JPH05127729A - Cnc制御装置 - Google Patents

Cnc制御装置

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JPH05127729A
JPH05127729A JP28751391A JP28751391A JPH05127729A JP H05127729 A JPH05127729 A JP H05127729A JP 28751391 A JP28751391 A JP 28751391A JP 28751391 A JP28751391 A JP 28751391A JP H05127729 A JPH05127729 A JP H05127729A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
machine position
target track
dimensional error
locus
cnc controller
Prior art date
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Pending
Application number
JP28751391A
Other languages
English (en)
Inventor
Hisashi Kinoshita
久 木下
Takashi Nakatsuka
隆 中塚
Atsusane Hashimoto
敦実 橋本
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Panasonic Holdings Corp
Original Assignee
Matsushita Electric Industrial Co Ltd
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Publication date
Application filed by Matsushita Electric Industrial Co Ltd filed Critical Matsushita Electric Industrial Co Ltd
Priority to JP28751391A priority Critical patent/JPH05127729A/ja
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Pending legal-status Critical Current

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Abstract

(57)【要約】 【目的】 加工寸法の寸法誤差を表示する機能を付加し
た、CP制御評価を簡単かつ高精度に行えるCNC制御
装置を提供する。 【構成】 スタート時の初期値にサンプリング周期ごと
に読み込むフィードバックパルス(FBパルス)を加算
して機械位置を算出する手段8と、目標軌跡がy=ax
+bの直線の時はa,bおよび機械位置から、また目標
軌跡が半径rの円弧の時はrと円弧中心座標と機械位置
から目標軌跡に対する機械位置の寸法誤差を機械位置を
通る目標軌跡の法線の方向に沿って算出する手段10,
11,12,13と、目標軌跡と目標軌跡を基準として
拡大した尺度で上記寸法誤差の軌跡を表示する手段1
4,15とを備えた、平面形状を直線と円弧の組合せで
加工する直交XY軸制御のCNC制御装置。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、軌跡精度の評価機能を
搭載し、オン・ザ・マシン計測が簡単にできる、平面形
状を直線と円弧の組合せで加工する直交XY軸制御のC
NC制御装置に関する。
【0002】
【従来の技術】従来の連続りんかく制御(以後CP制御
と言う)のCNC制御装置においては、CP制御評価と
して切断したカットサンプルの精度は三次元測定器で精
度を計るか、円の円周または外周を回転させながら測定
することによって真円度を測定していた。ユーザーでは
上記の計測器をもっていない場合が多く精度の良い評価
が困難であった。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】このような従来の方法
においては、CP制御評価を簡単にしかも高精度に評価
することができなかった。
【0004】本発明は、このような問題点を解決するも
ので、CNC制御装置にフィードバックパルス(以下F
Bパルスと言う)より軌跡精度の評価機能を付加するこ
とで、CP制御評価を簡単にしかも高精度に行えるCN
C制御装置を提供することを目的とする。
【0005】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に、本発明のCNC制御装置は、スタート時の初期値に
サンプリング周期ごとに読み込むフィードバックパルス
を加算して機械位置を算出する手段と、目標軌跡がy=
ax+bの直線の時はa,bおよび機械位置から、また
目標軌跡が半径rの円弧の時はrと円弧中心座標と機械
位置から目標軌跡に対する機械位置の寸法誤差を機械位
置を通る目標軌跡の法線の方向に沿って算出する手段
と、目標軌跡と目標軌跡を基準として拡大した尺度で上
記寸法誤差の軌跡を表示する手段とを備えている。
【0006】
【作用】目標軌跡と寸法誤差の軌跡によってCP制御の
精度が分かりやすく表示される。
【0007】
【実施例】以下、本発明の一実施例を図面を参照しなが
ら説明する。
【0008】図1は本発明のCNC制御装置の実施例を
示すブロック図である。図1において、1はCNC制御
装置、2はレーザーマシン、20はX−Yテーブル、3
はX軸モータ、4はY軸モータ、5はFBパルスであ
る。まず、CNC制御装置1から出力した指令に従っ
て、X軸モータ3およびY軸モータ4を各々のモータか
ら出力されるFBパルスをフィードバックしながら駆動
してX−Yテーブル20を動かしレーザーマシン2によ
って加工する。
【0009】図2はCNC制御装置1に付加された軌跡
精度評価機能を示すフロー図である。図2において、ス
テップ8では前回の機械位置にFBパルスを加算して現
在の機械位置(xn,yn)を計算する。ステップ9で
は現在切断している軌跡が円弧または直線であるかを判
断して、直線の場合は、ステップ10で直線の傾きaと
初期値bを読み込む。次にステップ11でa,b,(x
n,yn)を使って軌跡誤差を計算する。またステップ
9で円弧の場合は、ステップ12で半径rと中心点(x
0,y0)を読み込む。次にステップ13でr,(x
0,y0),(xn,yn)を使って軌跡誤差を計算す
る。次にステップ14で画面に目標軌跡を表示し、ステ
ップ15で目標軌跡を基準として、接線方向に軌跡誤差
をn倍に拡大して表示する。ステップ16では軌跡の終
端かどうかを判定して、途中であればステップ8に戻っ
て繰り返し計算,表示を続行し軌跡の終端で表示を完了
する。
【0010】次に図3(a),(b)によって直線部と
円弧部に分けて、実軌跡6と目標軌跡7の誤差の計算式
を説明する。 (i)直線の場合(a)の誤差lnは、 ln=(xn−yn/a+b/a)*sin(tan-1a) (ii)円弧の場合(b)の誤差lnは、 ln=r−((xn+x0)2+(yn−y0)21/2 であらわされる。
【0011】次に、図4において、実軌跡6を画面に見
やすく表示する方法を説明する。目標軌跡7から実軌跡
6までの距離lnを、目標軌跡に対して法線方向にn倍
に延長して、誤差を拡大して表示17とし、CP制御の
精度を分かりやすくしている。
【0012】
【発明の効果】以上の説明から明らかなように本発明の
CNC制御装置は、FBパルスより軌跡精度を評価する
機能を付加することで、CP制御評価を簡単にしかも高
精度に評価できる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明のCNC制御装置の構成を示すブロック
【図2】本発明の実施例における軌跡精度評価のフロー
【図3】本発明の実施例における軌跡精度の計算式を示
す説明図
【図4】本発明の実施例における軌跡精度表示の説明図
【符号の説明】
1 CNC制御装置 2 レーザーマシン 3 X軸モータ 4 Y軸モータ 5 FBパルス(フィードバックパルス) 6 実軌跡 7 目標軌跡

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】スタート時の初期値にサンプリング周期ご
    とに読み込むフィードバックパルスを加算して機械位置
    を算出する手段と、目標軌跡がy=ax+bの直線の時
    はa,bおよび機械位置から、また目標軌跡が半径rの
    円弧の時はrと円弧中心座標と機械位置から目標軌跡に
    対する機械位置の寸法誤差を機械位置を通る目標軌跡の
    法線の方向に沿って算出する手段と、目標軌跡と目標軌
    跡を基準として拡大した尺度で上記寸法誤差の軌跡を表
    示する手段とを備えたCNC制御装置。
JP28751391A 1991-11-01 1991-11-01 Cnc制御装置 Pending JPH05127729A (ja)

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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN105527924A (zh) * 2014-10-16 2016-04-27 发那科株式会社 时间序列数据显示装置
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