JPH0470583B2 - - Google Patents
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- JPH0470583B2 JPH0470583B2 JP56086316A JP8631681A JPH0470583B2 JP H0470583 B2 JPH0470583 B2 JP H0470583B2 JP 56086316 A JP56086316 A JP 56086316A JP 8631681 A JP8631681 A JP 8631681A JP H0470583 B2 JPH0470583 B2 JP H0470583B2
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- 239000010437 gem Substances 0.000 claims description 55
- 229910001751 gemstone Inorganic materials 0.000 claims description 55
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 22
- 238000007689 inspection Methods 0.000 claims description 5
- 239000004575 stone Substances 0.000 description 40
- 239000010432 diamond Substances 0.000 description 18
- 229910003460 diamond Inorganic materials 0.000 description 18
- 238000005498 polishing Methods 0.000 description 3
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 2
- 238000005286 illumination Methods 0.000 description 2
- 230000001788 irregular Effects 0.000 description 1
- 239000000463 material Substances 0.000 description 1
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 1
- 239000013081 microcrystal Substances 0.000 description 1
- 238000011179 visual inspection Methods 0.000 description 1
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- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
- G01N21/87—Investigating jewels
-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B24—GRINDING; POLISHING
- B24B—MACHINES, DEVICES, OR PROCESSES FOR GRINDING OR POLISHING; DRESSING OR CONDITIONING OF ABRADING SURFACES; FEEDING OF GRINDING, POLISHING, OR LAPPING AGENTS
- B24B9/00—Machines or devices designed for grinding edges or bevels on work or for removing burrs; Accessories therefor
- B24B9/02—Machines or devices designed for grinding edges or bevels on work or for removing burrs; Accessories therefor characterised by a special design with respect to properties of materials specific to articles to be ground
- B24B9/06—Machines or devices designed for grinding edges or bevels on work or for removing burrs; Accessories therefor characterised by a special design with respect to properties of materials specific to articles to be ground of non-metallic inorganic material, e.g. stone, ceramics, porcelain
- B24B9/16—Machines or devices designed for grinding edges or bevels on work or for removing burrs; Accessories therefor characterised by a special design with respect to properties of materials specific to articles to be ground of non-metallic inorganic material, e.g. stone, ceramics, porcelain of diamonds; of jewels or the like; Diamond grinders' dops; Dop holders or tongs
- B24B9/162—Machines or devices designed for grinding edges or bevels on work or for removing burrs; Accessories therefor characterised by a special design with respect to properties of materials specific to articles to be ground of non-metallic inorganic material, e.g. stone, ceramics, porcelain of diamonds; of jewels or the like; Diamond grinders' dops; Dop holders or tongs by bruting, i.e. rubbing two precious stones against each other
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
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- G01B11/02—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring length, width or thickness
- G01B11/022—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring length, width or thickness by means of tv-camera scanning
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Description
【発明の詳細な説明】
この発明は宝石を検査するための方法に関す
る。DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION The present invention relates to a method for inspecting jewelry.
「イメージ」という言葉は、意味幅を広くして
用いており、陰影をも含んでいる。 The word "image" is used in a wide range of meanings, and includes shadows as well.
ブルーテイングは、切断された原石（これをソ
ーンハーフという）のガードルをカツトしたり磨
いたりすることであり、コーニングは、宝石のキ
ユレツト面又はテーブル面を円錐形にすることで
ある。 Bruting is the process of cutting or polishing the girdle of a cut rough stone (called a sawn half), and coning is the process of making the cut or table surface of a gemstone into a conical shape.
この発明の方法及び装置を使えば、原石のパラ
メータを特別の技術を必要とすることなく、非常
に速やかに決定することができる。例えば、この
発明の方法及びシステムは、10〜12ポイント（約
約1/8カラツトで直径約３mm）又はそれ以上の原
石及びそれ以下の１ポイント（直径約1.3mm）ま
での原石を検査するのに用いることができる。１
ポイントは原石を手で検査するのは、かなりむず
かしい。 Using the method and device of the invention, the parameters of the rough stone can be determined very quickly without the need for special techniques. For example, the methods and systems of the present invention may be used to inspect rough stones up to 10 to 12 points (approximately 1/8 carat, approximately 3 mm in diameter) or larger, and up to 1 point (approximately 1.3 mm in diameter). It can be used for. 1
The point is that it is quite difficult to inspect rough stones by hand.
この発明の方法及び装置は、センタリングのた
めに用いることができるが、検査には一般的にセ
ンタリングは必要なく、ただ、宝石が画面、すな
わち規定された枠、の中にいつぱいに映し出され
さえすればよい。 Although the method and apparatus of the invention can be used for centering, centering is generally not necessary for inspection, as long as the gemstone fills the screen, i.e., within a defined frame. Bye.
この発明の方法及び装置を用いる場合、以下の
パラメータを決定することができるが、このリス
トはすべてを網羅している訳ではない。 When using the method and apparatus of this invention, the following parameters can be determined; this list is not exhaustive.
カツトストーン（磨き上げられた石）の場合
は、メイク一般（メイクは宝石の形と大きさであ
り、宝石の局部の全体としての角度と大きさ、及
び切り子面の角度と大きさを含んでいる。）；プロ
フイール、一般面な用語；最大及び最小のガード
ル直径；平均のガードル直径；平均のガードル直
径の比率としてのテーブル直径；平均のガードル
直径の比率としてのクラウンの高さ；ガードル幅
（テーブルまで普通に計つた寸法）；パビリオンの
深さ；パビリオン角度；二次的切り子面の角度及
び長さ；そして重さ、これらのパラメータが決定
される。 In the case of cut stones (polished stones), make-up in general (make-up refers to the shape and size of the gemstone, including the angle and size of the gem's local parts as a whole and the angles and sizes of the facets) maximum and minimum girdle diameters; average girdle diameter; table diameter as a proportion of the average girdle diameter; crown height as a proportion of the average girdle diameter; girdle width ( Pavilion depth; pavilion angle; angle and length of secondary facets; and weight. These parameters are determined.
ブリーテイングの場合は、例えばさらに磨き続
けるか、又は仕上げを施するための正確な角度を
決定するための磨かれた宝石の再検査；
原石またはソーンハーフの場合は、内側で固定
できる与えられた比率の石を最も大きな可能性の
ブルーテイング又はポリツシングする、言換えれ
ばブリリアンカツトする（これは、次のブルーテ
イング又はコーニングのためのセンタリングに関
係づけることができる。詳細は本願と同じ月に提
出され、本願と同じ優先権日を主張している英国
特許出願Ｍ＆Ｃフオリオ36985参照。）これは微小
結晶やピケ（石の中の包含物）のような不必要な
部分を考慮することもできる；つや出しされた石
に適した比率又は角度；特に凹部部分又は他のき
ずがあるときに適した「スウインドリング」−「ス
ウインドリング」は例えばキユレツトを中心から
はずしたり、ガードルを丸くしなかつたり、ガー
ドルを斜めにしたりすることを包含する用語であ
る、これらのパラメータを決定できる。 In the case of bleating, the re-examination of the polished gemstone to determine the correct angle for further polishing or finishing, for example; in the case of rough or half-sawn stones, a given surface that can be fixed internally. Bruting or polishing, in other words brilliant cutting, the stones of the proportions to the greatest extent possible (this can be related to the centering for subsequent bruting or corning. Details filed in the same month as the present application) (See UK patent application M&C Folio 36985, which claims the same priority date as the present application.) This can also take into account unwanted parts such as microcrystals or pickets (inclusions within the stone); Suitable proportions or angles for polished stones; ``swindling'' especially when there are recessed areas or other flaws - ``swindling'' is used, for example, when the curette is off-center or the girdle is unrounded. , a term that encompasses slanting the girdle, these parameters can be determined.
カツトストーン（特にフアンシーストーン、す
なわち変則的な形状の石）の場合は、石を受け入
れるためのセツテイングの中のくぼみの大きさや
形状；を決定することができる。 In the case of cut stones (particularly fancy stones, i.e. stones of irregular shape), the size and shape of the recess in the setting to receive the stone can be determined.
多くの場合、パラメータを正確に測定するに
は、石の中に凹部部分のないことが肝要であり、
これは人手を用いて発見できるし、また凹部部分
の存在は、ある場合には、この装置は自動的に信
号で知らせることができるが、他の場合（例えば
クラウンにできたゆがみの存在のようなもの）に
は、この装置では完全に自動的に凹部部分を検出
することはできないかもしれない。しかしなが
ら、一度穴のような凹部部分が、例えば視覚によ
る検査によつて検出されたならば、穴の底はスラ
イラス又はフオーカシング装置のようなものによ
つて感知することができる。そしてそのようにし
て得られた情報は、このシステムによつて供給さ
れた他のデータに加えることができる。選択的
に、この方法が少なくとも２回用いられれば、も
つと多くの情報を得ることができる。軸に対する
一つの角度で一連の映像（イメージ）が供給さ
れ、軸に対する別の角度で他の一連の映像が供給
される。（２つの異なつた一定のフアインダーを
用いることができるし、あるいはチヤージカツプ
ル装置のような二つのセツトされたセンサーを有
する単一レンズシステムを用いることもできる。
もつとも二回目の検査のために、一方のフアイン
ダーを傾けるのが好ましい。）あるいは、続いて
石を異なる軸、例えば第１の軸に対して90°をな
す軸の回りを回転させてもよい。もつともデータ
を関連づけるには費用のかかるプロセスが必要と
なる。 In many cases, it is essential that there are no recesses in the stone to accurately measure the parameter.
This can be detected manually, and the presence of a recessed area can be automatically signaled by the device in some cases, but in other cases (such as the presence of a distortion in the crown). ), it may not be possible to detect recessed areas completely automatically with this device. However, once a recessed portion, such as a hole, has been detected, for example by visual inspection, the bottom of the hole can be sensed with something like a sliver or focusing device. The information so obtained can then be added to other data provided by the system. Optionally, more information can be obtained if this method is used at least twice. A series of images is provided at one angle to the axis and another series is provided at another angle to the axis. (Two different fixed viewfinders can be used, or a single lens system with two set sensors, such as a charge couple device, can be used.
It is preferable to tilt one viewfinder for the second inspection. ) Alternatively, the stone may subsequently be rotated about a different axis, for example at 90° to the first axis. However, linking data requires an expensive process.
二つのフアインダーがあれば、映像を適切に結
合することによつて立体的に検査することができ
る。また、石の頂上も検査できる。さらに別の可
能性として、石を検査する前に、石のまわりの物
質を取り除くことによつて凹部部分を避けること
ができるかもしれない。 With two finders, three-dimensional inspection can be performed by appropriately combining the images. The top of the stone can also be inspected. Yet another possibility is that recessed areas may be avoided by removing material around the stone before inspecting the stone.
簡単な実施例では、石は相対的に回転してお
り、少なくとも180°回転する。この回転は非連続
的回転、すなわち割出し回転又は増分回転である
か、連続的回転（例えばストロボイルミネーシヨ
ン）である。フアインダーを固定したまま石を回
転させることが好ましいが、石を固定しておい
て、この石の回りをフアインダーが回転するよう
にしてもよい。従つて石の回転は「相対的」と述
べたのである。 In a simple embodiment, the stones are rotated relative to each other, rotating by at least 180°. This rotation can be discontinuous, ie indexed or incremental, or continuous (eg strobe illumination). Although it is preferable to rotate the stone while keeping the finder fixed, it is also possible to keep the stone fixed and allow the finder to rotate around the stone. Therefore, the rotation of the stones was said to be ``relative''.
しかしながら、フアインダは例えば180°に渡つ
て間隔をおいて配置され、支持部に支持された石
を撮るか、又は、落下する石が所定面に達したと
きに、落下する石の像を撮るかする多量フアイン
ダを設けることもできる。さらに別の可能性とし
ては、角度θの弧上にｎ個等間隔に配置されたフ
アインダーを設けておけば石はθ／n°分回転可能
となる。この場合、θは180°またはそれ以上でよ
いが、180°が好ましい。 However, the imagers may be spaced apart, for example over 180°, and either take images of stones supported on supports, or take images of falling stones when they reach a predetermined surface. A bulk finder may also be provided. Still another possibility is that if n finders are arranged at equal intervals on an arc of angle θ, the stone can be rotated by θ/n°. In this case, θ may be 180° or more, but 180° is preferred.
映像の縁は180°の中の17の異なる位置で好まし
く探知される。例えば、一つのミラー平面に八折
り回転対称を有するカツトダイヤモンドにとつて
は、位置の数は17が最も有効である。しかしなが
ら、カツトされた石を検査する場合、異なる角度
の位置の数は、その石をカツしたカツトの様式に
依存しており、位置の数はカツト数が異なれば当
然変わつてくる。さらに、位置の数は広範囲に渡
つており、位置の数が多くなれば、例えば25ら
200は、原石に用いることができる。 The edges of the image are preferably detected at 17 different positions within 180°. For example, for a cut diamond with eight-fold rotational symmetry in one mirror plane, a number of 17 positions is most effective. However, when inspecting a cut stone, the number of different angular positions depends on the style of cut with which the stone was cut, and the number of positions will naturally vary for different numbers of cuts. Furthermore, the number of locations is spread over a wide range, and as the number of locations increases, e.g.
200 can be used for raw stones.
この発明の方法及び装置は、例えば、数値制御
されるカツターを操作して適切に未加工品をカツ
トしたり、石に適した台を作るための鋳型の経営
に用いられれば、フアンシーストーン用のセツテ
イングの形を決定するために用いることができ
る。 The method and device of the invention can be used, for example, to operate a numerically controlled cutter to properly cut a blank or to manage a mold to make a suitable platform for the stone. It can be used to determine the type of setting.
以下この発明の実施例を図面を参照して説明す
る。 Embodiments of the present invention will be described below with reference to the drawings.
第１図には、例えばステツピングモータ３によ
つて駆動される回転スピンドル２の端に支持さ
れ、みがき上げられた、検査されるダイヤモンド
１の側面が示されるている。ステツピングモータ
のスピードは１分間に６回転し、１分間に1000ス
テツプまでにすることができるが、今板に１分間
に400ステツプだとすれば、回転運動は全時間の
ごく僅かしか占めていないことになる。検査には
僅か５秒しかからなない。もし望むならば、スピ
ンドル２を中空にして、ダイヤモンド１が弱い吸
引力でスピンドル２の端に保持されるようにする
こともできる。 FIG. 1 shows the side surface of a polished diamond 1 supported on the end of a rotating spindle 2 driven by a stepping motor 3, for example. The speed of a stepping motor can be 6 revolutions per minute and up to 1000 steps per minute, but if we assume that the speed is 400 steps per minute, the rotational movement occupies only a small portion of the total time. There will be no. The test takes only 5 seconds. If desired, the spindle 2 can be hollow so that the diamond 1 is held at the end of the spindle 2 by weak suction.
ダイヤモンド１はコンピユータ６（ダイレク
ト・メモリ・アクセス・トランスフアー）とスク
ーリン７とに接続されたエレクトロニツクユニツ
ト５に接続されたテレビフアインダ４で検査され
る。第１図中に点線で示してあるように、テレビ
フアインダ４は角度αの範囲内で傾斜可能である
が、検査位置はスピンドル２の軸２′に対して90
度をなす水平位置であることが好ましい。フアイ
ンダ４の軸はダイヤモンド１の中央を横切るよう
に示してあるが、これはさほど重要なことではな
く、例えばガードル又はテーブル（すなわちスピ
ンドル２の上端）を横切るようにしてもよい。 The diamond 1 is examined in a television viewfinder 4 connected to an electronic unit 5 connected to a computer 6 (direct memory access transfer) and a screen 7. As indicated by the dotted line in FIG. 1, the TV viewfinder 4 can be tilted within an angle α, but the inspection position is 90 degrees with respect to the axis 2' of the spindle 2.
Preferably, it is in a horizontal position. Although the axis of the finder 4 is shown to cross the center of the diamond 1, this is not critical; it could also, for example, cross the girdle or table (ie the top of the spindle 2).
スクリーン７に映し出されるダイヤモンド１の
像の領域を規定するために、制御することができ
る。ダイヤモンド１の像は明るい照度を有するス
ピンドル２の回転軸に一般に垂直をなしているラ
ジアル映像である。スクリーン７に映し出された
ダイヤモンド１の像は、光学的又は電気工学的に
鮮明にできるので、良く規定された角縁が得られ
る。例えば、ダイヤモンド１の像は、画面の上で
一部を拡大できるので、角だけを識別又は探知す
ることができる。最も良く識別できるのは、ダイ
ヤモンド１が明るい下地に対して暗くなつて（シ
ルエツトになつて）いるとき、像の角が出現する
時、そして適切なポイント、例えば強度が、明る
い下地の75％のポイントから始まるときである。
ダイヤモンド１の像はスクリーン７に映し出され
るのであるが、角が探知される像はフアインダ４
中の像である。フアインダ４は例えば純粋に電子
信号を生み出す二次チヤージカツプル装置でもよ
い。 It can be controlled to define the area of the image of the diamond 1 projected on the screen 7. The image of the diamond 1 is a radial image generally perpendicular to the axis of rotation of the spindle 2 with bright illumination. The image of the diamond 1 projected on the screen 7 can be sharpened optically or electrically, so that a well-defined corner edge is obtained. For example, a portion of the image of the diamond 1 can be enlarged on the screen, so that only the corners can be identified or detected. It is best discerned when Diamond 1 is darkened (silhouetted) against a light background, when the corners of the image appear, and at the appropriate point, e.g., when the intensity is 75% of the bright background. It's time to start from the point.
The image of diamond 1 is projected on screen 7, but the image whose corners are detected is on screen 7.
This is the statue inside. The finder 4 can be, for example, a secondary charge couple device that generates a purely electronic signal.
この装置は、上述したように、ダイヤモンド１
の幾つかの異なつた角度の位置で像の角を探知す
る。像の角は要求された測定のための、要求され
た最小数の位置で探知される。例えば、キユーレ
ツト、ガードル、またはテーブルでの輪郭の角が
識別される。必要なパラメータはコンピユータ６
の出力によつて供給される。例えば、未加工のダ
イヤモンドをカツトしたり、型板がフアンシース
トーンを作るのに先立つて形成される場合は、コ
ンピユータ６は工作機械８に直接に接続されるこ
ともできるし、工作機械８を制御するための磁気
カード又はパンチカードを作り出すこともでき
る。 As mentioned above, this device uses diamond 1
Detect the corner of the image at several different angular positions. The corners of the image are located at the required minimum number of positions for the required measurements. For example, contour corners on culets, girdles, or tables are identified. The necessary parameters are computer 6
is supplied by the output of For example, if a raw diamond is to be cut or if a template is to be formed prior to making a fancy stone, the computer 6 can be connected directly to the machine tool 8 or the machine tool 8 can be It is also possible to create magnetic cards or punch cards for control.
第２図はダイヤモンドの原石１１がスピンドル
２の上に乗つており、石１２，１３のそれぞれの
軸がスピンドル２の軸２′に平行でない場合を示
している。２つの石１２，１３は原石１１にぴつ
たりと一致するように示されており、この装置は
カツテイグ平面１４の角度（レイザー光線を用い
ればどのような平面に沿つてもカツトできるし、
研磨のこぎりを用いるならば最適の平面から５度
くらいまでの平面ならばどの平面に沿つてもカツ
トできる。）、カツテイング平面１４の高さ、スピ
ンドル２の上端面のような参照ポイントからの二
つのガードル１５，１６の高さ、及びキユレツト
の角度を決定できる。原石にとつて最も重要なパ
ラメータは、スピンドル２の上端より上の種々の
高さでの最小の直径である。しかしながら、この
２つの原石１２，１３は僅かに異なつたキユレツ
トアングルを有していることに注意する必要があ
る。 FIG. 2 shows a case in which a rough diamond 11 is placed on the spindle 2, and the respective axes of the stones 12 and 13 are not parallel to the axis 2' of the spindle 2. The two stones 12, 13 are shown in close alignment with the rough stone 11, and the device is capable of cutting along the angle of the cutting plane 14 (a laser beam can be used to cut along any plane;
If you use an abrasive saw, you can cut along any plane up to about 5 degrees from the optimal plane. ), the height of the cutting plane 14, the height of the two girdles 15, 16 from a reference point such as the upper end surface of the spindle 2, and the angle of the curet can be determined. The most important parameter for the rough stone is the minimum diameter at various heights above the top of the spindle 2. However, it should be noted that the two rough stones 12, 13 have slightly different curet angles.
コンピユータ６は、どのような簡便な方法によ
つてプログラムしてもよいが、１つの適したアル
ゴリズムは以下の通りである。 Although computer 6 may be programmed in any convenient manner, one suitable algorithm is as follows.
(a) スピンドル２だけの映像を読み取り、スピン
ドル２の始まりを識別する。(a) Read the image of only spindle 2 and identify the beginning of spindle 2.
(b) ダイヤモンド１をテーブルを下にしてスピン
ドル２の上き置き、スピンドル２の上にあるス
トーン１の映像を読み取る。（総計312TVライ
ン）
(c) データを有する映像の頂上から引いた第１の
線からキヤレツトを探知する。(b) Place diamond 1 on spindle 2 with the table facing down, and read the image of stone 1 on spindle 2. (312 TV lines in total) (c) Locate the caret from the first line drawn from the top of the image with data.
(d) 像の右側を下に向つて進む。ガードルは傾斜
線（テーブル面に対して約34°ら45°の角度をな
している）からテーブル面に対して約85°から
95°の角度をなす線に変化し、そして傾斜線に
もどるデータの点でのガードルの上端及び下端
を探知する。(d) Go down the right side of the statue. The girdle is angled from a slope line (approximately 34° to 45° to the table surface) to approximately 85° to the table surface.
Locate the top and bottom of the girdle at the point of the data that changes to a 95° angle line and returns to the slope line.
(e) テーブル座標はスピンドル２の上の第１の線
から計算される。(e) Table coordinates are calculated from the first line on spindle 2.
(f) 像の左側が(d)と同じようにして計算される。(f) The left side of the image is calculated in the same way as (d).
(g) このようにして、キヤレツト、ガードルの上
端と下端、左側と右側、そしてテーブルの最左
側の最右側に関する座標の一組ができあがる。
これから簡単な幾何学によつてダイヤモンドの
大きさを計算することができる。(g) This creates a set of coordinates for the carryt, the top and bottom edges of the girdle, the left and right sides, and the leftmost and rightmost sides of the table.
From this we can calculate the size of the diamond using simple geometry.
(h) 幾つかの映像を撮ることによつて、ダイヤモ
ンドの不均整、特にガードルの非円形を計算す
ることができる。ガードルは切り子面をつけ
ず、理想的には円筒形状であり、普通はみがか
れないままにしてある。しかしながら、ここで
は石はかなり良いものとみなしている。(h) By taking several images, it is possible to calculate the asymmetry of the diamond, especially the non-circularity of the girdle. The girdle is unfaceted, ideally cylindrical in shape, and usually left unpolished. However, stones are considered pretty good here.
第１図はこの発明の装置の概略を示す略図、そ
して第２図は検査される原石を示す略図である。
１……ダイヤモンド、２′……軸、４……フア
インダ、５……エレクトロニツクユニツト、６…
…コンピユータ。
FIG. 1 is a schematic diagram showing the outline of the apparatus of the invention, and FIG. 2 is a diagram showing the raw stone to be examined. 1...Diamond, 2'...Shaft, 4...Finder, 5...Electronic unit, 6...
...computer.
Claims (1)
このイメージの縁を探知する工程とを有する宝石
の検査方法において、 上記イメージは、軸を中心とした幾つかの相対
的に異なる宝石の角度位置において、この軸にほ
ぼ直交して見られるような上記宝石のほぼ全体の
輪郭の各々として提供され、 上記イメージは、上記宝石のほぼ全体の輪郭の
縁を探知する為、上記未完成の宝石の形状を決定
する為、及び未完成の宝石からどんな完成した宝
石が得られるかを決定する為に電子的に処理さ
れ、 上記未完成の宝石のほぼ全体の外側の形状を表
す為に提供されると共に、上記未完成の宝石を完
成させる為の機械での加工を制御する為に電気信
号を用いることができることを特徴とする宝石の
検査方法。 ２ 宝石のイメージを提供する工程と、このイメ
ージの縁を探知する工程とを有する宝石の検査方
法において、 上記イメージは、軸を中心とした幾つかの相対
的に異なる宝石の角度位置において、この軸にほ
ぼ直交して見られるような上記宝石のほぼ全体の
輪郭の各々として提供され、 上記イメージは、上記宝石のほぼ全体の輪郭の
縁を探知する為、及び上記宝石の形状を決定する
為に電子的に処理され、 上記宝石のほぼ全体の外側の形状を表す為に電
気信号が提供され、 最大及び最小のガードル直径、平均のガードル
直径、平均のガードル直径の比率としてのテーブ
ル直径、平均のガードル直径の比率としてのクラ
ウンの高さ、ガードルの幅、パビリオンの深さ、
パビリオンの角度、２次的（secondary）切り子
面の角度及び長さ、及び宝石の体積などの宝石の
パラメータが決定されることを特徴とする宝石の
検査方法。 ３ 一連の未完成の各宝石のイメージを提供する
工程と、このイメージの縁を探知する工程とを有
し、宝石の形状を検査する宝石の検査方法におい
て、 上記未完成の宝石は、落下（falling）状態で
視野領域を通つて動かされるように供給され、各
宝石は上記視野領域を通つたときに、視野領域を
通る軸の回りの１つと面に間隔を置いて固定され
る複数の電子フアインダが用いられて観察され、
上記軸に直交する電子フアインダにより観察され
るとき各々の電子フアインダには上記宝石のほぼ
全体の輪郭のイメージが提供され、上記イメージ
は、上記宝石のほぼ全体の輪郭の縁を検出する
為、上記宝石の形状を決定する為、及び上記未完
成の宝石からどんな完成された宝石が得られるか
を決定する為に電子的に処理され、電気信号が上
記宝石のぼほ全体に外形の形状を表すように提供
され、この電気信号は宝石を完成させる為の機械
の加工を制御する為に用いることができることを
特徴とする宝石の検査方法。 ４ 一連の複数の各宝石のイメージを提供する工
程と、このイメージの縁を探知する工程とを有
し、宝石の形状を検査する宝石の検査方法におい
て、 上記宝石は、落下状態で視野領域を通つて動か
されるように供給され、各宝石は上記視野領域を
通つたとき、視野領域を通る軸の回りの１つの面
に間隔を置いて固定される複数の電子フアインダ
が用いられて観察され、上記軸に直交する電子フ
アインダにより観察されるとき各々の電子フアイ
ンダには上記宝石のほぼ全体の輪郭のイメージが
提供され、上記イメージは、上記宝石のほぼ全体
の輪郭の縁を検出する為、上記宝石の形状を決定
する為、及び上記宝石の外側のほぼ全体の形状を
表す電気信号を自動的に提供する為に電子的に処
理され、 最大及び最小とガードル直径、平均のガードル
直径、平均のガードル直径の比率としてのテーブ
ル直径、平均のガードル直径の比率としてのクラ
ウンの高さ、ガードルの幅、パビリオンの深さ、
パビリオンの角度、２次的切り子面の角度及び長
さ、及び宝石の体積などの宝石のパラメータが決
定されることを特徴とする宝石の検査方法。 ５ 一連の複数の宝石の各々のイメージを提供す
る工程と、このイメージの縁を探知する工程とを
有し、宝石の各々の全体の外側形状を決定する宝
石の検査方法において、 上記宝石は、落下状態で視野領域を通つて動か
されるように供給され、各宝石の上記視野領域を
通つたときに、視野領域を通る軸の回りの１つの
面に間隔を置いて固定される複数の電子フアイン
ダが用いられて観察され、上記軸に直交する電子
フアインダにより観察されるとき各々の電子フア
インダは上記宝石のほぼ全体の輪郭のイメージが
提供され、上記イメージは、上記宝石のほぼ全体
の輪郭の縁を検出する為、上記宝石の形状を決定
する為、及び上記宝石の外側のほぼ全体の形状を
表す電気信号を自動的に提供する為に電子的に処
理され、 上記電気信号は、上記宝石の全体の外側形状を
表す信号を供給する為自動的に用いられることを
特徴とする宝石の検査方法。[Claims] 1. Providing an image of an unfinished jewel;
detecting the edges of said image, said image being viewed substantially perpendicular to said axis at several relatively different angular positions of the gemstone around said axis. Each of the images is provided as a substantially entire outline of the gemstone, and the images are used to detect the edges of the substantially full outline of the gemstone, to determine the shape of the unfinished gemstone, and to determine the shape of the unfinished gemstone. electronically processed to determine whether a finished gemstone is obtained, provided to represent substantially the entire outer shape of said unfinished gemstone, and a machine for completing said unfinished gemstone; A method for inspecting a gemstone, characterized in that an electric signal can be used to control the processing at the gemstone. 2. A method for inspecting a gemstone comprising the steps of providing an image of the gemstone and detecting the edges of this image, wherein said image is formed at several relatively different angular positions of the gemstone around an axis. each of the substantially entire contours of said gemstone as viewed substantially perpendicular to an axis, said images being used to detect the edges of said gemstone's substantially full contour and to determine the shape of said gemstone; electronically processed, and electrical signals are provided to represent substantially the entire outer shape of the gemstone, including the maximum and minimum girdle diameters, the average girdle diameter, the table diameter as a ratio of the average girdle diameter, and the average girdle diameter. Crown height, girdle width, pavilion depth as a ratio of girdle diameter,
A method for inspecting a gemstone, characterized in that parameters of the gemstone are determined, such as the angle of the pavilion, the angle and length of the secondary facets, and the volume of the gemstone. 3. In a method for inspecting gemstones that inspects the shape of gemstones, the method includes a step of providing an image of each unfinished gemstone in a series, and a step of detecting the edge of this image, and the unfinished gemstone is each jewel, as it passes through said viewing area, is provided with a plurality of electrons fixed spaced apart in one and a plane about an axis passing through the viewing area. observed using a finer,
Each electronic finder is provided with an image of the substantially entire outline of the gemstone when viewed by an electronic finder perpendicular to the axis, which image detects the edges of the substantially entire outline of the gemstone, and electronically processed to determine the shape of the gemstone and what finished gemstone will be obtained from the unfinished gemstone, with electrical signals representing the overall shape of the gemstone; A method for inspecting jewelry, characterized in that the electric signal can be used to control the processing of a machine for completing the jewelry. 4. In a jewelry inspection method for inspecting the shape of a jewelry, the method includes a step of providing a series of images of each of a plurality of jewelry, and a step of detecting the edges of the images, wherein the jewelry is in a falling state and covers a viewing area. provided to be moved through the viewing area, each gem being viewed as it passes through the viewing area using a plurality of electronic viewfinders spaced and fixed in a plane about an axis passing through the viewing area; Each electronic finder is provided with an image of the substantially entire contour of the gemstone when viewed by an electronic finder perpendicular to the axis, which image detects the edge of the substantially full contour of the gemstone, electronically processed to determine the shape of the gemstone and to automatically provide an electrical signal representative of approximately the entire external shape of said gemstone, including the maximum and minimum girdle diameters, the average girdle diameter, and the average girdle diameter. table diameter as a ratio of the girdle diameter, crown height as a ratio of the average girdle diameter, girdle width, pavilion depth,
A method for inspecting a gemstone, characterized in that parameters of the gemstone are determined, such as the angle of the pavilion, the angle and length of the secondary facets, and the volume of the gemstone. 5. A method for inspecting a gemstone comprising the steps of providing an image of each of a plurality of gemstones in a series and detecting the edges of the image to determine the overall external shape of each of the gemstones, wherein the gemstone is: a plurality of electronic viewfinders provided to be moved through the viewing area in a falling condition and fixed at intervals in one plane about an axis passing through the viewing area as each jewel passes through said viewing area; each electronic viewfinder provides an image of substantially the entire outline of the gemstone when viewed by an electronic finder perpendicular to the axis; electronically processed to detect the shape of the gemstone, to determine the shape of the gemstone, and to automatically provide an electrical signal representative of substantially the entire external shape of the gemstone; A method for inspecting a gemstone, characterized in that it is automatically used to provide a signal representative of the overall external shape.
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| GB8018349 | 1980-06-04 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5756736A JPS5756736A (en) | 1982-04-05 |
| JPH0470583B2 true JPH0470583B2 (en) | 1992-11-11 |
Family
ID=10513836
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP56086316A Granted JPS5756736A (en) | 1980-06-04 | 1981-06-04 | Method of and apparatus for detecting gems |
Country Status (3)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS5756736A (en) |
| BE (1) | BE889097A (en) |
| ZA (2) | ZA813689B (en) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| AU2010222274C1 (en) | 2009-03-11 | 2014-11-06 | Sarin Color Technologies Ltd. | Methods and systems of imaging cut stones |
Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS49123384A (en) * | 1973-03-20 | 1974-11-26 |
Family Cites Families (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5090200U (en) * | 1973-12-19 | 1975-07-30 | ||
| JPS5160291U (en) * | 1974-11-05 | 1976-05-12 |
-
1981
- 1981-06-03 ZA ZA00813689A patent/ZA813689B/en unknown
- 1981-06-03 ZA ZA00813690A patent/ZA813690B/en unknown
- 1981-06-04 JP JP56086316A patent/JPS5756736A/en active Granted
- 1981-06-04 BE BE0/205001A patent/BE889097A/en not_active IP Right Cessation
Patent Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS49123384A (en) * | 1973-03-20 | 1974-11-26 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS5756736A (en) | 1982-04-05 |
| BE889097A (en) | 1981-10-01 |
| ZA813689B (en) | 1982-07-28 |
| ZA813690B (en) | 1982-07-28 |
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