JPH05172549A - メロン表面の凹凸評価装置 - Google Patents
メロン表面の凹凸評価装置Info
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- JPH05172549A JPH05172549A JP35624591A JP35624591A JPH05172549A JP H05172549 A JPH05172549 A JP H05172549A JP 35624591 A JP35624591 A JP 35624591A JP 35624591 A JP35624591 A JP 35624591A JP H05172549 A JPH05172549 A JP H05172549A
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- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N33/00—Investigating or analysing materials by specific methods not covered by groups G01N1/00 - G01N31/00
- G01N33/02—Food
- G01N33/025—Fruits or vegetables
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Abstract
(57)【要約】
【目的】メロン表面の凹凸評価の精度、および信頼性の
向上を図るとともに、その自動化により評価作業の省力
化を実現すること。 【構成】メロンに向けてスリット光を照射し（Ｓ１）、
その画像を取り込むと（Ｓ２）、画像は歪パターンを含
む。その入力画像からメロンの直径を求め（Ｓ３）、そ
の求めた直径に応じて画像をあらかじめ設定した大きさ
に変換する（Ｓ４）。次に、直線パターンと上記の歪パ
ターンとで囲まれる部分の面積Ｓ１を算出する（Ｓ
５）。そして、歪パターンから変曲点を求め（Ｓ６）、
その変曲点から歪パターンの歪部分の面積Ｓ２を求める
（Ｓ７）。さらに、その求めた両面積の比率を求め（Ｓ
８）、その結果からメロン表面の凹凸を評価する（Ｓ
９）。
向上を図るとともに、その自動化により評価作業の省力
化を実現すること。 【構成】メロンに向けてスリット光を照射し（Ｓ１）、
その画像を取り込むと（Ｓ２）、画像は歪パターンを含
む。その入力画像からメロンの直径を求め（Ｓ３）、そ
の求めた直径に応じて画像をあらかじめ設定した大きさ
に変換する（Ｓ４）。次に、直線パターンと上記の歪パ
ターンとで囲まれる部分の面積Ｓ１を算出する（Ｓ
５）。そして、歪パターンから変曲点を求め（Ｓ６）、
その変曲点から歪パターンの歪部分の面積Ｓ２を求める
（Ｓ７）。さらに、その求めた両面積の比率を求め（Ｓ
８）、その結果からメロン表面の凹凸を評価する（Ｓ
９）。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、メロンの表面の凹凸を
評価する装置に関する。
評価する装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】従来、メロン表面の凹凸は外観品質とし
て重要な要素であるので、その凹凸評価を検査員が目視
により行っていた。
て重要な要素であるので、その凹凸評価を検査員が目視
により行っていた。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】このように、従来は検
査員が目視検査によっていちいち評価していたので、評
価にばらつきがあった。そのため、従来の凹凸評価は、
精度、および信頼性の点で劣るという問題があった。
査員が目視検査によっていちいち評価していたので、評
価にばらつきがあった。そのため、従来の凹凸評価は、
精度、および信頼性の点で劣るという問題があった。
【０００４】そこで、本発明は、メロン表面の凹凸評価
の精度、および信頼性の向上を図るとともに、その自動
化により評価作業の省力化を実現することを目的とす
る。
の精度、および信頼性の向上を図るとともに、その自動
化により評価作業の省力化を実現することを目的とす
る。
【０００５】
【課題を解決するための手段】かかる目的を達成するた
めに本発明は、以下のように構成した。すなわち、本発
明は、メロンに向けてスリット光を照射する照射手段
と、前記スリット光の照射により生じたメロン表面の歪
パターンを撮影する撮像手段と、その撮影により得られ
た歪パターンの歪部分の面積を算出するとともに、当該
歪パターンと所定の直線で囲まれた面積を算出する面積
算出手段と、その算出した両面積に基づいてメロン表面
における凹凸を評価する凹凸評価手段と、を備えてな
る。
めに本発明は、以下のように構成した。すなわち、本発
明は、メロンに向けてスリット光を照射する照射手段
と、前記スリット光の照射により生じたメロン表面の歪
パターンを撮影する撮像手段と、その撮影により得られ
た歪パターンの歪部分の面積を算出するとともに、当該
歪パターンと所定の直線で囲まれた面積を算出する面積
算出手段と、その算出した両面積に基づいてメロン表面
における凹凸を評価する凹凸評価手段と、を備えてな
る。
【０００６】
【作用】本発明では、照射手段がメロンに向けてスリッ
ト光を照射し、撮像手段がスリット光の照射により生じ
たメロン表面の歪パターンを撮影する。この撮影により
得られる歪パターンは、メロン表面の凹凸を反映する。
そこで、面積算出手段は、その歪パターンの歪部分の面
積を算出するとともに、その歪パターンと所定の直線で
囲まれた面積を算出する。そして、凹凸評価手段は、そ
の算出した両面積に基づいてメロン表面の凹凸を評価す
る。
ト光を照射し、撮像手段がスリット光の照射により生じ
たメロン表面の歪パターンを撮影する。この撮影により
得られる歪パターンは、メロン表面の凹凸を反映する。
そこで、面積算出手段は、その歪パターンの歪部分の面
積を算出するとともに、その歪パターンと所定の直線で
囲まれた面積を算出する。そして、凹凸評価手段は、そ
の算出した両面積に基づいてメロン表面の凹凸を評価す
る。
【０００７】このように本発明では、メロンに向けてス
リット光を照射して得られるメロン表面の歪パターンを
撮影し、その歪パターンの歪部分の面積、およびその歪
パターンと所定の直線で囲まれた面積を算出し、その両
面積に基づいてメロン表面の凹凸を評価するようにした
ので、メロン表面の凹凸評価の精度、および信頼性の向
上が図れるとともに、その自動化により評価作業の省力
化も実現できる。
リット光を照射して得られるメロン表面の歪パターンを
撮影し、その歪パターンの歪部分の面積、およびその歪
パターンと所定の直線で囲まれた面積を算出し、その両
面積に基づいてメロン表面の凹凸を評価するようにした
ので、メロン表面の凹凸評価の精度、および信頼性の向
上が図れるとともに、その自動化により評価作業の省力
化も実現できる。
【０００８】
【実施例】本発明の第１実施例について、図１を参照し
て説明する。
て説明する。
【０００９】図１において、１はメロンに向けてスリッ
ト光（レーザ光など）を発射する光源であり、メロンの
斜め上方に配置する。メロンの上方には、メロンを撮影
する画像入力装置（カメラ）２を配置する。光源１とメ
ロンとの光路上には図示のようにハーフミラー３を配置
するが、その配置はハーフミラー３からの反射光を画像
入力装置２が撮影できる位置とする。画像入力装置２
は、カメラコントローラ４を介して画像処理装置５に接
続する。画像処理装置５はＣＰＵやメモリなどからな
り、後述のように所定の画像処理を行う。画像処理装置
５はホストコンピュータ６に接続するとともに、ホスト
コンピュータ６には表示装置（ＣＲＴ）７を接続する。
ト光（レーザ光など）を発射する光源であり、メロンの
斜め上方に配置する。メロンの上方には、メロンを撮影
する画像入力装置（カメラ）２を配置する。光源１とメ
ロンとの光路上には図示のようにハーフミラー３を配置
するが、その配置はハーフミラー３からの反射光を画像
入力装置２が撮影できる位置とする。画像入力装置２
は、カメラコントローラ４を介して画像処理装置５に接
続する。画像処理装置５はＣＰＵやメモリなどからな
り、後述のように所定の画像処理を行う。画像処理装置
５はホストコンピュータ６に接続するとともに、ホスト
コンピュータ６には表示装置（ＣＲＴ）７を接続する。
【００１０】次に、このように構成する第１実施例の画
像処理例について、図３のフローチャートを参照して説
明する。
像処理例について、図３のフローチャートを参照して説
明する。
【００１１】いま、光源１からレーザ光などのスリット
光が発射されると、そのスリット光は、ハーフミラー３
を透過してメロンを照射する一方（Ｓ１）、ハーフミラ
ー３で反射されて反射光となる。次に、画像入力装置２
で撮影した画像を入力すると（Ｓ２）、その入力画像
は、図２に示すように反射光による直線パターンＬ１
と、透過光による歪パターンＬ２とを含むものになる。
ここで、歪パターンＬ２は、メロン表面の凹凸状態を反
映する。
光が発射されると、そのスリット光は、ハーフミラー３
を透過してメロンを照射する一方（Ｓ１）、ハーフミラ
ー３で反射されて反射光となる。次に、画像入力装置２
で撮影した画像を入力すると（Ｓ２）、その入力画像
は、図２に示すように反射光による直線パターンＬ１
と、透過光による歪パターンＬ２とを含むものになる。
ここで、歪パターンＬ２は、メロン表面の凹凸状態を反
映する。
【００１２】そして、その入力画像からメロンの直径を
求め（Ｓ３）、その求めた直径に応じて画像をあらかじ
め設定した大きさに変換する（Ｓ４）。次に、直線パタ
ーンＬ１をあらかじめ設定した位置に移動し、この移動
した直線パターンＬ１と歪パターンＬ２で囲まれる部分
の面積Ｓ１を図４（Ｂ）で示すように算出する（Ｓ
５）。さらに、歪パターンＬ２のデータを微分して図４
（Ａ）で示すように変曲点Ｐ１，Ｐ２，Ｐ３等を求め
（Ｓ６）、これら３つの変曲点Ｐ１，Ｐ２，Ｐ３で構成
する歪部の面積Ｓ２を図４（Ｂ）で示すように算出する
（Ｓ７）。
求め（Ｓ３）、その求めた直径に応じて画像をあらかじ
め設定した大きさに変換する（Ｓ４）。次に、直線パタ
ーンＬ１をあらかじめ設定した位置に移動し、この移動
した直線パターンＬ１と歪パターンＬ２で囲まれる部分
の面積Ｓ１を図４（Ｂ）で示すように算出する（Ｓ
５）。さらに、歪パターンＬ２のデータを微分して図４
（Ａ）で示すように変曲点Ｐ１，Ｐ２，Ｐ３等を求め
（Ｓ６）、これら３つの変曲点Ｐ１，Ｐ２，Ｐ３で構成
する歪部の面積Ｓ２を図４（Ｂ）で示すように算出する
（Ｓ７）。
【００１３】このように算出した直線パターンＬ１と歪
パターンＬ２とで囲まれる部分の面積Ｓ１と、歪パター
ンＬ２の歪部の面積Ｓ２とにより、メロン表面の歪みの
程度がわかる。そこで、次にその面積Ｓ１と面積Ｓ２と
の比（歪み量）を求め（Ｓ８）、その求めた比の大小に
応じてメロン表面の歪みを評価する（Ｓ９）。
パターンＬ２とで囲まれる部分の面積Ｓ１と、歪パター
ンＬ２の歪部の面積Ｓ２とにより、メロン表面の歪みの
程度がわかる。そこで、次にその面積Ｓ１と面積Ｓ２と
の比（歪み量）を求め（Ｓ８）、その求めた比の大小に
応じてメロン表面の歪みを評価する（Ｓ９）。
【００１４】なお、以上の実施例では、ハーフミラー３
を用いて直線パターンＬ１を作成したが、この直線パタ
ーンは画像メモリ上にあらかじめ設定した位置であって
も良く、この場合にはハーフミラー３は省略できる。
を用いて直線パターンＬ１を作成したが、この直線パタ
ーンは画像メモリ上にあらかじめ設定した位置であって
も良く、この場合にはハーフミラー３は省略できる。
【００１５】本発明の第２実施例について、図５を参照
して説明する。
して説明する。
【００１６】図５において、１はメロンに向けてスリッ
ト光（レーザ光など）を照射する光源であり、メロンの
斜め上方に配置する。メロンの上方には、画像入力装置
（カメラ）２を配置する。画像入力装置２は、カメラコ
ントローラ４を介して画像処理装置５に接続する。画像
処理装置５はＣＰＵやメモリなどからなり、後述のよう
に所定の画像処理を行う。画像処理装置５はホストコン
ピュータ６に接続するとともに、表示装置（ＣＲＴ）７
を接続する。
ト光（レーザ光など）を照射する光源であり、メロンの
斜め上方に配置する。メロンの上方には、画像入力装置
（カメラ）２を配置する。画像入力装置２は、カメラコ
ントローラ４を介して画像処理装置５に接続する。画像
処理装置５はＣＰＵやメモリなどからなり、後述のよう
に所定の画像処理を行う。画像処理装置５はホストコン
ピュータ６に接続するとともに、表示装置（ＣＲＴ）７
を接続する。
【００１７】次に、このように構成する第２実施例の画
像処理例について、図７のフローチャートを参照して説
明する。
像処理例について、図７のフローチャートを参照して説
明する。
【００１８】いま、光源１からレーザ光などのスリット
光によりメロンが照射され（Ｓ１１）、画像入力装置２
が撮影した画像を入力すると（Ｓ１２）、その入力画像
は、図６に示すようにスリット光による歪パターンＬ３
を含むものになる。そして、その入力画像からレーザ照
射部（歪パターンＬ３）を抽出したのち（Ｓ１３）、そ
の抽出した歪パターンＬ３の両端Ａ，Ｂを、図８（Ｂ）
で示すように検出する（Ｓ１４）。
光によりメロンが照射され（Ｓ１１）、画像入力装置２
が撮影した画像を入力すると（Ｓ１２）、その入力画像
は、図６に示すようにスリット光による歪パターンＬ３
を含むものになる。そして、その入力画像からレーザ照
射部（歪パターンＬ３）を抽出したのち（Ｓ１３）、そ
の抽出した歪パターンＬ３の両端Ａ，Ｂを、図８（Ｂ）
で示すように検出する（Ｓ１４）。
【００１９】次に、その検出した一端Ａと他端Ｂを結ぶ
直線Ｌ４と、歪パターンＬ３とで囲まれた面積Ｓ１を、
図８（Ｂ）で示すように算出する（Ｓ１５）。さらに、
歪パターンＬ３のデータを直線Ｌ４からの垂直方向のデ
ータに変換し（Ｓ１６）、その変換したデータを微分し
て変曲点を求め（Ｓ１７）、その求めた変曲点の３点を
一組とし歪部とし（Ｓ１８）、その歪部の面積Ｓ２を図
８（Ｂ）で示すように算出する（Ｓ１９）。
直線Ｌ４と、歪パターンＬ３とで囲まれた面積Ｓ１を、
図８（Ｂ）で示すように算出する（Ｓ１５）。さらに、
歪パターンＬ３のデータを直線Ｌ４からの垂直方向のデ
ータに変換し（Ｓ１６）、その変換したデータを微分し
て変曲点を求め（Ｓ１７）、その求めた変曲点の３点を
一組とし歪部とし（Ｓ１８）、その歪部の面積Ｓ２を図
８（Ｂ）で示すように算出する（Ｓ１９）。
【００２０】このように算出した直線Ｌ４と歪パターン
Ｌ３とで囲まれる部分の面積Ｓ１と、歪部の面積Ｓ２と
により、メロン表面の歪みの程度がわかる。そこで、次
にその面積Ｓ１と面積Ｓ２との比（歪み量）を求め（Ｓ
２０）、その求めた比の大小に応じてメロン表面の歪み
を評価する（Ｓ２１）。
Ｌ３とで囲まれる部分の面積Ｓ１と、歪部の面積Ｓ２と
により、メロン表面の歪みの程度がわかる。そこで、次
にその面積Ｓ１と面積Ｓ２との比（歪み量）を求め（Ｓ
２０）、その求めた比の大小に応じてメロン表面の歪み
を評価する（Ｓ２１）。
【００２１】次に、本発明に関連する装置について説明
する。この装置は、箱詰めメロンの等級を評価するもの
に関し、特にその評価に要する時間の短縮化を図ったも
のであり、以下に詳述する。
する。この装置は、箱詰めメロンの等級を評価するもの
に関し、特にその評価に要する時間の短縮化を図ったも
のであり、以下に詳述する。
【００２２】すなわち、この装置は、図９に示すように
箱詰めメロン１１を搬送装置１２で搬送するように構成
し、搬送装置１２の搬送路上に光源１３を設ける。ま
た、搬送装置１２の搬送路１３の上方の所定位置に、画
像取り込み用のタイミングセンサ１４、光源１５、２つ
の画像入力装置１６、および箱内のメロンの個数を光学
的に検出するためのセンサとして変位計１７をそれぞれ
配置する。
箱詰めメロン１１を搬送装置１２で搬送するように構成
し、搬送装置１２の搬送路上に光源１３を設ける。ま
た、搬送装置１２の搬送路１３の上方の所定位置に、画
像取り込み用のタイミングセンサ１４、光源１５、２つ
の画像入力装置１６、および箱内のメロンの個数を光学
的に検出するためのセンサとして変位計１７をそれぞれ
配置する。
【００２３】画像入力装置１６は、カメラコントローラ
１８を介して画像処理装置１９に接続する。画像処理装
置１９は、ＣＰＵやメモリなどからなり所定の画像処理
を行うとともに、表示装置（ＣＲＴ）２０を接続する。
また、画像処理装置１９はシステムコントローラ２１と
接続し、システムコントローラ２１は３つの変位計１７
と接続する。
１８を介して画像処理装置１９に接続する。画像処理装
置１９は、ＣＰＵやメモリなどからなり所定の画像処理
を行うとともに、表示装置（ＣＲＴ）２０を接続する。
また、画像処理装置１９はシステムコントローラ２１と
接続し、システムコントローラ２１は３つの変位計１７
と接続する。
【００２４】次に、このように構成する装置の動作の一
例について、図面を参照して説明する。
例について、図面を参照して説明する。
【００２５】いま、箱詰めメロン１１が搬送装置１２に
より変位形１７の真下を通過すると、各変位計１７の出
力は、例えば図１０で示すようになる。そこで、その変
位形１７の出力により、一箱あたりの詰め合わせ個数を
検出する（Ｓ３１）。引き続き、箱詰めメロン１１が画
像入力装置１６の真下に来ると、画像取り込み用タイミ
ングセンサ１４からの信号により、画像入力装置１６が
撮影する画像を画像処理装置１９が入力する。
より変位形１７の真下を通過すると、各変位計１７の出
力は、例えば図１０で示すようになる。そこで、その変
位形１７の出力により、一箱あたりの詰め合わせ個数を
検出する（Ｓ３１）。引き続き、箱詰めメロン１１が画
像入力装置１６の真下に来ると、画像取り込み用タイミ
ングセンサ１４からの信号により、画像入力装置１６が
撮影する画像を画像処理装置１９が入力する。
【００２６】ところで、メロンの詰め合わせには、例え
ば図１１（Ａ）で示すように一箱あたり６個詰めの場合
と、図１１（Ｂ）で示すように一箱あたり５個詰めの場
合などがあり、その詰め合わせには規則性があるので、
検出したメロンの個数に応じて入力画像上にその規則性
に応じてウインドウを設定する（Ｓ３２）。その結果、
画像上の各メロンは各ウインドウに囲まれた状態にな
る。次に、その各ウインドウ内のメロンについてネット
面積や表面の凹凸などについて評価し（Ｓ３３）、その
各評価の結果から箱内の玉揃いの評価を行い（Ｓ３
４）、その評価結果に基づいて箱単位の等級を判定する
（Ｓ３５）。
ば図１１（Ａ）で示すように一箱あたり６個詰めの場合
と、図１１（Ｂ）で示すように一箱あたり５個詰めの場
合などがあり、その詰め合わせには規則性があるので、
検出したメロンの個数に応じて入力画像上にその規則性
に応じてウインドウを設定する（Ｓ３２）。その結果、
画像上の各メロンは各ウインドウに囲まれた状態にな
る。次に、その各ウインドウ内のメロンについてネット
面積や表面の凹凸などについて評価し（Ｓ３３）、その
各評価の結果から箱内の玉揃いの評価を行い（Ｓ３
４）、その評価結果に基づいて箱単位の等級を判定する
（Ｓ３５）。
【００２７】以上のように上記の装置では、画像処理に
おいて、評価対象であるメロンの認識処理が省略できる
ので、全体として箱詰めメロンの等級評価の処理時間が
短縮できる。
おいて、評価対象であるメロンの認識処理が省略できる
ので、全体として箱詰めメロンの等級評価の処理時間が
短縮できる。
【００２８】
【発明の効果】以上説明したように本発明では、メロン
に向けてスリット光を照射して得られるメロン表面の歪
パターンを撮影し、その歪パターンの歪部分の面積、お
よびその歪パターンと所定の直線で囲まれた面積を算出
し、その両面積に基づいてメロン表面の凹凸を評価する
ようにしたので、メロン表面の凹凸評価の精度、および
信頼性の向上が図れるとともに、その自動化により評価
作業の省力化も実現できる。
に向けてスリット光を照射して得られるメロン表面の歪
パターンを撮影し、その歪パターンの歪部分の面積、お
よびその歪パターンと所定の直線で囲まれた面積を算出
し、その両面積に基づいてメロン表面の凹凸を評価する
ようにしたので、メロン表面の凹凸評価の精度、および
信頼性の向上が図れるとともに、その自動化により評価
作業の省力化も実現できる。
【図１】本発明の第１実施例のブロック図である。
【図２】その入力画像の一例を示す図である。
【図３】その画像処理の一例を示すフローチャートであ
る。
る。
【図４】その画像処理例を説明する図である。
【図５】本発明の第２実施例のブロック図である。
【図６】その入力画像の一例を示す図である。
【図７】その画像処理の一例を示すフローチャートであ
る。
る。
【図８】その画像処理例を説明する図である。
【図９】箱詰めメロンの等級評価装置の一例を示すブロ
ック図である。
ック図である。
【図１０】変位計の出力信号の一例を示す図である。
【図１１】メロンの箱詰めの一例を示す図である。
【図１２】箱詰めメロンの等級評価装置の動作の一例を
示すフローチャートである。 １ 光源 ２ 画像入力装置 ３ ハーフミラー ５ 画像処理装置
示すフローチャートである。 １ 光源 ２ 画像入力装置 ３ ハーフミラー ５ 画像処理装置
Claims (1)
- 【請求項１】メロンに向けてスリット光を照射する照射
手段と、 前記スリット光の照射により生じたメロン表面の歪パタ
ーンを撮影する撮像手段と、 その撮影により得られた歪パターンの歪部分の面積を算
出するとともに、当該歪パターンと所定の直線で囲まれ
た面積を算出する面積算出手段と、 その算出した両面積に基づいてメロン表面における凹凸
を評価する凹凸評価手段と、 を備えてなるメロン表面の凹凸評価装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP35624591A JPH05172549A (ja) | 1991-12-24 | 1991-12-24 | メロン表面の凹凸評価装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP35624591A JPH05172549A (ja) | 1991-12-24 | 1991-12-24 | メロン表面の凹凸評価装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH05172549A true JPH05172549A (ja) | 1993-07-09 |
Family
ID=18448077
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP35624591A Withdrawn JPH05172549A (ja) | 1991-12-24 | 1991-12-24 | メロン表面の凹凸評価装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH05172549A (ja) |
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5708271A (en) * | 1994-12-28 | 1998-01-13 | Sumitomo Metal Mining Co., Ltd. | Non-destructive sugar content measuring apparatus |
| US5726750A (en) * | 1995-06-29 | 1998-03-10 | Sumitomo Metal Mining Co., Ltd. | Non-destructive taste characteristics measuring apparatus and tray used in the apparatus |
| US5844678A (en) * | 1995-06-29 | 1998-12-01 | Sumitomo Metal Mining Co. Ltd. | Non-destructive taste characteristics measuring apparatus and tray used in the apparatus |
| US6504154B2 (en) | 2000-04-24 | 2003-01-07 | Sumitomo Metal Mining Co., Ltd. | Non-destructive sugar content measuring apparatus |
| CN113458010A (zh) * | 2021-07-09 | 2021-10-01 | 邹佳文 | 一种冲压后的金属板平整度检测设备 |
-
1991
- 1991-12-24 JP JP35624591A patent/JPH05172549A/ja not_active Withdrawn
Cited By (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5708271A (en) * | 1994-12-28 | 1998-01-13 | Sumitomo Metal Mining Co., Ltd. | Non-destructive sugar content measuring apparatus |
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| US5844678A (en) * | 1995-06-29 | 1998-12-01 | Sumitomo Metal Mining Co. Ltd. | Non-destructive taste characteristics measuring apparatus and tray used in the apparatus |
| US6504154B2 (en) | 2000-04-24 | 2003-01-07 | Sumitomo Metal Mining Co., Ltd. | Non-destructive sugar content measuring apparatus |
| CN113458010A (zh) * | 2021-07-09 | 2021-10-01 | 邹佳文 | 一种冲压后的金属板平整度检测设备 |
| CN113458010B (zh) * | 2021-07-09 | 2023-08-08 | 东莞市博飞特模具有限公司 | 一种冲压后的金属板平整度检测设备 |
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