JPH05123749A - タンデム圧延機における板速度検出法 - Google Patents

タンデム圧延機における板速度検出法

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JPH05123749A
JPH05123749A JP3317402A JP31740291A JPH05123749A JP H05123749 A JPH05123749 A JP H05123749A JP 3317402 A JP3317402 A JP 3317402A JP 31740291 A JP31740291 A JP 31740291A JP H05123749 A JPH05123749 A JP H05123749A
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Abstract

(57)【要約】 【目的】 複数のスタンドからなるタンデム圧延機で、
高精度な板厚精度を実現する。 【構成】 圧延機の全スタンド1〜3の入出側に板厚計
82〜85と板速計72〜75を配置し、圧延機入側に
基準板速計を装備する。制御用計算機90、91内に板
速補正演算を構築する。圧延機入側では基準板速計で板
速計72を校正する。第1スタンド出側以降の板速計7
3〜75に関しては、マスフロー保存則に従って順次上
流側の校正済の板速計72〜74を基準として校正す
る。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、タンデム圧延機におけ
る板厚制御等に関して使用される板速度の検出精度を高
め、制御精度の向上や誤制御防止を計るための方法に関
するものである。
【0002】
【従来の技術】一般に、タンデム圧延機の重要な製品管
理指標として圧延材の板厚精度がある。この板厚精度の
より一層の向上を目指して種々の制御方法が考えられて
来た。その中に、タンデム圧延機の特定スタンドの入側
と出側のストリップ圧延速度を板速度検出装置を用いて
実測し、且つ当該スタンドの入側に設置された板厚計の
測定信号を含めた三者を使用して、当該スタンドのロー
ル直下で成立すると考えられるマスフロー保存則(体積
一定則)からリアルタイムに当該スタンド出側の板厚を
予測し、この予測値が目標設定値になる様に当該スタン
ドのロールギャップやその一つ上流側のスタンドのロー
ル周速を変更するマスフローAGC(Automati
c Gauge Control)と称される方法があ
る。従って、板厚精度管理上はストリップ圧延速度の測
定精度の向上と精度維持管理が非常に重要な問題とな
る。特に最近では、ユーザーからの板厚精度に対する要
求レベルが厳格化している傾向にあるため、益々測定精
度の許容誤差を極限迄に抑制しなければならない。従来
の板速の測定法としては、以下の様な方法にて対処して
いた。
【0003】接触法(メジャーリングロール法)と称
し、図4のように圧延機入側/出側や圧延機のスタンド
間にストリップcと機械的に接触する無駆動ロールdを
配置し、その回転軸に回転パルス発生器(PLG)を取
り付け、一定時間内のパルス積算数にて板速を検出す
る。
【0004】非接触法(レーザードップラー法)と称
し、図3のように圧延機入側/出側や圧延機のスタンド
間にレーザー発信機aと検出器bを配備し、発信機aか
らストリップcに照射したレーザー光の反射波を検出器
bにて検知する。この時レーザー基本周波数が板速に比
例して周波数シフトする変化量(ドップラー周波数)を
計測することができ、これによって板速を検出する。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】上述の測定方法では下
記の様な問題点が有り、測定精度に限界が生じていたた
め、板厚制御に高精度で且つ安定的に使用するのは困難
であった。
【0006】接触法では、ストリップと無駆動ロール表
面とのスリップが発生し易い。特に、圧延機の加減速圧
延時には無駆動ロールの慣性のため、ストリップ速度と
ロール周速とが異なる現象が必ず発生する。又、測定原
理から一定時間内のパルス数を積算して速度を演算して
いるため、ミクロスリップ等の測定外乱を取り除き測定
精度を向上させるには測定周期を比較的長くとらなけれ
ばならない。その場合、板速信号の検出上限周波数を大
きくすることが出来ない。逆に板速信号の検出上限周波
数を大きく取ると、それに比例して測定精度が悪化す
る。
【0007】非接触法では、検出原理上は上述の接触法
と異なりレーザードップラー効果を使用しており、スト
リップとの機械的接触面が存在しないためスリップ現象
による測定誤差は本質的に存在しない。しかしながら、
この方法では光学系を用いるため、ストリップのパスラ
インと光学系の焦点の合わせ込み等に非常に高い精度が
必要である。そのため、ストリップの圧延中のパスライ
ンレベルと光学系の相対位置により測定誤差が発生す
る。更に、圧延中のストリップのパスライン変動やスト
リップ形状不良の程度が大きい時には測定困難に陥る場
合もある。又、装置の校正に関して、本方法ではオフラ
インにて定速回転を行う基準回転円盤を用いてドップラ
ー周波数と板速との(1)式数1の比例関係を校正する
ことが可能であるが、現状ではオンラインでの校正法が
存在せず、前述のパスラインレベルの光学系に対する相
対位置の変化による測定誤差は除去不可能である。
【0008】
【数1】 fd=2V*sin(θ/2)/λ …(1) fd:ドップラー周波数 V:板速 θ:ビーム交差角度 λ:レーザー発信周波数
【0009】接触法或いは非接触法において、検出した
板速をパラメーターとして用いて板厚制御を行うマスフ
ロー制御に関しては、(3)式数3の様に制御則が
(2)式数2の圧延時の板幅の変化が圧延機のスタンド
の入側及び出側で存在しないことを仮定して成立するも
のである。しかしながら、実際にはこの様な仮定は近似
的にしか成立しないものであり、当該条件の誤差は板厚
制御上は板速の測定誤差として観測される。
【0010】
【数2】 Wi =Wi-1 …(2) Wi :第iスタンド出側板幅 Wi-1 :第iスタンド入側板幅
【0011】
【数3】 (Hi +ΔHi )*Vi =(Hi-1 +ΔHi-1 )*Vi-1 …(3) Hi :第iスタンド出側板厚設定値 ΔHi :第iスタンド出側板厚偏差 Hi-1 :第iスタンド入側板厚設定値 ΔHi-1 :第iスタンド入側板厚偏差 Vi :第iスタンド出側板速 Vi-1 :第iスタンド入側板速
【0012】本発明はこの様な従来の問題に鑑み、測定
精度の向上を図り、且つ、測定異常が発生した場合はそ
の箇所を特定し得る手段を提供し、板厚制御に関する精
度向上と安定使用を実現することを目的とする。
【0013】
【課題を解決するための手段】本発明の要旨は、レーザ
ードップラー効果を圧延ストリップ速度の検出原理とす
る非接触式板速度計とストリップ厚みを測定する板厚計
を同数個、同一スタンド前後に装備した2スタンド以上
からなるタンデム圧延機に、圧延機入側でストリップに
巻き付けた基準ロールとそのロール周速を一定時間内の
回転パルス数として演算するため当該ロールに取り付け
たPLGと演算装置とからなる校正装置を配置し、この
校正装置により測定した板速度と同じく圧延機入側に取
り付けた非接触式板速度計の測定値とを比較演算処理
し、その結果に基づきリアルタイムに非接触式板速度計
の測定値が前記校正装置の基準速度に一致する様に板速
補正係数の演算処理を行い種々の測定系の蓄積誤差であ
るオフセット誤差を除去し、しかる後に少なくとも二つ
以上圧延機の上流側から連続に圧延機スタンド内に取り
付けられた非接触式板速度計に対しては、その測定値を
使用してマスフロー保存則から算出されるマスフロー板
厚とこれに該当する板厚計の測定結果の差異から当該板
速度計のオフセット誤差を推定し、この結果に基づき、
スタンド上流からシーケンシャル的に順次オフセット誤
差が零になる様に当該板速度計の補正係数を決定し補償
することを特徴とするタンデム圧延機における板速度検
出法である。
【0014】
【作用】本発明においては、図1に示す様に圧延機入側
に接触式板速度計と非接触式板速度計の両者を設置す
る。又、圧延機スタンド間及び圧延機最終出側にも連続
して非接触式板速度計を設置する。更に、板厚計は圧延
機入/出側及び圧延機スタンド間に非接触式板速度計と
同数台設置する。この様な観測系において、圧延機入側
の非接触式板速度計のオフセット誤差は、接触式板速度
計をオンラインでの基準校正装置として両者の板速度検
出値を比較して定量化する。但し、図4の如く両板速度
計において一方は板表面の速度、他方はロール表面の周
速を測定することになり、ストリップ板厚tに起因する
速度差が存在するため両検出値の校正には板厚補正を行
わなければならない。この様に定量化されたオフセット
誤差を零にする様に非接触式板速度計にて検出された検
出値に(4)式数4の補正係数を導入し、この係数値を
決定する。次に、この様にして校正を行った圧延機入側
の非接触式板速度計を今度はNo.1スタンド出側の非
接触式板速度計の基準校正器として使用する。この時、
No.1スタンド出側の非接触式板速度計のオフセット
誤差は、(5)式数5の如くNo.1スタンド入/出側
のそれぞれの板厚検出値と板速検出値の4つのパラメー
ターを用いて、マスフロー差ΔMを導入し定量化する。
従って、No.1スタンド出側の非接触式板速度計は、
このΔMが零になる様に(5)式に相当する補正係数を
決定する。同様にして、No.2スタンド出側の非接触
式板速度計についても、No.1スタンド出側の非接触
式板速度計を使用して今度はNo.2スタンド入/出側
のマスフロー差が零になる様に板速補正係数を決定す
る。この操作を自動的にリアルタイムに順次圧延機の前
段スタンドから後段スタンドに向かって行って行くこと
により、図1の圧延機に装備された非接触式板速度計の
オフセット誤差が除去でき、板速検出値の高精度化が計
られることになる。
【0015】
【数4】 V=α*Vm …(4) V :校正後の板速 Vm:板速計指示値 α :補正係数
【0016】
【数5】 ΔM=(HE +ΔHE )*VE −(HD +ΔHD )*α*Vm=0…(5) HE :第1スタンド入側板厚設定値 ΔHE :第1スタンド入側板厚偏差 HD :第1スタンド出側板厚設定値 ΔHD :第1スタンド出側板厚偏差 VE :第1スタンド出側板速
【0017】本発明においては、非接触式板速度計に本
質的に内在するオフセット誤差を、基準接触式板速度計
と各圧延機スタンドを起点とするマスフロー差という演
算パラメーターを導入することで定量化し、各オフセッ
ト誤差を零にする様に板速補正係数をリアルタイムで自
動的に決定する。従って、非接触板速度計にて検出した
生の板速検出値を用いて板厚制御を行うよりも、この方
法で補正された板速を使用した方が、圧延中に時々刻々
と変化するパスラインレベル変動やストリップ形状によ
る影響を随時除去することが出来、より高精度で且つ安
定な板厚制御が可能となる。又、同時に各非接触式板速
度計の板速補正係数値に許容範囲を設け、前述の一連の
自動校正によって求まった係数値がこの許容範囲を越え
た場合、当該板速度計を異常とみなして板速度計の異常
箇所を特定化することができ、板厚制御上の保護処置及
びバックアップ処置が自動的に可能となる。
【0018】
【実施例】以下、本発明の実施例を図面を参照して説明
する。説明の簡略化のため図1の3スタンドから成るタ
ンデム圧延機に対して説明を行うが、本発明は一般化す
ることが出来、Nスタンドのタンデム圧延機についても
同様に成立する。
【0019】図1のシステムにおいては、板厚制御とし
てマスフローAGCを全スタンドに、最終スタンド出側
の板厚計の板厚偏差信号に応じた最終スタンドのロール
速度若しくは(最終−1)スタンドのロール速度を修正
する張力モニターAGCを最終スタンドに装備してお
り、これらの機能は制御用計算機90、91内に構築さ
れている。
【0020】説明の都合上、マスフローAGCの原理に
ついて簡単に触れると、当該AGCは第iスタンドの入
側に設置している板厚計の板厚偏差ΔHi-1 を計算機内
で順次一次的に記憶し、その時圧延速度から計算される
ΔHi-1 の第iスタンド到達タイミングで第iスタンド
入/出側の非接触式板速度計からの検出板速Vi-1 、V
i を用いて(6)式数6で第iスタンド出側の板厚偏差
ΔHi を推定し、このΔHi に応じて第(i−1)スタ
ンドのロール速度を修正して板厚変動を除去しようとす
るものである。
【0021】
【数6】 ΔHi =(Hi-1 +ΔHi-1 )*Vi-1 /Vi −Hi …(6) Hi-1 :第iスタンド入側の板厚設定値 Hi :第iスタンド出側の板厚設定値
【0022】この時、板速度Vi-1 、Vi の測定誤差が
含まれる場合、その誤差の比率が直接的に制御量である
ΔHi の実現精度に影響してくることになる。そこで板
速度の検出精度を目的とする板厚精度以下に抑制するた
め、次の手法で非接触式板速度計のオフセット誤差を圧
延中に自動的に除去する。
【0023】まず第1に、圧延機入側の非接触式板速度
計72を圧延機入側に設置された接触式板速度計71で
校正する。図4の関係より非接触式板速度計72の指示
値V40と真の板速V20、それに接触式板速度計71の指
示値であるロール周速V10との間には、ロール径をD、
板厚をtとすれば(7)式数7、(8)式数8が成り立
つ。
【0024】
【数7】 V40=(D+t)/D*V10 …(7)
【0025】
【数8】 V20=(D+t/2)/D*V10 …(8)
【0026】前述の説明の様に、非接触式板速度計72
の指示値V40には原理上オフセット誤差が存在するた
め、接触式板速度計71、非接触式板速度計72の観測
量の間には直接的には(7)式は成立せず、更には、板
厚制御上で非接触式板速度計72で観測したい物理量は
真の板速V20であるため、補正係数α1を導入して
(9)式数9の自動校正式が成立する様に自動的にα1
を決定し、V0 =α1*V40を板厚制御上に用いる圧延
機入側の板速とする。但し、接触式板速度計71の観測
量V10はスリップの影響による測定誤差を持つため、
(9)式の自動補正は、圧延速度が一定な定常圧延状態
でのみ有効とし、且つ測定精度を向上させるためN回の
測定値の平滑化処理を行ったものを用いる。
【0027】
【数9】 (1+t/2D)*ΣV10/N−α1*V40=0 …(9)
【0028】第2に、圧延機入側の自動校正された板速
0 を基準として、No.1スタンド出側の非接触式板
速度計73の自動校正を行う。そのために、No.1ス
タンドの前後のストリップの単位時間当りの流入体積と
流出体積の差として定義できるマスフロー差ΔM1 と言
う概念を導入し、且つ、非接触式板速度計73の自動校
正パラメーターとしての補正係数α2をα1と同様な考
えで用いて、(10)式数10を満足する様に自動的に
α2を決定する。
【0029】
【数10】 ΔM1 =(H0 +ΔH0 )*V0 −(H1 +ΔH1 )*α2*V11=0 …(10) H0 :No.1スタンド入側の板厚設定値 H1 :No.1スタンド出側の板厚設定値 ΔH0 :No.1スタンド入側の板厚計の出力である板
厚偏差 ΔH1 :No.1スタンド出側の板厚計の出力である板
厚偏差 V11 :非接触式板速度計73の指示値
【0030】従って、No.1スタンド出側の板厚制御
上の板速値V1 は非接触式板速度計73の観測値を用い
てV1 =α2*V11として求まる。
【0031】第3に、今度はV1 を基準として、No.
2スタンド出側に設置された非接触式板速度計74の自
動校正は、全く同様な手順で(11)式数11を満足す
る様に自動的に非接触式板速度計74の補正係数α3を
決定する。
【0032】
【数11】 ΔM2 =(H1 +ΔH1 )*V1 −(H2 +ΔH2 )*α3*V22=0 …(11) H2 :No.2スタンド出側の板厚設定値 ΔH2 :No.2スタンド出側の板厚偏差 V22 :非接触式板速度計74の観測値
【0033】そして、No.2スタンド出側の制御上の
板速をV2 =α3*V22とする。
【0034】最後に、V2 を基準として自動校正式(1
2)式数12を満足するNo.3スタンド出側の制御板
速V3 を求めることが出来る。
【0035】
【数12】 ΔM3 =(H2 +ΔH2 )*V2 −(H3 +ΔH3 )*α4*V33=0 …(12) V3 =α4*V333 :No.3スタンド出側の板厚設定値 ΔH3 :No.3スタンド出側の板厚偏差 V33 :非接触式板速度計75の観測値
【0036】以上の一連の過程と手順を制御用計算機9
1で構築することで、圧延中で且つリアルタイムなオン
ライン環境での板速の自動校正が実現できることにな
る。又、前記過程で求めたα1、α2、α3、α4に物
理的に採り得る許容上限及び下限の範囲を設定すること
で、板速計の設備上の異常箇所を特定化することが出来
る。例えば、非接触式板速度計73のレーザー発信機が
故障して板速の検出が不可能となった場合、α2のパラ
メーターが上限値にかかることになるため、逆にα2を
常時監視することで故障の自動発見が可能である。
【0037】
【発明の効果】以上の様に、この発明によれば、従来は
板厚制御上の板厚実現精度の制約条件となっていた板速
検出精度の飛躍的向上と、従来不可能であった種々の圧
延状況の変化(パスライン変動、ストリップ形状変化)
に伴う板速計指示変動の排除が出来るため、加減速圧延
等で発生する摩擦係数変化、先進率変化等を板速変化と
して検出し、板厚制御に反映することで高精度な板厚精
度が実現できる。図2は本発明による板厚精度の実現例
であり、効果が明確である。又、板速計の故障発見とそ
れに対する処置が自動的に可能となるため、板厚制御に
板速計を使用する際の信頼度の向上が図れる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明法を実施するための装置の例を示す図で
ある。
【図2】本発明の効果を従来法との対比で説明する図で
ある。
【図3】従来のレーザードップラー効果を適用する非接
触型速度検出法の説明図である。
【図4】従来の接触型の速度検出原理を説明する図であ
る。
【符号の説明】
1〜3 圧延機スタンド 11〜13 圧延機駆動用電動機 21〜23 電動機回転数検出器 31〜33 圧延機圧下装置 41 巻戻しリール 42 ブライドルロール 43、44 巻取りリール 51 巻戻しリール駆動電動機 52 ブライドルロール駆動電動機 53、54 巻取りリール駆動電動機 61 出側シャー 71 接触式板速度計 72〜75 非接触式板速度計 82〜85 板厚計 90、91 制御用計算機 100 ビームスプリッタ 101 ミラー 102 逆光プローブ 103 照射光 104 散乱光 105 受光プローブ 106 受光素子 a レーザー発振機 b 検出器 c ストリップ d 無駆動ロール

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 レーザードップラー効果を圧延ストリッ
    プ速度の検出原理とする非接触式板速度計とストリップ
    厚みを測定する板厚計を同数個、同一スタンド前後に装
    備した2スタンド以上からなるタンデム圧延機に、圧延
    機入側でストリップに巻き付けた基準ロールとそのロー
    ル周速を一定時間内の回転パルス数として演算するため
    当該ロールに取り付けたPLGと演算装置とからなる校
    正装置を配置し、この校正装置により測定した板速度と
    同じく圧延機入側に取り付けた非接触式板速度計の測定
    値とを比較演算処理し、その結果に基づきリアルタイム
    に非接触式板速度計の測定値が前記校正装置の基準速度
    に一致する様に板速補正係数の演算処理を行い種々の測
    定系の蓄積誤差であるオフセット誤差を除去し、しかる
    後に少なくとも二つ以上圧延機の上流側から連続に圧延
    機スタンド内に取り付けられた非接触式板速度計に対し
    ては、その測定値を使用してマスフロー保存則から算出
    されるマスフロー板厚とこれに該当する板厚計の測定結
    果の差異から当該板速度計のオフセット誤差を推定し、
    この結果に基づき、スタンド上流からシーケンシャル的
    に順次オフセット誤差が零になる様に当該板速度計の補
    正係数を決定し補償することを特徴とするタンデム圧延
    機における板速度検出法。
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