……光検出器、１５
……第２のスリツト板。
施例を示す平面図、第２図は同装置の側面図、第
３図は第１図におけるＡ−Ａ線断面図、第４図は
同装置における第１、第２のスリツト板部分を示
す部分断面図、第５図は同装置における第２のス
リツト板の他の実施例を示す図、第６図は同装置
において第１、第２のスリツト板間の距離を離し
たときの状態を示す部分断面図である。 １……発光体、２，３……貫通穴、４……第１
のスリツト板、５……第２のスリツト板（無端ベ
ルト）、６……移動手段、７……光検出器、１５
……第２のスリツト板。
Claims (1)
- 面発光する物体１の発光面に対応して設けら
れ、前記発光面の測定ポイントと対応する位置に
貫通穴２を有する第１のスリツト板４と、該第１
のスリツト板に対応して設けられ、相対的な移動
によつて前記貫通穴２と一致する位置に貫通穴３
を有する第２のスリツト板５と、前記第１のスリ
ツト板あるいは第２のスリツト板の少くともいず
れか一方を移動させる移動手段６と、前記第１の
スリツト板および第２のスリツト板の貫通穴２，
３を同時に通過する前記発光面からの光を受光検
出する光検出器７とを備えたことを特徴とする輝
度分布測定装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP11271387U JPH0524193Y2 (ja) | 1987-07-24 | 1987-07-24 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP11271387U JPH0524193Y2 (ja) | 1987-07-24 | 1987-07-24 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6419146U JPS6419146U (ja) | 1989-01-31 |
| JPH0524193Y2 true JPH0524193Y2 (ja) | 1993-06-21 |
Family
ID=31351901
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP11271387U Expired - Lifetime JPH0524193Y2 (ja) | 1987-07-24 | 1987-07-24 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0524193Y2 (ja) |
Families Citing this family (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6069255U (ja) * | 1983-10-20 | 1985-05-16 | 東海ゴム工業株式会社 | 複写機用ロ−ラ |
| JP2769405B2 (ja) * | 1992-04-10 | 1998-06-25 | 浜松ホトニクス株式会社 | 液晶表示パネルの二次元配光分布測定装置 |
-
1987
- 1987-07-24 JP JP11271387U patent/JPH0524193Y2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS6419146U (ja) | 1989-01-31 |
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