JPH05143997A - 追記形光デイスクの最適記録パワ−検出方法 - Google Patents
追記形光デイスクの最適記録パワ−検出方法Info
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- JPH05143997A JPH05143997A JP33447991A JP33447991A JPH05143997A JP H05143997 A JPH05143997 A JP H05143997A JP 33447991 A JP33447991 A JP 33447991A JP 33447991 A JP33447991 A JP 33447991A JP H05143997 A JPH05143997 A JP H05143997A
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Abstract
(57)【要約】
【目的】光ディスク10への追記回数の減少や誤パワ−
による追記を防止できる追記形光ディスクの最適記録パ
ワ−検出方法を提供すること。 【構成】光ディスク10のリ−ドインエリア12のスタ
−ト時間情報Tsをもとにカウントエリア14をアクセ
スし、その追記回数情報で既に何回追記されているかを
検出する第1工程と、第1工程の検出情報に対応したテ
ストエリア16内のエリアにテスト信号を記録して再生
し、この再生信号と基準信号との比較出力に基づいて最
適記録パワ−を検出する第2工程と、この第2工程で検
出した最適記録パワ−情報をカウントエリア14の対応
するエリアに記録する第3工程とからなる方法におい
て、第2工程の動作中にエラ−が発生した場合、第2工
程のテスト信号を記録して再生するためのエリアを、従
来の追記では記録を予定していない空きエリア22、2
4、26、28に置換して第2工程を再実行する。
による追記を防止できる追記形光ディスクの最適記録パ
ワ−検出方法を提供すること。 【構成】光ディスク10のリ−ドインエリア12のスタ
−ト時間情報Tsをもとにカウントエリア14をアクセ
スし、その追記回数情報で既に何回追記されているかを
検出する第1工程と、第1工程の検出情報に対応したテ
ストエリア16内のエリアにテスト信号を記録して再生
し、この再生信号と基準信号との比較出力に基づいて最
適記録パワ−を検出する第2工程と、この第2工程で検
出した最適記録パワ−情報をカウントエリア14の対応
するエリアに記録する第3工程とからなる方法におい
て、第2工程の動作中にエラ−が発生した場合、第2工
程のテスト信号を記録して再生するためのエリアを、従
来の追記では記録を予定していない空きエリア22、2
4、26、28に置換して第2工程を再実行する。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、CD(Compact
Disk)−WO(Write Once)装置のよ
うなユ−ザ−側において追加記録が可能な追記形光ディ
スク記録装置において、光ディスクにデ−タを記録する
ためのレ−ザ光の最適パワ−を検出する方法の改良に関
するものである。
Disk)−WO(Write Once)装置のよ
うなユ−ザ−側において追加記録が可能な追記形光ディ
スク記録装置において、光ディスクにデ−タを記録する
ためのレ−ザ光の最適パワ−を検出する方法の改良に関
するものである。
【0002】
【従来の技術】従来、この種の最適記録パワ−検出方法
は、図2に示すようにして行なわれていた。すなわち、 (イ)第1工程では、まず、図3に示す光ディスク10
のアドレス情報(例えば時間情報)が記録されたトラッ
クの内周側に設けられたリ−ドインエリア12からスペ
シャルインフォメ−ションデ−タを読み込み、このスペ
シャルインフォメ−ションデ−タ中のスタ−ト時間情報
Tsに基づいてPCA(Power Calibrat
ion Area)内のカウントエリア(Count
Area)14をアクセスする。
は、図2に示すようにして行なわれていた。すなわち、 (イ)第1工程では、まず、図3に示す光ディスク10
のアドレス情報(例えば時間情報)が記録されたトラッ
クの内周側に設けられたリ−ドインエリア12からスペ
シャルインフォメ−ションデ−タを読み込み、このスペ
シャルインフォメ−ションデ−タ中のスタ−ト時間情報
Tsに基づいてPCA(Power Calibrat
ion Area)内のカウントエリア(Count
Area)14をアクセスする。
【0003】このカウントエリア14内には、追記の回
数情報を記録するためのエリアが単位の追記期間毎(例
えば単位の追記期間を1フレ−ム(1フレ−ムは(1/
75)(秒)を表わす)として)に区分して、1番目か
ら100番目まで設定されている。このカウントエリア
14へのアクセスにより追記回数情報を読み出し、既に
何回追記されているかを検出する。例えば1番目から1
00番目までのエリアのうちのN番目(例えば50番
目)のエリアまでEFM(Eightto Fourt
een Modulation)信号が記録されている
ときは、追記回数Nが検出される。
数情報を記録するためのエリアが単位の追記期間毎(例
えば単位の追記期間を1フレ−ム(1フレ−ムは(1/
75)(秒)を表わす)として)に区分して、1番目か
ら100番目まで設定されている。このカウントエリア
14へのアクセスにより追記回数情報を読み出し、既に
何回追記されているかを検出する。例えば1番目から1
00番目までのエリアのうちのN番目(例えば50番
目)のエリアまでEFM(Eightto Fourt
een Modulation)信号が記録されている
ときは、追記回数Nが検出される。
【0004】(ロ)つづくで第2工程では、まず、カウ
ントエリア14内の追記回数情報をもとにしてPCA内
のテストエリア(Test Area)16をアクセス
する。このテストエリア16内には、パワ−レベルを複
数段階(例えば15段階)に切り換えたテスト信号を記
録するためのエリアが単位の追記期間毎(例えば単位の
追記期間を15フレ−ムとして)に区分して、1番目か
ら100番目まで設定されている。
ントエリア14内の追記回数情報をもとにしてPCA内
のテストエリア(Test Area)16をアクセス
する。このテストエリア16内には、パワ−レベルを複
数段階(例えば15段階)に切り換えたテスト信号を記
録するためのエリアが単位の追記期間毎(例えば単位の
追記期間を15フレ−ムとして)に区分して、1番目か
ら100番目まで設定されている。
【0005】このテストエリア16へのアクセスによ
り、パワ−レベルを所定のパワ−レベル(例えばリ−ド
インエリア12に記録されている推奨記録パワ−レベ
ル)を中心とした複数段階(例えば15段階)に切り換
えたテスト信号(例えばEFM信号)が、カウントエリ
ア14内の追記回数情報に対応したエリアに記録され
る。すなわち、カウントエリア14内の追記回数情報が
N回(例えば、N=50)であるとすると(すなわち既
に追記された回数がN回であるとすると)、テストエリ
ア16内のN+1番目(例えば、51番目)のエリアの
15フレ−ムに、パワ−レベルの異なるテスト信号が1
レベル1フレ−ムの割合で記録される。
り、パワ−レベルを所定のパワ−レベル(例えばリ−ド
インエリア12に記録されている推奨記録パワ−レベ
ル)を中心とした複数段階(例えば15段階)に切り換
えたテスト信号(例えばEFM信号)が、カウントエリ
ア14内の追記回数情報に対応したエリアに記録され
る。すなわち、カウントエリア14内の追記回数情報が
N回(例えば、N=50)であるとすると(すなわち既
に追記された回数がN回であるとすると)、テストエリ
ア16内のN+1番目(例えば、51番目)のエリアの
15フレ−ムに、パワ−レベルの異なるテスト信号が1
レベル1フレ−ムの割合で記録される。
【0006】(ハ)ついで、前記(ロ)によって記録さ
れたテストエリア16内のN+1番目のエリア(例えば
51番目のエリア)からパワ−レベルが複数段階に異な
るテスト信号が再生される。そして、この再生信号と基
準信号との比較出力(アシンメトリ−信号)によって最
適記録パワ−が検出される。
れたテストエリア16内のN+1番目のエリア(例えば
51番目のエリア)からパワ−レベルが複数段階に異な
るテスト信号が再生される。そして、この再生信号と基
準信号との比較出力(アシンメトリ−信号)によって最
適記録パワ−が検出される。
【0007】(ニ)つづく第3工程では、前記(ハ)で
検出された最適記録パワ−情報がカウントエリア14内
のN+1番目のエリア(例えば51番目のエリア)に記
録される。例えば、前記(ハ)で検出された最適記録パ
ワ−を持つEFM信号が、最適記録パワ−情報としてカ
ウントエリア14内の51番目のエリアに記録される。
以上により、単位の追記期間についての最適記録パワ−
検出が終了し、以下この動作が追記期間毎に繰り返され
る。
検出された最適記録パワ−情報がカウントエリア14内
のN+1番目のエリア(例えば51番目のエリア)に記
録される。例えば、前記(ハ)で検出された最適記録パ
ワ−を持つEFM信号が、最適記録パワ−情報としてカ
ウントエリア14内の51番目のエリアに記録される。
以上により、単位の追記期間についての最適記録パワ−
検出が終了し、以下この動作が追記期間毎に繰り返され
る。
【0008】なお、図3において、PMA( )は、光
ディスク10のデ−タエリア18に追記したデ−タに関
するリ−ドイン情報を一時的に書き込むためのエリア
で、すべての追記が終了した後にPMA内のリ−ドイン
情報は本来のリ−ドインエリア12に転送される。ま
た、20は光ディスク10の最内周部分部分に設けられ
たクランプエリアで、このクランプエリア20とPCA
との間には、アドレス情報が書き込まれたトラックの最
内周部分に位置する第1の空きエリア22が設けられて
いる。
ディスク10のデ−タエリア18に追記したデ−タに関
するリ−ドイン情報を一時的に書き込むためのエリア
で、すべての追記が終了した後にPMA内のリ−ドイン
情報は本来のリ−ドインエリア12に転送される。ま
た、20は光ディスク10の最内周部分部分に設けられ
たクランプエリアで、このクランプエリア20とPCA
との間には、アドレス情報が書き込まれたトラックの最
内周部分に位置する第1の空きエリア22が設けられて
いる。
【0009】この第1の空きエリア22はメ−カ−によ
って異なるが、数十フレ−ム予想できる。また、24、
26、28は、テストエリア16内の内周側と外周側、
カウントエリア14内の外周側にそれぞれ設けられた第
2、第3、第4の空きエリアで、これらの空きエリア2
4、26、28は、テストエリア16やカウントエリア
14へのサ−チを容易にするために、予め所定時間分
(例えばそれぞれ30フレ−ム)設定されている。ま
た、30は光ディスク10の最外周部分に設けられたリ
−ドアウトエリアである。
って異なるが、数十フレ−ム予想できる。また、24、
26、28は、テストエリア16内の内周側と外周側、
カウントエリア14内の外周側にそれぞれ設けられた第
2、第3、第4の空きエリアで、これらの空きエリア2
4、26、28は、テストエリア16やカウントエリア
14へのサ−チを容易にするために、予め所定時間分
(例えばそれぞれ30フレ−ム)設定されている。ま
た、30は光ディスク10の最外周部分に設けられたリ
−ドアウトエリアである。
【0010】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、光ディ
スク10のテストエリア16に傷があったり埃が付いた
りして、テストエリア16にテスト信号を記録したり再
生したりする工程においてエラ−が発生すると、最適記
録パワ−情報が検出できなかったり、誤った最適記録パ
ワ−情報がカウントエリア14内の対応する追記回数番
号エリアに記録されるので、光ディスクに追記できる回
数が少なくなったり(例えば99回追記できるところが
98回になったり)、誤ったパワ−による追記がなされ
るという問題点があった。
スク10のテストエリア16に傷があったり埃が付いた
りして、テストエリア16にテスト信号を記録したり再
生したりする工程においてエラ−が発生すると、最適記
録パワ−情報が検出できなかったり、誤った最適記録パ
ワ−情報がカウントエリア14内の対応する追記回数番
号エリアに記録されるので、光ディスクに追記できる回
数が少なくなったり(例えば99回追記できるところが
98回になったり)、誤ったパワ−による追記がなされ
るという問題点があった。
【0011】本発明は上述の問題点に鑑みなされたもの
で、光ディスクへの追記回数の減少や誤パワ−による追
記を防止できる追記形光ディスクの最適記録パワ−検出
方法を提供することを目的とするものである。
で、光ディスクへの追記回数の減少や誤パワ−による追
記を防止できる追記形光ディスクの最適記録パワ−検出
方法を提供することを目的とするものである。
【0012】
【課題を解決するための手段】本発明は、光ディスクの
アドレス情報が記録されたトラックに、スタ−ト時間情
報が記録されたリ−ドインエリアと、追記の回数情報を
記録するためのエリアが単位の追記期間毎に区分して設
定されたカウントエリアと、パワ−レベルを複数段階に
切り換えたテスト信号を記録するためのエリアが単位の
追記期間毎に区分して設定されたテストエリアとを設
け、前記リ−ドインエリアのスタ−ト時間情報をもとに
して前記カウントエリアをアクセスし、その追記回数情
報によって既に何回追記されているかを検出する第1工
程と、前記第1工程で検出した情報をもとにして前記テ
ストエリア内の対応するエリアに前記テスト信号を記録
して再生し、この再生信号と基準信号との比較出力に基
づいて最適記録パワ−を検出する第2工程と、この第2
工程で検出した最適記録パワ−情報を前記カウントエリ
アの対応するエリアに記録する第3工程とからなる追記
形光ディスクの最適記録パワ−検出方法において、前記
第2工程の動作中にエラ−が発生したときに、前記第2
工程におけるテスト信号を記録して再生するためのエリ
アを、前記カウントエリア、テストエリアまたはこれら
のエリア以外のエリアに存在する設定外の空きエリアに
置換して前記第2工程を再実行してなることを特徴とす
るものである。
アドレス情報が記録されたトラックに、スタ−ト時間情
報が記録されたリ−ドインエリアと、追記の回数情報を
記録するためのエリアが単位の追記期間毎に区分して設
定されたカウントエリアと、パワ−レベルを複数段階に
切り換えたテスト信号を記録するためのエリアが単位の
追記期間毎に区分して設定されたテストエリアとを設
け、前記リ−ドインエリアのスタ−ト時間情報をもとに
して前記カウントエリアをアクセスし、その追記回数情
報によって既に何回追記されているかを検出する第1工
程と、前記第1工程で検出した情報をもとにして前記テ
ストエリア内の対応するエリアに前記テスト信号を記録
して再生し、この再生信号と基準信号との比較出力に基
づいて最適記録パワ−を検出する第2工程と、この第2
工程で検出した最適記録パワ−情報を前記カウントエリ
アの対応するエリアに記録する第3工程とからなる追記
形光ディスクの最適記録パワ−検出方法において、前記
第2工程の動作中にエラ−が発生したときに、前記第2
工程におけるテスト信号を記録して再生するためのエリ
アを、前記カウントエリア、テストエリアまたはこれら
のエリア以外のエリアに存在する設定外の空きエリアに
置換して前記第2工程を再実行してなることを特徴とす
るものである。
【0013】
【作用】光ディスクのテストエリアに傷ができたり埃が
付いたりして第2工程の動作中にエラ−が発生した場
合、第3工程に進行する前に、そのときのテスト信号を
記録して再生するためのエリアをテストエリアから空き
エリアに置換して、第2工程の動作が再実行される。こ
の空きエリアはカウントエリア、テストエリアまたはこ
れらのエリア以外のエリアに存在する設定外の空きエリ
アが選択される。例えば、テストエリア内の3番目のエ
リアへのテスト信号の記録再生時にエラ−が発生した場
合、光ディスクの最内周部分に予備的に設けられた空き
エリアやテストエリアの内周側に設けられた空きエリア
にテスト信号が記録されて再生され、その再生信号と基
準信号との比較出力に基づいて最適記録パワ−が検出さ
れ、第3工程に移る。
付いたりして第2工程の動作中にエラ−が発生した場
合、第3工程に進行する前に、そのときのテスト信号を
記録して再生するためのエリアをテストエリアから空き
エリアに置換して、第2工程の動作が再実行される。こ
の空きエリアはカウントエリア、テストエリアまたはこ
れらのエリア以外のエリアに存在する設定外の空きエリ
アが選択される。例えば、テストエリア内の3番目のエ
リアへのテスト信号の記録再生時にエラ−が発生した場
合、光ディスクの最内周部分に予備的に設けられた空き
エリアやテストエリアの内周側に設けられた空きエリア
にテスト信号が記録されて再生され、その再生信号と基
準信号との比較出力に基づいて最適記録パワ−が検出さ
れ、第3工程に移る。
【0014】
【実施例】以下、本発明による追記形光ディスクの最適
記録パワ−検出方法の一実施例を図1及び図3を用いて
説明する。 (イ)第1工程では、まず、図3に示す光ディスク10
のリ−ドインエリア12からスペシャルインフォメ−シ
ョンデ−タを読み込み、このスペシャルインフォメ−シ
ョンデ−タ中のスタ−ト時間情報Ts(00:00:0
0(分:秒:フレ−ム))に基づいてPCA内のカウン
トエリア14をアクセスする。例えばカウントエリア1
4内の1番目のエリアをアクセスするときのアドレス情
報はTs−00:13:55となる。
記録パワ−検出方法の一実施例を図1及び図3を用いて
説明する。 (イ)第1工程では、まず、図3に示す光ディスク10
のリ−ドインエリア12からスペシャルインフォメ−シ
ョンデ−タを読み込み、このスペシャルインフォメ−シ
ョンデ−タ中のスタ−ト時間情報Ts(00:00:0
0(分:秒:フレ−ム))に基づいてPCA内のカウン
トエリア14をアクセスする。例えばカウントエリア1
4内の1番目のエリアをアクセスするときのアドレス情
報はTs−00:13:55となる。
【0015】このカウントエリア14へのアクセスによ
り追記回数情報を読み出し、既に何回追記されているか
を検出する。例えば、1番目から100番目までのエリ
アのうちN番目のエリアまでEFM信号が記録されてい
るときは、追記回数Nが検出される。
り追記回数情報を読み出し、既に何回追記されているか
を検出する。例えば、1番目から100番目までのエリ
アのうちN番目のエリアまでEFM信号が記録されてい
るときは、追記回数Nが検出される。
【0016】(ロ)つづくで第2工程では、まず、カウ
ントエリア14内の追記回数情報をもとにしてPCA内
のテストエリア16をアクセスする。例えばテストエリ
ア16内の2番目のエリアをアクセスするときのアドレ
ス情報はTs−00:15:50となる。このテストエ
リア16へのアクセスにより、パワ−レベルを所定のパ
ワ−レベル(例えばリ−ドインエリア12に記録されて
いる推奨記録パワ−レベル)を中心とした複数段階(例
えば15段階)に切り換えたテスト信号(例えばEFM
信号)が、所定の割合で(例えば1レベル1フレ−ムの
割合で)、カウントエリア14内の追記回数情報に対応
したN+1番目(例えば51番目)のエリアに記録され
る。
ントエリア14内の追記回数情報をもとにしてPCA内
のテストエリア16をアクセスする。例えばテストエリ
ア16内の2番目のエリアをアクセスするときのアドレ
ス情報はTs−00:15:50となる。このテストエ
リア16へのアクセスにより、パワ−レベルを所定のパ
ワ−レベル(例えばリ−ドインエリア12に記録されて
いる推奨記録パワ−レベル)を中心とした複数段階(例
えば15段階)に切り換えたテスト信号(例えばEFM
信号)が、所定の割合で(例えば1レベル1フレ−ムの
割合で)、カウントエリア14内の追記回数情報に対応
したN+1番目(例えば51番目)のエリアに記録され
る。
【0017】(ハ)ついで、前記(ロ)によって記録さ
れたテストエリア16内のN+1番目のエリア(例えば
51番目のエリア)からパワ−レベルが複数段階に異な
るテスト信号が再生される。そして、この再生信号と基
準信号との比較出力によって最適記録パワ−が検出され
る。
れたテストエリア16内のN+1番目のエリア(例えば
51番目のエリア)からパワ−レベルが複数段階に異な
るテスト信号が再生される。そして、この再生信号と基
準信号との比較出力によって最適記録パワ−が検出され
る。
【0018】(ニ)前記(ロ)及び(ハ)の第2工程に
おいてエラ−が発生しなければ、第3工程へ進む。この
第3工程では、前記(ハ)で検出された最適記録パワ−
情報がカウントエリア14内のN+1番目のエリア(例
えば51番目のエリア)に記録される。例えば、前記
(ハ)で検出された最適記録パワ−を持つEFM信号
が、最適記録パワ−情報としてカウントエリア14内の
51番目のエリアに記録される。以上により、単位の追
記期間についての最適記録パワ−検出が終了し、以下同
様の動作が単位の追記期間毎に繰り返される。
おいてエラ−が発生しなければ、第3工程へ進む。この
第3工程では、前記(ハ)で検出された最適記録パワ−
情報がカウントエリア14内のN+1番目のエリア(例
えば51番目のエリア)に記録される。例えば、前記
(ハ)で検出された最適記録パワ−を持つEFM信号
が、最適記録パワ−情報としてカウントエリア14内の
51番目のエリアに記録される。以上により、単位の追
記期間についての最適記録パワ−検出が終了し、以下同
様の動作が単位の追記期間毎に繰り返される。
【0019】(ホ)前記(ロ)及び(ハ)の第2工程に
おいてエラ−が発生した場合にはテスト信号を記録する
ためのエリアを空きエリアに置換して第2工程が再実行
される。すなわち、エラ−が発生した場合、まず、カウ
ントエリア14内の追記回数情報をもとにして第1、第
2、第3、第4空きエリア22、24、26、28のい
ずれかのエリア(第1空きエリア22に記録可能であれ
ば第1空きエリア22が望ましい)をアクセスする。こ
の空きエリアへのアクセスにより、パワ−レベルを複数
段階(例えば15段階)に切り換えたテスト信号(例え
ばEFM信号)が記録される。
おいてエラ−が発生した場合にはテスト信号を記録する
ためのエリアを空きエリアに置換して第2工程が再実行
される。すなわち、エラ−が発生した場合、まず、カウ
ントエリア14内の追記回数情報をもとにして第1、第
2、第3、第4空きエリア22、24、26、28のい
ずれかのエリア(第1空きエリア22に記録可能であれ
ば第1空きエリア22が望ましい)をアクセスする。こ
の空きエリアへのアクセスにより、パワ−レベルを複数
段階(例えば15段階)に切り換えたテスト信号(例え
ばEFM信号)が記録される。
【0020】(ヘ)ついで、前記(ホ)によって記録さ
れた空きエリアからパワ−レベルが複数段階に異なるテ
スト信号が再生される。そして、この再生信号と基準信
号との比較出力(アシンメトリ−信号)によって最適記
録パワ−が検出される。以上の(ホ)、(ヘ)により第
2工程が再実行され、ついで、前記(ニ)と同様な第3
工程に進み、最適パワ−情報がカウントエリア14内の
N+1番目のエリア(例えば51番目のエリア)に記録
される。
れた空きエリアからパワ−レベルが複数段階に異なるテ
スト信号が再生される。そして、この再生信号と基準信
号との比較出力(アシンメトリ−信号)によって最適記
録パワ−が検出される。以上の(ホ)、(ヘ)により第
2工程が再実行され、ついで、前記(ニ)と同様な第3
工程に進み、最適パワ−情報がカウントエリア14内の
N+1番目のエリア(例えば51番目のエリア)に記録
される。
【0021】例えば、テストエリア16内の51番目の
エリアへの記録再生動作中にエラ−が発生した場合に
は、テストエリア16内の51番目のエリアを第1、第
2、第3、第4空きエリア22、24、26、28のう
ちのいずれかのエリアに置換して前述の第2工程の再実
行動作が行なわれ、検出された最適記録パワ−を持つE
FM信号が、最適記録パワ−情報としてカウントエリア
14内の51番目のエリアに記録される。
エリアへの記録再生動作中にエラ−が発生した場合に
は、テストエリア16内の51番目のエリアを第1、第
2、第3、第4空きエリア22、24、26、28のう
ちのいずれかのエリアに置換して前述の第2工程の再実
行動作が行なわれ、検出された最適記録パワ−を持つE
FM信号が、最適記録パワ−情報としてカウントエリア
14内の51番目のエリアに記録される。
【0022】前記(ロ)及び(ハ)の第2工程において
エラ−が有ると判断されるのは次ぎの場合である。 カウントエリア14内の追記回数情報をもとにPCA
内のテストエリア16をアクセスしてパワ−レベルを複
数段階(例えば15段階)に切り換えたテスト信号を記
録するときに、光ディスク10に大きな傷が有ったり埃
が付いたりして、またはショックによって、所定のアド
レス情報が得られない場合(例えば書き込み時に検出し
たアドレス情報が対象となるアドレス情報と一致しない
場合)。
エラ−が有ると判断されるのは次ぎの場合である。 カウントエリア14内の追記回数情報をもとにPCA
内のテストエリア16をアクセスしてパワ−レベルを複
数段階(例えば15段階)に切り換えたテスト信号を記
録するときに、光ディスク10に大きな傷が有ったり埃
が付いたりして、またはショックによって、所定のアド
レス情報が得られない場合(例えば書き込み時に検出し
たアドレス情報が対象となるアドレス情報と一致しない
場合)。
【0023】光ディスク10表面のコ−ティング不良
などの原因により、比較出力信号から最適記録パワ−が
見つからない場合(アシンメトリ−信号の変化点が見つ
からない場合)。今回検出した最適記録パワ−の値が前
回記録したエリアの最適記録パワ−の値からかけ離れて
いて最適記録パワ−が見つからない場合を含む。 カウントエリアの記録ミスにより本来は未記録でなけ
ればならないエリアに既に記録されている場合。
などの原因により、比較出力信号から最適記録パワ−が
見つからない場合(アシンメトリ−信号の変化点が見つ
からない場合)。今回検出した最適記録パワ−の値が前
回記録したエリアの最適記録パワ−の値からかけ離れて
いて最適記録パワ−が見つからない場合を含む。 カウントエリアの記録ミスにより本来は未記録でなけ
ればならないエリアに既に記録されている場合。
【0024】
【発明の効果】本発明による追記形光ディスクの最適記
録パワ−検出方法は、上記のように、光ディスクのテス
トエリアに傷ができたり埃が付いたりして第2工程の動
作中にエラ−が発生した場合、第2工程においてテスト
信号を記録して再生するエリアを、カウントエリア、テ
ストエリアまたはこれらのエリア以外のエリアに存在す
る設定外の空きエリアに置換するようにしたので、第3
工程に進行する前に、そのときのテスト信号を記録して
再生するエリアをテストエリアから空きエリアに置換し
て、第2工程の動作が再実行される。このため、光ディ
スクへの追記回数の減少や誤パワ−による追記を防止で
きる
録パワ−検出方法は、上記のように、光ディスクのテス
トエリアに傷ができたり埃が付いたりして第2工程の動
作中にエラ−が発生した場合、第2工程においてテスト
信号を記録して再生するエリアを、カウントエリア、テ
ストエリアまたはこれらのエリア以外のエリアに存在す
る設定外の空きエリアに置換するようにしたので、第3
工程に進行する前に、そのときのテスト信号を記録して
再生するエリアをテストエリアから空きエリアに置換し
て、第2工程の動作が再実行される。このため、光ディ
スクへの追記回数の減少や誤パワ−による追記を防止で
きる
【図1】本発明による追記形光ディスクの最適記録パワ
−検出方法の一実施例を示すフロ−チャ−トである。
−検出方法の一実施例を示すフロ−チャ−トである。
【図2】従来例の追記形光ディスクの最適記録パワ−検
出方法を示すフロ−チャ−トである。
出方法を示すフロ−チャ−トである。
【図3】追記形光ディスクの一般的な構成を説明する説
明図である。
明図である。
10…光ディスク、 12…リ−ドインエリア、 14
…カウントエリア、16…テストエリア、 18…デ−
タエリア、 20…クランプエリア、22、24、2
6、28…空きエリア、 30…リ−ドアウトエリア、
PCA…PowerCalibration Are
a、Ts…スタ−ト時間情報。
…カウントエリア、16…テストエリア、 18…デ−
タエリア、 20…クランプエリア、22、24、2
6、28…空きエリア、 30…リ−ドアウトエリア、
PCA…PowerCalibration Are
a、Ts…スタ−ト時間情報。
Claims (1)
- 【請求項1】光ディスクのアドレス情報が記録されたト
ラックに、スタ−ト時間情報が記録されたリ−ドインエ
リアと、追記の回数情報を記録するためのエリアが単位
の追記期間毎に区分して設定されたカウントエリアと、
パワ−レベルを複数段階に切り換えたテスト信号を記録
するためのエリアが単位の追記期間毎に区分して設定さ
れたテストエリアとを設け、前記リ−ドインエリアのス
タ−ト時間情報をもとにして前記カウントエリアをアク
セスし、その追記回数情報によって既に何回追記されて
いるかを検出する第1工程と、前記第1工程で検出した
情報をもとにして前記テストエリア内の対応するエリア
に前記テスト信号を記録して再生し、この再生信号と基
準信号との比較出力に基づいて最適記録パワ−を検出す
る第2工程と、この第2工程で検出した最適記録パワ−
情報を前記カウントエリアの対応するエリアに記録する
第3工程とからなる追記形光ディスクの最適記録パワ−
検出方法において、前記第2工程の動作中にエラ−が発
生したときに、前記第2工程におけるテスト信号を記録
して再生するためのエリアを、前記カウントエリア、テ
ストエリアまたはこれらのエリア以外のエリアに存在す
る設定外の空きエリアに置換して前記第2工程を再実行
してなることを特徴とする追記形光ディスクの最適記録
パワ−検出方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP33447991A JPH05143997A (ja) | 1991-11-25 | 1991-11-25 | 追記形光デイスクの最適記録パワ−検出方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP33447991A JPH05143997A (ja) | 1991-11-25 | 1991-11-25 | 追記形光デイスクの最適記録パワ−検出方法 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH05143997A true JPH05143997A (ja) | 1993-06-11 |
Family
ID=18277857
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP33447991A Pending JPH05143997A (ja) | 1991-11-25 | 1991-11-25 | 追記形光デイスクの最適記録パワ−検出方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH05143997A (ja) |
Cited By (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5706271A (en) * | 1995-06-01 | 1998-01-06 | Ricoh Company, Ltd. | Method for recording information on an erasable optical recording medium |
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US6172955B1 (en) | 1997-08-25 | 2001-01-09 | Ricoh Company, Ltd. | Optical disc recording and reproducing apparatus for performing a formatting process as a background process and a method for formatting an optical disc by a background process |
JP2008503849A (ja) * | 2004-06-23 | 2008-02-07 | サムスン エレクトロニクス カンパニー リミテッド | 複数の記録層を備えた光ディスク、データ記録方法及びその装置 |
US7583572B2 (en) | 2003-10-16 | 2009-09-01 | Hitachi, Ltd. | Apparatus and method for calibrating laser power in an optical disk apparatus |
JP2009259399A (ja) * | 2002-12-20 | 2009-11-05 | Mitsubishi Kagaku Media Co Ltd | 光記録媒体、光記録媒体の記録方法 |
-
1991
- 1991-11-25 JP JP33447991A patent/JPH05143997A/ja active Pending
Cited By (10)
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USRE42584E1 (en) | 1997-08-25 | 2011-08-02 | Ricoh Company, Ltd | Optical disc recording and reproducing apparatus for performing a formatting process as a background process and a method for formatting an optical disc by a background process |
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JP2012155840A (ja) * | 2004-06-23 | 2012-08-16 | Samsung Electronics Co Ltd | 情報記録媒体及び再生装置 |
US8351314B2 (en) | 2004-06-23 | 2013-01-08 | Samsung Electronics Co., Ltd. | Optical disc having plurality of recording layers, and method and apparatus for recording data thereon |
US8432778B2 (en) | 2004-06-23 | 2013-04-30 | Samsung Electronics Co., Ltd. | Optical disc having plurality of recording layers, and method and apparatus for recording data thereon |
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