JPH05232029A - 蛍光測光によるpH値測定方法及び装置 - Google Patents

蛍光測光によるpH値測定方法及び装置

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JPH05232029A
JPH05232029A JP3273632A JP27363291A JPH05232029A JP H05232029 A JPH05232029 A JP H05232029A JP 3273632 A JP3273632 A JP 3273632A JP 27363291 A JP27363291 A JP 27363291A JP H05232029 A JPH05232029 A JP H05232029A
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JP
Japan
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measured
coefficient
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Application number
JP3273632A
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English (en)
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Dietrich W Luebbers
ヴエルナー リユツバース デイートリツヒ
Norbert Opitz
オピツツ ノルベルト
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Max Planck Gesellschaft zur Foerderung der Wissenschaften eV
Original Assignee
Max Planck Gesellschaft zur Foerderung der Wissenschaften eV
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    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N33/00Investigating or analysing materials by specific methods not covered by groups G01N1/00 - G01N31/00
    • G01N33/48Biological material, e.g. blood, urine; Haemocytometers
    • G01N33/50Chemical analysis of biological material, e.g. blood, urine; Testing involving biospecific ligand binding methods; Immunological testing
    • G01N33/84Chemical analysis of biological material, e.g. blood, urine; Testing involving biospecific ligand binding methods; Immunological testing involving inorganic compounds or pH

Abstract

(57)【要約】 【目的】 未知電解質溶液のpH値を蛍光測光により測
定する。 【構成】 式: 【数1】

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、未知電解質溶液のpH
値を蛍光測光により測定する方法及び装置に関する。
【0002】
【従来の技術】pH電極を用いてpH値を測定するため
の公知の方法及び装置は、被測定試料が変化する電位に
暴露される場合にはさまざまな欠点を有し、それによっ
て測定が狂ってくる。また、試料または試料空間が例え
ば測定装置の供給電圧の電位に暴露されないようにする
ことが要求されることもある。
【0003】これらの欠点は、蛍光測光によるpH値の
測定の場合には回避されうる。ただし、溶液のイオン濃
度に依存する蛍光性pH指示薬が測定される場合には、
測定されたpH値が被測定電解液のイオン濃度に応じて
実際のpH値とは相違することが判っている。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】本発明の課題は、未知
イオン濃度を有する溶液のpH値さらに未知電解質溶液
のpH値も蛍光測光により測定できることである。
【0005】
【課題を解決するための手段】前記課題は本発明によ
り、第一指示薬(X)を用いて測定されたpH値から、
第二指示薬(N)のpH信号と第一指示薬(X)のpH
信号との信号差分にイオン価係数(WF)を乗じた値を
減じること、従って式:
【0006】
【数3】
【0007】を用いることによって解決される。
【0008】このような光学的pH測定方法は、連続的
に行われうるので、例えば有利にプロセス制御のために
利用することができる。
【0009】また該測定方法は、例えば光導体により行
なうことができるので爆発の危険のある室でも利用する
ことができる。これによってこのような室ではすべての
電位、例えば測定装置の供給電圧が回避されうる。
【0010】また、本発明方法によれば測定値がプロセ
ス計算機及び指示装置に送られる。
【0011】H+−イオン濃度の代りに任意のイオン濃
度を測定するために、本発明の一実施態様では、水素イ
オンの代りに、光学的及び電気化学的指示薬を用いて測
定可能の他のイオンが測定される。
【0012】前記方法を実施例するための本発明の装置
は、減法装置(D3)が設けられていて、同装置におい
て第一指示薬(F1,F2)を用いて測定されたpH値
の信号から、第二指示薬(I2)のpH信号と第一指示
薬(I1)のpH信号との信号差分にイオン価係数(W
F)を乗じた値が減じられ、この際イオン価係数(W
F)が次の値:
【0013】
【数4】
【0014】を有しかつ生じる信号が指示装置(A2)
に送られることを特徴としている。
【0015】この場合、蛍光測光による測定のための第
一指示薬が可及的に大きいイオン価を有する場合が有利
である。
【0016】さて該測定方法は次のように説明される:
出発点は次の式:
【0017】
【数5】
【0018】で示される質量作用の法則である。
【0019】実験から判明したところによると、蛍光測
光的に測定されたpH値の変動は、 ΔpK=pK1−pK2 (2) pK1=イオンの強度1の場合のpK値 pK2=イオンの強度2の場合pK値 に比例するので、イオン強度に対する異なる依存性を有
する異種のpH指示薬を用いる該溶液の二つの測定の際
には方程式: pH=pH′(N)−ΔpK(N) (3) pH=pH′(X)−ΔpK(X) が得られる。
【0020】方程式(3)においてはpH、ΔpK
(N)、ΔpK(X)なる量は未知である。この限りで
は解けない方程式(3)はしかし、デバイーヒュッケル
(DEBYE−HUECKEI)の式により近似的に偏
差ΔpK(N)、ΔpK(X)の関係が存在することを
考慮すると解を得ることができる。すなわちデバイーヒ
ュッケルの式:
【0021】
【数6】
【0022】である。従って(3)式から、近似式:
【0023】
【数7】
【0024】を用いて方程式: ΔpK(N)=Z(N).L(J) ΔpK(X)=Z(X).L(J) (8) が得られる。故に関係式:
【0025】
【数8】
【0026】実験的には次の曲線が得られる:図1に図
示した実際に最も重要なイオン強度範囲:J0<J<1
0J0;J0=0.1に関して例えばHPTSの場合には
【0027】
【数9】
【0028】のようになる。図1において1はHPTS
に関する測定曲線であり、2はデバイーヒュッケルの理
論により期待される曲線であり、3はb−Mに関する測
定曲線、4はデバイーヒュッケルの理論により期待され
る曲線である。
【0029】方程式(12)、(13)からは換算によ
って、pH電極及び蛍光測光(指示薬HPTS)による
pH値の測定の場合には、
【0030】
【数10】
【0031】が得られ、また2種の蛍光性指示薬、例え
ばHPTS及びb−メチルウンベリフエロンを用いる測
定の場合には
【0032】
【数11】
【0033】が成立する。任意の指示薬Xに関しては
【0034】
【数12】
【0035】が適用される。
【0036】ここでF(N)は次のように確定すること
ができる:方程式(14)における指数F=2.22は
ほぼ曲線(12)の勾配0.45の逆数である。この勾
配は有利には実験的に特定されるが、原理的にはまたデ
バイーヒュッケルの理論により確定することもできる。
【0037】この場合標準化は任意であり、また他のす
べての指示薬に対しても標準化が可能である。
【0038】このことは同様に任意のイオンに関しても
あてはまる。それというのも特定イオン種の特性が前提
とされてはならないからである。しかし特定イオン種の
測定のために必要な2種の指示薬は溶液のイオン強度依
存性は相違していなければならない。
【0039】図2は、本発明による方法をそれを用いて
実施することのできる簡単な装置を示す。
【0040】図2の場合、pH感受性指示薬I1,I2
に対して調節された2個の蛍光光度計F1,F2で容器
K中の当該溶液LのpH値が測定され、減法装置D2で
F1及びF2からの信号の差分が形成される。指示薬I
1の信号から生じるこの信号は、イオン価係数WFの乗
法後にもう一回D3で減法を施されて指示装置A2によ
って表示される。イオン強度に対する平行測定は、信号
差分が累乗ユニットP1に送られ、累乗後に指示装置A
4で表示されうることによって行なわれる。計算機
(R)では、イオン強度の表示と平行して信号の換算が
行われ、その結果、指示装置A3では同時に他の導出可
能の信号が表示されうる。
【図面の簡単な説明】
【図1】
【数13】
【図2】本発明による方法を実施するための装置のフロ
ーチャートである。
【符号の説明】
I1 第一指示薬 I2 第二指示薬 F1,F2 蛍光光度計 D2,D3 減法装置 P1 累乗ユニット A2,A3,A4 指示装置

Claims (6)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 未知電解質溶液のpH値を蛍光測光によ
    り測定するに当り、第一指示薬(X)を用いて測定され
    たpH値から、第二指示薬(N)のpH信号と第一指示
    薬(X)のpH信号との信号差分にイオン価係数(W
    F)を乗じた値を減じること、従って式: 【数1】 を用いることを特徴とする未知電解質溶液のpH値の蛍
    光測光による測定方法。
  2. 【請求項2】 測定値がプロセス計算機及び指示装置に
    送られる請求項1記載の方法。
  3. 【請求項3】 水素イオンの代りに、光学的及び電気化
    学的指示薬を用いて測定可能の他のイオンが測定される
    請求項1又は2記載の方法。
  4. 【請求項4】 請求項1記載の方法を実施するための装
    置において、減法装置(D3)が設けられていて、同装
    置において第一指示薬(I1,F1)を用いて測定され
    たpH値の信号から、第二指示薬(I2)のpH信号と
    第一指示薬(I1)のpH信号との信号差分にイオン価
    係数(WF)を乗じた値が減じられ、この際イオン価係
    数(WF)が次の値: 【数2】 を有しかつ生じる信号が指示装置(A2)に送られるこ
    とを特徴とする、前記装置。
  5. 【請求項5】 蛍光測光による測定のための第一指示薬
    が可及的に大きいイオン価を有する請求項4記載の装
    置。
  6. 【請求項6】 水素イオン測定のための装置の代りに、
    光学的又は電気化学的指示薬を用いて測定可能の他のイ
    オンの測定装置が使用される請求項4又は5記載の装
    置。
JP3273632A 1982-06-14 1991-10-22 蛍光測光によるpH値測定方法及び装置 Pending JPH05232029A (ja)

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EP0096840B1 (de) 1987-03-25
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