JPH0493823A - 光屈折率材料 - Google Patents
光屈折率材料Info
- Publication number
- JPH0493823A JPH0493823A JP20684390A JP20684390A JPH0493823A JP H0493823 A JPH0493823 A JP H0493823A JP 20684390 A JP20684390 A JP 20684390A JP 20684390 A JP20684390 A JP 20684390A JP H0493823 A JPH0493823 A JP H0493823A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- refractive index
- elements
- light
- additive element
- optical refractive
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
- 239000000463 material Substances 0.000 title claims abstract description 54
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 title abstract description 35
- 229910052797 bismuth Inorganic materials 0.000 claims abstract description 9
- JCXGWMGPZLAOME-UHFFFAOYSA-N bismuth atom Chemical compound [Bi] JCXGWMGPZLAOME-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims abstract description 9
- ATJFFYVFTNAWJD-UHFFFAOYSA-N Tin Chemical compound [Sn] ATJFFYVFTNAWJD-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims abstract description 6
- 229910052761 rare earth metal Inorganic materials 0.000 claims abstract description 6
- 239000000654 additive Substances 0.000 abstract description 26
- 230000000996 additive effect Effects 0.000 abstract description 26
- 230000035945 sensitivity Effects 0.000 abstract description 10
- 229910052784 alkaline earth metal Inorganic materials 0.000 abstract description 5
- 150000001342 alkaline earth metals Chemical class 0.000 abstract description 4
- 239000013078 crystal Substances 0.000 description 20
- XEEYBQQBJWHFJM-UHFFFAOYSA-N Iron Chemical compound [Fe] XEEYBQQBJWHFJM-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 18
- 230000001678 irradiating effect Effects 0.000 description 12
- 229910052772 Samarium Inorganic materials 0.000 description 11
- JRPBQTZRNDNNOP-UHFFFAOYSA-N barium titanate Chemical compound [Ba+2].[Ba+2].[O-][Ti]([O-])([O-])[O-] JRPBQTZRNDNNOP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 11
- 229910002113 barium titanate Inorganic materials 0.000 description 11
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 10
- 229910052684 Cerium Inorganic materials 0.000 description 9
- 229910052742 iron Inorganic materials 0.000 description 9
- KZUNJOHGWZRPMI-UHFFFAOYSA-N samarium atom Chemical compound [Sm] KZUNJOHGWZRPMI-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 9
- 230000007547 defect Effects 0.000 description 8
- 238000009826 distribution Methods 0.000 description 8
- GWXLDORMOJMVQZ-UHFFFAOYSA-N cerium Chemical compound [Ce] GWXLDORMOJMVQZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 7
- 230000006870 function Effects 0.000 description 7
- QVGXLLKOCUKJST-UHFFFAOYSA-N atomic oxygen Chemical compound [O] QVGXLLKOCUKJST-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 6
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 6
- 238000000034 method Methods 0.000 description 6
- 239000001301 oxygen Substances 0.000 description 6
- 229910052760 oxygen Inorganic materials 0.000 description 6
- 229910052693 Europium Inorganic materials 0.000 description 5
- 239000002994 raw material Substances 0.000 description 5
- OGPBJKLSAFTDLK-UHFFFAOYSA-N europium atom Chemical compound [Eu] OGPBJKLSAFTDLK-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- 229910052788 barium Inorganic materials 0.000 description 3
- DSAJWYNOEDNPEQ-UHFFFAOYSA-N barium atom Chemical compound [Ba] DSAJWYNOEDNPEQ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 3
- 229910052712 strontium Inorganic materials 0.000 description 3
- 229910052779 Neodymium Inorganic materials 0.000 description 2
- 229910052777 Praseodymium Inorganic materials 0.000 description 2
- 229910052771 Terbium Inorganic materials 0.000 description 2
- 229910052775 Thulium Inorganic materials 0.000 description 2
- 229910052769 Ytterbium Inorganic materials 0.000 description 2
- 229910052790 beryllium Inorganic materials 0.000 description 2
- 229910052791 calcium Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000011575 calcium Substances 0.000 description 2
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 2
- 230000005684 electric field Effects 0.000 description 2
- GQYHUHYESMUTHG-UHFFFAOYSA-N lithium niobate Chemical compound [Li+].[O-][Nb](=O)=O GQYHUHYESMUTHG-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 229910052749 magnesium Inorganic materials 0.000 description 2
- CIOAGBVUUVVLOB-UHFFFAOYSA-N strontium atom Chemical compound [Sr] CIOAGBVUUVVLOB-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- OYPRJOBELJOOCE-UHFFFAOYSA-N Calcium Chemical compound [Ca] OYPRJOBELJOOCE-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052691 Erbium Inorganic materials 0.000 description 1
- -1 Eu5Gd Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910052688 Gadolinium Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910052765 Lutetium Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000000969 carrier Substances 0.000 description 1
- 230000005284 excitation Effects 0.000 description 1
- 239000007789 gas Substances 0.000 description 1
- 230000010365 information processing Effects 0.000 description 1
- 230000003993 interaction Effects 0.000 description 1
- 238000002844 melting Methods 0.000 description 1
- 230000008018 melting Effects 0.000 description 1
- 238000002360 preparation method Methods 0.000 description 1
- 150000002910 rare earth metals Chemical class 0.000 description 1
- 238000004857 zone melting Methods 0.000 description 1
Landscapes
- Holo Graphy (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
[産業上の利用分野1
本発明は、光屈折率材料に係わり、特に作製ロット間で
の光屈折率特性のバラツキが少な(、また屈折率変化を
生じさせるために照射する光の波長感度領域と異なった
波長領域の光の照射により屈折率変化を消去することの
できる光屈折率材料に関する。
の光屈折率特性のバラツキが少な(、また屈折率変化を
生じさせるために照射する光の波長感度領域と異なった
波長領域の光の照射により屈折率変化を消去することの
できる光屈折率材料に関する。
[従来の技術]
光屈折率材料は、光の照射により空間的な光の強度分布
に応じて媒質の屈折率が空間的に変化する、いわゆる光
屈折率効果を示す材料である。この光屈折率材料によれ
ば、光照射により屈折率変調型の回折格子を形成するこ
とができることがら、実時間ホログラム材料、位相共役
波発生用材料として広く用いられている。
に応じて媒質の屈折率が空間的に変化する、いわゆる光
屈折率効果を示す材料である。この光屈折率材料によれ
ば、光照射により屈折率変調型の回折格子を形成するこ
とができることがら、実時間ホログラム材料、位相共役
波発生用材料として広く用いられている。
ここで、第2図を参照して光屈折率効果の原理について
説明する。
説明する。
まず、光屈折率材料に光を照射すると、光エネルギーに
より光屈折率材料のバンドギャップ内に存在するドナー
から電子が伝導帯に放出される(■)。
より光屈折率材料のバンドギャップ内に存在するドナー
から電子が伝導帯に放出される(■)。
次に、伝導帯に放出された電子はドリフトにより媒質内
を移動し、その媒質内に存在するトラップにより捕らえ
られる。この際、電子が捕獲された部分には負の空間電
荷分布が生じ、また電子が放出された部分には正の空間
電荷分布が生じる(■)。
を移動し、その媒質内に存在するトラップにより捕らえ
られる。この際、電子が捕獲された部分には負の空間電
荷分布が生じ、また電子が放出された部分には正の空間
電荷分布が生じる(■)。
次いで、この空間電荷分布によって媒質内に空間的に変
調した電界分布が生じる(■)。
調した電界分布が生じる(■)。
次に、光屈折率材料は電気光学効果を併せ持つため、媒
質内に生じた電界分布に応じて材料の屈折率が変化し、
その結果空間的に変調した屈折率分布が形成される(■
)。
質内に生じた電界分布に応じて材料の屈折率が変化し、
その結果空間的に変調した屈折率分布が形成される(■
)。
以上の■から■の過程により光屈折率効果が生じる。そ
して、上述の光屈折率材料ではドナーとトラップがその
動作を支配しているため、所望の光屈折率特性を実現す
るためにはドナー濃度、トラップ濃度を精密に制御する
必要がある。
して、上述の光屈折率材料ではドナーとトラップがその
動作を支配しているため、所望の光屈折率特性を実現す
るためにはドナー濃度、トラップ濃度を精密に制御する
必要がある。
従来より、上述の光屈折率材料としては、例えば鉄を添
加したニオブ酸リチウムや同じく鉄を添加したチタン酸
バリウムなどが知られている。これらの材料では添加物
である鉄がドナーとして、また母体結晶中に存在する酸
素欠陥がトラップとしてそれぞれ機能して光屈折率効果
が生じているとされている。このため、再現性良(光屈
折率効果を生じさせるためには、ドナーである鉄濃度、
トラップである酸素欠陥濃度を制御して材料を作製する
必要がある。
加したニオブ酸リチウムや同じく鉄を添加したチタン酸
バリウムなどが知られている。これらの材料では添加物
である鉄がドナーとして、また母体結晶中に存在する酸
素欠陥がトラップとしてそれぞれ機能して光屈折率効果
が生じているとされている。このため、再現性良(光屈
折率効果を生じさせるためには、ドナーである鉄濃度、
トラップである酸素欠陥濃度を制御して材料を作製する
必要がある。
[発明が解決しようとする課題1
ところが、ニオブ酸リチウムやチタン酸バリウムなどの
酸化物結晶は酸素欠陥を生じ易く、このため結晶作製時
の雰囲気ガスや溶融温度などの結晶作製条件のわずかな
相違により容易に酸素欠陥濃度が変化してしまう。この
ため、結晶作製時にドナーである鉄の添加濃度を精密に
制御して結晶成長を行っても、酸素欠陥濃度、即ちトラ
ップ濃度の制御が困難であるため、得られた結晶の光屈
折率特性のロット間のバラツキが大きく光屈折率特性の
制御性に欠ける欠点があった。
酸化物結晶は酸素欠陥を生じ易く、このため結晶作製時
の雰囲気ガスや溶融温度などの結晶作製条件のわずかな
相違により容易に酸素欠陥濃度が変化してしまう。この
ため、結晶作製時にドナーである鉄の添加濃度を精密に
制御して結晶成長を行っても、酸素欠陥濃度、即ちトラ
ップ濃度の制御が困難であるため、得られた結晶の光屈
折率特性のロット間のバラツキが大きく光屈折率特性の
制御性に欠ける欠点があった。
また、鉄以外の元素を添加した従来の光屈折率材料とし
ては、稀土類元素であるセリウム(Ce)を添加したS
ro aBao、Jb20s(SBN:60)が知られ
ているが、このSBN:60も、やはりトラップの制御
ができないため、制御性にかける欠点があった。また、
セリウムと鉄を共に添加した場合には、鉄の添加により
結晶に縞状構造(一種の欠陥)が生じる欠点があるため
、むしろロット間での特性のバラツキが大きくなる。
ては、稀土類元素であるセリウム(Ce)を添加したS
ro aBao、Jb20s(SBN:60)が知られ
ているが、このSBN:60も、やはりトラップの制御
ができないため、制御性にかける欠点があった。また、
セリウムと鉄を共に添加した場合には、鉄の添加により
結晶に縞状構造(一種の欠陥)が生じる欠点があるため
、むしろロット間での特性のバラツキが大きくなる。
一方、従来の光屈折率材料を実時間ホログラム媒体とし
て使用する場合、光屈折率材料に記録したホログラムを
消去する際には、レーザーの照射を一旦停止し、光屈折
率材料にインコヒーレント光を全面照射し、トラップさ
れたキャリヤを放出させ、結晶全体に均質に分布させる
ことにより屈折率変化を無くすようにする。これはレー
ザー光照射中に同じ波長のレーザー光を照射すると、干
渉が起こり、新たなホログラムが形成されるためである
。このようにして記録されたホログラムを消去するため
に、−旦情報処理を停止しなければならないことから、
光情報の連続処理や高速処理ができない欠点があった。
て使用する場合、光屈折率材料に記録したホログラムを
消去する際には、レーザーの照射を一旦停止し、光屈折
率材料にインコヒーレント光を全面照射し、トラップさ
れたキャリヤを放出させ、結晶全体に均質に分布させる
ことにより屈折率変化を無くすようにする。これはレー
ザー光照射中に同じ波長のレーザー光を照射すると、干
渉が起こり、新たなホログラムが形成されるためである
。このようにして記録されたホログラムを消去するため
に、−旦情報処理を停止しなければならないことから、
光情報の連続処理や高速処理ができない欠点があった。
本発明の目的は、上述の技術的課題を解決すべく、光屈
折率特性の制御が容易で、かつレーザー光を照射したま
までもホログラムの消去が可能である光屈折率材料を提
供することにある。
折率特性の制御が容易で、かつレーザー光を照射したま
までもホログラムの消去が可能である光屈折率材料を提
供することにある。
[課題を解決するための手段1
本発明は、アルカリ土類金属を含有する母体材料に、稀
土類元素、ビスマス元素、錫元素、鉛元素からなる群よ
り選ばれた少なくとも2種の元素を添加したことを特徴
とするものである。
土類元素、ビスマス元素、錫元素、鉛元素からなる群よ
り選ばれた少なくとも2種の元素を添加したことを特徴
とするものである。
本発明においてアルカリ土類金属(Be、 Mg、Ca
、 Sr、 Ba、 Ra)を含有する母体材料に添加
し得る元素としては、Ce、 Pr、 Nd、 Pm、
Sm、 Eu、 Gd、Tb、 Dy、 Ha、 E
r、 Tm、Yb、 Lu等の稀土類金属元素、ビスマ
ス(Bi)、錫(Sn)、鉛(pb)からなる群より少
なくとも2種の元素が選択される。
、 Sr、 Ba、 Ra)を含有する母体材料に添加
し得る元素としては、Ce、 Pr、 Nd、 Pm、
Sm、 Eu、 Gd、Tb、 Dy、 Ha、 E
r、 Tm、Yb、 Lu等の稀土類金属元素、ビスマ
ス(Bi)、錫(Sn)、鉛(pb)からなる群より少
なくとも2種の元素が選択される。
[作 用1
本発明の光屈折率材料の作用について第1図を参照しな
がら説明する。波長え、の光を照射すると、添加元素l
から電子が放出される。添加元素1から放出された電子
はドリフトにより移動し添加元素2により捕獲され、媒
質中に空間電荷分布が生じ、従って電気光学効果により
屈折率が変化する。次に、この媒質に波長え2の光を照
射すると、添加元素2から電子が放出され、再び添加元
素1に捕獲され、屈折率変化は消去される。
がら説明する。波長え、の光を照射すると、添加元素l
から電子が放出される。添加元素1から放出された電子
はドリフトにより移動し添加元素2により捕獲され、媒
質中に空間電荷分布が生じ、従って電気光学効果により
屈折率が変化する。次に、この媒質に波長え2の光を照
射すると、添加元素2から電子が放出され、再び添加元
素1に捕獲され、屈折率変化は消去される。
すなわち、添加元素1にドナーの役割をもたせ、添加元
素2にトラップの役割をもたせているので、添加元素1
.2の添加濃度をそれぞれ独立に制御して添加すれば、
ドナー濃度、トラップ濃度をそれぞれ独立に制御するこ
とができる。したがって、母体結晶の欠陥濃度の多少に
関わらず、常に所望の光圧折率特性を示す光屈折率材料
を提供することができる。
素2にトラップの役割をもたせているので、添加元素1
.2の添加濃度をそれぞれ独立に制御して添加すれば、
ドナー濃度、トラップ濃度をそれぞれ独立に制御するこ
とができる。したがって、母体結晶の欠陥濃度の多少に
関わらず、常に所望の光圧折率特性を示す光屈折率材料
を提供することができる。
また、添加元素1と添加元素2の波長感度領域が異なる
ので、書き込み光と消去光との間で干渉は起こらず、屈
折率変化の消去の際に入射レーザー光を照射しながら、
必要な部分のみを消去することが可能となる。
ので、書き込み光と消去光との間で干渉は起こらず、屈
折率変化の消去の際に入射レーザー光を照射しながら、
必要な部分のみを消去することが可能となる。
特に、本発明において用いられる添加元素である稀土類
元素、ビスマス元素、錫元素、鉛元素はいずれもアルカ
リ土類金属元素とイオン半径が近いことから、これら元
素を添加しても母体材料内に生じる格子歪は小さ(てす
み、従って欠陥の少ない光屈折率材料が得られる。また
、本発明で選択した元素をSBN:60に添加しても、
鉄添加のSBN:60の場合に生じるような縞状構造は
生じない。
元素、ビスマス元素、錫元素、鉛元素はいずれもアルカ
リ土類金属元素とイオン半径が近いことから、これら元
素を添加しても母体材料内に生じる格子歪は小さ(てす
み、従って欠陥の少ない光屈折率材料が得られる。また
、本発明で選択した元素をSBN:60に添加しても、
鉄添加のSBN:60の場合に生じるような縞状構造は
生じない。
さらに、本発明において用いられる添加元素が光屈折率
材料内で形成する準位の深さは伝導帯の底から約1eV
以上と深いためトラップされた電子が熱的に放出される
ことがなく、従って従来の光屈折率材料と比較しても安
定なメモリー特性を示す。
材料内で形成する準位の深さは伝導帯の底から約1eV
以上と深いためトラップされた電子が熱的に放出される
ことがなく、従って従来の光屈折率材料と比較しても安
定なメモリー特性を示す。
また、添加元素1と添加元素2との間の相互作用が強い
ので、光励起により添加元素1から放出された電子は効
率よく添加元素2に捕獲される。
ので、光励起により添加元素1から放出された電子は効
率よく添加元素2に捕獲される。
したがって、本発明の光屈折率材料は従来の光屈折率材
料と比較して極めて感度の高い。
料と比較して極めて感度の高い。
[実施例]
以下、実施例を示して本発明をより具体的に説明する。
(実施例1)
チタン酸バリウムにユーロピウムとサマリウムを添加し
た光屈折率材料を説明する。
た光屈折率材料を説明する。
上述の光屈折率材料を作製するにあたっては、チタン酸
バリウムのバリウムに対して重量比で0、001%のユ
ーロピウムおよび0.001%のサマリウムを上述のチ
タン酸バリウムに混合して得た原料を用いてチョコラル
スキー法によって単結晶成長を行った。同様の単結晶成
長を行って得られた複数ロットの光屈折率材料にそれぞ
れ一定光強度のArレーザー光を照射してホログラムを
形成し、回折効率のロット間のバラツキを調べたところ
、その変動値は0,1%以内であり、光圧折率特性のロ
ット間での変動が極めて少ないことが明かとなった。ま
た、膜厚1mm当りの回折効率1%を得るために必要な
光強度が数100μW/cm” ト小すく、感度が高い
ことが示された。このようにして書き込んだ回折格子は
半導体レーザー、YAGレーザーのいずれによっても消
去することができた。
バリウムのバリウムに対して重量比で0、001%のユ
ーロピウムおよび0.001%のサマリウムを上述のチ
タン酸バリウムに混合して得た原料を用いてチョコラル
スキー法によって単結晶成長を行った。同様の単結晶成
長を行って得られた複数ロットの光屈折率材料にそれぞ
れ一定光強度のArレーザー光を照射してホログラムを
形成し、回折効率のロット間のバラツキを調べたところ
、その変動値は0,1%以内であり、光圧折率特性のロ
ット間での変動が極めて少ないことが明かとなった。ま
た、膜厚1mm当りの回折効率1%を得るために必要な
光強度が数100μW/cm” ト小すく、感度が高い
ことが示された。このようにして書き込んだ回折格子は
半導体レーザー、YAGレーザーのいずれによっても消
去することができた。
また、Arレーザーを照射しながら消去を行っても書き
込み波長と消去波長とが異なることから、書き込み光と
消去光との間での干渉は起こらず、任意の部分の記録を
消去することができた。
込み波長と消去波長とが異なることから、書き込み光と
消去光との間での干渉は起こらず、任意の部分の記録を
消去することができた。
(実施例2)
チタン酸バリウムにセリウムとサマリウムを添加した光
屈折率材料を説明する。
屈折率材料を説明する。
上述の光屈折率材料を作製するにあたっては、チタン酸
バリウムのバリウムに対して重量比で0、001%のセ
リウムおよび0001%のサマリウムを上述のチタン酸
バリウムに混合して得た原料を用いてチョコラルスキー
法によって単結晶成長を行った。同様の単結晶成長を行
って得られた複数ロットの光屈折率材料にそれぞれ一定
光強度のArレーザー光を照射してホログラムを形成し
、回折効果のロット間のバラツキを調べたところ、その
変動値は0.1%以内であり、光圧折率特性のロット間
での変動が極めて少ないことが明がとなった。また、膜
厚1mm当りの回折効率1%を得るために必要な光強度
が数10μW/cがと小さ(、感度が高いことが示され
た。このようにして書き込んだ回折格子は半導体レーザ
ー、YAGレーザーのいずれによっても消去することが
できた。また、Arレーザーを照射しながら、消去を行
っても書き込み波長と消去波長とが異なることから、書
き込み光と消去光との間での干渉は起こらず、任意の部
分の記録を消去することができた。
バリウムのバリウムに対して重量比で0、001%のセ
リウムおよび0001%のサマリウムを上述のチタン酸
バリウムに混合して得た原料を用いてチョコラルスキー
法によって単結晶成長を行った。同様の単結晶成長を行
って得られた複数ロットの光屈折率材料にそれぞれ一定
光強度のArレーザー光を照射してホログラムを形成し
、回折効果のロット間のバラツキを調べたところ、その
変動値は0.1%以内であり、光圧折率特性のロット間
での変動が極めて少ないことが明がとなった。また、膜
厚1mm当りの回折効率1%を得るために必要な光強度
が数10μW/cがと小さ(、感度が高いことが示され
た。このようにして書き込んだ回折格子は半導体レーザ
ー、YAGレーザーのいずれによっても消去することが
できた。また、Arレーザーを照射しながら、消去を行
っても書き込み波長と消去波長とが異なることから、書
き込み光と消去光との間での干渉は起こらず、任意の部
分の記録を消去することができた。
(実施例3)
BSKNN (Bat−xSr註+−vNavNtl+
0+s : O< X < 2 。
0+s : O< X < 2 。
0<Y<1)にセリウムとサマリウムを添加した光屈折
率材料を説明する。
率材料を説明する。
上述の光屈折率材料を作製するにあたっては、上述のB
SKNNのバリウムとストロンチウムの混合重量に対し
て、重量比で0.001%のセリウムおよび0.001
%のサマリウムをBSKNNに混合して得た原料を用い
てチョクラルスキー法によって単結晶成長を行った。同
様の単結晶成長を行って得られた複数ロットの光屈折率
材料にそれぞれ一定光強度のArレーザー光を照射して
ホログラムを形成し、回折効率のロット間のバラツキを
調べたところ、その変動値は0.1%以内であり、光圧
折率特性のロット間での変動が極めて少ないことが明か
となった。また、膜厚1mm当りの回折効率1%を得る
ために必要な光強度が数10μW/cm2と小さく、感
度が高いことが示された。このようにして書き込んだ回
折格子は半導体レーザー、YAGレーザーのいずれによ
っても消去することができた。
SKNNのバリウムとストロンチウムの混合重量に対し
て、重量比で0.001%のセリウムおよび0.001
%のサマリウムをBSKNNに混合して得た原料を用い
てチョクラルスキー法によって単結晶成長を行った。同
様の単結晶成長を行って得られた複数ロットの光屈折率
材料にそれぞれ一定光強度のArレーザー光を照射して
ホログラムを形成し、回折効率のロット間のバラツキを
調べたところ、その変動値は0.1%以内であり、光圧
折率特性のロット間での変動が極めて少ないことが明か
となった。また、膜厚1mm当りの回折効率1%を得る
ために必要な光強度が数10μW/cm2と小さく、感
度が高いことが示された。このようにして書き込んだ回
折格子は半導体レーザー、YAGレーザーのいずれによ
っても消去することができた。
また、Arレーザーを照射した状態で消去を行っても書
き込み波長と消去波長とが異なることから、書き込み光
と消去光との間での干渉は起こらず、任意の部分の記録
を消去することができた。
き込み波長と消去波長とが異なることから、書き込み光
と消去光との間での干渉は起こらず、任意の部分の記録
を消去することができた。
(実施例4)
SCNN(Srz−xcaxNaaNbiO+s :
0 < X < 2 )にセリウムとサマリウムを添加
した光屈折率材料を説明する。
0 < X < 2 )にセリウムとサマリウムを添加
した光屈折率材料を説明する。
上述の光屈折率材料を作製するにあたっては、上述の5
CNNのストロンチウムとカルシウムの混合重量に対し
て、重量比で0.001%のセリウムおよび0.001
%のサマリウムを5CNNに混合して得た原料を用いて
帯域溶融法によって単結晶成長を行った。同様の単結晶
成長を行って得られた複数ロットの光屈折率材料にそれ
ぞれ一定光強度のArレーザー光を照射してホログラム
を形成し、回折効率のロット間のバラツキを調べたとこ
ろ、その変動値は0.1%以内であり、光圧折率特性の
ロット間での変動が極めて少ないことが明かとなった。
CNNのストロンチウムとカルシウムの混合重量に対し
て、重量比で0.001%のセリウムおよび0.001
%のサマリウムを5CNNに混合して得た原料を用いて
帯域溶融法によって単結晶成長を行った。同様の単結晶
成長を行って得られた複数ロットの光屈折率材料にそれ
ぞれ一定光強度のArレーザー光を照射してホログラム
を形成し、回折効率のロット間のバラツキを調べたとこ
ろ、その変動値は0.1%以内であり、光圧折率特性の
ロット間での変動が極めて少ないことが明かとなった。
また、膜厚1mm当りの回折効率1%を得るために必要
な光強度が数100μW/cがと小さく、感度が高いこ
とが示された。このようにして書き込んだ回折格子は半
導体レーザー、YAGレーザーのいずれによっても消去
することができた。また、Arレーザーを照射しながら
、消去を行っても書き込み波長と消去波長とが異なるこ
とから、書き込み光と消去光間での干渉は起こらず、任
意の部分の記録を消去することができた。
な光強度が数100μW/cがと小さく、感度が高いこ
とが示された。このようにして書き込んだ回折格子は半
導体レーザー、YAGレーザーのいずれによっても消去
することができた。また、Arレーザーを照射しながら
、消去を行っても書き込み波長と消去波長とが異なるこ
とから、書き込み光と消去光間での干渉は起こらず、任
意の部分の記録を消去することができた。
(実施例5)
チタン酸バリウムにユーロピウムとビスマスを添加した
光屈折率材料を説明する。
光屈折率材料を説明する。
上記光屈折率材料を作製するにあたっては、チタン酸バ
リウムのバリウムに対して重量比でo、 ooi%のユ
ーロピウムおよび0.001%のビスマスをチタン酸バ
リウムに混合して得た原料を用いてチョクラルスキー法
によって単結晶成長を行った。同様の単結晶成長を行っ
て得られた複数ロットの光屈折率材料にそれぞれ一定光
強度のArレーザー光を照射してホログラムを形成し、
回折効率のロット間のバラツキを調べたところ、その変
動値は0.1%以内であり、光圧折率特性のロット間で
の変動が極めて少ないことが明かとなった。また、膜厚
1mm当りの回折効率1%を得るために必要な光強度が
数100μW/cm2と小さく、感度が高いことが示さ
れた。本実施例では、ビスマスを用いたことにより、サ
マリウムを用いた実施例1の場合と比較して消去波長域
が短波長側にシフトするが、実施例1の場合と同様にA
rレーザー光で書き込んだ回折格子は半導体レーザー、
YAGレーザーのいずれによっても消去することができ
た。
リウムのバリウムに対して重量比でo、 ooi%のユ
ーロピウムおよび0.001%のビスマスをチタン酸バ
リウムに混合して得た原料を用いてチョクラルスキー法
によって単結晶成長を行った。同様の単結晶成長を行っ
て得られた複数ロットの光屈折率材料にそれぞれ一定光
強度のArレーザー光を照射してホログラムを形成し、
回折効率のロット間のバラツキを調べたところ、その変
動値は0.1%以内であり、光圧折率特性のロット間で
の変動が極めて少ないことが明かとなった。また、膜厚
1mm当りの回折効率1%を得るために必要な光強度が
数100μW/cm2と小さく、感度が高いことが示さ
れた。本実施例では、ビスマスを用いたことにより、サ
マリウムを用いた実施例1の場合と比較して消去波長域
が短波長側にシフトするが、実施例1の場合と同様にA
rレーザー光で書き込んだ回折格子は半導体レーザー、
YAGレーザーのいずれによっても消去することができ
た。
また、Arレーザーを照射しながら消去を行っても書き
込み波長と消去波長とが異なることから、書き込み光と
消去光との間での干渉は起こらず、任意の部分の記録を
消去することができた。
込み波長と消去波長とが異なることから、書き込み光と
消去光との間での干渉は起こらず、任意の部分の記録を
消去することができた。
また、上述の各実施例以外に、元素Be、 MgやRa
を組成として含む材料に、稀土類元素(Ce、 Pr、
Nd、 Pm、 Sm、 Eu5Gd、 Tb、 Dy
、 Ha、 Er、 Tm、 Yb。
を組成として含む材料に、稀土類元素(Ce、 Pr、
Nd、 Pm、 Sm、 Eu5Gd、 Tb、 Dy
、 Ha、 Er、 Tm、 Yb。
Lu) 、ビスマス(Bi)、錫(Sn)、鉛(Pb)
のうち2種の元素を添加した場合でも同様の効果が得ら
れた。
のうち2種の元素を添加した場合でも同様の効果が得ら
れた。
1発明の効果]
以上説明したように、本発明の光屈折率材料では、2種
の添加元素のうち一方の元素をドナーとして、また他方
の元素をトラップとして機能させ得るので、従来のよう
に、濃度制御の困難な酸素欠陥にトラップとしての機能
を担わせる必要がない。したがって、本発明においては
、2種の添加元素の濃度を制御すれば、作製ロット間で
の光屈折率特性のバラツキを少な(でき、容易に光屈折
率特性を制御することが可能である。
の添加元素のうち一方の元素をドナーとして、また他方
の元素をトラップとして機能させ得るので、従来のよう
に、濃度制御の困難な酸素欠陥にトラップとしての機能
を担わせる必要がない。したがって、本発明においては
、2種の添加元素の濃度を制御すれば、作製ロット間で
の光屈折率特性のバラツキを少な(でき、容易に光屈折
率特性を制御することが可能である。
また、本発明では、一方の添加元素と他方の添加元素と
は波長感度領域が異なるので、書き込み光と消去光との
間で干渉は起こらず、屈折率変化の消去の際に入射レー
ザー光を照射しながら、必要な部分のみを消去すること
が可能となる。したがって、レーザー光を照射したまま
でもホログラムの消去も可能である。
は波長感度領域が異なるので、書き込み光と消去光との
間で干渉は起こらず、屈折率変化の消去の際に入射レー
ザー光を照射しながら、必要な部分のみを消去すること
が可能となる。したがって、レーザー光を照射したまま
でもホログラムの消去も可能である。
第1図は本発明の光屈折率材料の動作原理を示す図、
第2図は従来の光屈折率材料の動作原理を示す図である
。
。
Claims (1)
- 1)アルカリ土類金属を含有する材料に、稀土類元素、
ビスマス元素、錫元素、鉛元素からなる群より選ばれた
少なくとも2種の元素を添加したことを特徴とする光屈
折率材料。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP20684390A JPH0493823A (ja) | 1990-08-06 | 1990-08-06 | 光屈折率材料 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP20684390A JPH0493823A (ja) | 1990-08-06 | 1990-08-06 | 光屈折率材料 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH0493823A true JPH0493823A (ja) | 1992-03-26 |
Family
ID=16529980
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP20684390A Pending JPH0493823A (ja) | 1990-08-06 | 1990-08-06 | 光屈折率材料 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH0493823A (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US6636192B1 (en) | 1999-01-28 | 2003-10-21 | Seiko Epson Corporation | Electrooptic panel, projection display, and method for manufacturing electrooptic panel |
-
1990
- 1990-08-06 JP JP20684390A patent/JPH0493823A/ja active Pending
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US6636192B1 (en) | 1999-01-28 | 2003-10-21 | Seiko Epson Corporation | Electrooptic panel, projection display, and method for manufacturing electrooptic panel |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US3703328A (en) | Devices utilizing improved linbo' holographic medium | |
US5864412A (en) | Multiphoton photorefractive holographic recording media | |
US3799642A (en) | Holographic recording on photochromic lithium niobate | |
Staebler et al. | Hologram storage in photochromic LiNbO 3 | |
US5665493A (en) | Gated recording of holograms using rare-earth doped ferroelectric materials | |
US3932299A (en) | Method for the reduction of iron in iron-doped lithium niobate crystals | |
US3915549A (en) | Crystals for recording phase holograms | |
US4052119A (en) | Crystals for recording phase holograms | |
AU711765B2 (en) | Two-step gated holographic recording in photorefractive materials using CW lasers | |
US6670079B1 (en) | Photorefractive material | |
US5978108A (en) | Two-step gated holographic recording in photorefractive materials using cw lasers | |
US3933504A (en) | Photochromic lithium niobate and method for preparing same | |
JPH0493823A (ja) | 光屈折率材料 | |
Lee et al. | Photochromic effect in near-stoichiometric LiNbO 3 and two-color holographic recording | |
US4187109A (en) | Strontium barium niobate single crystal doped with Ce | |
Liu et al. | Nonvolatile two-color holographic recording in nondoped near-stoichiometric lithium tantalate crystals with continuous-wave lasers | |
Liu et al. | Two-color photorefractive properties in near-stoichiometric lithium tantalate crystals | |
DE2337458A1 (de) | Verfahren zum reduzieren von eisen in einem eisendotierten lithiumniobat-kristall | |
Staebler | Oxide optical memories: Photochromism and index change | |
JP3259891B2 (ja) | ホログラム記録材料 | |
Berger et al. | Non-volatile volume holograms in bismuth tellurite crystals | |
JP3476059B2 (ja) | ホログラム記録材料の作製方法 | |
Pham et al. | Nonvolatile two-color holographic recording in Tm-doped near-stoichiometric LiNbO3 | |
Krätzig et al. | Two-Step processes and IR recording in photorefractive crystals | |
JP2759477B2 (ja) | 電気消去型光画像素子 |