JPH052084B2 - - Google Patents
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Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は測光器に関し、特に温度等の環境変化
による受光素子の特性変化を補償した測光器に関
する。
による受光素子の特性変化を補償した測光器に関
する。
従来の測光器は、特に微弱光の測定を行うもの
においては、受光素子として光電子放出型受光素
子である光電子倍増管いわゆるホトマルが使用さ
れている。
においては、受光素子として光電子放出型受光素
子である光電子倍増管いわゆるホトマルが使用さ
れている。
ホトマルは高感度である反面、温度変化等によ
る特性変化が大きく、これが測定に影響を及ぼす
ことがある。そのため、受光素子としてホトマル
を使用する測光器においては、測光の直前に標準
光源を用いて測光器を校正することによつてホト
マルの特性変化が測光値に与える影響を排除しあ
るいは低減させている。
る特性変化が大きく、これが測定に影響を及ぼす
ことがある。そのため、受光素子としてホトマル
を使用する測光器においては、測光の直前に標準
光源を用いて測光器を校正することによつてホト
マルの特性変化が測光値に与える影響を排除しあ
るいは低減させている。
上述の従来の測光器においては、環境変化によ
るホトマルの影響を排除しあるいは低減させるた
め、校正に使用する標準光源を準備しなければな
らないことが煩わしいことであることはもちろ
ん、測定直前の校正作業そのものも煩わしいもの
である。
るホトマルの影響を排除しあるいは低減させるた
め、校正に使用する標準光源を準備しなければな
らないことが煩わしいことであることはもちろ
ん、測定直前の校正作業そのものも煩わしいもの
である。
さらに、標準光源は一般にガス入りタングステ
ン電球であり、経時による劣化を避けることがで
きず、これを使用して長期間にわたり高精度に測
光を行うことが困難である問題があつた。
ン電球であり、経時による劣化を避けることがで
きず、これを使用して長期間にわたり高精度に測
光を行うことが困難である問題があつた。
本発明は上記従来の問題に鑑みなされたもので
あつて、環境変化による受光素子の特性変化の測
光への影響を排し、かつ長期間にわたり高精度の
測光を行うことができる測光器を提供することを
目的とする。
あつて、環境変化による受光素子の特性変化の測
光への影響を排し、かつ長期間にわたり高精度の
測光を行うことができる測光器を提供することを
目的とする。
本発明は上記目的を達成するため以下の構成上
の特徴を有する。すなわち、本発明は、第1受光
部と、第1受光部より感度特性の安定している第
2受光部と、参照用光源を含み制御部からの制御
信号によつて被測定物からの光を第1受光部へ、
また参照用光源からの光を第1受光部及び第2受
光部へ導く光学部と、測定者の指示に従い被測定
物からの光を上記光学部の第1受光部へ導かせる
第1制御信号、及び参照用光源からの光を上記第
1受光部及び第2受光部へ導かせる第2制御信号
を出力する制御部と、目盛り定め用の標準光源の
理想の測定量として予め入力される測定量Pr、
標準光源を被測定物とした際の標準光源の光によ
る第1受光部の出力Dr、目盛り定めの際の参照
用光源の光による第1受光部の出力Dpo、目盛り
定めの際の参照用光源の光による第2受光部の出
力Dsoを記憶する記憶部と、被測定物からの光に
よる第1受光部の出力Dm、測定の際の参照用光
源の光による第1受光部の出力Dpt、測定の際の
参照用光源の光による第2受光による第2受光部
の出力Dst、及び上記記憶部から読み出したDr.
DPo.Dsoを受け取り、被測定物の測光量の測定
値Pmを Pm=Pr×Dpp・Dst/Dpt・Dsp×Dm/Dr の演算により求める演算部とから構成されること
を特徴とするものである。
の特徴を有する。すなわち、本発明は、第1受光
部と、第1受光部より感度特性の安定している第
2受光部と、参照用光源を含み制御部からの制御
信号によつて被測定物からの光を第1受光部へ、
また参照用光源からの光を第1受光部及び第2受
光部へ導く光学部と、測定者の指示に従い被測定
物からの光を上記光学部の第1受光部へ導かせる
第1制御信号、及び参照用光源からの光を上記第
1受光部及び第2受光部へ導かせる第2制御信号
を出力する制御部と、目盛り定め用の標準光源の
理想の測定量として予め入力される測定量Pr、
標準光源を被測定物とした際の標準光源の光によ
る第1受光部の出力Dr、目盛り定めの際の参照
用光源の光による第1受光部の出力Dpo、目盛り
定めの際の参照用光源の光による第2受光部の出
力Dsoを記憶する記憶部と、被測定物からの光に
よる第1受光部の出力Dm、測定の際の参照用光
源の光による第1受光部の出力Dpt、測定の際の
参照用光源の光による第2受光による第2受光部
の出力Dst、及び上記記憶部から読み出したDr.
DPo.Dsoを受け取り、被測定物の測光量の測定
値Pmを Pm=Pr×Dpp・Dst/Dpt・Dsp×Dm/Dr の演算により求める演算部とから構成されること
を特徴とするものである。
上記構成の本発明において、目盛り定めの際、
まず、記憶部が標準光源の測光量Prを記憶する。
測光器が光度測定を目的とするのであれば測光量
Prは輝度値と、また照度測定を目的とするので
あれば測光量Prは照度値という具合に測光器の
測光対象によつて定まる。続いて、参照用光源を
点灯するとともに、制御部の制御により参照用光
源からの光束が第1受光部及び第2受光部に導か
れるように光学部を制御して、この時の第1受光
部と第2受光部の出力Dpo,Dsoを記憶部が記憶
する。
まず、記憶部が標準光源の測光量Prを記憶する。
測光器が光度測定を目的とするのであれば測光量
Prは輝度値と、また照度測定を目的とするので
あれば測光量Prは照度値という具合に測光器の
測光対象によつて定まる。続いて、参照用光源を
点灯するとともに、制御部の制御により参照用光
源からの光束が第1受光部及び第2受光部に導か
れるように光学部を制御して、この時の第1受光
部と第2受光部の出力Dpo,Dsoを記憶部が記憶
する。
さらに、参照用光源を消灯して標準光源を点灯
するとともに、制御部により標準光源からの光束
が第1受光部に導かれるように光学部を制御し
て、この時の第1受光部の出力Drを記憶する。
するとともに、制御部により標準光源からの光束
が第1受光部に導かれるように光学部を制御し
て、この時の第1受光部の出力Drを記憶する。
次に、測光に際しては、まず、参照用光源を点
灯するとともに、制御部の制御により参照用光源
からの光束が第1受光部及び第2受光部に導かれ
るように光学部を制御して、この時の第1受光部
と第2受光部の出力Dpt,Dstを演算部に入力す
る。さらに、参照用光源を消灯し、一方被測定部
からの光束が第1受光部に導かれるように制御部
により光学部を制御して、この時の第1受光部の
出力Dmを演算部に入力する。
灯するとともに、制御部の制御により参照用光源
からの光束が第1受光部及び第2受光部に導かれ
るように光学部を制御して、この時の第1受光部
と第2受光部の出力Dpt,Dstを演算部に入力す
る。さらに、参照用光源を消灯し、一方被測定部
からの光束が第1受光部に導かれるように制御部
により光学部を制御して、この時の第1受光部の
出力Dmを演算部に入力する。
演算部は、さらに記憶部に記憶されている参照
用光源からの光束による第1受光部及び第2受光
部の出力Dpo,Dso、並びに標準光源の光度Pr及
び標準光源からの光による第1受光部の出力Dr
を読取る。
用光源からの光束による第1受光部及び第2受光
部の出力Dpo,Dso、並びに標準光源の光度Pr及
び標準光源からの光による第1受光部の出力Dr
を読取る。
ところで上記出力Dr、Dm、Dpo、Dpt、Dso、
及びDstは、以下の通り示される。
及びDstは、以下の通り示される。
Dr=Pr×K1 ……(1)
Dm=Pm×K1×(1+α) ……(2)
Dpp=PLED×K2 ……(3)
Dpt=P′LED×K2×(1+α) ……(4)
Dsp=PLED×K3 ……(5)
Dst=P′LED×K3 ……(6)
ここで、
PLED:目盛り定めの際のLEDの測光量
P′LED:測光時のLEDの測光量
K1,K2,K3:装置固有の光学系及び電気系とで
決まる比例定数α:ドリフト係数 従つて、式(1)、式(2)より被測定物の測光量Pm
は Pm=Pr×Dm/Dr×1/(1+α) ……(7) で示される。
決まる比例定数α:ドリフト係数 従つて、式(1)、式(2)より被測定物の測光量Pm
は Pm=Pr×Dm/Dr×1/(1+α) ……(7) で示される。
また、式(3)、式(4)より
1/(1+α)=Dpp/Dpt・Dst/Dsp ……(8)
が得られる。
従つて、式(7)へ式(8)を代入すると被測定物の測
光量Pmは Pm=Pr×Dm/Dr×Dpp・Dst/Dpt・Dsp ……(9) で示される。演算部は入力されたデータにより式
(9)の演算を行い、ドリフト係数αの影響を受けず
に被測定物の測光量を求める。
光量Pmは Pm=Pr×Dm/Dr×Dpp・Dst/Dpt・Dsp ……(9) で示される。演算部は入力されたデータにより式
(9)の演算を行い、ドリフト係数αの影響を受けず
に被測定物の測光量を求める。
〔第1実施例〕
本発明の第1実施例の測光器は、第1図に示す
ように、被測定部に対向した対物レンズ2と、対
物レンズ2の光軸4上であつて、対物レンズ2の
後方焦点位置に孔6を位置させて斜設した孔あき
ミラー8と、孔あきミラー8の後方に配置され、
光軸4上に該光軸4を遮るように挿入された挿入
位置10と実線で示す退避位置とに揺動可能な可
動ミラー12と、同じく光軸4上の可動ミラー1
2の後方に配置された第1受光部であるホトマル
14とを有する。測光器はまた、孔あきミラー8
の反射光軸16にミラー18、1対のリレーレン
ズ20及び接眼レンズ22を有する。
ように、被測定部に対向した対物レンズ2と、対
物レンズ2の光軸4上であつて、対物レンズ2の
後方焦点位置に孔6を位置させて斜設した孔あき
ミラー8と、孔あきミラー8の後方に配置され、
光軸4上に該光軸4を遮るように挿入された挿入
位置10と実線で示す退避位置とに揺動可能な可
動ミラー12と、同じく光軸4上の可動ミラー1
2の後方に配置された第1受光部であるホトマル
14とを有する。測光器はまた、孔あきミラー8
の反射光軸16にミラー18、1対のリレーレン
ズ20及び接眼レンズ22を有する。
測光器はさらに、孔あきミラーとホトマル14
との間において光軸4と直交しかつ退避位置の可
動ミラー12を垂直に通過する光軸24上に、光
軸4を挟んで、参照用光源であるLED26と第
2受光部であるシリコンフオトダイオード(以下
SPDという)28とを対向させて備えている。
ここで、可動ミラー12は、光軸4上の挿入位置
10にあるときは、その反射面が光軸24と交わ
らない位置にあり、従つて、LED26から発せ
られた光の大部分のものはSPD28に到達し、
残りの僅かの部分が可動ミラー12によつて反射
されてホトマル14に到達する。これは受光部の
感度差を考慮したものである。
との間において光軸4と直交しかつ退避位置の可
動ミラー12を垂直に通過する光軸24上に、光
軸4を挟んで、参照用光源であるLED26と第
2受光部であるシリコンフオトダイオード(以下
SPDという)28とを対向させて備えている。
ここで、可動ミラー12は、光軸4上の挿入位置
10にあるときは、その反射面が光軸24と交わ
らない位置にあり、従つて、LED26から発せ
られた光の大部分のものはSPD28に到達し、
残りの僅かの部分が可動ミラー12によつて反射
されてホトマル14に到達する。これは受光部の
感度差を考慮したものである。
第1実施例の測光器の制御系は、第2図に示す
ように、ホトマル14の出力は増幅器50によつ
て増幅された後マルチプレクサ52に入力され、
同様にSPD28の出力も増幅器54により増幅
された後マルチプレクサ52に入力される。マル
チプレクサ52はCPU56の制御によりホトマ
ル14及びSPD28の出力をA/Dコンバータ5
8に入力し、A/Dコンバータ58は入力された
信号をデジタル信号に変えてメモリー59に入力
する。
ように、ホトマル14の出力は増幅器50によつ
て増幅された後マルチプレクサ52に入力され、
同様にSPD28の出力も増幅器54により増幅
された後マルチプレクサ52に入力される。マル
チプレクサ52はCPU56の制御によりホトマ
ル14及びSPD28の出力をA/Dコンバータ5
8に入力し、A/Dコンバータ58は入力された
信号をデジタル信号に変えてメモリー59に入力
する。
一方、CPU56は、以下に詳細に説明する作
動によつて、ドライバー60を介してLED26
を点灯するとともに、ドライバー64を介してミ
ラーモータ66を回動させて可動ミラー12を揺
動させる。CPU56はまた、記憶部59に記憶
された目盛り定め時のホトマル14及びSPD2
8の出力並びに同じく記憶部59に記憶されてい
る測光時のホトマル14及びSPD28の出力を
受取り式(4)を演算して被測光部の光度Pmを求め
て表示器70で表示する。
動によつて、ドライバー60を介してLED26
を点灯するとともに、ドライバー64を介してミ
ラーモータ66を回動させて可動ミラー12を揺
動させる。CPU56はまた、記憶部59に記憶
された目盛り定め時のホトマル14及びSPD2
8の出力並びに同じく記憶部59に記憶されてい
る測光時のホトマル14及びSPD28の出力を
受取り式(4)を演算して被測光部の光度Pmを求め
て表示器70で表示する。
第1実施例の測光器の目盛り定め時の作動は、
第3A図に示すように、まず、可動ミラー12を
第1図に点線10で示す光軸4上の位置に移動さ
せ、LED26を点灯させる。続いて、LED26
から発した光によるホトマル14及びSPD28
の出力Dpo,Dsoを検出してこれを記憶部59で
記憶する。
第3A図に示すように、まず、可動ミラー12を
第1図に点線10で示す光軸4上の位置に移動さ
せ、LED26を点灯させる。続いて、LED26
から発した光によるホトマル14及びSPD28
の出力Dpo,Dsoを検出してこれを記憶部59で
記憶する。
次に、可動ミラー12を光軸4から離脱させて
第1図に実線で示す位置へ移動させ、またLED
26を消灯する。次に、標準光源を点灯させてこ
れを照準し、この時のホトマル14の出力Drを
検出して記憶部59で記憶する。さらに、標準光
源の測光量(理論値)Prが入力されて記憶部5
9で記憶される。
第1図に実線で示す位置へ移動させ、またLED
26を消灯する。次に、標準光源を点灯させてこ
れを照準し、この時のホトマル14の出力Drを
検出して記憶部59で記憶する。さらに、標準光
源の測光量(理論値)Prが入力されて記憶部5
9で記憶される。
一方、測光時の作動は、第3B図に示すよう
に、まず、可動ミラー12を第1図に点線10で
示す光軸4上の位置に移動させ、LED26を点
灯させる。続いて、LED26から発せられた光
によるホトマル14及びSPD28の出力Dpo,
Dsoを検出してこれを記憶部59で記憶する。
に、まず、可動ミラー12を第1図に点線10で
示す光軸4上の位置に移動させ、LED26を点
灯させる。続いて、LED26から発せられた光
によるホトマル14及びSPD28の出力Dpo,
Dsoを検出してこれを記憶部59で記憶する。
次に、可動ミラー12を光軸4から離脱させて
第1図に実線で示す位置へ移動させ、またLED
26を消灯させる。次に、被測定部を照準し、そ
の時のホトマル14の出力Dmを検出して記憶部
59で記憶する。続いて、記憶部59からDpo,
Dst,Dpt及びDsoを読出してドリフト補正値 R=(Dpo・Dst)/(Dpt・Dso)を演算する。
さらに、記憶部59からPr及びDrを読出し、Pm
=Pr×R×(Dm/Dr)を演算し、これを表示する。
続いて、測定が終了したか否かが判別され、終了
であると判別されない場合は測定開始のステツプ
に戻り、終了が判別されると測定が終了する。
第1図に実線で示す位置へ移動させ、またLED
26を消灯させる。次に、被測定部を照準し、そ
の時のホトマル14の出力Dmを検出して記憶部
59で記憶する。続いて、記憶部59からDpo,
Dst,Dpt及びDsoを読出してドリフト補正値 R=(Dpo・Dst)/(Dpt・Dso)を演算する。
さらに、記憶部59からPr及びDrを読出し、Pm
=Pr×R×(Dm/Dr)を演算し、これを表示する。
続いて、測定が終了したか否かが判別され、終了
であると判別されない場合は測定開始のステツプ
に戻り、終了が判別されると測定が終了する。
〔第2実施例〕
本発明の第2実施例の測光器は第4図に示され
るが、第1実施例と同一の構成については同一の
符号を付してその説明を省略する。第2実施例の
測光器は、光軸4上の孔あきミラー8とホトマル
14との間に、リレーレンズ50、分光器52、
シヤツタ54及び参照光光学部56が配置されて
いる。リレーレンズ50は孔あきミラー8の孔6
と分光器52の入口スリツト58とを共役関係に
する。分光部52は、入口スリツト58、入口ス
リツト58を通過した光軸4を反射するミラー6
0,60、回折格子モータ(図示せず)によつて
回動させられる平面回折格子ミラー66、入口ス
リツト58に焦点を有し平面回折格子66による
反射前後の光軸4を反射する凹面鏡68、及び出
口スリツト70を有する。平面回折格子ミラー6
6には凹面鏡68で反射された平行光束が入射す
る。シヤツタ54はシヤツタモータ72によつて
開閉され、光軸4に沿つて進んで来る光束を通過
させ又は遮断する。
るが、第1実施例と同一の構成については同一の
符号を付してその説明を省略する。第2実施例の
測光器は、光軸4上の孔あきミラー8とホトマル
14との間に、リレーレンズ50、分光器52、
シヤツタ54及び参照光光学部56が配置されて
いる。リレーレンズ50は孔あきミラー8の孔6
と分光器52の入口スリツト58とを共役関係に
する。分光部52は、入口スリツト58、入口ス
リツト58を通過した光軸4を反射するミラー6
0,60、回折格子モータ(図示せず)によつて
回動させられる平面回折格子ミラー66、入口ス
リツト58に焦点を有し平面回折格子66による
反射前後の光軸4を反射する凹面鏡68、及び出
口スリツト70を有する。平面回折格子ミラー6
6には凹面鏡68で反射された平行光束が入射す
る。シヤツタ54はシヤツタモータ72によつて
開閉され、光軸4に沿つて進んで来る光束を通過
させ又は遮断する。
参照光光学部56は、光軸4を挟んでLED7
4とSPD76を対向させて配置して構成され、
LED74とSPD76とを結ぶ光軸80は光軸4
と直交せず、SPD76がLED74よりもホトマ
ル14に近づいて位置決めされている。参照光光
学部56はまた、光軸80を軸線とした円筒形ハ
ウジング84を有し、その円筒部に光軸4に沿つ
て進む光束の通過口82を設けている。そして、
LED74が点灯すると、LED74から発した光
の多くのものはSPD76に到達し、一方ごく一
部の光はハウジング84によつて反射されてホト
マル14に到達する。
4とSPD76を対向させて配置して構成され、
LED74とSPD76とを結ぶ光軸80は光軸4
と直交せず、SPD76がLED74よりもホトマ
ル14に近づいて位置決めされている。参照光光
学部56はまた、光軸80を軸線とした円筒形ハ
ウジング84を有し、その円筒部に光軸4に沿つ
て進む光束の通過口82を設けている。そして、
LED74が点灯すると、LED74から発した光
の多くのものはSPD76に到達し、一方ごく一
部の光はハウジング84によつて反射されてホト
マル14に到達する。
第2実施例の測光器の制御部は、第5図に示す
ように、ホトマル14の出力が増幅器50によつ
て増幅された後マルチプレクサ52に入力され、
同様にSPD76の出力も増幅器100によつて
増幅された後マルチプレクサ52に入力される。
マルチプレクサ52はCPU110の制御により
ホトマル14及びSPD76の出力をA/Dコンバ
ータ58に入力し、A/Dコンバータ58は入力
された信号をデジタル信号に変えてRAM102
に入力する。
ように、ホトマル14の出力が増幅器50によつ
て増幅された後マルチプレクサ52に入力され、
同様にSPD76の出力も増幅器100によつて
増幅された後マルチプレクサ52に入力される。
マルチプレクサ52はCPU110の制御により
ホトマル14及びSPD76の出力をA/Dコンバ
ータ58に入力し、A/Dコンバータ58は入力
された信号をデジタル信号に変えてRAM102
に入力する。
一方、CPU110は、以下に詳細に説明する
作動によつて、ドライバー112を介してLED
62を点灯するとともに、トライバー116を介
して回折格子ミラーモータ(図示せず)を回動さ
せる。出口スリツト70は回折格子ミラー66の
特定の反射方向の光、すなわち特定の波長の光だ
けを通過させる作用をなし、ドライバー116に
よる回折格子ミラーモータの回動により回折格子
ミラー66の回転角を変えることによつて所定の
波長の光だけをホトマル14に到達させる。
作動によつて、ドライバー112を介してLED
62を点灯するとともに、トライバー116を介
して回折格子ミラーモータ(図示せず)を回動さ
せる。出口スリツト70は回折格子ミラー66の
特定の反射方向の光、すなわち特定の波長の光だ
けを通過させる作用をなし、ドライバー116に
よる回折格子ミラーモータの回動により回折格子
ミラー66の回転角を変えることによつて所定の
波長の光だけをホトマル14に到達させる。
CPU110はまた、ドライバー118を介し
てシヤツタモータ72を回動させてシヤツタ54
を開閉させ、、分光部52から射出された光を任
意に遮断又は通過させる。CPU110はさらに、
RAM102に記憶された目盛り定め時のホトマ
ル14及びSPD76の出力並びい同じくRAM1
02に記憶されている測光時の特定波長の光に係
るホトマル14及びSPD76の出力を受取り、
所望波長について式(4)を演算して被測光部の光度
Pmを求めて表示器70で表示する。
てシヤツタモータ72を回動させてシヤツタ54
を開閉させ、、分光部52から射出された光を任
意に遮断又は通過させる。CPU110はさらに、
RAM102に記憶された目盛り定め時のホトマ
ル14及びSPD76の出力並びい同じくRAM1
02に記憶されている測光時の特定波長の光に係
るホトマル14及びSPD76の出力を受取り、
所望波長について式(4)を演算して被測光部の光度
Pmを求めて表示器70で表示する。
第2実施例の測光器の目盛り定め時の作動は、
第6A図に示すように、まず、シヤツタ54を閉
じかつLED74を点灯させる。続いて、LED2
6から発せられた光束によるホトマル14及び
SPD76の出力Dpo,Dsoを検出してこれを
RAM102で記憶する。
第6A図に示すように、まず、シヤツタ54を閉
じかつLED74を点灯させる。続いて、LED2
6から発せられた光束によるホトマル14及び
SPD76の出力Dpo,Dsoを検出してこれを
RAM102で記憶する。
次に、シヤツタ54を開き、LED74を消灯
する。次に、標準光源を点灯させてこれを照準
し、一方回折格子ミラーモータを回動させて回折
格子ミラー66を所定位置(波長λに相当する)
に回動させ、この時のホトマル14の出力Dr
(λ)を検出してRAM102で記憶する。
する。次に、標準光源を点灯させてこれを照準
し、一方回折格子ミラーモータを回動させて回折
格子ミラー66を所定位置(波長λに相当する)
に回動させ、この時のホトマル14の出力Dr
(λ)を検出してRAM102で記憶する。
続いて、所望波長の測定が終了したか否かが判
断され、終了していない場合には、回折格子ミラ
ーモータ駆動のステツプに進み、該モータが一定
角度回動させられて、新しい波長についてホトマ
ル14の出力Dr(λn′)が検出されてRAM102
によつて記憶される。そして、すべての所望波長
の測定が終了すると、各波長λについて標準光源
の測光量(理論値)Pr(λ)が入力されてRAM
102で記憶される。
断され、終了していない場合には、回折格子ミラ
ーモータ駆動のステツプに進み、該モータが一定
角度回動させられて、新しい波長についてホトマ
ル14の出力Dr(λn′)が検出されてRAM102
によつて記憶される。そして、すべての所望波長
の測定が終了すると、各波長λについて標準光源
の測光量(理論値)Pr(λ)が入力されてRAM
102で記憶される。
一方、測光時の作動は、第6B図に示すよう
に、まず、シヤツタ54を閉じかつLED74を
点灯させる。続いて、LED74から発せられた
光によるホトマル14及びSPD76の出力Dpo,
Dsoを検出してこれをRAM102で記憶する。
に、まず、シヤツタ54を閉じかつLED74を
点灯させる。続いて、LED74から発せられた
光によるホトマル14及びSPD76の出力Dpo,
Dsoを検出してこれをRAM102で記憶する。
次に、シヤツタ54を開き、LED74を消灯
する。次に、被測定部を照準し、回折格子ミラー
モータを駆動させて回折格子ミラー66を所定傾
斜角度にして所定波長の光がホトマル14に到達
するようにし、この時のホトマル14の出力Ds
(λ)を検出してこれをRAM102で記憶する。
する。次に、被測定部を照準し、回折格子ミラー
モータを駆動させて回折格子ミラー66を所定傾
斜角度にして所定波長の光がホトマル14に到達
するようにし、この時のホトマル14の出力Ds
(λ)を検出してこれをRAM102で記憶する。
続いて、所望波長の測定が終了したか否かが判
断され、終了していない場合には、回折格子ミラ
ーモータ駆動のステツプに進み、該モータが一定
角度回動させられて、、新しい波長についてホト
マル14の出力Dr(λ′)が検出されてRAM10
2によつて記憶される。
断され、終了していない場合には、回折格子ミラ
ーモータ駆動のステツプに進み、該モータが一定
角度回動させられて、、新しい波長についてホト
マル14の出力Dr(λ′)が検出されてRAM10
2によつて記憶される。
所望波長の測定が終了すると、続いて、RAM
102からDpo,Dst,Dpt及びDsoを読出してド
リフト補正値R=(Dpo・Dst)/(Dpt・Dso)
を演算する。さらに、RAM102から各波長に
ついてPr(λ),Dr(λ)を読出し、 Ps(λ)=Pr(λ)×R×{Ds(λ)/Dr(λ)}を
演算し、これを表示する。
102からDpo,Dst,Dpt及びDsoを読出してド
リフト補正値R=(Dpo・Dst)/(Dpt・Dso)
を演算する。さらに、RAM102から各波長に
ついてPr(λ),Dr(λ)を読出し、 Ps(λ)=Pr(λ)×R×{Ds(λ)/Dr(λ)}を
演算し、これを表示する。
続いて、全測定が終了したか否かが判別され、
終了であると判別されない場合測定開始のステツ
プに戻り、終了が判別されると測定が終了する。
終了であると判別されない場合測定開始のステツ
プに戻り、終了が判別されると測定が終了する。
本発明は以上説明したように、予め高感度受光
素子により測定して記憶した標準光源の光度と、
環境変化による影響の少ない第2の受光素子の特
性とを記憶し、これらの記憶値を基準にして上記
高感度受光素子と第2の受光素子の出力とを比較
することにより上記高感度受光素子の出力を補正
するように構成されるから、環境変化の測定への
影響を排除し、しかも長期間にわたり高精度の測
光を行うことができる利点を有する。
素子により測定して記憶した標準光源の光度と、
環境変化による影響の少ない第2の受光素子の特
性とを記憶し、これらの記憶値を基準にして上記
高感度受光素子と第2の受光素子の出力とを比較
することにより上記高感度受光素子の出力を補正
するように構成されるから、環境変化の測定への
影響を排除し、しかも長期間にわたり高精度の測
光を行うことができる利点を有する。
第1図は本発明の第1実施例の測光器の光学
図、第2図は第1実施例の測光器の制御系のブロ
ツク図、第3図は第1実施例の測光器の作動のフ
ローチヤート図、第4図は本発明の第2実施例の
測光器の光学図、第5図は第2実施例の測光器の
制御系のブロツク図、第6図は第2実施例の測光
器の作動のフローチヤート図である。 2……対物レンズ、8……孔あきミラー、12
……可動ミラー、14……ホトマル、26……
LED、28……SPD、66……回折格子ミラー、
68……凹面鏡。
図、第2図は第1実施例の測光器の制御系のブロ
ツク図、第3図は第1実施例の測光器の作動のフ
ローチヤート図、第4図は本発明の第2実施例の
測光器の光学図、第5図は第2実施例の測光器の
制御系のブロツク図、第6図は第2実施例の測光
器の作動のフローチヤート図である。 2……対物レンズ、8……孔あきミラー、12
……可動ミラー、14……ホトマル、26……
LED、28……SPD、66……回折格子ミラー、
68……凹面鏡。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1 第1受光と、 第1受光部より感度特性の安定している第2受
光部と、 参照用光源を含み制御部からの制御信号によつ
て被測定物からの光を第1受光部へ、また参照用
光源からの光を第1受光部及び第2受光部へ導く
光学部と、 測定者の指示に従い被測定物からの光を上記光
学部の第1受光部へ導かせる第1制御信号、及び
参照用光源からの光を上記第1受光部及び第2受
光部へ導かせる第2制御信号を出力する制御部
と、 目盛り定め用の標準光源の理想の測光量として
予め入力される測光量Pr、標準光源を被測定物
とした際の標準光源の光による第1受光部の出力
Dr、目盛り定めの際の参照用光源の光による第
1受光部の出力Dpo、目盛り定めの際の参照用光
源の光による第2受光部の出力Dsoを記憶する記
憶部と、 被測定物からの光による第1受光部の出力
Dm、測定の際の参照用光源の光による第1受光
部の出力Dpt、測定の際の参照用光源の光による
第2受光部の出力Dst、及び上記記憶部から読み
出したDr.Dpo.Dsoを受け取り、被測定物の測光
量の測定値Pmを Pm=Pr×Dpo・Dst/Dpt・Dso×Dm/Dr の演算により求められる演算部とから構成される
ことを特徴とする測定器。 2 特許請求の範囲第1項に記載の測光器におい
て、上記記憶部は、目盛り定めのための標準光源
の測光量Prを目盛り定め前に記憶し、目盛り定
めの際に標準光源の光による第1受光部の出力
Dr並びに参照用光源の光による第1受光部の出
力Dpo及び第2受光部の出力Dsoを記憶すること
を特徴とする測光器。 3 特許請求の範囲第2項に記載の測光器におい
て、上記記憶部は、不揮発性メモリで構成されて
いることを特徴とする測光器。 4 特許請求の範囲第1項に記載の測光器におい
て、上記光学部は、上記制御部からの第2制御信
号に応じて参照用光源を点灯し、上記第1制御信
号に応じて被測定物からの光を第1受光部へ導か
せる第1光路を形成し、さらに上記第2制御信号
に応じて参照用光源からの光を第1受光部へ導か
せる第2光路と第2受光部へ導かせる第3光路と
を形成することを特徴とする測光器。 5 特許請求の範囲第4項に記載の測光器におい
て、上記光学部は、可動ミラーを含み、この可動
ミラーは上記第1制御信号を受け取ると上記第2
及び第3光路を遮閉して第1光路を形成し、上記
第2制御信号を受け取ると上記第1光路を遮閉し
て第2第3光路を形成することを特徴とする測光
器。 6 特許請求の範囲第4項に記載の測光器におい
て、上記光学部は、第1光路中にシヤツター部を
含み、このシヤツター部は上記第1制御信号のタ
イミングにより第1光路を形成し、上記第2制御
信号のタイミングにより第2光路を形成すること
を特徴とする測光器。 7 特許請求の範囲第1項に記載の測光器におい
て、上記光学部は、上記第1光路中に分光器を含
むことを特徴とする測光器。 8 特許請求の範囲第7項に記載の測光器におい
て、上記記憶部が記憶する目盛り定めのための標
準光源の測光量Pr、及びこの標準光源の光によ
る第1受光部の出力Dr、並びに被測定物からの
光による第1受光部の出力Dmは、分光データで
あることを特徴とする測光器。 9 特許請求の範囲第1項に記載の測光器におい
て、上記光学部は、第2受光部に導く参照用光源
からの光が第1受光部に導く参照用光源からの光
よりも多いことを特徴とする測光器。 10 特許請求の範囲第9項に記載の測光器にお
いて、第1受光部が光電子増倍管であり、第2受
光部がシリコンホトダイオードであり、また参照
用光源がLEDであることを特徴とする測光器。
Priority Applications (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP60030814A JPS61189424A (ja) | 1985-02-19 | 1985-02-19 | 測光器 |
US06/829,273 US4708477A (en) | 1985-02-19 | 1986-02-13 | Photometer |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP60030814A JPS61189424A (ja) | 1985-02-19 | 1985-02-19 | 測光器 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS61189424A JPS61189424A (ja) | 1986-08-23 |
JPH052084B2 true JPH052084B2 (ja) | 1993-01-11 |
Family
ID=12314158
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP60030814A Granted JPS61189424A (ja) | 1985-02-19 | 1985-02-19 | 測光器 |
Country Status (2)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US4708477A (ja) |
JP (1) | JPS61189424A (ja) |
Families Citing this family (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US6528791B1 (en) | 2000-10-13 | 2003-03-04 | Andros Incorporated | Infrared spectrophotometer employing sweep diffraction grating |
US9442064B1 (en) | 2015-03-10 | 2016-09-13 | Abb Schweiz Ag | Photometer with LED light source |
US20190310136A1 (en) * | 2016-10-25 | 2019-10-10 | Nokia Technologies Oy | Thermometer and associated method, apparatus and computer program product |
DE102018120006A1 (de) | 2018-08-16 | 2020-02-20 | Instrument Systems Optische Messtechnik Gmbh | Verfahren und Vorrichtung zur Überwachung eines Spektralradiometers |
Family Cites Families (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US323431A (en) * | 1885-08-04 | leeds | ||
US2400096A (en) * | 1942-06-08 | 1946-05-14 | Bradley Caton | Photographic measuring instrument |
US3502890A (en) * | 1965-06-10 | 1970-03-24 | Cary Instruments | Rotating sphere radiometer |
DE1772571A1 (de) * | 1967-06-15 | 1970-12-03 | Asahi Optical Co Ltd | Belichtungsmesser mit Lichtmessung durch das Objektiv fuer einaeugige Spiegelreflexkamera |
JPS506331A (ja) * | 1973-05-15 | 1975-01-23 |
-
1985
- 1985-02-19 JP JP60030814A patent/JPS61189424A/ja active Granted
-
1986
- 1986-02-13 US US06/829,273 patent/US4708477A/en not_active Expired - Lifetime
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
US4708477A (en) | 1987-11-24 |
JPS61189424A (ja) | 1986-08-23 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
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