JPH05232024A - Icp発光分光分析装置 - Google Patents

Icp発光分光分析装置

Info

Publication number
JPH05232024A
JPH05232024A JP4033175A JP3317592A JPH05232024A JP H05232024 A JPH05232024 A JP H05232024A JP 4033175 A JP4033175 A JP 4033175A JP 3317592 A JP3317592 A JP 3317592A JP H05232024 A JPH05232024 A JP H05232024A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
sample aerosol
plasma torch
ultrasonic nebulizer
icp emission
sample
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP4033175A
Other languages
English (en)
Other versions
JP3084885B2 (ja
Inventor
Hitoshi Hiromichi
仁 広道
Kensuke Daiho
健介 大穂
Koji Okada
幸治 岡田
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Shimadzu Corp
Original Assignee
Shimadzu Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Shimadzu Corp filed Critical Shimadzu Corp
Priority to JP04033175A priority Critical patent/JP3084885B2/ja
Publication of JPH05232024A publication Critical patent/JPH05232024A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP3084885B2 publication Critical patent/JP3084885B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Sampling And Sample Adjustment (AREA)
  • Investigating, Analyzing Materials By Fluorescence Or Luminescence (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【目的】 ICP発光分光分析装置において、溶媒の液
滴によるプラズ炎の消炎を防止するとともに、測光信号
を安定化する。 【構成】 超音波ネブライザ1を有するICP発光分光
分析装置において、超音波ネブライザ1からプラズマト
ーチ2に至る試料エアロゾルの搬送経路に、二重筒構造
で排液口11aを有する分離チャンバ10が介装され、
この分離チャンバ10の二重筒内部に、超音波ネブライ
ザ1からの試料エアロゾルが噴出するノズル14が開口
している。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、ICP(高周波誘導結
合プラズマ)発光分光分析装置に係り、詳しくは、超音
波ネブライザからプラズマトーチに至る試料エアロゾル
の搬送経路部分の構造に関する。
【0002】
【従来の技術】ICP発光分光分析装置には、超音波ネ
ブライザにより液体試料をエアロゾル化し、この試料エ
アロゾルをキャリアガスとともにプラズマトーチに導入
するようにしたものがある。超音波ネブライザは、霧吹
き式のネブライザに比べると、粒径の細かい試料エアロ
ゾルが生成でき、また、キャリアガスの供給量に関係な
く試料エアロゾルの量を調整しうる、という利点があ
る。
【0003】図2に、従来のこの種のICP発光分光分
析装置の要部の構成を示す。同図において、符号1は超
音波ネブライザ、2はプラズマトーチである。超音波ネ
ブライザ1は、ネブライザ本体3と、脱溶媒部4とから
なる。ネブライザ本体3は、霧化室5内に超音波振動子
6を設けたもので、試料容器7からポンプ8により超音
波振動子6の表面に送り込まれる液体試料Sを、超音波
振動子6の振動により霧化する。このネブライザ本体3
でエアロゾル化された試料は、霧化室5内に流入するキ
ャリアガスとともに、脱溶媒部4へ送出される。脱溶媒
部4は、加熱と冷却とにより試料エアロゾルを細粒子化
するとともに、試料エアロゾルから溶媒(通常は水)を
取り除く。脱溶媒部4を通過した試料エアロゾルは、搬
送管9を通じてプラズマトーチ2に搬送される。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】上記の通り、超音波ネ
ブライザを有する従来のICP発光分光分析装置では、
超音波ネブライザ1に脱溶媒部4を付設して、この脱溶
媒部4により試料エアロゾルから溶媒を取り除き、プラ
ズマトーチ2には、溶媒を含まない試料エアロゾルを送
り込むようにしているが、脱溶媒部4での溶媒は、装置
を長時間運転した場合とか、室温が低い場合には、試料
エアロゾルに含まれる溶媒が液滴(通常は水滴)として
搬送管9内に溜まってしまって完全に除去しきれないこ
とがある。そして、搬送管9内に溶媒が液滴として溜ま
ってしまうと、この液滴状の溶媒がプラズマトーチ2に
まで吹き上がり、結果、プラズマ炎が消炎されてしまう
という不具合を引き起こす。
【0005】また、従来の装置では、超音波ネブライザ
1からプラズマトーチ2へ試料エアロゾルが円滑に流れ
るように、その間の搬送経路がほぼ同一内径の管路で構
成されているのであるが、ネブライザ本体3で試料エア
ロゾルの粒子密度に濃淡の変動が発生した場合には、そ
の濃淡の変動が疎密波の形でプラズマトーチ2まで直接
送られることになり、プラズマトーチ2で発光の強度変
動を来し、結果、安定した測光信号が得られなくなる、
という問題がある。
【0006】さらに、脱溶媒部4での試料エアロゾルの
細粒子化が不充分である場合には、粒径にばらつきのあ
る試料エアロゾルがそのままプラズマトーチ2に導入さ
れることにもなり、発光強度にばらつきが生じ、この点
からも、安定した測光信号が得られなくなる。
【0007】本発明は、上記の問題点に鑑みてなされた
ものであって、溶媒の液滴によるプラズ炎の消炎という
不具合の発生を防止するとともに、測光信号を安定化す
ることを課題とする。
【0008】
【課題を解決するための手段】本発明は、上記の課題を
達成するために、超音波ネブライザとプラズマトーチと
の間の試料エアロゾルの搬送経路に、排液口を有する分
離チャンバが介装されており、この分離チャンバは内筒
と外筒とを有し、この内筒に超音波ネブライザからの試
料エアロゾルが噴出するとともに、外筒からプラズマト
ーチに試料エアロゾルを搬送する構造とした。
【0009】
【作用】上記の構成によれば、超音波ネブライザから送
り出された試料エアロゾルは、プラズマトーチの手前
で、分離チャンバの内筒に噴出し、チャンバ端部で反転
流動した後、その外筒からプラズマトーチ側に流出す
る。その間に試料エアロゾルは、粒子密度が平均化され
るとともに、溶媒の液滴や、試料エアロゾルの大きな粒
子が分離除去される。
【0010】
【実施例】図1は本発明の一実施例に係るICP発光分
光分析装置の要部の構成を示す構成図である。
【0011】同図に示すように、この実施例のICP発
光分光分析装置が、超音波ネブライザ1と、プラズマト
ーチ2とを備え、超音波ネブライザ1が、ネブライザ本
体3と、脱溶媒部4とからなる点は、前記した従来例と
同じである。また、ネブライザ本体3が、霧化室5と、
超音波振動子6とを備え、試料容器7からポンプ8によ
り超音波振動子6の表面に送り込まれる液体試料Sを、
超音波振動子6の振動により霧化するものであり、ま
た、脱溶媒部4が、ネブライザ本体3からの試料エアロ
ゾルを加熱と冷却とにより細粒子化するとともに、試料
エアロゾルから溶媒を取り除くものである点も、従来例
と同じである。
【0012】この実施例のICP発光分光分析装置が従
来例と異なる点は、超音波ネブライザ1の脱溶媒部4か
ら試料エアロゾルを搬送する搬送管9と、プラズマトー
チ1のセンター管2aとが分離され、その分離部間に、
二重筒構造の分離チャンバ10が連通接続されているこ
とである。この分離チャンバ10は、一端が閉じた外筒
11と、この外筒11の他端を閉じるキャップ12と、
外筒11と同心にキャップ12側に取り付けられた内筒
13とから構成され、キャップ12が若干高くなる傾斜
姿勢で支持されている。そして、キャップ12には、搬
送管9に連通接続するノズル14が設けられ、このノズ
ル14は、内筒13の内部で傾斜下端側に向けて開口し
ている。一方、外筒11の傾斜下端には排液口11aが
開設され、外筒11の上部で長さ方向中途位置に、試料
エアロゾルの流出口11bが設けられ、この流出口11
bがプラズマトーチ2のセンター管2aに接続されてい
る。15は排液タンクである。
【0013】上記の構成において、ネブライザ本体3で
生成された試料エアロゾルは、脱溶媒部4で、細粒子化
されるとともに溶媒が取り除かれ、搬送管9を通じてプ
ラズマトーチ2側へ送出されるが、プラズマトーチ2の
手前で、分離チャンバ10に流入する。この分離チャン
バ10で、試料エアロゾルはノズル14から内筒13の
内部に噴出し、外筒11の傾斜下端で反転して内筒13
と外筒11との間隙に流入し、流出口11bからプラズ
マトーチ2側に流出する。
【0014】この間、試料エアロゾルは、分離チャンバ
10内部で反転流動することで、粒径に応じて選別分離
される。すなわち、試料エアロゾルに溶媒の液滴が含ま
れていると、その液滴は外筒11の壁面に付着し、壁面
に沿って傾斜下端に集まる。そして、排液口11aから
外部に排出される。
【0015】また、分離チャンバ10に流入する試料エ
アロゾルのうち、粒径の細かいものは流出口11bに達
するが、粒径の大きなものは外筒11の壁面に付着し、
試料エアロゾルから取り除かれる。したがって、試料エ
アロゾルは分離チャンバ10を通過することで、粒径の
細かいものが選別され、プラズマトーチ2には、細かい
粒径に揃えられた試料エアロゾルが供給され、発光強度
のばらつきが生じなくなる。
【0016】さらに、試料エアロゾルは、分離チャンバ
10の内部で反転流動することで、一時的に滞留し、撹
拌される。そのため、ネブライザ本体3から、粒子密度
に濃淡の変動がある試料エアロゾルが送られてきても、
分離チャンバ10内でその粒子密度が平均化され、プラ
ズマトーチ2では、粒子密度の濃淡による発光強度の変
動がなくなり、発光強度が安定する。
【0017】
【発明の効果】本発明によれば、分離チャンバ内で溶媒
の液滴が分離除去されるから、プラズマトーチの手前に
液滴が溜まるようなことがなく、液滴の吹き上げにより
プラズマ炎が消炎するという不具合の発生が確実に防止
される。
【0018】また、超音波ネブライザからの試料エアロ
ゾルに粒子密度の濃淡変動があっても、その試料エアロ
ゾルは、分離チャンバ内で粒子密度が平均化されるか
ら、プラズマトーチでの発光強度も平均化し、安定した
測光信号が得られる。
【0019】しかも、分離チャンバで粒径の大きな試料
エアロゾルが分離除去され、プラズマトーチには、細か
い粒径に揃えられた試料エアロゾルが供給されるから、
この点からも、測光信号が安定化する。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の一実施例に係るICP発光分光分析装
置の要部の構成図である。
【図2】従来のICP発光分光分析装置の要部の構成図
である。
【符号の説明】
1 超音波ネブライザ 2 プラズマトーチ 9 搬送管 10 分離チャンバ 11 外筒 11a 排液口 12 内筒 14 ノズル

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 超音波ネブライザとプラズマトーチとの
    間の試料エアロゾルの搬送経路に、排液口を有する分離
    チャンバが介装されており、この分離チャンバは内筒と
    外筒とを有し、この内筒に超音波ネブライザからの試料
    エアロゾルが噴出するとともに、外筒からプラズマトー
    チに試料エアロゾルを搬送する構造になっていることを
    特徴とするICP発光分光分析装置。
JP04033175A 1992-02-20 1992-02-20 Icp発光分光分析装置 Expired - Fee Related JP3084885B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP04033175A JP3084885B2 (ja) 1992-02-20 1992-02-20 Icp発光分光分析装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP04033175A JP3084885B2 (ja) 1992-02-20 1992-02-20 Icp発光分光分析装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPH05232024A true JPH05232024A (ja) 1993-09-07
JP3084885B2 JP3084885B2 (ja) 2000-09-04

Family

ID=12379187

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP04033175A Expired - Fee Related JP3084885B2 (ja) 1992-02-20 1992-02-20 Icp発光分光分析装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP3084885B2 (ja)

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO1988000572A1 (en) * 1986-07-24 1988-01-28 Shiseido Company Ltd. Spherical clay mineral powder, process for its production, and composition containing same
JP2009008689A (ja) * 2008-08-08 2009-01-15 Shimadzu Corp エアロゾル発生装置
JP2012032210A (ja) * 2010-07-29 2012-02-16 Yamatake Corp 分析光発生装置

Families Citing this family (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP6058078B2 (ja) * 2015-06-12 2017-01-11 幸人 河本 ゴミ被覆保護装置

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO1988000572A1 (en) * 1986-07-24 1988-01-28 Shiseido Company Ltd. Spherical clay mineral powder, process for its production, and composition containing same
JP2009008689A (ja) * 2008-08-08 2009-01-15 Shimadzu Corp エアロゾル発生装置
JP2012032210A (ja) * 2010-07-29 2012-02-16 Yamatake Corp 分析光発生装置

Also Published As

Publication number Publication date
JP3084885B2 (ja) 2000-09-04

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US4990740A (en) Intra-microspray ICP torch
JPH0362443A (ja) トーチ装置
JP2002355584A (ja) 粒子を表面上に堆積させる堆積装置
US5454274A (en) Sequential combination low temperature condenser and enclosed filter solvent removal system, and method of use
US20080000842A1 (en) Ultrasonic Solution Separating Method and Ultrasonic Separating Apparatus Used In Such Method
JP3084885B2 (ja) Icp発光分光分析装置
JPH01223347A (ja) 液体試験装置
JPH03242257A (ja) 微粒化装置
JPS6257067B2 (ja)
CN110665728A (zh) 一种用于气溶胶直写打印的二级雾化器及其雾化方法
JPH10296582A (ja) 微量切削油の供給方法と装置
CN211678470U (zh) 一种用于气溶胶直写打印的二级雾化器
JP3764798B2 (ja) 誘導結合プラズマ質量及び分光分析装置
JPS6333639Y2 (ja)
JP2007114063A (ja) ネブライザ及び試料液霧化装置
JPH05232025A (ja) Icp発光分光分析装置
JPH06249783A (ja) Icp発光分光分析装置
JP2705502B2 (ja) Icp発光分光分析装置
JPH05180770A (ja) Icp発光分光分析装置
JP3131273B2 (ja) 試料液霧化装置
JP3206216B2 (ja) Icp発光分光分析装置
JPH10267806A (ja) 超音波霧化装置
JP2002062256A (ja) 原子吸光分析装置
JPH0835932A (ja) レーザーアブレーション装置
JP2002131226A (ja) 原子吸光分光光度計

Legal Events

Date Code Title Description
FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20080707

Year of fee payment: 8

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090707

Year of fee payment: 9

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100707

Year of fee payment: 10

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100707

Year of fee payment: 10

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110707

Year of fee payment: 11

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees