JPH046647A - 光磁気再生装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 この発明は、光磁気記録媒体に記録された情報を再生す
る光磁気再生装置に関する。

〔従来の技術〕

従来の光磁気再生装置として、例えば第８図に示すよう
なものがある。この光磁気再生装置においては、半導体
レーザ１から射出された直線偏光を、コリメータレンズ
２、ビーム整形プリズム３、偏光ビームスプリッタ４お
よび対物レンズ５を経て光磁気ディスク６に投射し、そ
の反射光（戻り光）を対物レンズ５を経て偏光ビームス
プリッタ４により入射光路から分離して偏光ビームスプ
リッタフに入射させ、その透過光をエラー信号検出系８
に、反射光を情報信号検出系９にそれぞれ入射させるよ
うにしている。

ここで、偏光ビームスプリッタ４および７は、Ｓ偏光成
分を１００％反射し、Ｐ偏光成分を所定の割合で透過お
よび反射させるように構成され、これにより該偏光ビー
ムスプリッタ７で反射されて情報信号検出系９に入射す
る光のカー回転角を見掛は上大きくしている。

すなわち、光磁気ディスク６に両矢印で示す方向をＰ偏
光方向とする直線偏光を投射すると、その反射光は光磁
気ディスク６に記録された情報に応じて、その偏光面が
第９図Ａに示すように±θア回転する。この光磁気ディ
スク６からの戻り光を、上記のように構成した偏光ビー
ムスプリンタ４および７で反射させると、Ｐ偏光成分が
所定の割合で透過するため、その反射光は第９図Ｂに示
すように、カー回転角が±θ３°　となって見掛は上大
きくなる。

エラー信号検出系８は、平行光束の入射角が臨界角より
もやや小さめとなるように設定された反射面を有する臨
界角プリズム１０と、その反射面で反射された光束を受
光する光検出器１１とを具える。

光検出器１１は、光軸を中心として、臨界角プリズム１
０の入射面方向およびそれと直交する方向に分割された
４個の受光領域を有し、入射面方向と直交する分割線を
境とする両側の２個の受光領域の出力の和の差に基づい
てフォーカスエラー信号を得、入射面方向の分割線を境
とする両側の２個の受光領域の出力の和の差に基づいて
プッシュプルのトラッキングエラー信号を得るようにし
ている。

また、情報信号検出系９は、１７２波長板１２、偏光ビ
ームスプリッタ１３、集光レンズ１４．１５および光検
出器１６．１７を有し、偏光ビームスプリッタ７で反射
された光束を、その偏光面を１７２波長板１２によって
第９図Ｃに示すように４５°回転させた後、偏光ビーム
スプリッタ１３でＰ偏光成分とＳ偏光成分とに分離し、
その分離されたＰ偏光成分およびＳ偏光成分をそれぞれ
集光レンズ１４および１５で集光して光検出器１６およ
び１７で受光して、これら光検出器１６．１７の出力差
に基づいて同相ノイズを相殺した情報信号を得るように
している。

［発明が解決しようとする課題］ しかしながら、上述した従来の光磁気再生装置において
は、エラー信号検出系８と情報信号検出系９との２つの
独立した検出系を用いるため、光学系が大きくなるとい
う問題があると共に、部品点数が多くなって高価になる
という問題がある。

また、光磁気ディスク６からの戻り光を１００％とする
と、エラー信号検出系８に１５％、情報信号検出系９に
２０％の光量が必要となり、したがってビームスプリッ
タ４でのＰ偏光反射率が３５％必要となる。このため、
光磁気ディスク６への入射光路における光量損失も大き
くなって、光の利用効率が悪くなり、半導体レーザ１と
して高価な高出力のものが必要になるという問題がある
。

この発明は、このような従来の問題点に着目してなされ
たもので、小形かつ安価にできると共に、光の利用効率
も向上でき、したがって光源として安価な低出力のもの
を使用できるよう適切に構成した光磁気再生装置を提供
することを目的とする。

〔課題を解決するための手段および作用〕上記目的を達
成するため、この発明では、対物レンズを経て光磁気記
録媒体に読み取り光を照射して、該光磁気記録媒体に垂
直方向に磁化されて記録された情報を光学的に読み取る
光磁気再生装置において、前記光磁気記録媒体からの戻
り光の光路中に配置され、該戻り光の中心光線に対して
ほぼ臨界角となるように設定した反射面を有する臨界角
プリズムと、この臨界角プリズムの前記反射面で反射さ
れた光束の所定の偏光成分を取り出す検光子と、この検
光子で取り出された光束を受光する受光手段とを具え、
この受光手段により、前記光磁気記録媒体に記録された
情報の再生信号および前記対物レンズの前記光磁気記録
媒体に対する相対的位置ずれを表すエラー信号を検出す
るよう構成する。

〔実施例〕

第１図はこの発明の第１実施例を示すものである。この
実施例では、半導体レーザ２１から紙面内で光軸と直交
する方向に振動する直線偏光を放射させ、その直線偏光
をコリメータレンズ２２により平行光とした後、ビーム
整形プリズム２３によりビーム形状を整形して偏光ビー
ムスプリッタ２４に入射させて、その透過光を対物レン
ズ２５により光磁気ディスク２６に収束させる。

光磁気ディスク２６での反射光（戻り光）は、対物レン
ズ２５を経て偏光ビームスプリ・ツタ２４に入射させ、
該偏光ビームスプリ・ツタ２４で反射される戻り光を、
平行光束の入射角が臨界角よりもややノＪ＼さめとなる
ように設定した反射面２７ａを有する臨界角プリズム２
７に入射させてその反射面２７ａで反射させる。

臨界角プリズム２７の反射面２７ａで反射された戻り光
は、１／２波長板２８により偏光面を４５°回転させて
偏光ビームスプリッタ２９に入射させ、ここでＰ偏光成
分およびＳ偏光成分をそれぞれ分離し、これら分離され
た偏光成分をそれぞれ集光レンズ３０および３１で集光
して光検出器３２および３３で受光する。

光検出器３２．３３の一方、この実施例では光検出器３
２は、第２図に平面図を示すように、光軸を中心に臨界
角プリズム２７の入射面方向Ｘおよびそれと直交する方
向Ｙに分割した４つの受光領域３２ａ〜３２ｄをもって
構成し、それらの出力をａ　−ｄとするとき、フォーカ
スエラー信号（ＦＥ）およびトラッキングエラー信号（
ＴＥ）を、 ＦＥ＝　（ａ　＋　ｄ　）　−（ｂ　十ｃ　）ＴＥ−（
ａ十ｂ）−（ｃ十ｄ） によって検出し、情報信号（ＲＦ）を、他方の光検出器
３３の出力をｅとするとき、 ＲＦ＝　（ａ＋ｂ＋ｃ＋ｄ）−ｅ によって検出するようにする。

上記構成において、ＲＦのＣ／Ｎは、偏光ビームスプリ
ッタ２４でのＳ偏光反射率をＲ３Ｉ、Ｐ偏光およびＳ偏
光間の位相差を６１とし、臨界角プリズム２７でのＳ偏
光反射率をＲ３Ｚ、Ｐ偏光およびＳ偏光間の位相差を６
２とし、カー回転角をθにとすると、 Ｃ／Ｎ　公、「Ｌπ７Ｒ１ｚ　　ｃｏｓ（δ、＋δｚ）
ｓｉｎ　δ６の関係にある。

そこで、この実施例では、偏光ビームスプリッタ２４を
、その偏光特性が、Ｒ５１＝１００％、Ｐ偏光反射率Ｒ
ＦＩがＲ□＝２０％、δ１・０となるように構成して、
Ｓ偏光成分すなわち光磁気信号成分を１００％反射させ
て臨界角プリズム２７に入射させるようにする。また、
臨界角プリズム２７においては、硝材の屈折率ｎがｎ＝
１．５のとき、Ｓ偏光反射率ＲａｔおよびＰ偏光反射率
ＲＰ□が第３図に示すようになり、そのままでは光磁気
信号成分であるＳ偏光成分の一部が透過してＣ／Ｎが低
下してしまうため、この実施例では臨界角プリズム２７
の反射面２７ａに多層膜３５をコーティングして、δ２
＝０でＲｓ□が第４図に示すようにＲ３２＝１００％と
なるようにする。

この実施例によれば、１つの検出光学系によって、情報
信号、フォーカスエラー信号およびトラッキングエラー
信号を得るようにしたので、光学系を小形にできると共
に、部品点数も少なくでき、したがって安価にできる。

また、光磁気ディスク２６からの戻り光を１００％とす
ると、第８図に示した従来の光磁気再生装置では、エラ
ー信号検出系８に１５％、情報信号検出系９に２０％の
光量を得るために、偏光ビームスプリッタ４でのＰ偏光
反射率が３５％必要となるが、この実施例ではエラー信
号検出系および情報信号検出系を１つの検出光学系で共
用しているので、偏光ビームスプリッタ２４でのＰ偏光
反射率ＲＰＩは２０％で済むことになる。したがって、
光磁気ディスク２６への入射光路における光量損失を小
さくでき、光の利用効率を向上できるので、半導体レー
ザ２１として安価な低出力のものを使用することができ
る。

さらに、光磁気ディスク２６に垂直方向の複屈折がある
と、入射角によって複屈折量が異なるので、反射光束内
の複屈折は一様でなくなり、偏光ビームスプリッタ２９
を透過して光検出器３２に入射する光束の強度分布は、
第５図Ａに示すように、一方の対角象限では強度が増加
し、他方の対角象限では強度が減少するような分布とな
る。なお、偏光ビームスプリッタ２９で反射されて光検
出器３３に入射する光束の強度分布は、第５図Ｂに示す
ように、強度分布の変化が第５図Ａのものと１８０°位
相がずれたものとなる。このため、非点収差法やナイフ
ェツジ法等によってフォーカスエラー信号を検出すると
、光磁気ディスク２６の複屈折の影響を受けて検出精度
が低下するが、この実施例におけるように、臨界角法に
よってフォーカスエラー信号を検出するようにすれば、
このような光磁気ディスク２６の複屈折の影響を受ける
ことがないので、フォーカスエラー信号を高精度で検出
することができる。

第６図はこの発明の第２実施例を示すものである。この
実施例は、臨界角プリズム２７の反射面２７ａで反射さ
れた戻り光を、１／２波長板２８を経て集光レンズ３７
により収束し、その収束光を入射角依存性の小さい偏光
ビームスプリッタ３８でＰ偏光成分およびＳ偏光成分に
分離して、Ｐ偏光成分を光検出器３２で受光し、Ｓ偏光
成分を偏光ビームスプリッタ３８に一体に設けた全反射
面３８ａで全反射させて、光検出器３２と同一平面に設
けた光検出器３３で受光するようにしたもので、その他
の構成は第１実施例と同様である。

このように構成すれば、第１実施例に比べ集光レンズを
１枚減らすことができると共に、戻り光を収束して偏光
ビームスプリンタ３８に入射させるので、偏光ビームス
プリンタ３８を小さくできる。

したがって、第１実施例におけるよりも、より小形かつ
安価にできる。また、光検出器３２および３３を同一平
面に設けるようにしたので、その光学的調整を容易にで
きると共に、これらを同一基板に一体に形成することに
より安価にできる。

なお、この発明は上述した実施例にのみ限定されるもの
ではなく、幾多の変形または変更が可能である。例えば
上述した実施例では、光検出器３２を４分割受光領域を
もって構成したが、光検出器３３を４分割受光領域をも
って構成してフォーカスおよびトラッキングエラー信号
を検出するようにしてもよいし、光検出器３２および３
３の双方を４分割受光領域をもって構成してそれぞれフ
ォーカスおよびトラッキングエラー信号を検出し、双方
の対応するエラー信号を加算するようにしてもよい。

また、光検出器３２および３３を、第７図ＡおよびＢに
示すように、それぞれ２分割受光領域３２ａ　、　３２
ｂおよび３３ａ　、　３３ｂをもって構成し、一方の光
検出器３２の受光領域３２ａ　、　３２ｂの出力差に基
づいてトラッキングエラー信号を、他方の光検出器３３
の受光領域３３ａ、３３ｂの出力差に基づいてフォーカ
スエラー信号を検出するようにしてもよい。

さらに、上述した実施例では、１／２波長板２８を用い
て戻り光の偏光面を４５°回転させるようにしたが、１
７２波長板２８を用いる代わりにＲｎ臨界角リズム２７
以降の光学系を光軸回りに４５°回転して配置してもよ
い。

〔発明の効果〕

以上のように、この発明によれば、光磁気記録媒体から
の戻り光を臨界角プリズムで反射させ、その反射光を検
光子を経て受光手段で受光して、光磁気記録媒体に記録
された情報の再往信号および対物レンズの光磁気記録媒
体に対する相対的位置ずれを表すエラー信号を検出する
ようにしたので、従来のように再生信号およびエラー信
号を別々の検出光学系によって検出するものに比べ、光
学系を小形にできると共に、部品点数も少なくでき、し
たがって安価にできる。また、検出光学系を共用するこ
とにより、光の利用効率を向上できるので、光源として
安価な低出力のものを使用することかできる。

【図面の簡単な説明】

第１図はこの発明の第１実施例を示す図、第２図は第１
図に示す光検出器の一方の構成を示す平面図、 第３図は臨界角プリズムの一般的な反射率特性を示す図
、 第４図は第１図に示すＲ界角プリズムの反射率特性を示
す図、 第５図ＡおよびＢは光磁気ディスクの複屈折による戻り
光の強度分布の変化を示す図、第６図はこの発明の第２
実施例を示す図、第７図ＡおよびＢは第１図、第６図に
示す光検出器の変形例を示す図、 第８図および第９図Ａ−Ｃは従来の技術を説明するため
の図である。 ２１・・−半導体レーザ　　　　２２・−・コリメータ
レンズ２３−・ビーム整形プリズム　２４−・−偏光ビ
ームスプリッタ２５−・一対物レンズ　　　　　２６−
・−光磁気ディスク２７−Ｈ＝界角プリズム　　　２７
ａ−・−反射面２８−・１７２波長板 ３０．３１・・−集光レンズ ３２ａ〜３２ｄ−・・受光領域 ３７・・−集光レンズ ３８ａ・−全反射面 ２９−一偏光ビームスプリツタ ３２、３３・−光検出器 ３５−多層膜 ３８−・偏光ビームスプリッタ 第１ 第２図 反Ｉ１１デ気度

Claims (1)

1. 【特許請求の範囲】 １、対物レンズを経て光磁気記録媒体に読み取り光を照
   射して、該光磁気記録媒体に垂直方向に磁化されて記録
   された情報を光学的に読み取る光磁気再生装置において
   、 前記光磁気記録媒体からの戻り光の光路中に配置され、
   該戻り光の中心光線に対してほぼ臨界角となるように設
   定した反射面を有する臨界角プリズムと、 この臨界角プリズムの前記反射面で反射された光束の所
   定の偏光成分を取り出す検光子と、この検光子で取り出
   された光束を受光する受光手段とを具え、 この受光手段により、前記光磁気記録媒体に記録された
   情報の再生信号および前記対物レンズの前記光磁気記録
   媒体に対する相対的位置ずれを表すエラー信号を検出す
   るよう構成したことを特徴とする光磁気再生装置。