JPH05180944A - 放射線測定装置 - Google Patents
放射線測定装置Info
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- JPH05180944A JPH05180944A JP3345714A JP34571491A JPH05180944A JP H05180944 A JPH05180944 A JP H05180944A JP 3345714 A JP3345714 A JP 3345714A JP 34571491 A JP34571491 A JP 34571491A JP H05180944 A JPH05180944 A JP H05180944A
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- 230000005855 radiation Effects 0.000 title claims description 47
- 239000003990 capacitor Substances 0.000 claims abstract description 21
- 230000003071 parasitic effect Effects 0.000 abstract description 5
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 9
- 238000000034 method Methods 0.000 description 6
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 1
- 238000002347 injection Methods 0.000 description 1
- 239000007924 injection Substances 0.000 description 1
- 238000007689 inspection Methods 0.000 description 1
- 230000010354 integration Effects 0.000 description 1
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 1
- 238000007619 statistical method Methods 0.000 description 1
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- Length-Measuring Devices Using Wave Or Particle Radiation (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】 デッドタイムのない完全なフォトン計数を可
能にする。 【構成】 センサ１からのパルス信号がスイッチ２を介
して電荷電圧変換器３に入力されて電圧に変換され、フ
ィルタ７からのフォトン信号が電圧比較器８でしきい値
電圧Ｖref1と比較され、カウンタ７がＸ線フォトン数を
計数する。一方、電荷電圧変換器２の出力電圧がしきい
値電圧Ｖref2を越えたとき、制御回路１１はスイッチ２
をオフするとともに、リセットスイッチ６をオンし、コ
ンデンサ５の電荷を放電する。その後、スイッチ２がオ
ンとなると、センサ１及びこれに寄生する容量にチャー
ジされていた信号電荷が電荷電圧変換器３に流入する。
能にする。 【構成】 センサ１からのパルス信号がスイッチ２を介
して電荷電圧変換器３に入力されて電圧に変換され、フ
ィルタ７からのフォトン信号が電圧比較器８でしきい値
電圧Ｖref1と比較され、カウンタ７がＸ線フォトン数を
計数する。一方、電荷電圧変換器２の出力電圧がしきい
値電圧Ｖref2を越えたとき、制御回路１１はスイッチ２
をオフするとともに、リセットスイッチ６をオンし、コ
ンデンサ５の電荷を放電する。その後、スイッチ２がオ
ンとなると、センサ１及びこれに寄生する容量にチャー
ジされていた信号電荷が電荷電圧変換器３に流入する。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、放射線測定装置、特に
Ｘ線画像診断装置や産業用非破壊検査装置に用いて有効
な放射線測定装置に関する。
Ｘ線画像診断装置や産業用非破壊検査装置に用いて有効
な放射線測定装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】放射線の測定方法としては、放射線検出
器への放射線入射により出力されるパルス信号を計数す
ることによって入射放射線を測定するフォトン計数法、
また、放射線検出器の出力を積分することによって入射
放射線を測定する積分法がある。ところで、フォトン計
数法は、入射したＸ線フォトンの数を計数し、この計数
値により濃淡画像を得ようとするものであり、この手法
は、計測されたデータが理論的に予測される統計的なゆ
らぎ以外の誤差を含まない点が特に優れており、原理的
にはＳ／Ｎを無限大にすることができる。
器への放射線入射により出力されるパルス信号を計数す
ることによって入射放射線を測定するフォトン計数法、
また、放射線検出器の出力を積分することによって入射
放射線を測定する積分法がある。ところで、フォトン計
数法は、入射したＸ線フォトンの数を計数し、この計数
値により濃淡画像を得ようとするものであり、この手法
は、計測されたデータが理論的に予測される統計的なゆ
らぎ以外の誤差を含まない点が特に優れており、原理的
にはＳ／Ｎを無限大にすることができる。
【０００３】図５は上記フォトン計数法による従来の放
射線測定装置を示しており、Ｘ線を検出するセンサ２１
の出力側が電荷電圧変換器２２に接続されている。この
電荷電圧変換器２２は演算増幅器２３、この演算増幅器
２３の入出力端に並列接続されたコンデンサ２４及びリ
セットスイッチ２５よりなり、その出力側にはフィルタ
２６が接続されている。このフィルタ２６の出力側は電
圧比較器２７の一方の入力端と接続され、この電圧比較
器２７の他方の入力端には外部電圧源からしきい値電圧
Ｖref1が入力されている。また、この電圧比較器２７の
出力側にはカウンタ２８が接続されている。さらに、電
荷電圧変換器２２の出力側はフィルタ２６と並列に、電
圧比較器２９の一方の入力端と接続され、この電圧比較
器２９の他方の入力端には外部電圧源からしきい値電圧
Ｖref2が入力されている。そして、この電圧比較器２９
の出力端に制御回路３０が接続されている。
射線測定装置を示しており、Ｘ線を検出するセンサ２１
の出力側が電荷電圧変換器２２に接続されている。この
電荷電圧変換器２２は演算増幅器２３、この演算増幅器
２３の入出力端に並列接続されたコンデンサ２４及びリ
セットスイッチ２５よりなり、その出力側にはフィルタ
２６が接続されている。このフィルタ２６の出力側は電
圧比較器２７の一方の入力端と接続され、この電圧比較
器２７の他方の入力端には外部電圧源からしきい値電圧
Ｖref1が入力されている。また、この電圧比較器２７の
出力側にはカウンタ２８が接続されている。さらに、電
荷電圧変換器２２の出力側はフィルタ２６と並列に、電
圧比較器２９の一方の入力端と接続され、この電圧比較
器２９の他方の入力端には外部電圧源からしきい値電圧
Ｖref2が入力されている。そして、この電圧比較器２９
の出力端に制御回路３０が接続されている。
【０００４】次に、この従来の放射線測定装置の動作を
図６の動作波形図を用いて説明する。センサ２１がＸ線
のＸ線フォトン１個を検出すると、図６（ａ）に示すよ
うな１個のパルス信号が電荷電圧変換器２２に入力さ
れ、コンデンサ２４に電荷が蓄積されて、図６（ｂ）に
示すように電荷電圧変換器２２の出力電圧はステップ状
に上昇し始める。この電荷電圧変換器２２の出力電圧は
フィルタ２６に入力されて、直流成分が除去されるとと
もに、フォトン信号成分が増幅され、図６（ｄ）に示す
ような信号が出力される。そして、この出力信号は電圧
比較器２７に入力されて外部電圧源からのしきい値電圧
Ｖref1と比較され、その出力信号がこのしきい値電圧を
越えると、図６（ｅ）に示すようなパルス信号がカウン
タ２８に出力され、これによりカウンタ２８はＸ線フォ
トン数を「１」と計数する。この動作を繰り返してパル
ス頻度を検出することにより、Ｘ線フォトンの数を計数
し、この計数値により、例えば、Ｘ線の濃淡画像を形成
するようにしている。
図６の動作波形図を用いて説明する。センサ２１がＸ線
のＸ線フォトン１個を検出すると、図６（ａ）に示すよ
うな１個のパルス信号が電荷電圧変換器２２に入力さ
れ、コンデンサ２４に電荷が蓄積されて、図６（ｂ）に
示すように電荷電圧変換器２２の出力電圧はステップ状
に上昇し始める。この電荷電圧変換器２２の出力電圧は
フィルタ２６に入力されて、直流成分が除去されるとと
もに、フォトン信号成分が増幅され、図６（ｄ）に示す
ような信号が出力される。そして、この出力信号は電圧
比較器２７に入力されて外部電圧源からのしきい値電圧
Ｖref1と比較され、その出力信号がこのしきい値電圧を
越えると、図６（ｅ）に示すようなパルス信号がカウン
タ２８に出力され、これによりカウンタ２８はＸ線フォ
トン数を「１」と計数する。この動作を繰り返してパル
ス頻度を検出することにより、Ｘ線フォトンの数を計数
し、この計数値により、例えば、Ｘ線の濃淡画像を形成
するようにしている。
【０００５】このとき、電荷電圧変換器２２の出力電圧
は図６（ｂ）に示すようにセンサ２１の出力が入力され
るごとに、上昇し続けるため、この電荷電圧変換器２２
の出力を電圧比較器２９でしきい値電圧Ｖref2と比較
し、電荷電圧変換器２２の出力がしきい値電圧Ｖref2を
越えたとき、電圧比較器２９が制御回路３０に信号を出
力する。すると、この制御回路３０は図４（ｃ）に示す
ようなリセットパルスをリセットスイッチ２５に供給
し、リセットスイッチ２５が動作してコンデンサ２４の
電荷が放電される。なお、スイッチ２５がオフとなった
時点ｔ0 での電荷電圧変換器２２の出力電圧上昇はリセ
ットスイッチ２５の動作に伴う偽電荷がコンデンサ２４
に注入されることにより生じるものである。
は図６（ｂ）に示すようにセンサ２１の出力が入力され
るごとに、上昇し続けるため、この電荷電圧変換器２２
の出力を電圧比較器２９でしきい値電圧Ｖref2と比較
し、電荷電圧変換器２２の出力がしきい値電圧Ｖref2を
越えたとき、電圧比較器２９が制御回路３０に信号を出
力する。すると、この制御回路３０は図４（ｃ）に示す
ようなリセットパルスをリセットスイッチ２５に供給
し、リセットスイッチ２５が動作してコンデンサ２４の
電荷が放電される。なお、スイッチ２５がオフとなった
時点ｔ0 での電荷電圧変換器２２の出力電圧上昇はリセ
ットスイッチ２５の動作に伴う偽電荷がコンデンサ２４
に注入されることにより生じるものである。
【０００６】
【発明が解決しようとする課題】従来の放射線測定装置
は上記のように構成されており、電荷電圧変換器２２の
出力がしきい値電圧Ｖref2を越えたとき、リセットスイ
ッチ２５を用いてコンデンサ２４の電荷を放電させる必
要があり、このリセット期間中はＸ線フォトンの計数を
行うことができず、高精度な放射線測定を行うことがで
きないという問題があった。
は上記のように構成されており、電荷電圧変換器２２の
出力がしきい値電圧Ｖref2を越えたとき、リセットスイ
ッチ２５を用いてコンデンサ２４の電荷を放電させる必
要があり、このリセット期間中はＸ線フォトンの計数を
行うことができず、高精度な放射線測定を行うことがで
きないという問題があった。
【０００７】本発明は、上記のような問題点を解消する
ために創案されたものであり、デッドタイムのない完全
なフォトン計数を行うことができる放射線測定装置を提
供することを目的とする。
ために創案されたものであり、デッドタイムのない完全
なフォトン計数を行うことができる放射線測定装置を提
供することを目的とする。
【０００８】
【課題を解決するための手段】上記の目的を達成するた
めに、本発明の放射線測定装置は、放射線検出器と電荷
電圧変換器との間にスイッチを設け、電荷電圧変換器の
リセット期間中はこのスイッチを開くことにより、リセ
ット期間中に電流信号が電荷電圧変換器に入力されるこ
とを防止することを特徴とし、放射線入射によって電流
パルスを発生する放射線検出器と、その電流パルスが入
力される電荷電圧変換器と、上記放射線検出器と上記電
荷電圧変換器との間に設けられたスイッチと、上記電荷
電圧変換器のコンデンサに並列に設けられたリセットス
イッチと、上記リセットスイッチがオンするとき、上記
スイッチをオフするよう制御する制御回路とを備えてい
る。
めに、本発明の放射線測定装置は、放射線検出器と電荷
電圧変換器との間にスイッチを設け、電荷電圧変換器の
リセット期間中はこのスイッチを開くことにより、リセ
ット期間中に電流信号が電荷電圧変換器に入力されるこ
とを防止することを特徴とし、放射線入射によって電流
パルスを発生する放射線検出器と、その電流パルスが入
力される電荷電圧変換器と、上記放射線検出器と上記電
荷電圧変換器との間に設けられたスイッチと、上記電荷
電圧変換器のコンデンサに並列に設けられたリセットス
イッチと、上記リセットスイッチがオンするとき、上記
スイッチをオフするよう制御する制御回路とを備えてい
る。
【０００９】
【作用】本発明の放射線測定装置は上記のように構成さ
れており、放射線検出器に放射線が入射すると、放射線
検出器が電流パルスを発生して電荷電圧変換器に供給
し、この電荷電圧変換器の出力電圧がパルス計数器等に
入力され、パルス計数器の計数値によりＸ線の濃淡画像
等が形成される。一方、電荷電圧変換器のコンデンサに
並列に設けられたリセットスイッチが制御回路によって
制御され、電荷電圧変換器のコンデンサの電荷が放電さ
れる。このとき、制御回路は放射線検出器と上記電荷電
圧変換器との間に設けられたスイッチをオフして電荷電
圧変換器のリセット期間中に電流信号が電荷電圧変換器
に入力されることを防止し、リセット期間終了後、この
スイッチをオンすることにより放射線検出器及びこれに
寄生する容量にチャージされていた信号電荷を電荷電圧
変換器のコンデンサに流入させ、電荷電圧変換器の出力
電圧を上昇させる。
れており、放射線検出器に放射線が入射すると、放射線
検出器が電流パルスを発生して電荷電圧変換器に供給
し、この電荷電圧変換器の出力電圧がパルス計数器等に
入力され、パルス計数器の計数値によりＸ線の濃淡画像
等が形成される。一方、電荷電圧変換器のコンデンサに
並列に設けられたリセットスイッチが制御回路によって
制御され、電荷電圧変換器のコンデンサの電荷が放電さ
れる。このとき、制御回路は放射線検出器と上記電荷電
圧変換器との間に設けられたスイッチをオフして電荷電
圧変換器のリセット期間中に電流信号が電荷電圧変換器
に入力されることを防止し、リセット期間終了後、この
スイッチをオンすることにより放射線検出器及びこれに
寄生する容量にチャージされていた信号電荷を電荷電圧
変換器のコンデンサに流入させ、電荷電圧変換器の出力
電圧を上昇させる。
【００１０】
【実施例】本発明の放射線測定装置の第１の実施例を図
１により説明する。図１において、Ｘ線を検出するセン
サ１の出力側がスイッチ２を介して電荷電圧変換器３に
接続されている。この電荷電圧変換器３は演算増幅器
４、この演算増幅器４の入出力端に並列接続されたコン
デンサ５及びリセットスイッチ６よりなり、その出力側
にはフィルタ７が接続されている。このフィルタ７の出
力側は電圧比較器８の一方の入力端と接続され、この電
圧比較器８の他方の入力端には外部電圧源からしきい値
電圧Ｖref1が入力されている。また、この電圧比較器８
の出力側にはカウンタ９が接続されている。さらに、電
荷電圧変換器３の出力側はフィルタ７と並列に、電圧比
較器１０の一方の入力端と接続され、この電圧比較器１
０の他方の入力端には外部電圧源からしきい値電圧Ｖ
ref2が入力されている。そして、電圧比較器１０の出力
端に制御回路１１が接続され、制御回路１１の出力パル
スがスイッチ２、リセットスイッチ６に供給される。
１により説明する。図１において、Ｘ線を検出するセン
サ１の出力側がスイッチ２を介して電荷電圧変換器３に
接続されている。この電荷電圧変換器３は演算増幅器
４、この演算増幅器４の入出力端に並列接続されたコン
デンサ５及びリセットスイッチ６よりなり、その出力側
にはフィルタ７が接続されている。このフィルタ７の出
力側は電圧比較器８の一方の入力端と接続され、この電
圧比較器８の他方の入力端には外部電圧源からしきい値
電圧Ｖref1が入力されている。また、この電圧比較器８
の出力側にはカウンタ９が接続されている。さらに、電
荷電圧変換器３の出力側はフィルタ７と並列に、電圧比
較器１０の一方の入力端と接続され、この電圧比較器１
０の他方の入力端には外部電圧源からしきい値電圧Ｖ
ref2が入力されている。そして、電圧比較器１０の出力
端に制御回路１１が接続され、制御回路１１の出力パル
スがスイッチ２、リセットスイッチ６に供給される。
【００１１】次に、この放射線測定装置の動作を図２の
動作波形図を用いて説明する。センサ１がＸ線のＸ線フ
ォトン１個を検出すると、図２（ａ）に示すような１個
のパルス信号がスイッチ２を介して電荷電圧変換器３に
入力され、コンデンサ５に電荷が蓄積されて、図２
（ｂ）に示すように電荷電圧変換器３の出力電圧はステ
ップ状に上昇し始める。この電荷電圧変換器３の出力電
圧はフィルタ７に入力されて、直流成分が除去されると
ともに、フォトン信号成分が増幅され、図２（ｅ）に示
すような信号が出力される。そして、この出力信号は電
圧比較器８に入力されて外部電圧源からのしきい値電圧
Ｖref1と比較され、その出力信号がこのしきい値電圧を
越えると、図２（ｆ）に示すようなパルス信号がカウン
タ９に出力され、これによりカウンタ９はＸ線フォトン
数を「１」と計数する。この動作を繰り返してパルス頻
度を検出することにより、Ｘ線フォトンの数を計数し、
この計数値により、例えば、Ｘ線の濃淡画像を形成す
る。
動作波形図を用いて説明する。センサ１がＸ線のＸ線フ
ォトン１個を検出すると、図２（ａ）に示すような１個
のパルス信号がスイッチ２を介して電荷電圧変換器３に
入力され、コンデンサ５に電荷が蓄積されて、図２
（ｂ）に示すように電荷電圧変換器３の出力電圧はステ
ップ状に上昇し始める。この電荷電圧変換器３の出力電
圧はフィルタ７に入力されて、直流成分が除去されると
ともに、フォトン信号成分が増幅され、図２（ｅ）に示
すような信号が出力される。そして、この出力信号は電
圧比較器８に入力されて外部電圧源からのしきい値電圧
Ｖref1と比較され、その出力信号がこのしきい値電圧を
越えると、図２（ｆ）に示すようなパルス信号がカウン
タ９に出力され、これによりカウンタ９はＸ線フォトン
数を「１」と計数する。この動作を繰り返してパルス頻
度を検出することにより、Ｘ線フォトンの数を計数し、
この計数値により、例えば、Ｘ線の濃淡画像を形成す
る。
【００１２】一方、電荷電圧変換器３の出力は電圧比較
器１０でしきい値電圧Ｖref2と比較されており、電荷電
圧変換器３の出力がしきい値電圧Ｖref2を越えたとき、
電圧比較器１０は制御回路１１に信号を出力する。そし
て、制御回路１１は電圧比較器１０からの信号により図
２（ｃ）、（ｄ）に示すようなパルス信号をそれぞれリ
セットスイッチ６、スイッチ２に供給する。図２（ｃ）
のパルスによりリセットスイッチ６はオンとなり、電荷
電圧変換器３のコンデンサ５の電荷が放電される。この
とき、同時に図２（ｄ）のパルスによってスイッチ２が
オフとなり、リセット期間中に電流信号が電荷電圧変換
器３に入力されることが防止される。そして、リセット
期間終了後、スイッチ２がオンとなると、放射線検出器
１及びこれに寄生する容量にチャージされていた信号電
荷が電荷電圧変換器３のコンデンサ５に流入し、電荷電
圧変換器３の出力電圧が上昇する。従って、リセット期
間中に入力されたＸ線を確実に計数することができ、デ
ッドタイムのない完全なフォトン計数を行うことができ
る。
器１０でしきい値電圧Ｖref2と比較されており、電荷電
圧変換器３の出力がしきい値電圧Ｖref2を越えたとき、
電圧比較器１０は制御回路１１に信号を出力する。そし
て、制御回路１１は電圧比較器１０からの信号により図
２（ｃ）、（ｄ）に示すようなパルス信号をそれぞれリ
セットスイッチ６、スイッチ２に供給する。図２（ｃ）
のパルスによりリセットスイッチ６はオンとなり、電荷
電圧変換器３のコンデンサ５の電荷が放電される。この
とき、同時に図２（ｄ）のパルスによってスイッチ２が
オフとなり、リセット期間中に電流信号が電荷電圧変換
器３に入力されることが防止される。そして、リセット
期間終了後、スイッチ２がオンとなると、放射線検出器
１及びこれに寄生する容量にチャージされていた信号電
荷が電荷電圧変換器３のコンデンサ５に流入し、電荷電
圧変換器３の出力電圧が上昇する。従って、リセット期
間中に入力されたＸ線を確実に計数することができ、デ
ッドタイムのない完全なフォトン計数を行うことができ
る。
【００１３】一方、上記従来の技術で説明したように、
図５の従来の放射線測定装置では、リセットスイッチ２
５が開く時にスイッチの動作に伴う偽電荷がコンデンサ
２４に注入される為、この信号が大きい場合には、この
信号を実際の放射線検出信号と区別することが更に必要
となり、放射線測定装置の構成が複雑となっていた。そ
こで、デッドタイムのない完全なフォトン計数を行うこ
とができるとともに、簡単な構成でスイッチの動作に伴
う偽電荷の影響も除去することができる本発明の他の実
施例を図３を用いて説明する。
図５の従来の放射線測定装置では、リセットスイッチ２
５が開く時にスイッチの動作に伴う偽電荷がコンデンサ
２４に注入される為、この信号が大きい場合には、この
信号を実際の放射線検出信号と区別することが更に必要
となり、放射線測定装置の構成が複雑となっていた。そ
こで、デッドタイムのない完全なフォトン計数を行うこ
とができるとともに、簡単な構成でスイッチの動作に伴
う偽電荷の影響も除去することができる本発明の他の実
施例を図３を用いて説明する。
【００１４】図３において、Ｘ線を検出するセンサ１の
出力側がスイッチ２を介して電荷電圧変換器３に接続さ
れている。この電荷電圧変換器３は演算増幅器４、この
演算増幅器４の入出力端に並列接続されたコンデンサ５
及びリセットスイッチ６よりなり、その出力側にはサン
プルホールド回路１２、１３が接続されている。そし
て、サンプルホールド回路１２、１３の出力端に差動増
幅器１４が接続され、その出力端にカウンタ９が接続さ
れている。一方、スイッチ２、リセットスイッチ６、サ
ンプルホールド回路１２、１３には制御回路１１の出力
が接続され、各回路の動作が制御される。
出力側がスイッチ２を介して電荷電圧変換器３に接続さ
れている。この電荷電圧変換器３は演算増幅器４、この
演算増幅器４の入出力端に並列接続されたコンデンサ５
及びリセットスイッチ６よりなり、その出力側にはサン
プルホールド回路１２、１３が接続されている。そし
て、サンプルホールド回路１２、１３の出力端に差動増
幅器１４が接続され、その出力端にカウンタ９が接続さ
れている。一方、スイッチ２、リセットスイッチ６、サ
ンプルホールド回路１２、１３には制御回路１１の出力
が接続され、各回路の動作が制御される。
【００１５】次に、この放射線測定装置の動作を図４の
動作波形図を用いて説明する。制御回路１１は図４
（ｂ）、（ｃ）、（ｅ）及び（ｆ）に示すようなパルス
をＸ線入射周期よりも小さな所定周期ごとにそれぞれリ
セットスイッチ６、スイッチ２、サンプルホールド回路
１２、１３に入力する。まず、制御回路１１が時点ｔ1
でリセットスイッチ６に図４（ｂ）のようなリセットパ
ルスを出力すると、電荷電圧変換器３のコンデンサ５の
電荷が図４（ｄ）のように放電され、スイッチ６がオフ
となった時点ｔ2 で、リセットスイッチ６の動作に伴う
偽電荷がコンデンサ５に注入されることにより電荷電圧
変換器３の出力電圧上昇が生じる。次に、制御回路１１
が時点ｔ3 でサンプルホールド回路１２に図４（ｅ）の
ようなサンプルパルスを入力すると、その時の電荷電圧
変換器３の出力電圧がサンプルホールド回路１２に保持
される。次に、制御回路１１が時点ｔ4 でスイッチ２に
図４（ｃ）のようなパルスを出力すると、スイッチ２が
オンし、その間に図４（ａ）のようにＸ線が入射してい
る場合には、センサ１及びこれに寄生する容量にチャー
ジされていた信号電荷が電荷電圧変換器３のコンデンサ
５に流入し、電荷電圧変換器３の出力電圧が上昇する。
更に、制御回路１１が時点ｔ5 でサンプルホールド回路
１３に図４（ｆ）のようなサンプルパルスを入力する
と、その時の電荷電圧変換器２２の出力電圧がサンプル
ホールド回路１３に保持される。そして、差動増幅器１
４はサンプルホールド回路１２、１３の出力電圧の差を
求め、図４（ｇ）のようなパルスをカウンタ９に出力
し、カウンタ９の計数値により、例えば、Ｘ線の濃淡画
像を形成する。
動作波形図を用いて説明する。制御回路１１は図４
（ｂ）、（ｃ）、（ｅ）及び（ｆ）に示すようなパルス
をＸ線入射周期よりも小さな所定周期ごとにそれぞれリ
セットスイッチ６、スイッチ２、サンプルホールド回路
１２、１３に入力する。まず、制御回路１１が時点ｔ1
でリセットスイッチ６に図４（ｂ）のようなリセットパ
ルスを出力すると、電荷電圧変換器３のコンデンサ５の
電荷が図４（ｄ）のように放電され、スイッチ６がオフ
となった時点ｔ2 で、リセットスイッチ６の動作に伴う
偽電荷がコンデンサ５に注入されることにより電荷電圧
変換器３の出力電圧上昇が生じる。次に、制御回路１１
が時点ｔ3 でサンプルホールド回路１２に図４（ｅ）の
ようなサンプルパルスを入力すると、その時の電荷電圧
変換器３の出力電圧がサンプルホールド回路１２に保持
される。次に、制御回路１１が時点ｔ4 でスイッチ２に
図４（ｃ）のようなパルスを出力すると、スイッチ２が
オンし、その間に図４（ａ）のようにＸ線が入射してい
る場合には、センサ１及びこれに寄生する容量にチャー
ジされていた信号電荷が電荷電圧変換器３のコンデンサ
５に流入し、電荷電圧変換器３の出力電圧が上昇する。
更に、制御回路１１が時点ｔ5 でサンプルホールド回路
１３に図４（ｆ）のようなサンプルパルスを入力する
と、その時の電荷電圧変換器２２の出力電圧がサンプル
ホールド回路１３に保持される。そして、差動増幅器１
４はサンプルホールド回路１２、１３の出力電圧の差を
求め、図４（ｇ）のようなパルスをカウンタ９に出力
し、カウンタ９の計数値により、例えば、Ｘ線の濃淡画
像を形成する。
【００１６】一方、制御回路１１から図４（ｃ）のパル
スがスイッチ２に供給される前にＸ線が入射していない
場合には、サンプルホールド回路１２、１３の保持電圧
はそれぞれスイッチの動作に伴う偽電荷に応じた等しい
電圧となり、差動増幅器１４からパルス信号は出力され
ない。従って、この第２の実施例の放射線測定装置で
は、デッドタイムのない完全なフォトン計数を行うこと
ができるとともに、スイッチの動作に伴う偽電荷の影響
も除去することができる。
スがスイッチ２に供給される前にＸ線が入射していない
場合には、サンプルホールド回路１２、１３の保持電圧
はそれぞれスイッチの動作に伴う偽電荷に応じた等しい
電圧となり、差動増幅器１４からパルス信号は出力され
ない。従って、この第２の実施例の放射線測定装置で
は、デッドタイムのない完全なフォトン計数を行うこと
ができるとともに、スイッチの動作に伴う偽電荷の影響
も除去することができる。
【００１７】
【発明の効果】本発明の放射線測定装置は以上のように
構成されており、電荷電圧変換器のリセット期間中に電
流信号が電荷電圧変換器に入力されることを防止し、リ
セット期間終了後、放射線検出器及びこれに寄生する容
量にチャージされていた信号電荷を電荷電圧変換器に流
入させるため、デッドタイムのない完全なフォトンカウ
ントを行うことができる。
構成されており、電荷電圧変換器のリセット期間中に電
流信号が電荷電圧変換器に入力されることを防止し、リ
セット期間終了後、放射線検出器及びこれに寄生する容
量にチャージされていた信号電荷を電荷電圧変換器に流
入させるため、デッドタイムのない完全なフォトンカウ
ントを行うことができる。
【図１】本発明の放射線測定装置の第一の実施例を示す
図である。
図である。
【図２】図１の放射線測定装置の動作波形を示す図であ
る。
る。
【図３】本発明の放射線測定装置の他の実施例を示す図
である。
である。
【図４】図３の放射線測定装置の動作波形を示す図であ
る。
る。
【図５】従来の放射線測定装置を示す図である。
【図６】図５の従来の放射線測定装置の動作波形を示す
図である。
図である。
１……センサ ２……スイッチ ３……電荷電圧変換器 ４……演算増幅器 ５……コンデンサ ６……リセットスイ
ッチ １１……制御回路
ッチ １１……制御回路
Claims (1)
- 【請求項１】 放射線入射によって電流パルスを発生す
る放射線検出器と、この放射線検出器からの電流パルス
が入力される電荷電圧変換器と、上記放射線検出器と上
記電荷電圧変換器との間に設けられたスイッチと、上記
電荷電圧変換器のコンデンサに並列に設けられたリセッ
トスイッチと、上記リセットスイッチがオンするとき、
上記スイッチをオフするよう制御する制御回路とを備え
ることを特徴とする放射線測定装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3345714A JP3008621B2 (ja) | 1991-12-27 | 1991-12-27 | 放射線測定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3345714A JP3008621B2 (ja) | 1991-12-27 | 1991-12-27 | 放射線測定装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH05180944A true JPH05180944A (ja) | 1993-07-23 |
| JP3008621B2 JP3008621B2 (ja) | 2000-02-14 |
Family
ID=18378468
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP3345714A Expired - Lifetime JP3008621B2 (ja) | 1991-12-27 | 1991-12-27 | 放射線測定装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3008621B2 (ja) |
Cited By (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR100727900B1 (ko) * | 2005-12-27 | 2007-06-13 | 한국전기연구원 | 단광자 계수형 디지털 엑스선 이미지센서용 문턱전압생성기 |
| WO2008072181A2 (en) * | 2006-12-13 | 2008-06-19 | Koninklijke Philips Electronics N.V. | Apparatus, imaging device and method for counting x-ray photons |
| JP2010507797A (ja) * | 2006-10-25 | 2010-03-11 | コーニンクレッカ フィリップス エレクトロニクス エヌ ヴィ | Ｘ放射線を検出する装置、撮像装置及び方法 |
| KR101010916B1 (ko) * | 2010-09-17 | 2011-01-25 | 주식회사 룩센테크놀러지 | Ｄｃ 누설 전류를 보상하는 전하 감지 증폭 회로, 이를 이용한 엑스선 독출 집적 회로 및 엑스선 센서 |
| US20180006613A1 (en) | 2012-08-02 | 2018-01-04 | Horiba, Ltd. | Amplifier and radiation detector |
| JP2022538053A (ja) * | 2019-06-25 | 2022-08-31 | オックスフォード インストゥルメンツ テクノロジーズ オサケユイチア | プリアンプ回路 |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR20150053159A (ko) | 2013-11-07 | 2015-05-15 | 삼성전자주식회사 | 서로 다른 시점에 입력된 전하 패킷에 기초하여 전압을 획득하는 방법 및 장치 |
-
1991
- 1991-12-27 JP JP3345714A patent/JP3008621B2/ja not_active Expired - Lifetime
Cited By (13)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR100727900B1 (ko) * | 2005-12-27 | 2007-06-13 | 한국전기연구원 | 단광자 계수형 디지털 엑스선 이미지센서용 문턱전압생성기 |
| US8618471B2 (en) | 2006-10-25 | 2013-12-31 | Koninklijke Philips N.V. | Apparatus, imaging device and method for detecting X-ray radiation |
| JP2010507797A (ja) * | 2006-10-25 | 2010-03-11 | コーニンクレッカ フィリップス エレクトロニクス エヌ ヴィ | Ｘ放射線を検出する装置、撮像装置及び方法 |
| EP2076791B1 (en) * | 2006-10-25 | 2015-04-22 | Koninklijke Philips N.V. | Apparatus, imaging device and method for detecting x-ray radiation |
| WO2008072181A3 (en) * | 2006-12-13 | 2008-11-27 | Koninkl Philips Electronics Nv | Apparatus, imaging device and method for counting x-ray photons |
| US8237128B2 (en) | 2006-12-13 | 2012-08-07 | Koninklijke Philips Electronics N.V. | Apparatus, imaging device and method for counting X-ray photons |
| WO2008072181A2 (en) * | 2006-12-13 | 2008-06-19 | Koninklijke Philips Electronics N.V. | Apparatus, imaging device and method for counting x-ray photons |
| KR101010916B1 (ko) * | 2010-09-17 | 2011-01-25 | 주식회사 룩센테크놀러지 | Ｄｃ 누설 전류를 보상하는 전하 감지 증폭 회로, 이를 이용한 엑스선 독출 집적 회로 및 엑스선 센서 |
| US20180006613A1 (en) | 2012-08-02 | 2018-01-04 | Horiba, Ltd. | Amplifier and radiation detector |
| JP2018014757A (ja) * | 2012-08-02 | 2018-01-25 | 株式会社堀場製作所 | 増幅器及び放射線検出器 |
| US10554178B2 (en) | 2012-08-02 | 2020-02-04 | Horiba, Ltd. | Amplifier and radiation detector |
| JP2022538053A (ja) * | 2019-06-25 | 2022-08-31 | オックスフォード インストゥルメンツ テクノロジーズ オサケユイチア | プリアンプ回路 |
| US11811376B2 (en) | 2019-06-25 | 2023-11-07 | Oxford Instruments Technologies Oy | Preamplifier circuit |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP3008621B2 (ja) | 2000-02-14 |
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