JPH05234076A - Pit defect detecting circuit for optical disk device - Google Patents

Abstract

PURPOSE:To detect a pit defect without being affected by the reflection factor of a disk by detecting a peak signal for showing the minimum of a reflected light intensity signal and deciding the pit defect. CONSTITUTION:The reflected light intensity signal by a detecting means 1 is differentiated, binarized and allowed to rise by a detecting means 2 and a detecting signal is obtained as a peak of the intensity signal. In an extracting means 3, only a peak detecting signal corresponding to a clock pit 13 is fetched by pattern matching. It is multiplied by a timing signal generating means 4 and a channel clock is generated. Also, various timing signals are generated by the position reference of the clock pit 13. First of all, by clearing all latches, an output L is obtained, and subsequently, gate signals A-C which become H in the center position of each pit are connected to enable inputs of each latch, and the output of the peak detecting means 2 is connected to a clock input. Accordingly, when there is a rise in a gate, it is latched and the output is converted to H. When no pit defect is present thereon, all the latches are set. In such a manner, the defect can be detected without being affected by the fluctuation of a reflection factor of an optical disk.

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【０００１】[0001]

【産業上の利用分野】本発明は、サンプルサーボ方式に
よりトラック制御等を行う光ディスク装置のピット欠陥
検出回路に関する。BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a pit defect detection circuit for an optical disk device which performs track control and the like by a sample servo system.

【０００２】[0002]

【従来の技術】一般に光学式記録再生装置（以下、光デ
ィスク装置と記す）においては、光学式記録媒体（以
下、光ディスクと記す）上のトラックに情報を記録した
り再生したりするために、トラックエラー信号を検出す
る必要がある。2. Description of the Related Art Generally, in an optical recording / reproducing apparatus (hereinafter referred to as an optical disk apparatus), a track is recorded on a track on an optical recording medium (hereinafter referred to as an optical disk) to reproduce information. It is necessary to detect the error signal.

【０００３】この検出方式のひとつに、サンプルサーボ
方式と呼ばれるものがある。サンプルサーボ方式での光
ディスクのフォーマットは、トラックの中心から半径方
向へ各々約１／４トラックピッチだけずれた位置にウォ
ブルドピットと呼ばれるピットをトラックに沿って間欠
的に設けたものである。サンプルサーボ方式の光ディス
クにおけるトラッキングエラーの検出は、ウォブルドピ
ットがあらわれるタイミングでディスクからの反射光の
強度をサンプリングし、一方に変位したウォブルドピッ
トでのサンプル値から他方に変位したウォブルドピット
でのサンプル値を減じることにより行われる。One of the detection methods is called a sample servo method. In the format of the optical disk in the sample servo system, pits called wobbled pits are intermittently provided along the track at positions displaced from the center of the track by about 1/4 track pitch in the radial direction. Tracking error detection on a sample servo type optical disc is performed by sampling the intensity of the reflected light from the disc at the timing when the wobbled pits appear, and using the wobbled pits displaced to the other side from the sample value of the wobbled pits displaced to one side. Is performed by subtracting the sample value of.

【０００４】サンプルサーボ方式では、ディスク製造時
に発生した欠陥やディスク表面の傷がウォブルドピット
の位置にある場合にはトラッキングエラーを正しく求め
ることができない。あるサンプル点でのトラッキングエ
ラーの値は次のサンプル点まで使われるので、このよう
なトラッキングエラーの誤検出が発生するとトラッキン
グの精度に比較的大きな影響を与える。したがって何ら
かの方法でディスク上の欠陥を検出し、欠陥が検出され
た場合には前回のサンプル値で補間するなどの補正が不
可欠になっている。In the sample servo system, a tracking error cannot be correctly obtained when a defect or a scratch on the surface of the disk produced at the time of manufacturing the disk is located at the wobbled pit position. Since the value of the tracking error at a certain sampling point is used up to the next sampling point, if such an erroneous detection of the tracking error occurs, it will relatively affect the tracking accuracy. Therefore, it is indispensable to detect a defect on the disc by some method and, when a defect is detected, perform a correction by interpolating with the previous sample value.

【０００５】特開平３−７８１３５では欠陥検出の方法
として、クロックピット及びウォブルドピットの位置と
その中間の位置での反射光強度信号のレベルを所定のし
きい値と比較して得た二値化信号のパターンによりピッ
ト欠陥を検出する方法が開示されている。In Japanese Patent Laid-Open No. 3-78135, as a method of detecting a defect, a binary value obtained by comparing the level of the reflected light intensity signal at the position of the clock pit and the wobbled pit and the position in the middle thereof with a predetermined threshold value. A method of detecting a pit defect based on the pattern of the digitized signal is disclosed.

【０００６】[0006]

【発明が解決しようとする課題】光ディスクからの反射
光の強度は、光ディスクの反射率の変動のためにそのＤ
Ｃ的なレベルは必ずしも一定にならない。また、反射光
強度信号をＡＣ結合させたとしてもレベルの変動を完全
に除くことはできない（除けるところまでＡＣ結合の時
定数を下げるとセクタマークなどの部分でトランジェン
トが発生してしまう）。The intensity of the reflected light from the optical disk is D due to the fluctuation of the reflectance of the optical disk.
The C level is not always constant. Further, even if the reflected light intensity signal is AC-coupled, it is not possible to completely eliminate the level fluctuation (if the AC-coupling time constant is reduced to a point where it can be eliminated, a transient will occur in a portion such as a sector mark).

【０００７】特開平３−７８１３５ではこの点を考慮し
て、変動に対し比較的マージンの大きい点を判定の有効
点としているが、しきい値を設けて二値化している限り
反射率の変動の影響を本質的に取り除くことはできず、
誤判定の発生を防ぐことはできない。In Japanese Patent Application Laid-Open No. 3-78135, in consideration of this point, a point having a relatively large margin for fluctuation is regarded as an effective point for judgment. However, as long as binarization is performed by setting a threshold value, fluctuations in reflectance will occur. The effect of can not be essentially removed,
It is not possible to prevent erroneous determination.

【０００８】また、トラッキングＯＦＦ時（シーク、ト
ラックジャンプ）やトラッキングサーボの引き込み時な
ど一方のウォブルドピットでの反射光の変調度がトラッ
キング中に比べて低下しうる状態ではウォブルドピット
位置であっても反射光レベルがしきい値を越えない可能
性があり、誤判定が発生する恐れがある。したがってこ
の方法はトラッキングがＯＮとなり、ウォブルドピット
での反射光強度がある程度以上のレベルになっていない
と適用できず、トラック引き込み時などに使用すること
は難しい。Further, when the tracking light is off (seek, track jump) or when the tracking servo is pulled in, the modulation degree of the reflected light at one wobbled pit may be lower than that during tracking, which is the wobbled pit position. However, the reflected light level may not exceed the threshold value, and erroneous determination may occur. Therefore, this method cannot be applied unless the tracking is turned on and the reflected light intensity at the wobbled pit is at a certain level or more, and it is difficult to use this method when pulling in the track.

【０００９】本発明は、上記事情に鑑みてなされたもの
であり、反射光強度信号の極小をあらわすピーク信号を
検出してピット欠陥を判定することにより、光ディスク
の反射率の変動に影響されず、確実にピット欠陥を検出
することのできる光ディスク装置のピット欠陥検出回路
を提供することを目的としている。The present invention has been made in view of the above circumstances, and by detecting a peak signal representing a minimum of a reflected light intensity signal to determine a pit defect, it is not affected by fluctuations in reflectance of an optical disk. An object of the present invention is to provide a pit defect detection circuit for an optical disc device that can reliably detect pit defects.

【００１０】[0010]

【課題を解決するための手段】本発明の光ディスク装置
のピット欠陥検出回路は、情報トラック上に間欠的にサ
ーボ領域が設けられ、前記サーボ領域内にはトラック中
心に対して半径方向左右に変位したトラックずれ量を検
出するためのウォブルドピットが形成されているサンプ
ルサーボ方式の光ディスクに対しレーザ光を照射し情報
の記録再生を行う光ディスク装置のピット欠陥検出回路
において、前記光ディスクからの前記レーザ光の反射光
強度を検出する反射光強度信号検出手段と、前記反射光
強度信号が局部的に最小となる点を検出するピーク検出
手段と、前記サーボ領域内で常に一定のタイミングであ
らわれる定置ピットのうち少なくともひとつの定置ピッ
トの近傍においてアクティブとなるゲート信号を生成す
るゲート信号発生手段とを備えている。In the pit defect detection circuit of the optical disk device of the present invention, servo areas are intermittently provided on the information tracks, and the servo areas are displaced to the left and right in the radial direction with respect to the track center. In a pit defect detection circuit of an optical disc apparatus for irradiating a laser beam to a sample servo type optical disc in which wobbled pits for detecting the amount of track deviation are formed and performing recording / reproduction of information, the laser from the optical disc is detected. Reflected light intensity signal detection means for detecting the reflected light intensity of light, peak detection means for detecting a point where the reflected light intensity signal is locally minimized, and a fixed pit that always appears at a constant timing in the servo area Gate signal generation to generate an active gate signal in the vicinity of at least one fixed pit And a stage.

【００１１】[0011]

【作 用】前記ゲート信号の生成の対象とした定置ピッ
トのうち少なくともひとつを欠陥検出対象ピットとし、
すべての前記欠陥検出対象ピット位置において、前記ゲ
ート信号がアクティブになっている間に前記ピーク検出
手段により前記反射光強度信号の局部的な最小が検出さ
れた場合にのみ該サーボ領域内にピット欠陥がなかった
と判定する。[Operation] At least one of the fixed pits for which the gate signal is generated is a defect detection target pit,
At all the defect detection target pit positions, a pit defect is present in the servo area only when a local minimum of the reflected light intensity signal is detected by the peak detection means while the gate signal is active. It is determined that there was not.

【００１２】[0012]

【実施例】図１ないし図５は本発明の第１実施例に係わ
り、図１はピット欠陥検出回路の構成を示すブロック
図、図２はサンプルサーボ方式の光ディスクのサーボ領
域のフォーマットの一例を示す説明図、図３はピット欠
陥のない場合のピット欠陥検出回路の動作を示すタイミ
ング図、図４はピット欠陥のある場合のピット欠陥検出
回路の動作を示すタイミング図、図５はラッチの具体例
を示すＤフリップフロップの構成図である。1 to 5 relate to a first embodiment of the present invention, FIG. 1 is a block diagram showing a configuration of a pit defect detection circuit, and FIG. 2 is an example of a format of a servo area of a sample servo type optical disk. FIG. 3 is a timing diagram showing the operation of the pit defect detection circuit when there is no pit defect, FIG. 4 is a timing diagram showing the operation of the pit defect detection circuit when there is a pit defect, and FIG. It is a block diagram of the D flip-flop which shows an example.

【００１３】ピット欠陥検出回路は、図１に示すよう
に、光ディスクからの反射光強度を検出する検出手段１
と、この検出手段１により検出された反射光強度信号の
ピークを検出し立ち上がりエッジがピークに相当する二
値化信号を生成するピーク検出手段２と、このピーク検
出手段２の出力からクロックピットに相当するエッジを
抽出するクロックピット抽出手段３と、このクロックピ
ット抽出手段３により抽出されたエッジ信号をもとにＰ
ＬＬによりチャネルクロックや各種のタイミング信号を
生成するタイミング信号生成手段４と、前記ピーク検出
手段からのエッジ信号よりセットされる複数のラッチＡ
（５ａ），ラッチＢ（５ｂ），ラッチＣ（５ｃ）と、こ
の複数のラッチＡ（５ａ）〜Ｃ（５ｃ）の出力の論理和
をとるＮＡＮＤ素子６とから構成されている。The pit defect detecting circuit, as shown in FIG. 1, is a detecting means 1 for detecting the intensity of reflected light from the optical disk.
A peak detecting means 2 for detecting a peak of the reflected light intensity signal detected by the detecting means 1 and generating a binarized signal having a rising edge corresponding to the peak; and an output of the peak detecting means 2 to a clock pit. Based on the clock pit extraction means 3 for extracting the corresponding edge and the edge signal extracted by this clock pit extraction means 3, P
Timing signal generating means 4 for generating a channel clock and various timing signals by LL, and a plurality of latches A set by the edge signal from the peak detecting means.
(5a), latch B (5b), latch C (5c), and a NAND element 6 that ORs the outputs of the plurality of latches A (5a) to C (5c).

【００１４】光ディスクには離散的にサーボ領域が設け
られ、サーボ領域には、図２に示すように、トラックセ
ンタ１１上にシーク中にリードすることによって速度検
出及びトラックカウントを行うためのアクセスコード１
２と、クロックピット１３とが形成されている。このア
クセスコード１２は、６ビットのうち２ビットが１にな
るグレイコードである。一般には２トラックごとにパタ
ーンが変わり、１６トラックでもとのパターンに戻る繰
り返しのパターンになっている。また、前述のタイミン
グ信号生成手段４は前記クロックピット１３に対してＰ
ＬＬを構成しタイミング信号を生成する。Servo areas are discretely provided on the optical disk. In the servo areas, as shown in FIG. 2, an access code for performing speed detection and track counting by reading on the track center 11 during seek. 1
2 and a clock pit 13 are formed. The access code 12 is a Gray code in which 2 bits out of 6 bits become 1. Generally, the pattern changes every 2 tracks, and the pattern repeats to return to the original pattern on 16 tracks. In addition, the timing signal generating means 4 described above outputs P to the clock pit 13.
Configure LL and generate timing signals.

【００１５】さらにクロックピット１３の両端近傍に
は、トラッキングエラー検出のためのウォブルドピット
１４、１５が形成されており、このウォブルドピット１
４、１５は各々ディスクの内周および外周におよそ１／
４トラックピッチだけ変位して設けられている。レーザ
のスポットが各々のウォブルドピットを通過する際に反
射光の強度信号をサンプリングし、その差をとることに
よりスポットのトラックセンターからのずれ量を知るこ
とができる。図２のフォーマットでは、定置ピット（サ
ーボ領域内で常に一定のタイミングであらわれるピッ
ト）はクロックピット１３と２つのウォブルドピット１
４、１５の計３つである。Further, wobbled pits 14 and 15 for detecting a tracking error are formed near both ends of the clock pit 13. The wobbled pit 1
4 and 15 are approximately 1 / in the inner and outer circumferences of the disc.
It is provided with a displacement of 4 track pitches. When the laser spot passes through each wobbled pit, the intensity signal of the reflected light is sampled, and the difference between the intensity signals of the reflected light and the track center can be known. In the format of FIG. 2, the fixed pits (pits that always appear at constant timing in the servo area) are clock pits 13 and two wobbled pits 1.
There are three in total, four and fifteen.

【００１６】ここで、図１のブロック図にそって動作の
概要を説明する。図３は説明のための波形図で、ピット
欠陥がない場合のものである。図３（ａ）のようにウォ
ブルドピット１４及び１５とクロックピット１３が配置
されており、スポットがトラックセンターを通過したと
すると反射光強度信号は図３（ｂ）のように、ピット部
分で局部的に光量が低下したものになる。尚、本実施例
で「ピーク」とは、反射光の光量が低下した部分、すな
わち厳密に言うとボトムに相当する部分をあらわすもの
とする。Here, the outline of the operation will be described with reference to the block diagram of FIG. FIG. 3 is a waveform diagram for the purpose of explanation, which is the case where there is no pit defect. As shown in FIG. 3 (a), wobbled pits 14 and 15 and clock pit 13 are arranged, and if the spot passes through the track center, the reflected light intensity signal is at the pit portion as shown in FIG. 3 (b). The light amount is locally reduced. In the present embodiment, the “peak” means a portion where the amount of reflected light is reduced, that is, strictly speaking, a portion corresponding to the bottom.

【００１７】反射光強度信号はピーク検出手段２に送ら
れる。ピーク検出手段２の内部では、まず微分により図
３（ｃ）のような波形を求め、さらに二値化を行って図
３（ｄ）のように立ち上がりエッジが反射光強度信号の
極小に相当する、ピーク検出信号を求める。The reflected light intensity signal is sent to the peak detecting means 2. Inside the peak detecting means 2, first, a waveform as shown in FIG. 3C is obtained by differentiation, and further binarization is performed so that the rising edge corresponds to the minimum of the reflected light intensity signal as shown in FIG. 3D. , Find the peak detection signal.

【００１８】ピーク検出信号はクロックピット抽出手段
３に送られ、パターンマッチングによりクロックピット
１３に相当するピーク検出信号だけが取り出される。こ
のクロックピット１３に相当するピーク検出信号は、タ
イミング信号生成手段４でＰＬＬにより逓倍され、トラ
ック上のデータ位置をあらわすチャネルクロックが生成
される。また、同時に各種のタイミング信号がクロック
ピット１３の位置を基準にしてチャネルクロックをカウ
ントしその値をデコードすることによって生成される。
（クロックピット１３の抽出法の具体的な詳細について
は周知であるので、その説明は割愛する。） タイミング信号生成手段４からは、まずウォブルドピッ
トがあらわれるより前の時刻に図３（ｌ）のようなラッ
チクリア信号が出力され、ラッチＡ（５ａ）、ラッチＢ
（５ｂ）、ラッチＣ（５ｃ）はすべてクリアされその出
力はＬとなる。続いて、タイミング信号生成手段４から
は図３（ｅ）〜（ｇ）に示すように各ピットの位置を中
心としてＨとなる、ゲート信号Ａ〜Ｃが次々に出力され
る。これらのゲート信号は、各々ラッチＡ（５ａ）〜Ｃ
（５ｃ）のイネーブル入力に接続されている。各ラッチ
Ａ（５ａ）〜Ｃ（５ｃ）のクロック入力にはピーク検出
手段２の出力であるピーク検出信号が接続されているの
で、ゲート内にピーク検出信号の立ち上がりがあった場
合に限りラッチはセットされ、その出力はＨになる。図
３のようにピット欠陥がない場合にはすべてのゲート内
にピーク検出信号が入るので、ラッチＡ（５ａ）〜Ｃ
（５ｃ）はすべてセットされ、出力はＨとなる。The peak detection signal is sent to the clock pit extraction means 3 and only the peak detection signal corresponding to the clock pit 13 is extracted by pattern matching. The peak detection signal corresponding to the clock pit 13 is multiplied by the PLL in the timing signal generating means 4 to generate a channel clock representing the data position on the track. At the same time, various timing signals are generated by counting the channel clocks based on the position of the clock pit 13 and decoding the values.
(Specific details of the method of extracting the clock pits 13 are well known, and the description thereof will be omitted.) From the timing signal generation means 4, first, at a time before the wobbled pits appear, FIG. A latch clear signal such as is output, and the latch A (5a) and the latch B are output.
(5b), the latch C (5c) is all cleared and its output becomes L. Subsequently, as shown in FIGS. 3 (e) to 3 (g), the timing signal generating means 4 outputs the gate signals A to C which become H centering on the position of each pit one after another. These gate signals are respectively latches A (5a) to C.
It is connected to the enable input of (5c). Since the peak detection signal which is the output of the peak detection means 2 is connected to the clock input of each of the latches A (5a) to C (5c), the latch is not provided only when the peak detection signal rises in the gate. It is set and its output goes high. As shown in FIG. 3, when there is no pit defect, the peak detection signal enters into all the gates, so latches A (5a) to C
(5c) are all set, and the output becomes H.

【００１９】尚、ゲート信号のパルス幅は最大でも隣合
うピットで重ならないようにする必要があり、ジッタに
よるピット位置とゲート信号との相対的な時間変動があ
ってもピットがゲートの外に出てしまわない範囲で、な
るべく狭くした方がよい。ラッチＡ（５ａ）〜Ｃ（５
ｃ）の出力は各々ＮＡＮＤ（Ｎｏｔ ＡＮＤ）素子６の
入力に接続されており、この場合には入力すなわち前述
のラッチ出力はすべてＨなので、ＮＡＮＤ素子６の出力
は最終的に図３（ｋ）のようにＬとなる。これは、ピッ
ト欠陥がなかったことを示すものである。It is necessary to prevent the pulse width of the gate signal from overlapping in the adjacent pits even at the maximum, so that even if the pit position and the gate signal change in time relative to each other due to the jitter, the pit is outside the gate. It is better to make it as narrow as possible without coming out. Latches A (5a) to C (5
The outputs of c) are respectively connected to the inputs of the NAND (Not AND) elements 6. In this case, since the inputs, that is, the above-mentioned latch outputs are all H, the output of the NAND elements 6 finally becomes as shown in FIG. It becomes L like. This indicates that there was no pit defect.

【００２０】図４はピット欠陥がウォブルドピット１４
（図４（ａ）の×）にあった場合で、図４（ｂ）のよう
な反射光強度信号が得られた場合である。In FIG. 4, the wobbled pit 14 has a pit defect.
This is a case where the reflected light intensity signal as shown in FIG. 4B is obtained in the case of (in FIG. 4A).

【００２１】この場合、ピーク検出信号は図４（ｄ）の
ようになり、ウォブルドピット１４に相当するゲート信
号Ａの中にはピーク検出信号は入らない。したがってラ
ッチＡ（５ａ）はセットされず出力はＬのままとなり、
最終的にＮＡＮＤ素子６の出力はＨとなる。これは、ピ
ット欠陥があったことを示すものである。In this case, the peak detection signal is as shown in FIG. 4D, and the peak detection signal is not included in the gate signal A corresponding to the wobbled pit 14. Therefore, the latch A (5a) is not set and the output remains L,
Finally, the output of the NAND element 6 becomes H. This indicates that there was a pit defect.

【００２２】このように、最後のゲート信号（本実施例
ではゲート信号Ｃ）が終わった直後にＮＡＮＤ素子６の
出力をみれば、ピット欠陥があったかどうかを知ること
ができる（欠陥があればＮＡＮＤ素子６の出力はＨとな
り、なければＬである）。As described above, by observing the output of the NAND element 6 immediately after the last gate signal (gate signal C in this embodiment) ends, it is possible to know whether or not there is a pit defect (if there is a defect, the NAND is present). The output of element 6 is H, otherwise L).

【００２３】欠陥が検出された場合にはそのサンプル点
で得られるトラッキングエラーの値は採用せず、前回の
サンプル値をそのまま使用するなどして補間を行うこと
によりピット欠陥の影響を除くことができ、安定したト
ラッキングが可能になる。When a defect is detected, the value of the tracking error obtained at the sample point is not adopted, and the influence of the pit defect can be removed by performing interpolation by using the previous sample value as it is. Yes, stable tracking is possible.

【００２４】すなわち、サーボ領域内で常に一定のタイ
ミングであらわれる定置ピットの近傍でアクティブとな
るゲート信号を用意し、このゲート内に反射光強度信号
の極小をあらわすピーク検出信号が存在したかを監視し
て、判定の対象としたすべての定置ピット位置でピーク
が存在した場合にのみピット欠陥がなかったと判定する
ので、反射光強度信号のＤＣ的なレベル変動やトラッキ
ングＯＦＦ時のピットでの反射光の変調度の変化にかか
わらず、簡単な回路構成で常に安定したピット欠陥検出
を行うことができる。That is, a gate signal that becomes active in the vicinity of a fixed pit that always appears at a constant timing in the servo area is prepared, and it is monitored whether or not there is a peak detection signal that represents the minimum of the reflected light intensity signal in this gate. Then, it is determined that there is no pit defect only when there are peaks at all the fixed pit positions that are the objects of determination. Therefore, the DC level fluctuation of the reflected light intensity signal and the reflected light in the pit when tracking is OFF Regardless of the change in the modulation degree of pit, stable pit defect detection can always be performed with a simple circuit configuration.

【００２５】さらに、トラッキングＯＦＦの状態であっ
ても欠陥検出を行うことができるので、例えばトラッキ
ングエラー信号のゼロクロスを監視してジャンプパルス
の切り換えを行うようなトラックジャンプなどにも適用
することができる。また、トラック引き込み時などの過
渡状態であっても適用することができ、引き込みに悪影
響を与えるピット欠陥の影響を除去できるので引き込み
も安定化できる。したがって本第１実施例のピット欠陥
検出回路を用いることにより、トラッキングに関する制
御すべてを安定化することが可能となる。Further, since the defect can be detected even in the tracking OFF state, it can be applied to, for example, a track jump in which the jump pulse is switched by monitoring the zero cross of the tracking error signal. .. Further, the present invention can be applied even in a transient state such as when a track is pulled in, and the influence of pit defects that adversely affect the pulling can be removed, so that the pulling in can be stabilized. Therefore, by using the pit defect detection circuit of the first embodiment, it becomes possible to stabilize all the control related to tracking.

【００２６】尚、本第１実施例で用いたラッチＡ（５
ａ）〜Ｃ（５ｃ）は、例えば図５に示すようにゲート信
号をクロックイネーブル入力に、ラッチクリア信号をク
リア入力に、ピーク検出信号をクロック入力それぞれ接
続し、Ｄ入力を＋５Ｖ（正電源）に接続したＤフリップ
フロップにより実現することができる。The latch A (5 used in the first embodiment is used.
In a) to C (5c), for example, as shown in FIG. 5, the gate signal is connected to the clock enable input, the latch clear signal is connected to the clear input, the peak detection signal is connected to the clock input, and the D input is + 5V (positive power supply). It can be realized by a D flip-flop connected to.

【００２７】次に、第２実施例のピット欠陥検出回路に
ついて説明する。Next, the pit defect detection circuit of the second embodiment will be described.

【００２８】図６及び図７は第２実施例に係わり、図６
はラッチ回路の構成を示す構成図、図７はピット欠陥の
ある場合のピット欠陥検出回路の動作を示すタイミング
図である。6 and 7 relate to the second embodiment, and FIG.
Is a configuration diagram showing the configuration of the latch circuit, and FIG. 7 is a timing diagram showing the operation of the pit defect detection circuit when there is a pit defect.

【００２９】第２実施例のピット欠陥検出回路は、図１
のラッチＡ（５ａ）〜Ｃ（５ｃ）それぞれを、２つのＤ
フリップフロップとＡＮＤ素子とにより構成したラッチ
回路Ａ（５ａ’）〜Ｃ（５ｃ’）にしたものである。The pit defect detection circuit of the second embodiment is shown in FIG.
Each of the latches A (5a) to C (5c) of two
The latch circuits A (5a ') to C (5c') are composed of flip-flops and AND elements.

【００３０】すなわち、図６に示すように、例えば、ラ
ッチ回路Ａ（５ａ’）は、ゲート信号をクロックイネー
ブル入力に、ラッチクリア信号をクリア入力に、ピーク
検出信号をクロック入力それぞれ接続し、Ｄ入力を＋５
Ｖ（正電源）に接続した第１のＤフリップフロップ１８
と、ゲート信号をクロックイネーブル入力に、ラッチク
リア信号をクリア入力に、ピーク検出信号をクロック入
力それぞれ接続し、Ｄ入力に前記第１のＤフリップフロ
ップ１８のＱ出力を接続した第２のＤフリップフロップ
１９と、第１のＤフリップフロップ１８のＱ出力と第２
のＤフリップフロップ１９の／Ｑ出力（／Ｑ出力は、Ｑ
出力の反転出力を示す）を入力し論理和をとるＡＮＤ素
子２０とから構成される。ラッチ回路Ｂ（５ｂ’）及び
ラッチ回路Ｃ（５ｃ’）も同様に構成される。That is, as shown in FIG. 6, for example, in the latch circuit A (5a '), the gate signal is connected to the clock enable input, the latch clear signal is connected to the clear input, and the peak detection signal is connected to the clock input. Input +5
First D flip-flop 18 connected to V (positive power supply)
And a gate signal is connected to the clock enable input, a latch clear signal is connected to the clear input, a peak detection signal is connected to the clock input, and a Q output of the first D flip-flop 18 is connected to the D input. And the Q output of the first D flip-flop 18 and the second
/ Q output of the D flip-flop 19 (/ Q output is Q
(Inverted output of the output) is input and the logical sum is formed. The latch circuit B (5b ') and the latch circuit C (5c') are similarly configured.

【００３１】その他の第２実施例のピット欠陥検出回路
の構成は、第１実施例と同じであるので、説明は省略す
る。The other construction of the pit defect detection circuit of the second embodiment is the same as that of the first embodiment, and the explanation thereof is omitted.

【００３２】このように構成された第２実施例のピット
欠陥検出回路の作用について説明する。The operation of the pit defect detection circuit of the second embodiment thus constructed will be described.

【００３３】図６に示すように、例えば、ラッチ回路Ａ
（５ａ’）の出力がＨとなるのは、第１のＤフリップフ
ロップ１８のＱ出力がＨ、第２のＤフリップフロップ１
９のＱ出力がＬの場合であるから、ゲート信号がアクテ
ィブとなっている間に、ピーク検出信号の立ち上がりが
ひとつだけあった場合である。ラッチ回路Ｂ（５ｂ’）
及びラッチ回路Ｃ（５ｃ’）も同様である。As shown in FIG. 6, for example, the latch circuit A
The output of (5a ′) becomes H because the Q output of the first D flip-flop 18 is H and the second D flip-flop 1 is
This is the case where the Q output of 9 is L, so that there is only one rising edge of the peak detection signal while the gate signal is active. Latch circuit B (5b ')
The same applies to the latch circuit C (5c ').

【００３４】したがって、図７に示すように、ピット欠
陥がウォブルドピット１４（図７（ａ）の×）にあり、
このピット欠陥により反射光強度信号が図７（ｂ）に示
すような波形となり、ピーク検出信号が多数出力された
場合（図７（ｄ））、最初のピーク検出信号の立ち上が
り直後には例えばラッチ回路Ａ（５ａ’）の出力はＨと
なるが、ゲート信号Ａがアクティブとなっている間に
（図７（ｅ））、２つ以上のピーク検出信号の立ち上が
りがあればラッチ回路Ａ（５ａ’）の出力はＬに戻るの
で（図７（ｈ））、ピット欠陥と判定することができ
る。Therefore, as shown in FIG. 7, there is a pit defect in the wobbled pit 14 (x in FIG. 7A),
Due to this pit defect, the reflected light intensity signal has a waveform as shown in FIG. 7B, and when a large number of peak detection signals are output (FIG. 7D), for example, latching is performed immediately after the first peak detection signal rises. The output of the circuit A (5a ') becomes H, but if there is a rise of two or more peak detection signals while the gate signal A is active (FIG. 7E), the latch circuit A (5a) Since the output of ') returns to L (FIG. 7 (h)), it can be determined as a pit defect.

【００３５】すなわち、サーボ領域内で常に一定のタイ
ミングであらわれる定置ピットの近傍でアクティブとな
るゲート信号を用意し、このゲート内に反射光強度信号
の極小をあらわすピーク検出信号が１つだけ存在したか
を監視して、判定の対象としたすべての定置ピット位置
でピークが各々１つだけ存在した場合にのみピット欠陥
がなかったと判定するので、第１実施例の効果に加え、
ゲート信号がアクティブとなっている間に２つ以上のピ
ーク検出信号の立ち上がりがあってもピット欠陥が検出
でき、ピット欠陥検出の確度をより高めることができ
る。That is, a gate signal which becomes active in the vicinity of a fixed pit which always appears at a constant timing in the servo area was prepared, and only one peak detection signal representing the minimum of the reflected light intensity signal was present in this gate. It is determined that there is no pit defect only when there is only one peak at all the fixed pit positions targeted for determination, in addition to the effect of the first embodiment.
A pit defect can be detected even when two or more peak detection signals rise while the gate signal is active, and the accuracy of pit defect detection can be further improved.

【００３６】尚、以上各実施例の説明では、反射光強度
信号の極小を求めるのに微分を用いたが、高速サンプリ
ング差分演算を行っても極小の検出を行うことができ、
同様の効果を得ることができる。In the above description of each embodiment, the differential is used to obtain the minimum of the reflected light intensity signal, but the minimum can be detected even by performing the high-speed sampling difference calculation.
The same effect can be obtained.

【００３７】また、各実施例では全ての定置ピット（ク
ロックピットとウォブルドピットの計３つのピット）に
対してゲート信号を生成し判定を行ったが、あえてこれ
よりも少ない数のピットに対して判定を行うようにして
も同様の方法で欠陥検出を行うことができる。例えば、
ウォブルドピットでの反射光強度のサンプリングにピー
クホールド回路を用いるような場合には２つのウォブル
ドピットの近傍でアクティブとなるゲート信号がピーク
ホールド回路を動作させるために用意されているが、こ
の信号を判定のためのゲート信号としてそのまま使用
し、クロックピットに対しては判定を行わないようにし
てもよい。また、ゲート信号を発生したピットすべてを
判定の対象とする必要もなく、例えば２つのウォブルド
ピットに対してゲート信号を生成しても、どちらか一方
だけを欠陥検出の対象として本発明の方法により欠陥検
出を行うことも可能である。In each of the embodiments, the gate signal is generated for all the fixed pits (clock pit and wobbled pit, total 3 pits) and the determination is made. Even if the determination is performed by using the above method, the defect can be detected by the same method. For example,
When a peak hold circuit is used to sample the intensity of reflected light at the wobbled pits, a gate signal that is active near the two wobbled pits is prepared for operating the peak hold circuit. The signal may be used as it is as a gate signal for determination, and determination may not be performed on clock pits. Further, it is not necessary to determine all the pits that have generated the gate signal, and for example, even if the gate signal is generated for two wobbled pits, only one of them is the target of defect detection and the method of the present invention. It is also possible to detect defects by.

【００３８】実際の光ディスクでは、あるサーボ領域に
ピット欠陥が存在する確率はかなり低く、２つのサーボ
領域で連続してピット欠陥があることは非常に希であ
る。したがって、本発明のピット欠陥検出回路によりピ
ット欠陥が例えば３ブロック以上連続して検出された場
合には、本当に欠陥があるのではなく、同期外れにより
ゲートを開く位置がずれていると考えるべきである。し
たがって、本発明のピット欠陥検出回路は、外部にカウ
ンタ等を追加することにより同期外れ検出回路として用
いることも可能である。In an actual optical disk, the probability that a pit defect exists in a certain servo area is quite low, and it is extremely rare that two pit areas have continuous pit defects. Therefore, when the pit defect detection circuit of the present invention detects pit defects in a sequence of, for example, 3 blocks or more, it should be considered that the gate opening position is displaced due to the out-of-synchronization, not the actual defect. is there. Therefore, the pit defect detection circuit of the present invention can also be used as an out-of-synchronization detection circuit by adding a counter or the like to the outside.

【００３９】[0039]

【発明の効果】以上説明したように本発明によれば、本
発明の光ディスク装置のピット欠陥検出回路は、サーボ
領域内で常に一定のタイミングであらわれる定置ピット
の近傍でアクティブとなるゲート信号を用意し、このゲ
ート内に反射光強度信号の極小をあらわすピーク検出信
号が存在したかを監視して、判定の対象としたすべての
定置ピット位置でピークが存在した場合にのみピット欠
陥がなかったと判定するので、光ディスクの反射率の変
動に影響されず、確実にピット欠陥を検出することがで
きるという効果がある。As described above, according to the present invention, the pit defect detection circuit of the optical disk device of the present invention prepares a gate signal which becomes active in the vicinity of the fixed pit which always appears at a constant timing in the servo area. Then, it was monitored whether there was a peak detection signal representing the minimum of the reflected light intensity signal in this gate, and it was determined that there was no pit defect only when peaks were present at all the fixed pit positions targeted for determination. Therefore, there is an effect that the pit defect can be surely detected without being influenced by the fluctuation of the reflectance of the optical disc.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図１】第１実施例に係るピット欠陥検出回路の構成を
示すブロック図である。FIG. 1 is a block diagram showing a configuration of a pit defect detection circuit according to a first embodiment.

【図２】第１実施例に係るサンプルサーボ方式の光ディ
スクのサーボ領域のフォーマットの一例を示す説明図で
ある。FIG. 2 is an explanatory diagram showing an example of a format of a servo area of a sample servo type optical disc according to the first embodiment.

【図３】第１実施例に係るピット欠陥のない場合のピッ
ト欠陥検出回路の動作を示すタイミング図である。FIG. 3 is a timing chart showing the operation of the pit defect detection circuit according to the first embodiment when there is no pit defect.

【図４】第１実施例に係るピット欠陥のある場合のピッ
ト欠陥検出回路の動作を示すタイミング図である。FIG. 4 is a timing chart showing the operation of the pit defect detection circuit when there is a pit defect according to the first embodiment.

【図５】第１実施例に係るラッチの具体例を示すＤフリ
ップフロップの構成図である。FIG. 5 is a configuration diagram of a D flip-flop showing a specific example of the latch according to the first embodiment.

【図６】第２実施例に係るラッチ回路の構成を示す構成
図である。FIG. 6 is a configuration diagram showing a configuration of a latch circuit according to a second embodiment.

【図７】第２実施例に係るピット欠陥のある場合のピッ
ト欠陥検出回路の動作を示すタイミング図である。FIG. 7 is a timing chart showing the operation of the pit defect detection circuit when there is a pit defect according to the second embodiment.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

１ … 反射光強度信号検出手段 ２ … ピーク検出手段 ３ … クロックピット抽出手段 ４ … タイミング信号生成手段 ５ａ… ラッチＡ ５ｂ… ラッチＢ ５ｃ… ラッチＣ ６ … ＮＡＮＤ素子 １３ … クロックピット １４ … ウォブルドピット １５ … ウォブルドピット 1 ... Reflected light intensity signal detecting means 2 ... Peak detecting means 3 ... Clock pit extracting means 4 ... Timing signal generating means 5a ... Latch A 5b ... Latch B 5c ... Latch C 6 ... NAND element 13 ... Clock pit 14 ... Wobbled pit 15… Wobbled pit

Claims (2)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項１】 情報トラック上に間欠的にサーボ領域が
設けられ、前記サーボ領域内にはトラック中心に対して
半径方向左右に変位したトラックずれ量を検出するため
のウォブルドピットが形成されているサンプルサーボ方
式の光ディスクに対しレーザ光を照射し情報の記録再生
を行う光ディスク装置のピット欠陥検出回路において、 前記光ディスクからの前記レーザ光の反射光強度を検出
する反射光強度信号検出手段と、 前記反射光強度信号が局部的に最小となる点を検出する
ピーク検出手段と、 前記サーボ領域内で常に一定のタイミングであらわれる
定置ピットのうち少なくともひとつの定置ピットの近傍
においてアクティブとなるゲート信号を生成するゲート
信号発生手段とを備え、 前記ゲート信号の生成の対象とした定置ピットのうち少
なくともひとつを欠陥検出対象ピットとし、すべての前
記欠陥検出対象ピット位置において、前記ゲート信号が
アクティブになっている間に前記ピーク検出手段により
前記反射光強度信号の局部的な最小が検出された場合に
のみ該サーボ領域内にピット欠陥がなかったと判定する
ことを特徴とする光ディスク装置のピット欠陥検出回
路。1. A servo area is intermittently provided on an information track, and wobbled pits are formed in the servo area for detecting a track deviation amount which is displaced to the left and right in the radial direction with respect to the track center. In a pit defect detection circuit of an optical disc device that irradiates a laser beam to an optical disc of a sample servo system and performs recording / reproduction of information, a reflected light intensity signal detection unit that detects a reflected light intensity of the laser light from the optical disc, A peak detection means for detecting a point where the reflected light intensity signal is locally minimized, and a gate signal which is active in the vicinity of at least one stationary pit among stationary pits which always appear at constant timing in the servo area. And a gate signal generating unit for generating the gate signal. At least one of them is a defect detection target pit, and at all the defect detection target pit positions, a local minimum of the reflected light intensity signal is detected by the peak detection means while the gate signal is active. A pit defect detection circuit for an optical disk device, which determines that there is no pit defect in the servo area only in the case. 【請求項２】 前記ゲート信号の生成の対象とした定置
ピットのうち少なくともひとつを欠陥検出対象ピットと
し、すべての前記欠陥検出対象ピット位置において、前
記ゲート信号がアクティブになっている間に前記ピーク
検出手段により前記反射光強度信号の局部的な最小が各
ゲート信号毎に各々ひとつだけ検出された場合にのみ該
サーボ領域内にピット欠陥がなかったと判定することを
特徴とする請求項１記載の光ディスク装置のピット欠陥
検出回路。2. At least one of the fixed pits for which the gate signal is generated is a defect detection target pit, and the peak is detected at all the defect detection target pit positions while the gate signal is active. 2. The pit defect is determined not to exist in the servo area only when the detecting means detects only one local minimum of the reflected light intensity signal for each gate signal. Optical disk device pit defect detection circuit.