JPH0515519A - X線撮像方法 - Google Patents
X線撮像方法Info
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- JPH0515519A JPH0515519A JP3222535A JP22253591A JPH0515519A JP H0515519 A JPH0515519 A JP H0515519A JP 3222535 A JP3222535 A JP 3222535A JP 22253591 A JP22253591 A JP 22253591A JP H0515519 A JPH0515519 A JP H0515519A
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Landscapes
- Radiography Using Non-Light Waves (AREA)
- Apparatus For Radiation Diagnosis (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】 X線撮影において撮影対象の患者、延いては
医師や操作者への被曝線量を最小限にし、且つ高分解能
の撮像を実現する。 【構成】 X線撮像方法はX線源からX線を撮像対象に
対して、X線の実効エネルギがその変動を±10%以内
に収められるフイルタを通過させた上照射せしめ、且つ
X線を撮像対象に通過させた後撮像手段によつて撮像す
るように構成される。
医師や操作者への被曝線量を最小限にし、且つ高分解能
の撮像を実現する。 【構成】 X線撮像方法はX線源からX線を撮像対象に
対して、X線の実効エネルギがその変動を±10%以内
に収められるフイルタを通過させた上照射せしめ、且つ
X線を撮像対象に通過させた後撮像手段によつて撮像す
るように構成される。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明はX線撮像方法、特に被曝
線量を大巾に低減でき、且つ高分解能を得る透過型のX
線撮像方法に関する。
線量を大巾に低減でき、且つ高分解能を得る透過型のX
線撮像方法に関する。
【0002】この種のX線撮像方法は医療診断分野に採
用さて、体内患部を早期に診断し得、有用である。
用さて、体内患部を早期に診断し得、有用である。
【0003】
【従来の技術】一般に体内患部の医療診断においては透
過型のX線撮像方法が多用されている。即ちX線管球か
らX線を放射せしめ、対象体に透過させた後、イメージ
・インテンシフアイア(以下“I.I.”という)カメ
ラにより直接的に撮像するか、あるいはX線フイルムに
より撮影する構成がとられる。
過型のX線撮像方法が多用されている。即ちX線管球か
らX線を放射せしめ、対象体に透過させた後、イメージ
・インテンシフアイア(以下“I.I.”という)カメ
ラにより直接的に撮像するか、あるいはX線フイルムに
より撮影する構成がとられる。
【0004】この場合概して適切なX線画像を得ようと
すればX線の照射線量が増大する上、多様の角度からの
多数のX線画像を撮像する必要があつて、医療現場で従
事する医師等が多量の被曝線量を余儀なくされる問題が
ある。1989年12月の米国科学アカデミーの発表に
よれば被曝線量と放射線障害との関係は比例的であり、
特に低レベル放射線を相対的に短時間、何回も照射され
ると放射線障害(例えば胃ガン等)の罹病率が3〜4倍
に及ぶことが明らかにされている。X線CT法などは患
部のリアルタイムな診断に大きな効果を挙げているが、
X線の照射線量は撮像時間に応じて増大する。
すればX線の照射線量が増大する上、多様の角度からの
多数のX線画像を撮像する必要があつて、医療現場で従
事する医師等が多量の被曝線量を余儀なくされる問題が
ある。1989年12月の米国科学アカデミーの発表に
よれば被曝線量と放射線障害との関係は比例的であり、
特に低レベル放射線を相対的に短時間、何回も照射され
ると放射線障害(例えば胃ガン等)の罹病率が3〜4倍
に及ぶことが明らかにされている。X線CT法などは患
部のリアルタイムな診断に大きな効果を挙げているが、
X線の照射線量は撮像時間に応じて増大する。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】一方X線撮像方法にお
いては例えば骨の撮像時に骨の厚さとX線フイルム上の
骨像の黒化度とが比例しない、いわゆるビームハードニ
ング現象を来す問題もある。換言すればX線は連続した
エネルギスペクトル分布を示すが、この分布パターンが
一方に傾斜するため正確な撮像を行うには問題がある。
上記のX線CT法ではこのビームハードニング現象を、
コンピユータによつて複雑な補正を一時的に行い解決し
ているが、設備が大巾にコスト高になる問題がある。
いては例えば骨の撮像時に骨の厚さとX線フイルム上の
骨像の黒化度とが比例しない、いわゆるビームハードニ
ング現象を来す問題もある。換言すればX線は連続した
エネルギスペクトル分布を示すが、この分布パターンが
一方に傾斜するため正確な撮像を行うには問題がある。
上記のX線CT法ではこのビームハードニング現象を、
コンピユータによつて複雑な補正を一時的に行い解決し
ているが、設備が大巾にコスト高になる問題がある。
【0006】X線のビームハードニング現象を克服する
構成としては本件発明者による米国特許第4,727,
561号並びに米国特願第299,538号が提案され
る。これらの場合同一X線管からのX線を一方のセンサ
において測定対象を通過させることなく受光し、他方の
センサにおいて測定対象の厚さに伴う線吸収係数の変化
のないフイルタ並びに測定対象を通過したX線を受光し
た後、両者の強度の比を求めることによりビームハード
ニング現象の影響を有効に回避して測定対象の高精度の
解析を実現する構成がとられている。
構成としては本件発明者による米国特許第4,727,
561号並びに米国特願第299,538号が提案され
る。これらの場合同一X線管からのX線を一方のセンサ
において測定対象を通過させることなく受光し、他方の
センサにおいて測定対象の厚さに伴う線吸収係数の変化
のないフイルタ並びに測定対象を通過したX線を受光し
た後、両者の強度の比を求めることによりビームハード
ニング現象の影響を有効に回避して測定対象の高精度の
解析を実現する構成がとられている。
【0007】本発明は上述の先行発明におけるビームハ
ードニング現象の回避構成を基礎とし、効果的なX線撮
像方法を創作することを企図する。
ードニング現象の回避構成を基礎とし、効果的なX線撮
像方法を創作することを企図する。
【0008】しかして本発明の目的はX線の照射線量が
大巾に減じられて患者、医師あるいは操作者等への被曝
線量を低減し放射線障害を最小限に制えると共に、ビー
ムハードニング現象を有効に回避し、高分解能の撮像を
可能にしたX線撮像方法を提供するにある。
大巾に減じられて患者、医師あるいは操作者等への被曝
線量を低減し放射線障害を最小限に制えると共に、ビー
ムハードニング現象を有効に回避し、高分解能の撮像を
可能にしたX線撮像方法を提供するにある。
【0009】
【問題点を解決するための手段】本発明によればこの目
的はX線管からX線を放射し、X線管から放射されたX
線をフイルタに通過させ、フイルタを通過したX線を撮
像対象に通過させた後撮像装置によつて撮像させてなる
X線撮像方法において、X線管から放射されたX線の実
効エネルギの変動をフイルタにおいて±10%以内に収
めることを特徴とすることにより、達成される。
的はX線管からX線を放射し、X線管から放射されたX
線をフイルタに通過させ、フイルタを通過したX線を撮
像対象に通過させた後撮像装置によつて撮像させてなる
X線撮像方法において、X線管から放射されたX線の実
効エネルギの変動をフイルタにおいて±10%以内に収
めることを特徴とすることにより、達成される。
【0010】
【作用】上述のように構成された本発明においてはX線
の実効エネルギの変動を±10%以内に抑制して撮像対
象に照射するから、ビームハードニング現象を効果的に
回避して良好な解像度を得る上、特に照射線量を顕著に
低減する作用が実現される。
の実効エネルギの変動を±10%以内に抑制して撮像対
象に照射するから、ビームハードニング現象を効果的に
回避して良好な解像度を得る上、特に照射線量を顕著に
低減する作用が実現される。
【0011】
【実施例】図1を参照するに本発明によるX線撮像方法
に採用されるシステム10が示されており、システム1
0にはX線管球のようなX線源11が含まれる。X線源
11からは例えば1Å以下の硬X線ビームが照射可能に
設けられ、X線源の下方には回転フイルタデイスク12
が配設される。回転フイルタデイスク12には円周方向
に相互に離間させて多数のフイルタ部材13、13a、
13b、……13nが配列され、回転駆動装置14によ
り適宜の角度回転されたとき、多数のフイルタ部材1
3、13a、13b、……13nの一がX線源11の直
下に配置される。またフイルタ部材13、13a、13
b、……13n相互はX線源11への各種の印加電圧、
換言すればX線源11からの各種のX線スペクトル分布
に相応するに異ならしめられており、放射されるX線の
実効エネルギの変動を±10%以内に収めるように設定
される。
に採用されるシステム10が示されており、システム1
0にはX線管球のようなX線源11が含まれる。X線源
11からは例えば1Å以下の硬X線ビームが照射可能に
設けられ、X線源の下方には回転フイルタデイスク12
が配設される。回転フイルタデイスク12には円周方向
に相互に離間させて多数のフイルタ部材13、13a、
13b、……13nが配列され、回転駆動装置14によ
り適宜の角度回転されたとき、多数のフイルタ部材1
3、13a、13b、……13nの一がX線源11の直
下に配置される。またフイルタ部材13、13a、13
b、……13n相互はX線源11への各種の印加電圧、
換言すればX線源11からの各種のX線スペクトル分布
に相応するに異ならしめられており、放射されるX線の
実効エネルギの変動を±10%以内に収めるように設定
される。
【0012】X線源11並びに回転フイルタデイスク1
2の回転駆動装置14は夫々X線制御装置15並びにフ
イルタ制御装置16の各々により制御可能に設けられ、
フイルタ制御装置16はX線制御装置15と連係されて
いて、X線の実効エネルギに相応したフイルタ部材が割
出され得る。回転フイルタデイスク12を通過したX線
は撮像用のテーブル17に乗せられた撮像対象OJに照
射され、このときフイルムカセツト18内のX線フイル
ムに撮像対象OJが撮影される。
2の回転駆動装置14は夫々X線制御装置15並びにフ
イルタ制御装置16の各々により制御可能に設けられ、
フイルタ制御装置16はX線制御装置15と連係されて
いて、X線の実効エネルギに相応したフイルタ部材が割
出され得る。回転フイルタデイスク12を通過したX線
は撮像用のテーブル17に乗せられた撮像対象OJに照
射され、このときフイルムカセツト18内のX線フイル
ムに撮像対象OJが撮影される。
【0013】一方必要ならばフイルムカセツト18を除
去して撮像対象OJを通過したX線をI.I.カメラ1
9に付与することもでき、この場合I.I.カメラ19
にはカメラ制御装置20が連係されていて好適な制御を
受けると共に、I.I.カメラ19において撮像したX
線画像を、カメラ制御装置20を介し画像処理装置21
に送り、更にこの画像処理装置21と連係するCRT2
2にて透視画像として出力する。
去して撮像対象OJを通過したX線をI.I.カメラ1
9に付与することもでき、この場合I.I.カメラ19
にはカメラ制御装置20が連係されていて好適な制御を
受けると共に、I.I.カメラ19において撮像したX
線画像を、カメラ制御装置20を介し画像処理装置21
に送り、更にこの画像処理装置21と連係するCRT2
2にて透視画像として出力する。
【0014】しかして上述のシステム10においてはX
線制御装置15によりX線の照射エネルギを調整しつゝ
X線源11からX線を照射する。次に照射されたX線を
回転フイルタデイスク12を作動して割出したフイルタ
部材13、13a、13b、……13nの一に通過さ
せ、X線の実効エネルギの変動を±10%以内に収め
る。このとき回転フイルタデイスク12の作動はX線制
御装置15からX線源11への出力に相応させてフイル
タ制御装置16により回転駆動装置14を駆動せしめ遂
行する。フイルタ部材を通過したX線は撮像対象に照射
させ、フイルムカセツト18内のX線フイルムにおいて
いわゆる直接撮影法による撮像を得るか、あるいはI.
I.カメラ19、カメラ制御装置20並びに画像処理装
置21を経、CRT22において透視画像を得る。
線制御装置15によりX線の照射エネルギを調整しつゝ
X線源11からX線を照射する。次に照射されたX線を
回転フイルタデイスク12を作動して割出したフイルタ
部材13、13a、13b、……13nの一に通過さ
せ、X線の実効エネルギの変動を±10%以内に収め
る。このとき回転フイルタデイスク12の作動はX線制
御装置15からX線源11への出力に相応させてフイル
タ制御装置16により回転駆動装置14を駆動せしめ遂
行する。フイルタ部材を通過したX線は撮像対象に照射
させ、フイルムカセツト18内のX線フイルムにおいて
いわゆる直接撮影法による撮像を得るか、あるいはI.
I.カメラ19、カメラ制御装置20並びに画像処理装
置21を経、CRT22において透視画像を得る。
【0015】実験例1
本発明によるX線撮像方法を採用し、撮像対象としてA
l板を用いて、Al板の積層厚を徐々に0mm〜10.
0mmまで5段階に変化させ、純ゲルマニウム半導体検
出器及び波高分析器によりX線スペクトル分布を計測し
た。この結果図2に示す如く実効エネルギ分布に傾斜を
生ぜず、エネルギ分布の中心値を結ぶ破線P1が実質的
に垂直になつた。従つて本X線撮像方法によればビーム
ハードニング現象の影響を実質的に回避でき、分解能を
向上し得ることが判明した。尚本実験例においてX線源
11の管電圧を120kV、管電流を50μAにして実
施した。
l板を用いて、Al板の積層厚を徐々に0mm〜10.
0mmまで5段階に変化させ、純ゲルマニウム半導体検
出器及び波高分析器によりX線スペクトル分布を計測し
た。この結果図2に示す如く実効エネルギ分布に傾斜を
生ぜず、エネルギ分布の中心値を結ぶ破線P1が実質的
に垂直になつた。従つて本X線撮像方法によればビーム
ハードニング現象の影響を実質的に回避でき、分解能を
向上し得ることが判明した。尚本実験例においてX線源
11の管電圧を120kV、管電流を50μAにして実
施した。
【0016】比較例1
回転フイルタデイスクを割愛した点を除き実験例1と同
一の撮像方法を採用し、撮像対象としてAl板を用い、
Al積層板厚を徐々に0mm〜2.0mmまで4段階に
変化させて純ゲルマニウム半導体検出器及び波高分析器
によりX線スペクトル分布を計測した。この結果図3a
に示す如く実効エネルギ分布に傾斜を生じた。即ち実効
エネルギの中心値を結ぶ破線直線P2がビームハードニ
ング現象の影響を受けて傾斜し、実効エネルギの変動巾
が±22%程度に達して、分解能が低下した。
一の撮像方法を採用し、撮像対象としてAl板を用い、
Al積層板厚を徐々に0mm〜2.0mmまで4段階に
変化させて純ゲルマニウム半導体検出器及び波高分析器
によりX線スペクトル分布を計測した。この結果図3a
に示す如く実効エネルギ分布に傾斜を生じた。即ち実効
エネルギの中心値を結ぶ破線直線P2がビームハードニ
ング現象の影響を受けて傾斜し、実効エネルギの変動巾
が±22%程度に達して、分解能が低下した。
【0017】比較例2
回転フイルタデイスクを割愛した点を除き実験例1と同
一の撮像方法を採用し、且つ撮像対象としてAg板を用
いると共に、Ag板の積層厚を徐々に0mm〜0.2m
mまで5段階に変化させ、純ゲルマニウム半導体検出器
及び波高分析器によりX線スペクトル分布を計測した。
この結果図3bに示す如くビームハードニング現象の影
響を強く受けて図3aに示すAlの場合より実効エネル
ギの中心値を結ぶ破線直線P3が大きく傾斜し、実効エ
ネルギの変動巾が±31%程度に達して、分解能が更に
低下することが判明した。
一の撮像方法を採用し、且つ撮像対象としてAg板を用
いると共に、Ag板の積層厚を徐々に0mm〜0.2m
mまで5段階に変化させ、純ゲルマニウム半導体検出器
及び波高分析器によりX線スペクトル分布を計測した。
この結果図3bに示す如くビームハードニング現象の影
響を強く受けて図3aに示すAlの場合より実効エネル
ギの中心値を結ぶ破線直線P3が大きく傾斜し、実効エ
ネルギの変動巾が±31%程度に達して、分解能が更に
低下することが判明した。
【0018】上述の比較例1、2から明らかなように撮
像対象の原子番号が大きい程、ビームハードニング現象
を受けるものと考えられる。従つて撮像対象の持つ原子
番号の一をもパラメータとして勘案し、ビームハードニ
ング現象を回避する、即ちX線の実効エネルギ分布にお
いて実効エネルギの中心値を結ぶ直線に傾斜を生じない
よう回転フイルタデイスク上のフイルタ部材を選定して
割出回転させれば、撮像対象を問わず良好な画像を得る
ことができる。これにより比較例1、2の場合図7に示
す如く撮像対象ないしは原子番号によつて実効エネルギ
は変動したが、本発明による実験例1によれば図6に示
すように撮像対象ないしは原子番号にかかわらず、実効
エネルギの変動は実質的に抑制され、定性定量の判別が
可能になつた。
像対象の原子番号が大きい程、ビームハードニング現象
を受けるものと考えられる。従つて撮像対象の持つ原子
番号の一をもパラメータとして勘案し、ビームハードニ
ング現象を回避する、即ちX線の実効エネルギ分布にお
いて実効エネルギの中心値を結ぶ直線に傾斜を生じない
よう回転フイルタデイスク上のフイルタ部材を選定して
割出回転させれば、撮像対象を問わず良好な画像を得る
ことができる。これにより比較例1、2の場合図7に示
す如く撮像対象ないしは原子番号によつて実効エネルギ
は変動したが、本発明による実験例1によれば図6に示
すように撮像対象ないしは原子番号にかかわらず、実効
エネルギの変動は実質的に抑制され、定性定量の判別が
可能になつた。
【0019】一方本発明による撮像方法においても電源
電圧、電流、室温、湿度などの条件の変化により実効エ
ネルギが変動するものの、実効エネルギが100keV
以下のときは±10keV以内の変動に収め、且つ10
0keVを越えるときはその±10%以内の変動に収め
れば実効エネルギの定常化を図ることができる。換言す
れば図2に破線P1で示すような実効エネルギの中心値
を結ぶ直線の傾斜が有効に抑えられ、実効エネルギの変
動が±10%以内、更に好適には±0%に近付くように
X線照射直後のX線をフイルタリングすることになる。
電圧、電流、室温、湿度などの条件の変化により実効エ
ネルギが変動するものの、実効エネルギが100keV
以下のときは±10keV以内の変動に収め、且つ10
0keVを越えるときはその±10%以内の変動に収め
れば実効エネルギの定常化を図ることができる。換言す
れば図2に破線P1で示すような実効エネルギの中心値
を結ぶ直線の傾斜が有効に抑えられ、実効エネルギの変
動が±10%以内、更に好適には±0%に近付くように
X線照射直後のX線をフイルタリングすることになる。
【0020】実験例2
本発明によるX線撮像方法を採用し、撮像対象としてA
l板を用い、これを徐々に積層して最上層のAl板の周
辺縁の像が残ると共に中央部の像が見えなくなるまでの
黒化度をI.I.カメラを通し、CRTでモニタした。
これにより撮像対象としてのAl板の見える最小厚を測
定した。且つまた撮像対象としてのAl板の上面に径が
0.6mmの銅線リングを置き、徐々にAl板を積層し
ていき、頂部に位置させた銅線リングの像が見えなくな
るまでの黒化度をI.I.カメラを通しCRTでモニタ
した。これにより撮像対象としてのAl板の見える最大
厚を測定した。尚本実施例においてはX線源の管電圧を
80kV、管電流を1mAにして実施した。
l板を用い、これを徐々に積層して最上層のAl板の周
辺縁の像が残ると共に中央部の像が見えなくなるまでの
黒化度をI.I.カメラを通し、CRTでモニタした。
これにより撮像対象としてのAl板の見える最小厚を測
定した。且つまた撮像対象としてのAl板の上面に径が
0.6mmの銅線リングを置き、徐々にAl板を積層し
ていき、頂部に位置させた銅線リングの像が見えなくな
るまでの黒化度をI.I.カメラを通しCRTでモニタ
した。これにより撮像対象としてのAl板の見える最大
厚を測定した。尚本実施例においてはX線源の管電圧を
80kV、管電流を1mAにして実施した。
【0021】比較例3
回転フイルタデイスクの使用を割愛した点を除き実験例
2と同一の撮像方法を採用し、且つ実験例2と同様にし
てAl板の最小厚並びに最大厚を測定した。
2と同一の撮像方法を採用し、且つ実験例2と同様にし
てAl板の最小厚並びに最大厚を測定した。
【0022】これらの実験例2並びに比較例3における
Al板の厚さと黒化度との関係を図4に示した。また図
4に基づいてAl板の見える範囲(焦点深度)とAl板
の厚さ勾配を図5に示した。これらの結果本発明による
実験例2での照射線量R1は54mR/分になり、比較
例における照射線量R2の2,020mR/分に比べ
て、2.7%{(R1/R2)x100}に激減した。
且つまた実験例2において最上層のAl板中央が見えな
くなるまでのAl板の最小厚T1は2.4cmであり、
比較例3における最上層のAl板の中央が見えなくなる
までのAl板の最小厚T2は4.0cmとなつて本発明
による場合照射線量が1/37に激減したにもかゝわら
ず60%{(T1/T2)x100}程度にとどまつ
た。一方実験例において頂部に位置する銅線リングの像
が見えなくなるまでのAl板の最大厚T3は7.4cm
であり、比較例3において頂部に位置する銅線リングの
像が見えなくなるまでのAl板の最大厚T4は8.6c
mとなつて本発明による場合86%{(T3/T4)x
100}程度にとどまつた。従つて本実験例2による場
合X線透過に際しAl板の見える範囲Z1は5.0cm
(T3−T1)となるが、比較例3による場合その見え
る範囲Z2は4.6cm(T4−T2)となつて、本実
験例2によれば比較例3に比べ109%{(Z1/Z
2)x100}、見える範囲が広がることが判明した。
Al板の厚さと黒化度との関係を図4に示した。また図
4に基づいてAl板の見える範囲(焦点深度)とAl板
の厚さ勾配を図5に示した。これらの結果本発明による
実験例2での照射線量R1は54mR/分になり、比較
例における照射線量R2の2,020mR/分に比べ
て、2.7%{(R1/R2)x100}に激減した。
且つまた実験例2において最上層のAl板中央が見えな
くなるまでのAl板の最小厚T1は2.4cmであり、
比較例3における最上層のAl板の中央が見えなくなる
までのAl板の最小厚T2は4.0cmとなつて本発明
による場合照射線量が1/37に激減したにもかゝわら
ず60%{(T1/T2)x100}程度にとどまつ
た。一方実験例において頂部に位置する銅線リングの像
が見えなくなるまでのAl板の最大厚T3は7.4cm
であり、比較例3において頂部に位置する銅線リングの
像が見えなくなるまでのAl板の最大厚T4は8.6c
mとなつて本発明による場合86%{(T3/T4)x
100}程度にとどまつた。従つて本実験例2による場
合X線透過に際しAl板の見える範囲Z1は5.0cm
(T3−T1)となるが、比較例3による場合その見え
る範囲Z2は4.6cm(T4−T2)となつて、本実
験例2によれば比較例3に比べ109%{(Z1/Z
2)x100}、見える範囲が広がることが判明した。
【0023】実験例3〜7
更に表1の如く撮像対象並びに管電圧を変化させ実験例
2と同様にして照射線量並びに撮像対象の像の見える範
囲を測定した。この場合X線源の管電圧に応じてフイル
タ部材も表1のように適宜変えた。
2と同様にして照射線量並びに撮像対象の像の見える範
囲を測定した。この場合X線源の管電圧に応じてフイル
タ部材も表1のように適宜変えた。
【0024】
【表1】
【0025】比較例4〜8
更に表1の如く撮像対象並びに管電圧を変化させて比較
例3と同様にして照射線量並びに撮像対象の像の見える
範囲を測定した。
例3と同様にして照射線量並びに撮像対象の像の見える
範囲を測定した。
【0026】これらの実験例3〜7並びに比較例4〜8
の結果から明らかな如く、本発明によるX線撮像方法に
よる場合照射線量を1/8〜1/25にまで激減し得、
延いては操作者の被曝線量を最小限にできる上、満足で
きる解像力が維持され得、医療診断分野に採用して極め
て有用であり、且つ撮像対象に対する分解能が顕著に向
上され、見える範囲も広くし得ると共に、高品質のX線
画像を提供できることが判明した。
の結果から明らかな如く、本発明によるX線撮像方法に
よる場合照射線量を1/8〜1/25にまで激減し得、
延いては操作者の被曝線量を最小限にできる上、満足で
きる解像力が維持され得、医療診断分野に採用して極め
て有用であり、且つ撮像対象に対する分解能が顕著に向
上され、見える範囲も広くし得ると共に、高品質のX線
画像を提供できることが判明した。
【0027】更に本発明によるX線撮像方法でX線撮影
を行う場合、通常の撮像条件での管電圧を10〜20%
増大させても、照射線量の大巾な低減を図りつゝ、市販
のX線フイルムによつて極めて高品質のX線画像を得る
ことができる。
を行う場合、通常の撮像条件での管電圧を10〜20%
増大させても、照射線量の大巾な低減を図りつゝ、市販
のX線フイルムによつて極めて高品質のX線画像を得る
ことができる。
【0028】実験例8、9
表2の如く通常の撮影条件での管電圧を各々20%増加
して、市販のX線フイルムによりX線画像を得た。同表
2に夫々の実験例の照射線量を通常の撮影条件での照射
線量と対比して示してある。
して、市販のX線フイルムによりX線画像を得た。同表
2に夫々の実験例の照射線量を通常の撮影条件での照射
線量と対比して示してある。
【0029】
【表2】
【0030】実験例10
管電圧を通常の撮影条件での管電圧に対し10%並びに
20%増加して、実験例8、9と同様にX線画像を得
た。表2にその照射線量を通常の撮影条件での照射線量
と対比して示してある。
20%増加して、実験例8、9と同様にX線画像を得
た。表2にその照射線量を通常の撮影条件での照射線量
と対比して示してある。
【0031】比較例9、10並びに11
回転フイルタデイスクの使用を割愛した点を除き、上記
実験例8、9並びに10と同様にX線画像を得た。表2
にそれらの照射線量を示してある。
実験例8、9並びに10と同様にX線画像を得た。表2
にそれらの照射線量を示してある。
【0032】尚実験例8〜10並びに比較例9〜11に
おいて管電流は須らく100mAであつた。また表2に
おいて実験例8〜10の照射線量比を、各比較例を10
0として表してある。
おいて管電流は須らく100mAであつた。また表2に
おいて実験例8〜10の照射線量比を、各比較例を10
0として表してある。
【0033】これらの実験例8〜10並びに比較例9〜
11の結果から明らかなように、管電圧を10%あるい
は20%に増大したにも拘わらず、照射線量は1/4〜
1/11に激減した。
11の結果から明らかなように、管電圧を10%あるい
は20%に増大したにも拘わらず、照射線量は1/4〜
1/11に激減した。
【0034】総じて本発明においては特に実効エネルギ
の中心値を結ぶ線が垂直線に近付けば近付く程、概して
低エネルギ側、即ち図2で50keV以下がカツトさ
れ、周知構成に比べ低エネルギレベルの照射線量をカツ
トでき、低エネルギのX線照射によつて引起こされると
考えられている放射線障害の罹病率を低減でき、人体障
害を効果的に抑止できることが理解されよう。
の中心値を結ぶ線が垂直線に近付けば近付く程、概して
低エネルギ側、即ち図2で50keV以下がカツトさ
れ、周知構成に比べ低エネルギレベルの照射線量をカツ
トでき、低エネルギのX線照射によつて引起こされると
考えられている放射線障害の罹病率を低減でき、人体障
害を効果的に抑止できることが理解されよう。
【0035】
【発明の効果】上述の本発明によるX線撮像方法によれ
ば高分解能をもつて撮像を実現し、正確な医療診断等に
充分に寄与し得る上、特に照射線量を顕著に低減するこ
とにより、患者、医師あるいは操作者等への被曝線量を
大巾に低下させて放射線障害の発生を有効に抑止できる
等々の効果を達成する。
ば高分解能をもつて撮像を実現し、正確な医療診断等に
充分に寄与し得る上、特に照射線量を顕著に低減するこ
とにより、患者、医師あるいは操作者等への被曝線量を
大巾に低下させて放射線障害の発生を有効に抑止できる
等々の効果を達成する。
【図1】本発明によるX線撮像方法の全体構成を示す説
明図である。
明図である。
【図2】図1に表した撮像方法による場合のX線スペク
トル分布図である。
トル分布図である。
【図3】aおよびbは夫々図2に対照して示す本発明に
よらない撮像方法でのX線スペクトル分布図である。
よらない撮像方法でのX線スペクトル分布図である。
【図4】本発明による場合とよらない場合とを対照して
X線の焦点深度と撮像対象の厚さとの関係を示す模式図
である。
X線の焦点深度と撮像対象の厚さとの関係を示す模式図
である。
【図5】本発明による場合とよらない場合とを対照して
X線の焦点深度と撮像対象の勾配との関係を示す模式図
である。
X線の焦点深度と撮像対象の勾配との関係を示す模式図
である。
【図6】本発明のX線撮像方法における撮像対象の厚さ
と実効エネルギとの関係を示すグラフである。
と実効エネルギとの関係を示すグラフである。
【図7】本発明によらないX線撮像方法における撮像対
象の厚さと実効エネルギの関係を示すグラフである。
象の厚さと実効エネルギの関係を示すグラフである。
10 システム
11 X線源
12 回転フイルタデイスク
13a…13n フイルタ部材
14 回転駆動部材
15 X線制御装置
16 フイルタ制御装置
17 テーブル
─────────────────────────────────────────────────────
【手続補正書】
【提出日】平成4年7月18日
【手続補正1】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】請求項5
【補正方法】変更
【補正内容】
Claims (5)
- 【請求項1】 X線源からX線を放射し、X線源から放
射されたX線をフイルタに通過させ、フイルタを通過し
たX線を撮像対象に照射させた後撮像手段により撮像す
るX線撮像方法において、X線源から放射されたX線の
実効エネルギの変動を、フイルタにおいて±10%以内
に収めることを特徴とする方法。 - 【請求項2】 医療用システムを採用してなる請求項1
のX線撮像方法。 - 【請求項3】 撮像手段にはI.I.カメラ、画像処理
装置並びにCRTが含まれたものを用いてなる請求項1
のX線撮像方法。 - 【請求項4】 撮像手段にはフイルムカセツトが含まれ
たものを用いてなる請求項1のX線撮像方法。 - 【請求項5】 フイルタに通過することにより実行エネ
ルギの低エネルギレベルをカツトしてなる請求項1のX
線撮像方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP3222535A JP2853065B2 (ja) | 1990-05-25 | 1991-05-23 | X線撮像方法 |
Applications Claiming Priority (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP13629890 | 1990-05-25 | ||
JP2-136298 | 1990-05-25 | ||
JP3222535A JP2853065B2 (ja) | 1990-05-25 | 1991-05-23 | X線撮像方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH0515519A true JPH0515519A (ja) | 1993-01-26 |
JP2853065B2 JP2853065B2 (ja) | 1999-02-03 |
Family
ID=26469930
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP3222535A Expired - Lifetime JP2853065B2 (ja) | 1990-05-25 | 1991-05-23 | X線撮像方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2853065B2 (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2006271437A (ja) * | 2005-03-28 | 2006-10-12 | Aloka Co Ltd | X線骨密度測定装置 |
Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS4999290A (ja) * | 1973-01-27 | 1974-09-19 | ||
JPS5060191A (ja) * | 1973-09-19 | 1975-05-23 | ||
JPS5436625U (ja) * | 1977-08-15 | 1979-03-10 | ||
JPH01126600A (ja) * | 1987-11-12 | 1989-05-18 | Mitsubishi Electric Corp | 放射線用平坦化フイルタ装置 |
-
1991
- 1991-05-23 JP JP3222535A patent/JP2853065B2/ja not_active Expired - Lifetime
Patent Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS4999290A (ja) * | 1973-01-27 | 1974-09-19 | ||
JPS5060191A (ja) * | 1973-09-19 | 1975-05-23 | ||
JPS5436625U (ja) * | 1977-08-15 | 1979-03-10 | ||
JPH01126600A (ja) * | 1987-11-12 | 1989-05-18 | Mitsubishi Electric Corp | 放射線用平坦化フイルタ装置 |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2006271437A (ja) * | 2005-03-28 | 2006-10-12 | Aloka Co Ltd | X線骨密度測定装置 |
JP4499593B2 (ja) * | 2005-03-28 | 2010-07-07 | アロカ株式会社 | X線骨密度測定装置 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2853065B2 (ja) | 1999-02-03 |
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