JPH0461850A - X線診断装置 - Google Patents

X線診断装置

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JPH0461850A
JPH0461850A JP2170210A JP17021090A JPH0461850A JP H0461850 A JPH0461850 A JP H0461850A JP 2170210 A JP2170210 A JP 2170210A JP 17021090 A JP17021090 A JP 17021090A JP H0461850 A JPH0461850 A JP H0461850A
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JP
Japan
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image
pixels
signal
ccd
signals
Prior art date
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Pending
Application number
JP2170210A
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English (en)
Inventor
Masayuki Nishiki
雅行 西木
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Toshiba Corp
Original Assignee
Toshiba Corp
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Publication date
Application filed by Toshiba Corp filed Critical Toshiba Corp
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Publication of JPH0461850A publication Critical patent/JPH0461850A/ja
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 [発明の目的] (産業上の利用分野) 本発明は、被検体を透過したX線により形成されたX線
画像をイメージインテンシファイア(以下1.1. と
記す)とCCD等の固体撮像素子を用いて可視画像に変
換しCRTデイスプレィ等の表示手段に表示するX線診
断装置に関する。
(従来の技術) 従来、この種のX線診断装置として、例えば第7図に示
すようなものがある。図においてこのX線診断装置10
0は、xH画像を可視光像に変換する画像変換手段とし
ての1.1.101と、て1.1.101から送られる
光像を画素毎に電気信号に変換する固体撮像素子として
のCCDIO2と、CCD102から出力される画素の
信号から生成される1フレーム画像を記憶する記憶手段
としてのメモリ103と、このフレーム画像を表示する
表示手段としてのモニタ]04とを備えている。
被検体撮影時には、撮影部105においてX線管106
により被検体PにX線を照射し、被検体Pを透過したX
線がI、1.101に入射してX線画像を形成する。1
.1.101はこのX線画像を可視光像に変換し、この
光像を光学系107を介してCCD102に送る。CC
D102はこの光像を画素毎に電気信号に変換して画像
情報信号として出力する。この信号は信号処理回路10
8によりノイズ抑圧、増幅、DCレベル調整等の処理が
行われた後、A/D変換器109によりデジタル化され
、1フレーム分のデジタルデータから生成されるフレー
ム画像がメモリ10Bに記憶される。この画像データは
不図示の画像処理回路により画像処理が行われた後、D
/A変換器110によりアナログ化されて映像信号とし
てモニタ104に送られ、モニタ104上に被検体Pの
撮影画像としてのフレーム画像か表示される。
ところで、被検体PにX線を照射して得られる透視像を
上記と同様の動作によりモニタ104上に表示した後、
必要に応じて被検体Pの検査部位を撮影することが行わ
れているか、このような透視時においてもCCD102
は撮影時と同一の画素数で動作するので、透視像と撮影
画像は同一の画素数、フレーム率で得られることになる
(発明が解決しようとする課題) しかしなから上記した従来技術において、透視時には1
フレーム画像の画素数は例えば500×500画素程度
に少なくてもよいか、フレーム率は30 f/S等のよ
うな高フレーム率にして、画像データの収集を高速で行
うことが必要とされる。一方、撮影時にはフレーム率は
低くてもよいが、1フレーム画像の画素数は100OX
100Oまたは200OX200O画素等のように多く
して、高画質の撮影画像を得ることか必要とされる。し
かし、上記したようにCCD102は透視時も撮影時も
同画素数で動作するので、透視時と撮影時とて画素数及
びフレーム率を異ならせて最適な透視像及び撮影画像を
得ることは困難であった。
本発明は上記したような従来技術の課題を解決するため
になされたもので、その目的とするところは、画素数及
びフレーム率を必要に応じて変化させることが可能で、
特に、透視時には高フレーム率で画像データを高速で収
集し、かつ、撮影時には画素数を多くして高画質の撮影
画像を得ることかできるX線診断装置を提供することに
ある。
[発明の構成] (課題を解決するための手段) 上記目的を達成するために、本発明にあっては、被検体
にX線を照射して得られるX線画像を可視光像に変換す
る画像変換手段と、該画像変換手段から送られる光像を
画素毎に電気信号に変換する固体撮像素子と、該固体撮
像素子から出力される画素の信号から生成される1フレ
ーム画像を記憶する記憶手段と、このフレーム画像を表
示する表示手段とを備えて成るX線診断装置において、
前記固体撮像素子で得られる複数の画素の信号を必要に
応じて電荷的に加算して1画素の信号とする加算手段が
設けられて成ることを特徴とする。
上記装置において、透視、撮影の切換時に加算手段に透
視/撮影切換信号を送る制御部を設け、加算手段か該制
御部から送られる透視/撮影切換信号に応じて固体撮像
素子に対する加算動作を行うようにしてもよい。また、
加算手段か固体撮像素子に対して垂直方向の画素の信号
の加算と水平方向の画素の信号の加算とを独立に行うよ
うにしてもよい。
(作用) 上記構成を有する本発明のX線診断装置では、上記加算
手段により固体撮像素子における複数の画素の信号を電
荷的に加算して1画素の信号とすることができるので、
固体撮像素子から出力される画像情報信号の画素数及び
フレーム率を必要に応じて変化させることができる。特
に、上記制御部から加算手段に透視/撮影切換信号を送
り、それに応じて加算手段の加算動作を行うようにすれ
ば、透視時と撮影時とで画素数及びフレーム率を異なら
せることができるので、透視時には高フレーム率で画像
データを高速で収集し、かつ、撮影時には画素数を多く
して高画質の撮影画像を得ることが可能になる。
(実施例) 以下に、本発明の実施例を図に基づいて説明する。第1
図は本発明の一実施例のX線診断装置の電気的構成を示
すブロック図である。図においてこのX線診断装置1は
、第7図に示した前記従来例と同様な撮影部2.固体撮
像素子としてのCCD3.信号処理回路4.A/D変換
器5.記憶手段としてのメモリ6、D/A変換器7及び
表示手段としてのCRTデイスプレィ等のモニタ8とを
備えており、撮影部2には前記従来例と同様に、被検体
PにX線を照射するX線管9と、画像変換手段としての
1.1.10と、光学系11とか設けられている。
さらに、本実施例装置には、CCD3で得られる複数の
画素の信号を電荷的に加算して1画素の信号とする加算
手段としての駆動パルス発生部12と、透視、撮影の切
換時に駆動パルス発生部12に透視/撮影切換信号を送
る制御部13とか設けられている。制御部13は、X線
管9のX線曝射量を制御するX線コントローラ14にも
上記透視/撮影切換信号を送り、それによって、X線管
9から被検体Pに照射されるX線の量が透視時と撮影時
とでは異なるようにX線コントローラ14により制御さ
れる。
次に、上記した駆動パルス発生部12による信号の加算
動作について詳しく説明する。まず、CCD3として1
000 X ]、 000画素でインクレース走査を行
うIT(インクライントランスファー)CCDを用いて
、透視時には1フレームを500X500画素としてフ
レーム率を高め、撮影時には画素数を多くして100O
X100O画素とする場合について説明する。
この場合には、第2図(a)に示すように、CCD3の
垂直方向においては、1000画素分の信号の電荷を蓄
積する1000個のフォトダイオード20と、これらの
1000画素分の信号電荷を垂直方向に転送する垂直転
送CCD21とが交互に配列されている。撮影時の電荷
転送の際には、駆動パルス発生部12からCCD3にフ
ィールドシフトパルスが送られ、まず奇数フィールドの
フォトダイオード20a、20c、20e、−の信号電
荷が垂直転送CCD21に転送され、これらの信号電荷
が第3図に示す水平転送CCD22に転送されてから水
平方向に転送され、不図示の出力端に送られる。
この後、偶数フィールドのフォトダイオード20b、2
0d、2Of、・・・の信号電荷が同様に垂直転送CC
D21から垂直方向に転送され、水平転送CCD22か
ら水平方向に転送されて出力端に送られる。そして、全
ての奇数フィールドの信号と偶数フィールドの信号がC
CD3から1フレーム分の画像情報信号として出力され
る。第2図(a)に示す実線矢印は奇数フィールドの電
荷転送、破線矢印は偶数フィールドの電荷転送を示す。
垂直転送CCD21は水平方向に1000個配列されて
おり、上記動作によりCCD3から1フレームの画像情
報信号として100OX100O画素の信号を出力する
ことができる。
透視時には、制御部13から駆動パルス発生部12に透
視/撮影切換信号が送られ、駆動パルス発生部12はC
CD3の出力信号か1フレーム500X500画素とな
るようにCCD3に駆動パルスを送る。垂直方向の加算
動作について説明すると、この場合はCCD3はインク
レース走査方式なので、フィールドシフトパルス供給法
を変更することにより、第2図(b)に示すように、奇
数フィールドのフォトダイオード20a、20c。
20e、・・・とこれらのフォトダイオードに隣接する
偶数フィールドのフォトダイオード20b、20d、2
Of、・・・の信号電荷が垂直転送CCD21上で加算
されるように、奇数フィールドと偶数フィールドの信号
電荷をフィールドシフトすることができる。それによっ
て、フィールドシフトの際に垂直方向において2画素の
信号が加算されて1画素の信号とされ、垂直方向の画素
数を1000画素から500画素に半減させることかで
きる。
水平方向の加算動作について説明すると、第3図に示す
ように、各垂直転送CCD21から水平転送CCD22
に信号電荷を転送する際に、隣接する2個の垂直転送C
CD21から転送される2画素の信号電荷を水平転送C
CD22上で加算して1画素の信号電荷とする。この加
算動作について、CCD3が水平方向2相駆動CCDで
あり、水平転送CCD22が2本の水平CCD22A。
22B及びゲート23から成る場合を例にとって説明す
る。この場合には、第4図に示すように、垂直転送CC
D21a、21c、・・・に対向する電極22 a 、
  22 c 、−と、垂直転送CCD 2 ]、 b
 。
21d、・・・に対向する電極22b、22d、・・・
とが水平転送CCD22の2本の水平CCD22A。
22B上に交互に並んでおり、電荷転送の際には、駆動
パルス発生部12から電極22a、22c。
・・・へは駆動パルスφH1が、電極22b、22d。
・・へは駆動パルスφH2か送られる。
そして、水平方向の信号の加算を行わない場合には、垂
直転送CCD21a、21c、・・・からラインシフト
(垂直転送CCDから水平転送CCDへの電荷転送)さ
れた信号電荷が水平転送CCDの一方の水平CCD22
Aにおける電極22a22C1・・・に送られて水平転
送され、垂直転送CCD21b、21d、・・・からラ
インシフトされた信号電荷かゲート23を介して水平転
送CCDの他方の水平CCD22Bにおける電極22b
、22d、・・・に送られて水平転送される。この後両
系統の信号電荷が合されて1フレームの信号とされる。
水平方向の信号の加算を行う場合には、垂直転送CCD
21a、21b、、21c、21d、=−からラインシ
フトされた信号電荷は水平転送CCDの一方の水平CC
D22A (または22B)のみに送られ、駆動パルス
発生部12から水平転送CCD22に第5図に示すよう
な駆動パルスφH。
φH2か送られる。同図においてHDは水平同期パルス
、HBLは水平ブランキング期間を示す。
同図に示すように、この場合の駆動パルスφH1φH2
は水平ブランキング期間HBL中の時刻tては同位相で
あるが、時刻t2には異なる位相となり、このとき水平
転送CCDの電極22a。
22b、22c、22d、−・・の電位は第6図に示す
ようになる。
すなわち、電極22a、22c、・・・と電極22b、
22d、・・・の電位は時刻t1には同じであるが、時
刻t2には電位差が生じて、同図に示すように電極22
 a、  22 c、・・・の信号電荷が電極22b、
22d、・・・に転移する。それによって、水平方向に
おいて2画素の信号が加算されて1画素の信号とされ、
水平方向の画素数も1000画素から500画素に半減
させることができる。この水平方向の信号の加算が行わ
れた後、信号電荷が水平CCD22A (または22B
)から水平転送されて、CCD3から500X500画
素の信号が出力される。
さらに、CCD3として100OX100O画素てノン
インタレース走査を行うITCCDを用いて、画素数を
透視時には500X500画素。
撮影時には100OX100O画素に切換える場合につ
いて説明する。
この場合にも制御部13から駆動パルス発生部12に透
視/撮影切換信号か送られ、駆動パルス発生部12はこ
の透視/撮影切換信号に応して、1フレームの画素数か
透視時には500X500画素、撮影時には100OX
100O画素となるようにCCD3に駆動パルスを送る
。しかし、この場合にはCCD3は1000本ノンイン
タレス走査か可能な構造なので垂直転送CCD内で信号
電荷を2画素分ずつ加算することは困難である。
この場合には、ラインシフトを2回続けて行うことによ
り、垂直方向における2画素の信号電荷か水平転送CC
D内で加算されて1画素の信号となるので、垂直方向に
おける信号電荷の画素数を1000画素から500画素
に半減させることができる。
すなわち、透視時には、駆動パルス発生部12から垂直
転送CCDに駆動パルスを送りラインシフトを2回終了
した後、駆動パルス発生部12から水平転送CCDに第
5図に示した上記の場合と同様な駆動パルスを送り、水
平方向においても2画素の信号電荷を加算して1画素の
信号電荷とした後、信号電荷を水平転送する。それによ
り、CCD3から500X500画素の信号が出力され
る。撮影時には、垂直方向においても水平方向において
もこのような信号加算動作を行わずに電荷の転送を行う
ように、駆動パルス発生部12からCCD3に駆動パル
スが送られ、CCD3から1000X100O画素の信
号が出力される。
本実施例においては上記したように、透視時には画素数
を500X500画素に減らしてフレーム率を高め、撮
影時には画素数を1000×1000画素に増やすこと
ができる。従って、透視時には画像データを高速で収集
して、優れた時間分解能の透視像を速やかに得ることが
でき、かつ、撮影時には高画質の撮影画像を得ることが
できる。
以上本発明の実施例について説明したが、本発明はこれ
に限定されるものではなく種々変形実施が可能である。
例えば、画素数の切換えは透視/撮影切換えのみではな
く、診断部位によっても実施することができる。すなわ
ち、同し撮影であっても、心臓は高フレーム率、少画素
数、その他の部位は低フレーム率、大画素数のように切
換えて実施することもてきる。
[発明の効果] 本発明のX線診断装置は以上の構成及び作用を有するも
ので、画素数及びフレーム率を必要に応じて変化させる
ことか可能であり、特に透視時と撮影時とで画素数及び
フレーム率を異ならせて、透視時には高フレーム率で画
像データを高速で収集し、かつ、撮影時には画素数を多
くして高画質の撮影画像を得ることができる。従って、
透視時には優れた時間分解能の透視像を速やかに得るこ
とができ、かつ、撮影時には高画質の撮影画像を得て、
高い診断能力を得ることができる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の一実施例のX線診断装置の電気的構成
を示すブロック図、第2図(a)、(b)は同実施例に
おけるフィールドシフトを説明するための説明図、第3
図は同実施例における水平方向の信号加算を説明するた
めの説明図、第4図は同実施例におけるCCDとして水
平方向2相駆動CCDの例を示す図、第5図は同実施例
における水平転送CCDに送られる駆動パルスを示すタ
イミングチャート、第6図は同実施例における水平転送
CCD上の電極の電位を示す電位図、第7図は従来例の
X線診断装置の電気的構成を示すブロック図である。 1・・・X線診断装置 3・・・CCD (固体撮像素子) 6・・・メモリ(記憶手段) 8・・・モニタ(表示手段) 10・・・1.1.(イメージインテンシファイア。 画像変換手段) 12・・・駆動パルス発生部(加算手段)13・・・制
御部     P・・・被検体第2図(0) 第2図(b) 第5図 第6図 第7図

Claims (3)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)被検体にX線を照射して得られるX線画像を可視
    光像に変換する画像変換手段と、該画像変換手段から送
    られる光像を画素毎に電気信号に変換する固体撮像素子
    と、該固体撮像素子から出力される画素の信号から生成
    される1フレーム画像を記憶する記憶手段と、このフレ
    ーム画像を表示する表示手段とを備えて成るX線診断装
    置において、 前記固体撮像素子で得られる複数の画素の信号を必要に
    応じて電荷的に加算して1画素の信号とする加算手段が
    設けられて成ることを特徴とするX線診断装置。
  2. (2)透視、撮影の切換時に加算手段に透視/撮影切換
    信号を送る制御部が設けられ、加算手段は該制御部から
    送られる透視/撮影切換信号に応じて固体撮像素子に対
    する加算動作を行うことを特徴とする請求項1記載のX
    線診断装置。
  3. (3)加算手段は固体撮像素子に対して垂直方向の画素
    の信号の加算と水平方向の画素の信号の加算とを独立に
    行うことを特徴とする請求項1記載のX線診断装置。
JP2170210A 1990-06-29 1990-06-29 X線診断装置 Pending JPH0461850A (ja)

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JP2170210A JPH0461850A (ja) 1990-06-29 1990-06-29 X線診断装置

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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH06245147A (ja) * 1993-02-15 1994-09-02 Toshiba Corp 固体撮像装置及び固体撮像装置の駆動方法
JP2006345330A (ja) * 2005-06-10 2006-12-21 Hitachi Medical Corp 撮像装置

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH06245147A (ja) * 1993-02-15 1994-09-02 Toshiba Corp 固体撮像装置及び固体撮像装置の駆動方法
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