JPH05196543A - 光線路試験方式 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【目的】 試験・制御装置設置ビルから他ビルへ光線路
を介して心線選択装置を張り出し、分割局に成端した光
ファイバケーブルの試験および監視ができるようにしシ
ステム設備コストの低減化と、さらに近端測定不能区間
長の短縮化とを図る。 【構成】 試験・制御装置（ＴＣ）５が設置されたビル
Ａ２と、ユーザビル４７からの加入者系光ケーブル４１
が成端された成端架（ＳＦ）４２を含むビルＢ４とは、
中継用光ケーブル２９を介して接続され、成端架（Ｓ
Ｆ）４２は試験・制御装置（ＴＣ）５の制御により、中
継用光ケーブル２９内の試験用光ファイバと加入者系光
ケーブル内の被試験光ファイバとを選択接続する張出用
１×Ｎ心線選択器（ＥＳ）３５を含み、この張出用１×
Ｎ心線選択器（ＥＳ）３５は、図外の光分岐モジュール
（ＰＭ）４０内の光カプラを介して折り返された試験光
を遮断する手段と、遮断点において低反射させる手段と
を含んでいる。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】本発明は、光伝送システムのオペ
レーション分野における光線路試験方式に利用する。

【０００２】本発明は、光合分岐器と、心線選択装置
と、試験装置およびＣＰＵを含む試験・制御装置とを含
む光線路試験方式に利用され、特に、光線路を介して試
験・制御装置設置ビルから他ビルへ心線選択装置を張り
出して、当該の他ビルに成端した光ファイバケーブルの
試験および監視を行う光線路試験方式に関する。

【０００３】

【従来の技術】光線路試験方式として、従来、特願昭６
３−１８６１６９号公報に記載されている方式が提供さ
れている。さらに具体的な構成例としてはＮＴＴ技術ジ
ャーナル（ＶＯＬ．３ Ｎｏ．１０）「光線路網の試験
管理業務を支援するＡＵＲＯＲＡ」に示されている。

【０００４】この従来の光線路試験方式を図７および図
８を参照して説明する。

【０００５】図７は前記光線路試験方式の概要を示す説
明図である。図７において、１は各種試験を遠隔で指示
するワークステーション（ＷＳ）、２は光ファイバケー
ブルの成端および前記光線路の試験装置を設置している
ビルＡ、３はユーザビル、５は試験装置（ＴＥ）１０、
ＣＰＵ（制御処理装置）９およびＬ×Ｍ心線選択装置
（ＥＳ）１１を搭載した試験・制御装置（ＴＣ）、６は
光ファイバケーブルの成端架（ＳＦ）、７は光分岐モジ
ュール（ＰＭ）、８は１×Ｎ心線選択装置（ＥＳ）、１
０は光パルス試験装置、損失試験用光源、心線対照用光
源および光パワーメータを含む試験装置（ＴＥ）、１２
は局外光ケーブル、１３は局内光ケーブル、１４は局内
側伝送装置（ＩＴ）、１５は局外側伝送装置（ＯＴ）、
１６は通信光を透過してかつ試験光を反射する光フィル
タ型の故障切分け器、１７はワークステーション（Ｗ
Ｓ）１と試験・制御装置（ＴＣ）５間でのデータ通信回
線、ならびに、１８は１×Ｎ心線選択装置（ＥＳ）８と
Ｌ×Ｍ心線選択装置（ＥＳ）１１間を結ぶ光ファイバコ
ードである。

【０００６】図８は図７で示したシステム概要図に関し
て、特に、試験・制御装置（ＴＣ）５および光ファイバ
ケーブル成端架（ＳＦ）６の一例を示すブロック構成図
であり、図７の各部に対応する部分には、同一参照符号
を付して、これらの説明を省略する。図８において、７
ａは２×２ポートからなる光カプラ（Ｃ）であり、７ｂ
は通信光を透過して試験光を遮断する光フィルタであ
る。８ａは１×Ｎ心線選択装置（ＥＳ）８のマトリック
ス部であり、光分岐モジュール（ＰＭ）７から分岐され
た光ファイバの終端に光コネクタを取りつけて、マトリ
ックス部８ａに固定したものである。８ｂは１×Ｎ心線
選択装置（ＥＳ）８のヘッド部光コネクタであり、マト
リックス部８ａに固定された任意の前記光コネクタに接
続できる。１０ａは光パルス試験装置（ＰＴ）、１０ｂ
は心線対照用光源（ＷＰ）、１０ｃは損失試験用光源
（ＬＰ）、ならびに１０ｄは光パワーメータ（ＰＰ）で
あり、１０ｅおよび１０ｆはそれぞれ光パワーメータ
（ＰＰ）１０ｄの受光ＣＨ１およびＣＨ２である。１１
ａはＬ×Ｍ心線選択装置（ＥＳ）１１のマトリックス
部、１１ｂはＬ×Ｎ心線選択装置１１のヘッド駆動部、
１１ｃはＣＰＵ９からの動作指示により、１×Ｎ心線選
択装置（ＥＳ）８および心線選択装置のヘッド駆動部１
１ｂを駆動させる制御回路（ＣＴ）である。１２ａは局
外光ケーブル内の光ファイバ心線ａであり、１３ａは局
内光ケーブル内の光ファイバ心線ａである。１８ａおよ
び１８ｂは１×Ｎ心線選択装置（ＥＳ）８とＬ×Ｍ心線
選択装置（ＥＳ）１１とを結ぶ光ファイバａおよび光フ
ァイバｂであり、１９ａおよび１９ｂはそれぞれマトリ
ックス部８ａに固定した光コネクタａおよび光コネクタ
ｂである。２０ａおよび２０ｂはそれぞれ光分岐モジュ
ール（ＰＭ）７から分岐した光ファイバａおよび光ファ
イバｂである。２１ａおよび２１ｂはそれぞれＬ×Ｍ心
線選択装置（ＥＳ）１１のマトリックス部１１ａに固定
した光コネクタａおよび光コネクタｂであり、２２ａお
よび２２ｂはＬ×Ｍ心線選択装置（ＥＳ）１１のヘッド
駆動部１１ｂに設置したヘッド部の光コネクタａ、およ
び光コネクタｂである。

【０００７】次に、図７のシステム構成によって光パル
ス試験を実施した例について図８を参照して説明する。

【０００８】図８において、光ファイバ心線１２ａを試
験する場合、１×Ｎ心線選択装置（ＥＳ）８において、
ヘッド部光コネクタ８ｂを光コネクタ１９ａに接続し、
かつ、Ｌ×Ｍ心線選択装置（ＥＳ）１１において、ヘッ
ド部光コネクタ２１ａとマトリックス部光コネクタ２２
ａとを接続する。これにより、光パルス試験装置（Ｐ
Ｔ）１０ａから送出した光パルスは、Ｌ×Ｍ心線選択装
置（ＥＳ）１１のヘッド部光コネクタ２１ａ、マトリッ
クス部光コネクタ２２ａ、光ファイバ１８ａ、１×Ｎ心
線選択装置（ＥＳ）８のヘッド部光コネクタ８ｂ、光コ
ネクタ１９ａ、光ファイバ２０ａ、および光カプラ
（Ｃ）７ａを伝達して光ファイバ心線１２ａに挿入す
る。

【０００９】そして、この挿入された光パルスは、光フ
ァイバ心線１２ａ内で散乱して、その散乱光のうち後方
散乱成分は光信号として前述の光パルスの進行経路を逆
戻りする。前記の状態において、局外側伝送装置（Ｏ
Ｔ）１５からの光信号は前記光信号と同様に光カプラ
（Ｃ）７ａ、１×Ｎ心線選択装置（ＥＳ）８およびＬ×
Ｍ心線選択装置（ＥＳ）１１を介して通信光遮断光フィ
ルタ（Ｆ）２３点まで伝達するが、通信光遮断光フィル
タ（Ｆ）２３において、前記通信光は遮断されるため、
後方散乱した光パルスの信号のみが通過して、光パルス
試験装置（ＰＴ）１０ａに到達して信号解析される。

【００１０】一方、光カプラ（Ｃ）７ａに到達した前述
の光パルスは一部が光ファイバ２０ｂ方向に折り返され
て１×Ｎ心線選択装置（ＥＳ）８、Ｌ×Ｍ心線選択装置
（ＥＳ）１１のマトリックス部光コネクタ２２ｂ、およ
びヘッド部光コネクタ２１ｂを通過して光パワーメータ
（ＰＰ）１０ｄのＣＨ２１０ｆに到達する。これによ
り、光パルス試験装置（ＰＴ）１０ａの光源、１×Ｎ心
線選択装置（ＥＳ）８およびＬ×Ｍ心線選択装置（Ｅ
Ｓ）１１のセルフチェックを行うことができる。

【００１１】以上に述べた従来の光線路試験方式によれ
ば、光パルス試験装置（ＰＴ）１０ａ以外の試験装置で
ある心線対照用光源（ＷＰ）１０ｂ、損失試験用光源
（ＬＰ）１０ｃ、および光パワーメータ（ＰＰ）１０ｄ
においても１×Ｎ心線選択装置（ＥＳ）８とＬ×Ｍ心線
選択装置（ＥＳ）１１の心線選択装置の接続組合せによ
って任意の試験装置と任意の光ファイバ心線を接続する
ことができる。従って、任意の光ファイバ心線に対し
て、光パルス試験、光損失用光源の送出、心線対照用光
源の送出、光伝送路の故障切分け（特願平２−２３２７
３４参照）、および故障位置探索がワークステーション
（ＷＳ）１から遠隔でかつ自動的に実施でき、さらに、
光パルス試験および心線対照については通信中の光ファ
イバ心線に対して実施できる手段を提供することができ
た。

【００１２】

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、前述の
従来の光線路試験方式において、特に、光パルス試験で
は、光パルス試験装置（ＰＴ）１０ａから送出された光
パルスはＬ×Ｍ心線選択装置（ＥＳ）１１、光ファイバ
１８ａおよび１×Ｎ心線選択装置（ＥＳ）８を通り光カ
プラ（Ｃ）７ａにおいて光ファイバ心線１２ａに挿入さ
れる光と、光カプラ（Ｃ）７ａで折り返して１×Ｎ心線
選択装置（ＥＳ）８、光ファイバ１８ｂおよびＬ×Ｍ心
線選択装置（ＥＳ）１１を通り光パワーメータ（ＰＰ）
１０ｄに挿入される光とに分かれるため、光パルス試験
装置（ＰＴ）１０ａから光カプラ（Ｃ）７ａの区間長を
Ｌとしたとき、局外光ケーブル１２において、光カプラ
（Ｃ）７ａから区間長Ｌの区間の光パルス後方散乱光に
は、光カプラ（Ｃ）７ａから光パワーメータ（ＰＰ）１
０ｄまでの光ファイバからの後方散乱光が加算されて光
パルス試験装置（ＰＴ）１０ａに戻る。従って、前記区
間長Ｌが長くなると局外光ファイバケーブル１２の近端
測定不能区間が長くなる問題点があり、光カプラ（Ｃ）
７ａと試験装置（ＴＥ）１０の区間を長くすることがで
きなかった。

【００１３】前記区間Ｌを長くした場合の光パルス試験
における測定波形図とシステム構成ブロック図を図９に
示す。ここで、図９（ａ）はシステム構成図、および図
９（ｂ）は光パルス試験における測定波形図である。図
９（ｂ）において、縦軸が後方散乱光の光レベル、横軸
が光パルス試験装置からの距離である。図９（ｂ）中の
Ａは光パルス試験装置（ＰＴ）１０ａの位置、Ｂは光カ
プラ（Ｃ）７ａの位置を示し、ＡからＣの区間は測定不
能区間を示す。

【００１４】図９（ａ）および（ｂ）において、５１ａ
および５１ｂは光パルスの進行経路、５２ａは５１ａか
らの後方散乱光による信号波形であり、５２ｂは実際に
測定される信号波形である。

【００１５】図９（ｂ）に示すように、従来の光線路試
験方式では、光パルスの進行経路５１ａと５１ｂの両者
からの後方散乱光が加算されて測定されるため、Ｂ−Ｃ
区間が実際の局外光ケーブル１２の区間の波形５２ａと
は異なり、測定不能区間が存在する。また、Ａ−Ｂ′区
間は光パルス試験装置（ＰＴ）１０ａの受光部が飽和す
るため、前記測定不能区間はＡ−Ｂ区間よりさらに長く
なる。

【００１６】以上に述べた問題点により、従来の光線路
試験方式においては、光カプラの近傍に心線選択装置お
よび試験・制御装置を配置して、ワークステーションか
ら遠隔制御する方式が採られ、光カプラおよび心線選択
装置を光線路を介して試験・制御装置に対して張り出
し、かつ当該の心線選択装置を試験制御装置またはワー
クステーションから遠隔制御する考えはなかった。

【００１７】従って、従来の光線路試験方式では、光カ
プラの近傍に心線選択装置および試験制御装置を配置
し、かつこれを各試験局ごとに設けなければならないの
で、システムの設備コストが増大する欠点と、測定不能
区間の発生により正確に光線路試験ができない欠点があ
った。

【００１８】本発明の目的は、前記欠点を除去すること
により、測定不能区間を低減するとともに設備コストを
低減できる光線路試験方式を提供することにある。

【００１９】

【課題を解決するための手段】本発明は、光ファイバに
挿入された光カプラを含む光分岐モジュールと、この光
分岐モジュールの近傍に配置され試験光ファイバの選択
を行う第一の心線選択装置と、試験装置、この試験装置
と前記第一の心線選択装置との接続を行う第二の心線選
択装置および試験制御処理装置を有する試験・制御装置
とを含む第一試験局を備えた光線路試験方式において、
前記第一の試験局と中継用光ケーブルを介して接続さ
れ、前記光分岐モジュールと、この光分岐モジュールに
近接して配置され前記第一試験局内の前記試験・制御装
置の制御により試験光ファイバの選択を行う第三の心線
選択装置とを含む少なくとも一つの第二試験局を備えた
ことを特徴とする。

【００２０】また、本発明は、前記第一および第三の心
線選択装置は、ヘッド部に前記光カプラを介して折り返
された光信号を遮断する光信号遮断手段と、遮断した光
伝送路の端末を低反射とする低反射手段とを含むことが
できる。

【００２１】また、本発明は、前記第二試験局は、前記
中継用光ケーブルの試験に使用する心線を集束する集束
手段を含むことができる。

【００２２】また、本発明は、前記試験・制御装置の制
御を局外より遠隔制御するための遠隔制御手段を備える
ことができる。

【００２３】

【作用】第一試験局（例えばビルＡ）は、その試験制御
装置により、中継用光ケーブルを介して、第二試験局
（例えばビルＢ）の第三の心線選択装置を制御して被試
験光ファイバを選択して試験または監視を行う。

【００２４】従って、試験・制御装置を各試験局ごとに
設ける必要がなくなり、システムの設備コストを低減す
ることが可能となる。

【００２５】また、第一および第三の心線選択装置に
は、光カプラを折り返した光パルスを遮断し、さらに遮
断点における光ファイバを斜めに切断するなどの低反射
処理手段を設けられるので、折り返し光パルスによる近
端測定不能距離を大幅に短くすることが可能となる。

【００２６】また、第二試験局には中継用光ケーブル内
の試験用光ファイバを集束する集束手段が設けられるの
で、中継用光ケーブルで使用する試験用光ファイバの心
線数を少なくできる。

【００２７】さらに、ワークステーションにより試験局
の遠隔制御も可能である。

【００２８】

【実施例】以下、本発明の実施例について図面を参照し
て説明する。

【００２９】図１は本発明の第一実施例を示すブロック
構成図である。

【００３０】図１において、図７に示した従来の光線路
試験方式における各部に対応する部分には、同一参照符
号を付して、これらの説明を省略する。図１において、
２９は中継用光ケーブル、２４は中継用光ケーブル２９
を成端する成端架（ＳＦ）、２６は制御用に用いる信号
において電気信号と光信号を変換するビルＡ２側の制御
用信号変換器（ＣＶ）、２７ａは制御信号を伝送するビ
ルＡ２側の制御用光ファイバ、２７ｂは制御信号を伝送
するビルＢ４側の制御用光ファイバ、２８はビルＡ２側
の試験用光ファイバ、３２はビルＢ４側の試験用光ファ
イバ、３３は制御用に用いる信号において電気信号と光
信号を変換するビルＢ側の信号変換器（ＣＶ）、３４は
中継用光ケーブル２９を成端する成端架（ＳＦ）、３５
は張出用１×Ｎ心線選択装置（ＥＳ）、４０は光分岐モ
ジュール（ＰＭ）、４１は加入者系光ケーブル、４１ａ
は光ファイバａ、４２は加入者系光ファイバを成端する
成端架（ＳＦ）、４３は局外側伝送装置（ＯＴ）、４４
は局内側伝送装置（ＩＴ）、ならびに４７はユーザビル
である。

【００３１】本発明の特徴とするところは、図１におい
て、第一試験局としてのビルＡ２と中継用光ケーブル２
９を介して接続され、光分岐モジュール（ＰＭ）４０
と、この光分岐モジュール（ＰＭ）４０に近接して配置
されビルＡ２内の試験・制御装置（ＴＣ）５の制御によ
り試験光ファイバの選択を行う第三の心線選択装置とし
ての張出用１×Ｎ心線選択装置（ＥＳ）３５とを含み第
二試験局としてのビルＢ４を備え、さらに、ワークステ
ーション（ＷＳ）１により遠隔制御できるようにしたこ
とにある。

【００３２】次に、本第一実施例の動作について説明す
る。

【００３３】図１においてビルＢ４に成端されている光
ファイバ４１ａを試験する場合、ワークステーション
（ＷＳ）１からデータ通信回線１７を介して、試験・制
御装置（ＴＣ）５のＣＰＵ９へ試験心線と試験項目を指
示する。ＣＰＵ９は、ワークステーション（ＷＳ）１か
らの指示により、試験装置（ＴＥ）１０およびＬ×Ｍ心
線選択装置（ＥＳ）１１に試験の動作をプログラム制御
する。

【００３４】Ｌ×Ｍ心線成端装置（ＥＳ）１１は、光フ
ァイバ４１ａの対応する心線と試験装置（ＴＥ）１０と
を接続するとともに、張出用１×Ｎ心線成端装置（Ｅ
Ｓ）３５へ信号変換器（ＣＶ）２６、ビルＡ２側の制御
用光ファイバ２７ａ、中継用光ケーブル２９、ビルＢ４
側の制御用光ファイバ２７ｂ、および信号変換器（Ｃ
Ｖ）３３を介して制御用信号を送信して、１×Ｎ心線選
択装置（ＥＳ）３５に対して光ファイバ４１ａを選択し
て、試験装置（ＴＥ）１０から延びたビルＢ４側の試験
用光ファイバ３２と接続する。これにより、ビルＡ２か
ら中継用光ケーブル２９を介してビルＢ４に成端してい
る加入者系光ケーブル４１を試験または監視できる。

【００３５】以上の動作の説明から明らかなように、従
来の各ビルに対して１×Ｎ心線選択装置および試験制御
部を設置したシステム構成による光線路試験方式に対し
て、ビル間の中継用光ケーブル２９を用いることによ
り、試験・制御装置を集約できる点で効果がある。

【００３６】図２および図３は本発明の第二実施例の要
部を示すブロック構成図で、図２はビルＡ２を示し、図
３はビルＢ４を示す。

【００３７】図２および図３において、図１および図８
の各部に対応する部分には、同一参照符号を付して、こ
れらの説明を省略する。

【００３８】図２において、２５はビルＡ２の中継光ケ
ーブル成端架（ＳＦ）２４内の局内光ファイバと局外成
端光ファイバを接続する接続部、２５ａはその接続用光
コネクタである。２８ａ、２８ｂ、２８ｃおよび２８ｄ
はそれぞれＬ×Ｍ心線選択装置（ＥＳ）１１と中継用ケ
ーブル２９を繋ぐ試験用光ファイバａ、ｂ、ｃおよびｄ
である。

【００３９】図３において、３０は中継用光ケーブル２
９と試験用光ファイバ３２を接続する接続部であり、３
０ａはその試験用光コネクタである。３２ａ、３２ｂ、
３２ｃおよび３２ｄはそれぞれビルＢ４側で試験線用に
使用している試験用光ファイバａ、ｂ、ｃおよびｄであ
る。３５ａは張出用１×Ｎ心線選択装置（ＥＳ）３５の
マトリックス部であり、３５ｂは張出用１×Ｎ心線選択
装置（ＥＳ）３５のヘッド部光コネクタ、３６ａはマト
リックス部３５ａの光コネクタａ、３６ｂはその光コネ
クタｂであり、３７ａおよび３７ｂはそれぞれ光ファイ
バａおよびｂである。３８は切替スイッチ部、３８ａは
ヘッド部（１）、３８ｂはヘッド部（２）、３８ｃはマ
トリックス部（１）、３８ｄはマトリックス部（２）、
３９ａおよび３９ｂはそれぞれ光ファイバａおよびｂで
あり、４０ａは光カプラ（Ｃ）、４０ｂは光フィルタ、
ならびに４５は張出用１×Ｎ心線選択装置（ＥＳ）３５
の制御線である。

【００４０】本発明の特徴とするところは、図３におい
て、張出用１×Ｎ心線選択装置（ＥＳ）３５は、ヘッド
部に光カプラ（Ｃ）４０ａを介して折り返された光信号
を遮断する光信号遮断手段、および中継用光ケーブルの
試験に使用する心線を集束する集束手段としての、切替
スイッチ部３８を設けたことにある。

【００４１】次に、本第二実施例の動作をビルＢ４に成
端した加入者系光ケーブル４１の光ファイバａ４１ａを
光パルス試験する場合について説明する。

【００４２】光ファイバａ４１ａを光パルス試験する場
合、Ｌ×Ｍ心線選択装置（ＥＳ）１１においてヘッド部
光コネクタ２１ａと試験用光ファイバ２８ａのマトリッ
クス部１１ａ側光終端コネクタとを接続する。これによ
り光パルス試験装置（ＰＴ）１０ａから送出した光パル
スはＬ×Ｍ心線選択装置（ＥＳ）１１のヘッド部光コネ
クタ２１ａ、試験用光ファイバａ２８ａ、局内・局外光
ファイバ接続部２５、および中継用光ケーブル２９を介
してビルＢ４に達する。

【００４３】ビルＢ４において、前記光パルスは局内・
局外光ファイバ接続部３０および試験用光ファイバａ３
２ａを介して張出用１×Ｎ心線選択装置（ＥＳ）３５に
達する。ここで、切替スイッチ部３８のヘッド部（１）
３８ａとマトリックス部（１）３８ｃにおいて、試験用
光ファイバａ３２ａと光ファイバａ３９ａとが接続でき
る位置にヘッド部（１）３８ａを移動することによっ
て、前述の光パルスは光ファイバａ３９ａおよび（Ｃ）
光カプラ４０ａを介して光ファイバａ４１ａに挿入でき
る。光ファイバａ４１ａ内において光パルスの後方散乱
光による光信号は、前述の光パルスの進行経路を逆戻り
して光パルス試験装置（ＰＴ）１０ａに挿入される。

【００４４】ところで、光カプラ（Ｃ）４０ａまで達し
た前述の光パルスの一部は光ファイバｂ３７ｂに折り返
すことによって、加入者系光ケーブル４１の近端測定不
能距離が長くなるが、切替スイッチ部３８においてヘッ
ド部（２）３８ｂを試験用光ファイバｃ３２ｃと光ファ
イバｄ３７ｄが接続される側に移動することよって、図
３のように、切替スイッチ部３８において前記光パルス
を遮断することができる結果、前述の近端測定不能距離
を短くすることができる。一方、図３に示すように、切
替スイッチ部３８を用いることによって、光コネクタａ
３６ａの光ファイバ心線数に対して、中継用光ケーブル
２９で使用する試験用光ファイバの心数を１／２に逓減
できる。

【００４５】以上説明したように、本第二実施例は、第
一実施例に比べて、光パルス試験時に試験する光ファイ
バの近端測定距離を短くする点およびビル間の中継用光
ケーブル２９で使用する試験用光ファイバの心数を逓減
できる効果がある。特に、前述の近端測定不能距離につ
いては、従来はビル間の中継用光ケーブル２９に比例し
て長くなり、前記光ケーブル区間が１０ｋｍの場合は近
端測定不能距離も１０ｋｍ以上であったが、本第二実施
例による切替スイッチ部３８により、数十ｍから数百ｍ
に短くできる。

【００４６】図４および図５は本発明の第三実施例の要
部を示すブロック構成図で、いずれも張出用１×Ｎ心線
選択装置（ＥＳ）３５のヘッド部の構成を示す。図４お
よび図５において図３に対応する部分には、同一参照符
号を付して、これらの説明を省略する。

【００４７】図４および図５において、４８ａ、４８
ｂ、４８ｃおよび４８ｄは低反射処理端末光ファイバで
ある。

【００４８】本発明の特徴とするところは、図４および
図５において、光カプラ（Ｃ）４０ａを介して折り返さ
れる光信号を遮断する光ファイバとして、端末を斜めに
切断した低反射処理端末光ファイバ４８ａ、４８ｂおよ
び４８ｃを設けたことにある。なお、低反射手段として
光吸収板を用いてもよい。

【００４９】次に、本第三実施例の動作について説明す
る。

【００５０】光パルス試験装置（ＰＴ）１０ａから試験
用光ファイバａ３２ａを伝達して送信された光パルス
は、ヘッド部（１）３８ａ、マトリックス部（１）３８
ｃおよび光カプラ（Ｃ）４０ａを通過して、マトリック
ス部（２）３８ｄに達する。ここで、ヘッド部（２）３
８ｂを光ファイバｂ３９ｂと光ファイバ４８ａとを接続
状態にする。光ファイバ４８ａの端末はフレネル反射を
逓減する処理を施したものであり、前述の光パルスは光
ファイバ４８ａ点で強い反射を伴わない。一方、光ファ
イバ４８ａ点で強い反射を伴う場合は、光パルス試験装
置（ＰＴ）１０ａの受光部において前記反射による受光
レベルの急激な変化に光信号対電気信号変換の応答速度
が追従できないため、光ファイバａ４１ａを測定する場
合、光カプラ（Ｃ）４０ａからの測定不能距離区間が増
大する問題がある。従って、前記測定不能区間を逓減す
るためには、光パルスの遮断点において強い反射を伴わ
ない処理を施す必要がある。

【００５１】次に、ヘッド部（１）３８ａとマトリック
ス部（１）３８ｃにおいて、光ファイバｂ３９ｂを伝達
した前述の光パルス光をループバックして、光パワーメ
ータ（ＰＰ）１０ｄで受光する場合は、図５に示すよう
に、光ヘッド部（２）３８ｂを光ファイバｂ３９ｂと試
験用光ファイバｃ３２ｃとが接続できる状態に移動す
る。これにより、前述の光パルスは試験用光ファイバｃ
３２ｃを伝達して、光パワーメータ（ＰＰ）１０ｄに挿
入できる。

【００５２】以上説明したように、本第三実施例は光カ
プラ（Ｃ）４０ａを介して折り返した光パルスを遮断す
るとき、前記遮断点からの強い反射を抑えることによっ
て、被測定光ファイバの測定不能区間をより逓減する効
果がある。

【００５３】図６（ａ）および（ｂ）は本第三実施例を
用いて、張出用心線選択装置を用いない従来例の場合
（同図（ａ））と、用いた場合（同図（ｂ））とを比較
して示したものである。

【００５４】図６（ａ）においては、点線で示す正常波
形に対して、実線で示す測定波形は正常波形とはかけ離
れた特性となり、大きな測定不能区間が存在する。これ
に対し、図６（ｂ）においては、測定波形と正常波形と
は一致しており、極めて小さな測定不能区間が存在する
だけである。

【００５５】

【発明の効果】以上説明したように、本発明は、試験局
としての試験・制御装置設置ビルから中継用光ケーブル
を介して、他ビルに成端した光線路の試験および監視が
できるため、従来と比べて、試験・制御装置を集約で
き、１試験・制御装置で賄う光ファイバケーブル数を増
やすことができ、システムの設備コストを低減できる効
果がある。

【００５６】また、本発明で用いる１×Ｎ心線選択装置
では、光カプラを介して折り返した光パルスを遮断し、
さらには遮断点に低反射手段を設けることによって、被
測定光ファイバの測定不能区間を大幅に逓減でき、正確
に試験および監視を行うことができる効果がある。

【００５７】さらに、中継用光ケーブルの心線の集束手
段を設けることにより、中継用光ケーブルで使用する光
ファイバの心数を逓減できる効果がある。またさらに、
局外のワークステーションで制御できるため、遠隔制御
ができる効果がある。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明の第一実施例を示すブロック構成図。

【図２】本発明の第二実施例におけるビルＡを示すブロ
ック構成図。

【図３】本発明の第二実施例におけるビルＢを示すブロ
ック構成図。

【図４】本発明の第三実施例における張出用心線選択装
置の動作の一例を説明するためのシステム構成図。

【図５】本発明の第三実施例における張出用心線選択装
置の動作の他の例を説明するためのシステム構成図。

【図６】本発明の第三実施例における光パルス試験の測
定波形を従来例と比較して示した図。

【図７】従来例を示すブロック構成図。

【図８】図７の要部詳細を示すブロック構成図。

【図９】図７における光線路試験の一例を説明するため
のシステム構成と測定波形を示す図。

【符号の説明】

１ ワークステーション（ＷＳ） ２ ビルＡ ３ ユーザビル ４ ビルＢ ５ 試験・制御装置（ＴＣ） ６ 成端架（ＳＦ） ７ 光分岐モジュール（ＰＭ） ７ａ 光カプラ（Ｃ） ７ｂ 光フィルタ ８ １×Ｎ心線選択装置（ＥＳ） ８ａ １×Ｎ心線選択装置のマトリックス部 ８ｂ １×Ｎ心線選択装置のヘッド部光コネクタ ９ ＣＰＵ １０ 試験装置（ＴＥ） １０ａ 光パルス試験装置（ＰＴ） １０ｂ 心線対照用光源（ＷＰ） １０ｃ 損失試験用光源（ＬＰ） １０ｄ 光パワーメータ（ＰＰ） １０ｅ 受光ＣＨ１ １０ｆ 受光ＣＨ２ １１ Ｌ×Ｍ心線選択装置（ＥＳ） １１ａ マトリックス部 １１ｂ ヘッド駆動部 １１ｃ 制御回路（ＣＴ） １２ 局外光ケーブル １２ａ 局外光ケーブル内の光ファイバ心線ａ １３ 局内光ケーブル １３ａ 局内光ケーブル内の光ファイバ心線ａ １４ 局内側伝送装置（ＩＴ） １５ 局外側伝送装置（ＯＴ） １６ 故障切分け器 １７ データ通信回線 １７ａ モデム（Ｍ） １８ 光ファイバコード １８ａ、２０ａ 光ファイバａ １８ｂ、２０ｂ 光ファイバｂ １９ａ 光コネクタａ １９ｂ 光コネクタｂ ２１ａ Ｌ×Ｍ心線選択装置のヘッド部光コネクタａ ２１ｂ Ｌ×Ｍ心線選択装置のヘッド部光コネクタｂ ２２ａ Ｌ×Ｍ心線選択装置のマトリックス部光コネ
クタａ ２２ｂ Ｌ×Ｍ心線選択装置のマトリックス部光コネ
クタｂ ２３ 試験光透過・通信光遮断光フィルタ（Ｆ） ２４ 中継光ケーブル成端架（ＳＦ） ２５ 局内・局外光ファイバ接続部 ２５ａ 接続用光コネクタ ２６ 制御用信号変換器（ＣＶ） ２７ａ ビルＡ側制御用光ファイバ ２７ｂ ビルＢ側制御用光ファイバ ２８ ビルＡ側試験用光ファイバ ２８ａ 試験用光ファイバａ ２８ｂ 試験用光ファイバｂ ２８ｃ 試験用光ファイバｃ ２８ｄ 試験用光ファイバｄ ２９ 中継用光ケーブル ３０ 局内・局外光ファイバ接続部 ３０ａ 試験用光コネクタ ３１ ビルＢ側局内光ファイバ ３２ ビルＢ側試験用光ファイバ ３２ａ 試験用光ファイバａ ３２ｂ 試験用光ファイバｂ ３２ｃ 試験用光ファイバｃ ３２ｄ 試験用光ファイバｄ ３３ 制御用信号変換器（ＣＶ） ３４ 中継用光ケーブルを成端する成端架（ＳＦ） ３５ 張出用１×Ｎ心線選択装置（ＥＳ） ３５ａ マトリックス部 ３５ｂ ヘッド部光コネクタ ３６ａ 光コネクタａ ３６ｂ 光コネクタｂ ３７ａ 光ファイバａ ３７ｂ 光ファイバｂ ３８ 切替スイッチ部 ３８ａ ヘッド部（１） ３８ｂ ヘッド部（２） ３８ｃ マトリックス部（１） ３８ｄ マトリックス部（２） ３９ａ 光ファイバａ ３９ｂ 光ファイバｂ ４０ 光分岐モジュール（ＰＭ） ４０ａ 光カプラ（Ｃ） ４０ｂ 光フィルタ ４１ 加入者系光ケーブル ４１ａ 光ファイバａ ４１ｂ 光ファイバｂ ４２ 成端架（ＳＦ） ４３ 局外側伝送装置（ＯＴ） ４４ 局内側伝送装置（ＩＴ） ４５ 制御線 ４８ａ〜４８ｄ 低反射処理端末光ファイバ ５１ａ、５１ｂ 光パルスの進行経路 ５２ａ 後方散乱光による信号波形 ５２ｂ 実際に測定された信号波形

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.⁵ 識別記号 庁内整理番号 ＦＩ 技術表示箇所 Ｈ０４Ｂ 10/08 (72)発明者 千田 良一 東京都千代田区内幸町一丁目１番６号 日 本電信電話株式会社内 (72)発明者 赤井 隆真 東京都千代田区内幸町一丁目１番６号 日 本電信電話株式会社内 (72)発明者 新福 正明 東京都千代田区内幸町一丁目１番６号 日 本電信電話株式会社内

Claims (4)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 光ファイバに挿入された光カプラを含む
   光分岐モジュールと、 この光分岐モジュールの近傍に配置され試験光ファイバ
   の選択を行う第一の心線選択装置と、 試験装置、この試験装置と前記第一の心線選択装置との
   接続を行う第二の心線選択装置および試験制御処理装置
   を有する試験・制御装置とを含む第一試験局を備えた光
   線路試験方式において、 前記第一の試験局と中継用光ケーブルを介して接続さ
   れ、前記光分岐モジュールと、この光分岐モジュールに
   近接して配置され前記第一試験局内の前記試験・制御装
   置の制御により試験光ファイバの選択を行う第三の心線
   選択装置とを含む少なくとも一つの第二試験局を備えた
   ことを特徴とする光線路試験方式。
2. 【請求項２】 前記第一および第三の心線選択装置は、
   ヘッド部に前記光カプラを介して折り返された光信号を
   遮断する光信号遮断手段と、遮断した光伝送路の端末を
   低反射とする低反射手段とを含む請求項１記載の光線路
   試験方式。
3. 【請求項３】 前記第二試験局は、前記中継用光ケーブ
   ルの試験に使用する心線を集束する集束手段を含む請求
   項１または請求項２記載の光線路試験方式。
4. 【請求項４】 前記試験・制御装置の制御を局外より遠
   隔制御するための遠隔制御手段を備えた請求項１ないし
   請求項３のいずれか一つに記載の光線路試験方式。