JPH0518720Y2 - - Google Patents

Info

Publication number
JPH0518720Y2
JPH0518720Y2 JP19290387U JP19290387U JPH0518720Y2 JP H0518720 Y2 JPH0518720 Y2 JP H0518720Y2 JP 19290387 U JP19290387 U JP 19290387U JP 19290387 U JP19290387 U JP 19290387U JP H0518720 Y2 JPH0518720 Y2 JP H0518720Y2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
scanning
electron beam
window
scan
foil
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Lifetime
Application number
JP19290387U
Other languages
English (en)
Other versions
JPH0197300U (ja
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed filed Critical
Priority to JP19290387U priority Critical patent/JPH0518720Y2/ja
Publication of JPH0197300U publication Critical patent/JPH0197300U/ja
Application granted granted Critical
Publication of JPH0518720Y2 publication Critical patent/JPH0518720Y2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Lifetime legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Recrystallisation Techniques (AREA)
  • Physical Or Chemical Processes And Apparatus (AREA)

Description

【考案の詳細な説明】 (ア) 技術分野 この考案はダブルチヤンネル型ウインドウを有
する走査型電子線照射装置に於ける電子線走査機
構の改良に関する。
電子線照射装置は、高真空中で電子線を発生さ
せ、加速し、走査し、これを大気中に取出して、
被処理物に照射するものである。
(イ) 従来技術 第5図は走査型電子線照射装置の一部分のみの
概略正面図である。
走査管1は、底部が広い等脚台形状の、幅の狭
い容器である。走査コイル(マグネツト)があつ
て、電子線を左右に走査するようになつている。
走査管1に於て、電子は鉛直下方へ飛んでいる
が、走査コイルによるローレンツ力によつて、左
右に振れる。
第6図は走査管下端の一部縦断面図である。
走査管1の下端に走査管フランジ2がある。こ
れと窓箔押えフランジ3の間に窓箔5が支持され
ている。ここが電子線の出る部分であつて、照射
窓4という。
照射窓4の下を被処理物6が通るようになつて
いる。
被処理物6は照射窓4の長手方向(y方向)と
直角な方向(x方向)に送られる。
被処理物6は大気圧下にある。走査管1の内部
は高真空である。そこで、窓箔5は、真空と大気
の境界となる。
窓箔5には大気圧が全てかかる。窓4の面積が
広ければ、窓箔5に働く張力も大きい。強い張力
に耐えるためには厚い方がよい。しかし、電子線
をよく通すためには薄い方がよい。
電子線はエネルギーが大きくても、電荷をもつ
ので、散乱されやすく、薄い金属箔であつても容
易に透過できない。
そこで、たとえばTi箔であれば、15〜50μm厚
さ、Al箔であれば30〜150μmの薄い箔が使われ
る。窓箔に当つてエネルギーを失う電子も多いの
で、窓箔は強く加熱される。
そこで、水冷パイプ10や、冷却風などによつ
て窓箔5は冷却される。
走査型の場合、窓箔に過度の電子線が当ると破
断するので、窓箔に当てられる電子線のエネルギ
ーが限られる。処理能力を上げるには、電子線電
流を上げる必要がある。しかし、窓箔単位時間単
位面積あたりにあてられる電子線電流に限りがあ
る。
とすれば、窓箔を広くするしか、処理能力を上
げる途がない。単に照射窓を広くすると、内外圧
力差による張力が大きくなり、箔が破断しやす
い。
そこで、照射窓をふたつにする事がある。これ
をダブルチヤンネル型ウインドウ、或はダブルウ
インドウ型という。第5図、第6図に示すのはダ
ブルチヤンネル型ウインドウのものである。中間
に桟や水冷パイプがあり、照射窓が2分割されて
いる。窓箔は1枚であるが、中間に桟、水冷パイ
プがあるから張力がほぼ半減するのである。
ダブルウインドウを電子線で走査するには、照
射窓4,4を長手方向に、反対方向へ走査する。
2つの照射窓をウインドウI、ウインドウとい
うと、ウインドウIを右から左へ走査し、電子線
を、ウインドウへ移し、これを左から右へ走査
する。つまり、長方形軌跡を描くように走査す
る。
ところが、実際こうなつていない事に本考案者
は気付いた。
実際には、第3図のように、平行四辺形の走査
になつている。
長方形ではなく平行四辺形走査となるのであ
る。ウインドウIでHIというY方向走査をし、
X方向走査によりIJという運動をする。ウインド
ウではJを起点として、JKのY方向走査をす
る。
X方向は短辺方向、Y方向は長手方向である。
第4図に示すように、X方向走査波形は矩形
波、Y方向走査波形は三角波である。走査は、マ
グネツトにより磁場を生じることにより行う。ロ
ーレンツ力により電子軌跡を曲げる。コイル電流
に比例して、電子線が曲る。
三角波にするのでY方向走査はJK,HIと連続
的になされる。X方向走査はKH,IJの短い走査
で瞬間的になされる。JK,HIのY走査の時X方
向のコイル電流を一定に保つ。
いずれも数百Hzの波形で、互に同期している。
ところが実際は、IJ,KHがY軸に直角でな
い。
このため、両端部で、電子線照射の少ない部分
が少なからず発生する。線量分布を第3図下方に
示す。
両側に線量不足する部分がl,lだけあり、2l
存在することになる。中央のLの部分だけ均一な
電子線照射を受けられるという事になる。
有効な照射領域が狭くなり、無駄な事である。
なお、線量不足する部分lは、たとえば十数cm〜
数十cmである。
これは、Y方向走査とX方向走査とが同期して
いるとはいうものの、厳密には位相が正しく合致
していないからである。Y方向走査がX方向走査
の変化に比べてやや遅れている。このため、平行
四辺形の走査になる。
反対の場合もある。丁度、この走査軌跡を逆に
まわるような場合である。これは、X方向走査の
方が遅れているからである。
X方向が遅れても、Y方向の走査が遅れても、
両側に線量の少ない部分が生ずる。
X方向走査が瞬時に行われればこのような困難
がない。しかし、X方向走査にも有限の時間がか
かる。
いずれかの方向の走査の変化に同期して、他の
方向の走査を切り換えるというのでは、かならず
有限の遅れが生ずる。平行四辺形にならざるをえ
ない。
(ウ) 構成 本考案に於ては、第1図に示すような、六角形
状の走査を行うようにする。
ウインドウIでABというY方向走査をする。
B点でY方向走査を続けながらX方向走査をはじ
め、C点でY方向走査を反転する。そしてウイン
ドウの起点D点に至る。
BD間でY方向走査が切換えられる。D点やB
点で切り換えられるのではない。
ウインドウでは、DEのY方向走査をする。
E点でY方向走査を続けながらX方向走査をはじ
めF点でY方向走査を反転する。そして、ウイン
ドウIの起点Aに至る。
このように六角形走査軌跡ができる。両側の線
量の足りない部分は、l/2に短縮される。第1
図下方に線量分布を示す。均一な線量をえられる
長さが(L+l)になる。この部分の長さlが拡
がつた事になる。
第2図に第1図の走査を実行するためのY方
向、X方向走査波形を示す。X方向走査に有限の
時間がかかるという事に着眼してなされた考案で
あるから、X方向走査を完全な矩形波としていな
い。有限の傾きをもつた立下り、立上りである。
Y方向走査の上頂点の近傍がE,F,A点に対
応する。上頂点はFである。下底点の近傍がB,
C,D点に対応する。下底点はCである。
X方向走査の立上りはE,F,Aであり、中間
点がFである。立下りはB,C,Dであり、中間
点がC点である。
このような走査波形の変化点は、Y方向走査に
ついてC,Fであり、X方向走査についてはA,
D又はB,Eである。
X方向走査の変化を主とし、Y方向走査をこれ
に追随(同期)させても、このような波形はえら
れない。
Y方向走査の変化を主とし、X方向走査をこれ
に追随(同期)させても、このような波形はえら
れない。
しかし、走査周期は決まつている。たとえば、
200Hzというように確定している。
だとすれば、いずれを主とし、従とするのでは
なく、別のタイミング回路を設けて、Y方向、X
方向走査のタイミングE,F,A,B,C,Dを
与えるようにすればよい。
これは簡単な事である。5msecを一周期とする
のであるから、X方向走査の立上り、立下り時間
をτとして考える。A点を起点として、 A……0 B……2.5msec−τ C……2.5msec−τ/2 D……2.5msec E……5msec−τ F……5msec−τ/2 というようにタイミングを決めればよい。そし
て、E,B点でX方向走査を切換える。F,C点
でY方向走査を切換える。
このようなタイミング回路によつて時間を規定
せず、いずれか一方に同期させる、という制御を
行う事は可能である。これはX方向走査時間τを
既知として可能となる。
すなわち、X方向走査の切換え時刻B,Eに同
期させてY方向を走査させる。ただし、X方向の
切換え時刻B,Eからτ/2後にY方向走査を切
換えるようにするのである。τ/2だけ遅延同期
すればよいのである。
(エ) 効果 ダブルチヤンネルウインドウ型の電子線照射装
置に於て、X方向走査時間τを知り、X方向走査
の切換え時刻から、τ/2後にY方向走査を切換
えるようにする。これによつて、ダブルウインド
ウに於ける電子線の走査軌跡が平行四辺形ではな
く、六角形になる。照射窓両端の線量不足部分が
約半分に減る。中間の均一線量領域が増える。
このため、より大きい被処理物を処理できるよ
うになる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本考案の走査機構によるダブルウイン
ドウ電子線走査軌跡を示す平面図。第2図はその
ような走査軌跡を生ずるためのY方向、X方向走
査波形図。aがY方向、bがX方向走査波形であ
る。第3図は従来例のダブルウインドウ電子線走
査軌跡を示す平面図。第4図は第3図の走査軌跡
を生ずるためのY方向、X方向走査波形図。第5
図は走査型電子線照射装置の上部のみの正面図。
第6図は走査管下部の照射窓の部分の断面図。 1……走査管、2……走査管フランジ、3……
窓箔押えフランジ、4……照射窓、5……窓箔、
6……被処理物、10……水冷パイプ。

Claims (1)

    【実用新案登録請求の範囲】
  1. 高真空中に於て電子線を発生し、これを加速
    し、下方の拡がつた走査管に於て長手方向である
    y方向と、これに直角なx方向に電子線を走査
    し、走査管下部のふたつの照射窓の窓箔を通して
    電子線を大気中へ飛出させ、被処理物に照射する
    こととし、y方向走査、x方向走査は走査管の上
    部に設けたマグネツトのコイルにそれぞれ三角
    波、矩形波を同期して流す事によつて行う事とし
    た電子線照射装置に於て、x方向走査に要する時
    間をτとして、x方向走査の切換え時刻よりτ/
    2後に、y方向走査を切換える事とした電子線照
    射装置。
JP19290387U 1987-12-18 1987-12-18 Expired - Lifetime JPH0518720Y2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP19290387U JPH0518720Y2 (ja) 1987-12-18 1987-12-18

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP19290387U JPH0518720Y2 (ja) 1987-12-18 1987-12-18

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPH0197300U JPH0197300U (ja) 1989-06-28
JPH0518720Y2 true JPH0518720Y2 (ja) 1993-05-18

Family

ID=31483730

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP19290387U Expired - Lifetime JPH0518720Y2 (ja) 1987-12-18 1987-12-18

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPH0518720Y2 (ja)

Also Published As

Publication number Publication date
JPH0197300U (ja) 1989-06-28

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP5072163B2 (ja) 高能率走査イオン注入器
JP2958028B2 (ja) 製品の両面照射装置
JPH0518720Y2 (ja)
JP2000284099A (ja) 電子ビーム加速器を利用した産業用エックス線源及び電子線源
US6495840B2 (en) Ion-implanting method and ion-implanting apparatus
JPS60136315A (ja) マイクロイオンビ−ム加工方法およびその装置
RU99106679A (ru) Устройство для облучения пучком электронов
US5459297A (en) Method and apparatus for manufacturing a texture drum
Kundu Spatial characteristics of microwave bursts
US4371774A (en) High power linear pulsed beam annealer
Wang et al. Extended radio emission after the soft X-ray maximum of the NOAA 9077 AR solar flare on July 10, 2000
US5324912A (en) Method and apparatus for manufacturing a texture drum
JPH0992197A (ja) ビーム走査制御方法
US5438179A (en) Method and apparatus for manufacturing texture drums
JPH05264797A (ja) ビーム照射方法及びその装置
JPS5635343A (en) System for removing foreign object from cathode-ray tube
US6151082A (en) Horizontal focus controlling apparatus for cathode-ray tube
JPH05325867A (ja) パルスビーム発生方法および発生装置
JPS6114128Y2 (ja)
EP0854640A3 (en) Electromagnetic focus apparatus
JPH056665U (ja) イオン注入装置
SU1142906A1 (ru) Способ коррекции искажений электронного пучка приемной электронно-лучевой трубки
Oltean et al. Considerations and perspectives in electron beam processing
JPS5755045A (en) Scanning electron microscope
US2937315A (en) Electronic device